JPH077425A - A/d converter - Google Patents

A/d converter

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JPH077425A
JPH077425A JP16868493A JP16868493A JPH077425A JP H077425 A JPH077425 A JP H077425A JP 16868493 A JP16868493 A JP 16868493A JP 16868493 A JP16868493 A JP 16868493A JP H077425 A JPH077425 A JP H077425A
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conversion circuit
circuit
reference voltage
binarized data
value
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Abstract

PURPOSE:To attain an A/D converter having almost the same circuit size as a conventional one and shorter conversion time. CONSTITUTION:This A/D converter is provided with the 1st conversion circuits 4, 8, 12 for binarizing an upper bit part in the 1st step, the 2nd conversion circuits 1 to 3 for binarizing a lower bit part by the 2nd step, the 3rd conversion circuit 100 for executing binarization corresponding to one selected data out of binary data for upper bits in the 2nd step, and an encoding circuit 240 for correcting data consisting of binary data C4, C8, C12 for upper bit parts and binary data C1 to C3 for lower bit parts in accordance with an output value Cp from the circuit 100 and encoding the corrected data and constituted so that the time (T1-T0) of the 1st step is shorter than time (almost T2-T1) required for the stabilization of the 1st conversion circuits 4, 8, 12.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、A/Dコンバータに
関し、詳しくは、いわゆる2ステップ・フラッシュ型A
/Dコンバータの改良に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an A / D converter, and more specifically, a so-called two-step flash type A
/ D converter improvement.

【0002】[0002]

【従来の技術】図3に並列型A/Dコンバータの例を示
す。これは、2ステップ・フラッシュ型A/Dコンバー
タ以前の基本的なものである。具体的には、ラダー抵抗
R0〜R15によって複数の基準電圧信号D1〜D15
を発生し、サンプル・ホールド回路16がアナログ信号
Aをタイミング信号T0に従ってサンプリングしこれを
アナログ信号A’とし、コンパレータ1〜15が並列し
て基準電圧信号D1〜D15とアナログ信号A’との比
較動作を一度に行う。そして、ラッチ18がコンパレー
タ1〜15からの15ビットの二値化データC1〜15
をタイミング信号T1に従ってラッチし、これをエンコ
ーダ19が4ビットの2進数に符号化して出力する。こ
れにより、アナログ信号Aの値がデジタル値Eに変換さ
れる。
2. Description of the Related Art FIG. 3 shows an example of a parallel A / D converter. This is a basic one before the 2-step flash type A / D converter. Specifically, the plurality of reference voltage signals D1 to D15 are generated by the ladder resistors R0 to R15.
And the sample and hold circuit 16 samples the analog signal A in accordance with the timing signal T0 to obtain the analog signal A ', and the comparators 1 to 15 are arranged in parallel to compare the reference voltage signals D1 to D15 with the analog signal A'. Perform actions at once. Then, the latch 18 outputs the 15-bit binary data C1-15 from the comparators 1-15.
Is latched in accordance with the timing signal T1, and the encoder 19 encodes it into a 4-bit binary number and outputs it. As a result, the value of the analog signal A is converted into the digital value E.

【0003】図4に、上記のA/Dコンバータの波形例
を示す。アナログ信号A’の値が基準電圧信号D12に
極めて近い値のときの例である。この場合、アナログ信
号A’の値から比較的離れた値の基準電圧信号D10,
D11,D13,D14等とアナログ信号A’とを比較
して二値化を行うコンパレータ10,11,13,14
等は、出力である二値化データC10,C11,C1
3,C14等が素早く安定する。これに対し、アナログ
信号A’の値に近い基準電圧信号D12とアナログ信号
A’とを比較して二値化を行うコンパレータ12は、出
力である二値化データC12がなかなか安定しない。こ
のため、タイミング信号T0からタイミング信号T1ま
での時間として、通常、100ns程度を要する。
FIG. 4 shows a waveform example of the above A / D converter. This is an example when the value of the analog signal A ′ is extremely close to the reference voltage signal D12. In this case, the reference voltage signal D10 having a value relatively distant from the value of the analog signal A ',
Comparators D11, D13, D14, etc. and the analog signal A'are binarized to make comparators 10, 11, 13, 14
Etc. are the binarized data C10, C11, C1 which are outputs.
3, C14, etc. quickly stabilize. On the other hand, in the comparator 12 that performs the binarization by comparing the reference voltage signal D12 close to the value of the analog signal A ′ and the analog signal A ′, the binarized data C12 that is an output is not stable. Therefore, it usually takes about 100 ns from the timing signal T0 to the timing signal T1.

【0004】図5に、従来の2ステップ・フラッシュ型
A/Dコンバータの回路例を示す。これは、タイミング
信号T0からタイミング信号T1までの第1のステップ
とタイミング信号T1からタイミング信号T2までの第
2のステップとの2ステップに分けて比較動作を行う。
第1のステップでは、第1の変換回路がデジタル値Eの
上位2ビット分のための二値化データについて比較・変
換を行い、第2のステップでは、第2の変換回路がデジ
タル値Eの下位2ビット分のための二値化データについ
て比較・変換を行う。そして、これらの二値化データを
2進数のデジタル値Eに変換して出力する。
FIG. 5 shows a circuit example of a conventional 2-step flash type A / D converter. This performs the comparison operation in two steps, a first step from timing signal T0 to timing signal T1 and a second step from timing signal T1 to timing signal T2.
In the first step, the first conversion circuit compares and converts the binarized data for the upper 2 bits of the digital value E, and in the second step, the second conversion circuit converts the digital value E. The binary data for the lower 2 bits are compared and converted. Then, these binary data are converted into a binary digital value E and output.

