JPH0773469A - 記録担体上に信号を記録する方法及び記録装置 - Google Patents
記録担体上に信号を記録する方法及び記録装置Info
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- JPH0773469A JPH0773469A JP5312680A JP31268093A JPH0773469A JP H0773469 A JPH0773469 A JP H0773469A JP 5312680 A JP5312680 A JP 5312680A JP 31268093 A JP31268093 A JP 31268093A JP H0773469 A JPH0773469 A JP H0773469A
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- G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
- G11B7/125—Optical beam sources therefor, e.g. laser control circuitry specially adapted for optical storage devices; Modulators, e.g. means for controlling the size or intensity of optical spots or optical traces
- G11B7/126—Circuits, methods or arrangements for laser control or stabilisation
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- G—PHYSICS
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- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
- G11B11/10595—Control of operating function
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- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
- G11B20/1816—Testing
- G11B20/182—Testing using test patterns
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- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
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- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
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- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明の目的は余分なハードウェアの追加な
しにレーザービームの最適記録強度を決定し、しかも情
報パターンが所望の低さの誤り率で記録することが出来
る方法及び記録装置を提供することにある。 【構成】 本発明の装置によれば放射ビーム（１５）に
より記録担体（１）上に信号を記録する為の方法が達成
される。上記信号は略々一定のトラックピッチを持つ平
行なトラック（４）に光学的に検出可能なマークの形で
記録される。放射ビーム（１５）の記録強度は最小の記
録強度で情報パターンが低い所望の誤り率"(Block) Err
or Rate"で記録されるように設定される。更に、この方
法及び装置によれば上記放射ビーム（１５）を上記最低
の記録強度に決定することが出来る。
しにレーザービームの最適記録強度を決定し、しかも情
報パターンが所望の低さの誤り率で記録することが出来
る方法及び記録装置を提供することにある。 【構成】 本発明の装置によれば放射ビーム（１５）に
より記録担体（１）上に信号を記録する為の方法が達成
される。上記信号は略々一定のトラックピッチを持つ平
行なトラック（４）に光学的に検出可能なマークの形で
記録される。放射ビーム（１５）の記録強度は最小の記
録強度で情報パターンが低い所望の誤り率"(Block) Err
or Rate"で記録されるように設定される。更に、この方
法及び装置によれば上記放射ビーム（１５）を上記最低
の記録強度に決定することが出来る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は重ね書き可能な形式の記
録担体上に信号を記録する方法であって、光学的に検出
可能なマークの情報パターンが該記録担体上の略々平行
なトラックに記録され、該トラックは上記マークを記録
する為の放射ビームにより走査され、上記光学的に検出
可能なマークは上記放射ビームにより該記録担体の適切
な記録層を局所的に加熱することにより得られ、上記放
射ビームのエネルギー容量は該放射ビームを用いて記録
されたテスト情報パターンにおける望ましくない信号の
検出に応答して設定されるような方法に関する。
録担体上に信号を記録する方法であって、光学的に検出
可能なマークの情報パターンが該記録担体上の略々平行
なトラックに記録され、該トラックは上記マークを記録
する為の放射ビームにより走査され、上記光学的に検出
可能なマークは上記放射ビームにより該記録担体の適切
な記録層を局所的に加熱することにより得られ、上記放
射ビームのエネルギー容量は該放射ビームを用いて記録
されたテスト情報パターンにおける望ましくない信号の
検出に応答して設定されるような方法に関する。
【０００２】更に、本発明は重ね書き可能な形式の記録
担体上の略々平行なトラックに信号を記録する記録装置
であって、この記録装置は信号パターンに対応する光学
的に検出可能なマークの情報パターンを該トラックに導
入する為に放射ビームを用いて該トラックを走査する為
の走査手段を有し、当該装置は供給される設定信号の補
助により記録強度を設定する為の設定手段を有し、この
設定信号が上記放射ビームを用いて記録されたテスト情
報パターンにおける望ましくない信号の検出に依存する
ような装置に関する。
担体上の略々平行なトラックに信号を記録する記録装置
であって、この記録装置は信号パターンに対応する光学
的に検出可能なマークの情報パターンを該トラックに導
入する為に放射ビームを用いて該トラックを走査する為
の走査手段を有し、当該装置は供給される設定信号の補
助により記録強度を設定する為の設定手段を有し、この
設定信号が上記放射ビームを用いて記録されたテスト情
報パターンにおける望ましくない信号の検出に依存する
ような装置に関する。
【０００３】
【従来の技術】記録担体上に信号を記録する類似の方法
及び装置はヨーロッパ特許出願公開第0400726 号から既
知である。上記ヨーロッパ特許出願に記載の方法及び記
録装置はメディアに対する較正の為の処理手順を示し、
この手順により記録強度が情報パターンを記録担体の記
録層に導入する放射ビームに対して決定される。上記記
載のメディアに対する較正は以下の処理ステップを有し
ている。 ａ． 第１の周波数を持つ情報パターンが放射ビームの
最大記録強度を用いてトラックに記録される。 ｂ． 次に、同一トラックにおいて第２の周波数を持つ
第２の情報パターンが放射ビームの低い最小の記録強度
を用いて記録される。 ｃ． トラックに記録された情報が読み出され、その後
読み出された信号は第１の信号の周波数に同調された検
出機構に供給される。 ｄ． 第１の周波数を持つ第１の情報パターンの信号の
残りが依然検出される場合はステップｂ乃至ｄが繰り返
され、各繰り返しに対して記録強度は所望の特定の無作
為に選択可能なステップにより増加される。 一旦上記第１の周波数を持つ第１の情報パターンの残り
が処理ステップｄにおいて検出されなくなれば、記録さ
