JPH076670A - 電子引外し装置 - Google Patents
電子引外し装置Info
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- JPH076670A JPH076670A JP5348429A JP34842993A JPH076670A JP H076670 A JPH076670 A JP H076670A JP 5348429 A JP5348429 A JP 5348429A JP 34842993 A JP34842993 A JP 34842993A JP H076670 A JPH076670 A JP H076670A
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- test
- circuit
- diode
- trip device
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- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02H—EMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
- H02H3/00—Emergency protective circuit arrangements for automatic disconnection directly responsive to an undesired change from normal electric working condition with or without subsequent reconnection ; integrated protection
- H02H3/02—Details
- H02H3/04—Details with warning or supervision in addition to disconnection, e.g. for indicating that protective apparatus has functioned
- H02H3/044—Checking correct functioning of protective arrangements, e.g. by simulating a fault
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02H—EMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
- H02H3/00—Emergency protective circuit arrangements for automatic disconnection directly responsive to an undesired change from normal electric working condition with or without subsequent reconnection ; integrated protection
- H02H3/26—Emergency protective circuit arrangements for automatic disconnection directly responsive to an undesired change from normal electric working condition with or without subsequent reconnection ; integrated protection responsive to difference between voltages or between currents; responsive to phase angle between voltages or between currents
- H02H3/32—Emergency protective circuit arrangements for automatic disconnection directly responsive to an undesired change from normal electric working condition with or without subsequent reconnection ; integrated protection responsive to difference between voltages or between currents; responsive to phase angle between voltages or between currents involving comparison of the voltage or current values at corresponding points in different conductors of a single system, e.g. of currents in go and return conductors
- H02H3/33—Emergency protective circuit arrangements for automatic disconnection directly responsive to an undesired change from normal electric working condition with or without subsequent reconnection ; integrated protection responsive to difference between voltages or between currents; responsive to phase angle between voltages or between currents involving comparison of the voltage or current values at corresponding points in different conductors of a single system, e.g. of currents in go and return conductors using summation current transformers
- H02H3/334—Emergency protective circuit arrangements for automatic disconnection directly responsive to an undesired change from normal electric working condition with or without subsequent reconnection ; integrated protection responsive to difference between voltages or between currents; responsive to phase angle between voltages or between currents involving comparison of the voltage or current values at corresponding points in different conductors of a single system, e.g. of currents in go and return conductors using summation current transformers with means to produce an artificial unbalance for other protection or monitoring reasons or remote control
