JPH0750148B2 - 電子部品の耐候試験装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、IC又はトランジスターやレーザダイオード等
の電子部品において、その耐寒性、耐熱性又は耐湿性等
の耐候性能を試験するための装置に関するものである。

〔従来の技術〕

IC又はトランジスターやレーザダイオード等の電子部品
においては、その耐寒性、耐熱性又は耐湿性等の耐候性
能を試験することが行なわれており、この耐候性能の試
験は、試験しようとする多数個の電子部品をテストボー
ドに、各電子部品が当該テストボードの一側部における
差し込み部に設けた端子に各々電気的に接続するように
して取付けし、このようにして各々複数個の電子部品試
験槽内に、当該試験槽内に設けたコネクタに各テストボ
ードにおける端子付き差し込み部を着脱自在に各々差し
込むようにして装填し、次いで試験槽内を所定の温度又
は湿度に保った状態で各テストボードの各々に取付く各
電子部品の性能を調べることによって行なわれるのが一
般的であった。

そして、従来の試験装置は、前記試験槽における少なく
とも一側面の全体を開放し、この開放部を大きい扉によ
って開閉する構成にし、各テストボードの試験槽内への
装着及び試験槽からの取り出しを、前記大きい扉を開い
て行うように構成している。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかし、このように各テストボードを試験槽に対して出
し入れするに際して、その都度、試験槽の一側面におけ
る開放部に対する大きい扉を開くことは、試験槽内にお
ける熱気又は冷気若しくは湿気が総て逃げることにな
り、次の試験に際して試験槽内が所定の温度又は湿度に
なるまでには可成りの時間がかかることになるから、試
験に要する時間が長くなると共に、試験に際して無駄に
消費する電力が増大するのである。

その上、従来の試験装置は、試験槽内における各コネク
タの各々に対するテストボードの差し込み及び引き抜き
を、作業者の手作業によって行うようにしているが、コ
ネクタに対するテストボードの差し込み及び引き抜きに
は可成りの力が必要で、作業者の疲労が大であるから、
前記試験に要する時間が長くなることと相俟って極めて
非能率的であり、特に、耐熱試験に際しては、大きい扉
を開いたとき、試験槽内における高温の熱気が総て一度
に試験槽の開放部から出て来て、作業者がこの熱気を浴
びることになるから、可成り危険を伴うのであった。

本発明は、電子部品における耐候性能の試験に際して、
前記の問題を解消することを目的とするものである。

〔問題を解決するための手段〕

このため本発明は、少なくとも一側面を開放した箱型試
験槽に、その一側面における開放部を密閉するための扉
を開閉自在に設ける一方、前記試験槽内に、多数個の電
子部品が取付くテストボードを着脱自在に差し込むため
のコネクタを複数個を設けて成る試験装置において、前
記試験槽の開放部に対する扉又は試験槽における他の側
面には、一つのテストボードを試験槽に対して出し入れ
するための出入口を前記各コネクタの箇所ごとに設ける
と共に、該各出入口の各々に対する開閉自在な小扉を設
ける一方、前記試験槽内には、テストボードをコネクタ
に差し込む方向に押圧するための差し込み部材と、前記
テストボードをコネクタより引き抜く方向に押圧するた
めの引き抜き部材とを前記各コネクタの箇所ごとに設
け、該差し込み部材及び引き抜き部材を前記小扉に対し
て、当該小扉を開いたとき引き抜き部材がテストボード
をコネクタから引き抜く方向に作動し、小扉を閉じたと
き差し込み部材がテストボードをコネクタに差し込む方
向に作動するように連動連結した構成にしたものであ
る。

〔作用〕

この構成において、複数個の電子部品を取付けたテスト
ボードを、各出入口より試験槽内に挿入したのち、当該
各出入口における小扉を閉じると、各出入口から挿入し
た各テストボードは、小扉に連動する差し込み部材によ
ってその各々のコネクタに対して自動的に差し込むこと
ができる。

そして、試験槽内での耐候性能の試験が終わると、各出
入口の各々に対する小扉を開くと、試験槽内における各
テストボードは、各小扉に連動する引き抜き部材によっ
てコネクタから自動的に引き抜くことができ、以後テス
トボードを、各コネクタの箇所ごとにおける出入口より
出し入れすることができるから、複数枚のテストボード
を試験槽に対して出し入れするに際して、その都度、試
験槽の一側面における大きい扉を開閉する必要がないと
共に、テストボードをコネクタに差し込んだりコネクタ
から引き抜いたりする動作を、当該テストボードを試験
槽内に出入するための小扉の開閉に連動して自動的に行
うことができるのである。

