JPH076540Y2 - 回路動作試験装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本考案は、回路の動作をテストする回路動作試験装置に
係り、特に、分割前の絶縁基板上に複数組配設された同
一構成のハイブリッドICの動作をテストする回路動作試
験装置に関する。

［従来の技術］ この種の回路動作試験装置では、テスト時間の短縮化の
ために、各組のハイブリッドICに対して、テストに必要
な外付回路を作成し、この外付回路をハイブリッドICに
接続して回路動作をテストしていた。

［考案が解決しようとする問題点］ しかし、例えば、同一基板上に20組の同一ハイブリッド
ICが配設されている場合には、20組も同一の外付回路作
成する必要があった。

そのうえ、外付回路を構成する部品のバラツキにより抵
抗値等が異なり、同一特性のハイブリッドICであっても
外付回路が異なればテスト結果が異なるという問題点が
あった。

本考案の目的は、上記問題点に鑑み、複数組の同一回路
の動作テストを一組の外付回路で、しかも短時間で行う
ことが可能な回路動作試験装置を提供することにある。

［問題点を解決するための手段］ 本考案に係る回路動作試験装置では、第１図に示す如
く、 テストされる複数の同一回路Uiの各端子に対応して接触
子が設けられ、該接触子を該端子に接触させる接触接続
手段Ａと、 テスト信号を出力するテスト信号発生手段Ｂと、 測定信号Ｘを制御手段Ｇが読み取れる信号Ｙに変換する
信号変換手段Ｃと、 回路Uiの動作をテストするのに必要な外付回路Ｄと、 接続の設定が行なわれる接続設定手段Ｅと、 切換指令Siに応答して、前記接触手段Ａを介して回路Ui
の端子に、信号発生手段Ｂの出力端子と信号変換手段Ｃ
の入力端子と外付回路Ｄの端子とを接続する接続切換手
段Ｆと、 接続切換手段Ｆに対し、接続設定手段Ｅからの接続の設
定値に応じた切換指令Siを供給し、信号変換手段Ｃから
信号Ｙを受けて、信号Ｙに対応したテスト情報を出力す
る制御手段Ｇと、を有することを特徴としている。

［作用］ 接触接続手段Ａの接触子をテストしようとする回路Ui
（１〜ｎ）の各端子に接触させる。

次に、接続設定手段Ｅによりテスト信号発生手段Ｂ、信
号変換手段Ｃ及び外付回路Ｄの各端子と回路Uiの各端子
との接続関係を設定する。ただし、接続切換手段Ｆの構
成により接続関係が一定の関係のあるもの（設定が行え
ないもの）についてはこの設定を行う必要がない。

前記設定に応じて、制御手段Ｇは接続切換手段Ｆに対し
切換指令S₁を発する。これにより、テスト信号発生手段
Ｂ、信号変換手段Ｃ及び外付回路Ｄと回路U₁との接続が
設定どうりに行なわれ、テスト信号発生手段Ｂからテス
ト信号が直接または外付回路Ｄを介して回路U₁に供給さ
れ、信号Ｘが回路U₁から直接または外付回路Ｄを介して
信号変換手段Ｃへ供給される。この信号Ｘは信号変換手
段Ｃにより制御手段Ｇが読取可能な信号Ｙに変換されて
制御手段Ｇへ供給される。制御手段Ｇはこの信号Ｙを受
けて信号Ｙに対応したテスト情報、例えば回路特性の良
否を外部へ出力する。

回路U₁についてのテストが終了した場合には、制御手段
Ｇは切換指令S₂を接続切換手段Ｆに発し、上記同様にし
て回路U₂のテストを行う。以下、同様にして回路U₃〜U_n
のテストを行う。

なお、制御手段Ｇは、テスト信号発生手段Ｂ、信号変換
手段Ｃの構成に応じて、制御指令をテスト信号発生手段
Ｂ、信号変換手段Ｃに対し発し、テスト中にテスト信号
を変更したり、テスト信号の種類に応じて信号変換を変
更したりする。

［実施例］ 図面に基づいて本考案の好適な実施例を説明する。

第２図には回路動作試験装置の回路構成が示されてい
る。この回路動作試験装置は、接触接続部Ａ、テスト信
号発生回路Ｂ、信号変換回路Ｃ、外付回路Ｄ、接続設定
手段としてのキーボードＥ、接続切換回路Ｆ及び制御回
路Ｇを備えており、分割前の10上にｎ組配設された同一
構成のハイブリッドIC（HIC）１〜ｎの動作をテストす
るようになっている。

接触接続部Ａは、第３図に示す如く、ピンボード12と、
絶縁基板10上に形成された端子14、16、18・・・に対応
してピンボード12に貫通固設されたコンタクトプローブ
20、22、24・・・と、コンタクトプローブ20、22、24・
・・にそれぞれ接続される絶縁電線26、28、30と、絶縁
基板10をピンボード12側へ押圧する図示しない押圧具と
からなり、端子14、16、18・・・とコンタクトプローブ
20、22、24・・・とをそれぞれ確実に接触接続するよう
になっている。絶縁電線26、28、30・・・は第２図に示
す接続切換回路Ｆに接続されている。