- H02H3/335—Emergency protective circuit arrangements for automatic disconnection directly responsive to an undesired change from normal electric working condition with or without subsequent reconnection ; integrated protection responsive to difference between voltages or between currents; responsive to phase angle between voltages or between currents involving comparison of the voltage or current values at corresponding points in different conductors of a single system, e.g. of currents in go and return conductors using summation current transformers with means to produce an artificial unbalance for other protection or monitoring reasons or remote control the main function being self testing of the device
Landscapes
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
- Driving Mechanisms And Operating Circuits Of Arc-Extinguishing High-Tension Switches (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 テスト装置を含む電子引外し装置を提供す
る。 【構成】 テスト電流が引外し装置の動作をチェックす
るように、テスト回路の端子（Ｐ１とＰ２）が直接に変
流器二次巻線の出力と修正回路の入力とに接続される。
符号検出回路（１０）が処理回路（９）に、修正された
電流の極性値を供給する。処理回路（９）は、テスト電
流を含む修正された電流の符号が連続的に同一極性にと
どまる時にテスト電流の存在を決定する手段を含む。テ
スト電流の正または負の連続極性の区別により、アース
保護引外しを伴いまたは伴わずにテストを実行すること
ができる。
る。 【構成】 テスト電流が引外し装置の動作をチェックす
るように、テスト回路の端子（Ｐ１とＰ２）が直接に変
流器二次巻線の出力と修正回路の入力とに接続される。
符号検出回路（１０）が処理回路（９）に、修正された
電流の極性値を供給する。処理回路（９）は、テスト電
流を含む修正された電流の符号が連続的に同一極性にと
どまる時にテスト電流の存在を決定する手段を含む。テ
スト電流の正または負の連続極性の区別により、アース
保護引外しを伴いまたは伴わずにテストを実行すること
ができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、しゃ断器によって保護
された電力システムの対応の導線の中を流れる電流を代
表する二次電流を供給する極あたり１つのセンサと、テ
スト電流入力手段と、前記二次電流とテスト電流が加え
られる検出及び修正回路であって、保護される導線中を
流れる電流とテスト電流とを代表する信号を供給する回
路と、前記検出及び修正回路によって供給された信号を
受け、前記保護される導線中を流れる電流、アース障害
電流又はテスト電流が事前設定しきい値を超えた時に、
時間遅れを伴って又は伴わずに引外し命令を発生する電
子処理ユニットとを含む電力システムを保護する多極し
ゃ断器の電子引外し装置に関するものである。
された電力システムの対応の導線の中を流れる電流を代
表する二次電流を供給する極あたり１つのセンサと、テ
スト電流入力手段と、前記二次電流とテスト電流が加え
られる検出及び修正回路であって、保護される導線中を
流れる電流とテスト電流とを代表する信号を供給する回
路と、前記検出及び修正回路によって供給された信号を
受け、前記保護される導線中を流れる電流、アース障害
電流又はテスト電流が事前設定しきい値を超えた時に、
時間遅れを伴って又は伴わずに引外し命令を発生する電
子処理ユニットとを含む電力システムを保護する多極し
ゃ断器の電子引外し装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に電子引外し装置用のテスト装置
は、テスト電流が加えられる端子を備えたテストソケッ
トを含む。このテスト電流が、変流器又はセンサの二次
巻線において生じうる障害電流をシミュレートする。引
外し装置全体をテストするために、テストソケット端子
の接続モードに従って、テスト電流がセンサ電流に追加
され又は結合される。熱遅延又は長遅延、磁気遅延又は
短遅延及びアース保護のためのアース障害と呼ばれる保
護機能を含む先行技術の引外し装置においては、識別装
置によってアース保護を別個にテストすることができ
る。テスト電流が第１端子における正極性、第２端子に
おける負極性の第１方向に加えられる時、引外し装置は
このアース保護用のテスト電流を考慮せず、長遅延又は
短遅延で引外す。電流方向が逆転されると、引外し装置
はテスト電流を使用してアース障害電流を代表する値を
決定し、引外しはアース保護によって実施される。アー
ス障害電流を代表する値を決定する手段及びテスト電流
を識別する手段が先行技術においては、欧州特許第２３
５，４７９号明細書に対応するフランス特許第２，５９
２，９９８号明細書に記載のように、検出及び修正回路
の中に組み込まれる。
は、テスト電流が加えられる端子を備えたテストソケッ
トを含む。このテスト電流が、変流器又はセンサの二次
巻線において生じうる障害電流をシミュレートする。引
外し装置全体をテストするために、テストソケット端子
の接続モードに従って、テスト電流がセンサ電流に追加
され又は結合される。熱遅延又は長遅延、磁気遅延又は
短遅延及びアース保護のためのアース障害と呼ばれる保
護機能を含む先行技術の引外し装置においては、識別装
置によってアース保護を別個にテストすることができ
る。テスト電流が第１端子における正極性、第２端子に
おける負極性の第１方向に加えられる時、引外し装置は
このアース保護用のテスト電流を考慮せず、長遅延又は
