DE3338203A1 - Geraet zur messung des absoluten reflexionsgrades - Google Patents
Geraet zur messung des absoluten reflexionsgradesInfo
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Description
Gerät zur Messung des absoluten Reflexionsgrades
Die Erfindung betrifft ein Gerät zur Messung des absoluten Reflexionsgrades einer Probe unter Verwendung einer
Integrationskugel.
Es gibt zwei Verfahren den Reflexionsgrad einer Probe
zu messen.Ein Verfahren besteht darin, den relativen Reflexionsgrad einer gegebenen Materialprobe zu messen,
wobei der bekannte Reflexionsgrad eines Bezugsnormals oder eines Bezugsmaterials als 100% angenommen wird ;
das.andere Verfahren besteht darin, den tatsächlichen oder absoluten Reflexionsgrad einer Materialprobe
zu messen.
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Bayer. Vereinsbank (München) KIo. 508 941
Postscheck (München) KIo. 670-43-804
Gewöhnlich wird der relative Reflexionsgrad einer gegebenen
Materialprobe (im folgenden als Probe bezeichnet) zunächst gemessen und der gemessene Wert wird dann mit dem absoluten
Reflexionsgrad eines Bezugsmaterials (als Bezugsgröße
bezeichnet) multipliziert, um dadurch den absoluten Reflexionsgrad der zu messenden Probe zu erhalten. Der absolute
Reflexionsgrad der Bezugsgröße ist jedoch lediglich als eine Information von verschiedenen Daten gegeben und wenn
sich der Reflexionsgrad mit der Zeit ändert, so sind derartige Änderungen der betreffenden Person, welche die
Messung vornimmt, nicht bekannt, so daß es unmöglich ist den absoluten Reflexionsgrad der Probe zu messen.
Das Prinzipien absoluten Reflexionsgrad zu messen,, ist
zwar einfach/ es ergeben sich jedoch große Schwierigkeiten bei der praktischen Realisierung. Ein bekanntes Verfahren
zur Messung des absoluten Reflexionsgrades einer Probe umfaßt die Verwendung einer Integrationskugel. Das Verfahren
ist in der Theorie etwas kompliziert, jedoch läßt es sich leicht in der Praxis verwirklichen. Da es bei dem
Verfahren, bei welchem eine Integrationskugel zur Anwendung gelangt, erforderlich ist, den Photodetektor oder den
optischen Weg relativ zur Integrationskugel zu verschieben,
erfordert dies einen komplizierten Mechanismus, um die relative Bewegung auszuführen, so daß die gesamte Konstruktion
des Gerätes umfangreich wird bzw. viel Raum beansprucht. Obwohl dieses Gerät in einem Labor verwendet
werden kann, ist es für den praktischen Gebrauch nicht geeignet und es ist noch schwieriger, das Gerät als Anpassungsstück (Adaptor) für die unmittelbare Verwendung in einem
Spektralphotometer auszuführen.
Das Prinzip der Messung des absoluten Reflexionsgrades
wird im folgenden zunächst unter Hinweis auf Fig.1 erläutert. Diese Figur zeigt eine Integrationskugel IS,
die ein Eintrittsfenster WI aufweist, durch welches ein Lichtstrahl Li von einer monochromatischen Lichtquelle MC in die Integrationskugel geschickt wird, um direkt eine Zone Wa an der Innenfläche der Integrationskugel zu beleuchten. Die Integrationskugel ist auch mit einem Probenfenster Ws und einem Paar von Austrittsfenstern WOs und WOr ausgestattet. Eine Probe SM wird im Probenfenster Ws so in Lage gebracht, daß diese Probe nach innen in die Integrationskugel weist, wobei ein Probenlichtstrahl Ls aus dem Fenster WOs austritt und ein Bezugslichtstrahl Lr
aus dem Fenster WOr austritt.
wird im folgenden zunächst unter Hinweis auf Fig.1 erläutert. Diese Figur zeigt eine Integrationskugel IS,
die ein Eintrittsfenster WI aufweist, durch welches ein Lichtstrahl Li von einer monochromatischen Lichtquelle MC in die Integrationskugel geschickt wird, um direkt eine Zone Wa an der Innenfläche der Integrationskugel zu beleuchten. Die Integrationskugel ist auch mit einem Probenfenster Ws und einem Paar von Austrittsfenstern WOs und WOr ausgestattet. Eine Probe SM wird im Probenfenster Ws so in Lage gebracht, daß diese Probe nach innen in die Integrationskugel weist, wobei ein Probenlichtstrahl Ls aus dem Fenster WOs austritt und ein Bezugslichtstrahl Lr
aus dem Fenster WOr austritt.
