JPH0778908B2 - 光デイスクのテストデイスク - Google Patents
光デイスクのテストデイスクInfo
- Publication number
- JPH0778908B2 JPH0778908B2 JP61139563A JP13956386A JPH0778908B2 JP H0778908 B2 JPH0778908 B2 JP H0778908B2 JP 61139563 A JP61139563 A JP 61139563A JP 13956386 A JP13956386 A JP 13956386A JP H0778908 B2 JPH0778908 B2 JP H0778908B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- disc
- scratch
- test
- optical disc
- disk
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、ビデオディスク、ディジタルオーディオディ
スク（例えばコンパクトディスク）、静止画・文書ファ
イルなどのディジタル信号を記録、再生または消去可能
な光ディスクのテストディスクに関するものである。
スク（例えばコンパクトディスク）、静止画・文書ファ
イルなどのディジタル信号を記録、再生または消去可能
な光ディスクのテストディスクに関するものである。
従来の技術 一般に光ディスクはその情報密度が極めて大きいこと
や、S/N比が大きく、ノイズが少ないことなどから情報
媒体として有望視され、ビデオディスクやディジタルオ
ーディオディスクとして商品化され、ディジタル信号を
記録、再生する光ディスクとしても近年研究開発が行わ
れている。
や、S/N比が大きく、ノイズが少ないことなどから情報
媒体として有望視され、ビデオディスクやディジタルオ
ーディオディスクとして商品化され、ディジタル信号を
記録、再生する光ディスクとしても近年研究開発が行わ
れている。
第５図に従来の一般的なディジタルオーディオディスク
であるコンパクトディスクの概要を示す。これは、PCM
変換されたディジタル信号が樹脂基板にピット列状に記
録され半導体レーザ光により再生されるものである。
であるコンパクトディスクの概要を示す。これは、PCM
変換されたディジタル信号が樹脂基板にピット列状に記
録され半導体レーザ光により再生されるものである。
第５図にて、１はディスク、２は樹脂基板、３は樹脂基
板２に設けられたピット列状のディジタル信号部、４は
その表面に形成された反射膜、５は反射膜４にコーティ
ングされた保護膜、６は保護膜５に設けられたレーベル
印刷膜、７は再生用の半導体レーザ光である。反射膜４
はディジタル信号を再生するため、保護膜５は反射膜を
保護するため、レーベル印刷膜はディスク識別のため各
々必要なものである。
板２に設けられたピット列状のディジタル信号部、４は
その表面に形成された反射膜、５は反射膜４にコーティ
ングされた保護膜、６は保護膜５に設けられたレーベル
印刷膜、７は再生用の半導体レーザ光である。反射膜４
はディジタル信号を再生するため、保護膜５は反射膜を
保護するため、レーベル印刷膜はディスク識別のため各
々必要なものである。
従来の光ディスクに関して、ディスク読取面上に傷によ
る欠陥がある場合には、光ディスクプレイヤーが正常に
ディジタル信号を再生することができずにトラックジャ
ンプやノイズの発生などの再生上の異常を生じることが
ある。これらの傷をシミュレーションすることは極めて
困難であり、良好な光ディスクのテストディスクは存在
しなかった。しかし、従来例としてトラックと直交する
方向に傷を付着させ、ある幅だけ傷を付着させたものが
あった。第３図に従来の光ディスクのテストディスクの
平面図を示す。１はディスクであり、８はトラック方向
に直交した方向に付けられた傷を示す。
る欠陥がある場合には、光ディスクプレイヤーが正常に
ディジタル信号を再生することができずにトラックジャ
ンプやノイズの発生などの再生上の異常を生じることが
ある。これらの傷をシミュレーションすることは極めて
困難であり、良好な光ディスクのテストディスクは存在
しなかった。しかし、従来例としてトラックと直交する
方向に傷を付着させ、ある幅だけ傷を付着させたものが
あった。第３図に従来の光ディスクのテストディスクの
平面図を示す。１はディスクであり、８はトラック方向
に直交した方向に付けられた傷を示す。
発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記のような構成では、ディスクのトラッ
ク方向に直交した方向に傷を付着させ、あるトラック長
の間が完全に傷がつくためレーザ光の欠落部面積が大き
すぎることや、実際の傷のシミュレーションになってい
ないなどの問題点を有していた。
ク方向に直交した方向に傷を付着させ、あるトラック長
の間が完全に傷がつくためレーザ光の欠落部面積が大き
すぎることや、実際の傷のシミュレーションになってい
ないなどの問題点を有していた。
本発明は上記問題点に鑑み、実際の取扱い上に付着する
傷にシミュレーションした光ディスクのテストディスク
を提供するものである。
傷にシミュレーションした光ディスクのテストディスク
を提供するものである。
問題点を解決するための手段 上記問題点を解決するために本発明の光ディスクのテス
トディスクは、ディスク読取面上に、半径方向と直交す
る方向でありトラック方向にほゞ平行な各々の線幅、長
さ、深さが同じである複数本の傷を設けたものである。
トディスクは、ディスク読取面上に、半径方向と直交す
る方向でありトラック方向にほゞ平行な各々の線幅、長
