JPH0755553A - 測定器 - Google Patents
測定器Info
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- JPH0755553A JPH0755553A JP20061093A JP20061093A JPH0755553A JP H0755553 A JPH0755553 A JP H0755553A JP 20061093 A JP20061093 A JP 20061093A JP 20061093 A JP20061093 A JP 20061093A JP H0755553 A JPH0755553 A JP H0755553A
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- Measurement Of Mechanical Vibrations Or Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は振動検出器と、振動変換器とを調整
するときの周波数特性試験効率を大幅に向上させるとと
もに、振動検出器の交換工事を行なうときの工事費を大
幅に低下させる。 【構成】 振動測定対象となる機器の振動測定動作に先
だって、振動変換器２によって振動検出器１の特性を測
定して補正値テーブルを作成するとともに、この補正テ
ーブルをフロッピーディスク１８に記憶させ、振動測定
対象となる機器の振動測定を行なうとき、振動検出器１
によって振動測定対象となる機器の振動を検出して振動
検出信号を生成し、振動変換器２によって前記補正テー
ブルを使用して前記振動検出信号を補正し、予め設定さ
れている伝送信号形式、例えば１−５ＶＤＣまたは４−
２０ｍＡの計測信号に変換して外部に出力する。
するときの周波数特性試験効率を大幅に向上させるとと
もに、振動検出器の交換工事を行なうときの工事費を大
幅に低下させる。 【構成】 振動測定対象となる機器の振動測定動作に先
だって、振動変換器２によって振動検出器１の特性を測
定して補正値テーブルを作成するとともに、この補正テ
ーブルをフロッピーディスク１８に記憶させ、振動測定
対象となる機器の振動測定を行なうとき、振動検出器１
によって振動測定対象となる機器の振動を検出して振動
検出信号を生成し、振動変換器２によって前記補正テー
ブルを使用して前記振動検出信号を補正し、予め設定さ
れている伝送信号形式、例えば１−５ＶＤＣまたは４−
２０ｍＡの計測信号に変換して外部に出力する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は発電用のタービンなどの
振動等を測定する測定器に関する。
振動等を測定する測定器に関する。
【０００２】
【従来の技術】発電用のタービンなどの振動等を測定す
る振動測定器として、従来、図３に示す測定器が知られ
ている。
る振動測定器として、従来、図３に示す測定器が知られ
ている。
【０００３】この図に示す振動測定器は振動検出器１０
１と、振動変換器１０２とを備えており、振動検出器１
０１によって振動測定対象となる機器の振動を検出して
振動検出信号を生成し、振動変換器１０２によって前記
振動検出信号を予め設定されている信号形式、例えば１
−５ＶＤＣまたは４−２０ｍＡの計測信号に変換して外
部に出力する。
１と、振動変換器１０２とを備えており、振動検出器１
０１によって振動測定対象となる機器の振動を検出して
振動検出信号を生成し、振動変換器１０２によって前記
振動検出信号を予め設定されている信号形式、例えば１
−５ＶＤＣまたは４−２０ｍＡの計測信号に変換して外
部に出力する。
【０００４】振動検出器１０１は振動測定対象となる機
器に固定される縦断面Ｅ字状のケース１０３と、このケ
ース１０３の中央突起上に設けられる永久磁石１０４
と、この永久磁石１０４に対し、可動自在に挿通される
筒状のコイル１０５と、一端が前記ケース１０３に取り
付けられ、他端が前記コイル１０５に取り付けられて、
前記ケース１０３に対し、前記コイル１０５を可動自在
に支持するバネ１０６とを備えており、振動測定対象と
なる機器が振動しているとき、この振動およびバネ１０
６そのものの固有バネ定数、永久磁石１０４の磁束密
度、永久磁石１０４の磁束中をコイル１０５が横切るス
ピード、その振幅によって決まる起電圧（電圧信号）を
生成し、これを振動変換器１０２に供給する。
器に固定される縦断面Ｅ字状のケース１０３と、このケ
ース１０３の中央突起上に設けられる永久磁石１０４
と、この永久磁石１０４に対し、可動自在に挿通される
筒状のコイル１０５と、一端が前記ケース１０３に取り
付けられ、他端が前記コイル１０５に取り付けられて、
前記ケース１０３に対し、前記コイル１０５を可動自在