Innerhalb der Integrationskugel ist ein Schirm SC so
angeordnet, daß das Licht, welches durch das Fenster WI in die Integrationskugel gelangt und direkt von der
Zone Wa reflektiert wird, d.h. das erste Reflexionslicht von der Zone Wa daran gehindert wird/zur Probe zu gelangen, die am Fenster Ws angeordnet ist. Der Schirm SC ist
in einer solchen Lage angeordnet, daß er von dem Lichtmeßsystem nicht "gesehen" werden kann/ und zwar in
Bezug auf beide Austrittsfenster WOs und WOr. In Fig. 1 wird beispielsweise der Bezugslichtstrahl Lr gemessen,
wobei eine Linse LN ein Bild einer Zone Wr auf der Innenfläche der Integrationskugel IS diametral gegenüber
dem Austrittsfenster WOr an einer Öffnung AP abbildet, die
angeordnet, daß das Licht, welches durch das Fenster WI in die Integrationskugel gelangt und direkt von der
Zone Wa reflektiert wird, d.h. das erste Reflexionslicht von der Zone Wa daran gehindert wird/zur Probe zu gelangen, die am Fenster Ws angeordnet ist. Der Schirm SC ist
in einer solchen Lage angeordnet, daß er von dem Lichtmeßsystem nicht "gesehen" werden kann/ und zwar in
Bezug auf beide Austrittsfenster WOs und WOr. In Fig. 1 wird beispielsweise der Bezugslichtstrahl Lr gemessen,
wobei eine Linse LN ein Bild einer Zone Wr auf der Innenfläche der Integrationskugel IS diametral gegenüber
dem Austrittsfenster WOr an einer Öffnung AP abbildet, die
vor einem Photodetektor PD gelegen ist. Die Zone Wr ist mit der Öffnung AP konjugiert und der Schirm SC liegt
vollständig außerhalb des optischen Weges des Lichtstrahls Lr, durch den das Bild der Zone Wr an der Öffnung
AP abgebildet wird. Die Innenfläche der Integrationskugel IS besitzt einen einheitlichen hohen Reflexionsgrad r.Der
Schirm SC ist so angestrichen, daß sein Reflexionsgrad ebenfalls gleich ist r_ .
Die Lichtmenge des Lichtstrahls Li, der in die Integrationskugel IS gelangt sei mit P bezeichnet; die Fläche der
Innenfläche der Kugel sei mit S bezeichnet; die Fläche des Fensters WOr und die Fläche des Fensters WOs seien beide
mit b bezeichnet; die Fläche des Probenfensters Ws und die Fläche der Zone Wr beide mit a; der Reflexionsgrad
einer Probe sei mit r1 bezeichnet; und es gelte a/S = k1
und b/S = k«.
Die zuvor erwähnten Reflexionsgrade r und r1 sind
absolute Reflexionsgrade.
Wenn die zu messende Probe SM an dem Probenfenster Ws, wie in Fig. 1 gezeigt ist, angebracht ist, wird das Licht
des Lichtstrahls Lr, der die Integrationskugel IS über das Austrittsfenster WOr und die Linse LN verläßt, gemessen.
Das in die Integrationskugel einfallende Licht Li wird von der Zone Wa einheitlich in alle Richtungen reflektiert
und die gesamte Menge des reflektierten Lichtes ist gleich P.r, von welchem die Lichtmenge, die auf die Zone Wr trifft,
gleich ist P;r.a/S = P.r.k., und wobei die Lichtmenge Ir1,
die von der Zone Wr reflektiert wird und durch das Austrittsfenster
WOr austritt/gegeben ist als:
Ir1 = ?.r.krr.k2
Andererseits '. ist die Lichtmenge, die von der Zone Wa in die Richtungen reflektiert wird, die nicht zur Zone Wr
verlaufen, gegeben als P-r(1 - k.,) . Das von der Zone Wa
in andere Richtungen reflektierte Licht wird zum ersten Mal an der Innenfläche der Integrationskugel reflektiert und
die Gesamtmenge des reflektierten Lichtes ist gegeben als P.r(1 - k..)r, von der diejenige Lichtmenge, die auf die
Zone Wr trifft gegeben ist als P.r(1 - kjr.k., und die
Lichtmenge Ir2 des von der Zone Wr reflektierten Lichtes,
welches durch das Austrittsfenster WOr austritt, gegeben ist als
Ir„ = P.r(1 - k1)r.k1-r.k2
Das zum ersten Mal an der Innenfläche der Integrationskugel IS reflektierte Licht wird erneut an der Innenfläche der
Integrationskugel reflektiert. Die Lichtmenge Ir-. des zum
zweiten Mal reflektierten Lichtes, welches auf die Zone Wr trifft, von dort reflektiert wird und durch das Fenster WOr
austritt, ist gegeben als
Ir3 = P.r(1 -_kl)r(1 - k^r.k^r.^
Die Reflexion des Lichtes wird auf ähnliche Weise wiederholt, so daß die gesamte Lichtmenge Ir des aus dem Fenster
WOr austretenden Lichtes aus der Summe der Lichtmengen Ir1,
Ir„, Ir_, ... besteht und gegeben ist als
Ir = p.r2.^·^ 1 + r(1 - k.,) + r2(1 - k^2 + ...