さ、深さが同じである複数本の傷を設けたものである。
作用 本発明は上記した構成により、ディスク読取面上に、半
径方向と直交する方向で、トラック方向にほゞ平行な各
々の線幅、長さ、深さが同じである複数本の傷を設け、
実際の傷にシミュレーションすることにより光ディスク
プレヤーのプレヤビリティ測定用の光ディスクのテスト
ディスクを信頼性良く得られる。
径方向と直交する方向で、トラック方向にほゞ平行な各
々の線幅、長さ、深さが同じである複数本の傷を設け、
実際の傷にシミュレーションすることにより光ディスク
プレヤーのプレヤビリティ測定用の光ディスクのテスト
ディスクを信頼性良く得られる。
実施例 以下本発明の一実施例の光ディスクのテストディスクに
ついて、図面を参照しながら説明する。第１図は本発明
の第１の実施例における光ディスクのテストディスクの
平面図を示すものである。第１図において、半径方向と
直交する方向でトラック方向にほぼ平行に線幅50μm,長
さ2mm,深さ100μｍの傷９を３本形成して第１の傷シミ
ュレーション10を形成する。このように、トラック方向
にほぼ平行な傷９が３本設けられていることは、ディジ
タル信号を再生する場合に、その傷の長さに概略比例し
た欠落情報を得ることが可能であり、しかも数十秒間の
時間に対しては、欠落部分と正常部分とが交互に存在す
るために、第１の傷シミュレーション10は実際の傷に極
めて近似される。
ついて、図面を参照しながら説明する。第１図は本発明
の第１の実施例における光ディスクのテストディスクの
平面図を示すものである。第１図において、半径方向と
直交する方向でトラック方向にほぼ平行に線幅50μm,長
さ2mm,深さ100μｍの傷９を３本形成して第１の傷シミ
ュレーション10を形成する。このように、トラック方向
にほぼ平行な傷９が３本設けられていることは、ディジ
タル信号を再生する場合に、その傷の長さに概略比例し
た欠落情報を得ることが可能であり、しかも数十秒間の
時間に対しては、欠落部分と正常部分とが交互に存在す
るために、第１の傷シミュレーション10は実際の傷に極
めて近似される。
このような第１の傷シミュレーション10の再生プレヤー
から見た電気特性であるRF波形を第４図に示す。ここ
で、第４図（ａ）が実際の傷ディスクを再生した場合の
RF波形、第４図（ｂ）が本発明の一実施例である第１の
傷シミュレーション10を再生した場合のRF波形を示す。
参考までに、従来の例である第３図に示す傷ディスクを
再生した場合のRF波形を第４図（ｃ）に示す。このよう
に、第１の傷シミュレーション10は実際の傷に極めて近
似されていることが電気特性より明らかである。
から見た電気特性であるRF波形を第４図に示す。ここ
で、第４図（ａ）が実際の傷ディスクを再生した場合の
RF波形、第４図（ｂ）が本発明の一実施例である第１の
傷シミュレーション10を再生した場合のRF波形を示す。
参考までに、従来の例である第３図に示す傷ディスクを
再生した場合のRF波形を第４図（ｃ）に示す。このよう
に、第１の傷シミュレーション10は実際の傷に極めて近
似されていることが電気特性より明らかである。
以下本発明の第２の実施例について図面を参照しながら
説明する。第２図は本発明の第２の実施例を示す光ディ
スクのテストディスクの平面図を示すものである。第２
図において、光ディスクの半径方向と直交する方向で、
トラック方向にほぼ平行に各々の線幅50μm,深さ100μ
m,ピッチ300μｍの傷を３本づつ３組形成し、その長さ
を各々5mm,3mm,2mmと変化させて第１の傷シミュレーシ
ョン10、第２傷シミュレーション11、第３の傷シミュレ
ーション12とする。これによれば、１枚の光ディスク内
に複数の傷シミュレーションを設けることにより、再生
用光ディスクプレーヤのプレヤビリティを測定するテス
トディスクとしては最適なものとすることができる。
説明する。第２図は本発明の第２の実施例を示す光ディ
スクのテストディスクの平面図を示すものである。第２
図において、光ディスクの半径方向と直交する方向で、
トラック方向にほぼ平行に各々の線幅50μm,深さ100μ
m,ピッチ300μｍの傷を３本づつ３組形成し、その長さ
を各々5mm,3mm,2mmと変化させて第１の傷シミュレーシ
ョン10、第２傷シミュレーション11、第３の傷シミュレ
ーション12とする。これによれば、１枚の光ディスク内
に複数の傷シミュレーションを設けることにより、再生
用光ディスクプレーヤのプレヤビリティを測定するテス
トディスクとしては最適なものとすることができる。
なお、線幅と深さとを同一とし、傷のピッチだけを変化
させることにより、これと同等の効果を有するテストデ
ィスクを得ることも可能である。
させることにより、これと同等の効果を有するテストデ
ィスクを得ることも可能である。
発明の効果 以上のように本発明は、ディスク読取面上に、半径方向
と直交する方向でトラック方向にほゞ平行な各々の線
幅、長さ、深さが同じである複数本の傷を設けることに
より、実際の傷に近似した傷シミュレーションが可能で
あり、再生光ディスクプレヤーのプレヤビリティを測定
することができる。また、その傷のピッチや長さを自由
に変化させ１枚のディスク内に複数の傷シミュレーショ
ンを形成することにより、信頼性の高い、再生光ディス
クプレイヤーのプレヤビリティ測定用の光ディスクのテ
ストディスクを提供することができる。
と直交する方向でトラック方向にほゞ平行な各々の線
幅、長さ、深さが同じである複数本の傷を設けることに
より、実際の傷に近似した傷シミュレーションが可能で
あり、再生光ディスクプレヤーのプレヤビリティを測定
することができる。また、その傷のピッチや長さを自由