短遅延で引外す。電流方向が逆転されると、引外し装置
はテスト電流を使用してアース障害電流を代表する値を
決定し、引外しはアース保護によって実施される。アー
ス障害電流を代表する値を決定する手段及びテスト電流
を識別する手段が先行技術においては、欧州特許第２３
５，４７９号明細書に対応するフランス特許第２，５９
２，９９８号明細書に記載のように、検出及び修正回路
の中に組み込まれる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】高度に集積された電子
引外し装置において、アース障害電流を代表する値の決
定手段は、成分のコストと容積を節約するため処理ユニ
ットの中に含まれる。同様の理由から、もはや先行技術
型のテスト電流識別手段を検出及び修正回路の中に組み
込むことは望ましくない。
引外し装置において、アース障害電流を代表する値の決
定手段は、成分のコストと容積を節約するため処理ユニ
ットの中に含まれる。同様の理由から、もはや先行技術
型のテスト電流識別手段を検出及び修正回路の中に組み
込むことは望ましくない。
【０００４】本発明の目的は、テスト電流の存在を検出
する手段と、処理ユニットの中においてアース保護テス
トを区別する手段とを組み込んだ簡単化された検出及び
修正回路を備えるテスト装置を含む電子引外し装置を達
成するにある。
する手段と、処理ユニットの中においてアース保護テス
トを区別する手段とを組み込んだ簡単化された検出及び
修正回路を備えるテスト装置を含む電子引外し装置を達
成するにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、電子処
理ユニットは、保護される電力システムの周期より長い
周期を有する直流テスト電流の検出手段を含む。
理ユニットは、保護される電力システムの周期より長い
周期を有する直流テスト電流の検出手段を含む。
【０００６】本発明の１つの実施例によれば、テスト電
流と前記センサの１つ又はアース障害センサによって供
給される電流との和を代表する少なくとも１つの和信号
を前記検出及び修正回路の出力に供給するように、テス
ト電流を加える前記手段が前記検出及び修正回路に対し
て接続される。
流と前記センサの１つ又はアース障害センサによって供
給される電流との和を代表する少なくとも１つの和信号
を前記検出及び修正回路の出力に供給するように、テス
ト電流を加える前記手段が前記検出及び修正回路に対し
て接続される。
【０００７】本発明の他の実施例においては、処理ユニ
ットは前記和信号又はテスト電流の符号を決定する手段
を含む。
ットは前記和信号又はテスト電流の符号を決定する手段
を含む。
【０００８】本発明の好ましい実施例によれば、前記処
理ユニットは、前記符号が事前設定値を保持する時間を
決定する手段と、この時間を事前設定持続時間と比較す
る手段とを含む。
理ユニットは、前記符号が事前設定値を保持する時間を
決定する手段と、この時間を事前設定持続時間と比較す
る手段とを含む。
【０００９】本発明の他の実施例によれば、前記処理ユ
ニットはアース保護機能を実施する手段と、前記アース
保護機能を抑止する手段とを含む。
ニットはアース保護機能を実施する手段と、前記アース
保護機能を抑止する手段とを含む。
【００１０】本発明の他の実施例によれば、前記テスト
電流を加える手段は、第１電流センサの二次巻線の出力
と検出及び修正回路の第１入力とに接続された第１端子
と、第２電流センサの二次巻線の出力と検出及び修正回
路の第２入力とに接続された第２端子とを含む。
電流を加える手段は、第１電流センサの二次巻線の出力
と検出及び修正回路の第１入力とに接続された第１端子
と、第２電流センサの二次巻線の出力と検出及び修正回
路の第２入力とに接続された第２端子とを含む。
【００１１】本発明の他の実施例によれば、処理ユニッ
トは検出及び修正回路と引外し機能を実施する回路との
間に接続された修正手段を含み、前記修正手段は、テス
ト電流の存在を代表する信号を供給する前記テスト電流
検出手段の出力に接続されている。
トは検出及び修正回路と引外し機能を実施する回路との
間に接続された修正手段を含み、前記修正手段は、テス
ト電流の存在を代表する信号を供給する前記テスト電流
検出手段の出力に接続されている。
【００１２】
【実施例】以下、本発明を図面に示す実施例について詳
細に説明するが本発明はこれに限定されるものではな
い。図１は先行技術のしゃ断器を示す。保護される電力
システム１は、システムの３相と中性点に対応する導線
とからなる。接点２はこれらの位相導線の中に電流を流
し又は遮断することができる。多くのシステムの場合と
同様に中性導線は遮断されることなく配線されている。
電流システムの各導線に接続された変流器Ｔ１、Ｔ２、
Ｔ３及びＴＮは高圧の一次電流を電子引外し装置に対応
する二次電流に変換する。補助端子Ｐ１とＰ２を有する
テスト回路がテスト電流をテスト電流発生器ＧＴから受
けて引外し装置の動作を阻止する。二次電流とテスト電
流が位相電流、中立電流及びアース障害電流を修正検出
する回路３の入力に加えられる。この回路３は、これら
の電流を代表する信号を電子処理ユニット４に供給す
る。この処理ユニット４の発生する引外し命令２０が制
御リレー５の入力に加えられ、この制御リレーはしゃ断
器接点２の開放メカニズム６を作動させる。
細に説明するが本発明はこれに限定されるものではな
い。図１は先行技術のしゃ断器を示す。保護される電力
システム１は、システムの３相と中性点に対応する導線
とからなる。接点２はこれらの位相導線の中に電流を流
し又は遮断することができる。多くのシステムの場合と
同様に中性導線は遮断されることなく配線されている。
電流システムの各導線に接続された変流器Ｔ１、Ｔ２、
Ｔ３及びＴＮは高圧の一次電流を電子引外し装置に対応
する二次電流に変換する。補助端子Ｐ１とＰ２を有する
テスト回路がテスト電流をテスト電流発生器ＧＴから受
けて引外し装置の動作を阻止する。二次電流とテスト電
流が位相電流、中立電流及びアース障害電流を修正検出
する回路３の入力に加えられる。この回路３は、これら
の電流を代表する信号を電子処理ユニット４に供給す
る。この処理ユニット４の発生する引外し命令２０が制
御リレー５の入力に加えられ、この制御リレーはしゃ断
器接点２の開放メカニズム６を作動させる。
【００１３】図示の電子引外し装置において、アース障
害電流の値は処理ユニット４の中で決定され、修正及び
検出回路３はアース保護テストと長遅延又は短遅延テス
トを、発生器から供給されるテスト電流の方向によって
識別する成分を含まない。
害電流の値は処理ユニット４の中で決定され、修正及び
検出回路３はアース保護テストと長遅延又は短遅延テス
トを、発生器から供給されるテスト電流の方向によって
識別する成分を含まない。
【００１４】本発明の実施例による引外し装置のブロッ
クダイヤグラムを図２に示す。変流器の各二次巻線はそ
れぞれ４ダイオードグループによって代表される修正ブ
リッジに接続されている。各変流器Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３、
ＴＮの第２巻線の第１端子Ｐａ，Ｐｂ，Ｐｃ，Ｐｄが対
応の第１ダイオード１１ａ，ｂ，ｃ，ｄのアノードと、
対応の第２ダイオード１３ａ，ｂ，ｃ，ｄのカソードと
