JPH0758393A - 狭帯域レーザ発振方法及びその装置及びこれを用いたレーザ露光装置 - Google Patents

狭帯域レーザ発振方法及びその装置及びこれを用いたレーザ露光装置

Info

Publication number
JPH0758393A
JPH0758393A JP5202276A JP20227693A JPH0758393A JP H0758393 A JPH0758393 A JP H0758393A JP 5202276 A JP5202276 A JP 5202276A JP 20227693 A JP20227693 A JP 20227693A JP H0758393 A JPH0758393 A JP H0758393A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
laser
band
narrow
wavelength
narrowing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP5202276A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3325350B2 (ja
Inventor
Tomoko Enami
智子 榎波
Tatsuo Enami
龍雄 榎波
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP20227693A priority Critical patent/JP3325350B2/ja
Publication of JPH0758393A publication Critical patent/JPH0758393A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3325350B2 publication Critical patent/JP3325350B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Lasers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】本発明は、レーザ露光において焦点深度を向上
するための狭帯域レーザ光を出力する。 【構成】レーザ共振器内にエタロン(25)を配置し、この
エタロン(25)に入射するレーザ光の入射角度を断続又は
連続的に可変する。この場合、エタロン(25)のレーザ共
振器光軸に対する配置位置を調整するものとなり、これ
をステッピングモータ(27)の駆動によりステップ状に可
変する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、スペクトル幅を狭帯域
化して出力する狭帯域レーザ発振方法及びその装置、さ
らにはこの狭帯域レーザ光を用いて半導体ウエハ等の露
光処理を行うレーザ露光装置に関する。
【0002】
【従来の技術】レーザ露光装置としては、例えばSPI
E Vol.633 Optical Microlithography Vに記載
されている一般的である。図22はかかるレーザ露光装
置の構成図である。このレーザ露光装置は、露光光源と
なる狭帯域エキシマレーザ発振装置1から出力された狭
帯域レーザ光2を投影露光装置3に導く構成となってい
る。
【0003】このうち狭帯域エキシマレーザ発振装置1
は、レーザ共振器を形成する各ミラー4a、4bを有
し、これらミラー4a、4b間に放電部5が形成され
る。又、このレーザ発振装置1には、出力安定化装置6
及び波長安定化装置7が備えられている。
【0004】一方、投影露光装置3は、入射した狭帯域
レーザ光2を、反射鏡8、走査ミラー9を経て複眼レン
ズ(フィーズド・アレイ・レンズ)10に通し、さらに
開口部11、コールドミラー12、コンデンサレンズ1
3を通してレチクル14に照射する。このレチクル14
を通過したレーザ光は、投影レンズ(焼付レンズ)15
でにより集光されて半導体ウエハ16に焼き付けられ
る。このレーザ光の照射によりレチクル14に形成され
たパターンが、半導体ウエハ16に転写される。
【0005】このようなレーザ露光では、投影レンズ1
5の焦点距離を一定にすることが必要であるため、狭帯
域レーザ光の波長も図23に示すように一定に制御して
いる。
【0006】このレーザ光の波長の安定化は、波長安定
化装置7により行うが、現在のレーザ露光装置として要
求されている波長の安定度は、Proc.of1989 Int
erm.Symp on.MicroProcess Conference pp2
2−24に述べられているように±0.5pm以内であ
る。
【0007】一方、露光用の狭帯域レーザ光は、Hgラ
ンプのg線(0.436μm)、i線(0.365μ
m)、よりも短波長(KrF;0.248μm、Ar
F;0.193μm)であるので、0.2〜0.4μm
の微細な回路パターンに加工に適用される。
【0008】この場合、レーザ露光における解像度Rと
焦点深度DOFとは、それぞれ次式により表される。 R =±k1 ・λ/N.A. …(1) DOF=±k2 ・λ/N.A.2 …(2) ここで、λは狭帯域レーザ光の波長、N.A.は投影レ
ンズ15の開口数、k1、k2 は定数である。
【0009】これら式から図24に示すように、解像度
Rを向上させるためには、投影レンズ15の開口数N.
A.を増大すること、狭帯域レーザ光の短波長化が有効
であることが分かる。逆に焦点深度DOFを向上させる
には、この逆であることが分かる。従って、現在では、
解像度Rを向上させ、さらに焦点ずれ等に対する許容度
を得るための焦点深度DOFを確保することが重要とな
っている。
【0010】例えば、狭帯域レーザ光の波長0.248
μmにおいて、N.A.=0.5、k1 =0.8、k2
=0.7とすると、解像度Rとしては0.4μmが得ら
れるが、焦点深度DOFとしては0.7μm程度とな
る。
【0011】このように焦点深度DOFを向上させる必
要の理由としては、 (1) 半導体ウエハ16を載置するX−YステージのZ方
向の位置決めを精度高くすることが困難であり、又、X
−Yステージの振動や半導体ウエハ16の歪みに対する
許容度がなくなる。 (2) 写真食刻工程(PEP;Photo Engraving Pro
cesc)において数回の露光を行うと、半導体ウエハ16
に対する積層の厚みが変化し、露光の光軸方向における
ベストな焦点位置が異なることが挙げられる。
【0012】一方、上記焦点ずれの因子としては、レン
ズに起因するもの、オートフォーカスの誤差、デバイス
のパターンを含めた半導体ウエハ上の凹凸が挙げられ
る。ここで、0.35μmデザインルール(64MD相
当)を例に挙げて説明すると、レンズに起因する誤差が
0.5μm、オートフォーカス誤差が0.1μm、半導
体ウエハ上の凹凸が0.55μmであり、トータルで
1.15μm程度の誤差が存在する。従って、少なくと
も1.15μm以上の焦点深度DOFを確保することが
必要である。
【0013】これに対して現状は、0.8μm程度(レ
ーザ光248.4nm、N.A.=0.5、k2 =0.
8)しか得られておらず、焦点深度DOFの向上が急務
とされている。
【0014】又、半導体ウエハ上の凹凸に関しては、ウ
エハ自体の平坦化、レジスト厚さのばらつき、デバイス
の平坦度等が挙げられる。このうちデバイスの平坦度に
関しては、デバイスの高スピード化の要求に伴い、Al
の多層配線を行うことにより凹凸が増えている。図25
はかかるAlの多層配線を示しており、シリコン基板1
7a上には、絶縁膜17bが形成され、その上にAl一
層配線17cが形成されている。さらに、保護膜17d
が形成され、その上にAl二層配線17eが形成されて
いる。現在ではAl一層配線17cの段差を抑えるため
の工程を入れている。これらの工程も露光時の焦点深度
の許容度を得るために行われている。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】以上のように解像度R
を向上させるために開口数N.A.を増大させ、逆に焦
点深度DOFを向上させるに開口数N.A.を減少しな
ければならない状況下にあって、解像度Rを向上させ、
さらに焦点深度DOFを確保することが要求されてい
る。
【0016】そこで本発明は、レーザ露光において焦点
深度を向上するための狭帯域レーザ光を出力できる狭帯
域レーザ発振方法及びその装置を提供することを目的と
する。
【0017】又、本発明は、レーザ露光において焦点深
度を向上できるレーザ露光装置を提供することを目的と
する。又、本発明は、被処理体上の平坦度に応じて焦点
深度を変化させることができるレーザ露光装置を提供す
ることを目的とする。
【0018】又、本発明は、レーザ露光において焦点深
度を向上するために2つ以上の波長帯域を有する狭帯域
レーザ光を出力するにあたって、その発振波長及び各波
長帯域の光量バランスを常に安定に保つことができる狭