【0005】詳述すると、第1の変換回路は、コンパレ
ータ4,8,12を主体とする回路である。コンパレー
タ4,8,12が、複数の基準電圧信号D1〜D15の
うちデジタル値Eの上位2ビット部分に対応している第
1の組の3つの基準電圧信号D4,D8,D12と、タ
イミング信号T0に従ってサンプリングされたアナログ
信号A’とを受けて、並列して比較を行い、比較結果に
従って二値化データC4,C8,C12を出力する。タ
イミング信号T1に従ってラッチ21が、これらの二値
化データをラッチして保持する。これにより、第1のス
テップで、デジタル値の上位2ビット部分のために必要
な3ビットの二値化データについての二値化が行われ
る。
More specifically, the first conversion circuit is a circuit mainly composed of the comparators 4, 8 and 12. The comparators 4, 8 and 12 include a first set of three reference voltage signals D4, D8 and D12 corresponding to the upper 2 bits of the digital value E among the plurality of reference voltage signals D1 to D15, and a timing signal. Upon receiving the analog signal A ′ sampled according to T0, parallel comparison is performed, and binarized data C4, C8, and C12 are output according to the comparison result. The latch 21 latches and holds these binarized data in accordance with the timing signal T1. As a result, in the first step, binarization is performed on the 3-bit binarized data necessary for the upper 2-bit portion of the digital value.

【0006】選択回路は、選択信号発生回路22と、ラ
ダー抵抗R0〜R15の各接続点に対応して設けられた
スイッチ群とからなる。選択信号発生回路22が第1の
変換回路からの二値化データに対応して選択信号を発生
し、この選択信号に従って各スイッチ群が開閉する。そ
して、4組の基準電圧信号(D1,D2,D3),(D
5,D6,D7),(D9,D10,D11),(D1
3,D14,D15)のうちの1組が選択される。選択
されるのは、二値化データC4,C8,C12のうち最
上位の“1”を出力しているコンパレータに入力されて
いる基準電圧信号の直上の値の1組である。これが基準
電圧信号D1’,D2’,D3’とされる。これによ
り、複数の基準信号D1〜D15のうちからデジタル値
Eの下位2ビット部分に対応する第2の組の基準電圧信
号D1’,D2’,D3’がコンパレータ1,2,3に
送出される。
The selection circuit includes a selection signal generation circuit 22 and a switch group provided corresponding to each connection point of the ladder resistors R0 to R15. The selection signal generation circuit 22 generates a selection signal corresponding to the binarized data from the first conversion circuit, and each switch group is opened and closed according to this selection signal. Then, four sets of reference voltage signals (D1, D2, D3), (D
5, D6, D7), (D9, D10, D11), (D1
3, D14, D15) is selected. What is selected is one set of the values immediately above the reference voltage signal input to the comparator outputting the highest "1" of the binarized data C4, C8, C12. This is the reference voltage signal D1 ', D2', D3 '. As a result, the second set of reference voltage signals D1 ′, D2 ′, D3 ′ corresponding to the lower 2 bits of the digital value E among the plurality of reference signals D1 to D15 are sent to the comparators 1, 2, 3. It

【0007】第2の変換回路は、コンパレータ1,2,
3を主体とする回路である。コンパレータ1,2,3
が、基準電圧信号D1’,D2’,D3’とアナログ信
号A’とを受けて、並列して比較を行い、比較結果に従
って二値化データC1,C2,C3を出力する。タイミ
ング信号T2に従ってラッチ23が、これらの二値化デ
ータをラッチして保持する。これにより、第2のステッ
プで、デジタル値の残りの下位2ビット部分のために必
要な3ビットの二値化データについての二値化が行われ
る。
The second conversion circuit includes comparators 1, 2, and
It is a circuit mainly composed of 3. Comparators 1, 2, 3
Receives the reference voltage signals D1 ', D2', D3 'and the analog signal A', performs parallel comparison and outputs binarized data C1, C2, C3 according to the comparison result. The latch 23 latches and holds these binarized data in accordance with the timing signal T2. As a result, in the second step, binarization is performed on the 3-bit binarized data required for the remaining lower 2-bit portion of the digital value.