れ且つ次いで読み出されるべき情報パターンの最小の誤
り率が保証されるような放射ビームの強度設定が得られ
る
及び装置はヨーロッパ特許出願公開第0400726 号から既
知である。上記ヨーロッパ特許出願に記載の方法及び記
録装置はメディアに対する較正の為の処理手順を示し、
この手順により記録強度が情報パターンを記録担体の記
録層に導入する放射ビームに対して決定される。上記記
載のメディアに対する較正は以下の処理ステップを有し
ている。 ａ． 第１の周波数を持つ情報パターンが放射ビームの
最大記録強度を用いてトラックに記録される。 ｂ． 次に、同一トラックにおいて第２の周波数を持つ
第２の情報パターンが放射ビームの低い最小の記録強度
を用いて記録される。 ｃ． トラックに記録された情報が読み出され、その後
読み出された信号は第１の信号の周波数に同調された検
出機構に供給される。 ｄ． 第１の周波数を持つ第１の情報パターンの信号の
残りが依然検出される場合はステップｂ乃至ｄが繰り返
され、各繰り返しに対して記録強度は所望の特定の無作
為に選択可能なステップにより増加される。 一旦上記第１の周波数を持つ第１の情報パターンの残り
が処理ステップｄにおいて検出されなくなれば、記録さ
れ且つ次いで読み出されるべき情報パターンの最小の誤
り率が保証されるような放射ビームの強度設定が得られ
る
【０００４】上記内容は前記特許出願の図７及び図８を
参照して説明され、図８は記録に使用される放射ビーム
の強度の関数として誤り率特性を表している。前記特許
出願で説明されているように、該出願に記載の方法及び
装置は誤り率が低レベルである上記誤り率特性の平坦領
域の中間に略々位置される放射強度の設定を可能にす
る。
参照して説明され、図８は記録に使用される放射ビーム
の強度の関数として誤り率特性を表している。前記特許
出願で説明されているように、該出願に記載の方法及び
装置は誤り率が低レベルである上記誤り率特性の平坦領
域の中間に略々位置される放射強度の設定を可能にす
る。
【０００５】前記ヨーロッパ特許出願第0400726 号で説
明されている方法及び装置は非常に低い誤り率での情報
パターンの非常に信頼がおける記録を可能にするが、そ
れでも幾つか固有の欠点がある。例えば、以下の様なこ
とである。 − 特別にデザインされたハードウェアが第１及び第２
の周波数を持つ情報パターンを発生する為に、及び該第
１の周波数を持つ第１の情報の残りを検出するために必
要である。 − 更に不利な点は上記第１の周波数を持つ第１の情報
パターンが放射ビームを発生するレーザーダイオードの
最高の出力で記録されることにある。最高の出力でレー
ザーダイオードを動作させることは耐用寿命を短くする
点で不利である。
明されている方法及び装置は非常に低い誤り率での情報
パターンの非常に信頼がおける記録を可能にするが、そ
れでも幾つか固有の欠点がある。例えば、以下の様なこ
とである。 − 特別にデザインされたハードウェアが第１及び第２
の周波数を持つ情報パターンを発生する為に、及び該第
１の周波数を持つ第１の情報の残りを検出するために必
要である。 − 更に不利な点は上記第１の周波数を持つ第１の情報
パターンが放射ビームを発生するレーザーダイオードの
最高の出力で記録されることにある。最高の出力でレー
ザーダイオードを動作させることは耐用寿命を短くする
点で不利である。
【０００６】
【発明の目的及び概要】本発明の目的の一つはレーザー
ビームの最適な記録強度の設定を決定するために記録装
置に余分なハードウェアを追加する必要がなく、それで
もなお記録される情報パターンは所望の低さの誤り率を
持つ様な方法及び記録装置を提供することにある。
ビームの最適な記録強度の設定を決定するために記録装
置に余分なハードウェアを追加する必要がなく、それで
もなお記録される情報パターンは所望の低さの誤り率を
持つ様な方法及び記録装置を提供することにある。
【０００７】本発明の他の目的は最小誤り率を持つ情報
パターンを最小記録強度を用いて記録する事が出来る様
な方法及び記録装置を提供することにある。
パターンを最小記録強度を用いて記録する事が出来る様
な方法及び記録装置を提供することにある。
【０００８】本発明による方法はテスト情報パターンが
誤り検出及び訂正アルゴリズムにより符号化された所定
の無作為に選択可能なデータパターンであり、このテス
ト情報パターンは放射ビームの選択された記録強度を用
いて記録され、その後上記テスト情報パターンが読み出
されるとともに前記データパターンにおける誤り率が誤
り検出及び訂正アルゴリズムにより求められ、その後上
記誤り率に応答して前記放射ビームの記録強度が情報パ
ターンの記録に関して設定されることを特徴とする。
誤り検出及び訂正アルゴリズムにより符号化された所定
の無作為に選択可能なデータパターンであり、このテス
ト情報パターンは放射ビームの選択された記録強度を用
いて記録され、その後上記テスト情報パターンが読み出
されるとともに前記データパターンにおける誤り率が誤
り検出及び訂正アルゴリズムにより求められ、その後上
記誤り率に応答して前記放射ビームの記録強度が情報パ
ターンの記録に関して設定されることを特徴とする。
【０００９】本発明による方法は、信号が記録される際
に既に使用された誤り検出及び訂正アルゴリズムを利用
している。無作為に又は自由に選択可能なデータパター
ンから得られるテスト情報パターンが記録された後に、
記録された情報パターンが読み出され上記誤り検出及び
訂正アルゴリズムにより処理された場合に、既知のデー
タパターンの誤り率の値を求めることが可能である。得
られた誤り率により、放射ビームの設定を所望の強度方
向に調整することが可能である。
に既に使用された誤り検出及び訂正アルゴリズムを利用
している。無作為に又は自由に選択可能なデータパター
ンから得られるテスト情報パターンが記録された後に、
記録された情報パターンが読み出され上記誤り検出及び
訂正アルゴリズムにより処理された場合に、既知のデー
タパターンの誤り率の値を求めることが可能である。得
られた誤り率により、放射ビームの設定を所望の強度方
向に調整することが可能である。
【００１０】本発明による記録装置は、該記録装置が更
に放射ビームを用いて記録された情報パターンを読み取
る読み取り手段と、誤り検出及び訂正アルゴリズムによ
りデータパターンを符号化するとともに読み出された情
報パターンに属する信号パターンにおける誤り率を決定
し且つ上記検出された誤り率に応じて調整信号を決定す
るプログラムされたデータ処理手段とを有することを特
徴とする。
に放射ビームを用いて記録された情報パターンを読み取
る読み取り手段と、誤り検出及び訂正アルゴリズムによ
りデータパターンを符号化するとともに読み出された情
報パターンに属する信号パターンにおける誤り率を決定
し且つ上記検出された誤り率に応じて調整信号を決定す
るプログラムされたデータ処理手段とを有することを特
徴とする。
【００１１】本発明による記録装置は該記録装置におい
て既に使用された、誤り検出及び訂正アルゴリズムによ
りデータパターンを符号化するとともに該誤り検出及び
訂正アルゴリズムにより記録された信号パターンを復号
するプログラムされたデータ処理手段を利用している。
読み出された情報パターンが復号される時、誤り率が決
定され、この誤り率に基づいて、前記放射ビームの発生
源のビーム強度を設定する設定手段に対する設定信号が
求められる。
て既に使用された、誤り検出及び訂正アルゴリズムによ
りデータパターンを符号化するとともに該誤り検出及び
訂正アルゴリズムにより記録された信号パターンを復号
するプログラムされたデータ処理手段を利用している。
読み出された情報パターンが復号される時、誤り率が決
定され、この誤り率に基づいて、前記放射ビームの発生
源のビーム強度を設定する設定手段に対する設定信号が
求められる。
【００１２】上記ビーム強度の自動最適設定機能を持つ
実施例は、前記マークを記録することが例えば光磁気記
録装置におけるように記録強度に強く依存する様な記録
装置に特に適している。しかしながら、本発明は光磁気
記録に限定されるのではなくその代わりとして他の記録
原理のもの、例えば相変化タイプの記録担体上に重ね書
きする事が出来る記録原理にも提供される。この様な相