に接続され、これに対して各変流器Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３、
ＴＮの第２巻線の第２端子は第３ダイオード１２ａ，
ｂ，ｃ，ｄのアノードと、対応の第４ダイオード１４
ａ，ｂ，ｃ，ｄのカソードとに接続されている。第１及
び第３ダイオード（１１ａ，ｂ，ｃ，ｄ；１２ａ，ｂ，
ｃ，ｄ）のカソードは正電流供給線Ｖｐに接続されてい
る。第２巻線に組合わされた第２及び第４ダイオード
（１３ａ，１４ａ；１３ｂ，１４ｂ；１３ｃ，１４ｃ；
１３ｄ，１４ｄ）は対応の測定抵抗（Ｒ１，Ｒ２，Ｒ
３，ＲＮ）の第１端子に接続され、これらの抵抗の他方
の端子は引外し装置の基準アースに接続される。正電流
供給線ＶｐはコンデンサＣＡを充電し、また給電回路７
の入力に供給する。この回路は引外し装置の給電用の制
御電圧を供給する。各抵抗Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，ＲＮの第
１端子は導線Ａによって振幅処理回路８の入力に接続さ
れる。この回路８の出力は、保護される電力システムの
電流の絶対値を代表する修正信号｜Ｉ｜をディジタル処
理回路９に供給する。
クダイヤグラムを図２に示す。変流器の各二次巻線はそ
れぞれ４ダイオードグループによって代表される修正ブ
リッジに接続されている。各変流器Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３、
ＴＮの第２巻線の第１端子Ｐａ，Ｐｂ，Ｐｃ，Ｐｄが対
応の第１ダイオード１１ａ，ｂ，ｃ，ｄのアノードと、
対応の第２ダイオード１３ａ，ｂ，ｃ，ｄのカソードと
に接続され、これに対して各変流器Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３、
ＴＮの第２巻線の第２端子は第３ダイオード１２ａ，
ｂ，ｃ，ｄのアノードと、対応の第４ダイオード１４
ａ，ｂ，ｃ，ｄのカソードとに接続されている。第１及
び第３ダイオード（１１ａ，ｂ，ｃ，ｄ；１２ａ，ｂ，
ｃ，ｄ）のカソードは正電流供給線Ｖｐに接続されてい
る。第２巻線に組合わされた第２及び第４ダイオード
（１３ａ，１４ａ；１３ｂ，１４ｂ；１３ｃ，１４ｃ；
１３ｄ，１４ｄ）は対応の測定抵抗（Ｒ１，Ｒ２，Ｒ
３，ＲＮ）の第１端子に接続され、これらの抵抗の他方
の端子は引外し装置の基準アースに接続される。正電流
供給線ＶｐはコンデンサＣＡを充電し、また給電回路７
の入力に供給する。この回路は引外し装置の給電用の制
御電圧を供給する。各抵抗Ｒ１，Ｒ２，Ｒ３，ＲＮの第
１端子は導線Ａによって振幅処理回路８の入力に接続さ
れる。この回路８の出力は、保護される電力システムの
電流の絶対値を代表する修正信号｜Ｉ｜をディジタル処
理回路９に供給する。
【００１５】各変流器Ｔ１，Ｔ２，Ｔ３，ＴＮの第１端
子はそれぞれ導線Ｐａ，Ｐｂ，Ｐｃ，Ｐｄによって電流
符号検出回路１０の入力に接続されている。この回路１
０は、各入力に対してその出力Ｓに、電流符号が正の場
合に第１値、電流符号が負の場合に第２値を供給する。
回路１０の出力Ｓがディジタル処理回路９に接続され
る。
子はそれぞれ導線Ｐａ，Ｐｂ，Ｐｃ，Ｐｄによって電流
符号検出回路１０の入力に接続されている。この回路１
０は、各入力に対してその出力Ｓに、電流符号が正の場
合に第１値、電流符号が負の場合に第２値を供給する。
回路１０の出力Ｓがディジタル処理回路９に接続され
る。
【００１６】この実施例において、テスト回路は２つの
補助端子Ｐ１，Ｐ２を含む。第１補助端子Ｐ１は変流器
Ｔ１の第１端子に接続され、この第１端子はダイオード
１３ａのカソード、ダイオード１１ａのアノード及び符
号検出回路１０の入力Ｐａに接続される。同様に、第２
補助端子Ｐ２は変流器ＴＮの第１端子、ダイオード１３
ｄのカソード、ダイオード１１ｄのアノード及び符号検
出回路の他の入力Ｐｄに接続される。この型の接続にお
いて、端子Ｐ２と端子Ｐ１との間に発生したテスト電流
が変流器Ｔ１の二次電流に追加され、変流器ＴＮの電流
から差し引かれる。
補助端子Ｐ１，Ｐ２を含む。第１補助端子Ｐ１は変流器
Ｔ１の第１端子に接続され、この第１端子はダイオード
１３ａのカソード、ダイオード１１ａのアノード及び符
号検出回路１０の入力Ｐａに接続される。同様に、第２
補助端子Ｐ２は変流器ＴＮの第１端子、ダイオード１３
ｄのカソード、ダイオード１１ｄのアノード及び符号検
出回路の他の入力Ｐｄに接続される。この型の接続にお
いて、端子Ｐ２と端子Ｐ１との間に発生したテスト電流
が変流器Ｔ１の二次電流に追加され、変流器ＴＮの電流
から差し引かれる。
【００１７】正極性の電流ＩＴ１が変流器Ｔ１の二次巻
線の中に流入する時、この電流はダイオード１１ａを通
して流れてコンデンサＣＡを充電し、また回路７を通し
て引外し装置に給電する。この電流はアースと測定抵抗
Ｒ１とを通り、次にダイオード１４ａを通して変流器Ｔ
１の二次巻線の第２端子に戻る。この正電流の存在によ
り、導線Ｐａの電圧を０Ｖより高い値まで増大する。符
号検出回路がこの電圧を検出し、ＩＴ１の正極性を代表
する第１値をその出力に供給する。導線Ａａとアースと
の間において抵抗Ｒ１の端子で測定された電圧は負電圧
である。電流ＩＴ１が負極性であれば、変流器Ｔ１の二
次巻線の第２端子は正電圧を有する。電流はダイオード
１２ａを通ってコンデンサＣＡを充電しまた引外し装置
に給電し、戻り電流は測定抵抗Ｒ１とダイオード１３ａ
とを通る。Ａａとアースの間の測定抵抗Ｒ１の電圧は同
じく負であるが、Ｐａにおける電圧は負となり、符号検
出回路はその出力に、ＩＴ１の負極性を代表する第２値
を供給する。変流器の他の第２巻線（ＴＮ，Ｔ２，Ｔ
３）の中を流れて対応の修正ダイオードによって方向づ
けられる電流は符号検出回路１０及び振幅処理回路８の
入力に対して同様の効果を生じる。
線の中に流入する時、この電流はダイオード１１ａを通
して流れてコンデンサＣＡを充電し、また回路７を通し
て引外し装置に給電する。この電流はアースと測定抵抗
Ｒ１とを通り、次にダイオード１４ａを通して変流器Ｔ
１の二次巻線の第２端子に戻る。この正電流の存在によ
り、導線Ｐａの電圧を０Ｖより高い値まで増大する。符
号検出回路がこの電圧を検出し、ＩＴ１の正極性を代表
する第１値をその出力に供給する。導線Ａａとアースと
の間において抵抗Ｒ１の端子で測定された電圧は負電圧
である。電流ＩＴ１が負極性であれば、変流器Ｔ１の二
次巻線の第２端子は正電圧を有する。電流はダイオード
１２ａを通ってコンデンサＣＡを充電しまた引外し装置
に給電し、戻り電流は測定抵抗Ｒ１とダイオード１３ａ
とを通る。Ａａとアースの間の測定抵抗Ｒ１の電圧は同
じく負であるが、Ｐａにおける電圧は負となり、符号検
出回路はその出力に、ＩＴ１の負極性を代表する第２値
を供給する。変流器の他の第２巻線（ＴＮ，Ｔ２，Ｔ
３）の中を流れて対応の修正ダイオードによって方向づ
けられる電流は符号検出回路１０及び振幅処理回路８の
入力に対して同様の効果を生じる。
【００１８】電流ＩＴ１に対応する変流器Ｔ１、ダイオ
ード１１ａ、１２ａ，１３ａ，１４ａ、抵抗Ｒ１、接続
導線Ｐａ，Ａａ及び回路８、９、１０からなる組立体は
第１位相の電流を測定するチャンネルをなす。