= P'r2'krk2 "
Es wird dann die Lichtmeßvorrichtung, bestehend aus der Linse LN, der öffnung AP und dem Photodetektor PD zum
anderen Austrittsfenster WOs übertragen, so daß die Probe SM mit dem Fenster WOs und der Lichtmeßvorrichtung ausgerichtet
ist.
Zu diesem Zeitpunkt ist auf ähnliche Weise, wie dies zuvor erläutert wurde, wobei die Lichtmenge Ir erhalten wurde,
die Lichtmenge Is des Lichtes, welches durch das Probenlicht-Austrittsfenster WOs austritt, gegeben als
Is = P-r2.k„-r'.k„ —
1 - r(1 - k.,)
Es sei an dieser Stelle darauf hingewiesen, daß das in die Integrationskugel IS einfallende Licht, welches zum
ersten Mal von der Zone Wa reflektiert wird, von dem Schirm SC aufgefangen wird, so daß dieses Licht nicht auf
die Probe SM auftreffen kann. Das auf die Probe zum ersten
Mal auftreffende Licht besteht somit aus demjenigen Licht,
welches von der Zone Wa reflektiert wurde und dann an der Innenfläche der Integrationskugel reflektiert wurde, wobei
2 die Lichtmenge dieses Lichtes gegeben ist als P«r -k.. ·
Von dieser Lichtmenge ist die Lichtmenge Is1, die zum Austrittsfenster
WOs gerichtet ist, gegeben als
Is = P-r2 -Ic1 -r1 -k2
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Diese Lichtmenge entspricht der Lichtmenge Ir1 des Bezugslichtes, welche durch Gleichung (1) gegeben ist. Teilt man
die Lichtmenge Is durch die Lichtmenge Ir, so erhält man den absoluten Reflexionsgrad r1 .
Wenn daher die Lichtmenge Ir mit Hilfe der Lichtmeßvorrichtung gemessen wird, die gegenüber dem Austrittsfenster WOr angeordnet
ist und wenn ferner die Lichtmenge Is mit Hilfe der Lichtmeßvorrichtung gemessen wird, die gegenüber dem
Austrittsfenster WOs angeordnet ist, gibt das Verhältnis zwischen den zwei gemessenen Werten den absoluten Reflexionsgrad
r_' der Probe an.
Wie sich leicht einsehen IaBt7XSt es zur Messung der zwei
Werte erforderlich, die Meßvorrichtung zwischen den zwei
Austrittsfenstern WOr und WOs zu verschieben. Dies bedeutet jedoch nicht nur einen mühsamen Arbeitsgang, sondern führt
auch dazu, daß die gesamte Konstruktion des Gerätes große Ausmaße erreicht, so daß es sehr schwierig ist, das Gerät
als optische Zusatzeinrichtung für die Verwendung in einem Spektralphotometer auszuführen. Wenn eine eigene Lichtmeßvorrichtung
vor jedem der zwei Austrittsfenstern angeordnet wird, so besteht nicht die Forderung/die Lichtmeßvorrichtungen
zu verschieben. Es sind jedoch keine besonderen Einrichtungen oder Maßnahmen vorgesehen eine inhärente Empfindlichkeitsdifferenz zwischen den zwei Meßvorrichtungen zu kompensieren,
außer die relativen Positionen der zwei Vorrichtungen zu vertauschen, so daß der Austausch ihrer Positionen das Vorsehen
von zwei Meßvorrichtungen bedeutungslos werden läßt.