変化記録原理に対しては、放射ビームにより走査された
際に放射方法に依存して非結晶質から結晶質に又はその
逆に構造が変化され得るような記録担体が使用される。
実施例は、前記マークを記録することが例えば光磁気記
録装置におけるように記録強度に強く依存する様な記録
装置に特に適している。しかしながら、本発明は光磁気
記録に限定されるのではなくその代わりとして他の記録
原理のもの、例えば相変化タイプの記録担体上に重ね書
きする事が出来る記録原理にも提供される。この様な相
変化記録原理に対しては、放射ビームにより走査された
際に放射方法に依存して非結晶質から結晶質に又はその
逆に構造が変化され得るような記録担体が使用される。
【００１３】
【実施例】図１は重ね書き可能な形式の記録担体１の実
施例を示している。図１のａは上面図を示し、図１のｂ
は図１ａのｂ−ｂ線に沿う断面の小部分を示している。
上記記録担体１は互いに略々同心状に位置される情報領
域を与えるトラックパターンを有している。該領域は光
学的に検出可能なマークの情報パターンの形で情報を記
録する事を意図している。このトラックパターンは例え
ば上記情報領域の中央を示す連続螺旋状サーボトラック
４のように構成してもよい。しかしながら、同心状情報
領域は例えばオランダ特許出願公開第8702905 号に記載
されている様な一般にサーボパターンと称される構造で
示されてもよいであろう。記録を行なうために上記記録
担体１は透明基盤５上に形成され保護皮膜７により覆わ
れている記録層６を有している。この記録層６は光磁気
記録に適した材料である。しかしながら、上記記録層６
は又、例えば構造が適切な放射方法により非結晶質から
結晶質、又はその逆に変化可能である様な、一般に相変
化材料と称される異なる材料から構成してもよい。
施例を示している。図１のａは上面図を示し、図１のｂ
は図１ａのｂ−ｂ線に沿う断面の小部分を示している。
上記記録担体１は互いに略々同心状に位置される情報領
域を与えるトラックパターンを有している。該領域は光
学的に検出可能なマークの情報パターンの形で情報を記
録する事を意図している。このトラックパターンは例え
ば上記情報領域の中央を示す連続螺旋状サーボトラック
４のように構成してもよい。しかしながら、同心状情報
領域は例えばオランダ特許出願公開第8702905 号に記載
されている様な一般にサーボパターンと称される構造で
示されてもよいであろう。記録を行なうために上記記録
担体１は透明基盤５上に形成され保護皮膜７により覆わ
れている記録層６を有している。この記録層６は光磁気
記録に適した材料である。しかしながら、上記記録層６
は又、例えば構造が適切な放射方法により非結晶質から
結晶質、又はその逆に変化可能である様な、一般に相変
化材料と称される異なる材料から構成してもよい。
【００１４】図２は記録担体１上に情報を記録する本発
明による光磁気記録装置１０の実施例を示している。こ
の記録装置１０はターンテーブル１１及び軸１３の廻り
に記録担体１を回転させる為の駆動モータ１２を有して
いる。上記回転記録担体１に対向する様に光磁気記録及
び読み出しに適する通常の形式の光読み書きヘッド１４
が取り付けられている。このヘッドを用いて放射ビーム
１５は前記記録層６上に焦点が合わされる。前記記録装
置１０は例えばヨーロッパ特許出願公開第0265904 号及
びオランダ特許出願公開第8800151 号に記載されている
様に、前記サーボトラック４に焦点が合わされる様に上
記放射ビーム１５を保つ通常のサーボトラッキング手段
（図示せず）、記録層６に焦点が合わされる様に上記放
射ビーム１５を保つ通常の焦点合わせ手段及び特定アド
レスを介して検索を行なう為の通常のアドレッシング手
段を有している。前記記録担体１の他方の側で上記読み
書きヘッド１４に対向する様に磁界変調器１６が、上記
放射ビーム１５により照射された前記記録層６の領域に
該記録層６に対して略々直角の方向に磁界Ｈを発生する
ために取り付けられている。この磁界変調器１６はブラ
ケット１７により上記読み書きヘッド１４に堅固に取り
付けられている。磁界変調器１６と同様に読み書きヘッ
ド１４は該磁界変調器１６が移動装置１８により前記記
録担体に関して放射状に動かすことが可能であり、この
場合ブラケット又は磁界変調記１６が読み書きヘッド１
４と対向したままとなるようにする。この磁界変調器１
６は発生される磁界の方向が２進記録信号Ｖｍに応じて
変調することが可能な形式のものである。この様な磁界
変調器は例えばオランダ特許出願第8702451 号に詳細に
記載されている。
明による光磁気記録装置１０の実施例を示している。こ
の記録装置１０はターンテーブル１１及び軸１３の廻り
に記録担体１を回転させる為の駆動モータ１２を有して
いる。上記回転記録担体１に対向する様に光磁気記録及
び読み出しに適する通常の形式の光読み書きヘッド１４
が取り付けられている。このヘッドを用いて放射ビーム
１５は前記記録層６上に焦点が合わされる。前記記録装
置１０は例えばヨーロッパ特許出願公開第0265904 号及
びオランダ特許出願公開第8800151 号に記載されている
様に、前記サーボトラック４に焦点が合わされる様に上
記放射ビーム１５を保つ通常のサーボトラッキング手段
（図示せず）、記録層６に焦点が合わされる様に上記放
射ビーム１５を保つ通常の焦点合わせ手段及び特定アド
レスを介して検索を行なう為の通常のアドレッシング手
段を有している。前記記録担体１の他方の側で上記読み
書きヘッド１４に対向する様に磁界変調器１６が、上記
放射ビーム１５により照射された前記記録層６の領域に
該記録層６に対して略々直角の方向に磁界Ｈを発生する
ために取り付けられている。この磁界変調器１６はブラ
ケット１７により上記読み書きヘッド１４に堅固に取り
付けられている。磁界変調器１６と同様に読み書きヘッ
ド１４は該磁界変調器１６が移動装置１８により前記記
録担体に関して放射状に動かすことが可能であり、この
場合ブラケット又は磁界変調記１６が読み書きヘッド１
４と対向したままとなるようにする。この磁界変調器１
６は発生される磁界の方向が２進記録信号Ｖｍに応じて
変調することが可能な形式のものである。この様な磁界
変調器は例えばオランダ特許出願第8702451 号に詳細に
記載されている。
【００１５】前記装置１０は更に前記読み書きヘッド１
４及び移動装置１８を制御し前記記録信号Ｖｍを発生す
るための制御回路１９ａを有している。情報が記録され
る時は前記サーボトラック４は前記放射ビーム１５によ
って走査され、このビーム１５の強度は前記記録層６の
材料のキューリ温度近傍まで該放射ビーム１５により走
査される前記記録層６の部分を加熱するのに十分な程高
い記録強度に設定されている。同時に、記録信号Ｖｍ、
従って発生される磁界Ｈは記録される情報に応じて変調
される。この結果、磁区の形のマークのパターンがサー
ボトラック４の走査された部分に生じ、該パターンは記
録信号Ｖｍに対応している。この様に実現された磁区は
更に詳細に記載されているように光学的に検出すること
が出来る。
４及び移動装置１８を制御し前記記録信号Ｖｍを発生す
るための制御回路１９ａを有している。情報が記録され
る時は前記サーボトラック４は前記放射ビーム１５によ
って走査され、このビーム１５の強度は前記記録層６の
材料のキューリ温度近傍まで該放射ビーム１５により走
査される前記記録層６の部分を加熱するのに十分な程高
い記録強度に設定されている。同時に、記録信号Ｖｍ、
従って発生される磁界Ｈは記録される情報に応じて変調
される。この結果、磁区の形のマークのパターンがサー
ボトラック４の走査された部分に生じ、該パターンは記
録信号Ｖｍに対応している。この様に実現された磁区は
更に詳細に記載されているように光学的に検出すること
が出来る。
【００１６】本発明による記録装置１０に不可欠な物は
双方向データバス１９ｃを介して制御回路１９ａに結合
される信号処理手段１９ｂである。このデータバス１９
ｃは直列（１ビット幅）又は並列（複数ビット幅）デー
タバスでもよい。上記信号処理手段１９ｂはこのプログ
ラムされた処理手段１９ｂにおいて誤り検出及び訂正ア
ルゴリズム（ＣＩＲＣ又は他のリードソロモンコード）
により符号化されるデータパターンを双方向（入力及び