帯域レーザ発振装置を提供することを目的とする。
【0019】
【課題を解決するための手段】請求項1によれば、レー
ザ共振器内に狭帯域化素子を配置し、この狭帯域化素子
に入射するレーザ光の入射角度を断続的に可変して上記
目的を達成しようとする狭帯域レーザ発振方法である。
【0020】請求項2によれば、レーザ共振器内に狭帯
域化素子を配置し、この狭帯域化素子に入射するレーザ
光の入射角度を連続的に可変して上記目的を達成しよう
とする狭帯域レーザ発振方法である。
【0021】請求項3によれば、レーザ共振器内に配置
された狭帯域化素子と、この狭帯域化素子のレーザ共振
器光軸に対する配置位置を調整して狭帯域化素子に入射
するレーザ光の入射角度を断続的に可変する配置調整手
段とを備えて上記目的を達成しようとする狭帯域レーザ
発振装置である。
【0022】請求項4によれば、レーザ共振器内に配置
された狭帯域化素子と、この狭帯域化素子のレーザ共振
器光軸に対する配置位置を調整して狭帯域化素子に入射
するレーザ光の入射角度を連続的に可変する配置調整手
段とを備えて上記目的を達成しようとする狭帯域レーザ
発振装置である。
【0023】請求項5によれば、配置調整手段は、狭帯
域化素子の配置位置をステッピングモータの駆動により
ステップ状に可変するものである。請求項6によれば、
配置調整手段は、狭帯域化素子の配置位置をアナログモ
ータの駆動により連続して可変ものである。
【0024】請求項7によれば、狭帯域レーザ発振装置
から出力された狭帯域レーザ光を露光光学系に入射して
レチクルに形成されたパターンを被処理体に転写するレ
ーザ露光装置において、狭帯域レーザ発振装置における
レーザ共振器内に配置された狭帯域化素子と、この狭帯
域化素子のレーザ共振器光軸に対する配置位置を調整し
て狭帯域化素子に入射するレーザ光の入射角度を断続的
に可変する配置調整手段とを備えて上記目的を達成しよ
うとするレーザ露光装置である。
【0025】請求項8によれば、狭帯域レーザ発振装置
から出力された狭帯域レーザ光を露光光学系に入射して
レチクルに形成されたパターンを被処理体に転写するレ
ーザ露光装置において、狭帯域レーザ発振装置における
レーザ共振器内に配置された狭帯域化素子と、この狭帯
域化素子のレーザ共振器光軸に対する配置位置を調整し
て狭帯域化素子に入射するレーザ光の入射角度を連続的
に可変する配置調整手段とを備えて上記目的を達成しよ
うとするレーザ露光装置である。
【0026】請求項9によれば、配置調整手段は、1回
の露光に用いるレーザ発振波長を1pmステップで断続
的に可変するものである。請求項10によれば、狭帯域
レーザ発振装置から出力された狭帯域レーザ光を露光光
学系に入射してレチクルに形成されたパターンを被処理
体に転写するレーザ露光装置において、被処理体に対す
る露光回数に応じた狭帯域レーザ光に含まれる波長帯域
の数及びその間隔を設定する発振設定手段と、狭帯域レ
ーザ発振装置におけるレーザ共振器内に配置された狭帯
域化素子と、発振設定手段により設定された波長帯域の
数及びその間隔に基づいて狭帯域化素子のレーザ共振器
光軸に対する配置位置を調整し、レーザ共振器から各波
長帯域の狭帯域レーザ光を断続的に出力制御する露光制
御手段とを備えて上記目的を達成しようとするレーザ露
光装置である。
【0027】請求項11によれば、露光制御手段は、露
光回数に対する被処理体表面上の高低差を予め保持し、
この被処理体表面上の高低差に対応した波長帯域の数及
びその間隔を設定する機能を有するものである。
【0028】請求項12によれば、レーザ共振器内に少
なくとも2つの狭帯域化素子を配置し、これら狭帯域化
素子に入射するレーザ光の各入射角度をそれぞれ調整し
て少なくとも2つの波長帯域を同時に有する狭帯域レー
ザ光を出力して上記目的を達成しようとする狭帯域レー
ザ発振方法である。
【0029】請求項13によれば、レーザ共振器内に配
置された少なくとも2つの狭帯域化素子と、これら狭帯
域化素子のレーザ共振器光軸に対する配置位置をそれぞ
れ調整して各狭帯域化素子に入射するレーザ光の入射角
度を調整する発振調整手段とを備えて上記目的を達成し
ようとする狭帯域レーザ発振装置である。
【0030】請求項14によれば、狭帯域レーザ発振装
置から出力された狭帯域レーザ光を露光光学系に入射し
てレチクルに形成されたパターンを被処理体に転写する
レーザ露光装置において、狭帯域レーザ発振装置におけ
るレーザ共振器内に配置された少なくとも2つの狭帯域
化素子と、これら狭帯域化素子のレーザ共振器光軸に対
する配置位置を調整して狭帯域化素子に入射するレーザ
光の入射角度を可変する発振調整手段とを備えて上記目
的を達成しようとするレーザ露光装置である。
【0031】請求項15によれば、発振調整手段は、2
つの狭帯域化素子の配置位置をそれぞれ調整し、2つの
波長帯域の各中心波長の間隔を5pm以内とするもので
ある。
【0032】請求項16によれば、レーザ共振器内に配
置された少なくとも2つの狭帯域化素子を通して少なく
とも2つの波長帯域を有する狭帯域レーザ光を出力する
狭帯域レーザ発振装置において、狭帯域レーザ光に含ま
れる各波長帯域の各光量バランス変化を検出して各狭帯
域化素子のうちバランス調整用の狭帯域化素子のレーザ
共振器の光軸に対する配置位置を調整する光量調整手段
と、狭帯域レーザ光に含まれる各波長帯域のうちいずれ
か一方の波長が設定内であるかを検出して各狭帯域化素
子のうち波長調整用の狭帯域化素子のレーザ共振器の光
軸に対する配置位置を調整する波長調整手段とを備えて
上記目的を達成しようとする狭帯域レーザ発振装置であ
る。
【0033】
【作用】請求項1及び請求項2によれば、レーザ共振器
内に狭帯域化素子を配置し、この狭帯域化素子に入射す
るレーザ光の入射角度を断続又は連続的に可変する。こ
の場合、請求項3及び請求項4によれば、狭帯域化素子
のレーザ共振器光軸に対する配置位置を調整するものと
なり、これを請求項5によればステッピングモータの駆
動によりステップ状に可変し、又は請求項6によればア
ナログモータの駆動により連続して可変する。
【0034】請求項7及び請求項8によれば、狭帯域化
素子に入射するレーザ光の入射角度を断続又は連続的に
可変することにより、狭帯域レーザ発振装置からそれぞ
れ異なる波長の狭帯域レーザ光が出力され、これが露光
光学系に入射してレチクルに形成されたパターンを被処
理体に転写する。
【0035】この場合、請求項9によれば、1回の露光
に用いるレーザ発振波長を1pmの間で断続的に可変す
る。請求項10によれば、狭帯域レーザ発振装置からそ
れぞれ異なる波長を含む狭帯域レーザ光を出力し、これ
を露光光学系に入射してレチクルに形成されたパターン
を被処理体に転写する場合、被処理体に対する露光回数
に応じた狭帯域レーザ光の波長帯域の数及びその間隔を
設定し、これに基づいて狭帯域化素子のレーザ共振器の
光軸に対する配置位置を調整し、レーザ共振器から各波
長帯域の狭帯域レーザ光を断続的に出力制御する。
【0036】この場合、請求項11によれば、波長帯域
の数及びその間隔は、予め保持されている露光回数に対
する被処理体表面上の高低差から設定される。請求項1
2によれば、レーザ共振器内に少なくとも2つの狭帯域
化素子を配置し、これら狭帯域化素子に入射するレーザ
光の各入射角度をそれぞれ調整して少なくとも2つの波
長帯域を有するレーザ光を出力する。
【0037】この場合、請求項13によれば、各狭帯域
化素子の調整は、レーザ共振器の光軸に対する配置位置
をそれぞれ調整している。請求項14によれば、狭帯域
レーザ発振装置から狭帯域レーザ光を出力し、これを露
光光学系に入射してレチクルに形成されたパターンを被
処理体に転写する場合、レーザ共振器内に配置された少
なくとも2つの狭帯域化素子のレーザ共振器光軸に対す
る配置位置を調整して狭帯域化素子に入射するレーザ光
の入射角度を断続又は連続的に可変する。
【0038】この場合、請求項15によれば、2つの狭
帯域化素子の配置位置をそれぞれ調整し、2つの波長帯
域の各中心波長の間隔を5pm以内とする。請求項16
によれば、レーザ共振器内に配置された少なくとも2つ
の狭帯域化素子を通して少なくとも2つの波長帯域を有
する狭帯域レーザ光を出力する場合、狭帯域レーザ光に
含まれる各波長帯域の各光量バランス変化を検出して各
狭帯域化素子のうちバランス調整用の狭帯域化素子のレ
ーザ共振器の光軸に対する配置位置を調整し、上記各波
長帯域のうちいずれか一方の波長が設定内であるかを検
出して各狭帯域化素子のうち波長調整用の狭帯域化素子
のレーザ共振器の光軸に対する配置位置を調整する。
【0039】
【実施例】(1) 以下、本発明の第1実施例について図面
を参照して説明する。なお、図19と同一部分には同一
符号を付してその詳しい説明は省略する。図1は狭帯域
レーザ発振装置を用いたレーザ露光装置の構成図であ
る。露光用光源としての狭帯域エキシマレーザ発振装置
20は、レーザ媒質としてKrF、ArFを用いたもの
で、その波長はKrFで0.248μm、ArFで0.