Es ist daher Aufgabe der vorliegenden Erfindung ein Gerät zum Messendes absoluten Reflexionsgrades einer Probe zu
schaffen, bei dem eine Integrationskugel zur Anwendung
gelangt und welches mit geringerem Aufwand unter Beseitigung der zuvor erläuterten Probleme realisiert werden kann.
Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform nach der Erfindung ist das Gerät mit einer Integrationskugel ausgestattet,
die ein einziges Eintrittsfenster aufweist, durch welches ein Lichtstrahl von einer monochromatischen Lichtquelle in
die Kugel eingeleitet wird, welche ferner ein Paar Austrittsfenster aufweist, durch die das Licht von innerhalb
der Integrationskugel nach außen tritt, und mit einem Probenfenster, welches einem der Austrittsfenster diametral in
der Integrationskugel gegenüberliegend angeordnet ist, wobei in das Probenfenster eine zu messende Probe angeordnet
wird, so daß die Probe zum Inneren der Integrationskugel weist. Das Eintrittsfenster, die Austrittsfenster und
das Probenfenster sind in einer einzigen Ebene angeordnet, welche den Mittelpunkt der Integrationskugel enthält. Das
Gerät ist ferner mit einer Lichtmeßvorrichtung ausgestattet,
die einen Photodetektor umfaßt, der vor einem der Austrittsfenster angeordnet ist, so daß der Photodetektor das Licht
empfängt, welches aus dem einen Austrittsfenster austritt, um ein entsprechendes elektrisches Signal zu erzeugen, welches
beispielsweise die an früherer Stelle erwähnte Lichtmenge Ir des Bezugslichtes darstellt.
Die Lichtmeßvorrichtung wird stationär festgehalten,
während die Integrationskugel um eine Achse drehbar angeordnet ist, die mit einer Diametral-Linie in der zuvor erwähnten
einzigen Ebene koinzidiert, so daß das andere der zwei Austrittsfenster mit der Lichtmeßvorrichtung ausgerichtet
β et * B β
•13-
werden kann, so daß dann der Photodetektor das Licht auffängt,
welches durch das andere Austrittsfenster austritt, um eän entsprechendes elektrisches Signal zu erzeugen, welches
beispielsweise die an früherer Stelle erwähnte Lichtmenge Is des Probenlichtes kennzeichnet.
Eine Signalverarbeitungsschaltung verarbeitet die zuvor erwähnten zwei elektrischen Signale, um ein Verhältnis von
Is/Ir zu bilden, welches den absoluten Reflexionsgrad der
gemessenen Probe angibt.
Gemäß einem weiteren bevorzugten Ausführungsbeispiel nach der Erfindung werden die Positionen der Lichtquelle und der
Lichtmeßvorrichtung bei dem zuvor erläuterten Ausführungsbeispiel vertauscht, so daß das Licht der Lichtquelle in
die Integrationskugel über eines der Austrittsfenster eintritt und das Licht aus der Integrationskugel über das Eintrittsfenster
austritt und von der Lichtmeßvorrichtung aufgefangen wird.
Im folgenden wird die Erfindung anhand von Ausführungsbeispielen
unter Hinweis auf die Zeichnung näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 eine schematische Darstellung eines Ausführungsbeispiels der Erfindung,
Fig. 2 eine der Fig, 1 ähnliche Darstellung, bei der jedoch die Integrationskugel in einer unterschiedlichen
Betriebslage um 180 aus der Position nach Fig.1 verdreht gezeigt ist;
-14-
Fig. 3 eine schematische Darstellung eines weiteren Ausführungsbeispiels
der Erfindung;
Fig. 4 eine schematische Darstellung eines dritten Ausführungsbeispiels
der Erfindung;
Fig. 5 eine der Fig.4 ähnliche Darstellung, bei der jedoch
die Integrationskugel in einer unterschiedlichen Betriebslage, um 180° aus der Position nach Fig.4 ·
verdreht , gezeigt ist;
Fig. 6 eine schematische Darstellung eines vierten Ausführungsbeispiels
der Erfindung;
Fig. 7 eine schematische Draufsicht auf das Gerät, welches als optisches Zubehörgerät, in einem Spektralphotometer
ausgeführt ist;
Fig. 8 eine auseinandergezogene perspektivische Darstellung
einer Integrationskugel mit einem Mechanismus zur drehbaren Halterung der Integrationskugel;
Fig. 9 eine vergrößerte vertikale Schnittdarstellung eines Abschnitts des Halterungsrahmens nach Fig.8; und
Fig. 10 eine Seitenansicht, teilweise in vertikalem Schnitt gehalten/einer Integrationskugel mit einem Mechanismus
zur Drehung derselben.