出力）バス１９ｄを介して入力する。このようにして得
られる情報パターンは上記バス１９ｃを介して上記制御
手段１９ａに供給され、放射ビーム１５の記録強度の設
定もそのようにされる。この強度を用いて上記情報パタ
ーンが前記記録担体１の記録層６に記録される。
双方向データバス１９ｃを介して制御回路１９ａに結合
される信号処理手段１９ｂである。このデータバス１９
ｃは直列（１ビット幅）又は並列（複数ビット幅）デー
タバスでもよい。上記信号処理手段１９ｂはこのプログ
ラムされた処理手段１９ｂにおいて誤り検出及び訂正ア
ルゴリズム（ＣＩＲＣ又は他のリードソロモンコード）
により符号化されるデータパターンを双方向（入力及び
出力）バス１９ｄを介して入力する。このようにして得
られる情報パターンは上記バス１９ｃを介して上記制御
手段１９ａに供給され、放射ビーム１５の記録強度の設
定もそのようにされる。この強度を用いて上記情報パタ
ーンが前記記録担体１の記録層６に記録される。
【００１７】前記読み書きヘッドを用いて読み出され、
信号形態Ｖ１を持つ情報パターンは制御回路１９ａによ
り前記バス１９ｃを介して前記誤り検出及び訂正アルゴ
リズムによりこの情報パターンからデータパターンの復
号化を試みる処理手段１９ｂに転送される。上記処理手
段１９ｂは上記データパターンにおいて生じる誤り率を
求め、該誤り率を基に放射ビーム１５の記録強度を設定
するための設定信号を決定する。前記制御回路１９ａは
上記バス１９ｃを介して上記設定信号を入力する。
信号形態Ｖ１を持つ情報パターンは制御回路１９ａによ
り前記バス１９ｃを介して前記誤り検出及び訂正アルゴ
リズムによりこの情報パターンからデータパターンの復
号化を試みる処理手段１９ｂに転送される。上記処理手
段１９ｂは上記データパターンにおいて生じる誤り率を
求め、該誤り率を基に放射ビーム１５の記録強度を設定
するための設定信号を決定する。前記制御回路１９ａは
上記バス１９ｃを介して上記設定信号を入力する。
【００１８】図３は記録信号Ｖｍ、これに対応する磁界
Ｈ及びこの結果としての異なる磁化方向を持つ磁区のパ
ターンの時間変化を示している。この異なる磁化方向を
持つ磁区は異なる符号、即ち３０、３１により示されて
いる。前記パターンが記録されるサーボトラック４の中
央がライン４’により図示されている。磁区３０、３１
のパターンは直線偏光された走査ビームを用いて該パタ
ーンを走査する前記読み書きヘッド４により読み出すこ
とが出来る。放射されたビームの反射後、放射されたビ
ームの偏光方向は記録層６の走査された部分の磁化方向
により決定される方向に変化される。この方法で偏光方
向の変化の変調パターンが得られる。該パターンは磁区
３０、３１の走査パターンに対応している。この変調は
例えばオランダ特許出願公開第8602304 号に記載されて
いるように、例えばウォラストンプリズム、光電変換器
及び該光電変換器の出力信号を読み出されたパターンを
表す読み取り信号Ｖ１に変換する増幅回路の補助により
前記読み書きヘッド１４において通常の方法で検出され
る。
Ｈ及びこの結果としての異なる磁化方向を持つ磁区のパ
ターンの時間変化を示している。この異なる磁化方向を
持つ磁区は異なる符号、即ち３０、３１により示されて
いる。前記パターンが記録されるサーボトラック４の中
央がライン４’により図示されている。磁区３０、３１
のパターンは直線偏光された走査ビームを用いて該パタ
ーンを走査する前記読み書きヘッド４により読み出すこ
とが出来る。放射されたビームの反射後、放射されたビ
ームの偏光方向は記録層６の走査された部分の磁化方向
により決定される方向に変化される。この方法で偏光方
向の変化の変調パターンが得られる。該パターンは磁区
３０、３１の走査パターンに対応している。この変調は
例えばオランダ特許出願公開第8602304 号に記載されて
いるように、例えばウォラストンプリズム、光電変換器
及び該光電変換器の出力信号を読み出されたパターンを
表す読み取り信号Ｖ１に変換する増幅回路の補助により
前記読み書きヘッド１４において通常の方法で検出され
る。
【００１９】記録する上で重要な事項の一つは記録され
た情報を再び読み出すことが出来る信頼性である。記録
されたＣＤ−Ａ又はＣＤ−ＲＯＭ信号に対する上記読み
取り信頼性を表すことが出来る既知の値は、いわゆる"
(ブロック）誤り率"(( ＢＬ）ＥＲ）である。この値
（ＢＬ）ＥＲは１以上の訂正が不可能な誤りが、前記誤
り検出及び訂正アルゴリズムにより検出される単位時間
当たりの（ＥＦＭ）ブロック数を示している。
た情報を再び読み出すことが出来る信頼性である。記録
されたＣＤ−Ａ又はＣＤ−ＲＯＭ信号に対する上記読み
取り信頼性を表すことが出来る既知の値は、いわゆる"
(ブロック）誤り率"(( ＢＬ）ＥＲ）である。この値
（ＢＬ）ＥＲは１以上の訂正が不可能な誤りが、前記誤
り検出及び訂正アルゴリズムにより検出される単位時間
当たりの（ＥＦＭ）ブロック数を示している。
【００２０】図４は記録強度Ｐの関数としてのＢＬＥＲ
の値の動きを示している。この図から、Ｐmin からＰ
max の範囲内ではＢＬＥＲの値は略々一定の最低値であ
るのに対しこの範囲外においてはＢＬＥＲの値は急激に
増加しているのは明白である。Ｐmin 及びＰmax の値の
間では前記読み取り信頼性は記録方式における多種多様
な許容誤差の結果不可避である強度変化に対して実質的
に反応を示さない。
の値の動きを示している。この図から、Ｐmin からＰ
max の範囲内ではＢＬＥＲの値は略々一定の最低値であ
るのに対しこの範囲外においてはＢＬＥＲの値は急激に
増加しているのは明白である。Ｐmin 及びＰmax の値の
間では前記読み取り信頼性は記録方式における多種多様
な許容誤差の結果不可避である強度変化に対して実質的
に反応を示さない。
【００２１】又、図４は記録時の前記トラック４の特定
の走査速度に対する記録強度Ｐの関数としての誤り率Ｂ
ＬＥＲを示している。このように最適記録強度はＰmin
及びＰmax の間の中間に位置するのではなく、丁度Ｐ
min より僅かに上に位置する。最適記録強度の値は特定
の記録担体に対して予め決定することが可能である。こ
の記録担体上に情報を記録するよりも前に、記録装置の
記録強度をこの場合に基本的に上記最適値に設定するこ
とが可能である。
の走査速度に対する記録強度Ｐの関数としての誤り率Ｂ
ＬＥＲを示している。このように最適記録強度はＰmin
及びＰmax の間の中間に位置するのではなく、丁度Ｐ
min より僅かに上に位置する。最適記録強度の値は特定
の記録担体に対して予め決定することが可能である。こ
の記録担体上に情報を記録するよりも前に、記録装置の
記録強度をこの場合に基本的に上記最適値に設定するこ
とが可能である。
【００２２】しかしながら、以下の問題がここで生じ
る。 １） たとえ同じ光磁気材料で作られたとしても、記
録層の放射感受性に大きなばらつきがある。これは例え
ばスパッタリングの様な記録層を形成する通常使用され
ている方法に起因している。 ２） 最適記録強度は走査速度に大きく影響される。
例えば許容記録速度が１. ２m/sec 及び１. ４m/sec の
間にあるＣＤ信号用記録装置を用いる場合がそうである
ように、様々な記録装置に対して記録速度が著しく変化
する場合にこの事は特に問題となる。 ３） 絶対放射電力を正確に決定する事は実際には大
きな問題である。電力計の相互のバラツキは１０％程度
である。加えて、調整状態の違いが付加的な偏差を生じ
る原因となる。 ４） 最後に、記録層６に放射される放射ビームによ
る走査スポットの形状及び該放射ビームの波長も同様に
最適記録強度に影響する。
る。 １） たとえ同じ光磁気材料で作られたとしても、記
録層の放射感受性に大きなばらつきがある。これは例え
ばスパッタリングの様な記録層を形成する通常使用され
ている方法に起因している。 ２） 最適記録強度は走査速度に大きく影響される。
例えば許容記録速度が１. ２m/sec 及び１. ４m/sec の
間にあるＣＤ信号用記録装置を用いる場合がそうである
ように、様々な記録装置に対して記録速度が著しく変化
する場合にこの事は特に問題となる。 ３） 絶対放射電力を正確に決定する事は実際には大
きな問題である。電力計の相互のバラツキは１０％程度