193μmである。
【0040】この狭帯域エキシマレーザ発振装置20
は、レーザ本体21内に気密容器22が設けられ、この
気密容器22の両端側にそれぞれレーザ共振器を形成す
る各ミラー23a、23bが配置されている。
【0041】気密容器22内には、レーザ媒質としてK
rFエキシマレーザの場合にNe、F2 、Krの混合ガ
スが封入され、又、ArFエキシマレーザの場合にN
e、F2 、Arの混合ガスが封入されるものとなる。
【0042】又、気密容器22内には、レーザ媒質が放
電励起される放電部24が形成される。上記レーザ共振
器(各ミラー23a、23b)の具体的な構成について
図2を参照して説明する。
【0043】レーザ共振器ミラー23aには、狭帯域化
素子としてのエタロン25が配置されている。このエタ
ロン25は、レーザ共振器中のレーザ光のスペクトル幅
を3pmまで狭帯域化する機能を有している。
【0044】このエタロン25は、回転ステージ26上
に設けられており、この回転ステージ26はステッピン
グモータ27の駆動によりステップ状に回転するものと
なっている。なお、28は高反射ミラーである。
【0045】このように回転ステージ26をステップ状
に回転することによりエタロン25に対するレーザ共振
器光軸が断続的に変化する。すなわち、エタロン25に
入射するレーザ共振器中のレーザ光の入射角度が断続的
に変化する。この入射角度の変化によりレーザ光の波長
は、図3に示すようにステップ状に変化する。
【0046】又、ステッピングモータ27に代えてアナ
ログ式マイクロメータ付の回転ステージを使用すると、
エタロン25に入射するレーザ光の角度は連続的に変化
し、レーザ光の波長は、図4に示すように連続的に変化
する。
【0047】一方、レーザ共振器ミラー23bには、出
力ミラー29及びビームスプリッタ30が配置され、か
つシャッター31が設けられている。波長安定化装置
(スペクトルモニタ)32は、ビームスプリッタ30に
より分岐される狭帯域レーザ光を入射し、この狭帯域レ
ーザ光の波長をモニタして制御装置33に送る機能を有
している。
【0048】この制御装置33は、波長安定化装置32
によるモニタ波長とレーザ露光装置3から送られてくる
レーザ波長設定値との差を求め、この波長差を無くす駆
動制御信号をステッピングモータ27に送ってフィード
バック制御する機能を有している。なお、制御装置33
は、モニタ波長とレーザ波長設定値とが一致したときに
シャッター31を開放する機能を有している。
【0049】又、狭帯域エキシマレーザ発振装置20に
は、電源34、ガス供給排気装置35及びエネルギーモ
ニタ36を備えている。次に上記の如く構成された装置
の作用について説明する。
【0050】レーザ露光装置3は、1回露光における各
波長の設定値及びその間隔を、狭帯域エキシマレーザ発
振装置20の制御装置33に送る。これら波長の設定値
は、例えば、図5(a) に示すように波長λ1 、λ2 、λ
3 (λ2 <λ1 <λ3 )となっている。
【0051】かかる状態に、制御装置33により電源3
4から電力が供給されてレーザ共振器内のレーザ媒質が
放電励起されると、このレーザ共振器からレーザ光が取
り出される。
【0052】このとき、波長安定化装置32は、ビーム
スプリッタ30により分岐される狭帯域レーザ光を入射
し、この狭帯域レーザ光の波長をモニタして制御装置3
3に送る。
【0053】この制御装置33は、波長安定化装置32
からのモニタ波長を受け、このモニタ波長とレーザ波長
設定値λ2 との差を求め、この波長差を無くす駆動制御
信号をステッピングモータ27に送る。
【0054】これによりステッピングモータ27は、駆
動して回転ステージ26をステップ状に回転させ、これ
に伴ってエタロン25に入射するレーザ共振器中のレー
ザ光の角度が変化する。このようにレーザ光の入射角度
が変化すると、レーザ共振器中のレーザ光の波長が変化
する。
【0055】この波長変化によりモニタ波長とレーザ波
長設定値λ2 とが一致すると、制御装置33はシャッタ
ー31をレーザ露光装置3から設定された期間だけ開放
する。
【0056】かくして、狭帯域エキシマレーザ発振装置
20から波長λ2 の狭帯域レーザ光が出力される。この
狭帯域レーザ光は、反射鏡8、走査ミラー9を経て複眼
レンズ10を通り、さらに開口部11、コールドミラー
12、コンデンサレンズ13を通してレチクル14に照
射する。このレチクル14を通過した狭帯域レーザ光
は、投影レンズ15により集光されて半導体ウエハ16
に照射される。
【0057】次に制御装置33は、波長安定化装置32
からのモニタ波長を受け、このモニタ波長とレーザ波長
設定値λ1 との差を求め、この波長差を無くす駆動制御
信号をステッピングモータ27に送る。
【0058】これにより上記同様にステッピングモータ
27の駆動により、エタロン25に入射するレーザ共振
器中のレーザ光の角度が変化し、モニタ波長とレーザ波
長設定値λ1 とが一致すると、制御装置33はシャッタ
ー31をレーザ露光装置3から設定された期間だけ開放
する。
【0059】かくして、狭帯域エキシマレーザ発振装置
20から波長λ1 の狭帯域レーザ光が出力され、この狭
帯域レーザ光がレチクル14を通して半導体ウエハ16
に照射される。
【0060】次に制御装置33は、上記同様にモニタ波
長とレーザ波長設定値λ3 との差を求め、この波長差を
無くすようにステッピングモータ27を駆動し、エタロ
ン25に入射するレーザ共振器中のレーザ光の角度を変
化させる。そして、モニタ波長とレーザ波長設定値λ3
とが一致すると、制御装置33はシャッター31をレー
ザ露光装置3から設定された期間だけ開放する。
【0061】かくして、狭帯域エキシマレーザ発振装置
1から波長λ3 の狭帯域レーザ光が出力され、この狭帯
域レーザ光がレチクル14を通して半導体ウエハ16に
照射される。
【0062】この結果、半導体ウエハ16に対する1回
の露光が終了する。このように各波長λ1 、λ2 、λ3
(λ2 <λ1 <λ3 )の狭帯域レーザ光を順次半導体ウ
エハ16に照射すると、半導体ウエハ16に対して図6
に示すように各波長λ1 、λ2 、λ3 ごとに異なった位
置に焦点面が形成される。この場合、波長λ2 の焦点面
が上面で形成され、波長λ1 の焦点面が中間で形成さ
れ、さらに波長λ3 の焦点面が下面で形成される。
【0063】従って、レチクル14に形成されたパター
ンが、焦点面を変えて多重に露光することになり、最終
的に形成されるパターンは、光軸方向において各波長λ
1 、λ2 、λ3 の光の強度分布の合成像となる。
【0064】図7には各波長λ1 、λ2 、λ3 の焦点位
置に対する光強度分布及びその合成像の光強度分布を示
すとともに従来装置での光軸方向の光強度分布が示され
ている。同図に示すように各波長λ1 、λ2 、λ3 の合
成像による露光の方が、従来よりも焦点深度DOFが向
上することが分かる。
【0065】例えば、従来において単一波長248.4
nmのレーザ光により露光した場合の焦点深度DOFが
0.8μmであるのに対し、本実施例において λ2 =248.400−0.002nm λ1 =248.4nm λ3 =248.400+0.002nm と設定すれば、焦点深度DOFは、1.6μmとなり約
2倍に向上する。
【0066】このように上記第1実施例においては、レ
ーザ共振器内にエタロン25を配置し、このエタロン2
5に入射するレーザ光の入射角度を、ステッピングモー
タ27の駆動により断続的に可変するようにしたので、
1回の露光において各波長λ1 、λ2 、λ3 の合成像に
よる露光を行い、この露光により焦点深度DOFを向上
させる狭帯域レーザ光を出力でき、かつこの狭帯域レー