Die Konstruktion des Gerätes gemäß Fig.1 wurde bereits zuvor
beschrieben und zwar auch mit einer Erläuterung des Meßprinzips des absoluten Reflexionsgrades. Das Eintritts-
β * β
-15-
fenster WI, die Austrittsfenster WOr und WOs und das
Probenfenster Ws sind in einer einzigen Ebene ausgebildet, welche den Mittelpunkt CN der Integrationskugel IS enthält und ferner ist die Integrationskugel um ihre Achse AX
drehbar, die mit einer diametral verlaufenden Linie zusammenfällt, welche in der zuvor erwähnten einzigen Ebene
liegt, so daß die Integrationskugel selektiv in symmetrische Positionen gebracht werden kann, die in den Figuren 1 und gezeigt sind.
Probenfenster Ws sind in einer einzigen Ebene ausgebildet, welche den Mittelpunkt CN der Integrationskugel IS enthält und ferner ist die Integrationskugel um ihre Achse AX
drehbar, die mit einer diametral verlaufenden Linie zusammenfällt, welche in der zuvor erwähnten einzigen Ebene
liegt, so daß die Integrationskugel selektiv in symmetrische Positionen gebracht werden kann, die in den Figuren 1 und gezeigt sind.
Wenn sich die Integrationskugel IS in der in Fig.1 gezeigten
Position befindet, wird die gesamte Lichtmenge Ir des durch das Austrittsfenster WOr austretenden Lichtes gemessen und
es wird dann die Integrationskugel um 180 um die Achse AX in die in Fig. 2 gezeigte Position gedreht, in der die
gesamte Lichtmenge Is des durch das Austrittsfenster WOs
austretenden Lichtes gemessen wird. Eine Signalverarbeitungsschaltung CP verarbeitet die Ausgangsgrößen des Photodetektors PD, um ein Verhältnis von Is/Ir zu bilden, welches den absoluten Reflexionsgrad r1 der Probe ausdrückt. Diese Daten werden durch ein Aufzeichnungsgerät RC aufgezeichnet.
gesamte Lichtmenge Is des durch das Austrittsfenster WOs
austretenden Lichtes gemessen wird. Eine Signalverarbeitungsschaltung CP verarbeitet die Ausgangsgrößen des Photodetektors PD, um ein Verhältnis von Is/Ir zu bilden, welches den absoluten Reflexionsgrad r1 der Probe ausdrückt. Diese Daten werden durch ein Aufzeichnungsgerät RC aufgezeichnet.
Bei der Anordnung nach Fig.1 und nach Fig.2 wird die Probe
SM durch diffuses Licht beleuchtet und es wird der Reflexionsgrad Rd/o in senkrechter Richtung zur Fläche der Probe gemessen.
Es besteht die Möglichkeit, eine Probe direkt mit dem Licht aus der monochromatischen Lichtquelle so zu beleuchten, daß
das Licht senkrecht auf die Fläche der Probe auftrifft,und
dann den Reflexionsgrad Ro/d der Probe dadurch zu ermitteln, indem das diffuse Licht gemessen wird, welches von der
Probenflache reflektiert wird. Die Anordnung nach Fig.3
dient dazu, den Reflexionsgrad Ro/d zu messen. In Fig.3 ist die Position der Lichtquelle (d.h. der Lampe LP und
des Monochromators MC) und die Position des Lichtmeßsystems
(d.h. der Linse LN, der öffnung AP und des Photodetektors
PD) in den Figuren 1 und 2 vertauscht. Speziell wird das Licht aus der monochromatischen Lichtquelle (Monochromator)
durch das Austrittsfenster WOs in die Integrationskugel IS eingeführt, während das Austrittslicht aus der Integrationskugel über das Eintrittsfenster WI abgegriffen wird, so
daß die gesamte Lichtmenge Is des Austrittslichtes gemessen wird. Wenn die Integrationskugel IS in eine symmetrische
Position gedreht wird, die nicht gezeigt ist, jedoch der Fig.1 entspricht, so wird das Licht aus der monochromatischen
Lichtquelle über das andere Austrittsfenster WOr in'die Integrationskugel eingeführt und das Austrittslicht aus der
Integrationskugel wird an dem Eintrittsfenster WI abgegriffen, so daß die gesamte Lichtmenge Ir des Austrittslichtes gemessen
wird. Bei diesem zweiten Ausführungsbexspiel der Erfindung läßt sich aus dem Verhältnis der zwei gemessenen
Werte Is und Ir der absolute Reflexionsgrad Ro/d der Probe wie bei dem früheren Ausführungsbexspiel erhalten.