である。加えて、調整状態の違いが付加的な偏差を生じ
る原因となる。 ４） 最後に、記録層６に放射される放射ビームによ
る走査スポットの形状及び該放射ビームの波長も同様に
最適記録強度に影響する。
【００２３】これら全ては、最適記録強度の変化があま
りに大きいため、記録強度の固定設定に関しては、該記
録強度が前記ＢＬＥＲの値がローレベルである当該記録
担体の記録ウィンドウ内にあることは保証が出来ないと
いうことを意味している。
りに大きいため、記録強度の固定設定に関しては、該記
録強度が前記ＢＬＥＲの値がローレベルである当該記録
担体の記録ウィンドウ内にあることは保証が出来ないと
いうことを意味している。
【００２４】以下に前記最適記録強度を信頼性を持ち且
つ簡単に設定可能にする方法が記載されている。最初に
本発明による方法の好ましい実施例を該実施例のフロー
チャートを示す図５を参照して説明する。
つ簡単に設定可能にする方法が記載されている。最初に
本発明による方法の好ましい実施例を該実施例のフロー
チャートを示す図５を参照して説明する。
【００２５】図５は本発明による方法の好ましい実施例
を表すフローチャートである。これにより図２に示され
る記録装置の放射ビーム１５に対する記録強度の最適な
設定が得られる。最初のステップＳ1 において、記録強
度Ｅの変化を表す初期ステップサイズΔＥと、本提案方
法に対する初期記録強度ＥI が設定される。上記ステッ
プサイズΔＥは（Ｅmax - Ｅmin ）／２である。ここで
Ｅmax 及びＥmin はそれぞれ上記放射ビーム１５の強度
Ｅの設定範囲の上限及び下限である。本方法の次のステ
ップＳ2 において上記ステップサイズΔＥは半分にされ
る。これら２つのステップを用いて以下のことが実現さ
れる。前記初期記録強度ＥI は前記書込みヘッド１４の
設定範囲の中間にあるように選ばれる。ステップＳ2 に
おいて前記ステップサイズΔＥを設定することにより、
記録強度Ｅの次回の設定が最小強度Ｅmin + 全設定範囲
の1/4 又は最大強度Ｅmax - 全設定範囲の1/4 のどちら
か一方になる。第３ステップＳ3 において情報が上記で
設定された記録強度Ｅで当該記録担体上に記録される。
本方法の次のステップＳ4 において、上記情報が上記記
録担体から読み出され、この読み出された情報に基づい
て誤り率ＥＲが決定される。次のステップＳ5 におい
て、上記誤り率ＥＲが許容レベルＡＣＣ以下であるかど
うか決定される。次のステップＳ6 において、前記誤り
率ＥＲが所望のレベルＡＣＣ以下である場合に前記ステ
ップサイズΔＥが最小ステップサイズΔＥmin よりも小
さいかどうかテストされる。もしそうでない時は、次の
ステップＳ7 において記録強度Ｅは上記ステップサイズ
ΔＥを用いて調整される。この後前記ステップＳ2 、Ｓ
3 、Ｓ4 及びＳ5 が繰り返される。依然ステップ５にお
いて誤り率ＥＲが許容レベルＡＣＣよりも小さい場合に
は、再度ステップ６においてステップサイズΔＥが最小
ステップサイズΔＥmin 以下であるかテストされる。も
しそうである場合、誤り率ＥＲが許容レベルＡＣＣ以下
であるかどうかテストされるステップＳ14直後のステッ
プＳ8 において所望の記録強度ＥW が設定される。この
記録強度ＥW はこの時点で設定された記録強度Ｅに定数
Ｒを掛けたものと等しくなる。この定数Ｒは１．１より
も大きく２．２よりも小さい係数である。光磁気記録に
おいては、この係数は好ましくは１．５及び１．７を境
とする間にある。一旦この所望の記録強度ＥW が設定さ
れると、当該プログラムはステップＳ9 において停止す
る。以上で説明した本発明による方法の一部により図４
に表される記録ウィンドウの最下部Ｐmin が決定され
る。なぜなら、前記記録強度の初期設定ＥI がＰmin 及
びＰmax 間のウィンドウ内の何処かにあると仮定したか
らである。
を表すフローチャートである。これにより図２に示され
る記録装置の放射ビーム１５に対する記録強度の最適な
設定が得られる。最初のステップＳ1 において、記録強
度Ｅの変化を表す初期ステップサイズΔＥと、本提案方
法に対する初期記録強度ＥI が設定される。上記ステッ
プサイズΔＥは（Ｅmax - Ｅmin ）／２である。ここで
Ｅmax 及びＥmin はそれぞれ上記放射ビーム１５の強度
Ｅの設定範囲の上限及び下限である。本方法の次のステ
ップＳ2 において上記ステップサイズΔＥは半分にされ
る。これら２つのステップを用いて以下のことが実現さ
れる。前記初期記録強度ＥI は前記書込みヘッド１４の
設定範囲の中間にあるように選ばれる。ステップＳ2 に
おいて前記ステップサイズΔＥを設定することにより、
記録強度Ｅの次回の設定が最小強度Ｅmin + 全設定範囲
の1/4 又は最大強度Ｅmax - 全設定範囲の1/4 のどちら
か一方になる。第３ステップＳ3 において情報が上記で
設定された記録強度Ｅで当該記録担体上に記録される。
本方法の次のステップＳ4 において、上記情報が上記記
録担体から読み出され、この読み出された情報に基づい
て誤り率ＥＲが決定される。次のステップＳ5 におい
て、上記誤り率ＥＲが許容レベルＡＣＣ以下であるかど
うか決定される。次のステップＳ6 において、前記誤り
率ＥＲが所望のレベルＡＣＣ以下である場合に前記ステ
ップサイズΔＥが最小ステップサイズΔＥmin よりも小
さいかどうかテストされる。もしそうでない時は、次の
ステップＳ7 において記録強度Ｅは上記ステップサイズ
ΔＥを用いて調整される。この後前記ステップＳ2 、Ｓ
3 、Ｓ4 及びＳ5 が繰り返される。依然ステップ５にお
いて誤り率ＥＲが許容レベルＡＣＣよりも小さい場合に
は、再度ステップ６においてステップサイズΔＥが最小
ステップサイズΔＥmin 以下であるかテストされる。も
しそうである場合、誤り率ＥＲが許容レベルＡＣＣ以下
であるかどうかテストされるステップＳ14直後のステッ
プＳ8 において所望の記録強度ＥW が設定される。この
記録強度ＥW はこの時点で設定された記録強度Ｅに定数
Ｒを掛けたものと等しくなる。この定数Ｒは１．１より
も大きく２．２よりも小さい係数である。光磁気記録に
おいては、この係数は好ましくは１．５及び１．７を境
とする間にある。一旦この所望の記録強度ＥW が設定さ
れると、当該プログラムはステップＳ9 において停止す
る。以上で説明した本発明による方法の一部により図４
に表される記録ウィンドウの最下部Ｐmin が決定され
る。なぜなら、前記記録強度の初期設定ＥI がＰmin 及
びＰmax 間のウィンドウ内の何処かにあると仮定したか
らである。
【００２６】図６は上記状況におけるＰmin 及びＰmax
の間の記録ウィンドウに関する初期記録強度ＥI を示し
ている。ステップＳ7 においては設定された記録強度が
ステップサイズΔＥにより常に減少されるので、一旦特
定のステップが取られると、前記記録強度Ｅがその時点
で記録ウィンドウの閾値Ｐmin 以下になるかも知れない
ことは明白である。このことはステップＳ4 における次
回の誤り率の計算及び誤り率ＥＲが許容エラーレベルＡ
ＣＣと比較するテストがなされるステップＳ5でのテス
トにおいて生じる。この場合、ステップＳ5 には、カウ
ンタが設定されているか及び”１”の値を有しているか
どうかテストされるＳ10が後続する。以下においてこの
ことを更に説明する。上記カウンタが設定されていない
場合には、記録強度のステップサイズΔＥが、取られる
べき最小のステップサイズΔＥmi n よりも小さいか又は
等しいかどうかステップＳ11においてテストされる。も
しそうでない場合は、記録強度Ｅは従属するステップＳ
12において該ステップサイズΔＥにより増加される。こ
の強度ステップサイズΔＥがステップＳ2 において調整
された後に、上記新たに設定された記録強度Ｅを用い
て、ステップＳ3 において情報の記録、ステップＳ4 に
おいて情報の読み取りが行われて再び誤り率ＥＲが決定
され且つステップＳ5 において該誤り率ＥＲが許容レベ
ルＡＣＣ以下であるかどうかテストされる。以上で説明
した方法により、誤り率特性における角(Corner)Ｐmin
及びそれに対応する記録強度Ｅが非常に短時間で得られ
る。このようにして得られた記録強度Ｅは該記録強度Ｅ
に定数Ｒを掛けることにより得られる所望の記録強度Ｅ
ｗを決定するための基準として使用される。この結果、
記録担体６上の情報は前記最低の記録強度Ｐmin を越え
る強度で記録されるが、この強度を用いても依然として
許容誤り率ＡＣＣで該情報を読み出すことは可能であ
る。
の間の記録ウィンドウに関する初期記録強度ＥI を示し
ている。ステップＳ7 においては設定された記録強度が
ステップサイズΔＥにより常に減少されるので、一旦特
定のステップが取られると、前記記録強度Ｅがその時点
で記録ウィンドウの閾値Ｐmin 以下になるかも知れない
ことは明白である。このことはステップＳ4 における次
回の誤り率の計算及び誤り率ＥＲが許容エラーレベルＡ
ＣＣと比較するテストがなされるステップＳ5でのテス
トにおいて生じる。この場合、ステップＳ5 には、カウ
ンタが設定されているか及び”１”の値を有しているか
どうかテストされるＳ10が後続する。以下においてこの
ことを更に説明する。上記カウンタが設定されていない
場合には、記録強度のステップサイズΔＥが、取られる
べき最小のステップサイズΔＥmi n よりも小さいか又は
等しいかどうかステップＳ11においてテストされる。も
しそうでない場合は、記録強度Ｅは従属するステップＳ
12において該ステップサイズΔＥにより増加される。こ
の強度ステップサイズΔＥがステップＳ2 において調整
された後に、上記新たに設定された記録強度Ｅを用い
て、ステップＳ3 において情報の記録、ステップＳ4 に
おいて情報の読み取りが行われて再び誤り率ＥＲが決定
され且つステップＳ5 において該誤り率ＥＲが許容レベ
ルＡＣＣ以下であるかどうかテストされる。以上で説明
した方法により、誤り率特性における角(Corner)Ｐmin
及びそれに対応する記録強度Ｅが非常に短時間で得られ
る。このようにして得られた記録強度Ｅは該記録強度Ｅ
に定数Ｒを掛けることにより得られる所望の記録強度Ｅ
ｗを決定するための基準として使用される。この結果、
記録担体６上の情報は前記最低の記録強度Ｐmin を越え
る強度で記録されるが、この強度を用いても依然として
許容誤り率ＡＣＣで該情報を読み出すことは可能であ
る。
【００２７】上記で説明した方法は前記初期記録強度Ｅ
I が記録ウィンドウ中又は最小記録強度Ｐmin 以下にあ
る間では正確に作用する。この初期記録強度ＥI が記録
ウィンドウと誤り率特性の上昇部分との間の角Ｐmax 以
上にある場合は、前記書込みヘッド１４は上記で説明し
た方法において前記放射ビーム１５にもっと高い記録強
度が供給される様に設定されてしまう。このことは設定
制御が誤った方法で実現されることを意味する。故に、
前記強度ステップサイズΔＥが一定して減少される繰り
返しステップが多数実行された後に、該ステップサイズ
ΔＥが最小ステップサイズΔＥmin よりも小さい場合
に、一旦ステップＳ11において該ステップサイズΔＥが
テストされると、ステップＳ13において該ステップサイ
ズΔＥは初期ステップサイズと再び等しくされ、一方で
はステップＳ1 が基準として使用される。更に、カウン
トＣがステップＳ13において１と等しくされる。ここか
ら上記記載の処理方法におけるステップＳ7 にループが
戻る。このステップＳ7 において、上記記録強度Ｅに対
する設定は修正され、故に該記録強度Ｅは減少される。
言うまでもないが、前記既知のステップＳ2 、Ｓ3 、Ｓ
4 及びＳ5 が続けて実行される。ここで再び二つの状況
となるだろう。ここで得られた誤り率ＥＲが確かに許容
レベルＡＣＣ以下である場合には、この結果として次回
のテストに対して記録強度はステップＳ6 及びＳ7 を介
して減少される。しかしながら、上記誤り率ＥＲが依然
許容レベルＡＣＣ以上である場合には、前記カウントＣ
が実際に１と等しいかどうかステップＳ10においてテス
トされる。そのような場合であれば、本発明の処理はス
テップＳ6 及びＳ7 に戻される。故に、前記誤り率は許
容レベルＡＣＣを越えるという事実にもかかわらず、次
回のテストサイクルで記録強度Ｅは前回のテストサイク
ルの前回の記録強度よりも低くなる。言い換えると、ポ
イントＥI から最初の数回のテストサイクルは初期記録
強度ＥI よりも大きい記録強度Ｅを用いて実施され、そ
の後、上記記録強度ＥI よりも小さい記録強度Ｅにルー
プが戻される。カウント"1" が設定されたカウンターは
テストサイクルが常に減少する記録強度Ｅを用いて実行
されるようにし、このようなテストサイクルの結果、誤
り率特性がＰmax 及びＰmin との間の平坦な記録ウィン
ドウに向かって左に移動する。この平坦な記録ウィンド
ウに到達した場合は、記録強度Ｅの次回からの設定はそ
れぞれ最小調整可能記録強度Ｅmin （図７参照）に到達
するか、又は最小記録強度Ｐmin に到達するまで低くな
る。この場合には、この最小記録強度カーブの角は該角
周辺における繰り返しステップを数回実行することによ
り十分正確に得られる。故に、ステップＳ5 において前
記誤り率ＥＲが許容レベルＡＣＣよりも低いことが分か
った後、前記カウンタのカウントをゼロにリセットする
必要がある。このリセットはステップＳ5 とＳ6 との間
でなされなければならず、一方ループの戻りはステップ
Ｓ10からＳ6 へなされなければならない。
I が記録ウィンドウ中又は最小記録強度Ｐmin 以下にあ
る間では正確に作用する。この初期記録強度ＥI が記録
ウィンドウと誤り率特性の上昇部分との間の角Ｐmax 以
上にある場合は、前記書込みヘッド１４は上記で説明し
た方法において前記放射ビーム１５にもっと高い記録強
度が供給される様に設定されてしまう。このことは設定
制御が誤った方法で実現されることを意味する。故に、
前記強度ステップサイズΔＥが一定して減少される繰り
返しステップが多数実行された後に、該ステップサイズ
ΔＥが最小ステップサイズΔＥmin よりも小さい場合
に、一旦ステップＳ11において該ステップサイズΔＥが
テストされると、ステップＳ13において該ステップサイ
ズΔＥは初期ステップサイズと再び等しくされ、一方で
はステップＳ1 が基準として使用される。更に、カウン
トＣがステップＳ13において１と等しくされる。ここか
ら上記記載の処理方法におけるステップＳ7 にループが
戻る。このステップＳ7 において、上記記録強度Ｅに対
する設定は修正され、故に該記録強度Ｅは減少される。
言うまでもないが、前記既知のステップＳ2 、Ｓ3 、Ｓ
4 及びＳ5 が続けて実行される。ここで再び二つの状況
となるだろう。ここで得られた誤り率ＥＲが確かに許容
レベルＡＣＣ以下である場合には、この結果として次回
のテストに対して記録強度はステップＳ6 及びＳ7 を介
して減少される。しかしながら、上記誤り率ＥＲが依然
許容レベルＡＣＣ以上である場合には、前記カウントＣ
が実際に１と等しいかどうかステップＳ10においてテス
トされる。そのような場合であれば、本発明の処理はス
テップＳ6 及びＳ7 に戻される。故に、前記誤り率は許
容レベルＡＣＣを越えるという事実にもかかわらず、次
回のテストサイクルで記録強度Ｅは前回のテストサイク
ルの前回の記録強度よりも低くなる。言い換えると、ポ
イントＥI から最初の数回のテストサイクルは初期記録
強度ＥI よりも大きい記録強度Ｅを用いて実施され、そ
の後、上記記録強度ＥI よりも小さい記録強度Ｅにルー
プが戻される。カウント"1" が設定されたカウンターは
テストサイクルが常に減少する記録強度Ｅを用いて実行
されるようにし、このようなテストサイクルの結果、誤
り率特性がＰmax 及びＰmin との間の平坦な記録ウィン
ドウに向かって左に移動する。この平坦な記録ウィンド
ウに到達した場合は、記録強度Ｅの次回からの設定はそ
れぞれ最小調整可能記録強度Ｅmin （図７参照）に到達
するか、又は最小記録強度Ｐmin に到達するまで低くな
る。この場合には、この最小記録強度カーブの角は該角
周辺における繰り返しステップを数回実行することによ
り十分正確に得られる。故に、ステップＳ5 において前
記誤り率ＥＲが許容レベルＡＣＣよりも低いことが分か
った後、前記カウンタのカウントをゼロにリセットする
必要がある。このリセットはステップＳ5 とＳ6 との間