ザ光を用いて露光処理することにより半導体ウエハ16
における焦点深度DOFを向上できる。
【0067】又、各波長λ1 、λ2 、λ3 に変化させて
焦点面を変化させるので、半導体ウエハ16を上下移動
させてアライメントする必要がなく、かつスループット
低下を抑えることができる。
【0068】さらに、1μm以下の微妙な焦点位置の変
動を可能にできる。なお、上記第1実施例は、次のよう
に種々変形してもよい。各波長λ1 、λ2 、λ3 の出力
順序は、図5(b) に示すように波長λ3 、λ1、λ2 の
順序としてもよく、又、同図(c) に示すように波長λ1
、λ2 、λ3 の順序としてもよい。このように各波長
λ1 、λ2 、λ3 の出力順序を種々変更して設定する
と、その出力順序の組み合わせ総数は8通りとなり、そ
の処理に応じて波長の出力順序を決定するようにしても
よい。
【0069】さらに、各波長は、次のように連続的又は
断続的に変化させてもよい。例えば図8に示すように波
長λ3 から連続的に長くし、波長λ1 を経て波長λ2 へ
と変化させてもよい。
【0070】又、図9に示すように波長λ1 より僅かに
短い波長から波長λ3 に向かって連続的に変化させ、次
に波長λ2 より僅かに短い波長から波長λ1 に向かって
連続的に変化させ、さらに同様に波長λ2 に向かって連
続的に変化させてもよい。
【0071】又、図10に示すように所定間隔毎(0〜
t1 、t1 〜t2 、t2 〜t3 )に波長λ3 から連続的
に波長λ2 以上の波長に向かって長く変化させることを
繰り返すようにしてもよい。
【0072】さらに上記第1実施例では、エタロン25
に代えて回折格子、プリズム等を用いてもよい。次に上
記第1実施例において、1回の露光に用いる狭帯域レー
ザ光の波長を、5pmの間で断続的に変化させる場合に
ついて説明する。
【0073】ここで、各波長λ1 、λ2 、λ3 は、例え
ば λ3 =253.9975nm λ1 =254.000nm λ2 =254.0025nm を用いる。この場合、波長λ1 の焦点面に対して、各波
長λ2 、λ3 の焦点面はそれぞれ光軸方向において±
0.5μmずれた位置に形成され、焦点深度DOF約
1.8μmが得られる。
【0074】次に上記第1実施例において、1回の露光
に用いる狭帯域レーザ光の波長を、1pmの間で断続的
に変化させる場合について説明する。波長を1pmの間
で断続的に変えると、焦点面は光軸方向に0.2μmず
れて形成され、波長を変化させる回数nに対して焦点深
度DOFは、0.2μm向上する。例えば、1回の露光
において、n=0の時の焦点深度DOFを1μmとする
と、狭帯域レーザ光を1pmづつ4回変化させると、焦
点深度DOFは1.8μmとなる。 (2) 次に本発明の第2実施例について説明する。なお、
図2と同一部分には同一符号を付してその詳しい説明は
省略する。
【0075】図11はレーザ露光装置に適用される狭帯
域レーザ発振装置の構成図である。レーザ共振器ミラー
23aには、狭帯域化素子としての各エタロン40、4
1が配置されている。
【0076】これらエタロン40、41は、レーザ共振
器中のレーザ光のスペクトル幅を狭帯域化するもので、
図12に示すように第1段目のエタロン40によりレー
ザ共振器による得られる広帯域のレーザ光をその10分
の1程度までに狭帯域化し、第2段目のエタロン41に
より同時に2つの波長帯域λ10、λ11を得る機能を有し
ている。
【0077】これらエタロン40、41は、それぞれ回
転ステージ42、43上に設けられている。これら回転
ステージ42、43は、それぞれステッピングモータ4
4、45の駆動によりステップ状に回転するものとなっ
ている。
【0078】なお、これらエタロン40、41は、その
配置位置を逆にしてもよい。これら回転ステージ44、
45のステップ状の回転により、各エタロン40、41
は、レーザ共振器の光軸に対してその配置位置が変更す
るものとなっている。
【0079】又、各ステッピングモータ44、45に代
えてアナログ式マイクロメータ付の回転ステージを使用
すると、各エタロン40、41に入射するレーザ光の角
度が連続的に変化するものとなっている。
【0080】制御装置33は、波長安定化装置32から
のモニタ波長を受け、このモニタ波長と2つのレーザ波
長設定値とに基づいて駆動制御信号を各ステッピングモ
ータ44、45に送る機能を有している。
【0081】具体的には、2つの波長λ10、λ11の間隔
を5pmに設定する。この場合、第2段目のエタロン4
1のFSRを5pmとする。又、2つの波長λ10、λ11
の間隔を1pmに設定してもよい。さらに、各波長λ1
0、λ11の間隔をN(pm)(N≧1)としたとき、F
SR=N(pm)(N≧1)とする。
【0082】次に上記の如く構成された狭帯域エキシマ
レーザ発振装置をレーザ露光装置に適用した場合につい
て説明する。なお、レーザ露光装置は、図1に示す装置
を適用している。
【0083】レーザ露光装置3は、1回露光における各
波長λ10、λ11の設定値及びその間隔(Npm)を、狭
帯域エキシマレーザ発振装置の制御装置33に送る。か
かる状態に、レーザ共振器内のレーザ媒質が放電励起さ
れると、このレーザ共振器からレーザ光が取り出される
と、波長安定化装置32は、ビームスプリッタ30によ
り分岐される狭帯域レーザ光を入射し、この狭帯域レー
ザ光の波長をモニタして制御装置33に送る。
【0084】この制御装置33は、このモニタ波長とレ
ーザ波長設定値λ10、λ11とに基づいて駆動制御信号を
ステッピングモータ44に送る。先ず、ステッピングモ
ータ44が駆動されて第1段目のエタロン40のレーザ
共振器光軸に対する配置角度が変えられる。この配置調
整により、図12に示すようにレーザ共振器による得ら
れる広帯域のレーザ光が10分の1程度までに狭帯域化
される。
【0085】次にステッピングモータ45が駆動されて
第2段目のエタロン41のレーザ共振器光軸に対する配
置角度が変えられる。この配置調整により、2つの波長
λ10、λ11が得られる。
【0086】このようにして同時に2つの波長λ10、λ
11が得られると、制御装置33はシャッター31を開放
する。かくして、狭帯域エキシマレーザ発振装置から2
つの波長λ10、λ11を有する狭帯域レーザ光が出力され
る。
【0087】この狭帯域レーザ光は、上記同様に反射鏡
8、走査ミラー9を経て複眼レンズ10を通り、さらに
開口部11、コールドミラー12、コンデンサレンズ1
3を通してレチクル14に照射する。このレチクル14
を通過した狭帯域レーザ光は、投影レンズ15により集
光されて半導体ウエハ16に照射される。
【0088】このように2つの波長λ10、λ11を含む狭
帯域レーザ光を半導体ウエハ16に照射すると、半導体
ウエハ16に対して図13に示すように2つの波長λ1
0、λ11ごとに異なった位置に焦点面が形成される。こ
の場合、波長λ11の焦点面が上面で形成され、波長λ10
の焦点面が下面に形成される。
【0089】従って、レチクル14に形成されたパター
ンが、焦点面を変えて同時にかつ多重に露光することに
なり、最終的に形成されるパターンは、光軸方向におい
て2つの波長λ10、λ11の光の強度分布の合成像とな
る。
【0090】従って、2つの波長λ10、λ11の合成像に
よる露光の方が、従来よりも焦点深度DOFが向上する
ことは上記の通りである。例えば、レーザ光の中心波長
λo =248.400nmにおいてN.A.=0.5、
2 =0.8とすると、従来において焦点深度DOFは
0.8μmとなるが、本第2実施例において、 λ10=248.400+0.001nm λ11=248.400−0.001nm(λ10とλ11の
間隔は2pm) の2つの波長帯域を用いると、焦点深度DOFは、1.
