JPH07508507A - ニッケル鍍金された成形部材の製造法 - Google Patents
ニッケル鍍金された成形部材の製造法Info
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。
Description
ホスホニウム塩および水性酸の電気鍍金用ニッケル浴のための光沢剤としてのそ
の使用
本発明は、新規のホスホニウム塩および水性酸の電気鍍金用ニッケル浴のための
光沢剤としてのその使用に関する。
電気鍍金によるニッケル析出の際に、金属の光輝性で延性かつ表面の平坦な析出
が意図されなければならない場合に、酸のニッケル電解質が少量の有機物質中に
含有されていなければならないことは公知である。
この種の光沢剤は、通常、第一光沢剤(′°光沢剤の担体(Glan+l+ae
ge+)”)および第二光沢剤(光沢形成剤” (Glanzbilde+)″
)に区分され、常法テハ作用を向上させるために前記薬剤の多数から9組合せ物
として使用される。
文献”P+akli+che Ga1vanolechnik″、 Eugen
G、Len+eVe+lag、 S=u1gau、第4版、1984年、第2
68〜271頁(1)中には、ニッケル電解質にとって常用の光沢剤のための物
質種類が記載されている。第一光沢剤および第二光沢剤および平滑剤(Eine
bne+ )への区分けは、確かに的確であるが、しかし同時に、前記の区分は
常に一義的に行うことができないことが指摘される。光沢を発生させる物質1類
としては次のものが記載される
− スルホンイミド、例えば安息香酸スルフィミド−スルホンアミド
−ペンゾールスルホン酸、例えばモノペンゾールスルホン酸、ジベンゾールスル
ホン酸およびトリペンゾールスルホン酸
−ナフタリンスルホン酸、例えばモノナフタリンスルホン酸、シナフタリンスル
ホン酸およびトリナフタリンスルホン酸
−アルキルスルホン酸、
−スルフィン酸
−アリールスルホンスルホン酸塩
−エチレン結合および/またはアセチレン結合を有する脂肪族化合物、例えばブ
チンジオール−更に他のへテロ原子、例えば硫黄またはセレンを含有していても
よい一株および多核の窒素含有複素環
−平滑剤としてのアミンおよび第四級アンモニウムドイツ連邦共和国特許第11
91652 (2)号明細書中には、例えばピリジニウム塩、例えば2−ピリジ
ニウム−1−スルフェートエタンのような四級化された形での芳香族型の一核ま
たは多核の複素環式窒素塩基が、酸の電気鍍金用ニッケル浴のための平滑剤、即
ち、光沢剤として記載されている。前記薬剤は、常用の下塗光沢剤(G+und
glantmillel) 、例えばベンゾ−ルーm−ジスルホン酸、ジアリー
ルジスルフイミドまたはスルホンアミドと一緒に使用される。
米国特許第4076600 (3)号明細書の記載から、式 R,P” (、式
中、基Rは、ヒドロキシアルキル基を表わす)で示されるホスホニウム陽イオン
を含有する水性酸の亜鉛電解質浴は公知である。
実際には、常法では、光沢形成剤としてアルケニルスルホン酸、例えばナトリウ
ムビニルスルホン酸塩またはナトリウムアリルスルホン酸塩は、別の光沢形成剤
、例えばプロパルギルアルコール、2−ブチン−1゜4−ジオール、プロピンス
ルホン酸または3−ピリジニウム−プロピルスルホン酸塩との組合セ物で使用さ
れる。
公知技術水準から知られた薬剤の場合の欠点は、なんといつでも、使用されたニ
ッケル電解質浴中での通常相対的に高い使用濃度である。
従って、本発明には、より良好なまたは少なくとも同じ程度の光沢形成の場合に
、例えば2−ピリジニウム−1−ス)vフェートエタンまたは3−ピリジニウム
−プロピルスルホン酸塩の場合により少ない濃度で使用される必要がある光沢形
成剤の使用下にニッケル化された成形部拐を製造するための改善された方法が課
題として課された。
前記課題により、一般式I。
R1= p、 3は、カルボキシル基、C1〜C4−アルコキシカルボニノ
【基
また1′iシアン基によって置換されていてもよいC3〜C11−アルキル基、
C7〜C1、−アルケニル基、C7〜C1t−アルキニル基、C,−C,−シク
ロアルキル基、C、−Clx−フェニルアルキル基を表わすかまたは、1個また
は2個のCl−C4−アルキル基、C4〜C4−アルコキシ基、ハロゲン原子、
ヒドロキシル基、フェニル基または01〜C4−アルコキシカルボニル基によっ
て置換されていてもよいフェニル基または千ノーまたはジ(C,−C4−アルキ
ル)アミノ基を表し2、
R4およびR5は、水素原子またはC,−C4−アルキル基を表し1
、へ1j、水素原子を表わすかまたは式 −Co−Hl−CO〜R6、−CO−
01−1、−CO−OR6、−co−cH,−coloR6、−0−CO−85
50w 0H1−3o2−OR6、−PO(OH)7、−PO(OH) (OR
’)、−PO(OR’)1、−0PO(OH)!、 −0PO(OH) (OR
6)または−〇PO(OR’)、で示される基を表し、この場合、
R6は、C,−C,2−アルキル基、C8〜C1+−アルクニル基、C7〜C1
,−アルキニル基、C6〜C8−シクロアルキル基、C7〜CI+−フェニルア
ルキル基を表わすかまたは1個または2個のC1〜C4−アルキル基、C1〜C
I−アルコキシ基、ハロゲン原子、ヒドロキシル基、フェノール基またはC9〜
C4−アルコキシカルボニル基によって置換されていてもよいフェニル基を表し
、Yは、基−CH= CH−または−C=C−を表し、Inは、O〜10の数を
表し、
nは、1〜4の数を表し、
pは、0または1を表し、
qは、0〜10の数を表し、
xeは、水溶性を促進するn価の無機また)ま有機陰イオンを表わす]
で示されるホスホニウム塩が見出された。
R’8よびR5およびフェニル核のためのC,〜C4−アルキル基としては、n
−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、イソブチル基、第ニブチル基、
第三エチル基および、就中、メチル基およびエチル基が!!亥当する。
R1〜R3およびR6−R8のための直鎖状または分枝鎖状C1〜C11−もし
くはC3へ・Cl2−アルキル基としては、例えば上記の01〜C2−アルキル
基とともに、n−アミル基、イソアミル基、第ニアミル基、第三アミル基、ネオ
Rンヂル基、n−ヘキシル基、n−へブチル基、n−オクチル基、2−エチルヘ
キシル基、n−ノニル基、イソノニル基、n−デシル基、n−ウンデシル基、n
−ドデンル基、n−テ1−ラデシル基、n−ヘキサデシル基およびn−オクタデ
シル基が該当する。これらのうち、C1〜C4−アルキル基は有利である。
R1〜R3のためのカルボキシル基、01〜C4−アルコキシカルボニル基また
はシアン基によって置換されたC1〜cps−アルキル基としては、例えば2−
カルボキシエチル基、2−(メトキシカルボニル)エチル基、2−(エトキンカ
ルボニル)xチル基または2−シアンエチル基が適当である。
R1〜R3およびR6−R8のためのC6ヘーC,−シクロアルキル基としては
、殊にシクロペンチル基、メチルシクロペンチル基、ジメチルシクロペンチル基
、メチルシクロヘキシル基、ジメチルシクロベキシル基およびエチルシクロヘキ
シル
シクロペンチル基およびシクロヘキシル基は有利であR1−R3およびR6−R
8のたa’) (’) Ct 〜C+ t 7 zニルアルキル基としては、例
えば1−フェニルエチル基、2−フェニルエチル基、1−フェニルプロピル基、
2−フェニルプロピル基、3−フェニルプロピル基、2−フェニルプロブ−2−
イル基、4−フェニルブチル基、2,2−ジメチル−2−フェニルエチル基、5
−フェニルアミル基、6−フェニルヘキシル基および、就中、ベンジル基が適当
である。
RI、 R3およびR6−R8のためのモノ置換されたフェニル基の使用の場合
、置換型は、オルト、メタまたは好ましくはバラであり、ジ置換されたフェニル
基の場合、置換基は、就中、2.4−位、例えば2.4−キシリル基である。置
換基が存在する場合、置換率1は有利である。しかしながら、非置換フェニル基
は特に有利である。
C1〜C4−アルコキシ基としては、殊にメトキシ基−およびエトキシ基が該当
し、これらとともにあるいはまたn−プロポキシ基、インプロポキシ基、n−ブ
トキシ基、イソブトキシ基、第二ブトキシ基および第三ブトキシ基が該当する。
01〜C4−アルコキシカルボニル基としては、例えばn−プロポキシカルボニ
ル基、イソプロポキシカルボニル基、n−ブトキシカルボニル基、インブトキシ
カルボニル基、第二ブトキシカルボニル基、第三ブトキシカルボニル基、しかし
就中、エトキシカルボニル基およびメトキシカルボニル基が使用される。
ハロゲン原子の概念は、本明細書中、フッ素原子、ヨウ素原子、しかし就中、臭
素原子および殊に塩素原子を包含する。
RI−R3およびR6−R8のための直鎖状または分枝鎖状C1〜C12−アル
ケニル基としては、例えばビニル基、アリル基、メタリル基1.3−ブテニル基
、4−ペンテニル基、5−へキセニル基、7−オクテニル基、9−デセニル基、
11−ドデセニル基、シトロネロールイル基、ゲラニオールイル基またはりナロ
オールイル基が適当である。
Rl−R3およびR6−R8のための直鎖状または分枝鎖状C7〜C3,−アル
キニル基としては、例えばエチニル基または2−プロピニル基が適当である。
R1−R3のためのモノ−またはジ(CI〜C4−アルキル)アミ7基としては
、例えばメチルアミノ基、ジメチルアミノ基、エチルアミン基、ジエチルアミノ
基、n−ブチルアミノ基またはジ−n−ブチルアミノ基が該当する。
基R4およびR5は、好ましくは水素原子、メチル基またはエチル基、殊に水素
原子を表わす。
mは、好ましくは0〜8、殊に0〜5、全く特にO〜3の数を表わす。
qは、好ましくはO〜5、殊に1の数を表わす。
n価の陰イオンXとしては、常用の、通常水溶性を促進する無機または有機陰イ
オンが該当し、従って就中、塩化物、臭化物、フッ化物、硫酸塩、硫酸水素塩、
メタンスルホン酸塩、トリフルオルメタンスルホン酸塩、2−ヒドロキシェタン
スルホン酸塩、p−ドルオールスルホン酸塩、硝酸塩、テトラフルオル硼酸塩、
過塩素酸塩、l−ヒドロキシエタン−1,1−ジホスホン酸塩、リン酸二水素塩
、リン酸水素塩、リン酸塩、蟻酸塩、酢酸塩、蓚酸塩、クエン酸塩および酒石酸
塩が買亥当する。
これらのうち、−重または二重に(n=1または2)付加された陰イオン、就中
、フン化物、硫酸塩、メタンスルホン酸塩、硝酸塩およびテトラフルオロ硼酸塩
、しかしながら殊に塩化物および臭化物が有利である。
符号Aがカルボン酸−スルホン酸、−ホスホン酸−またはホスホル酸官能基を表
わす場合には、ホスホニウム塩Iは、HXの脱離によってホスホニウム塩から生
じることができるベタインとして存在してもよい。
ホスホニウム塩1は、符号R1〜R3がC3〜C4フルキル基または1個または
2個のC,−C,−アルキル基によって置換されていてもよいフェニル基を表わ
す場合に有利な実施態様であるとみなされる。殊に、R1−R3は、非置換フェ
ニル基を表わす。
また、一般式Ia。
〔式中、符号RI−R6、m、nおよびX@は、上記の意味を有し、R7は、水
素原子、C5〜C3,−アルキル基、C7〜C0X−アルケニル基、C8〜C3
,−アルキニル基、C8〜C,−シクロアルキル基、07〜C5,−フェニルア
ルキル基またはフェニルアルキル基または1個または2個の01〜C4−アルキ
ル基によって置換されていてもよいフェニル基を表わす〕で示されるホスホニウ
ム塩も有利な実施態様であるとみなされる。
一般式Ib。
〔式中、符号R1〜R5、R7、m、nおよびX6は、上記の意味を有する〕で
示されるホスホニウム塩は、もう1つの有利な実施態様であるとみなされる。
c式中、符号RI、 R4、R7、Y、nおよびXeは、上記の意味を有する〕
で示されるホスホニウム塩は、もう1つの有利な実施態様であるとみなされる。
一般式1d
〔式中、符号Rl〜R5、R7、m、nおよびxeは、上記の意味を有する〕で
示されるホスホニウム塩は、もう1つの有利な実施態様であるとみなされる。
一般式1e
〔式中、符号R1〜R4、nおよびX@は、上記の意味を有し、R8は水素原子
を除いてR7と同じ意味を有する〕で示されるホスホニウム塩は、もう1つの有
利な実施態様であるとみなされる。
一般式If
[式中、符号Rl 〜R6、R7、m、nおよびX@は、上記の意味を有する〕
で示されるホスホニウム塩は、もう1つの有利な実施態様であるとみなされる。
一般式Ig
〔式中、符号RI〜R4、Y、n、qおよびXeは、上記の意味を有する〕で示
されるホスホニウム塩は、もう1つの有利な実施態様であるとみなされる。
一般式Ih。
〔式中、符号RI 〜R6、R7、m、nおよびXe′は、上記の意味を有する
〕で示されるホスホニウム塩は、もう1つの有利な実施態様であるとみなされる
。
本発明によるホスホニウム塩Iは、有利な方法の場〔式中、Zは請求核脱離基、
好ましくは塩素原子または臭素原子を表わす〕で示される相応する前駆物質と一
般式II+
R2P (III)
□
で示されるホスファンとの反応および望ましい場合には、陰イオンZ″とX@と
の引続く交換によって得ることができる。
ホスファンII+としては、例えばトリメチルホスファン、トリエチルホスファ
ン、トリーn−ブチルホスファン、トリーn−オクチルホスファン、トリス(2
−エチルヘキシル)ホスファン、トリフェニルホスファン、トリス(ジメチルア
ミノ)ホスファン、トリシクロヘキシルホスファン、ジメチルエチルホスファン
、ジエチルメチルホスファン、トリス(2−シアノエチル)ホスファン、トリイ
ソブチルホスファン、トリーn−オクタデシルホスファン、トリス(2−カルボ
キシルエチル)ホスファン、ジベンンルメチルホヌファン、ジエチル−n−オク
タデシルホスファン、ドリアゾルホスファン、トリーn−デシルホスファンまた
はトリーn−へキシルホスファンが適当である。
成分11とIIIとの反応1ま、好ましくは、不活性有機溶剤中、例えばドルオ
ール、キジロール、石油エーテル、リグロイン、シクロヘキサン、アセトン、テ
トラヒドロフラン、ジオキサン、メタノール、エタノール、イノプロパツール、
酢酸エチルエステルまたは安息香酸メチルエステル中でかまたはその混合物中で
実施される。しかしまたこの反応は、水中または水と1つまたはそれ以上の有機
溶剤、好ましくは極性有機溶剤とからなる単相または二相混合物中で行うことも
できる。
二相混合物の場合、常用の相転移触媒を使用することができる。通常、40〜1
3C1:、殊に60〜110℃の温度および標準圧力で作業される。
更に、本発明の対象は、本質的成分として1つまたはそれ以上のニッケル塩、1
つまたはそれ以上の無機酸および1つまたはそれ以上の光沢剤を含有する水性酸
の浴からのニッケルの電気鍍金による析出により、ニッケル化された成形部材を
製造するための方法であり、
この方法は、光沢剤として、一般式■
R2〜R3は、カルボキシル基、C1〜C4−アルコキシカルボニル基またはシ
アノ基によって置換されていてもよいCl−C11l−アルキル基、C7〜C1
□−アルケニル基、C,〜C1,−アルキニル基、C5〜CI−シクロアルキル
基、C7〜C,2−フェニルアルキル基を表わすかまたは、1個または2個の0
1〜C4−アルキル基、C3〜c4−アルコキシ基、ハロゲン原子、ヒドロキシ
ル基、フェニル基またはC3〜C4−アルコキシカルボニル基によって置換され
ていてもよいフェニル基またはモノ−またはジ(C,〜c4−アルキル)アミン
基を表し、
R4およびR5は、水素原子または01〜c4−アルキル基を表し、
Aは、水素原子を表わすかまたは式ニーCo−H1−Co−R6、−Co−OH
1−Co−OR’、−Co−CI−(、−Co−OH6、−0−Co−Hl−O
−Co−R6、−OR’、−5Q、−R’、−3OzOH1−3o、−OR’、
−PO(OH)1、−PO(OH)(OR’)、−PO(○R8)7、 OP
O(OH) 2、−0PO(OH)(OR’)または−〇 P O(OR’)
zで示される基を表し、この場合、
R6は、C1〜C1,−アルキル基、C2〜C1−アルケニル基、C7〜C1,
−アルキニル基、C5〜C1−シクロアルキル基、C7〜C12−フェニルアル
キル基を表わすかまたは1個または2個のC1〜C4−アルキル基、01〜C4
−アルコキシ基、ハロゲン原子、ヒドロキシル基、フェノール基またはC3〜C
4−アルコキシカルボニル基によって置換されていてもよいフェニル基を表し、
Yは、基−CH=CH−または−CミC−を表し、mは、0〜10の数を表し、
nは、1〜4の数を表し、
pは、0または1を表し、
qは、0〜10の数を表し、
X8は、水溶性を促進するn価の無機または有機陰イオンを表わす〕
で示されるホスホニウム塩を使用することによって特徴付けられる。
該ホスホニウム塩Iは、第二光沢形成剤の作用特性を有するので、該ホスホニウ
ム塩は、好ましくは、他の、通f第一光沢形成剤と、場合によってはまた1つま
たはそれ以上の他の第二光沢形成剤とも組み合わせて使用される。第一光沢形成
剤としては、例えばビニルスルホン酸−またはアリルスルホン酸−Na−ト’)
ラム塩、第二光沢形成剤としては、例えば2−ブチン−1,4−ジオールまた1
まプロパルギルアルコールがと亥当する。
使用された水性酸のニッケルな解質浴は、1つまたは多くの場合】、っ以上のニ
ッケル塩、例えば硫酸ニッケルおよび塩化ニッケル、1つまたはそれ以上の無機
酸、好ましくは硼酸および硫酸を含有し、光沢剤として、化合物工だけかまたは
好ましくは他の常用の光沢剤並びに場合によっては他の常用の助剤および添加剤
、例えば湿潤剤および孔防止剤との組合せ物でこのために常用の濃度で含有する
。慣用の水性酸のニッケル電解質(″ワンラミ解質(Wa目5−Eleklro
lyle) ” )は、以下の基礎組成を有する
NiSO4・7H,0200〜350 g / IN i Cl 、・6H,0
30〜150g/IH,B0. 30〜50g/l
電解質浴のpH値は、常法では3〜6、好ましくは4〜5である。前記pH値の
調節には、好ましい場合には強力な鉱酸、好ましくは硫酸が使用される。
化合物lは、電解質浴中で、通常、0.01〜0゜5g/l、好ましくは0.0
25〜0.3g/Iの間の低い濃度で存在する。池の常用の光沢剤の濃度は、通
常、それぞれ0.1〜10 g / I 、殊に0.1〜2゜0g/lである。
記載されたニッケル電解質浴を用いて、就中、鋼からなる成形部材の上へのニッ
ケル被覆、それとともにあるいはまた通常のように前処理されている別の材料、
例えば真鍮からなる成形部材の上へのニッケル被覆は、電気鍍金により得ること
ができる。このために、通常、30〜80℃、好ましくは40〜60℃の温度で
作業される。
本発明により使用された化合物工は、非常に高い光沢形成によって顕著である。
該化合物を用いた場合、通常、常用の光沢形成剤を用いた場合よりも強力な光沢
が得られ、このことは、多くの場合にニッケル電解質浴中での明らかにより低い
用量の際に得られる。
製造例
例 1
トリフェニルホスホニウム酢酸ベンジルエステル塩化物の製造
トリフェニルホスファン23.6g (0,1モル)を、ドルオール70 m
l中に懸濁させた。この懸濁液に、クロル酢酸ベンジルエステル18.5g (
0,1モル)を滴加し、2時間加熱して沸騰させた。室温への冷却後に、沈殿し
た生成物を濾別し、かつジエチルエーテルで洗浄した。乾燥後に、無色の結晶体
の形で目的化合物、40.8g(90%の収率に相応する)が得られた。該生成
物の純度は、99%を上廻っていた。
例 2
3−(トリフェニルホスホニウム)プロピル−メチルケトン塩化物の製造
該目的化合物を、例1と同様にして、トリフェニルホスファンおよび3−クロル
プロピル−メチルトンから82%の収率で製造した。
例 3
4−(トリフェニルホスホニウム)酪酸−塩化物の製造
該目的化合物を、例1と同様にして、トリフェニルホスファンおよび4−クロル
酪酸から78%の収率で製造した。
例 4
4−(トリフェニルホスホニウム)アセト酢酸メチルエステル−塩化物の製造
該目的化合物を、例1と同様にして、トリフェニルホスファンおよび4−クロル
アセト酢酸メチルエステルから84%の収率で製造した。
例 5
5−(トリフェニルホスホニウム)バレリアン酸エチルエステルー臭化物の製造
該目的化合物を、例1と同様にして、トリフェニルホスファンおよび5−プロム
バレリアン酸エチルエステルから74%の収率で製造した。
例 6
5−(トリフェニルホスホニウム)バし/リアン酸−臭化物の製造
該目的化合物を、例1と同様にして、トリフェニルホスファンおよび5−プロム
バレリアン酸から79%の収率で製造した。
例 7
トリフェニルホスホニウムアリル−塩化物の製造該目的化合物を、例1と同様に
して、トリフェニルホスファンおよび塩化アリルから89%の収率で製造した。
使用例
例1〜7の記載により製造された生成物を、光沢剤として、弱酸の電気鍍金浴中
で、ニッケルの析出のために使用した。
使用された水性ニッケル電解質は、次の組成を有していた:
N IS O−・7 Hz 0 300 g / IN i C12・ 6H,
060g/IHIB0. 45 g/l
サッカリン 2 g/l
ビニルスルホン酸−ナトリウム塩 0.8g/1表に記載の光沢形成剤 x g
/l
湿潤剤としての式:
%式%
で示される脂肪アルコール誘導体 0.5g/l電解質のpH値を、硫酸を用い
て4.2に調節した。
ニッケルで被覆する前にアルカリ電解質中で常法によりカソードにより脱脂され
た真鍮板を使用した。ニッケルの析出は、250 m l−ヒュルーセル(25
0m 1−Hull−Zelle)中で、55℃の温度および2Aの電流の強さ
で10分間行った。引続き、この板を水で洗浄し、かつ圧縮空気で乾燥させた。
次の表は、前記試験の結果を示す。本発明による光沢形成剤を用いた場合、公知
技術水準の光沢形成剤を用いた場合よりも強い光沢が得られ、その一部はニッケ
ル電解質浴中での明白により低い用量の場合に得られたことは明らかである。
電気鍍金によるニッケルの析出の試験結果光沢の評価基準
5− 優 (完全な鏡面反射)
4 = 良 (はとんど鏡面反射)
比較化合物Aは、(2)から公知である。
国際調査報告
EP 9300695
国際調査報告
国際調査報告
EP 9300695
フロントページの続き
(72)発明者 シュヴエンデマン、フォルカードイツ連邦共和国 D−673
0ノイシュタット アム ホイゼルベルク 2
(72)発明者 グラーザー、 クラウスドイツ連邦共和国 D−6800マン
ハイム1 チー3,8
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1.一般式I: ▲数式、化学式、表等があります▼(I)〔式中、 R1〜R3は、カルボキシル基、C1〜C4−アルコキシカルボニル基またはシ アノ基によって置換されていてもよいC1〜C16−アルキル基、C2〜C12 −アルケニル基、C2〜C12−アルキニル基、C5〜C6−シクロアルキル基 、C7〜C12−フェニルアルキル基を表わすかまたは、1個または2個のC1 〜C4−アルキル基、C1〜C4−アルコキシ基、ハロゲン原子、ヒドロキシル 基、フェニル基またはC1〜C4−アルコキシカルボニル基によって置換されて いてもよいフェニル基またはモノ−またはジ(C1〜C4−アルキル)アミノ基 を表し、 R4およびR5は、水素原子またはC1〜C4−アルキル基を表し、 Aは、水素原子を表わすかまたは式:−CO−H、−CO−R6、−CO−OH 、−CO−OR6、−CO−CH2−CO−OR6、−O−CO−H、−〇−C O−R6、−OR6、−SO2−R6、−SO2−OH、−SO2−OR6、− PO(OH)2、−PO(OH)(OR6)、−PO(OR6)2、−OPO( OH)2、−OPO(OH)(OR6)または−OPO(OR6)2で示される 基を表し、この場合、 R6は、C1〜C12−アルキル基、C2〜C12−アルケニル基、C2〜C1 2−アルキニル基、C5〜C6−シクロアルキル基、C7〜C12−フェニルア ルキル基を表わすかまたは1個または2個のC1〜C4−アルキル基、C1〜C 4−アルコキシ基、ハロゲン原子、ヒドロキシル基、フェノール基またはC1〜 C4−アルコキシカルボニル基によって置換されていてもよいフェニル基を表し 、Yは、基−CH=CH−または−C≡C−を表し、mは、0〜10の数を表し 、 nは、1〜4の数を表し、 pは、0または1を表し、 qは、0〜10の数を表し、 Xeは、水溶性を促進するn価の無機または有機陰イオンを表わす〕 で示されるホスホニウム塩。 2.符号R1〜R3がC1〜C4−アルキル基または1個または2個のC1〜C 4−アルキル基によって置換されていてもよいフェニル基を表わす、請求項1に 記載のホスホニウム塩。 3,一般式Ia: ▲数式、化学式、表等があります▼(Ia)〔式中、符号R1〜R5、m、nお よびXΘは、上記の意味を有し、R7は、水素原子、C1〜C12−アルキル基 、C2〜C12−アルケニル基、C2〜C12−アルキニル基、C5〜C6−シ クロアルキル基、C7〜C12−フェニルアルキル基またはフェニルアルキル基 または1個または2個のC1〜C4−アルキル基によって置換されていてもよい フェニル基を表わす〕で示される、請求項1または2に記載のホスホニウム塩。 4.一般式Ib: ▲数式、化学式、表等があります▼(Ib)〔式中、符号R1〜R5、R7、m 、nおよびXΘは、上記の意味を有する〕で示される、請求項1または2に記載 のホスホニウム。 5.一般式Ic: ▲数式、化学式、表等があります▼(Ic)[式中、符号R1〜R4、R7、Y 、nおよびXΘは、上記の意味を有する〕で示される、請求項1または2に記載 のホスホニウム塩。 6.一般式Id: ▲数式、化学式、表等があります▼(Id)〔式中、符号R1〜R5、R7、m 、nおよびXΘは、上記の意味を有する〕で示される、請求項1または2に記載 のホスホニウム塩。 7.一般式Ie: ▲数式、化学式、表等があります▼(Ie)〔式中、符号R1〜R4、nおよび XΘは、上記の意味を有し、R8は水素原子を除いてR7と同じ意味を有する〕 で示される、請求項1または2に記載のホスホニウム塩。 8.一般式If: ▲数式、化学式、表等があります▼(If)〔式中、符号R1〜R5、R7、m 、nおよびXΘは、上記の意味を有する〕で示される、請求項1または2に記載 のホスホニウム塩。 9.一般式Ig: ▲数式、化学式、表等があります▼(Ig)〔式中、符号R1〜R4、Y、n、 qおよびXΘは、上記の意味を有する〕で示される、請求項1または2に記載の ホスホニウム塩。 10.一般式Ih: ▲数式、化学式、表等があります▼(Ih)〔式中、符号R1〜R5、R7、m 、nおよびXΘは、上記の意味を有する〕で示される、請求項1または2に記載 のホスホニウム塩。 11.本質的成分として1つまたはそれ以上のニッケル塩、1つまたはそれ以上 の無機酸および1つまたはそれ以上の光沢剤を含有する水性酸浴からのニッケル の電気鍍金による析出により、ニッケル化された成形部材を製造するための方法 において、光沢剤が、請求項1から10までのいずれか1項に記載の一般式Iの ホスホニウム塩を使用することを特徴とする、ニッケル化された成形部材の製造 法。 12.ホスホニウム塩Iとともに少なくとも1つの他の光沢剤を使用する、請求 項11に記載の方法。
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