Die Figuren 4 und 5 zeigen ein drittes Ausführungsbexspiel mit Merkmalen nach der Erfindung, bei dem die gerade Linie,
die den Mittelpunkt der Zone Wr oder des Probenfensters Ws mit demjenigen des Austrittsfensters WOr oder WOs verbindet
(wobei diese Linie mit der optischen Achse der Lichtmeßvorrichtung zusammenfällt), nicht durch den Mittelpunkt CN
der Integrationskugel IS verläuft, sondern mit der diametral
verlaufenden Linie, die durch den Mittelpunkt der Zone Wr
oder des Fensters Ws verläuft, einen Winkel θ einschließt. Bei dieser Anordnung besteht die Möglichkeit den Reflexionsgrad
Rd/Θ der Probe gegenüber dem Licht zu messen, welches schräg von der Probenfläche, die durch diffuses Licht beleuchtet
wird, reflektiert wird.
Fig. 6 zeigt ein viertes Ausführungsbeispiel mit Merkmalen nach der Erfindung, wobei die Position der Lichtquelle
(der Lampe LP und des Monochromators MC) und diejenige der
Lichtmeßvorrichtung (der Linse LN, der Öffnung AP und des
Photodetektors PD) entsprechend den Figuren 4 und 5 vertauscht sind. Bei dieser Anordnung besteht die Möglichkeit,
den Reflexionsgrad RQ/d der Probe gegenüber dem diffusen
Licht zu messen, welches von der Probenfläche reflektiert wird, die direkt durch das Licht von dem Monochromator
bzw. der monochromatischen Lichtquelle beleuchtet wird, wobei dieses Licht schräg auf die Probenfläche auftrifft.
Fig. 7 zeigt schematisch ein fünftes Ausführungsbeispiel
mit Merkmalen nach der Erfindung, bei dem die Integrationskugel IS, die Linse LN zusammen mit einem Paar von ebenen
Spiegeln MR1 und MR» so angeordnet sind, um ein optisches
Zubehörteil ACC für die Verwendung in der Probenkammer eines bestehenden Spektralphotometers SP zu bilden. Die Spiegel MR
und MR« sind so angeordnet, daß das Austrittslicht aus der
Integrationskugel IS mit der optischen Achse OA des Spektralphotometers zusammenfällt. Die Integrationskugel des
optischen Zubehörteils ACC ist um ihre Achse AX wie bei den zuvor erläuterten Ausführungsbeispielen drehbar.
Die Figuren 8 bis 10 zeigen anhand von Ausführungsbeispielen
einen Mechanismus zur Drehung der Integrationskugel IS bei den zuvor erläuterten Ausführungsbeispielen. Ein
Lagerring BR ist an der Integrationskugel IS befestigt und einstückig mit einem Flansch FL ausgestattet, an
dessen Umfang mehrere Zahnradzähne GT ausgebildet sind, wie dies schematisch in Fig.8 veranschaulicht ist. Ein
Halterungsrahmen SF umfaßt ein Basisteil PS und eine nach oben ragende Platte UP. Das Basisteil BS ist am
Rahmen wie beispielsweise eines Spektralphotometers (nicht gezeigt) mit Hilfe von Schrauben oder Bolzen (nicht gezeigt)
befestigt, die in ein Paar von Bohrungen HL in der Basis eingesetzt sind. Die nach oben ragende Platte UP ist mit
einer kreisrunden Lageröffnung BH ausgestattet, deren Innendurchmesser geringfügig größer ist als der Außendurchmesser
des Lagerrings BR.
Ein Paar von durchgehenden Bohrungen TB sind in der nach oben ragenden Platte UP des Halterungsrahmens SF an diametral
gegenüberliegenden Seiten der kreisförmigen Lageröffnung BH und zueinander ausgerichtet ausgebildet. Eine Arretierkugel
BL ist in jeder der durchgehenden Bohrungen TB vorhanden und eine Druckfeder SP wird mit Hilfe einer
Feststellschraube SS in jeder durchgehenden Bohrung TB festgehalten bzw. abgestützt und drückt gegen die Kugel BL,
so daß letztere teilweise über die innere Umfangsflache
der Lageröffnung BH hinausragt. An der äußeren Umfangsfläche de.s Lagerringes BR der Integrationskugel sind an
diametral gegenüberliegenden Seiten ein Paar von Vertiefungen DP ausgebildet.