2μmまで向上する。
【0091】又、上記の如く2つの波長λ10、λ11の間
隔を5pmとした場合、例えば λ10=254.0025nm λ11=253.9975nm とした場合、焦点面は光軸方向において1μm離れた位
置に形成され、焦点深度DOFは約1.8μmが得られ
る。
【0092】又、2つの波長λ10、λ11の間隔を1pm
以上とした場合、それぞれの焦点面は光軸方向に0.2
N(μm)離れた位置に形成され、焦点深度DOFも
0.2N(μm)向上する。
【0093】このように上記第2実施例においては、各
エタロン40、41を用いて狭帯域レーザ発振装置から
2つの波長λ10、λ11を有するレーザ光を出力し、これ
をレーザ露光装置3に入射してレチクル14に形成され
たパターンを半導体ウエハ16に転写するようにしたの
で、1回の露光において2つの波長λ10、λ11の合成像
による露光を行い、この露光により焦点深度DOFを向
上させる狭帯域レーザ光を出力でき、かつこの狭帯域レ
ーザ光を用いて露光処理することにより半導体ウエハ1
6における焦点深度DOFを向上できる。従って、2つ
の波長λ10、λ11を有するレーザ光により各焦点面を形
成することになり、半導体ウエハ16を上下移動させて
アライメントする必要がなく、かつスループット低下を
抑えることができる。さらに、1μm以下の微妙な焦点
位置の変動を可能にできる。
【0094】なお、上記第2実施例に次のように種々変
形してもよい。例えば、狭帯域化する波長は、上記2つ
の波長λ10、λ11に限らずに複数の波長に狭帯域化して
もよく、この場合複数のエタロンや回折格子等の狭帯域
化素子を用いる。
【0095】又、2つの波長λ10、λ11の関係は、中心
波長をλo とするとき、 λ10>λo >λ11 λ10=λo >λ11 λ10>λo =λo λo >λ10>λ11 λ10>λ11>λo に設定してもよい。 (3) 次に本発明の第3実施例について説明する。なお、
図1と同一部分には同一符号をしてその詳しい説明は省
略する。
【0096】図14はレーザ露光装置の全体構成図であ
る。レーザ露光装置3には、露光制御装置50が備えら
れている。この露光制御装置50は、露光回数に対する
半導体ウエハ16表面上の平坦度、つまり高低差を予め
保持し、この高低差に対応した波長帯域の数及びその間
隔を決定して狭帯域レーザ発振装置20の制御装置3に
送る機能を有している。なお、露光時における半導体ウ
エハ表面上の高低差は、プロセス上周知のことである。
【0097】例えば、写真食刻工程において、第1回目
の露光では半導体ウエハ16に凹凸は存在しないが、第
2回目、第3回目、…の露光では半導体ウエハ16に凹
凸が形成され、その高低差に応じて狭帯域レーザ光の波
長帯域の数及びその間隔を決定する。
【0098】例えば、半導体ウエハ16に凹凸の高低差
に応じて狭帯域レーザ光の波長設定値λ20、λ21を決定
し、さらに写真食刻工程を重ねて高低差が大きくなる
と、3つの波長設定値λ22、λ23、λ24を決定する。図
15は半導体ウエハ16の凹凸高低差に対する波長の数
及びその間隔の例が示されている。
【0099】又、各波長λ20、λ21及びλ22、λ23、λ
24を発振するタイミングは、1回の露光において、図1
6に示すように2つの波長λ20、λ21の場合、同図(a)
に示すように波長λ20、λ21の順序に発振したり、又同
図(b) に示すように波長λ20からλ21に変え、再び波長
λ20で発振するようにしてもよい。
【0100】又、3つの波長の場合、同図(c) に示すよ
うにλ22、λ23、λ24の順序に発振したり、同図(d) に
示すようにλ24、λ23、λ22の順序に発振、さらには同
図(e) に示すようにλ23、λ22、λ24の順序に発振して
もよい。
【0101】次に上記の如く構成された装置の作用につ
いて説明する。レーザ露光装置3の露光制御装置50
は、1回目の露光に対する波長の設定値を、狭帯域エキ
シマレーザ発振装置20の制御装置33に送る。
【0102】かかる状態に、レーザ共振器内のレーザ媒
質が放電励起されると、このレーザ共振器からレーザ光
が取り出され、このときに波長安定化装置32は狭帯域
レーザ光の一部を入射してその波長をモニタする。
【0103】制御装置33は、モニタされた波長を受
け、このモニタ波長とレーザ波長設定値との差を求め、
この波長差を無くす駆動制御信号をステッピングモータ
27に送る。これによりエタロン25のレーザ共振器光
軸に対する角度が変化し、これに伴ってレーザ共振器中
のレーザ光の波長が変化する。
【0104】この波長変化によりモニタ波長とレーザ波
長設定値とが一致すると、制御装置33はシャッター3
1をレーザ露光装置3から設定された期間だけ開放す
る。かくして、狭帯域エキシマレーザ発振装置20から
波長設定値の狭帯域レーザ光が出力され、このレーザ光
が反射鏡8、走査ミラー9を経て複眼レンズ10を通
り、さらに開口部11、コールドミラー12、コンデン
サレンズ13を通してレチクル14に照射する。このレ
チクル14を通過した狭帯域レーザ光は、投影レンズ1
5により集光されて半導体ウエハ16に照射される。
【0105】次に半導体ウエハ16に対する2回目の露
光では、半導体ウエハ16の表面上の凹凸の高低差が形
成されているので、この高低差に応じて、例えば2つの
波長設定値λ20、λ21及びその間隔が決定される。
【0106】すなわち、露光制御装置50は、2回目の
露光に対する2つの波長λ20、λ21の設定値及びその間
隔を、狭帯域エキシマレーザ発振装置20の制御装置3
3に送る。
【0107】この制御装置33は、モニタ波長とレーザ
波長設定値λ20との差を求め、この波長差を無くす駆動
制御信号をステッピングモータ27に送る。これにより
エタロン25に入射するレーザ光の角度が変化し、レー
ザ共振器中のレーザ光の波長が変化する。この波長変化
によりモニタ波長がレーザ波長設定値λ20と一致する
と、狭帯域エキシマレーザ発振装置20からその波長λ
20の狭帯域レーザ光が出力される。
【0108】しかして、この狭帯域レーザ光が、レチク
ル14を通過して半導体ウエハ16に照射される。続い
て制御装置33は、モニタ波長がレーザ波長設定値λ21
と一致するようにエタロン25に入射するレーザ光の角
度を調整する。この調整によりモニタ波長がレーザ波長
設定値λ21と一致すると、狭帯域エキシマレーザ発振装
置20からその波長λ21の狭帯域レーザ光が出力され、
この狭帯域レーザ光が、レチクル14を通過して半導体
ウエハ16に照射される。
【0109】以上により2回目の露光が終了する。これ
以降、2回目、3回目、…の露光では、半導体ウエハ1
6の表面上の凹凸の高低差に応じて、例えば2つの波長
λ20、λ21、又は3つの波長λ22、λ23、λ24の設定値
及びその間隔が決定される。
【0110】このように上記第3実施例においては、半
導体ウエハ16に対する露光回数に応じた狭帯域レーザ
光の波長帯域の数及びその間隔を設定するようにしたの
で、半導体ウエハ16上の平坦度に応じて焦点深度DO
Fを変化させることができ、半導体ウエハ16の位置を
光軸方向に数μm程度移動及びアライメントする必要が
なくなり、スループットの低下を抑えることができる。 (4) 次に本発明の第4実施例について説明する。
【0111】図17は狭帯域レーザ発振装置の構成図で
ある。レーザ共振器を形成する各レーザミラー60、6
1の間には、レーザチャンバ62が配置されている。こ
のレーザチャンバ62内には、レーザ媒質が封入される
と共に各放電電極63、64が対向配置されている。
又、レーザチャンバ62におけるレーザ共振器の光軸方
向には、各窓65、66が形成されている。
【0112】レーザ共振器レーザミラー60とレーザチ
ャンバ62との間には、2つのエタロン67、68が配
置されている。このうち第1段目のエタロン67はレー
ザ共振器による得られる広帯域のレーザ光をその10分
の1程度までに狭帯域化する機能を有し、第2段目のエ
タロン41は2つの波長λ30、λ31を得る機能を有して
いる。
【0113】これらエタロン67、68は、それぞれ回
転ステージ69、70に設けられ、各エタロン駆動部7
1、72によりレーザ共振器光軸に対してその配置位置
が変化するものとなっている。
【0114】一方、ビームスプリッタ73がレーザ光の
出力光路上に配置され、狭帯域レーザ光の一部を分岐
し、これをミラー74、レンズ75、モニタ用エタロン
76、結像レンズ77を通してラインセンサ78に結像
する光学系が形成されている。又、この光学系には、参
照光源79からの参照光がミラー74を通して入射され
ている。
【0115】制御部80は、狭帯域レーザ光を波長λ3
0、λ31に制御する機能を有するもので、具体的に次の
各機能を有している。狭帯域レーザ光に含まれる各波長
λ30、λ31の各光量バランス変化を検出して各エタロン
67、68のうちバランス調整用のエタロン67のレー
ザ共振器光軸に対する配置位置を調整する光量調整手
段、狭帯域レーザ光に含まれる各波長λ30、λ31のうち
いずれか一方の波長が設定内であるかを検出して波長調
整用のエタロン68のレーザ共振器光軸に対する配置位
