JPH07503324A - 差動屈折率測定の方法および装置と関連使用法 - Google Patents
差動屈折率測定の方法および装置と関連使用法Info
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Abstract
Description
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)ビームFを放射するコヒーレントな光の光源(1)によって2つの媒体( Cr,Cm)の屈折率の差を測定する方法にして、該方法が該媒体の各々に光ビ ーム(I,II)を透過させて干渉図形を生ぜしめ、その変位を測定するもので あり、ビームFの偏光成分のうち1つを修飾すること、ビームFの少くとも1つ の該偏光成分に位相変調を施して、干渉図形の縞のずれを生ぜしめ、これによっ て、2つの媒体(Cr,Cm)の相対的な屈折率の差を定量化すること、および 干渉図形の縞の変位を検知するために単一の手段(9)を使うことを特徴とする 方法。 (2)前記位相を変調するためにポッケルス・セルを使うことを特徴とする、請 求項(1)に記載の方法。 (3)前記手段(9)が干渉図形の縞の変位の振幅と方向とを検知するためのも のであることを特徴とする、請求項(1)又は(2)に記載の方法。 (4)高性能流体色相分析に使われる差動干渉計が−ビームFを放射するコヒー レントな光の光源(1)と、 −該光源からの該ビームFの偏光を分割するための光分割器(3)と、 −該光分割器(3)からの2つのコヒーレントなビーム(F2,F3)を平行に するための第1の光システム(4)と、 −基準の流体を収容するための1つの容器Crと、測定すべき流体を収容するも う1つの容器Cmとを含み、該容器の各々に第1の光システム(4)から来る2 つのビームを透過させるようにした、2つの容器Cr,Cmと、 −前記干渉図形に関係して光を検知する光検知器(9)とを含み、更に、前記光 分割器(3)の上流の光源(1)からビームFの途中におかれて、該ビームFの 1つの偏光成分を修飾するための第1の複屈折性光媒体(2)と、 −前記干渉図形の位置から上流に第2の複屈折性光媒体(5,5′)と、 −複屈折性光媒体(2)に加えられる光源(1)からの光の偏光成分の1つの位 相を変調するためと、該複屈折性光媒体(2)に加えられる変調信号Rと、前記 光検知器(9)の端子で測定された信号Sとの間の瞬時相対位相差を解析するた めと、これによって基準容器Crと被測定容器Cmの間の相対的屈折率の差を定 量化するための電子システム(11−18)と、 −該電子システムからのデータを処理するためのコンピュータシステムとを含み 、これを用いて、差動屈折率を測定するための装置。 (5)前記第1の複屈折性光システム(2)がポッケルス・セルであることを特 徴とする、請求項(4)に記載の装置。 (6)前記容器を透過して来るビーム(IとII)を組み合わせる光システムが 、自らの焦点の位置(7)に前記干渉図形を生ぜしめるための収歛レンズを含む ことを特徴とする、請求項(4)又は(5)に記載の装置。 (7)前記第2の複屈折性光システム(5)が前記光分割器(3)から来るビー ム(F2,F3)のうちの1つの途中におかれていることを特徴とする、請求項 (4)から(6)までの何れか1つに記載の装置。 (8)前記光検知器(9)が光ファイバ(8)を含み、該光ファイバの一端が前 記収歛レンズの焦点の位置(7)に位置し、照度を受ける端部の表面が、干渉計 の光学軸Xに垂直な面を有し、該光ファイバの他端が該光検知器(9)に接続さ れていることを特徴とする、請求項(4)から(7)までの何れか1つに記載の 装置。 (9)前記ビームIおよびIIの各々を組合わせる光システムが、第2の複屈折 性光媒体(5′)と、ビームの向きを変えるためのブレード(7′)とを含むこ とを特徴とする、請求項(4)又は(5)に記載の装置。 (10)前記ビームIおよびIIの各々を組合わせる光システムが更に前記容器 (Cr,Cm)のうちの1つを透過して来た2つのビームの各々を反射させて、 前記第1の光システム(4)と、光分割器(3)と前記ブレード(7′)と第2 の複屈折性光媒体(5′)との方に方向転換させる反射素子(6′)を含むこと を特徴とする、請求項(9)に記載の装置。 (11)前記光源(1)がレーザ型の単色光源であることを特徴とする、請求項 (4)から(10)までの何れか1つに記載の装置。 (12)請求項(4)から(ll)までの何れか1つに記載の装置を高性能流体 色相解析に用いることを特徴とする使用方法。 (13)請求項(4)から(11)までの何れか1つに記載の装置を、ゲル浸透 性流体色相分析に用いることを特徴とする使用方法。 (14)請求項(4)から(11)までの何れか1つに記載の装置を、静的光拡 散装置を較正するために溶質濃度の関数としての溶液の屈折率の変化を測定する ことに使用することを特徴とする使用方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR9212946A FR2697336B1 (fr) | 1992-10-28 | 1992-10-28 | Procédé et dispositif de mesure différentielle d'indices de réfraction et utilisation associée. |
FR92/12946 | 1992-10-28 | ||
PCT/FR1993/001054 WO1994010552A1 (fr) | 1992-10-28 | 1993-10-27 | Procede et dispositif de mesure differentielle d'indices de refraction et utilisation associee |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07503324A true JPH07503324A (ja) | 1995-04-06 |
JP3679409B2 JP3679409B2 (ja) | 2005-08-03 |
Family
ID=9434984
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP51077194A Expired - Fee Related JP3679409B2 (ja) | 1992-10-28 | 1993-10-27 | 差動屈折率測定の方法および装置と関連使用法 |
Country Status (10)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5483344A (ja) |
EP (1) | EP0619016B1 (ja) |
JP (1) | JP3679409B2 (ja) |
KR (1) | KR100302687B1 (ja) |
AT (1) | ATE164942T1 (ja) |
CA (1) | CA2126245C (ja) |
DE (1) | DE69317874T2 (ja) |
ES (1) | ES2117721T3 (ja) |
FR (1) | FR2697336B1 (ja) |
WO (1) | WO1994010552A1 (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB9614363D0 (en) * | 1996-07-09 | 1996-09-04 | Council Cent Lab Res Councils | Optical pulse autocorrelator |
US6128080A (en) * | 1997-06-06 | 2000-10-03 | Wyatt Technology Corporation | Extended range interferometric refractometer |
FR2774172B1 (fr) * | 1998-01-28 | 2000-02-25 | Inst Francais Du Petrole | Methode et dispositif de mesure interferentielle de dephasage entre deux faisceaux lumineux issus d'une meme source polarisee, appliques a la refractometrie |
US7009750B1 (en) | 2002-10-25 | 2006-03-07 | Eclipse Energy Systems, Inc. | Apparatus and methods for modulating refractive index |
US7027138B2 (en) * | 2004-01-29 | 2006-04-11 | Wyatt Technology Corporation | Enhanced sensitivity differential refractometer incorporating a photodetector array |
DE102005041584B4 (de) * | 2005-09-01 | 2007-08-16 | Universität Karlsruhe (Th) | Differentielles Messverfahren zur Bestimmung von Konzentrationsunterschieden zur Übersättigungsbestimmung |
US8982355B2 (en) * | 2010-12-09 | 2015-03-17 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration | Smart optical material characterization system and method |
US9546915B2 (en) * | 2011-10-12 | 2017-01-17 | Baker Hughes Incorporated | Enhancing functionality of reflectometry based systems using parallel mixing operations |
CN103776801B (zh) * | 2012-10-17 | 2016-12-21 | 成都光明光电股份有限公司 | 光学元件折射率的检测方法及其检测装置 |
CN113959950B (zh) * | 2021-10-28 | 2024-04-12 | 绍兴泊盛科技有限公司 | 一种基于光流控芯片检测液体折射率的检测装置 |
CN114199521B (zh) * | 2021-11-30 | 2023-09-08 | 宁波法里奥光学科技发展有限公司 | 光学镜片参数测量装置及方法 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CH428260A (de) * | 1965-09-03 | 1967-01-15 | Siemens Ag Albis | Einrichtung zur Bestimmung des relativen Brechungsindexes von lichtdurchlässigen Stoffen in bezug auf ein Medium mit bekanntem Brechungsindex |
US3680963A (en) * | 1970-09-04 | 1972-08-01 | Hercules Inc | Apparatus for measuring changes in the optical refractive index of fluids |
FR2254996A5 (en) * | 1973-12-18 | 1975-07-11 | Minisini Pierre | Method of measuring small phenomena - involves comparing beam modified by phenomenon with reference |
DE2518197A1 (de) * | 1975-04-24 | 1976-11-04 | Guenter Dipl Phys Dr Smeets | Schnelle phasennachfuehrung fuer laser-interferometer |