ード１１ａ、１２ａ，１３ａ，１４ａ、抵抗Ｒ１、接続
導線Ｐａ，Ａａ及び回路８、９、１０からなる組立体は
第１位相の電流を測定するチャンネルをなす。
【００１９】図３はテストを実施する際の電流と符号を
示すグラフである。電流ＩＴ１は変流器Ｔ１の二次巻線
の電流とテスト電流との和である。ＩＴＮは、テスト電
流が差し引かれる変流器ＴＮの二次巻線の電流を代表す
る。記号ＳＩ１とＳＩＮはそれぞれＩＴ１とＩＴＮの符
号を示す。これらの記号は、電流が正の場合には正値Ｖ
Ｐをとり、電流が負又はゼロの場合には負値ＶＮをと
る。図３(a) に示すテスト電流は時間ｔ０とｔ１との間
においてゼロであり、時間ｔ１とｔ２の間においてテス
ト信号発生器ＧＴの中でＰ２からＰ１方向に流れる際に
正であり、時間ｔ２とｔ３の間において発生器のＰ１か
らＰ２方向に流れる際に負である。交流ＩＴ１とＩＴＮ
がそれぞれ図３(b) と図３(d) に図示されている。これ
らの交流はｔ０とｔ１との間において、半波で変換する
符号信号ＳＩ１とＳＩＮとを供給する（図３(c) 及び図
３(e) ）。二次巻線電流の振幅より大きな振幅の正テス
ト電流Ｉｔｅｓｔが時間ｔ１とｔ２との間に加えられる
時、ＩＴ１は連続的に正極性にあり、ＩＴＮは連続的に
負極性にあり、符号信号ＳＩ１とＳＩＮはそれぞれ固定
値ＶＰとＶＮとを保持する。テスト電流が時間ｔ２とｔ
３の間において逆転されると、ＩＴ１が負極性となりＳ
Ｉ１がＶＮになり、ＩＴＮが正極性となりＳＩＮがＶＰ
となる。
示すグラフである。電流ＩＴ１は変流器Ｔ１の二次巻線
の電流とテスト電流との和である。ＩＴＮは、テスト電
流が差し引かれる変流器ＴＮの二次巻線の電流を代表す
る。記号ＳＩ１とＳＩＮはそれぞれＩＴ１とＩＴＮの符
号を示す。これらの記号は、電流が正の場合には正値Ｖ
Ｐをとり、電流が負又はゼロの場合には負値ＶＮをと
る。図３(a) に示すテスト電流は時間ｔ０とｔ１との間
においてゼロであり、時間ｔ１とｔ２の間においてテス
ト信号発生器ＧＴの中でＰ２からＰ１方向に流れる際に
正であり、時間ｔ２とｔ３の間において発生器のＰ１か
らＰ２方向に流れる際に負である。交流ＩＴ１とＩＴＮ
がそれぞれ図３(b) と図３(d) に図示されている。これ
らの交流はｔ０とｔ１との間において、半波で変換する
符号信号ＳＩ１とＳＩＮとを供給する（図３(c) 及び図
３(e) ）。二次巻線電流の振幅より大きな振幅の正テス
ト電流Ｉｔｅｓｔが時間ｔ１とｔ２との間に加えられる
時、ＩＴ１は連続的に正極性にあり、ＩＴＮは連続的に
負極性にあり、符号信号ＳＩ１とＳＩＮはそれぞれ固定
値ＶＰとＶＮとを保持する。テスト電流が時間ｔ２とｔ
３の間において逆転されると、ＩＴ１が負極性となりＳ
Ｉ１がＶＮになり、ＩＴＮが正極性となりＳＩＮがＶＰ
となる。
【００２０】同一型のテストを作動されていないしゃ断
器について実施することができる。図４において、変流
器Ｔ１，２，３，Ｎの二次巻線の電流はゼロであり、Ｉ
Ｔ１（図４(b) ）はテスト電流に等しく、ＩＴＮは逆テ
スト電流に対応する。符号信号ＳＩ１（図４(c) ）とＳ
ＩＮ（図４(e) ）は、それぞれＩＴ１すなわちＩｔｅｓ
ｔの極性と、ＩＴＮすなわち逆Ｉｔｅｓｔの極性を示
す。
器について実施することができる。図４において、変流
器Ｔ１，２，３，Ｎの二次巻線の電流はゼロであり、Ｉ
Ｔ１（図４(b) ）はテスト電流に等しく、ＩＴＮは逆テ
スト電流に対応する。符号信号ＳＩ１（図４(c) ）とＳ
ＩＮ（図４(e) ）は、それぞれＩＴ１すなわちＩｔｅｓ
ｔの極性と、ＩＴＮすなわち逆Ｉｔｅｓｔの極性を示
す。
【００２１】この実施例によれば、テスト電流の存在の
検出は、測定されるテスト電流を受ける測定チャンネル
の１つに対応する処理回路９の入力の１つの符号を永久
化する手段によって達成することができる。この永久符
号信号の値により、符号信号の第１値に対してアース保
護テストを可能とし、相異なる符号に対応する第２値に
対してアース保護テストを不能とすることによって、こ
のテストを区別することができる。２つの符号信号ＳＩ
ＮとＳＩ１とを使用することができるが、実際に本発明
を実施するためにはその一方のみを使用することができ
る。下記の説明においてテスト検出のために、符号ＳＩ
Ｎのみを使用する。
検出は、測定されるテスト電流を受ける測定チャンネル
の１つに対応する処理回路９の入力の１つの符号を永久
化する手段によって達成することができる。この永久符
号信号の値により、符号信号の第１値に対してアース保
護テストを可能とし、相異なる符号に対応する第２値に
対してアース保護テストを不能とすることによって、こ
のテストを区別することができる。２つの符号信号ＳＩ
ＮとＳＩ１とを使用することができるが、実際に本発明
を実施するためにはその一方のみを使用することができ
る。下記の説明においてテスト検出のために、符号ＳＩ
Ｎのみを使用する。
【００２２】処理回路９の実施例のアーキテクチャを図
５に図示する。サンプリング回路１１と１２がそれぞれ
修正電流｜Ｉ｜の代表する信号と前記電流の符号Ｓを代
表する信号とをサンプリングする。電流値Ｉｅと信号Ｓ
ｅのサンプルがアース障害電流ＩＴの値を決定する回路
１３の入力に加えられる。この実施例において、回路１
３は、保護される導線の中を流れる電流値のベクトル和
を求めることによって電流ＩＴの値を計算する。対応の
符号Ｓｅが正値を有するサンプル｜Ｉｅ｜の値を加え、
対応の符号Ｓｅが負値を有するサンプル｜Ｉｅ｜の値を
差し引く。それぞれ実行値ＩＲＭＳ及びＩＴＲＭＳを計
算するため、回路１５の入力に対して、電流値サンプル
｜Ｉｅ｜とアース保護電流値ＩＴとを加えることができ
る。変流器電流を代表する電流ＩＲＭＳの実効値を修正
回路１６によって修正し、次にそれぞれ長遅延ＬＲ及び
短遅延ＣＲ引外し機能を実施する回路１８、１９に加え
る。アース保護回路の値ＩＴ又はＩＴＲＭＳがアース保
護機能ＰＴを実施する回路１７に加えられる。事前設定
電流及び時間遅れしきい値が超過された時に、先行技術
のようにアース保護機能ＬＲ，ＣＲ，ＰＴを実施する回
路が引外し信号２０を供給する。
５に図示する。サンプリング回路１１と１２がそれぞれ
修正電流｜Ｉ｜の代表する信号と前記電流の符号Ｓを代
表する信号とをサンプリングする。電流値Ｉｅと信号Ｓ
ｅのサンプルがアース障害電流ＩＴの値を決定する回路
１３の入力に加えられる。この実施例において、回路１
３は、保護される導線の中を流れる電流値のベクトル和
を求めることによって電流ＩＴの値を計算する。対応の
符号Ｓｅが正値を有するサンプル｜Ｉｅ｜の値を加え、
対応の符号Ｓｅが負値を有するサンプル｜Ｉｅ｜の値を
差し引く。それぞれ実行値ＩＲＭＳ及びＩＴＲＭＳを計
算するため、回路１５の入力に対して、電流値サンプル
｜Ｉｅ｜とアース保護電流値ＩＴとを加えることができ
る。変流器電流を代表する電流ＩＲＭＳの実効値を修正
回路１６によって修正し、次にそれぞれ長遅延ＬＲ及び
短遅延ＣＲ引外し機能を実施する回路１８、１９に加え
る。アース保護回路の値ＩＴ又はＩＴＲＭＳがアース保
護機能ＰＴを実施する回路１７に加えられる。事前設定
電流及び時間遅れしきい値が超過された時に、先行技術
のようにアース保護機能ＬＲ，ＣＲ，ＰＴを実施する回
路が引外し信号２０を供給する。
【００２３】この実施例において、符号信号Ｓｅ又はＳ