置を調整する波長調整手段である。
【0116】次に上記の如く構成された装置における波
長制御動作について説明する。各放電電極63、64間
で放電が発生すると、この放電励起によりレーザ共振器
レーザミラー60、61間にレーザ共振が起こる。この
レーザ光は、図18(a) に示すように広帯域であり、こ
れが第1段目のエタロン67を透過することにより同図
(b) に示すよう狭帯域化され、さらに第2段目のエタロ
ン68を透過することにより同図(c) に示すように2つ
の波長λ30、λ31に狭帯域化される。この狭帯域化によ
り2つの波長λ30、λ31の狭帯域レーザ光が出力され
る。
【0117】この狭帯域レーザ光の一部はビームスプリ
ッタ73により分岐し、これがミラー74、レンズ7
5、モニタ用エタロン76、結像レンズ77を通してラ
インセンサ78に結像する。これと共に参照光源79の
参照光が、ミラー74が入射してレンズ75、モニタ用
エタロン76、結像レンズ77を通してラインセンサ7
8に結像する。これによりラインセンサ78上には干渉
縞が生じる。図19はかかる干渉縞に対応したモニタ出
力波形を示している。
【0118】レーザ共振器の調整後、参照光源79の参
照光を用いて較正を行い、狭帯域レーザ光の発振波長λ
30、λ31と参照光との較正用パラメータを決定し、一定
時間毎に環境変化に応じた補正を行う。以下、この補正
について説明する。
【0119】先ず、制御部80は、図20の光量バラン
ス量算出流れ図に従い、ステップ#1において2つの波
長λ30、λ31間の光量(強度)バランスrを次式 r=(Dλ30−Dλ31)/(Dλ30+Dλ31) …(3) を用いて算出する。なお、Dλ30は波長λ30の光量、D
λ31は波長λ31の光量である。続いて制御部80は、ス
テップ#2においてバランス調整判断値r1、r2を決
定する。
【0120】次に制御部80は、図21に示す波長制御
流れ図に従い、ステップ#10においてラインセンサ7
8の出力信号を取り込み、次のステップ#11において
図18(c) に示す干渉縞のピークp1、p2を求めてそ
れぞれ波長に変換する。
【0121】次にステップ#12において (Dλ30−Dλ31)/(Dλ30+Dλ31)≧r1 であるかを判断し、この条件を満足すれば、制御部80
は、光量バランスが取れていないとして次のステップ#
13で光量バランス調整用のエタロン67のエタロン駆
動用パラメータを算出し、次にステップ#14において
このパラメータに従ってエタロン駆動部71を駆動して
回転ステージ69を回転させる。
【0122】この回転によりエタロン67は、レーザ共
振器光軸に対して配置位置が変化し、エタロン67への
レーザ光の入射角度が変化する。このエタロン67の配
置位置調整により2つの波長λ30、λ31の光量バランス
が調整される。
【0123】次に制御部80は、ステップ#15におい
て2つの波長λ30、λ31のうち一方の波長、例えば波長
λ30が設定内にあるかを判断する。すなわち、 |λ30−λ|≧ε を判断する。なお、他方の波長λ31については、レーザ
共振器内のエタロン67、68の特性により決定される
ので、制御のために確認の必要はない。
【0124】この判断の結果、上記条件を満足すれば、
制御部80は、波長λ30が設定外であるとして次のステ
ップ#16で波長調整用のエタロン68のエタロン駆動
用パラメータを算出し、次にステップ#17においてこ
のパラメータに従ってエタロン駆動部72を駆動して回
転ステージ70を回転させる。
【0125】この回転によりエタロン68は、レーザ共
振器光軸に対して配置位置が変化し、エタロン68への
レーザ光の入射角度が変化する。このエタロン68の配
置位置調整により2つの波長λ30、λ31の波長が設定内
に入る。
【0126】次に制御部80は、再び光量バランスの調
整を行なう。すなわち、制御部80は、ステップ#18
において (Dλ30−Dλ31)/(Dλ30+Dλ31)≧r2 であるかを判断し、この条件を満足すれば、光量バラン
スが取れていないとして次のステップ#19で光量バラ
ンス調整用のエタロン67のエタロン駆動用パラメータ
を算出し、次にステップ#20においてこのパラメータ
に従ってエタロン駆動部71を駆動して回転ステージ6
9を回転させる。
【0127】なお、大幅な光量バランスのくずれがある
場合、光量バランス調整の前に波長の調整を行なうと、
図19に示すように2つの波長λ30、λ31の干渉縞デー
タが得られなくなる可能性がある。
【0128】このように上記第4実施例においては、狭
帯域レーザ光の2つの波長λ30、λ31の各光量バランス
変化を検出して調整し、次に一方の波長λ30が設定内で
あるかを検出して波長調整するようにしたので、2つの
波長λ30、λ31を有する狭帯域レーザ光の波長を精度高
く安定に保持し制御できる。
【0129】従って、このように安定に制御された2つ
の波長λ30、λ31を有する狭帯域レーザ光をレーザ露光
装置に適用すれば、被処理体としての例えば半導体ウエ
ハにおける焦点深度を向上させることができ、実用性が
高い。
【0130】なお、上記第4実施例は次のように変形し
てもよい。例えば、エタロンを複数配置して複数の波長
を含む狭帯域レーザ光を出力する装置の波長制御にも適
用できる。
【0131】
【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、レ
ーザ露光において焦点深度を向上するための狭帯域レー
ザ光を出力できる狭帯域レーザ発振方法及びその装置を
提供できる。
【0132】又、本発明によれば、レーザ露光において
焦点深度を向上できるレーザ露光装置を提供できる。
又、本発明によれば、被処理体上の平坦度に応じて焦点
深度を変化させることができるレーザ露光装置を提供で
きる。
【0133】又、本発明によれば、レーザ露光において
焦点深度を向上するために2つ以上の波長帯域を有する
狭帯域レーザ光を出力するにあたって、その発振波長及
び光量バランスを常に安定に保つことができる狭帯域レ
ーザ発振装置を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係わるレーザ露光装置の第1実施例を
示す構成図。
【図2】同装置に適用される狭帯域レーザ発振装置の構
成図。
【図3】エタロンの配置位置をステップ状に変化したと
きの波長シフト量を示す図。
【図4】エタロンの配置位置を連続的に変化したときの
波長シフト量を示す図。
【図5】1回の露光における狭帯域レーザ光の波長変化
を示す図。
【図6】半導体ウエハ上における狭帯域レーザ光の各波
長の焦点面位置を示す図。
【図7】各波長の焦点深度を示す図。
【図8】狭帯域レーザ光の連続的な波長変化の一例を示
す図。
【図9】狭帯域レーザ光の連続的な波長変化の一例を示
す図。
【図10】狭帯域レーザ光の連続的な波長変化の一例を
示す図。
【図11】本発明に係わるレーザ露光装置の第2実施例
に適用される狭帯域レーザ発振装置の構成図。
【図12】同装置の発振波長を示す図。
【図13】半導体ウエハ上における狭帯域レーザ光の各
波長の焦点面位置を示す図。
【図14】本発明に係わるレーザ露光装置の第3実施例
を示す構成図。
【図15】半導体ウエハ表面の高低差に応じた波長の数
及びその間隔を示す図。
【図16】1回の露光における狭帯域レーザ光の波長変
化を示す図。
【図17】本発明に係わる狭帯域レーザ発振装置の第4
実施例を示す構成図。
【図18】同装置の発振波長を示す図。
【図19】同装置で波長調整を先に行なった場合の例を
示す図。
【図20】光量バランス調整判断値を求める流れ図。
【図21】波長制御動作の流れ図。
【図22】従来装置の構成図。
【図23】同装置の発振波長を示す図。
【図24】解像度と焦点深度との関係を示す図。
【図25】半導体ウエハにおける多層配線を示す図。
【符号の説明】
3…投影露光装置、8…反射鏡、9…走査ミラー、10
…複眼レンズ、12…コールドミラー、13…コンデン
サレンズ、14…レチクル、15…投影レンズ、16…
半導体ウエハ、20…狭帯域エキシマレーザ発振装置、
23a,23b…レーザ共振器ミラー、25…エタロ
ン、26…回転ステージ、27…ステッピングモータ、
32…波長安定化装置、33…制御装置、40,41…
エタロン、42,43…回転ステージ、44,45…ス
テッピングモータ、50…露光制御装置、60,61…
レーザミラー、67,68…エタロン、69,70…回
転ステージ、71,72…エタロン駆動部、78…ライ
ンセンサ、79…参照光源、80…制御部。

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザ共振器内に狭帯域化素子を配置
    し、この狭帯域化素子に入射するレーザ光の入射角度を
    断続的に可変することを特徴とする狭帯域レーザ発振方
    法。
  2. 【請求項2】 レーザ共振器内に狭帯域化素子を配置
    し、この狭帯域化素子に入射するレーザ光の入射角度を
    連続的に可変することを特徴とする狭帯域レーザ発振方
    法。
  3. 【請求項3】 レーザ共振器内に配置された狭帯域化素
    子と、この狭帯域化素子の前記レーザ共振器光軸に対す