US4289403A (en) * | 1977-03-04 | 1981-09-15 | Isco, Inc. | Optical phase modulation instruments |
JPS57108742A (en) * | 1980-12-26 | 1982-07-06 | Japan Spectroscopic Co | Interference refractometer |
JPS58160848A (ja) * | 1982-03-19 | 1983-09-24 | Kokusai Denshin Denwa Co Ltd <Kdd> | 光干渉計 |
EP0094836B1 (en) * | 1982-05-18 | 1987-03-11 | National Research Development Corporation | Apparatus and method for measuring refractive index |
GB8415670D0 (en) * | 1984-06-20 | 1984-07-25 | Penlon Ltd | Gas analysis apparatus |
FR2596526B1 (fr) * | 1986-03-26 | 1989-06-09 | Couillard Francois | Detecteur refractometrique pour chromatographe en phase liquide |
FR2638847B1 (fr) * | 1988-11-04 | 1990-12-14 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif optique integre pour la mesure d'indice de refraction d'un fluide |
US5168325A (en) * | 1990-02-28 | 1992-12-01 | Board Of Control Of Michigan Technological University | Interferometric measurement of glucose by refractive index determination |
-
1992
- 1992-10-28 FR FR9212946A patent/FR2697336B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
1993
- 1993-10-27 WO PCT/FR1993/001054 patent/WO1994010552A1/fr active IP Right Grant
- 1993-10-27 ES ES93924117T patent/ES2117721T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1993-10-27 JP JP51077194A patent/JP3679409B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1993-10-27 AT AT93924117T patent/ATE164942T1/de not_active IP Right Cessation
- 1993-10-27 EP EP93924117A patent/EP0619016B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1993-10-27 US US08/256,206 patent/US5483344A/en not_active Expired - Lifetime
- 1993-10-27 DE DE69317874T patent/DE69317874T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1993-10-27 KR KR1019940702211A patent/KR100302687B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1993-10-27 CA CA002126245A patent/CA2126245C/fr not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2697336A1 (fr) | 1994-04-29 |
KR100302687B1 (ko) | 2001-12-01 |
DE69317874T2 (de) | 1998-07-30 |
ATE164942T1 (de) | 1998-04-15 |
CA2126245C (fr) | 2005-06-21 |
ES2117721T3 (es) | 1998-08-16 |
EP0619016A1 (fr) | 1994-10-12 |
WO1994010552A1 (fr) | 1994-05-11 |
DE69317874D1 (de) | 1998-05-14 |
KR950700533A (ko) | 1995-01-16 |
US5483344A (en) | 1996-01-09 |
EP0619016B1 (fr) | 1998-04-08 |
JP3679409B2 (ja) | 2005-08-03 |
CA2126245A1 (fr) | 1994-05-11 |
FR2697336B1 (fr) | 1994-12-16 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040427 |
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A521 | Request for written amendment filed |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090520 Year of fee payment: 4 |
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