でなされなければならず、一方ループの戻りはステップ
Ｓ10からＳ6 へなされなければならない。
【００２８】好ましい実施例の方法に応じて記録強度の
設定範囲の中間から始める事により及びテストサイクル
を繰り返す毎にステップサイズを半分にしていくことに
より、誤り率特性の角Ｐmin は一般的に４又は５回のス
テップが実行された後に正確さを持って得ることが出来
る。本発明による方法の好ましい実施例では、この様に
して書込みヘッド１４の記録強度に対する最適な設定が
非常に短時間で得られる。
設定範囲の中間から始める事により及びテストサイクル
を繰り返す毎にステップサイズを半分にしていくことに
より、誤り率特性の角Ｐmin は一般的に４又は５回のス
テップが実行された後に正確さを持って得ることが出来
る。本発明による方法の好ましい実施例では、この様に
して書込みヘッド１４の記録強度に対する最適な設定が
非常に短時間で得られる。
【００２９】言うまでもないが、前記放射ビーム１５に
対する最適記録強度を得るためには様々の方法がある。
類似の方法を例として以下で説明する。
対する最適記録強度を得るためには様々の方法がある。
類似の方法を例として以下で説明する。
【００３０】上記の様な方法の一つではメディアに対す
る較正が記録担体１の内側の縁部及び／又は外側の縁部
上の定義された区域において実行される。当然最初に、
記録されるべきテスト領域は先ず十分に高い消去力を用
いて消去され、故にきれいなテスト領域で開始すること
が出来る。ここで記録強度の最小設定から開始し、例え
ば各々が５１２ユーザバイトの数セクタが各メディアの
記録強度の設定に関して当該情報を十分に信頼性を持っ
て考慮するために記録され、一方1/10ｍＷのステップが
各々とられる。次に、この様に記録されたセクタは読み
出され、これに対応する誤り率が各々の記録強度値に対
して決定される。この場合、特定の記録強度に対して記
録された数セクタのせいぜいただ一つに誤りがある、言
い換えれば訂正出来ないことを許容するような評価基準
としてもよい。このようにして、記録された情報が依然
として十分信頼出来ると見ることが出来るような最小記
録強度が一連の記録されたセクタから得ることが可能で
ある。記録ウィンドウの下限に関する記録強度は書込み
ヘッド１４の最適記録強度を決定する為に前記で説明し
た方法で使用される。最小記録強度に対する最適記録強
度の比率である被乗数Ｒは１．６周辺で選定されるべき
である。
る較正が記録担体１の内側の縁部及び／又は外側の縁部
上の定義された区域において実行される。当然最初に、
記録されるべきテスト領域は先ず十分に高い消去力を用
いて消去され、故にきれいなテスト領域で開始すること
が出来る。ここで記録強度の最小設定から開始し、例え
ば各々が５１２ユーザバイトの数セクタが各メディアの
記録強度の設定に関して当該情報を十分に信頼性を持っ
て考慮するために記録され、一方1/10ｍＷのステップが
各々とられる。次に、この様に記録されたセクタは読み
出され、これに対応する誤り率が各々の記録強度値に対
して決定される。この場合、特定の記録強度に対して記
録された数セクタのせいぜいただ一つに誤りがある、言
い換えれば訂正出来ないことを許容するような評価基準
としてもよい。このようにして、記録された情報が依然
として十分信頼出来ると見ることが出来るような最小記
録強度が一連の記録されたセクタから得ることが可能で
ある。記録ウィンドウの下限に関する記録強度は書込み
ヘッド１４の最適記録強度を決定する為に前記で説明し
た方法で使用される。最小記録強度に対する最適記録強
度の比率である被乗数Ｒは１．６周辺で選定されるべき
である。
【００３１】図５を参照して説明した方法は様々な方法
で変形が可能であることは明白である。例えば、連続し
て繰り返される記録強度ΔＥのステップサイズは前記誤
り率特性の角が得られるまで一定に保つことが可能であ
る。その後、上記ステップサイズは減少可能であり、誤
り率特性における上記得られた角が位置する放射強度の
範囲をより小さいステップサイズでカバーすることが可
能である。故に、前記カーブの角に属する記録強度はよ
り正確に決定されると共に該角が位置するより小さな範
囲が決定される。次いで、上記ステップサイズΔＥは所
望の最小ステップサイズΔＥに達するまで再び減少する
ことが可能である。明らかに、多数のステップが上記の
様な変形例に対して必要である。このことは、ここで利
用可能である記録担体に対する記録装置の調整がより長
くかかる事を意味する。
で変形が可能であることは明白である。例えば、連続し
て繰り返される記録強度ΔＥのステップサイズは前記誤
り率特性の角が得られるまで一定に保つことが可能であ
る。その後、上記ステップサイズは減少可能であり、誤
り率特性における上記得られた角が位置する放射強度の
範囲をより小さいステップサイズでカバーすることが可
能である。故に、前記カーブの角に属する記録強度はよ
り正確に決定されると共に該角が位置するより小さな範
囲が決定される。次いで、上記ステップサイズΔＥは所
望の最小ステップサイズΔＥに達するまで再び減少する
ことが可能である。明らかに、多数のステップが上記の
様な変形例に対して必要である。このことは、ここで利
用可能である記録担体に対する記録装置の調整がより長
くかかる事を意味する。
【００３２】更に、以上で説明した方法及び図５を参照
して説明した方法の組合せが可能である。先ず、放射ビ
ームの発生源の範囲設定が適度に大きなステップサイズ
ΔＥを用いて実行され、故に、一旦ステップが数回実行
されると前記誤り率特性の角及び該ステップサイズによ
り決定される経路は既知となる。ここで、この時点で設
定された記録強度から開始し、図５を参照して説明され
ている方法を後続させることが出来る。この場合、図５
に示されたフローチャートにおける当該方法のステップ
Ｓ10、Ｓ13、Ｓ14及びＳ15は省略することが可能であ
る。
して説明した方法の組合せが可能である。先ず、放射ビ
ームの発生源の範囲設定が適度に大きなステップサイズ
ΔＥを用いて実行され、故に、一旦ステップが数回実行
されると前記誤り率特性の角及び該ステップサイズによ
り決定される経路は既知となる。ここで、この時点で設
定された記録強度から開始し、図５を参照して説明され
ている方法を後続させることが出来る。この場合、図５
に示されたフローチャートにおける当該方法のステップ
Ｓ10、Ｓ13、Ｓ14及びＳ15は省略することが可能であ
る。
【００３３】以上で説明した方法は例えば相変化材料又
はＭＯの様な多数のメディアに対して応用が可能であ
る。しかしながら、誤り率特性において比較的狭い範囲
の記録ウィンドウを持つメディアのグループに限定され
る。この場合には、上記ウィンドウの下限を決定するだ
けではなく、同様の方法で該記録ウィンドウの上限を決
定しなければならない。この後、これら上限及び下限の
平均を最適な強度とすることが可能である。
はＭＯの様な多数のメディアに対して応用が可能であ
る。しかしながら、誤り率特性において比較的狭い範囲
の記録ウィンドウを持つメディアのグループに限定され
る。この場合には、上記ウィンドウの下限を決定するだ
けではなく、同様の方法で該記録ウィンドウの上限を決
定しなければならない。この後、これら上限及び下限の
平均を最適な強度とすることが可能である。
【図１】 図１のａ及びｂは記録担体を示す。
【図２】 図２は本発明による光磁気装置を示す。
【図３】 図３は記録信号及びこの信号に対応する情報
パターンを示す。
パターンを示す。
【図４】 図４は記録強度の関数としての読み取り信頼
性を示す。
性を示す。
【図５】 図５は本発明による記録強度を設定する方法
の好ましい実施例のフローチャートを示す。
の好ましい実施例のフローチャートを示す。
【図６】 図６は誤り率特性の記録ウィンドウに関する
初期記録強度の第１の状況を示す。
初期記録強度の第１の状況を示す。
【図７】 図７は記録ウィンドウに関する初期記録強度
の他の状況を示す。
の他の状況を示す。
１…記録担体 ４…サーボトラック ６…記録層 １０…記録装置 １５…放射ビーム １９ａ…制御回路 １９ｂ…信号処理手段 Ｖｍ…記録信号 Ｖ１…読み取り信号