    る配置位置を調整して前記狭帯域化素子に入射するレー
    ザ光の入射角度を断続的に可変する配置調整手段とを具
    備したことを特徴とする狭帯域レーザ発振装置。
  4. 【請求項4】 レーザ共振器内に配置された狭帯域化素
    子と、この狭帯域化素子の前記レーザ共振器光軸に対す
    る配置位置を調整して前記狭帯域化素子に入射するレー
    ザ光の入射角度を連続的に可変する配置調整手段とを具
    備したことを特徴とする狭帯域レーザ発振装置。
  5. 【請求項5】 配置調整手段は、狭帯域化素子の配置位
    置をステッピングモータの駆動によりステップ状に可変
    することを特徴とする請求項3又は4記載の狭帯域レー
    ザ発振装置。
  6. 【請求項6】 配置調整手段は、狭帯域化素子の配置位
    置をアナログモータの駆動により連続して可変すること
    を特徴とする請求項3又は4記載の狭帯域レーザ発振装
    置。
  7. 【請求項7】 狭帯域レーザ発振装置から出力された狭
    帯域レーザ光を露光光学系に入射してレチクルに形成さ
    れたパターンを被処理体に転写するレーザ露光装置にお
    いて、 前記狭帯域レーザ発振装置におけるレーザ共振器内に配
    置された狭帯域化素子と、 この狭帯域化素子の前記レーザ共振器光軸に対する配置
    位置を調整して前記狭帯域化素子に入射するレーザ光の
    入射角度を断続的に可変する配置調整手段と、を具備し
    たことを特徴とするレーザ露光装置。
  8. 【請求項8】 狭帯域レーザ発振装置から出力された狭
    帯域レーザ光を露光光学系に入射してレチクルに形成さ
    れたパターンを被処理体に転写するレーザ露光装置にお
    いて、 前記狭帯域レーザ発振装置におけるレーザ共振器内に配
    置された狭帯域化素子と、 この狭帯域化素子の前記レーザ共振器光軸に対する配置
    位置を調整して前記狭帯域化素子に入射するレーザ光の
    入射角度を連続的に可変する配置調整手段と、を具備し
    たことを特徴とするレーザ露光装置。
  9. 【請求項9】 配置調整手段は、1回の露光に用いるレ
    ーザ発振波長を1pmステップで断続的に可変すること
    を特徴とする請求項5記載のレーザ露光装置。
  10. 【請求項10】 狭帯域レーザ発振装置から出力された
    狭帯域レーザ光を露光光学系に入射してレチクルに形成
    されたパターンを被処理体に転写するレーザ露光装置に
    おいて、 前記被処理体に対する露光回数に応じた前記狭帯域レー
    ザ光に含まれる波長帯域の数及びその間隔を設定する発
    振設定手段と、 前記狭帯域レーザ発振装置におけるレーザ共振器内に配
    置された狭帯域化素子と、 前記発振設定手段により設定された波長帯域の数及びそ
    の間隔に基づいて前記狭帯域化素子の前記レーザ共振器
    光軸に対する配置位置を調整し、前記レーザ共振器から
    各波長帯域の狭帯域レーザ光を断続的に出力制御する露
    光制御手段と、を具備したことを特徴とするレーザ露光
    装置。
  11. 【請求項11】 露光制御手段は、露光回数に対する被
    処理体表面上の高低差を予め保持し、この被処理体表面
    上の高低差に対応した波長帯域の数及びその間隔を設定
    する機能を有することを特徴とする請求項10記載のレ
    ーザ露光装置。
  12. 【請求項12】 レーザ共振器内に少なくとも2つの狭
    帯域化素子を配置し、これら狭帯域化素子に入射するレ
    ーザ光の各入射角度をそれぞれ調整して少なくとも2つ
    の波長帯域を同時に有する狭帯域レーザ光を出力するこ
    とを特徴とする狭帯域レーザ発振方法。
  13. 【請求項13】 レーザ共振器内に配置された少なくと
    も2つの狭帯域化素子と、これら狭帯域化素子の前記レ
    ーザ共振器光軸に対する配置位置をそれぞれ調整して前
    記各狭帯域化素子に入射するレーザ光の入射角度を調整
    する発振調整手段とを具備したことを特徴とする狭帯域
    レーザ発振装置。
  14. 【請求項14】 狭帯域レーザ発振装置から出力された
    狭帯域レーザ光を露光光学系に入射してレチクルに形成
    されたパターンを被処理体に転写するレーザ露光装置に
    おいて、 前記狭帯域レーザ発振装置におけるレーザ共振器内に配
    置された少なくとも2つの狭帯域化素子と、これら狭帯
    域化素子の前記レーザ共振器光軸に対する配置位置を調
    整して前記狭帯域化素子に入射するレーザ光の入射角度
    を可変する発振調整手段とを具備したことを特徴とする
    レーザ露光装置。
  15. 【請求項15】 発振調整手段は、2つの狭帯域化素子
    の配置位置をそれぞれ調整し、2つの波長帯域の各中心
    波長の間隔を5pm以内とすることを特徴とする請求項
    14記載のレーザ露光装置。
  16. 【請求項16】 レーザ共振器内に配置された少なくと
    も2つの狭帯域化素子を通して少なくとも2つの波長帯
    域を有する狭帯域レーザ光を出力する狭帯域レーザ発振
    装置において、 前記狭帯域レーザ光に含まれる各波長帯域の各光量バラ
    ンス変化を検出して前記各狭帯域化素子のうちバランス
    調整用の狭帯域化素子の前記レーザ共振器の光軸に対す
    る配置位置を調整する光量調整手段と、 前記狭帯域レーザ光に含まれる各波長帯域のうちいずれ
    か一方の波長が設定内であるかを検出して前記各狭帯域
    化素子のうち波長調整用の狭帯域化素子の前記レーザ共
    振器の光軸に対する配置位置を調整する波長調整手段
    と、 を具備したことを特徴とする狭帯域レーザ発振装置。
JP20227693A 1993-08-16 1993-08-16 レーザ露光装置及び半導体装置の製造方法 Expired - Fee Related JP3325350B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP20227693A JP3325350B2 (ja) 1993-08-16 1993-08-16 レーザ露光装置及び半導体装置の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP20227693A JP3325350B2 (ja) 1993-08-16 1993-08-16 レーザ露光装置及び半導体装置の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0758393A true JPH0758393A (ja) 1995-03-03
JP3325350B2 JP3325350B2 (ja) 2002-09-17

Family

ID=16454861

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP20227693A Expired - Fee Related JP3325350B2 (ja) 1993-08-16 1993-08-16 レーザ露光装置及び半導体装置の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3325350B2 (ja)

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11204894A (ja) * 1998-01-13 1999-07-30 Matsushita Electron Corp エキシマレーザ発振装置、及びそれを用いた縮小投影露光装置、ならびにその露光装置を用いたパターン形成方法
JP2001085774A (ja) * 1999-09-09 2001-03-30 Nec Corp 波長可変レーザおよびレーザ発振波長切替方法
JP2002151391A (ja) * 2000-11-10 2002-05-24 Canon Inc 走査型露光装置及びデバイス製造方法
JP2002151392A (ja) * 2000-11-10 2002-05-24 Canon Inc 投影露光装置及びデバイス製造方法
JP2002151390A (ja) * 2000-11-10 2002-05-24 Canon Inc 投影露光装置及びデバイス製造方法
JP2002151388A (ja) * 2000-11-10 2002-05-24 Canon Inc 露光装置及びデバイス製造方法
JP2002232049A (ja) * 2001-02-02 2002-08-16 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 波長可変光フィルタ、レーザ装置及びレーザ波長安定化方法
JP2004510177A (ja) * 2000-07-25 2004-04-02 クボタ リサーチ アソシエーツ、インク. 記録媒体用の露光システム
JP2004537176A (ja) * 2001-07-27 2004-12-09 サイマー インコーポレイテッド リソグラフィ処理のためのレーザスペクトルエンジニアリング