に変化させ１枚のディスク内に複数の傷シミュレーショ
ンを形成することにより、信頼性の高い、再生光ディス
クプレイヤーのプレヤビリティ測定用の光ディスクのテ
ストディスクを提供することができる。
第１図は本発明の第１の実施例における光ディスクのテ
ストディスクの平面図、第２図は本発明の第２の実施例
における光ディスクのテストディスクの平面図、第３図
は従来の光ディスクのテストディスクの平面図、第４図
は再生光ディスクプレヤーにおける電気特性のRF波形を
示し、第４図（ａ）は実際の傷ディスクのRF波形図、第
４図（ｂ）は本発明の第１の実施例における光ディスク
のテストディスクのRF波形図、第４図（ｃ）は従来のテ
ストディスクのRF波形図であり、第５図（ａ），
（ｂ），（ｃ）は光ディスクの一種であるコンパクトデ
ィスクの平面図，断面図、および要部拡大図である。 １……ディスク、９……傷、10……第１の傷シミュレー
ション、11……第２の傷シミュレーション、12……第３
の傷シミュレーション。
ストディスクの平面図、第２図は本発明の第２の実施例
における光ディスクのテストディスクの平面図、第３図
は従来の光ディスクのテストディスクの平面図、第４図
は再生光ディスクプレヤーにおける電気特性のRF波形を
示し、第４図（ａ）は実際の傷ディスクのRF波形図、第
４図（ｂ）は本発明の第１の実施例における光ディスク
のテストディスクのRF波形図、第４図（ｃ）は従来のテ
ストディスクのRF波形図であり、第５図（ａ），
（ｂ），（ｃ）は光ディスクの一種であるコンパクトデ
ィスクの平面図，断面図、および要部拡大図である。 １……ディスク、９……傷、10……第１の傷シミュレー
ション、11……第２の傷シミュレーション、12……第３
の傷シミュレーション。
Claims (3)
- 【請求項１】ディスク読取面上に、半径方向と直交する
方向で、トラック方向にほぼ平行な各々の線幅，長さ，
深さが同じである複数本の傷を設けたことを特徴とする
光ディスクのテストディスク。 - 【請求項２】各々の傷の線幅が20〜100μｍ、長さが１
〜10mm、深さが20〜500μｍ、ピッチが50〜500μｍであ
ることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の光ディ
スクのテストディスク。 - 【請求項３】１枚のディスク読取面上に、半径方向と直
交する方向でトラック方向にほぼ平行な各々の傷の線
幅、深さは同じであり、ピッチまたは長さだけを順次変
化させた複数の傷シミュレーション形状を有することを
特徴とする光ディスクのテストディスク。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61139563A JPH0778908B2 (ja) | 1986-06-16 | 1986-06-16 | 光デイスクのテストデイスク |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61139563A JPH0778908B2 (ja) | 1986-06-16 | 1986-06-16 | 光デイスクのテストデイスク |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62295233A JPS62295233A (ja) | 1987-12-22 |
| JPH0778908B2 true JPH0778908B2 (ja) | 1995-08-23 |
Family
ID=15248177
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61139563A Expired - Lifetime JPH0778908B2 (ja) | 1986-06-16 | 1986-06-16 | 光デイスクのテストデイスク |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0778908B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| AU640928B2 (en) * | 1989-06-05 | 1993-09-09 | Sony Corporation | Check disc |
| US5627818A (en) * | 1992-10-13 | 1997-05-06 | International Business Machines Corporation | Optical disk with marks used for calibrating an optical detector to minimize noise from undesired perturbations in disk surfaces |
| JP2776205B2 (ja) * | 1993-07-30 | 1998-07-16 | ティアック株式会社 | 検査用ディスク及びその製造方法 |
| JP5427413B2 (ja) * | 2006-11-24 | 2014-02-26 | 株式会社ソニー・コンピュータエンタテインメント | 擬似汚れ付着パターン生成方法および光検査用ディスク |
-
1986
- 1986-06-16 JP JP61139563A patent/JPH0778908B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62295233A (ja) | 1987-12-22 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |