JPH075127A - 蛍光ｘ線硫黄分析方法 - Google Patents
蛍光ｘ線硫黄分析方法Info
- Publication number
- JPH075127A JPH075127A JP5167541A JP16754193A JPH075127A JP H075127 A JPH075127 A JP H075127A JP 5167541 A JP5167541 A JP 5167541A JP 16754193 A JP16754193 A JP 16754193A JP H075127 A JPH075127 A JP H075127A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- rays
- sample
- sulfur
- ray
- fluorescent
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 標準試料として長期にわたって品質が安定し
たものを用いることにより、精度の高い硫黄濃度測定を
行うことができる蛍光Ｘ線硫黄分析方法を提供するこ
と。 【構成】 試料に対して一次Ｘ線２を照射したときに試
料から発せられる蛍光Ｘ線と散乱Ｘ線との比と、標準試
料を用いて得られる検量線とを用いて試料中の硫黄濃度
を得るようにした蛍光Ｘ線硫黄分析方法において、モリ
ブデンよりなる模擬試料本体１１とＸ線吸収体１２とか
らなる模擬試料１０を前記標準試料の代わりに用いるよ
うにした。
たものを用いることにより、精度の高い硫黄濃度測定を
行うことができる蛍光Ｘ線硫黄分析方法を提供するこ
と。 【構成】 試料に対して一次Ｘ線２を照射したときに試
料から発せられる蛍光Ｘ線と散乱Ｘ線との比と、標準試
料を用いて得られる検量線とを用いて試料中の硫黄濃度
を得るようにした蛍光Ｘ線硫黄分析方法において、モリ
ブデンよりなる模擬試料本体１１とＸ線吸収体１２とか
らなる模擬試料１０を前記標準試料の代わりに用いるよ
うにした。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、原油や石油製品中に含
まれる硫黄分の濃度を測定する蛍光Ｘ線硫黄分析方法の
改良に関する。
まれる硫黄分の濃度を測定する蛍光Ｘ線硫黄分析方法の
改良に関する。
【０００２】
【従来の技術】原油や石油製品中に含まれる硫黄分の濃
度を測定する方法として、励起法によるものがある。こ
の分析方法を図３を用いて簡単に説明すると、この図に
おいて、１はＸ線管１で、このＸ線管１において発生し
たＸ線（一次Ｘ線）２を、適宜の容器に収容された試料
（例えば原油）３に照射すると、二次Ｘ線が発生する。
すなわち、一次Ｘ線２の一部は、試料３中の原子を励起
して蛍光Ｘ線を発生させるが、残りの一次Ｘ線２の大部
分は試料３で散乱される。図中の符号４は、これら蛍光
Ｘ線と散乱Ｘ線からなる二次Ｘ線を表している。
度を測定する方法として、励起法によるものがある。こ
の分析方法を図３を用いて簡単に説明すると、この図に
おいて、１はＸ線管１で、このＸ線管１において発生し
たＸ線（一次Ｘ線）２を、適宜の容器に収容された試料
（例えば原油）３に照射すると、二次Ｘ線が発生する。
すなわち、一次Ｘ線２の一部は、試料３中の原子を励起
して蛍光Ｘ線を発生させるが、残りの一次Ｘ線２の大部
分は試料３で散乱される。図中の符号４は、これら蛍光
Ｘ線と散乱Ｘ線からなる二次Ｘ線を表している。
【０００３】前記散乱Ｘ線は、一次Ｘ線２とほぼ同じエ
ネルギーを持っており、原油中の硫黄を分析する場合に
おいては、その大部分がエネルギー４．５ｋｅＶのチタ
ン特性Ｘ線である。そして、一次Ｘ線２の強度が同じで
あるとすれば、発生する硫黄の蛍光Ｘ線（エネルギー
２．３ｋｅＶ）の量は、試料３に含まれている硫黄の量
にほぼ比例する。
ネルギーを持っており、原油中の硫黄を分析する場合に
おいては、その大部分がエネルギー４．５ｋｅＶのチタ
ン特性Ｘ線である。そして、一次Ｘ線２の強度が同じで
あるとすれば、発生する硫黄の蛍光Ｘ線（エネルギー
２．３ｋｅＶ）の量は、試料３に含まれている硫黄の量
にほぼ比例する。
【０００４】そして、前記一次Ｘ線２の試料３への照射
により試料３から発生した散乱Ｘ線と蛍光Ｘ線は、比例
計数管からなるＸ線検出器５に入射して、電気信号に変
えられ、その後、アンプ６を経てマルチチャンネルアナ
ライザ（ＭＣＡ）７に入り、エネルギースペクトルが得
られる。
により試料３から発生した散乱Ｘ線と蛍光Ｘ線は、比例
計数管からなるＸ線検出器５に入射して、電気信号に変
えられ、その後、アンプ６を経てマルチチャンネルアナ
ライザ（ＭＣＡ）７に入り、エネルギースペクトルが得
られる。
【０００５】図４は、硫黄の蛍光Ｘ線と散乱Ｘ線を比例
計数管で計測した場合のエネルギースペクトルを模式的
に示すもので、このスペクトルにおける硫黄の蛍光Ｘ線
に相当する領域（符号Ｓで示す）と散乱Ｘ線に相当する
領域（符号Ｂで示す）との比、すなわち、蛍光Ｘ線と散
乱Ｘ線との比から、前記試料３中の硫黄濃度を得ること
ができる。具体的には、硫黄濃度が既知の重油標準試料
を用いて、図５に示すような蛍光Ｘ線と散乱Ｘ線との比
と、硫黄濃度との関係を表す検量線を作成しておき、こ
の検量線によって、前記蛍光Ｘ線と散乱Ｘ線との比を硫
黄濃度に変換するのである。なお、図３において、８は
上記演算などを行う演算部である。
計数管で計測した場合のエネルギースペクトルを模式的
に示すもので、このスペクトルにおける硫黄の蛍光Ｘ線
に相当する領域（符号Ｓで示す）と散乱Ｘ線に相当する
領域（符号Ｂで示す）との比、すなわち、蛍光Ｘ線と散
乱Ｘ線との比から、前記試料３中の硫黄濃度を得ること
ができる。具体的には、硫黄濃度が既知の重油標準試料
を用いて、図５に示すような蛍光Ｘ線と散乱Ｘ線との比
と、硫黄濃度との関係を表す検量線を作成しておき、こ
の検量線によって、前記蛍光Ｘ線と散乱Ｘ線との比を硫
黄濃度に変換するのである。なお、図３において、８は
上記演算などを行う演算部である。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上記重油標
準試料は、硫黄濃度が既知の重油を適宜の容器内に封入
したものであるが、保管中や使用中に液漏れのおそれが
あると共に、沈澱物が生じるため、標準試料としての性
能に経時変化が生じ、従って、精々一ヵ月程度で新しい
ものと取り替える必要がある。
準試料は、硫黄濃度が既知の重油を適宜の容器内に封入
したものであるが、保管中や使用中に液漏れのおそれが
あると共に、沈澱物が生じるため、標準試料としての性
能に経時変化が生じ、従って、精々一ヵ月程度で新しい
ものと取り替える必要がある。
【０００７】そこで、樹脂中やパラフィン中に硫黄を溶
解させた後、固化させたものを前記重油標準試料の代替
品と用いることが行われている。しかし、このような代
替品においては、硫黄が樹脂などに溶解しにくいところ
から、余り高濃度のものを製作できないといった欠点が
あると共に、前記溶解に際しては攪拌を十分に行う必要
があるが、必ずしも均一なものが得られないため、この
ような標準試料では完全な検量線を得ることができず、
従って、精度のよい測定を行えないといった問題があ
る。
解させた後、固化させたものを前記重油標準試料の代替
品と用いることが行われている。しかし、このような代
替品においては、硫黄が樹脂などに溶解しにくいところ
から、余り高濃度のものを製作できないといった欠点が
あると共に、前記溶解に際しては攪拌を十分に行う必要
があるが、必ずしも均一なものが得られないため、この
ような標準試料では完全な検量線を得ることができず、
従って、精度のよい測定を行えないといった問題があ
る。
【０００８】本発明は、上述の事柄に留意してなされた
もので、その目的は、標準試料として長期にわたって品
質が安定したものを用いることにより、精度の高い硫黄
濃度測定を行うことができる蛍光Ｘ線硫黄分析方法を提
供することにある。
もので、その目的は、標準試料として長期にわたって品
質が安定したものを用いることにより、精度の高い硫黄
濃度測定を行うことができる蛍光Ｘ線硫黄分析方法を提
供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、試料に対して一次Ｘ線を照射したときに
試料から発せられる蛍光Ｘ線と散乱Ｘ線との比と、標準
試料を用いて得られる検量線とを用いて試料中の硫黄濃
度を得るようにした蛍光Ｘ線硫黄分析方法において、モ
リブデンよりなる模擬試料本体とＸ線吸収体とからなる
模擬試料を前記標準試料の代わりに用いるようにしてい
る。
め、本発明は、試料に対して一次Ｘ線を照射したときに
試料から発せられる蛍光Ｘ線と散乱Ｘ線との比と、標準
試料を用いて得られる検量線とを用いて試料中の硫黄濃
度を得るようにした蛍光Ｘ線硫黄分析方法において、モ
リブデンよりなる模擬試料本体とＸ線吸収体とからなる
模擬試料を前記標準試料の代わりに用いるようにしてい
る。
【００１０】
【作用】硫黄は、一次Ｘ線が照射されることにより、
２．３１ｋｅＶと２．４７ｋｅＶのＸ線（Ｋα線、Ｋβ
線）を蛍光Ｘ線として放出する。一方、モリブデンは、
一次Ｘ線が照射されることにより、２．２９ｋｅＶと
２．３９ｋｅＶのＸ線（Ｌα線、Ｌβ線）を蛍光Ｘ線と
して放出する。そして、蛍光Ｘ線を利用した硫黄濃度測
定においては、通常、エネルギー分散方式を採用し、Ｘ
線検出器として比例計数管が用いられているので、前記
モリブデンのＬα線、Ｌβ線と硫黄のＫα線、Ｋβ線と
の区別は困難である。
２．３１ｋｅＶと２．４７ｋｅＶのＸ線（Ｋα線、Ｋβ
線）を蛍光Ｘ線として放出する。一方、モリブデンは、
一次Ｘ線が照射されることにより、２．２９ｋｅＶと
２．３９ｋｅＶのＸ線（Ｌα線、Ｌβ線）を蛍光Ｘ線と
して放出する。そして、蛍光Ｘ線を利用した硫黄濃度測
定においては、通常、エネルギー分散方式を採用し、Ｘ
線検出器として比例計数管が用いられているので、前記
モリブデンのＬα線、Ｌβ線と硫黄のＫα線、Ｋβ線と
の区別は困難である。
【００１１】つまり、モリブデンを硫黄の代替品、つま
り、硫黄の標準試料に代えて、モリブデンを模擬試料と
して使用しても支障がない。そして、このモリブデンよ
りなる試料本体の一次Ｘ線照射面側に種々のＸ線吸収体
を設けることにより、蛍光Ｘ線の強度を調整することが
でき、蛍光Ｘ線強度の異なる（すなわち、濃度の異な
る）複数の模擬試料とすることができる。
り、硫黄の標準試料に代えて、モリブデンを模擬試料と
して使用しても支障がない。そして、このモリブデンよ
りなる試料本体の一次Ｘ線照射面側に種々のＸ線吸収体
を設けることにより、蛍光Ｘ線の強度を調整することが
でき、蛍光Ｘ線強度の異なる（すなわち、濃度の異な
る）複数の模擬試料とすることができる。
【００１２】
【実施例】以下、本発明の実施例を、図面を参照しなが
ら説明する。
ら説明する。
【００１３】図１は、本発明の一実施例を示し、この図
において、１０は模擬試料で、モリブデンよりなる薄い
（例えば２００μｍ〜１ｍｍ）円板状の模擬試料本体１
１と、この模擬試料本体１１の一次Ｘ線照射面側に単に
接するようにして離間自在に設けられるＸ線吸収体１２
とからなる。このＸ線吸収体１２としては、例えばポリ
エチレンテレフタレートやポリイミドよりなるシート部
材（厚み１０〜１００μｍ）が用いられ、その厚みを薄
くすると模擬試料本体１１から発せられる蛍光Ｘ線の強
度が大きくなる。１３は模擬試料１０を水平に保持する
支持体で、図外のベンチに載置される。
において、１０は模擬試料で、モリブデンよりなる薄い
（例えば２００μｍ〜１ｍｍ）円板状の模擬試料本体１
１と、この模擬試料本体１１の一次Ｘ線照射面側に単に
接するようにして離間自在に設けられるＸ線吸収体１２
とからなる。このＸ線吸収体１２としては、例えばポリ
エチレンテレフタレートやポリイミドよりなるシート部
材（厚み１０〜１００μｍ）が用いられ、その厚みを薄
くすると模擬試料本体１１から発せられる蛍光Ｘ線の強
度が大きくなる。１３は模擬試料１０を水平に保持する
支持体で、図外のベンチに載置される。
【００１４】このように構成された状態において、Ｘ線
管１を出た一次Ｘ線２は、モリブデンよりなる模擬試料
本体１１とＸ線吸収体１２とからなる模擬試料１０に照
射される。一次Ｘ線２によって励起されたモリブデンの
蛍光Ｘ線（Ｌα線、Ｌβ線）は、比例計数管５によって
検出され、その検出出力は、適宜波形整形されてＭＣＡ
（図３における符号７）によってエネルギースペクトル
データとなる。
管１を出た一次Ｘ線２は、モリブデンよりなる模擬試料
本体１１とＸ線吸収体１２とからなる模擬試料１０に照
射される。一次Ｘ線２によって励起されたモリブデンの
蛍光Ｘ線（Ｌα線、Ｌβ線）は、比例計数管５によって
検出され、その検出出力は、適宜波形整形されてＭＣＡ
（図３における符号７）によってエネルギースペクトル
データとなる。
【００１５】図２は、蛍光Ｘ線硫黄分析装置によって実
際に硫黄とモリブデンを測定した場合の蛍光Ｘ線スペク
トルの一例を示すもので、同図（Ａ）は硫黄の蛍光Ｘ線
（Ｋα線、Ｋβ線）、同図（Ｂ）はモリブデンの蛍光Ｘ
線（Ｌα線、Ｌβ線）をそれぞれ示している。これらの
図から明らかなように、両スペクトルの形状は区別でき
ないほど非常に似通っており、モリブデンが硫黄の模擬
試料として十分使用可能であることがわかる。
際に硫黄とモリブデンを測定した場合の蛍光Ｘ線スペク
トルの一例を示すもので、同図（Ａ）は硫黄の蛍光Ｘ線
（Ｋα線、Ｋβ線）、同図（Ｂ）はモリブデンの蛍光Ｘ
線（Ｌα線、Ｌβ線）をそれぞれ示している。これらの
図から明らかなように、両スペクトルの形状は区別でき
ないほど非常に似通っており、モリブデンが硫黄の模擬
試料として十分使用可能であることがわかる。
【００１６】上述のように構成された模擬試料１０にお
いて、Ｘ線吸収体１２の材料またはその厚みを種々変え
ることにより、種々の濃度の標準試料として使用するこ
とができ、これを用いることにより、所望の検量線を得
ることができる。
いて、Ｘ線吸収体１２の材料またはその厚みを種々変え
ることにより、種々の濃度の標準試料として使用するこ
とができ、これを用いることにより、所望の検量線を得
ることができる。
【００１７】そして、前記模擬試料１０は従来の液体と
異なり、固体であり、経時変化が少なく、また、Ｘ線強
度が高いため、高濃度のものを作成できると共に、不均
一になるといったこともない。また、従来のように、樹
脂などに溶解させるものではないので、攪拌や溶解など
煩わしい作業を行う必要もない。
異なり、固体であり、経時変化が少なく、また、Ｘ線強
度が高いため、高濃度のものを作成できると共に、不均
一になるといったこともない。また、従来のように、樹
脂などに溶解させるものではないので、攪拌や溶解など
煩わしい作業を行う必要もない。
【００１８】なお、前記模擬試料本体１１は、その製作
方法によっては散乱光の強度が一次Ｘ線２の照射方向に
よって変わることがある。これは回折の影響であると考
えられるが、このような不都合を回避するため、模擬試
料本体１１の例えば表面に適宜のマークを付しておき、
模擬試料本体１１を、その使用時、常に一定の方向にセ
ットできるようにしておくのが好ましい。
方法によっては散乱光の強度が一次Ｘ線２の照射方向に
よって変わることがある。これは回折の影響であると考
えられるが、このような不都合を回避するため、模擬試
料本体１１の例えば表面に適宜のマークを付しておき、
模擬試料本体１１を、その使用時、常に一定の方向にセ
ットできるようにしておくのが好ましい。
【００１９】また、前記モリブデン板体１１の形状は、
円板状の他、平面視正方形など多角形状であってもよ
い。
円板状の他、平面視正方形など多角形状であってもよ
い。
【００２０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
標準試料として長期にわたって品質が安定したものを用
いることができ、精度の高い硫黄濃度測定を行うことが
できる。また、本発明で用いる標準試料は固体であるの
で、その製作や取扱いが容易であるといった利点を有す
る。
標準試料として長期にわたって品質が安定したものを用
いることができ、精度の高い硫黄濃度測定を行うことが
できる。また、本発明で用いる標準試料は固体であるの
で、その製作や取扱いが容易であるといった利点を有す
る。
【図１】本発明の一実施例に係る蛍光Ｘ線硫黄分析方法
を示す図である。
を示す図である。
【図２】硫黄とモリブデンを測定した場合の蛍光Ｘ線ス
ペクトルの一例を示すもので、（Ａ）は硫黄の蛍光Ｘ線
を、（Ｂ）はモリブデンの蛍光Ｘ線をそれぞれ示してい
る。
ペクトルの一例を示すもので、（Ａ）は硫黄の蛍光Ｘ線
を、（Ｂ）はモリブデンの蛍光Ｘ線をそれぞれ示してい
る。
【図３】蛍光Ｘ線硫黄分析に用いる装置の構成を概略的
に示す図である。
に示す図である。
【図４】硫黄の蛍光Ｘ線と散乱Ｘ線を比例計数管で計測
した場合のエネルギースペクトルを模式的に示した図で
ある。
した場合のエネルギースペクトルを模式的に示した図で
ある。
【図５】検量線の一例を示す図である。
２…一次Ｘ線、１０…模擬試料、１１…模擬試料本体、
１２…Ｘ線吸収体。
１２…Ｘ線吸収体。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 水田 雅夫 京都府京都市南区吉祥院宮の東町２番地 株式会社堀場製作所内
Claims (1)
- 【請求項１】 試料に対して一次Ｘ線を照射したときに
試料から発せられる蛍光Ｘ線と散乱Ｘ線との比と、標準
試料を用いて得られる検量線とを用いて試料中の硫黄濃
度を得るようにした蛍光Ｘ線硫黄分析方法において、モ
リブデンよりなる模擬試料本体とＸ線吸収体とからなる
模擬試料を前記標準試料の代わりに用いるようにしたこ
とを特徴とする蛍光Ｘ線硫黄分析方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5167541A JPH075127A (ja) | 1993-06-14 | 1993-06-14 | 蛍光ｘ線硫黄分析方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5167541A JPH075127A (ja) | 1993-06-14 | 1993-06-14 | 蛍光ｘ線硫黄分析方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH075127A true JPH075127A (ja) | 1995-01-10 |
Family
ID=15851622
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5167541A Pending JPH075127A (ja) | 1993-06-14 | 1993-06-14 | 蛍光ｘ線硫黄分析方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH075127A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102081052A (zh) * | 2010-12-17 | 2011-06-01 | 曹余勤 | 测硫光电转换装置 |
| CN103048346A (zh) * | 2011-10-17 | 2013-04-17 | 株式会社理学 | 校正试样和荧光x射线分析装置与荧光x射线分析方法 |
| JP2013137273A (ja) * | 2011-12-28 | 2013-07-11 | Techno X Co Ltd | 蛍光ｘ線分光装置及び蛍光ｘ線分析装置 |
| CN106290439A (zh) * | 2016-09-21 | 2017-01-04 | 海南中航特玻科技有限公司 | 快速测定芒硝中Na2SO4、NaCl、Fe2O3含量的方法 |
-
1993
- 1993-06-14 JP JP5167541A patent/JPH075127A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102081052A (zh) * | 2010-12-17 | 2011-06-01 | 曹余勤 | 测硫光电转换装置 |
| CN103048346A (zh) * | 2011-10-17 | 2013-04-17 | 株式会社理学 | 校正试样和荧光x射线分析装置与荧光x射线分析方法 |
| JP2013137273A (ja) * | 2011-12-28 | 2013-07-11 | Techno X Co Ltd | 蛍光ｘ線分光装置及び蛍光ｘ線分析装置 |
| US9448191B2 (en) | 2011-12-28 | 2016-09-20 | Techno-X Co., Ltd. | X-ray fluorescence spectrometer and X-ray fluorescence analyzer |
| CN106290439A (zh) * | 2016-09-21 | 2017-01-04 | 海南中航特玻科技有限公司 | 快速测定芒硝中Na2SO4、NaCl、Fe2O3含量的方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| DE102012112866B4 (de) | Röntgenfluoreszenzspektrometer und Röntgenfluoreszenzanalysator | |
| EP0422017B1 (en) | Method for measuring the thickness of a coating on a substrate | |
| JPH02228515A (ja) | コーティング厚さ測定方法 | |
| JPH075127A (ja) | 蛍光ｘ線硫黄分析方法 | |
| Claes et al. | Comparison of Grazing Emission XRF with Total Reflection XRF and Other X‐Ray Emission Techniques | |
| Kneip et al. | Isotope excited X-ray fluorescence | |
| JPH0228819B2 (ja) | Metsukiekibunsekisochi | |
| JPH0224545A (ja) | 蛍光ｘ線分析方法 | |
| Martinez et al. | Characterization of an innovative sugarcane leaves reference material by INAA and PGAA | |
| CN220188400U (zh) | 一种x射线衍射和x射线荧光光谱同步联用系统及装置 | |
| RU2706445C1 (ru) | Устройство для волноводно-резонансного рентгенофлуоресцентного элементного анализа | |
| JP5043387B2 (ja) | 蛍光ｘ線分析による被膜分析方法及び装置 | |
| JPH0755733A (ja) | 蛍光ｘ線分析用の試料保持坦体および蛍光ｘ線分析方法 | |
| JPS6319004B2 (ja) | ||
| USH922H (en) | Method for analyzing materials using x-ray fluorescence | |
| Stevenson | Determination of columbium in ores by x-ray fluorescence | |
| Švitel et al. | The determination of Br, Ag and I in pharmaceuticals using X-ray fluorescence excited by gamma sources | |
| JPS5622925A (en) | Analytic measurement method for base material for optical fiber | |
| JPS6353457A (ja) | 二次元走査型状態分析装置 | |
| SU911265A1 (ru) | Устройство дл рентгенофлуоресцентного анализа | |
| JPS6239747A (ja) | Ｘ線による被測定物の組成分析方法 | |
| JPH0222544A (ja) | 蛍光ｘ線分析方法 | |
| JPS61240148A (ja) | Ｘ線による被測定物の組成分析方法 | |
| CN116223547A (zh) | 一种x射线衍射和x射线荧光光谱同步联用系统及装置 | |
| JP2599360B2 (ja) | Ｘ線による被測定物の非破壊測定方法 |