はテスト電流の存在の確認のために回路１４に加えられ
る。回路１４は、符号信号、例えばＳＩＮが検出される
電力システムの周期より大きな事前設定時間ｔｍｉｎよ
り長い時間ｔ（ＳＩＮ）の間、一定値を有するならば、
テスト電流の存在を検出する。回路１４がテスト信号の
存在を検出した時、この回路はテスト電流の符号を決定
して、そのテストがアース保護機能を含むか又はその他
の引外し機能を含むかを決定する。ＳＩＮの符号がｔｍ
ｉｎより長い時間、値Ｖｐを有することを電流の存在情
報が示すならば、テストされているのはその他の引外し
機能である。この場合、回路１４は、アース保護機能Ｐ
Ｔを実施する回路１７に対して抑止信号２２を送る。こ
のようにして、回路１７、１８、１９に加えられる電流
信号は回路１７以外の引外し回路によってのみ考慮され
る。
はテスト電流の存在の確認のために回路１４に加えられ
る。回路１４は、符号信号、例えばＳＩＮが検出される
電力システムの周期より大きな事前設定時間ｔｍｉｎよ
り長い時間ｔ（ＳＩＮ）の間、一定値を有するならば、
テスト電流の存在を検出する。回路１４がテスト信号の
存在を検出した時、この回路はテスト電流の符号を決定
して、そのテストがアース保護機能を含むか又はその他
の引外し機能を含むかを決定する。ＳＩＮの符号がｔｍ
ｉｎより長い時間、値Ｖｐを有することを電流の存在情
報が示すならば、テストされているのはその他の引外し
機能である。この場合、回路１４は、アース保護機能Ｐ
Ｔを実施する回路１７に対して抑止信号２２を送る。こ
のようにして、回路１７、１８、１９に加えられる電流
信号は回路１７以外の引外し回路によってのみ考慮され
る。
【００２４】アース保護機能テストの場合には、アース
保護機能のしきい値と時間遅れが一般に他の機能のもの
より低いので、他の機能を抑止する必要はない。テスト
電流の存在が回路１４によって検出された時、回路１４
によって修正回路１６に信号２３が供給され、引外しし
きい値と時間修正パラメータを変更させる。
保護機能のしきい値と時間遅れが一般に他の機能のもの
より低いので、他の機能を抑止する必要はない。テスト
電流の存在が回路１４によって検出された時、回路１４
によって修正回路１６に信号２３が供給され、引外しし
きい値と時間修正パラメータを変更させる。
【００２５】処理回路９は、図５に図示の回路の機能を
実施するようにプログラミングされたマイクロプロセッ
サを含むことができる。流れ図の一例を図６に示す。ス
テップ２４において、引外し機能の処理のために、電流
の測定及び符号読取りが実施される。符号の不変性の検
出及びテストの型の識別がモジュール２５の中で実施さ
れる。比較ステップ２６は、符号ＳＩＮが値ＶＰに等し
いか否かを検出する。この同等性が真実であれば、ステ
ップ２６ａにおいてカウンターＣｐｔが（Ｃｐｔ＝Ｃｐ
ｔ＋１）だけ増分されるが、否であればこのカウンター
がステップ２６ｂにおいてゼロリセットされる。ＬＲ，
ＣＲ，ＰＴ機能の処理がステップ２７において実施さ
れ、またアース保護引外し機能の抑止阻止がモジュール
２８によって実施される。このモジュールは、引外し要
求検出ステップ２９と、引外し要求識別ステップ３０
と、抑止阻止ステップ３１と、引外し命令を発生するス
テップ３２とを含む。ステップ２９において引外し要求
が検出されれば、ステップ３０がこの要求を識別する。
この要求がアース故障引外しに対応していなければ、直
接にステップ３２によって引外し命令が出される。アー
ス保護引外し要求の場合には、ステップ３１がカウンタ
ーＣｐｔの値を事前設定しきい値Ｓｃｐｔと比較するこ
とによって抑止を阻止する。Ｓｃｐｔより大きなＣｐｔ
の値は、値Ｖｐにおける符号信号ＳＩＮの値の不変性
と、引外しステップ３２を避けるアース保護の抑止を伴
うテスト電流の存在とに対応する。Ｓｃｐｔより低いＣ
ｐｔの値は、テスト電流を伴わず又はアース保護機能テ
スト電流を伴う操作を表わす。
実施するようにプログラミングされたマイクロプロセッ
サを含むことができる。流れ図の一例を図６に示す。ス
テップ２４において、引外し機能の処理のために、電流
の測定及び符号読取りが実施される。符号の不変性の検
出及びテストの型の識別がモジュール２５の中で実施さ
れる。比較ステップ２６は、符号ＳＩＮが値ＶＰに等し
いか否かを検出する。この同等性が真実であれば、ステ
ップ２６ａにおいてカウンターＣｐｔが（Ｃｐｔ＝Ｃｐ
ｔ＋１）だけ増分されるが、否であればこのカウンター
がステップ２６ｂにおいてゼロリセットされる。ＬＲ，
ＣＲ，ＰＴ機能の処理がステップ２７において実施さ
れ、またアース保護引外し機能の抑止阻止がモジュール
２８によって実施される。このモジュールは、引外し要
求検出ステップ２９と、引外し要求識別ステップ３０
と、抑止阻止ステップ３１と、引外し命令を発生するス
テップ３２とを含む。ステップ２９において引外し要求
が検出されれば、ステップ３０がこの要求を識別する。
この要求がアース故障引外しに対応していなければ、直
接にステップ３２によって引外し命令が出される。アー
ス保護引外し要求の場合には、ステップ３１がカウンタ
ーＣｐｔの値を事前設定しきい値Ｓｃｐｔと比較するこ
とによって抑止を阻止する。Ｓｃｐｔより大きなＣｐｔ
の値は、値Ｖｐにおける符号信号ＳＩＮの値の不変性
と、引外しステップ３２を避けるアース保護の抑止を伴
うテスト電流の存在とに対応する。Ｓｃｐｔより低いＣ
ｐｔの値は、テスト電流を伴わず又はアース保護機能テ
スト電流を伴う操作を表わす。
【００２６】図７と図８は時間関数として種々の信号を
示す。時間ｔ１０において（図７(a) ）、正電流Ｉｔｅ
ｓｔがテスト端子に加えられる。この電流の絶対値｜Ｉ
｜（図７(b) ）は事前設定長遅延又は短遅延引外ししき
い値３３及び事前設定アース保護機能引外ししきい値３
４よりも大である。中立チャンネル符号ＳＩＮの値は値
ＶＰにおいて阻止され（図７(c) ）、カウンターの値Ｃ
ｐｔ（図７(d) ）が増大しはじめる。時間ｔ１１におい
て、カウンターしきい値Ｓｃｐｔが超過され、抑止信号
３５が値３６をとる（図７(e) ）。テスト電流が時間ｔ
１０において加えられた時、保護機能がそれぞれの時間
遅延を開始した。アース障害保護時間遅れ又は温度上昇
を代表する信号ＴＰＴ（図７(f) ）が時間ｔ１１に続く
時間ｔ１２において引外し要求しきい値３７を超える。
しかし抑止信号３５の値３６がアース保護引外し要求の
効果を不能にするので、引外しは生じない。長遅延機能
時間遅れ又は温度上昇を代表する信号ＴＬＲ（図７(g)
）が時間ｔ１３に引外し要求しきい値３８に達する。
引外し信号２０（図７(h) ）が引外し確認値３９をと
り、しゃ断器の開放を命令する。
示す。時間ｔ１０において（図７(a) ）、正電流Ｉｔｅ
ｓｔがテスト端子に加えられる。この電流の絶対値｜Ｉ
｜（図７(b) ）は事前設定長遅延又は短遅延引外ししき
い値３３及び事前設定アース保護機能引外ししきい値３
４よりも大である。中立チャンネル符号ＳＩＮの値は値
ＶＰにおいて阻止され（図７(c) ）、カウンターの値Ｃ
ｐｔ（図７(d) ）が増大しはじめる。時間ｔ１１におい
て、カウンターしきい値Ｓｃｐｔが超過され、抑止信号
３５が値３６をとる（図７(e) ）。テスト電流が時間ｔ
１０において加えられた時、保護機能がそれぞれの時間