Der Lagerring BR wird in die Lageröffnung BH des
• a ' β · "
• «es ·*
-19-
Halterungsrahmens SF von einer Seite der nach oben
ragenden Platte UP eingeschoben, so daß ein axialer Endabschnitt des Lagerringes BR gegenüber dem Flansch FL
an der gegenüberliegenden Seite der nach oben ragenden Platte UP des Halterungsrahmens SF vorragt. Ein Festhaltering
RR wird auf den vorragenden axialen Endabschnitt des Lagerringes BR aufgesetzt und mit Hilfe von Einstellschrauben
SS1 an diesem Endabschnitt befestigt, so daß
die Integrationskugel IS in der Lageröffnung BH des Halterungsrahmens SF derart gehalten wird, daß sie um
ihre Achse AX gedreht werden kann, die durch den Mittelpunkt der Lageröffnung BH verläuft, wobei die Lageröffnung
BH drehbar in dem Lagerring BR zusammen mit der Integrationskugel IS gehaltert ist.
Die Arretierkugeli BL an der inneren Umfangsflache der
Lageröffnung BH greifen dann in die Vertiefungen DP an der äußeren Umfangsflache des Lagerringes BR ein und zwar
bei einer Drehstellung der Integrationskugel IS relativ zur Halterung SF, daß das Austrittslicht der Integrationskugel am Austrittsfenster WOr oder WOs in den Photodetektor
PD gelangt.
Für die Drehung der Integrationskugel IS um ihre Achse AX steht ein Antriebszahnrad PN in Eingriff mit den äußeren
Zahnradzähnen GT des Flansches FL des Lagerringes BR. Das Antriebszahnrad PN wird von einem Motor MO angetrieben, um
den äußeren Zahnkranz GT anzutreiben und demzufolge die Integrationskugel IS um ihre Achse AX zu drehen. Ein Regler CL
erzeugt Steuersignale für den Motor MO.
Durch die vorliegende Erfindung werden die folgenden Vorteile realisiert: Da es nicht mehr erforderlich ist,,
die Position der Lichtmeßvorrichtung zu ändern, wird der Vorgang der Messung einfach; da die Lichtmeßvorrichtung
für den Betrieb keine zwei Positionen einzunehmen braucht, genügt ein kleinerer Raum für eine Installation als dies
bei den bekannten derartigen Geräten der Fall war; da die Integrationskugel lediglich drehbar gehaltert werden
braucht, ist auch der entsprechende Mechanismus einfach gestaltet; und da schließlich die Vorrichtung als optisches
Zubehör zu einem bestehenden Spektralphotometer verwendet werden kann, besteht auch die Möglichkeit,den absoluten
Reflexionsgrad einer Probe einfach und bei niedrigen Kosten zu messen.
■Μ'
Leerseite
Claims (8)
- TeDTKE - BüHLING - KlNNE*^ jGpUPE Γ: . ;.":;"5$3Κΐ!Im EM /JtPellmann - Grams ■ StruYf ;". ". " SSAm.'eSngDipl.-lng. R. Kinne 3338203 Dipl.-lng R GrupeDipl.-lng. B. Pellmann Dipl.-lng. K. Grams Dipl.-Chem. Dr. B. StruifBavariaring 4, Postfach 202403 8000 München 2Tel.: 089-539653 Telex: 5-24845 tipat Telecopier: 0 89-537377 cable: Germaniapatent München20. Oktober 1983DE 3410 /case ShimadEU-7]PATENTANSPRÜCHE/Ύ7) Gerät zur Messung des absoluten Reflexionsgrades
einer Probe, gekennzeichnet durch:a) eine Integrationskugel (IS), die in ihrer Kugel wandung vier Fenster (WI, Ws, WOs, WOr) aufweist,
deren Mittelpunkte in einer einzigen Ebene gelegen sind, welche den Mittelpunkt der Kugel enthält, wobei der Mittelpunkt eines ersten der Fenster mit einer diametral verlaufenden Linie, die in der Ebene liegt, koinzidiert, während ein zweites und ein drittes