テスト信号発生回路Ｂは1KHzの正弦波信号を出力するオ
ーディオジェネレータ32と、4KHzの正弦波信号を出力す
るオーディオジェネレータ34と、可変アッテネータ36
と、オーディオジェネレータ32またはオーディオジェネ
レータ34の出力端子を選択的に可変アッテネータ36の入
力端子に接続するｃ接点38と、リレーコイルを備えて制
御回路Ｇからの制御信号によりｃ接点38を切換駆動する
ドライバ40と、制御回路Ｇからのデジタル信号をアナロ
グ信号に変換して可変アッテネータ36の減衰率を設定す
るD/A変換器42と、直流電圧信号を出力するDC5V電源4
4、DC8V電源45及びDC12V電源46とからなり、テスト信号
として直流電圧信号及び制御回路Ｇにより制御される交
流電圧信号を出力するようになっている。アース線48は
テスト信号発生回路Ｂのコモン線としてのアース線であ
る。

信号変換回路Ｃは、交流電圧信号が入力されるバッファ
アンプ50と、バッファアンプ50に後続され交流電圧の振
幅を直流電圧に変換するAC/DC変換器52と、バッファア
ンプ50に後続され交流の周波数を直流電圧に変換するF/
V変換器54と、負の直流電圧が入力されるバッファアン
プ56と、バッファアンプ56に後続され正の直流電圧に変
換する符号反転器58と、正の直流電圧が入力されるバッ
ファアンプ60と、A/D変換器62と、AC/DC変換器52、F/V
変換器54、符号反転器58又はバッファアンプ60の出力端
子を選択的にA/D変換器62の入力端子へ接続するアナロ
グマルチプレクサ64とからなり、アナログ測定信号を制
御回路Ｇが読み取り可能なデジタル信号に変換するよう
になっている。

外付回路Ｄは、ハイブリッドIC1〜ｎの回路動作をテス
トするのに必要な回路であり、各ハイブリッドICに共用
される。

接続切換回路Ｆは、制御回路Ｇにより制御されるリレー
コイルを備えたドライバ66と、テスト信号発生回路Ｂの
出力端子及び信号変換回路Ｃの入力端子が一端に接続さ
れた接点群681と、接点群681の一端に並列接続された接
点群682〜6811と、接点群681〜6811の他端が各々共通に
されて一端に接続された接点群701と、接点群701の一端
に並設接続された接点群702〜70n及び接点群72とからな
り、これらのスイッチ群はドライバ66により切換駆動さ
れる。接点群701〜70nの他端はそれぞれ接触接続部Ａを
介してハイブリッドIC1〜ｎの端子に接続され、接点群7
2の他端は外付回路Ｄの端子に接続される。

制御回路Ｇはマイクロコンピュータであり、CPU74、ROM
76、RAM78、CRTC80、入力ポート82及び出力ポート84を
備えて周知の如く構成されている。CPU74は、ROM76に書
き込まれたプログラムに従って、入力ポート82からデー
タを読み込み、RAM78との間でデータの授受を行いなが
ら演算処理し、必要に応じて処理データをCRTコントロ
ーラ（CRTC）80及び出力ポート84へ出力する。入力ポー
ト82の入力端子にはキーボードＥ及びアナログマルチプ
レクサ64の出力端子が接続され、出力ポート84の出力端
子にはドライバ40、D/A変換器42及びドライバ66の入力
端子が接続され、CRTC80の出力端子にはCRT86の入力端
子が接続されている。

次に、上記のように構成された本実施例の動作を第４図
に基づいて説明する。第４図はROM76に書き込まれてい
るプログラムに対応したフローチャートである。

最初に、接触接続部Ａのコンタクトプローブ20、22、24
・・・にハイブリッドIC1〜ｎの端子14、16、18・・・
をそれぞれ接触接続する。

次にステップ100で、キーボードＥを操作して、テスト
信号発生回路ＢとハイブリッドICとの接続及び信号変換
回路ＣとハイブリッドICとの接続を設定する。また、絶
縁基板10上に配設されたハイブリッドICの組数ｎを設定
する。さらに、テスト信号発生回路Ｂから出力される交
流電圧信号の周波数及び振幅を時間と共にどのように変
化させるかを設定する。また、回路特性の良否判定のた
めに測定値と比較される基準値を設定する。

次にステップ102で、前記設定に応じて制御信号がドラ
イバ66へ供給され、接点群681〜6811のそれぞれについ
ていずれかの接点が選択的に閉路される。また、接点群
72が閉路される。