【0008】エンコーダ24は、ラッチ21からの3ビ
ットの二値化データを2進数に変換してデジタル値Eの
上位2ビットとし、さらにラッチ23からの3ビットの
二値化データを2進数に変換してデジタル値Eの下位2
ビットとする。そして、これらを合わせた4ビットのデ
ジタル値Eを出力する。このように、4ビットのA/D
変換を行う場合は基本的な並列比較型では15個必要で
あったコンパレータが、2ステップに分けて比較動作を
行うことにより、2ステップ・フラッシュ型A/Dコン
バータでは6個で済む。
The encoder 24 converts the 3-bit binary data from the latch 21 into a binary number to obtain the upper 2 bits of the digital value E, and further converts the 3-bit binary data from the latch 23 into a binary number. Lower 2 of digital value E converted
Bit. Then, a 4-bit digital value E obtained by combining these is output. In this way, 4-bit A / D
In the case of performing conversion, the basic parallel comparison type requires 15 comparators, and by performing the comparison operation in two steps, the two-step flash type A / D converter requires only six comparators.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】このような従来の2ス
テップ・フラッシュ型A/Dコンバータは、完全な並列
型A/Dコンバータに較べ、多数のトランジスタを含ん
で回路規模の大きいコンパレータの数が少なくて済み、
その分安価であるという利点がある。しかし、並列型A
/Dコンバータが1ステップで比較動作を終了するのに
対し、2ステップ・フラッシュ型A/Dコンバータは、
2ステップに分けて比較動作を行ことから、変換時間が
約2倍で長くかかるという欠点をも有する。かかる性能
の限界から適用可能な範囲が限定され、不都合である。
この発明の目的は、このような従来技術の問題点を解決
するものであって、従来の2ステップ・フラッシュ型A
/Dコンバータに較べて回路規模がほぼ同程度で変換時
間が短いA/Dコンバータを実現することにある。
Such a conventional two-step flash type A / D converter has a large number of comparators including a large number of transistors and a large circuit scale as compared with a complete parallel type A / D converter. Less,
There is an advantage that it is cheaper. However, parallel type A
While the / D converter completes the comparison operation in one step, the two-step flash type A / D converter
Since the comparison operation is performed in two steps, there is also a disadvantage that the conversion time is twice as long and long. Due to such a limit of performance, the applicable range is limited, which is inconvenient.
The object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art, and to solve the problems of the conventional two-step flash type A.
An object of the present invention is to realize an A / D converter whose circuit scale is almost the same as that of the A / D converter and the conversion time is short.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
のこの発明のA/Dコンバータの構成は、第1,第2の
ステップの順で比較動作を行ってアナログ信号の値をデ
ジタル値に変換するA/Dコンバータにおいて、前記第
1のステップで前記デジタル値の上位ビット部分のため
の二値化を行う第1の変換回路と、前記第2のステップ
で前記デジタル値の残りの下位ビット部分のための二値
化を行う第2の変換回路と、前記第2のステップで前記
上位ビットのための二値化データのうち前記第1の変換
回路の出力に応じて選択された1つに対応した二値化を
行う第3の変換回路と、前記上位ビット部分のための二
値化データと前記下位ビット部分のための二値化データ
とからなるデータを前記第3の変換回路からの出力値に
応じて修正しこれを符号化して前記デジタル値を発生す
る符号化回路と、を備え、前記第1のステップの時間が
前記第1の変換回路の安定に要する時間よりも短い時間
であり、前記第2のステップの時間が前記第1のステッ
プの時間よりも長いものである。
The structure of the A / D converter of the present invention for attaining this object is such that the comparison operation is performed in the order of the first and second steps to convert the value of the analog signal into a digital value. In the A / D converter for conversion, a first conversion circuit that performs binarization for the high-order bit portion of the digital value in the first step, and the remaining low-order bits of the digital value in the second step A second conversion circuit for performing binarization for the portion, and one of the binarized data for the upper bits selected in the second step according to the output of the first conversion circuit. From the third conversion circuit, and a third conversion circuit for performing binarization corresponding to the above, and data consisting of the binarized data for the upper bit part and the binarized data for the lower bit part. Corrected according to the output value of An encoding circuit for encoding and generating the digital value, wherein the time of the first step is shorter than the time required for stabilization of the first conversion circuit, and the time of the second step. Is longer than the time of the first step.

【0011】より具体的な構成は、複数の基準電圧信号
とアナログ信号との比較動作を第1,第2のステップの
順に2回行って前記アナログ信号の値をデジタル値に変
換するA/Dコンバータにおいて、前記複数の基準電圧
信号のうち前記デジタル値の上位ビット部分に対応して
いる第1の組の基準電圧信号と前記アナログ信号との並
列比較を前記第1のステップで行って前記デジタル値の
上位ビット部分のために必要な二値化データについての
二値化を行う第1の変換回路と、前記複数の基準電圧信
号のうちから前記デジタル値の残りの下位ビット部分に
対応する第2の組の基準電圧信号を前記第1の変換回路
の出力値に応じて選択しさらに前記第1の組の基準電圧
信号のうちから前記第2の組の基準電圧信号のいずれの
値をも超えるものであって最小のものである単一の基準
電圧信号を選択しこれらの選択された基準電圧信号を出
力する選択回路と、前記選択回路からの前記第2の組の
基準電圧信号と前記アナログ信号との並列比較を前記第
2のステップで行って前記残りの下位ビット部分のため
に必要な二値化データについての二値化を行う第2の変
換回路と、前記選択回路からの前記単一の基準電圧信号
と前記アナログ信号との比較を前記第2のステップで行
って1つの二値化データについての二値化を行う第3の
変換回路と、前記第1の変換回路からの前記上位ビット
部分に対応する二値化データのうちで対応する1ビット
を前記第3の変換回路からの二値化データで置換し前記
第2の変換回路からの前記下位ビット部分に対応する二
値化データを前記第3の変換回路からの出力値に応じて
そのままとし又は抑制しこれらの二値化データからなる
データを符号化して前記デジタル値を発生する符号化回
路と、を備え、前記第1のステップが、前記第1の変換
回路での二値化がそこでの全ビットについて安定するた
めに要する時間よりも短い時間であって前記第1の変換
回路での二値化が最も遅い1ビットを除いて残り全ビッ
トについて安定するために要する時間よりは長い時間で
終了し、前記第2のステップが、前記第2の変換回路で
の二値化がそこでの全ビットについて安定するために要
する時間よりも長い時間で終了するものである。
A more specific configuration is an A / D for converting the value of the analog signal into a digital value by performing a comparison operation between a plurality of reference voltage signals and the analog signal twice in the order of the first and second steps. In the converter, a parallel comparison between a first set of reference voltage signals corresponding to the high-order bit portion of the digital value of the plurality of reference voltage signals and the analog signal is performed in the first step to perform the digital comparison. A first conversion circuit for performing binarization on the binarized data necessary for the upper bit portion of the value; and a first conversion circuit corresponding to the remaining lower bit portion of the digital value from the plurality of reference voltage signals. The two sets of reference voltage signals are selected according to the output value of the first conversion circuit, and any of the values of the second set of reference voltage signals is selected from the first set of reference voltage signals. Beyond And a selection circuit for selecting the smallest single reference voltage signal and outputting these selected reference voltage signals; and the second set of reference voltage signals and the analog signals from the selection circuit. A parallel conversion in the second step to perform binarization on the binarized data needed for the remaining lower bit portion, and the single conversion circuit from the selection circuit. A third conversion circuit that performs comparison between a reference voltage signal and the analog signal in the second step to perform binarization on one piece of binarized data; and the upper bit from the first conversion circuit. Binarized data corresponding to the lower bit portion from the second conversion circuit by replacing corresponding one bit of the binarized data corresponding to the portion with the binarized data from the third conversion circuit. Is the third conversion circuit An encoding circuit for generating the digital value by encoding the data composed of these binarized data while keeping or suppressing the output value according to the first conversion step. The binarization in the circuit is shorter than the time it takes for all the bits to stabilize there and is stable for all remaining bits except the one bit which is the slowest to binarize in the first conversion circuit. And the second step ends in a time longer than the time required for the binarization in the second conversion circuit to be stable for all bits therein. Is.