に支持するバネ１０６とを備えており、振動測定対象と
なる機器が振動しているとき、この振動およびバネ１０
６そのものの固有バネ定数、永久磁石１０４の磁束密
度、永久磁石１０４の磁束中をコイル１０５が横切るス
ピード、その振幅によって決まる起電圧（電圧信号）を
生成し、これを振動変換器１０２に供給する。
【０００５】振動変換器１０２は前記振動検出器１０１
から出力される電圧信号を取り込むとともに、積分して
積分信号を生成する積分回路１０７と、この積分回路１
０７から出力される積分信号を取り込むとともに、整流
して直流信号（計測信号）を生成する整流回路１０８
と、この整流回路１０８から出力される計測信号を取り
込んで増幅する増幅回路１０９とを備えており、前記振
動検出器１０１から出力される電圧信号を取り込むとと
もに、これを積分して整流し、この整流処理によって得
られた直流信号を増幅して１−５ＶＤＣまたは４−２０
ｍＡＤＣの計測信号を生成し、これを外部に出力する。
から出力される電圧信号を取り込むとともに、積分して
積分信号を生成する積分回路１０７と、この積分回路１
０７から出力される積分信号を取り込むとともに、整流
して直流信号（計測信号）を生成する整流回路１０８
と、この整流回路１０８から出力される計測信号を取り
込んで増幅する増幅回路１０９とを備えており、前記振
動検出器１０１から出力される電圧信号を取り込むとと
もに、これを積分して整流し、この整流処理によって得
られた直流信号を増幅して１−５ＶＤＣまたは４−２０
ｍＡＤＣの計測信号を生成し、これを外部に出力する。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の測定器においては、次に述べるような問題があ
った。
た従来の測定器においては、次に述べるような問題があ
った。
【０００７】すなわち、各振動検出器１０１毎に、バネ
定数や磁束密度などの固有の特性を持っているため、各
振動検出器１０１毎に、各振動変換器１０２を調整し
て、これら各振動検出器１０１と各振動変換器１０２と
を常に１対１の関係にしている。
定数や磁束密度などの固有の特性を持っているため、各
振動検出器１０１毎に、各振動変換器１０２を調整し
て、これら各振動検出器１０１と各振動変換器１０２と
を常に１対１の関係にしている。
【０００８】このため、振動検出器１０１を交換する場
合、交換対象となる振動検出器１０１と、この振動検出
器１０１と対になっている振動変換器１０２を対にして
交換しなければならない。
合、交換対象となる振動検出器１０１と、この振動検出
器１０１と対になっている振動変換器１０２を対にして
交換しなければならない。
【０００９】このため、振動検出器１０１の交換を行な
う際、交換目的ではない振動変換器１０２をも交換する
ことになり、工事費が高くなってしまうという問題があ
った。
う際、交換目的ではない振動変換器１０２をも交換する
ことになり、工事費が高くなってしまうという問題があ
った。
【００１０】また、振動変換器１０２を調整する場合、
加振周波数特性試験によって振動検出器１０１を振動さ
せてながら、試行錯誤で振動検出器１０１と、振動変換
器１０２とを調整しているので、調整に時間がかかり過
ぎるという問題があった。
加振周波数特性試験によって振動検出器１０１を振動さ
せてながら、試行錯誤で振動検出器１０１と、振動変換
器１０２とを調整しているので、調整に時間がかかり過
ぎるという問題があった。
【００１１】本発明は上記の事情に鑑み、振動検出器
と、振動変換器とを調整するときの周波数特性試験効率
を大幅に向上させることができるとともに、振動検出器
の交換工事を行なうときの工事費を大幅に低下させるこ
とができる測定器を提供することを目的としている。
と、振動変換器とを調整するときの周波数特性試験効率
を大幅に向上させることができるとともに、振動検出器
の交換工事を行なうときの工事費を大幅に低下させるこ
とができる測定器を提供することを目的としている。
【００１２】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明は、検出器によって測定対象となる機器の状
態を電気信号に変換し、変換器によって前記電気信号を
予め設定されている形式の信号に変換して出力する測定
器において、前記変換器は、測定動作に先だって前記検
出器が予め設定されている状態にされているとき、前記
検出器から出力される電気信号を取り込んで特性を検出
して外部記憶媒体に記憶させる特性検出部と、この特性
検出部によって検出された特性または外部記憶媒体に記
憶されている特性に基づいて前記検出器から出力される
電気信号を補正するのに必要な補正率を演算する補正率
演算部と、測定動作を行なうとき、前記検出器から出力
される電気信号を取り込むとともに、前記補正率演算部
で得られた補正率に基づいて補正する補正演算部とを備
えたことを特徴としている。
めに本発明は、検出器によって測定対象となる機器の状
態を電気信号に変換し、変換器によって前記電気信号を
予め設定されている形式の信号に変換して出力する測定
器において、前記変換器は、測定動作に先だって前記検
出器が予め設定されている状態にされているとき、前記
検出器から出力される電気信号を取り込んで特性を検出
して外部記憶媒体に記憶させる特性検出部と、この特性
検出部によって検出された特性または外部記憶媒体に記
憶されている特性に基づいて前記検出器から出力される
電気信号を補正するのに必要な補正率を演算する補正率
演算部と、測定動作を行なうとき、前記検出器から出力
される電気信号を取り込むとともに、前記補正率演算部
で得られた補正率に基づいて補正する補正演算部とを備
えたことを特徴としている。
【００１３】
【作用】上記の構成において、測定動作に先だって検出
器が予め設定されている状態にされているとき、前記変
換器の特性検出部によって、前記検出器から出力される
電気信号が取り込まれて特性が検出され、これが外部記
憶媒体に記憶されるとともに、補正率演算部によって前
記特性検出部で検出された特性または前記外部記憶媒体
に記憶されている特性に基づき前記検出器から出力され
る電気信号を補正するのに必要な補正率が演算され、測
定動作を行なうとき、補正演算部によって前記検出器か
ら出力される電気信号が取り込まれるとともに、前記補
正率演算部で得られた補正率に基づき補正される。
器が予め設定されている状態にされているとき、前記変
換器の特性検出部によって、前記検出器から出力される
電気信号が取り込まれて特性が検出され、これが外部記
憶媒体に記憶されるとともに、補正率演算部によって前
記特性検出部で検出された特性または前記外部記憶媒体
に記憶されている特性に基づき前記検出器から出力され
る電気信号を補正するのに必要な補正率が演算され、測
定動作を行なうとき、補正演算部によって前記検出器か
ら出力される電気信号が取り込まれるとともに、前記補
正率演算部で得られた補正率に基づき補正される。
【００１４】
【実施例】図１は本発明による測定器の一実施例を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【００１５】この図に示す測定器は振動検出器１と、振
動変換器２とを備えており、振動測定対象となる機器の
振動測定動作に先だって、振動変換器２によって振動検
出器１の特性が測定されて補正値テーブルが作成され、
振動測定対象となる機器の振動測定を行なうとき、振動
検出器１によって振動測定対象となる機器の振動を検出
して振動検出信号を生成し、振動変換器２によって前記
振動検出信号を前記補正テーブルを使用して補正し、予
め設定されている伝送信号形式、例えば１−５ＶＤＣま
たは４−２０ｍＡの計測信号に変換して外部に出力す
る。
動変換器２とを備えており、振動測定対象となる機器の
振動測定動作に先だって、振動変換器２によって振動検
出器１の特性が測定されて補正値テーブルが作成され、
振動測定対象となる機器の振動測定を行なうとき、振動
検出器１によって振動測定対象となる機器の振動を検出
して振動検出信号を生成し、振動変換器２によって前記
振動検出信号を前記補正テーブルを使用して補正し、予
め設定されている伝送信号形式、例えば１−５ＶＤＣま
たは４−２０ｍＡの計測信号に変換して外部に出力す
る。
【００１６】振動検出器１は振動測定対象となる機器に
固定される縦断面Ｅ字状のケース３と、このケース３の
中央突起上に設けられる永久磁石４と、この永久磁石４
に対し、可動自在に挿通される筒状のコイル５と、一端
が前記ケース３に取り付けられ、他端が前記コイル５に
取り付けられて、前記ケース３に対し、前記コイル５を
可動自在に支持するバネ６とを備えており、振動測定対
象となる機器が振動しているとき、この振動およびバネ
６そのものの固有バネ定数、永久磁石４の磁束密度、永
久磁石４の磁束中をコイル５が横切るスピード、その振
幅によって決まる起電圧（電圧信号）を生成し、これを
振動変換器２に供給する。
固定される縦断面Ｅ字状のケース３と、このケース３の
中央突起上に設けられる永久磁石４と、この永久磁石４
に対し、可動自在に挿通される筒状のコイル５と、一端
が前記ケース３に取り付けられ、他端が前記コイル５に
取り付けられて、前記ケース３に対し、前記コイル５を
可動自在に支持するバネ６とを備えており、振動測定対
象となる機器が振動しているとき、この振動およびバネ
６そのものの固有バネ定数、永久磁石４の磁束密度、永
久磁石４の磁束中をコイル５が横切るスピード、その振
幅によって決まる起電圧（電圧信号）を生成し、これを
振動変換器２に供給する。
【００１７】この場合、起電圧の値は振動振幅値と、振
動周波数とに基づいて次式に示す値となる。
動周波数とに基づいて次式に示す値となる。
【００１８】Ｅ0 ＝ｋ・Ａ・ｆ Ｅ0 ：起電圧の値。
【００１９】ｋ：定数。
【００２０】Ａ：振動振幅の値。
【００２１】ｆ：振動周波数の値。
【００２２】振動変換器２はＡ／Ｄ変換回路１０と、ス
イッチ１１と、テーブルセレクタ回路１２と、振動振幅
テーブル１３と、理想補正率演算テーブル１４と、補正
演算回路１５と、出力ポート回路１６とを備えており、
振動測定対象となる機器の振動測定動作に先だって、振
動検出器１の特性を測定して補正値テーブルを作成し、
振動測定対象となる機器の振動測定を行なうとき、振動
検出器１から出力される電圧信号を取り込むとともに、
前記補正テーブルを使用して前記電圧信号を補正し、予
め設定されている信号形式、例えば１−５ＶＤＣまたは
４−２０ｍＡの計測信号に変換して外部に出力する。
イッチ１１と、テーブルセレクタ回路１２と、振動振幅
テーブル１３と、理想補正率演算テーブル１４と、補正
演算回路１５と、出力ポート回路１６とを備えており、
振動測定対象となる機器の振動測定動作に先だって、振
動検出器１の特性を測定して補正値テーブルを作成し、
振動測定対象となる機器の振動測定を行なうとき、振動
検出器１から出力される電圧信号を取り込むとともに、
前記補正テーブルを使用して前記電圧信号を補正し、予
め設定されている信号形式、例えば１−５ＶＤＣまたは
４−２０ｍＡの計測信号に変換して外部に出力する。
【００２３】Ａ／Ｄ変換回路１０は前記振動検出器１か
ら出力される電圧信号を取り込むとともに、これを予め
設定されているサンプリング周期でサンプリングしなが
らＡ／Ｄ変換（アナログ／デジタル変換）してデジタル
形式の計測信号を生成し、これをスイッチ１１に供給す
る。
ら出力される電圧信号を取り込むとともに、これを予め
設定されているサンプリング周期でサンプリングしなが
らＡ／Ｄ変換（アナログ／デジタル変換）してデジタル
形式の計測信号を生成し、これをスイッチ１１に供給す
る。
【００２４】スイッチ１１は加振周波数特性試験を行な
って前記振動検出器１の特性と、振動変換器１の特性と
を調整するとき、前記Ａ／Ｄ変換回路１０から出力され
る計測信号をテーブルセレクタ回路１２に導き、また振
動測定対象となる機器の振動測定を行なうとき、前記Ａ
／Ｄ変換回路１０から出力される計測信号を補正演算回
路１５に導く。
って前記振動検出器１の特性と、振動変換器１の特性と
を調整するとき、前記Ａ／Ｄ変換回路１０から出力され
る計測信号をテーブルセレクタ回路１２に導き、また振
動測定対象となる機器の振動測定を行なうとき、前記Ａ
／Ｄ変換回路１０から出力される計測信号を補正演算回
路１５に導く。
【００２５】テーブルセレクタ回路１２は外部から入力
される振動条件信号に基づいて前記スイッチ１１から出
力される計測信号を各振動振幅毎に分けて振動振幅テー
ブル１３に供給する。
される振動条件信号に基づいて前記スイッチ１１から出
力される計測信号を各振動振幅毎に分けて振動振幅テー
ブル１３に供給する。
【００２６】振動振幅テーブル１３は各振動振幅毎に区
分された複数の記憶テーブル１７を備えており、前記テ
ーブルセレクタ回路１２から各振動振幅毎に出力される
各振動周波数の計測信号を取り込んで対応する記憶テー
ブル１７に格納したり、バックアップ用のデータとして
外部のフロッピーディスク１８に格納したり、このフロ
ッピーディスク１８に格納されている各振動振幅毎の計
測信号を読み出してこれを各記憶テーブル１７に格納し
たりする。そして、各記憶テーブル１７に記憶されてい
る各振動振幅毎の計測信号を読み出して理想補正率演算
テーブル１４に供給する。
分された複数の記憶テーブル１７を備えており、前記テ
ーブルセレクタ回路１２から各振動振幅毎に出力される
各振動周波数の計測信号を取り込んで対応する記憶テー
ブル１７に格納したり、バックアップ用のデータとして
外部のフロッピーディスク１８に格納したり、このフロ
ッピーディスク１８に格納されている各振動振幅毎の計
測信号を読み出してこれを各記憶テーブル１７に格納し
たりする。そして、各記憶テーブル１７に記憶されてい
る各振動振幅毎の計測信号を読み出して理想補正率演算
テーブル１４に供給する。
【００２７】理想補正率演算テーブル１４は前記振動振
幅テーブル１３から出力される各振動振幅毎の計測信号
を取り込むとともに、これらの各計測信号の周波数特性
に基づいて前記振動検出器１の特性を補正するのに必要
な理想的な補正率を演算し、この補正率を補正演算回路
１５に供給する。
幅テーブル１３から出力される各振動振幅毎の計測信号
を取り込むとともに、これらの各計測信号の周波数特性
に基づいて前記振動検出器１の特性を補正するのに必要
な理想的な補正率を演算し、この補正率を補正演算回路
１５に供給する。
【００２８】補正演算回路１５は加振周波数特性試験が
終了したとき、前記理想補正率演算テーブル１４から出
力される補正率を取り込んで記憶し、この後振動測定対
象となる機器の振動測定を行なうとき、前記スイッチ１
１から出力される計測信号を取り込むとともに、記憶し
ている補正率に基づいて前記計測信号を補正して出力ポ
ート回路１６に供給する。
終了したとき、前記理想補正率演算テーブル１４から出
力される補正率を取り込んで記憶し、この後振動測定対
象となる機器の振動測定を行なうとき、前記スイッチ１
１から出力される計測信号を取り込むとともに、記憶し
ている補正率に基づいて前記計測信号を補正して出力ポ
ート回路１６に供給する。
【００２９】出力ポート回路１６は前記補正演算回路１
５から出力される補正済みの計測信号を取り込むととも
に、予め設定されている伝送信号形式、例えば例えば１
−５ＶＤＣまたは４−２０ｍＡの計測信号に変換して外
部に出力する。
５から出力される補正済みの計測信号を取り込むととも
に、予め設定されている伝送信号形式、例えば例えば１
−５ＶＤＣまたは４−２０ｍＡの計測信号に変換して外
部に出力する。
【００３０】次に、図２に示すブロック図を参照しなが
ら、この実施例の調整動作と、計測動作と、振動検出器
１の交換動作とを順次、説明する。
ら、この実施例の調整動作と、計測動作と、振動検出器
１の交換動作とを順次、説明する。
【００３１】＜調整動作＞まず、振動測定対象となる機
器の振動測定動作に先だって、振動検出器１の特性測定
処理と、振動変換器２の補正率演算処理とが行われる。
器の振動測定動作に先だって、振動検出器１の特性測定
処理と、振動変換器２の補正率演算処理とが行われる。
【００３２】この特性測定処理および補正率演算処理で
は、外部に設けられた加振制御装置２０によって予め設
定されている複数の振動振幅値のうち、最も小さい値の
振動振幅値が選択されるとともに、最も低い振動周波数
値が選択されて、これら振動振幅値および振動周波数値
を示す振動条件信号が生成され、これが加振機２１と、
振動変換器２のテーブルセレクタ回路１２とに供給され
る。
は、外部に設けられた加振制御装置２０によって予め設
定されている複数の振動振幅値のうち、最も小さい値の
振動振幅値が選択されるとともに、最も低い振動周波数
値が選択されて、これら振動振幅値および振動周波数値
を示す振動条件信号が生成され、これが加振機２１と、
振動変換器２のテーブルセレクタ回路１２とに供給され
る。
【００３３】これにより、加振機２１によって振動力が
生成されて振動検出器１が振動させられ、この振動検出
器１から電圧信号（振動検出信号）が出力されて、これ
が振動変換器２に供給される。
生成されて振動検出器１が振動させられ、この振動検出
器１から電圧信号（振動検出信号）が出力されて、これ
が振動変換器２に供給される。
【００３４】また、この動作と並行して、振動変換器２
のＡ／Ｄ変換回路１０によって前記振動検出器１から出
力される電圧信号がＡ／Ｄ変換されてデジタル形式の計
測信号が生成されるとともに、スイッチ１１によってこ
れが取り込まれてテーブルセレクタ回路１２に供給され
る。
のＡ／Ｄ変換回路１０によって前記振動検出器１から出
力される電圧信号がＡ／Ｄ変換されてデジタル形式の計
測信号が生成されるとともに、スイッチ１１によってこ
れが取り込まれてテーブルセレクタ回路１２に供給され
る。
【００３５】そして、このテーブルセレクタ回路１２に
よって前記加振制御装置２０から出力される振動条件信
号に基づき前記スイッチ１１から出力される計測信号が
対応する振動振幅に振り分けられて振動振幅テーブル１
３の対応する記憶テーブル１７に記憶される。
よって前記加振制御装置２０から出力される振動条件信
号に基づき前記スイッチ１１から出力される計測信号が
対応する振動振幅に振り分けられて振動振幅テーブル１
３の対応する記憶テーブル１７に記憶される。
【００３６】この後、加振制御装置２０によって加振機
２１および振動変換器２のテーブルセレクタ回路１２が
制御されて、これら加振機２１および振動変換器２のテ
ーブルセレクタ回路１２が同一振動振幅値に保持された
まま、振動周波数のみが上昇させられ、これによって得
られた各振動周波数の計測信号が振動振幅テーブル１３
の対応する記憶テーブル１７に時系列的に記憶される。
２１および振動変換器２のテーブルセレクタ回路１２が
制御されて、これら加振機２１および振動変換器２のテ
ーブルセレクタ回路１２が同一振動振幅値に保持された
まま、振動周波数のみが上昇させられ、これによって得
られた各振動周波数の計測信号が振動振幅テーブル１３
の対応する記憶テーブル１７に時系列的に記憶される。
【００３７】そして、この振動振幅において、各振動周
波数における振動検出器１の特性測定が終了すれば、加
振制御装置２０によって加振機２１および振動変換器２
のテーブルセレクタ回路１２が制御されて、次の振動振
幅値が選択された後、上述した処理が実行されて各振動
周波数の計測信号が振動振幅テーブル１３の前記振動振
幅値に対応する次の記憶テーブル１７に時系列的に記憶
される。
波数における振動検出器１の特性測定が終了すれば、加
振制御装置２０によって加振機２１および振動変換器２
のテーブルセレクタ回路１２が制御されて、次の振動振
幅値が選択された後、上述した処理が実行されて各振動
周波数の計測信号が振動振幅テーブル１３の前記振動振
幅値に対応する次の記憶テーブル１７に時系列的に記憶
される。
【００３８】以下、加振制御装置２０によって加振機２
１および振動変換器２のテーブルセレクタ回路１２が制
御されて、振動振幅値が順次、切り替えられて各振動振
幅値毎に、各振動周波数の計測信号が収集され、対応す
る記憶テーブル１７に時系列的に記憶される。
１および振動変換器２のテーブルセレクタ回路１２が制
御されて、振動振幅値が順次、切り替えられて各振動振
幅値毎に、各振動周波数の計測信号が収集され、対応す
る記憶テーブル１７に時系列的に記憶される。
【００３９】そして、この特性測定処理が終了すれば、
各記憶テーブル１７に格納されている計測信号がバック
アップ用のデータとしてフロッピーディスク１８に転送
されて格納されるとともに、理想補正率演算テーブル１
４によって振動振幅テーブル１３の各記憶テーブル１７
に格納されている各振動振幅毎の計測信号が取り込ま
れ、これらの各計測信号の周波数特性に基づき、前記振
動検出器１の特性を補正するのに必要な理想的な補正率
が演算され、この補正率が補正演算回路１５に供給され
て記憶される。
各記憶テーブル１７に格納されている計測信号がバック
アップ用のデータとしてフロッピーディスク１８に転送
されて格納されるとともに、理想補正率演算テーブル１
４によって振動振幅テーブル１３の各記憶テーブル１７
に格納されている各振動振幅毎の計測信号が取り込ま
れ、これらの各計測信号の周波数特性に基づき、前記振
動検出器１の特性を補正するのに必要な理想的な補正率
が演算され、この補正率が補正演算回路１５に供給され
て記憶される。
【００４０】＜計測動作＞そして、上述した調整動作が
終了して計測動作が開始されれば、振動測定対象となる
機器の振動に伴って、振動検出器１から電圧信号が出力
され、これが振動変換器２に供給される。
終了して計測動作が開始されれば、振動測定対象となる
機器の振動に伴って、振動検出器１から電圧信号が出力
され、これが振動変換器２に供給される。
【００４１】そして、振動変換器２のＡ／Ｄ変換回路１
０によって前記振動検出器１から出力される電圧信号が
Ａ／Ｄ変換されてデジタル形式の計測信号が生成される
とともに、スイッチ１１によってこれが取り込まれて補
正演算回路１５に供給される。
０によって前記振動検出器１から出力される電圧信号が
Ａ／Ｄ変換されてデジタル形式の計測信号が生成される
とともに、スイッチ１１によってこれが取り込まれて補
正演算回路１５に供給される。
【００４２】これにより、補正演算回路１５によって前
記スイッチ１１から出力される計測信号が取り込まれる
とともに、記憶している補正率に基づいて前記計測信号
が補正されて出力ポート回路１６に供給され、ここで予
め設定されている伝送信号形式、例えば例えば１−５Ｖ
ＤＣまたは４−２０ｍＡの計測信号に変換されて外部に
出力される。
記スイッチ１１から出力される計測信号が取り込まれる
とともに、記憶している補正率に基づいて前記計測信号
が補正されて出力ポート回路１６に供給され、ここで予
め設定されている伝送信号形式、例えば例えば１−５Ｖ
ＤＣまたは４−２０ｍＡの計測信号に変換されて外部に
出力される。
【００４３】＜振動検出器１の交換動作＞また、何等か
の理由により、振動検出器１を交換する必要が生じたと
きには、振動測定対象となる機器から交換対象となる振
動検出器１が取り外された後、前記機器に新たな振動検
出器１が取り付けられるとともに、この振動検出器１と
既設の振動変換器２とが結線される。
の理由により、振動検出器１を交換する必要が生じたと
きには、振動測定対象となる機器から交換対象となる振
動検出器１が取り外された後、前記機器に新たな振動検
出器１が取り付けられるとともに、この振動検出器１と
既設の振動変換器２とが結線される。
【００４４】次いで、新たな振動検出器１の特性データ
がバックアップされているフロッピーディスク１８内に
格納されている各振動振幅値毎に、各振動周波数の計測
信号が前記振動変換器２の振動振幅テーブル１３にダウ
ンロードされる。
がバックアップされているフロッピーディスク１８内に
格納されている各振動振幅値毎に、各振動周波数の計測
信号が前記振動変換器２の振動振幅テーブル１３にダウ
ンロードされる。
【００４５】これによって、この振動変換器２の理想補
正率演算テーブル１４によって振動振幅テーブル１３の
各記憶テーブル１７に格納されている各振動振幅毎の計
測信号が取り込まれ、これらの各計測信号の周波数特性
に基づき、前記振動検出器１の特性を補正するのに必要
な理想的な補正率が演算され、この補正率が補正演算回
路１５に供給されて記憶される。
正率演算テーブル１４によって振動振幅テーブル１３の
各記憶テーブル１７に格納されている各振動振幅毎の計
測信号が取り込まれ、これらの各計測信号の周波数特性
に基づき、前記振動検出器１の特性を補正するのに必要
な理想的な補正率が演算され、この補正率が補正演算回
路１５に供給されて記憶される。
【００４６】このようにこの実施例においては、振動測
定対象となる機器の振動測定動作に先だって、振動変換
器２によって振動検出器１の特性が測定されて補正値テ
ーブルが作成され、振動測定対象となる機器の振動測定
を行なうとき、振動検出器１によって振動測定対象とな
る機器の振動を検出して振動検出信号を生成し、振動変
換器２によって前記補正テーブルを使用して前記振動検
出信号を補正し、予め設定されている伝送信号形式、例
えば１−５ＶＤＣまたは４−２０ｍＡの計測信号に変換
して外部に出力するようにしたので、振動検出器１と、
振動変換器２とを調整するときの周波数特性試験効率を
大幅に向上させることができる。
定対象となる機器の振動測定動作に先だって、振動変換
器２によって振動検出器１の特性が測定されて補正値テ
ーブルが作成され、振動測定対象となる機器の振動測定
を行なうとき、振動検出器１によって振動測定対象とな
る機器の振動を検出して振動検出信号を生成し、振動変
換器２によって前記補正テーブルを使用して前記振動検
出信号を補正し、予め設定されている伝送信号形式、例
えば１−５ＶＤＣまたは４−２０ｍＡの計測信号に変換
して外部に出力するようにしたので、振動検出器１と、
振動変換器２とを調整するときの周波数特性試験効率を
大幅に向上させることができる。
【００４７】また、この実施例においては、振動変換器
２に設けられたＡ／Ｄ変換回路１０によって振動検出器
１から出力されるアナログ形式の電圧信号をデジタル形
式の計測信号に変換した後、デジタル処理して補正率を
演算するようにしているので、前記補正率を外部のフロ
ッピーディスク１８などに保存することができるととも
に、振動検出器１と、振動変換器２との組み合わせを１
対ｎの関係にし、これによって振動検出器１および振動
変換器２の互換性を大幅に向上させることができ、振動
検出器１の交換工事を行なうときの工事費を大幅に低下
させることができる。
２に設けられたＡ／Ｄ変換回路１０によって振動検出器
１から出力されるアナログ形式の電圧信号をデジタル形
式の計測信号に変換した後、デジタル処理して補正率を
演算するようにしているので、前記補正率を外部のフロ
ッピーディスク１８などに保存することができるととも
に、振動検出器１と、振動変換器２との組み合わせを１
対ｎの関係にし、これによって振動検出器１および振動
変換器２の互換性を大幅に向上させることができ、振動
検出器１の交換工事を行なうときの工事費を大幅に低下
させることができる。
【００４８】また、上述した実施例においては、電磁誘
導の原理を応用した振動の振幅を測定する振動測定器を
例にとって、本発明による測定器を説明しているが、他
の測定原理を用いた測定器、例えば電磁誘導の原理を応
用して機械的な動きを測定する伸び計など、他の測定器
にも同じ考え方を適用するようにしても良い。
導の原理を応用した振動の振幅を測定する振動測定器を
例にとって、本発明による測定器を説明しているが、他
の測定原理を用いた測定器、例えば電磁誘導の原理を応
用して機械的な動きを測定する伸び計など、他の測定器
にも同じ考え方を適用するようにしても良い。
【００４９】この場合、機械的な動きを測定する測定器
では、前もって実施する試験において、検出器固有の特
性を求め、この特性と別に設定された理想的な補正特性
から検出器固有の補正特性を求め、この補正特性を変換
器に与えて、当該検出器と組み合わせるようにすれば良
い。
では、前もって実施する試験において、検出器固有の特
性を求め、この特性と別に設定された理想的な補正特性
から検出器固有の補正特性を求め、この補正特性を変換
器に与えて、当該検出器と組み合わせるようにすれば良
い。
【００５０】これによって、検出器と変換器との互換性
を確保することができる。
を確保することができる。
【００５１】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、振
動検出器と、振動変換器とを調整するときの周波数特性
試験効率を大幅に向上させることができるとともに、振
動検出器の交換工事を行なうときの工事費を大幅に低下
させることができる。
動検出器と、振動変換器とを調整するときの周波数特性
試験効率を大幅に向上させることができるとともに、振
動検出器の交換工事を行なうときの工事費を大幅に低下
させることができる。
【図１】本発明による測定器の一実施例を示すブロック
図である。
図である。
【図２】図１に示す測定器の動作例を示す模式図であ
る。
る。
【図３】従来から知られている振動測定器の回路例を示
すブロック図である。
すブロック図である。
１ 振動検出器（検出器） ２ 振動変換器（変換器） ３ ケース ４ 永久磁石 ５ コイル ６ バネ １０ Ａ／Ｄ変換回路 １１ スイッチ １２ テーブルセレクタ回路（特性検出部） １３ 振動振幅テーブル（特性検出部） １４ 理想補正率演算テーブル（補正率演算部） １５ 補正演算回路（補正演算部） １６ 出力ポート回路 １８ フロッピーディスク（外部記憶媒体）
Claims (1)
- 【請求項１】 検出器によって測定対象となる機器の状
態を電気信号に変換し、変換器によって前記電気信号を
予め設定されている形式の信号に変換して出力する測定
器において、 前記変換器は、 測定動作に先だって前記検出器が予め設定されている状
態にされているとき、前記検出器から出力される電気信
号を取り込んで特性を検出して外部記憶媒体に記憶させ
る特性検出部と、 この特性検出部によって検出された特性または外部記憶
媒体に記憶されている特性に基づいて前記検出器から出
力される電気信号を補正するのに必要な補正率を演算す
る補正率演算部と、 測定動作を行なうとき、前記検出器から出力される電気
信号を取り込むとともに、前記補正率演算部で得られた
補正率に基づいて補正する補正演算部と、 を備えたことを特徴とする測定器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20061093A JPH0755553A (ja) | 1993-08-12 | 1993-08-12 | 測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20061093A JPH0755553A (ja) | 1993-08-12 | 1993-08-12 | 測定器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0755553A true JPH0755553A (ja) | 1995-03-03 |
Family
ID=16427234
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20061093A Pending JPH0755553A (ja) | 1993-08-12 | 1993-08-12 | 測定器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0755553A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105203203A (zh) * | 2015-09-07 | 2015-12-30 | 中国科学院地质与地球物理研究所 | 一种基于磁场的微振动测量装置及其测量方法 |
| JP6276484B1 (ja) * | 2016-06-03 | 2018-02-07 | 株式会社テイエルブイ | センサ装置及びセンサの補正方法 |
-
1993
- 1993-08-12 JP JP20061093A patent/JPH0755553A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105203203A (zh) * | 2015-09-07 | 2015-12-30 | 中国科学院地质与地球物理研究所 | 一种基于磁场的微振动测量装置及其测量方法 |
| CN105203203B (zh) * | 2015-09-07 | 2018-09-28 | 中国科学院地质与地球物理研究所 | 一种基于磁场的微振动测量装置及其测量方法 |
| JP6276484B1 (ja) * | 2016-06-03 | 2018-02-07 | 株式会社テイエルブイ | センサ装置及びセンサの補正方法 |
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