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ１１Ｂ 20/18 ５５０ Ｚ 9074−5Ｄ ５７２ 9074−5Ｄ (72)発明者 ヨハネス ヘンドリカス マリア スプル イト オランダ国 5621 ベーアー アインドー フェン フルーネヴァウツウェッハ １ (72)発明者 ヒンドリク フェルデュイス オランダ国 5621 ベーアー アインドー フェン フルーネヴァウツウェッハ １
Claims (17)
- 【請求項１】 光学的に検出可能なマークの情報パター
ンが記録単体上の略々平行なトラックに記録され、これ
らトラックが上記マークを記録するための放射ビームに
より走査され、前記光学的に検出可能なマークが前記放
射ビームにより前記記録担体の適切な記録層を局所的に
加熱することにより得られ、この放射ビームのエネルギ
ー容量が該放射ビームを用いて記録されたテスト情報パ
ターンにおける望ましくない信号の検出に応答して設定
されるような重ね書き可能な形式の記録担体上に信号を
記録する方法において、前記テスト情報パターンが誤り
検出および訂正アルゴリズムにより符号化された所定の
無作為に選択可能なデータパターンであり、このテスト
情報パターンが前記放射ビームの選択された記録強度を
用いて記録され、その後上記テスト情報パターンが読み
出されるとともに前記データパターンにおける誤り率が
誤り検出及び訂正アルゴリズムにより求められ、その後
前記誤り率に応答して前記放射ビームの記録強度が情報
パターンの記録に関して設定されることを特徴とする重
ね書き可能な形式の記録担体上に信号を記録する方法。 - 【請求項２】 請求項１に記載の方法において、種々の
情報パターンがその都度記録強度の増加を伴って順次前
記記録層に記録され、その後各情報パターンが読み出さ
れるとともに各情報パターンの誤り率が決定され、これ
らの順次の誤り率から前記誤り率が許容可能な下限に位
置するような最小の記録強度が決定され、その後最適記
録強度が前記決定された最小記録強度に定数を掛けるこ
とにより設定されることを特徴とする重ね書き可能な形
式の記録担体上に信号を記録する方法。 - 【請求項３】 請求項１に記載の方法において、前記放
射ビームの発生源が強度設定範囲を持ち、この発生源は
上記設定範囲の中間に初期設定され、これに対応する記
録強度で情報パターンが記録され、その後この情報パタ
ーンが読み出されるとともに該情報パターンの誤り率が
決定され、前記記録強度が前記誤り率に依存する特定の
ステップで変更され、その後情報パターンの書込み及び
それに続く読み出しがなされ、このようにして記録され
且つ読み出された情報パターンの誤り率が求められ、前
記発生源の設定がこの求められた誤り率に基づいて前記
誤り率により決定されたステップで訂正され、以上の各
工程が前記誤り率の強度特性の角が求められるまで繰り
返され、その後前記記録強度に対する最適強度設定が前
記誤り率の強度特性の角により決定された最小記録強度
に定数を掛けることにより求められることを特徴とする
重ね書き可能な形式の記録担体上に信号を記録する方
法。 - 【請求項４】 請求項３に記載の方法において、選択さ
れるべき記録強度の変更に対する前記ステップのサイズ
が誤り率が決定される毎に減少されることを特徴とする
重ね書き可能な形式の記録担体上に信号を記録する方
法。 - 【請求項５】 請求項４に記載の装置において、前記減
少は２による除算であることを特徴とする重ね書き可能
な形式の記録担体上に信号を記録する方法。 - 【請求項６】 請求項１乃至３のいづれか１項に記載の
装置において、前記定数が１．１及び２．２の値の間に
位置されることを特徴とする重ね書き可能な形式の記録
担体上に信号を記録する方法。 - 【請求項７】 請求項４に記載の装置において、前記定
数が１．６の値の周辺に位置することを特徴とする重ね
書き可能な形式の記録担体上に信号を記録する方法。 - 【請求項８】 重ね書き可能な形式の記録担体上の略々
平行なトラックに信号パターンを記録する記録装置であ
って、当該装置は前記信号パターンに対応する光学的に
検出可能なマークの情報パターンを前記トラックに導入
するために放射ビームを用いて前記トラックを走査する
走査手段を有し、当該装置は供給されるべき設定信号の
補助により前記記録強度を設定する設定手段を有し、上
記設定信号は前記放射ビームを用いて記録されたテスト
情報パターンにおける望ましくない信号の検出に依存す
るような記録装置において、当該記録装置は更に前記放
射ビームを用いて記録された情報パターンを読み取る読
み取り手段と、誤り検出及び訂正アルゴリズムによりデ
ータパターンを符号化するとともに読み出された情報パ
ターンに属する信号パターンにおける誤り率を決定し且
つ誤り率の関数として設定信号を決定するプログラムさ
れたデータ処理手段とを有することを特徴とする記録装
置。 - 【請求項９】 請求項８に記載の記録装置において、前
記プログラムされたデータ処理手段は前記設定手段が前
記放射ビームの記録強度を該放射ビームの設定範囲の略
々中間に設定するような設定信号を最初に発生すること
を特徴とする記録装置。 - 【請求項１０】 請求項８又は９に記載の記録装置にお
いて、前記プログラムされたデータ処理手段が前記放射
ビームの記録強度の設定範囲が種々のステップで順次網
羅されるような設定信号を発生するようにプログラムさ
れていることを特徴とする記録装置。 - 【請求項１１】 請求項１０に記載の記録装置におい
て、前記最初のステップサイズが前記設定範囲の１／４
に略々等しいことを特徴とする記録装置。 - 【請求項１２】 請求項１０又は１１に記載の記録装置
において、情報パターンが設定された記録強度を用いて
前記トラックに記録されるような各サイクルの後、上記
記録された情報パターンが読み出されるとともに誤り率
が各読み出された情報パターンについて決定され且つ新
しい設定信号が前記誤り率に依存して発生され、前記記
録強度の設定に対するステップサイズが減少されること
を特徴とする記録装置。 - 【請求項１３】 請求項１２に記載の記録装置におい
て、前記減少が２による除算であることを特徴とする記
録装置。 - 【請求項１４】 請求項８乃至１３のいづれか１項に記
載の記録装置において、許容可能な誤り率を持つ最小記
録強度に属する誤り率特性の角が繰り返しにより求めら
れ、実効記録強度が前記求められた最小の記録強度に定
数を掛けることにより設定されることを特徴とする記録
装置。 - 【請求項１５】 請求項１４に記載の記録装置におい
て、前記定数が１．１及び２．２の間の値を持つことを
特徴とする記録装置。 - 【請求項１６】 請求項１５に記載の記録装置におい
て、前記定数が約１．６であることを特徴とする記録装
置。 - 【請求項１７】 請求項８乃至１６のいづれか１項に記
載の記録装置において、前記テスト情報パターンが種々
の情報ブロックを有し、上記ブロックの数は少なくとも
３であり、許容可能な誤り率が最大で１個の誤った訂正
不能な情報ブロックであることを特徴とする記録装置。
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|---|---|---|---|
| EP92203585 | 1992-11-20 | ||
| NL92203585.2 | 1992-11-20 |
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|---|---|
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|---|---|---|---|
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|---|---|
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| JP (1) | JP3565886B2 (ja) |
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| SG (1) | SG44881A1 (ja) |
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