【0012】[0012]

【作用】このような構成のこの発明のA/Dコンバータ
にあっては、従来の2ステップ・フラッシュ型A/Dコ
ンバータに加えて、第2のステップでは1つだけ余分に
二値化データを求める。このために、1つの二値化を行
う第3の変換回路が加わり、さらに符号化回路がその二
値化データに関する分だけ大きくなっている。もっと
も、この程度の回路規模の増大は、多数の二値化データ
について二値化を行うA/Dコンバータ全体の回路規模
に較べれば、僅かなものである。そこで、回路規模につ
いては、従来の2ステップ・フラッシュ型A/Dコンバ
ータとほぼ同程度であると言える。
In the A / D converter of the present invention having such a configuration, in addition to the conventional two-step flash type A / D converter, only one extra binary data is added in the second step. Ask. For this reason, a third conversion circuit for performing one binarization is added, and the encoding circuit is enlarged by the amount corresponding to the binarized data. However, the increase in the circuit size to this extent is slight as compared with the circuit size of the entire A / D converter that performs binarization on a large number of binarized data. Therefore, it can be said that the circuit scale is almost the same as that of the conventional two-step flash A / D converter.

【0013】また、変換動作は、従来通り2ステップに
分けて行われるが、両ステップの時間が等しい従来とは
異なり、第1のステップの時間が第2のステップの時間
よりも短い。これにより、全体の変換時間が短くなる。
なお、第1のステップの時間が短縮されたことにより第
1のステップで不安定な二値化データが発生する可能性
があるが、これは、第2のステップで余分に求められた
二値化データによって排除されるので、不都合はない。
したがって、この発明のA/Dコンバータは、従来の2
ステップ・フラッシュ型A/Dコンバータに較べて、回
路規模がほぼ同程度でありながら、変換時間が短くて済
む。
The conversion operation is performed in two steps as in the conventional case, but unlike the conventional case, the time of the first step is shorter than the time of the second step, unlike the conventional case. This reduces the overall conversion time.
It should be noted that unstable binarized data may occur in the first step due to the shortened time of the first step, but this is due to the binary value extraly obtained in the second step. There is no inconvenience because it is excluded by the digitized data.
Therefore, the A / D converter of the present invention is
Compared with the step flash type A / D converter, the circuit scale is almost the same, but the conversion time is short.

【0014】[0014]

【実施例】以下、この発明の一実施例について図面を参
照して詳細に説明する。図1に、4ビットのA/Dコン
バータの例を示す。これは、図5における従来の2ステ
ップ・フラッシュ型A/Dコンバータに対し、コンパレ
ータ100と、これに入力される基準電圧信号を切り替
えるスイッチ101,102,103とが加わったもの
である。さらに、これに伴って、ラッチ230が4ビッ
トに拡張され、エンコーダ240も拡張されている。な
お、従来と同様の構成部分は従来例と同一の符号を以て
示し、従来との相違点を中心に説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings. FIG. 1 shows an example of a 4-bit A / D converter. This is obtained by adding a comparator 100 and switches 101, 102, 103 for switching a reference voltage signal input to the conventional two-step flash type A / D converter in FIG. Further, along with this, the latch 230 is expanded to 4 bits and the encoder 240 is expanded. The same components as those of the conventional example are denoted by the same reference numerals as those of the conventional example, and the difference from the conventional example will be mainly described.

【0015】第1の変換回路は、コンパレータ4,8,
12を主体とし、第1のステップでデジタル値の上位2
ビット部分のために必要な3ビットの二値化データC
4,C8,C12についての二値化を行う。第2の変換
回路は、コンパレータ1,2,3を主体とし、第2のス
テップでデジタル値の残りの下位2ビット部分のために
必要な3ビットの二値化データC1,C2,C3につい
ての二値化を行う。これらは、従来と同様である。
The first conversion circuit comprises comparators 4, 8,
12 as the main, and the first 2 of the digital values in the first step
3-bit binary data C required for the bit part
Binarization of 4, C8 and C12 is performed. The second conversion circuit is mainly composed of comparators 1, 2 and 3, and is for the 3-bit binarized data C1, C2 and C3 necessary for the remaining lower 2 bits of the digital value in the second step. Binarize. These are the same as conventional ones.

【0016】選択回路は、選択信号発生回路22と、ラ
ダー抵抗R0〜R15の接続点に対応して設けられたス
イッチ群とからなり、基準信号D1〜D15のうちから
デジタル値Eの下位2ビット部分に対応する第2の組の
基準電圧信号D1’,D2’,D3’をコンパレータ
1,2,3に送出する。この点は従来通りである。ただ
し、抵抗R3,R4の接続点、抵抗R7,R8の接続
点、抵抗R11,R12の接続点のそれぞれに対し、ス
イッチ101,102,103が設けれ、第1の組の基
準電圧信号(D4,D8,D12)のうちから第2の組
の基準電圧信号(D1’,D2’,D3’)のいずれの
値をも超えるものであって最小のものである単一の基準
電圧信号Dpを選択してコンパレータ100に送出する
ように拡張されている。なお、スイッチ101,10
2,103は数個のトランジスタで構成し得るので、こ
れらの追加による回路規模の増加は僅かである。
The selection circuit comprises a selection signal generation circuit 22 and a switch group provided corresponding to the connection points of the ladder resistors R0 to R15, and the lower 2 bits of the digital value E among the reference signals D1 to D15. A second set of reference voltage signals D1 ', D2', D3 'corresponding to the part is sent to the comparators 1, 2, 3. This point is the same as before. However, switches 101, 102, and 103 are provided for the connection points of the resistors R3 and R4, the connection points of the resistors R7 and R8, and the connection points of the resistors R11 and R12, respectively, and the first set of reference voltage signals (D4 , D8, D12) of the second set of reference voltage signals (D1 ′, D2 ′, D3 ′) that exceeds any value and is the smallest single reference voltage signal Dp. It is expanded to select and send to the comparator 100. Note that the switches 101 and 10
Since 2 and 103 can be composed of several transistors, the increase in the circuit scale due to the addition of these transistors is slight.