JP2005079591A (ja) * 2003-08-29 2005-03-24 Asml Netherlands Bv リトグラフ装置、デバイス製造方法およびデバイス
JP2007329432A (ja) * 2006-06-09 2007-12-20 Canon Inc 露光装置
JP2008504684A (ja) * 2004-06-23 2008-02-14 サイマー インコーポレイテッド 帯域幅スペクトル制御のためのレーザ出力ビーム波面スプリッタ
JP2017511613A (ja) * 2014-04-16 2017-04-20 ディレクトフォトニクス インダストリーズ ゲーエムベーハーDirectphotonics Industries Gmbh レーザー光の波長を調整するためのレーザー光発生装置及び方法
JP2017130487A (ja) * 2016-01-18 2017-07-27 国立研究開発法人情報通信研究機構 2波長レーザー光混合によるミリ波、サブミリ波発生装置
WO2022003901A1 (ja) * 2020-07-02 2022-01-06 ギガフォトン株式会社 露光システム、露光方法、及び電子デバイスの製造方法
JP2023507070A (ja) * 2019-12-18 2023-02-21 サイマー リミテッド ライアビリティ カンパニー 光源装置用のエネルギー補正モジュール
WO2023135658A1 (ja) * 2022-01-11 2023-07-20 ギガフォトン株式会社 電子デバイスの製造方法、レーザ装置、及び波長シーケンス算出システム

Cited By (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11204894A (ja) * 1998-01-13 1999-07-30 Matsushita Electron Corp エキシマレーザ発振装置、及びそれを用いた縮小投影露光装置、ならびにその露光装置を用いたパターン形成方法
JP2001085774A (ja) * 1999-09-09 2001-03-30 Nec Corp 波長可変レーザおよびレーザ発振波長切替方法
JP2004510177A (ja) * 2000-07-25 2004-04-02 クボタ リサーチ アソシエーツ、インク. 記録媒体用の露光システム
JP2002151391A (ja) * 2000-11-10 2002-05-24 Canon Inc 走査型露光装置及びデバイス製造方法
JP2002151392A (ja) * 2000-11-10 2002-05-24 Canon Inc 投影露光装置及びデバイス製造方法
JP2002151390A (ja) * 2000-11-10 2002-05-24 Canon Inc 投影露光装置及びデバイス製造方法
JP2002151388A (ja) * 2000-11-10 2002-05-24 Canon Inc 露光装置及びデバイス製造方法
US6774982B2 (en) 2000-11-10 2004-08-10 Canon Kabushiki Kaisha Exposure apparatus and device manufacturing method using the same
JP2002232049A (ja) * 2001-02-02 2002-08-16 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 波長可変光フィルタ、レーザ装置及びレーザ波長安定化方法
JP2004537176A (ja) * 2001-07-27 2004-12-09 サイマー インコーポレイテッド リソグラフィ処理のためのレーザスペクトルエンジニアリング
JP2005079591A (ja) * 2003-08-29 2005-03-24 Asml Netherlands Bv リトグラフ装置、デバイス製造方法およびデバイス
JP2008504684A (ja) * 2004-06-23 2008-02-14 サイマー インコーポレイテッド 帯域幅スペクトル制御のためのレーザ出力ビーム波面スプリッタ
JP2013214772A (ja) * 2004-06-23 2013-10-17 Cymer Inc 帯域幅スペクトル制御のためのレーザ出力ビーム波面スプリッタ
JP2015222824A (ja) * 2004-06-23 2015-12-10 サイマー リミテッド ライアビリティ カンパニー 帯域幅スペクトル制御のためのレーザ出力ビーム波面スプリッタ
JP2007329432A (ja) * 2006-06-09 2007-12-20 Canon Inc 露光装置
US7477356B2 (en) 2006-06-09 2009-01-13 Canon Kabushiki Kaisha Exposure apparatus
JP2017511613A (ja) * 2014-04-16 2017-04-20 ディレクトフォトニクス インダストリーズ ゲーエムベーハーDirectphotonics Industries Gmbh レーザー光の波長を調整するためのレーザー光発生装置及び方法
JP2017130487A (ja) * 2016-01-18 2017-07-27 国立研究開発法人情報通信研究機構 2波長レーザー光混合によるミリ波、サブミリ波発生装置
JP2023507070A (ja) * 2019-12-18 2023-02-21 サイマー リミテッド ライアビリティ カンパニー 光源装置用のエネルギー補正モジュール
US11947268B2 (en) 2019-12-18 2024-04-02 Cymer, Llc Energy correction module for an optical source apparatus
WO2022003901A1 (ja) * 2020-07-02 2022-01-06 ギガフォトン株式会社 露光システム、露光方法、及び電子デバイスの製造方法
WO2023135658A1 (ja) * 2022-01-11 2023-07-20 ギガフォトン株式会社 電子デバイスの製造方法、レーザ装置、及び波長シーケンス算出システム

Also Published As

Publication number Publication date
JP3325350B2 (ja) 2002-09-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0758393A (ja) 狭帯域レーザ発振方法及びその装置及びこれを用いたレーザ露光装置
KR102257749B1 (ko) 웨이퍼 기반 광원 파라미터 제어
US7899095B2 (en) Laser lithography system with improved bandwidth control
TWI427878B (zh) 光源之主動光譜控制技術
JP2022136121A (ja) 単一リソグラフィ露光パスで複数の空間像を形成すること
US7088758B2 (en) Relax gas discharge laser lithography light source
US20070001127A1 (en) Active bandwidth control for a laser
JPH06260384A (ja) 露光量制御方法
KR20040002536A (ko) 레이저 광원 제어 방법 및 장치, 노광 방법 및 장치,그리고 디바이스 제조방법
JP3269231B2 (ja) 露光方法、光源装置、及び露光装置
US6322220B1 (en) Exposure apparatus and device manufacturing method using the same
JPH0354816A (ja) レーザ処理装置
KR102560078B1 (ko) 광원의 파장을 변조하는 장치 및 방법
JP2023500603A (ja) 放射のパルスのバーストを制御するための放射システム
US20080129974A1 (en) Exposure apparatus and device manufacturing method
US9966725B1 (en) Pulsed light beam spectral feature control
JP2008171961A (ja) レーザ装置、露光方法及び装置、並びにデバイス製造方法
CN113383469B (zh) 激光装置和电子器件的制造方法
JPH05251310A (ja) 露光制御装置
JP2526983B2 (ja) 露光装置
JP2006179600A (ja) 多段増幅型レーザシステム
JP2000357837A (ja) 超狭帯域化フッ素レーザ装置及びフッ素露光装置
JPH01309323A (ja) 投影光学装置
TWI777283B (zh) 控制由光學源產生之輸出光束之光譜屬性
JPH07170010A (ja) 光源装置

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees