JPH075408Y2 - Metal flaw detection probe - Google Patents

Metal flaw detection probe

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JPH075408Y2
JPH075408Y2 JP1987068753U JP6875387U JPH075408Y2 JP H075408 Y2 JPH075408 Y2 JP H075408Y2 JP 1987068753 U JP1987068753 U JP 1987068753U JP 6875387 U JP6875387 U JP 6875387U JP H075408 Y2 JPH075408 Y2 JP H075408Y2
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JP
Japan
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metal
metal tube
probe
flaw detection
circumferential direction
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JP1987068753U
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Japanese (ja)
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JPS63177747U (en
Inventor
良平 太田
久夫 小久保
修 日置
Original Assignee
三井石油化学工業株式会社
株式会社シ−エックスア−ル
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Publication date
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Description

【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本考案は金属管に生じた傷、ひび割れなどの欠陥を検知
するための金属管の渦流探傷装置に係り、特に測定精度
の向上したこの種の装置の金属探傷用プローブに関す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial field of application] The present invention relates to an eddy current flaw detector for a metal tube for detecting defects such as scratches and cracks in the metal tube, and in particular, this type has improved measurement accuracy. The present invention relates to a probe for metal flaw detection of a device.

[従来の技術] 従来から、渦流探傷装置では金属管内に高周波電流を流
した試験コイルを挿入移動させ、金属管に存在する傷
(以下欠陥と称す)により発生したうず電流の変化を電
気的に測定するようにしている。
[Prior Art] Conventionally, in an eddy current flaw detector, a test coil in which a high-frequency current is applied is inserted and moved in a metal tube to electrically change the eddy current caused by a flaw (hereinafter referred to as a defect) existing in the metal tube. I try to measure.

まず、このうず電流の変化(インピーダンスの変化)は
微小であるため、検出部及び増幅器により増大させると
共に電圧に変換する。この方法は振幅法と呼ばれ欠陥の
形状、深さをひとつの信号で表示し、欠陥の評価を行う
ものである。
First, since the change in eddy current (change in impedance) is minute, it is increased by the detection unit and the amplifier and converted into voltage. This method is called the amplitude method, and the shape and depth of the defect are displayed by one signal to evaluate the defect.

更に、金属管に生じた欠陥が内面にあるのか、又は外面
にあるのか、そしてその欠陥の深さはどの程度なのか、
正確にかつ迅速に測定することのできる金属管の渦流探
傷装置として、欠陥信号の位相から内面欠陥、外面欠陥
の判別、及び欠陥深さを検知できるようにしたものが提
案されている(特願昭57−185696号=特開昭59−75146
号公報)。
Furthermore, whether the defects in the metal tube are on the inner surface or the outer surface, and the depth of the defect,
As an eddy current flaw detector for a metal tube that can be accurately and quickly measured, a device that can detect the inner surface defect and the outer surface defect and detect the defect depth from the phase of the defect signal has been proposed (Japanese Patent Application No. JP-A-57-185696 = JP-A-59-75146
Issue).

[考案が解決しようとする問題点] ところで、BSTF材などの管や黄銅管において発生する割
れは一般に管周方向に生じ且つ体積的に小さいものが多
く、測定精度の高い渦流探傷装置であってもコイルの円
周方向に生じる誘導電流によってそのような管周方向の
割れを検出するのが困難であった。
[Problems to be solved by the invention] By the way, cracks that occur in pipes such as BSTF material and brass pipes generally occur in the circumferential direction of the pipe and are small in volume, and are eddy current flaw detectors with high measurement accuracy. However, it is difficult to detect such cracks in the circumferential direction of the tube due to the induced current generated in the circumferential direction of the coil.

すなわち、第4図に示すように従来のプローブ1′では
コイル2′a、2′bの誘導電流の方向と金属管内の割
れ11の方向が一致しているため、このような割れ11によ
って渦電流は変化を生じず、従って割れ11は検出されな
いことになる。
That is, as shown in FIG. 4, in the conventional probe 1 ′, the direction of the induced current in the coils 2 ′ a and 2 ′ b and the direction of the crack 11 in the metal tube are the same. The current does not change, so crack 11 will not be detected.

本考案はこのような従来の難点を解消して金属管の円周
方向の線状欠陥に対しても検出能力が向上した金属探傷
用プローブを提供することを目的とする。
An object of the present invention is to provide a metal flaw detection probe that solves the above-mentioned conventional problems and has improved detection capability for linear defects in the circumferential direction of a metal tube.

[問題点を解決するための手段] このような目的を達成するため本考案の金属探傷用プロ
ーブは、プローブ本体と、試験コイルとから成り、金属
管内を軸方向に移動して金属管の欠陥により生じる渦電
流の変化を試験コイルにて検出する金属探傷用プローブ
において、試験コイルはプローブ本体上に、金属管の円
周方向と同方向に巻回された一対のコイルと、金属管の
円周方向に対し斜行して互いに円周方向90°ずれて巻回
された各々一対のコイルとを配設したものであります。
[Means for Solving Problems] In order to achieve such an object, the metal flaw detection probe of the present invention comprises a probe main body and a test coil, and moves in the metal tube in the axial direction to cause defects in the metal tube. In a metal flaw detection probe that detects changes in the eddy current caused by the test coil, the test coil consists of a pair of coils wound in the same direction as the circumferential direction of the metal tube on the probe body, and a circle of the metal tube. It has a pair of coils that are skewed with respect to the circumferential direction and are wound 90 degrees apart from each other in the circumferential direction.

[実施例] 以下、本考案の金属探傷用プローブを図面に示す実施例
に基き説明する。
[Embodiment] Hereinafter, a metal flaw detection probe of the present invention will be described based on an embodiment shown in the drawings.

第1図(a)において金属探傷用プローブ1はプローブ
本体10とプローブ本体10に巻回された試験コイル2とか
ら成る。
In FIG. 1A, a metal flaw detection probe 1 comprises a probe body 10 and a test coil 2 wound around the probe body 10.

試験コイル2は、プローブ本体上に、3組の各々一対と
なったコイル21、22、23から成り、コイル21は金属管3
(同図(b))の円周方向と同方向に巻回され、試験コ
イル22及び23はそれぞれ金属管3の円周方向に対し斜行
すると共に互いに円周方向90°ずれて巻回されている。
このように試験コイル22及び23はプローブ本体の中心軸
に対し斜めに、且つ互いに巻線の方向を違えて巻回され
ている。
The test coil 2 is composed of three pairs of coils 21, 22, and 23 on the probe body. The coil 21 is a metal tube 3
The test coils 22 and 23 are wound in the same direction as the circumferential direction of FIG. 9B, and are obliquely inclined with respect to the circumferential direction of the metal tube 3 and are wound at 90 ° offset from each other. ing.
As described above, the test coils 22 and 23 are wound obliquely with respect to the central axis of the probe main body and with winding directions different from each other.

そして各コイル21、22及び23は発振器からの高周波電流
が流れ、それぞれ誘導電流i1、i2、i3が生じる。
Then, a high-frequency current from the oscillator flows through the coils 21, 22 and 23, and induced currents i 1 , i 2 and i 3 are generated.

このように構成される金属探傷用プローブ1を、例えば
第1図(b)に示すような腐食A、割れB1、B2等の欠陥
の生じた金属管3内に挿入移動させると、腐食Aによっ
て金属管3内に生じた渦電流の変化は各コイルの誘導電
流i1、i2、i3の変化として検出される。
When the metal flaw detection probe 1 configured as described above is inserted and moved into the metal pipe 3 having defects such as corrosion A and cracks B 1 and B 2 as shown in FIG. A change in the eddy current generated in the metal tube 3 by A is detected as a change in the induced current i 1 , i 2 , i 3 of each coil.

一方、円周方向に部分的(0°方向)に生じた割れB1
この部分におけるコイル21及び23の誘導電流i1、i3の方
向と平行になっているため誘導電流i1、i3には変化が生
じることはなく、従ってコイル21及び23によっては検出
されない。
On the other hand, the crack B 1 partially generated in the circumferential direction (0 ° direction) is parallel to the directions of the induced currents i 1 and i 3 of the coils 21 and 23 in this portion, and therefore the induced currents i 1 and i No change occurs in 3 and is therefore not detected by coils 21 and 23.

しかし、コイル22の誘導電流i2は割れB1を横切るように
流れているため、割れB1によって電流の変化を生じ、こ
の変化によって割れB1が検出される。同様に割れB1と円
周方向に90°ずれた割れB2はコイル21及び22では検出さ
れないが、コイル23により検出される。
However, since the induced current i 2 of the coil 22 flows across the crack B 1, result in changes in the current through cracks B 1, B 1 cracked by this change is detected. Similarly, the crack B 1 and the crack B 2 displaced by 90 ° in the circumferential direction are not detected by the coils 21 and 22, but are detected by the coil 23.

このように本考案の金属探傷用プローブは欠陥検出能力
の異なる複数のコイルを組み合わせたので1回の探傷試
験で同時に種々の欠陥を検出することができる。
As described above, since the metal flaw detection probe of the present invention combines a plurality of coils having different defect detection capabilities, various flaws can be simultaneously detected by one flaw detection test.

尚、上記実施例において試験コイルは円周方向に対し平
行なもの、斜行したもの二種の合計三種を用いたが、更
に多様な組み合せが可能である 本考案の金属探傷用プローブは、例えば第2図に示すよ
うな位相解析式の金属探傷装置に適用される。
It should be noted that in the above-mentioned embodiment, the test coil was parallel to the circumferential direction, and two kinds were obliquely used, but three kinds in total were used, but more various combinations are possible. It is applied to a phase analysis type metal flaw detector as shown in FIG.

第2図の金属探傷装置は主として発振器4、金属探傷用
プローブ1の各検出部51、52、53、各検出部に対応して
設けられた位相検波器61a〜63b、ブラウン管71、72、7
3、演算処理部8及び記録計9から成り、発振器4はプ
ローブ1の各検出部51、52、53及び位相検波器に高周波
電流を送出する。
The metal flaw detector shown in FIG. 2 mainly includes an oscillator 4, detection portions 51, 52 and 53 of the metal flaw detection probe 1, phase detectors 61a to 63b provided corresponding to the detection portions, and cathode ray tubes 71, 72 and 7.
3. The oscillator 4 sends a high frequency current to the detectors 51, 52 and 53 of the probe 1 and the phase detector.

検出部51、52及び53はそれぞれ試験コイル21、22及び23
を含んで構成されたブリッジ回路で、全体としてプロー
ブ1を構成する。各検出部51、52及び53の出力側には1
組の位相検波回路61a、61b、62a、62b及びそれぞれ63
a、63bと接続される。
Detectors 51, 52 and 53 are test coils 21, 22 and 23, respectively.
The probe 1 is configured as a whole with a bridge circuit configured to include. 1 on the output side of each detector 51, 52 and 53
A pair of phase detection circuits 61a, 61b, 62a, 62b and 63 respectively
Connected with a and 63b.

1組の位相検波回路は対応する検出部の出力信号を位相
の相異なる2つの制御信号によって位相検波し、その一
組の位相検波回路からの出力はブラウン管71、72及び73
の画面上に合成されたリサージュ波形として表示され
る。このリサージュ波形は検出部の出力信号の位相が金
属管の欠陥によって変化することに対応して変化する。
One set of phase detection circuits phase-detects the output signal of the corresponding detection section by two control signals having different phases, and the outputs from the one set of phase detection circuits are cathode ray tubes 71, 72 and 73.
It is displayed as a combined Lissajous waveform on the screen. This Lissajous waveform changes in response to the phase of the output signal of the detector changing due to a defect in the metal tube.

すなわちブラウン管71には検出部51で検出された欠陥に
対応するリサージュ波形が、ブラウン管72には検出部52
で検出された欠陥に対応するリサージュ波形が、ブラウ
ン管73には検出部53で検出された欠陥に対応するリサー
ジュ波形がそれぞれ映し出される。例えば、第1図
(a)に示す金属探傷用プローブの場合同図(b)に示
すような金属管3の腐食、割れ(0°方向)B1、割れ
(90°方向)B2に対応して第3図のようなリサージュ波
形を得ることができる。従って、リサージュ波形の振幅
が[検出部51]=[検出部52]=[検出部53]である時
は腐食欠陥であり[検出部52]or[検出部53]>[検出
部51]の時は割れ欠陥であることが判定できる。
That is, the Lissajous waveform corresponding to the defect detected by the detection unit 51 is displayed on the cathode ray tube 71, and the detection unit 52 is detected on the cathode ray tube 72.
The Lissajous waveform corresponding to the defect detected in step (b) and the Lissajous waveform corresponding to the defect detected in the detector 53 are displayed on the cathode ray tube 73. For example, in the case of the metal flaw detection probe shown in FIG. 1 (a), it corresponds to the corrosion, crack (0 ° direction) B 1 , and crack (90 ° direction) B 2 of the metal tube 3 as shown in FIG. 1 (b). Then, a Lissajous waveform as shown in FIG. 3 can be obtained. Therefore, when the amplitude of the Lissajous waveform is [detection unit 51] = [detection unit 52] = [detection unit 53], there is a corrosion defect and [detection unit 52] or [detection unit 53]> [detection unit 51] Sometimes it can be determined that it is a cracking defect.

演算処理部8は各ブラウン管71、72及び73に入力された
と同様の各位相検波器からの信号の振幅を電気的に読み
取ることによりその位相角を求めて円周方向の割れ、そ
の他の傷の判別及び傷の深さをCPU(中央演算処理装
置)を用いて演算し、記録計7でこれらを記録する。
The arithmetic processing unit 8 obtains the phase angle by electrically reading the amplitude of the signal from each phase detector similar to that input to each cathode ray tube 71, 72 and 73 to obtain the circumferential angle cracks and other scratches. Discrimination and scratch depth are calculated using a CPU (central processing unit), and these are recorded by the recorder 7.

[考案の効果] 以上の実施例からも明らかなように本考案の金属探傷用
プローブは、プローブ本体と、試験コイルとから成り、
金属管内を軸方向に移動して金属管の欠陥により生じる
渦電流の変化を試験コイルにて検出する金属探傷用プロ
ーブにおいて、試験コイルはプローブ本体上に、金属管
の円周方向と同方向に巻回された一対のコイルと、金属
管の円周方向に対し斜行して互いに円周方向90°ずれて
巻回された各々一対のコイルとを配設したことにより、
金属管の円周方向の微細な割れなどの線状欠陥や内面腐
食等その他の欠陥を一回の探傷試験だけで同時に検出、
評価することができる。
[Effects of the Invention] As is apparent from the above embodiments, the metal flaw detection probe of the present invention comprises a probe body and a test coil,
In a metal flaw detection probe that moves in the metal tube in the axial direction and detects changes in the eddy current caused by defects in the metal tube, the test coil is placed on the probe body in the same direction as the circumferential direction of the metal tube. By arranging a pair of wound coils, and a pair of coils wound obliquely with respect to the circumferential direction of the metal tube and being displaced from each other by 90 ° in the circumferential direction,
Simultaneous detection of linear defects such as minute cracks in the circumferential direction of metal pipes and other defects such as internal corrosion by a single flaw detection test,
Can be evaluated.

【図面の簡単な説明】 第1図(a)、(b)は本考案の金属探傷用プローブと
金属管を示す図、第2図は渦流探傷装置のブロック図、
第3図はリサージュ波形図、第4図は従来の金属探傷用
プローブを示す図である。 3……金属管 A、B1、B2……金属管の欠陥 1……金属探傷用プローブ 2……試験コイル 10……プローブ本体 21……金属管の円周方向と同方向に巻回された一対のコ
イル 22、23……金属管の円周方向に対し斜行して互いに円周
方向90°ずれて巻回された各々一対のコイル
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIGS. 1 (a) and 1 (b) are diagrams showing a metal flaw detection probe and a metal tube of the present invention, and FIG. 2 is a block diagram of an eddy current flaw detection device,
FIG. 3 is a Lissajous waveform diagram, and FIG. 4 is a diagram showing a conventional metal flaw detection probe. 3 …… Metal tube A, B 1 , B 2 … Metal tube defect 1 …… Metal flaw detection probe 2 …… Test coil 10 …… Probe body 21 …… Wound in the same direction as the circumferential direction of the metal tube A pair of coils 22 and 23 ... A pair of coils that are skewed with respect to the circumferential direction of the metal tube and are wound 90 ° apart from each other in the circumferential direction.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−264252(JP,A) 特開 昭59−200956(JP,A) 特開 昭63−275951(JP,A) 特開 昭62−240852(JP,A) ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (56) Reference JP-A 61-264252 (JP, A) JP-A 59-200956 (JP, A) JP-A 63-275951 (JP, A) JP-A 62- 240852 (JP, A)

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】プローブ本体(10)と、試験コイル(2)
とから成り、金属管(3)内を軸方向に移動して前記金
属管の欠陥(A、B1、B2)により生じる渦電流の変化を
前記試験コイルにて検出する金属探傷用プローブ(1)
において、前記試験コイルは前記プローブ本体上に、前
記金属管の円周方向と同方向に巻回された一対のコイル
(21)と、前記金属管の円周方向に対し斜行して互いに
円周方向90°ずれて巻回された各々一対のコイル(22、
23)とを配設したことを特徴とする金属探傷用プロー
ブ。
1. A probe body (10) and a test coil (2)
And a probe for metal flaw detection (A) which moves in the metal tube (3) in the axial direction and detects a change in eddy current caused by defects (A, B 1 , B 2 ) of the metal tube by the test coil ( 1)
In the above, the test coil is a pair of coils (21) wound on the probe body in the same direction as the circumferential direction of the metal tube, and obliquely with respect to the circumferential direction of the metal tube. A pair of coils (22,
23) A probe for metal flaw detection, characterized in that
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