【0017】第3の変換回路は、コンパレータ100を
主体とする回路である。コンパレータ100が、選択さ
れた基準電圧信号Dpとアナログ信号A’とを受けて、
これらの値の比較を行い、比較結果に従って1つの二値
化データCpを出力する。タイミング信号T2に従って
ラッチ230がこの二値化データCpを二値化データC
1,C2,C3と共にラッチして保持する。これによ
り、第2のステップで上位2ビットのための二値化デー
タC4,C8,C12のうち選択された1つに対応した
二値化が行われる。なお、このために、コンパレータが
1つ余分に必要となり、4ビットのA/D変換を行う場
合は基本的な並列比較型では15個必要であったコンパ
レータを6個にではなくて7個にまでしか減らせない
が、従来の2ステップ・フラッシュ型との差は僅かであ
る。
The third conversion circuit is a circuit mainly composed of the comparator 100. The comparator 100 receives the selected reference voltage signal Dp and the analog signal A ′,
These values are compared and one binary data Cp is output according to the comparison result. The latch 230 converts the binarized data Cp into the binarized data C according to the timing signal T2.
It is latched and held together with 1, C2 and C3. As a result, the binarization corresponding to the selected one of the binarized data C4, C8, C12 for the upper 2 bits is performed in the second step. For this reason, one extra comparator is required, and in the case of performing 4-bit A / D conversion, the number of comparators required in the basic parallel comparison type was increased from seven to seven instead of six. However, the difference from the conventional 2-step flash type is small.

【0018】エンコーダ240は、符号化回路として機
能する。ラッチ21からの3ビットの二値化データを2
進数に変換してデジタル値Eの上位2ビットとし、さら
にラッチ230からの3ビットの二値化データを2進数
に変換してデジタル値Eの下位2ビットとする基本機能
の部分は、従来と同様である。ただし、二値化データC
4,C8,C12のうちで二値化データCpに対応する
1ビットを二値化データCpで置換し、さらに、二値化
データCpとこれで置換された二値化データとが同じ値
のときには二値化データC1,C2,C3そのままの値
を2進数に符号化し、二値化データCpとこれで置換さ
れた二値化データとが異なる値のときには二値化データ
C1,C2,C3を抑制して“000”とした値を2進
数に符号化するように拡張もされている。
The encoder 240 functions as an encoding circuit. 2 bits of 3-bit binary data from the latch 21
The basic function part of converting the binary value into the high-order 2 bits of the digital value E and converting the 3-bit binary data from the latch 230 into the binary number into the low-order 2 bits of the digital value E is the same as the conventional one. It is the same. However, the binarized data C
Among the four, C8, and C12, 1 bit corresponding to the binarized data Cp is replaced with the binarized data Cp, and the binarized data Cp and the binarized data replaced by this have the same value. Sometimes, the binary data C1, C2, C3 is directly encoded into a binary number, and when the binary data Cp and the binary data replaced by this are different values, the binary data C1, C2, C3. Is extended so that the value of "000" is suppressed and encoded into a binary number.

【0019】ここで、二値化データCpとこれで置換さ
れた二値化データとが異なる値となるのは、従来例にお
いて並列型A/Dコンバータに関連して説明したよう
に、アナログ信号A’とこの値に極めて近い値の基準電
圧信号とを比較するコンパレータについてだけである。
したがって、このコンパレータの出力値の置換等を行う
上述の拡張により、例え第1のステップで不安定な二値
化データが発生しても、それに起因する不都合は第2の
ステップで二値化データCpによって排除される。な
お、この拡張は、数個程度のゲート回路の追加で済むの
で、回路規模の増加は僅かである。
Here, the difference between the binarized data Cp and the binarized data replaced by the binarized data is that the analog signal is the same as described in connection with the parallel A / D converter in the conventional example. Only for a comparator that compares A'with a reference voltage signal that is very close to this value.
Therefore, even if unstable binarized data is generated in the first step due to the above-mentioned expansion for replacing the output value of the comparator, the inconvenience caused by the unstable binarized data is generated in the second step. Eliminated by Cp. Note that this expansion requires only a few gate circuits, so the increase in circuit scale is slight.

【0020】タイミング信号発生回路200は、タイミ
ング信号T2のパルスをタイミング信号T1のパルスか
ら100ns後に発生する点では従来と同様であるが、
タイミング信号T1のパルスをタイミング信号T0のパ
ルスから50ns後に発生する点で、従来と異なる。こ
れにより、タイミング信号T0からタイミング信号T2
までの時間すなわちA/Dコンバータの変換時間は、従
来の200nsから150nsに短縮される。
The timing signal generating circuit 200 is the same as the conventional one in that the pulse of the timing signal T2 is generated 100 ns after the pulse of the timing signal T1.
This is different from the conventional one in that the pulse of the timing signal T1 is generated 50 ns after the pulse of the timing signal T0. As a result, from the timing signal T0 to the timing signal T2
The conversion time of the A / D converter is shortened from the conventional 200 ns to 150 ns.

【0021】このような構成のA/Dコンバータの動作
を説明する。先ず、アナログ信号A’の値が基準電圧信
号D4,D8,D12のいずれにも近接していない場合
について説明する。この場合は、基本的に従来とほぼ同
様の変換動作である。すなわち、タイミング信号T0
で、サンプル・ホールド回路16がアナログ信号Aをサ
ンプリングしてアナログ信号A’とし、コンパレータ
4,8,12が並列して二値化データC4,C8,C1
2について比較・変換を行う。アナログ信号A’の値が
基準電圧信号D4,D8,D12のいずれにも近接して
いないことから、50ns以内に正確な二値化データC
4,C8,C12が得られる。
The operation of the A / D converter having such a configuration will be described. First, a case where the value of the analog signal A'is not close to any of the reference voltage signals D4, D8, D12 will be described. In this case, the conversion operation is basically similar to the conventional one. That is, the timing signal T0
Then, the sample and hold circuit 16 samples the analog signal A into an analog signal A ', and the comparators 4, 8 and 12 are arranged in parallel and binarized data C4, C8 and C1.
Compare and convert 2 Since the value of the analog signal A ′ is not close to any of the reference voltage signals D4, D8, D12, the accurate binary data C within 50 ns
4, C8 and C12 are obtained.

【0022】さらに、タイミング信号T1で、ラッチ2
1が二値化データC4,C8,C12をラッチして第1
のステップが終了するとともに、第2のステップが開始
して、コンパレータ1,2,3,100が並列して二値
化データC1,C2,C3,Cpについて比較・変換を
行う。二値化データC1,C2,C3,Cpは、いずれ
も100ns以内に安定する。そして、タイミング信号
T2で、ラッチ230が二値化データC1,C2,C
3,Cpをラッチし、二値化データC1,C2,C3,
C4,C8,C12をエンコーダ240が4ビットの2
進数に符号化して、第2のステップが終了する。これに
より、アナログ信号Aの値が、デジタル値Eに正確に変
換される。
Further, the latch 2 is activated by the timing signal T1.
1 latches the binarized data C4, C8, C12
The second step is started at the end of the step of, and the comparators 1, 2, 3, and 100 perform parallel comparison and conversion on the binarized data C1, C2, C3, and Cp. The binarized data C1, C2, C3, Cp are all stable within 100 ns. Then, at the timing signal T2, the latch 230 causes the binarized data C1, C2, C
3, Cp are latched, and the binarized data C1, C2, C3
The encoder 240 uses C4, C8, and C12 as 4-bit 2
Coding into a base number, the second step ends. As a result, the value of the analog signal A is accurately converted into the digital value E.

【0023】次に、アナログ信号A’の値が第1の組の
基準電圧信号D4,D8,D12のいずれかに近接して
いる場合について説明する。具体例としてアナログ信号
A’が基準電圧信号D8よりほんの僅かに高い値である
とする。この場合は、二値化データC8と二値化データ
Cpとが異なる値を採ることもあり、これに関連して一
部従来と異なる動作もする。タイミング信号T0で、サ
ンプル・ホールド回路16がアナログ信号Aをサンプリ
ングしてアナログ信号A’とする。
Next, a case where the value of the analog signal A'is close to any one of the first set of reference voltage signals D4, D8 and D12 will be described. As a specific example, it is assumed that the analog signal A'has a value slightly higher than the reference voltage signal D8. In this case, the binarized data C8 and the binarized data Cp may take different values, and in connection with this, some operations different from the conventional ones are performed. At the timing signal T0, the sample and hold circuit 16 samples the analog signal A to obtain the analog signal A '.

【0024】そして、コンパレータ4,8,12が並列
して二値化データC4,C8,C12について比較・変
換を行う。アナログ信号A’の値が基準電圧信号D8に
近いことから、二値化データC4,C12については5
0ns以内に正確な値が得られるが、二値化データC8
については100ns近く必要であり50ns以内には
正確な値が得難い(図2における波形図(d),
(e),(f)参照)。そこで、二値化データC4,C
8,C12は、本来の“110”に対し“100”とな
ることがある。
Then, the comparators 4, 8 and 12 perform parallel comparison and conversion on the binarized data C4, C8 and C12. Since the value of the analog signal A ′ is close to the reference voltage signal D8, the value of the binarized data C4 and C12 is 5
An accurate value can be obtained within 0 ns, but the binarized data C8
Is required to be close to 100 ns, and it is difficult to obtain an accurate value within 50 ns (waveform diagram (d) in FIG. 2,
(See (e) and (f)). Therefore, the binarized data C4, C
8, C12 may be "100" as opposed to the original "110".

【0025】タイミング信号T1で、この二値化データ
C4,C8,C12をラッチ21がラッチして選択信号
発生回路22とエンコーダ240に出力する。選択信号
発生回路22は、二値化データC4が“1”で二値化デ
ータC8が“0”であることに対応して、基準電圧信号
D4と基準電圧信号D8との間にある基準電圧信号D5
〜D7を選択する選択信号を発生する。そして、この選
択信号に応じたスイッチの開閉によって、基準電圧信号
D5,D6,D7が、デジタル値Eの下位2ビット部分
に対応する第2の組の基準電圧信号D1’,D2’,D
3’として出力される。
The latch 21 latches the binarized data C4, C8 and C12 with the timing signal T1 and outputs the binarized data C4, C8 and C12 to the selection signal generating circuit 22 and the encoder 240. The selection signal generating circuit 22 corresponds to the reference voltage between the reference voltage signal D4 and the reference voltage signal D8 in response to the binary data C4 being "1" and the binary data C8 being "0". Signal D5
A selection signal for selecting ~ D7 is generated. Then, the reference voltage signals D5, D6, D7 are turned on / off according to the selection signal so that the reference voltage signals D5 ', D2', D of the second set correspond to the lower 2 bits of the digital value E.
It is output as 3 '.

【0026】さらに、同じ選択信号によってスイッチ1
03が導通する。そこで、第1の組の基準電圧信号D
4,D8,D12のうちから第2の組の基準電圧信号D
1’,D2’,D3’のいずれの値をも超えるものであ
って最小のものである単一の基準電圧信号Dpとして、
基準電圧信号D8が選択される。そして、コンパレータ
1,2,3,100が並列して二値化データC1,C
2,C3,Cpについて比較・変換を行う。これによ
り、アナログ信号A’と基準電圧信号D8との比較・変
換が、コンパレータ100により再度行われ、その結果
値“1”が二値化データCpとして100ns以内に得
られる(図2における波形図(g)参照)。
Further, the switch 1 is operated by the same selection signal.
03 becomes conductive. Therefore, the first set of reference voltage signals D
4, D8, D12 of the second set of reference voltage signals D
As a single reference voltage signal Dp which is the smallest and exceeds any of 1 ′, D2 ′ and D3 ′,
The reference voltage signal D8 is selected. Then, the comparators 1, 2, 3, 100 are arranged in parallel and binarized data C1, C
2, C3, Cp are compared and converted. As a result, the comparison / conversion between the analog signal A ′ and the reference voltage signal D8 is performed again by the comparator 100, and the resulting value “1” is obtained as the binarized data Cp within 100 ns (the waveform diagram in FIG. 2). (See (g)).

【0027】タイミング信号T2で、ラッチ230が二
値化データC1,C2,C3,Cpをラッチし、これを
エンコーダ240に送出する。エンコーダ240は、二
値化データCpと二値化データC8とが相違するので、
二値化データC8の値を二値化データCpの値で置換
し、二値化データC1,C2,C3の値を抑制して“0
00”とする。これにより、二値化データC1,C2,
C3,C4,C8,C12の最終的な値は“00011
0”となる。これを3ビットづつ分けてそれぞれ2ビッ
トの2進数に変換してから合わせて、4ビットの2進数
“0100”が得られる。
The latch 230 latches the binarized data C1, C2, C3, Cp by the timing signal T2 and sends it to the encoder 240. In the encoder 240, since the binarized data Cp and the binarized data C8 are different,
The value of the binarized data C8 is replaced with the value of the binarized data Cp, and the values of the binarized data C1, C2, C3 are suppressed to "0".
00 ". As a result, the binarized data C1, C2,
The final values of C3, C4, C8 and C12 are "00011
0 ". This is divided into 3 bits each and converted into a 2-bit binary number, and then combined to obtain a 4-bit binary number" 0100 ".

【0028】こうして得られたデジタル値Eは、正確な
値である。アナログ信号A’の値が基準電圧信号D4,
D12のいずれかに近接している場合も同様である。し
たがって、従来200nsを要していた変換時間が15
0nsで済み、変換速度の性能を向上させることができ
る。以上、4ビットA/Dコンバータを具体例として説
明してきたが、8ビットや12ビット等の他のビット数
の場合でも、同様の作用効果である。また、“0”と
“1”の論理値に対し正論理負論理のいずれを割り当て
るかも任意である。
The digital value E thus obtained is an accurate value. The value of the analog signal A ′ is the reference voltage signal D4,
The same applies to the case of being close to any of D12. Therefore, the conversion time, which conventionally required 200 ns, is 15
Only 0 ns is required, and the performance of conversion speed can be improved. Although the 4-bit A / D converter has been described above as a specific example, the same operational effect can be obtained even when the number of bits such as 8 bits and 12 bits is used. It is also arbitrary whether positive logic or negative logic is assigned to the logical values of "0" and "1".

【0029】[0029]

【発明の効果】以上の説明から理解できるように、この
発明のA/Dコンバータにあっては、第1のステップで
上位ビット部分のための二値化を行う第1の変換回路
と、第2のステップで下位ビット部分のための二値化を
行う第2の変換回路と、第2のステップで上位ビットの
ための二値化データのうち選択された1つに対応した二
値化を行う第3の変換回路と、上位ビット部分のための
二値化データと下位ビット部分のための二値化データと
からなるデータを第3の変換回路からの出力値に応じて
修正しこれを符号化する符号化回路と、を備え、第1の
ステップの時間が、第1の変換回路の安定に要する時間
(これは、ほぼ第2のステップの時間に等しい。)より
も短い。これにより、従来の2ステップ・フラッシュ型
A/Dコンバータに較べて回路規模がほぼ同程度で変換
時間が短いA/Dコンバータを実現することができると
いう効果がある。
As can be understood from the above description, in the A / D converter of the present invention, the first conversion circuit for performing the binarization for the upper bit part in the first step, and the first conversion circuit A second conversion circuit that performs binarization for the lower bit portion in step 2 and a binarization corresponding to the selected one of the binarized data for the upper bit in the second step. The third conversion circuit to be performed and the data composed of the binarized data for the upper bit portion and the binarized data for the lower bit portion are modified according to the output value from the third conversion circuit, and the data is corrected. And a coding circuit for coding, and the time of the first step is shorter than the time required for stabilization of the first conversion circuit (which is approximately equal to the time of the second step). As a result, there is an effect that it is possible to realize an A / D converter whose circuit scale is substantially the same as that of the conventional two-step flash type A / D converter and the conversion time is short.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】図1は、この発明の構成のA/Dコンバータの
一実施例について、回路のブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram of a circuit of an embodiment of an A / D converter having a configuration of the present invention.

【図2】図2は、その動作を説明するための波形図であ
る。
FIG. 2 is a waveform diagram for explaining the operation.

【図3】図3は、基本的な並列型A/Dコンバータのブ
ロック図である。
FIG. 3 is a block diagram of a basic parallel type A / D converter.

【図4】図4は、その動作を説明するための波形図であ
る。
FIG. 4 is a waveform diagram for explaining the operation.

【図5】図5は、従来の2ステップ・フラッシュ型A/
Dコンバータのブロック図である。
FIG. 5 is a conventional two-step flash type A /
It is a block diagram of a D converter.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1〜15 コンパレータ 16 サンプル・ホールド回路 17 タイミング信号発生回路 18 ラッチ 19 エンコーダ 20 タイミング信号発生回路 21 ラッチ 22 選択信号発生回路 23 ラッチ 24 エンコーダ 100 コンパレータ 101〜103 スイッチ 200 タイミング信号発生回路 230 ラッチ 240 エンコーダ 1 to 15 comparator 16 sample and hold circuit 17 timing signal generating circuit 18 latch 19 encoder 20 timing signal generating circuit 21 latch 22 selection signal generating circuit 23 latch 24 encoder 100 comparator 101 to 103 switch 200 timing signal generating circuit 230 latch 240 encoder

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】第1,第2のステップの順で比較動作を行
ってアナログ信号の値をデジタル値に変換するA/Dコ
ンバータにおいて、前記第1のステップで前記デジタル
値の上位ビット部分のための二値化を行う第1の変換回
路と、前記第2のステップで前記デジタル値の残りの下
位ビット部分のための二値化を行う第2の変換回路と、
前記第2のステップで前記上位ビットのための二値化デ
ータのうち前記第1の変換回路の出力に応じて選択され
た1つに対応した二値化を行う第3の変換回路と、前記
上位ビット部分のための二値化データと前記下位ビット
部分のための二値化データとからなるデータを前記第3
の変換回路からの出力値に応じて修正しこれを符号化し
て前記デジタル値を発生する符号化回路と、を備え、前
記第1のステップの時間が前記第1の変換回路の安定に
要する時間よりも短い時間であり、前記第2のステップ
の時間が前記第1のステップの時間よりも長いことを特
徴とするA/Dコンバータ。
1. An A / D converter for converting a value of an analog signal into a digital value by performing a comparing operation in the order of a first step and a second step, wherein an upper bit portion of the digital value is converted in the first step. A first conversion circuit that performs binarization for the purpose of: and a second conversion circuit that performs binarization for the remaining low-order bit portion of the digital value in the second step,
A third conversion circuit that performs binarization corresponding to one selected from the binarized data for the upper bit in the second step, according to the output of the first conversion circuit; The data consisting of the binarized data for the upper bit portion and the binarized data for the lower bit portion is converted into the third data.
An encoding circuit for correcting the output value from the converting circuit and encoding it to generate the digital value, wherein the time of the first step is the time required for stabilizing the first converting circuit. An A / D converter characterized in that the time of the second step is shorter than the time of the first step.
【請求項2】複数の基準電圧信号とアナログ信号との比
較動作を第1,第2のステップの順に2回行って前記ア
ナログ信号の値をデジタル値に変換するA/Dコンバー
タにおいて、 前記複数の基準電圧信号のうち前記デジタル値の上位ビ
ット部分に対応している第1の組の基準電圧信号と前記
アナログ信号との並列比較を前記第1のステップで行っ
て前記デジタル値の上位ビット部分のために必要な二値
化データについての二値化を行う第1の変換回路と、 前記複数の基準電圧信号のうちから前記デジタル値の残
りの下位ビット部分に対応する第2の組の基準電圧信号
を前記第1の変換回路の出力値に応じて選択しさらに前
記第1の組の基準電圧信号のうちから前記第2の組の基
準電圧信号のいずれの値をも超えるものであって最小の
ものである単一の基準電圧信号を選択しこれらの選択さ
れた基準電圧信号を出力する選択回路と、 前記選択回路からの前記第2の組の基準電圧信号と前記
アナログ信号との並列比較を前記第2のステップで行っ
て前記残りの下位ビット部分のために必要な二値化デー
タについての二値化を行う第2の変換回路と、 前記選択回路からの前記単一の基準電圧信号と前記アナ
ログ信号との比較を前記第2のステップで行って1つの
二値化データについての二値化を行う第3の変換回路
と、 前記第1の変換回路からの前記上位ビット部分に対応す
る二値化データのうちで対応する1ビットを前記第3の
変換回路からの二値化データで置換し前記第2の変換回
路からの前記下位ビット部分に対応する二値化データを
前記第3の変換回路からの出力値に応じてそのままとし
又は抑制しこれらの二値化データからなるデータを符号
化して前記デジタル値を発生する符号化回路と、 を備え、前記第1のステップが、前記第1の変換回路で
の二値化がそこでの全ビットについて安定するために要
する時間よりも短い時間であって前記第1の変換回路で
の二値化が最も遅い1ビットを除いて残り全ビットにつ
いて安定するために要する時間よりは長い時間で終了
し、前記第2のステップが、前記第2の変換回路での二
値化がそこでの全ビットについて安定するために要する
時間よりも長い時間で終了することを特徴とするA/D
コンバータ。
2. An A / D converter for converting a value of the analog signal into a digital value by performing a comparison operation of a plurality of reference voltage signals and an analog signal twice in the order of a first step and a second step. Of the reference voltage signal corresponding to the high-order bit portion of the digital value and the analog signal are parallel-compared in the first step to perform the high-order bit portion of the digital value. A first conversion circuit for performing binarization on the binarized data necessary for: a second set of references corresponding to the remaining lower bit parts of the digital value among the plurality of reference voltage signals. A voltage signal is selected according to the output value of the first conversion circuit, and further exceeds any value of the second set of reference voltage signals from the first set of reference voltage signals. The smallest A selection circuit for selecting a single reference voltage signal and outputting these selected reference voltage signals; and a parallel comparison of the second set of reference voltage signals from the selection circuit with the analog signal. A second conversion circuit for performing the binarization on the binarized data necessary for the remaining lower bit part in step 2, and the single reference voltage signal from the selection circuit and the analog A third conversion circuit for performing binarization on one piece of binarized data by performing comparison with a signal in the second step, and a binary corresponding to the high-order bit part from the first conversion circuit The corresponding 1 bit of the binarized data is replaced with the binarized data from the third conversion circuit, and the binarized data corresponding to the lower bit portion from the second conversion circuit is converted into the third transformed data. Depending on the output value from the circuit An encoding circuit which, as it is or suppresses, encodes data consisting of these binarized data to generate the digital value, and wherein the first step comprises the binarization in the first conversion circuit. Is shorter than the time required to stabilize all the bits there, and is less than the time required to stabilize all the remaining bits except the one bit that is the slowest to be binarized in the first conversion circuit. A /, characterized in that the second step ends in a longer time than the time required for the binarization in the second conversion circuit to be stable for all bits therein. D
converter.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US5832198A (en) * 1996-03-07 1998-11-03 Philips Electronics North America Corporation Multiple disk drive array with plural parity groups

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