遅延を開始した。アース障害保護時間遅れ又は温度上昇
を代表する信号ＴＰＴ（図７(f) ）が時間ｔ１１に続く
時間ｔ１２において引外し要求しきい値３７を超える。
しかし抑止信号３５の値３６がアース保護引外し要求の
効果を不能にするので、引外しは生じない。長遅延機能
時間遅れ又は温度上昇を代表する信号ＴＬＲ（図７(g)
）が時間ｔ１３に引外し要求しきい値３８に達する。
引外し信号２０（図７(h) ）が引外し確認値３９をと
り、しゃ断器の開放を命令する。
【００２７】負のテスト電流が時間ｔ２０に加えられる
と（図８(a) ）、この電流の絶対値｜Ｉ｜が、長遅延及
び短遅延の引外ししきい値３３及びアース保護のしきい
値３４より大となる（図８(b) ）。符号ＳＩＮの値は値
ＶＮにおいて阻止され（図８(c) ）、またカウンター値
はしきい値Ｓｃｐｔより低い値にとどまる（図８
(d)）。抑止信号３５は起動されない（図８(e) ）。次
にアース保護時間遅れ信号ＴＰＴ（図８(f) ）が増大
し、時間ｔ２１において引外し要求しきい値３７を超え
る。抑止信号３５が活動状態にないので、引外しが可能
であって、信号２０は値３９をとり、しゃ断器の開放を
命令する（図８(h) ）。長遅延機能時間遅れ信号ＴＬＲ
（図８(g) ）がアース保護機能引外し時間ｔ２１より後
の時間ｔ２２において引外し要求しきい値３８に達す
る。
と（図８(a) ）、この電流の絶対値｜Ｉ｜が、長遅延及
び短遅延の引外ししきい値３３及びアース保護のしきい
値３４より大となる（図８(b) ）。符号ＳＩＮの値は値
ＶＮにおいて阻止され（図８(c) ）、またカウンター値
はしきい値Ｓｃｐｔより低い値にとどまる（図８
(d)）。抑止信号３５は起動されない（図８(e) ）。次
にアース保護時間遅れ信号ＴＰＴ（図８(f) ）が増大
し、時間ｔ２１において引外し要求しきい値３７を超え
る。抑止信号３５が活動状態にないので、引外しが可能
であって、信号２０は値３９をとり、しゃ断器の開放を
命令する（図８(h) ）。長遅延機能時間遅れ信号ＴＬＲ
（図８(g) ）がアース保護機能引外し時間ｔ２１より後
の時間ｔ２２において引外し要求しきい値３８に達す
る。
【００２８】図６の実施例において、テスト電流の存在
の検出はカウンターＣｐｔによって実施され、このカウ
ンターが増分され又はゼロリセットされる。ある種の擾
乱に対する感度を低減させるため、カウンター値のゆっ
くりした増大と急速減少によって変動を実施することが
できる。
の検出はカウンターＣｐｔによって実施され、このカウ
ンターが増分され又はゼロリセットされる。ある種の擾
乱に対する感度を低減させるため、カウンター値のゆっ
くりした増大と急速減少によって変動を実施することが
できる。
【００２９】図示の実施例において、符号の不変性と値
の検出は中立電流測定チャンネルにおいて実施されてい
るが、その他の任意チャンネルを使用することができ
る。テスト端子Ｐ１とＰ２は２つのセンサＴ１とＴＮの
それぞれの第１端子に接続されているが、テスト端子は
他のセンサの他の端子に接続することができる。他の実
施例においては、テスト端子Ｐ１とＰ２は直接に修正回
路の追加成分に接続されまたテストチャンネルに特有の
修正装置を含むことができる。この場合テスト電流は直
接に回路８と回路１０に加えられる。本発明は、他の型
のしゃ断器、特にしゃ断器ケースの外部に中立又はアー
ス保護用の変流器又はセンサを含むしゃ断器に適用する
ことができる。外部センサが中立伝送路上にあれば、二
次巻線は内部検出及び修正回路３に接続され、操作は前
記と同様である。外部アース障害電流センサの二次巻線
が検出及び修正回路に接続されている場合にも本発明は
同様に適用される。この場合、テスト電流はアース障害
変流器の電流に加えられて、テスト電流の存在を検出し
テスト電流の方向によってテストがアース保護機能用で
あるか否かを区別する手段が使用される。アース障害電
流値は検出及び修正回路を介して直接にアースチャンネ
ル上に読取られ、位相電流の絶対値とその符号によって
決定されない。しかし、前記の実施例の場合と同様に、
符号信号はテスト電流検出の目的に役立つ。
の検出は中立電流測定チャンネルにおいて実施されてい
るが、その他の任意チャンネルを使用することができ
る。テスト端子Ｐ１とＰ２は２つのセンサＴ１とＴＮの
それぞれの第１端子に接続されているが、テスト端子は
他のセンサの他の端子に接続することができる。他の実
施例においては、テスト端子Ｐ１とＰ２は直接に修正回
路の追加成分に接続されまたテストチャンネルに特有の
修正装置を含むことができる。この場合テスト電流は直
接に回路８と回路１０に加えられる。本発明は、他の型
のしゃ断器、特にしゃ断器ケースの外部に中立又はアー
ス保護用の変流器又はセンサを含むしゃ断器に適用する
ことができる。外部センサが中立伝送路上にあれば、二
次巻線は内部検出及び修正回路３に接続され、操作は前
記と同様である。外部アース障害電流センサの二次巻線
が検出及び修正回路に接続されている場合にも本発明は
同様に適用される。この場合、テスト電流はアース障害
変流器の電流に加えられて、テスト電流の存在を検出し
テスト電流の方向によってテストがアース保護機能用で
あるか否かを区別する手段が使用される。アース障害電
流値は検出及び修正回路を介して直接にアースチャンネ
ル上に読取られ、位相電流の絶対値とその符号によって
決定されない。しかし、前記の実施例の場合と同様に、
符号信号はテスト電流検出の目的に役立つ。
【図１】本発明の引外し装置を組み込むことができるし
ゃ断器の簡単化されたブロック図。
ゃ断器の簡単化されたブロック図。
【図２】本発明の第１実施例による引外し装置の回路
図。
図。
【図３】本発明の引外し装置を作動中及び作動外におい
てテストする際の電流信号を示す波形図。
てテストする際の電流信号を示す波形図。
【図４】本発明の引外し装置を作動中及び作動外におい
てテストする際の電流信号を示す波形図。
てテストする際の電流信号を示す波形図。
【図５】図２に図示の引外し装置の処理回路の構造を示
すブロック図。
すブロック図。
【図６】本発明の実施例における処理の流れ図。
【図７】区別された長遅延テスト及びアース保護テスト
における信号値を示す波形図。
における信号値を示す波形図。
【図８】区別された長遅延テスト及びアース保護テスト
における信号値を示す波形図。
における信号値を示す波形図。
Ｔ１、Ｔ２、Ｔ３、ＴＮ 変流器（電流センサ） ＧＴ テスト電流発生器 １１ａ〜１１ｄ、１２ａ〜１２ｄ ダイオード １３ａ〜１３ｄ、１４ａ〜１４ｄ ダイオード Ｒ１〜ＲＮ 測定抵抗 ４ 処理ユニット ５ 制御リレー ６ 開放メカニズム ７ 給電回路 ８ 振幅処理回路 ９ ディジタル処理回路 １０ 電流符号検出回路
Claims (9)
- 【請求項１】しゃ断器によって保護された電力システム
（１）の対応の導線の中を流れる電流を代表する二次電
流を供給する極あたり１つのセンサと、 テスト電流入力手段（Ｐ１，Ｐ２）と、 前記二次電流とテスト電流が加えられる検出及び修正回
路（３）であって、保護される導線中を流れる電流とテ
スト電流とを代表する信号を供給する回路（３）と、 前記検出及び修正回路（３）によって供給された信号を
受け、前記保護される導線中を流れる電流、アース障害
電流又はテスト電流が事前設定しきい値を超えた時に、
時間遅れを伴って又は伴わずに引外し命令を発生する電
子処理ユニット（４）とを含む電力システムを保護する
多極しゃ断器の電子引外し装置において、 前記電子引外し装置は、前記電子処理ユニット（４）が
保護される電力システムの周期より大なる周期のテスト
電流を検出するための手段（１４；２５、３１）を含む
ことを特徴とする電子引外し装置。 - 【請求項２】テスト電流と前記センサの１つ又はアース
障害センサによって供給される電流との和を代表する少
なくとも１つの和信号（ＩＴＮ）を前記検出及び修正回
路（３）の出力に供給するように、テスト電流を加える
前記手段（Ｐ１，Ｐ２）が前記検出及び修正回路（３）
に対して接続されることを特徴とする請求項１に記載の
引外し装置。 - 【請求項３】前記処理ユニット（４）は前記和信号（Ｉ
ＴＮ）又はテスト電流の符号（ＳＩＮ）を決定する手段
（１０）を含むことを特徴とする請求項１に記載の引外
し装置。 - 【請求項４】前記処理ユニット（４）は、前記符号が事
前設定値（ＶＰ）を保持する時間を決定する手段（１
４；２５、３１）と、この時間を事前設定持続時間（Ｓ
ｃｐｔ）と比較する手段とを含むことを特徴とする請求
項３に記載の引外し装置。 - 【請求項５】前記処理ユニット（４）はアース保護機能
を実施する手段（１３、２７）と、前記アース保護機能
を抑止する手段（２２、２８）とを含むことを特徴とす
る請求項４に記載の引外し装置。 - 【請求項６】前記テスト電流を加える手段は、第１電流
センサの二次巻線の出力と検出及び修正回路（３）の第
１入力とに接続された第１端子（Ｐ１）と、第２電流セ
ンサの二次巻線の出力と検出及び修正回路（３）の第２
入力とに接続された第２端子（Ｐ２）とを含むことを特
徴とする請求項１に記載の引外し装置。 - 【請求項７】検出及び修正回路（３）は、各電流センサ
に組合わされ修正ブリッジとして接続されたダイオード
グループ（１１ａ，１２ａ，１３ａ，１４ａ）を含み、
第１ダイオード（１１ａ）及び第２ダイオード（１２
ａ）はそれぞれのカソードによって正電力供給点（Ｖ
ｐ）に接続され、第３ダイオード（１３ａ）と第４ダイ
オード（１４ａ）はそれぞれのアノードによって測定抵
抗（Ｒ１）に接続され、第１ダイオード（１１ａ）と第
３ダイオード（１３ａ）が直列に接続され、またその共
通点が対応の電流センサ（Ｔ１）の第１出力（Ｐａ）に
接続され、第２ダイオード（１２ａ）と第４ダイオード
（１４ａ）が相互に直列に接続され、その共通点が対応
の電流センサ（Ｔ１）の第２出力に接続され、各電流セ
ンサの２つの出力の一方が前記センサ中を流れる電流の
符号を検出する手段（１０）に接続され、前記符号検出
手段（１０）はその出力に、電流符号が正であれば第１
値（ＶＰ）を供給し、又は電流符号が負であれば第２値
（ＶＮ）を供給し、前記第３ダイオード（１３ａ）と前
記第４ダイオード（１４ａ）と前記測定抵抗（Ｒ１）と
の間の共通点（Ａａ）が電流の絶対値を代表する信号を
供給することを特徴とする請求項１に記載の引外し装
置。 - 【請求項８】処理ユニット（４）は検出及び修正回路
（３）と引外し機能を実施する回路（１８、１９）との
間に接続された修正手段（１６）を含み、前記修正手段
（１６）は、テスト電流の存在を代表する信号を供給す
る前記テスト電流検出手段（１４）の出力（２３）に接
続されていることを特徴とする請求項１に記載の引外し
装置。 - 【請求項９】前記テスト電流は直流電流であることを特
徴とする請求項１に記載の引外し装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR9215880 | 1992-12-28 | ||
| FR9215880A FR2700076B1 (fr) | 1992-12-28 | 1992-12-28 | Déclencheur électronique comportant un dispositif de test. |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH076670A true JPH076670A (ja) | 1995-01-10 |
| JP3394305B2 JP3394305B2 (ja) | 2003-04-07 |
Family
ID=9437250
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34842993A Expired - Lifetime JP3394305B2 (ja) | 1992-12-28 | 1993-12-27 | 電子引外し装置 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5444377A (ja) |
| EP (1) | EP0605335B1 (ja) |
| JP (1) | JP3394305B2 (ja) |
| CA (1) | CA2112029C (ja) |
| DE (1) | DE69306235T2 (ja) |
| ES (1) | ES2095618T3 (ja) |
| FR (1) | FR2700076B1 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008186592A (ja) * | 2007-01-26 | 2008-08-14 | Mitsubishi Electric Corp | 回路遮断器 |
| JP6076499B2 (ja) * | 2013-11-22 | 2017-02-08 | 三菱電機株式会社 | 電子式回路遮断器 |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19602122A1 (de) * | 1996-01-22 | 1997-07-24 | Siemens Ag | Überwachungsgerät mit Selbstdiagnose |
| US5812352A (en) * | 1996-06-26 | 1998-09-22 | Rokey Corporation | Circuit breaker tester |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| ES2095618T3 (es) | 1997-02-16 |
| FR2700076B1 (fr) | 1995-03-17 |
| US5444377A (en) | 1995-08-22 |
| CA2112029A1 (en) | 1994-06-29 |
| CA2112029C (en) | 2004-11-23 |
| EP0605335A1 (fr) | 1994-07-06 |
| DE69306235D1 (de) | 1997-01-09 |
| DE69306235T2 (de) | 1997-05-07 |
| FR2700076A1 (fr) | 1994-07-01 |
| JP3394305B2 (ja) | 2003-04-07 |
| EP0605335B1 (fr) | 1996-11-27 |
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