Fenster der vier Fenster symmetrisch zu der diametral verlaufenden Linie angeordnet sind und wobei das vierteDresdner Bank (München) Kto. 3939 844Bayer. Vereinsbank (München) KIo. 508 94tPostscheck (München) KIo. 670-43-604der Fenster eine Probe (SM) derart aufnimmt, daß diese Probe zum Inneren der Integrationskugel (IS) zeigt;b) eine Lichtquelle (LP, MC), die so angeordnet ist, daß sie einen Lichtstrahl in die Integrationskugel (IS) einführt;c) eine Lichtauffangeinrichtung (SC) in der Integrationskugel (IS), die derart angeordnet ist, daß sie in Bezug auf die Probe (SM) einen Teil des Lichtes auffängt;d) eine Lichtmeßeinrichtung (LN, SL, PD), die derart angeordnet ist, daß sie das vom Inneren der Integrationskugel (IS) austretende Licht empfängt;e) eine Einrichtung (Fig.8, Fig.10) zum Drehen der Integrationskugel (IS) um eine Achse (AX), die mit der diametral verlaufenden Linie koinzidiert, so daß die Integrationskugel (IS) in eine erste und eine zweite um 180 voneinander verdrehte Position drehbar ist, um dadurch die Arbeitslage des ersten und des dritten Fensters relativ zur Lichtquelle (LP, MC) oder zu der Lichtmeßeinrichtung (LN, SL, PD) zu verändern ; undf) eine Einrichtung (CP, RC) zum Verarbeiten der gemessenen Daten, die von der Lichtmeßeinrichtung (LN, SL, PD) dann erhalten werden, wenn die Integrationskugel (IS) sich jeweils in der ersten und der zweiten Position befindet, um dadurch den absoluten Reflexionsgrad der Probe (SM) zu e.rmitteln. - 2. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle (LP, MC) so angeordnet ist, daß das Licht der Lichtquelle (LP, MC) in die Integrationskugel (IS) durch das erste Fenster (WI) eintritt, und daß die Lichtmeßeinrichtung (LN, LS, PD) so angeordnet ist, daß sie das Licht vom Inneren der Integrationskugel (IS) über das zweite Fenster (WOr) auffängt, oder alternativ dieses Licht über das dritte Fenster (WOs) auffängt, wenn sich die Integrationskugel (IS) in ihrer zweiten Position befindet.
- 3. Gerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle (LP, MC) so angeordnet ist, daß das Licht dieser Lichtquelle in die Integrationskugel (IS) durch das zweite Fenster (WOs) gelangt, wenn die Integrationskugel sich in der ersten Position befindet, und alternativ durch das dritte Fenster (WOr), wenn sich die Integrationskugel (IS) in ihrer zweiten Position befindet, und daß die Lichtmeßeinrichtung (LN, SL, PD) so angeordnet ist, daß sie das Licht vom Inneren der Integrationskugel (IS) über das erste Fenster (WI) empfängt.
- 4. Gerät nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß das vierte Fenster (Ws) symmetrisch zu dem zweiten oder dritten Fenster (WOs, WOr) hinsichtlich des Mittelpunktes (CN) der Integrationskugel (IS) angeordnet ist,
- 5. Gerät nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß das vierte Fenster (Ws) so angeordnet ist, daß eine gerade Linie, welche den Mittelpunkt des vierten Fensters (Ws) mit dem Mittelpunkt des zweiten oderdritten Fensters (WOs, WOr) verbindet, welches auf der Seite der Achse gegenüber dem vierten Fenster (Ws) gelegen ist, nicht durch den Mittelpunkt (CN) der Integrationskugel (IS) verläuft{Fig. 5, Fig.6).
- 6. Gerät nach einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtauffangeinrichtung aus einem Schirm (SC) besteht, der derart angeordnet ist, daß das zum ersten Mal von der Innenfläche der Integrationskugel (IS) reflektierte diffuse Licht nicht direkt auf die Probenfläche auffallen kann.
- 7. Gerät nach einem der vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung zur Drehung der Integrationskugel einen Rahmen (SF) zur Halterung der Integrationskugel (IS) entsprechend einer Drehung um die Achse (AX), ferner ein Ringzahnrad (GT), welches an der Integrationskugel (IS) befestigt ist und äußere Zahnradzähne aufweist, ein Antriebszahnrad (PN), welches mit dem Ringzahnrad (GT) kämmt, eine Antriebseinrichtung (MO) zum Drehantrieb des Antriebszahnrades· (PN), und eine Einrichtung (CL) zur Regelung der Betriebsweise der Antriebseinrichtung (MO) aufweist..{Fig.
- 8, Fig. 10)
Applications Claiming Priority (1)
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