次にステップ104で、ハイブリッドICkに対応したｋの値
が１とされる。

次にステップ106で、接点群70kが閉路される。最初はｋ
＝１であり、接点群701が閉路されてテスト信号発生回
路Ｂ、信号変換回路Ｃ、及び外付回路Ｄとハイブリッド
IC1とが接続される。

次にステップ108で、ステップ102で入力された設定値に
応じてドライバ40、D/A変換器42へ制御信号が供給さ
れ、交流電圧信号の周波数及び振幅が設定される。

次にステップ110で、ハイブリッドIC1へのテスト信号の
入力に応じたハイブリッドIC1からの出力信号が信号変
換回路Ｃを介して入力ポート82から読み取られ、このデ
ータがRAM78へ書き込まれる。

次にステップ112で、ステップ100に於いて設定された出
力すべきテスト信号が残っていると判定（否定判定）さ
れた場合には、上記ステップ108〜110の処理が繰り返さ
れる。

ステップ112で肯定判定された場合には、次にステップ1
14で、ステップ100に於いて設定された特性良否判定基
準値とステップ110でRAM78に書き込まれた測定データと
が比較されて、ハイブリッドIC1の特性の良否が判定さ
れ、その結果がRAM78に書き込まれる。

次にステップ116でｋの値がインクリメントされ、ステ
ップ118でｎ≧ｋと判定されれば、即ちハイブリッドIC1
〜ｎの総てについてテストが終了していなければ、上記
ステップ106〜116の処理が繰り返される。

ステップ118でｎ＜Ｋと判定されれば、ステップ120で、
ステップ114に於いてRAM78に書き込まれた特性良否の判
定結果がCRT86に表示される。

このようにして、分割前の１枚のハイブリッドIC基板に
設けられた複数組の回路の動作のテストが短時間で自動
的に行われる。

なお、本考案では、テストされる回路はハイブリッドIC
に限定されず、同一回路が複数組あれば適用できる。

接触接続部Ａは、テストされる回路の種類に応じて構成
され、例えば、基板の端子部に嵌合されるコネクタであ
ってもよい。

テスト情報は、CRT86のみならず、プリンタや磁気記録
装置等に出力するようにしてもよい。

また、各種の外付回路を備えておき、どの外付回路をテ
ストされる回路に接続するかを自由に切り換えられるよ
うに接続切換回路Ｆを構成してもよい。

また、接続切換回路Ｆは、外付回路Ｄを介してテスト信
号発生回路Ｂからのテスト信号をテストされる回路に供
給したり、外付回路Ｄを介して測定信号を信号変換回路
Ｃへ供給することができるように構成してもよい。

［考案の効果］ 本考案に係る回路動作試験装置では、接続の設定に応じ
て、前記接触手段Ａを介してテストされる回路Uiの端子
にテスト信号発生手段Ｂの出力端子と信号変換手段Ｃの
入力端子と外付回路Ｄの端子とが接続され、この接続関
係を保持して各回路Uiについて接続が切り換えられるよ
うになっているので、複数組の同一回路の動作テストを
１組の外付回路で、しかも自動的に短時間で行うことが
可能であるという優れた効果がある。

そのうえ、１組の外付回路で回路動作テストを行うこと
ができるので、同一特性の回路に対しては同一の測定結
果が得られるという優れた効果もある。

【図面の簡単な説明】

第１図はクレーム対応図、第２図は本考案に係る回路動
作試験装置の一実施例の回路構成図、第３図は接触接続
部Ａの部分正面図、第４図は制御回路Ｇのソフトウエア
構成を示すフローチャートである。 10……絶縁基板 14、16、18……端子 20、22、24……コンタクトプローブ Ａ……接触接続部 Ｂ……テスト信号発生回路 Ｃ……信号変換回路 Ｄ……外付回路 Ｅ……キーボート Ｆ……接続切換回路 Ｇ……制御回路

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】テストされる複数の同一回路Uiの各端子に
   対応して接触子が設けられ、該接触子を該端子に接触さ
   せる接触接続手段Ａと、 テスト信号を出力するテスト信号発生手段Ｂと、 測定信号Ｘを制御手段Ｇが読み取れる信号Ｙに変換する
   信号変換手段Ｃと、 回路Uiの動作をテストするのに必要な外付回路Ｄと、 接続の設定が行なわれる接続設定手段Ｅと、 切換指令Siに応答して、前記接触手段Ａを介して回路Ui
   の端子に、信号発生手段Ｂの出力端子と信号変換手段Ｃ
   の入力端子と外付回路Ｄの端子とを接続する接続切換手
   段Ｆと、 接続切換手段Ｆに対し、接続設定手段Ｅからの接続の設
   定値に応じた切換指令Siを供給し、信号変換手段Ｃから
   信号Ｙを受けて、信号Ｙに対応したテスト情報を出力す
   る制御手段Ｇと、を有することを特徴とする回路動作試
   験装置。