〔実施例〕

以下本発明を実施例（耐熱検査装置）を図面について説
明すると、図において１は一側面を開放し、該開放部に
対して開閉自在な扉２を設けて成る箱型の試験槽を示
し、該試験槽１内の上部には当該試験槽１内の空気を所
定の温度に加熱し、且つ、加熱空気を循環するための加
熱循環装置３が設けられ（但し、耐寒試験の場合には、
この加熱循環装置３に代えて冷却循環装置を、耐湿試験
の場合には、調湿循環装置を使用する）、更に、試験槽
１内には、テストボード４を装着するためのコネクタ５
が、上下方向に適宜間隔で複数個設けられている。

前記テストボード４の後端4aには、当該テストボード４
に取付けた多数個の電子部品６の各々に導通する端子７
を備えた差込み部4bを備え、該差込み部4bを前記コネク
タ５に差し込むように構成されている。

前記試験槽１内には、前記テストボード４をコネクタ５
に対して差し込んだりコネクタ５から引き抜いたりする
方向にガイドするための左右一対のガイド部材8,8を、
前記各コネクタ５の箇所ごとに設ける。

一方、前記試験槽１における開放部に対する扉２には、
一つのテストボード４を試験槽１に対して出し入れする
ための出入口９を前記各コネクタ５の箇所ごとに設ける
と共に、該各出入口９を各々閉鎖するための小扉10を、
ピン11にて開閉自在に枢着する。

なお、この各小扉10は、図示しない空気圧シリンダ又は
油圧シリンダ等により動力的に開閉作動するように構成
されている。

図中符号12は、前記試験槽１内において前記各コネクタ
５の箇所ごとに設けたテストボード用抜き差し機構を示
し、該抜き差し機構12は、前記左右一対のガイド部材8,
8と直角方向に配設した前後一対の回転自在な軸13,14を
備え、該両軸13,14のうち前記コネクタ５に近い部位に
おける後部軸14には、前記テストボード４における後端
4aに接当する左右一対の引き抜き部材15,15を、前部軸1
3には、前記テストボード４における前端4cに接当する
左右一対の差し込み部材16,16を各々固着する一方、前
部軸13と後部軸14とを、その各々に固着したレバー17,1
8の先端間をリンク杆19にて連結することにより、両軸1
3,14が同時に同じ方向に回動するように連動連結する。

このとき、差し込み部材16,16がテストボード４におけ
る前端4cから離れる方向に逃げ回動すると引き抜き部材
15,15がテストボード４における後端4aに接近する方向
に回動し、逆に差し込み部材16,16がテストボード４に
おける前端4cに接近する方向に回動すると引き抜き部材
15,15がテストボード４における後端4aから離れる方向
に逃げ回動するように構成する。なお、前記レバー17に
は、その回動位置に保持するためのばね22を備えてい
る。

そして、前記前部軸13におけるレバー17の他端に連結し
たリンク杆20の先端を、前記小扉10に対して着脱自在に
構成したピン21にて連動連結することにより、小扉10を
閉じ回動すると、差し込み部材16,16がテストボード４
における前端4cに接近する方向に回動し、逆に小扉10を
開き回動すると、引き抜き部材15,15がテストボード４
における後端4aに接近する方向に回動するように構成す
る。

この構成において、予め多数個の電子部品６を取付けた
テストボード４を、小扉10を開いた状態でその出入口９
より試験槽１内に挿入し、次いで小扉10を閉じると、出
入口９が密閉されると同時に、小扉10の閉じ回動に連動
して、引き抜き部材15,15がテストボード４における後
端4aから離れる方向に逃げ回動すると共に、差し込み部
材16,16がテストボード４における前端4cに接近する方
向に回動することにより、テストボード４は、差し込み
部材16,16の回動によって第１図に矢印（Ａ）で示すよ
うに後方に向って押圧移動されて、当該テストボード４
における差し込み部4bがコネクタ５に対して自動的に差
し込まれることになる。

そして、耐熱性の試験後において、小扉10を開き回動す
ると、これに連動して差し込み部材16,16がテストボー
ド４における前端4cから離れる方向に逃げ回動すると同
時に、引き抜き部材15,15がテストボード４における後
端4aに接近する方向に回動することにより、テストボー
ド４は、引き抜き部材15,15の回動によって第１図に矢
印（Ｂ）で示すように前方の出入口９に向って押圧移動
してコネクタ５から自動的に引き抜かれることになるか
ら、以後は、出入口９からテストボード４の出し入れを
行うのである。

また、各小扉10と抜き差し機構12とを連結するための各
ピン21を各々抜けば、各小扉10と抜き差し機構12との連
結状態が解除され、複数の小扉10が取付く大きい扉２を
開くことができるから、試験槽１内の全体に対する修理
等のメンテナンスが、大きい扉２を開いた状態で容易に
行うことができる。

なお、前記実施例は、試験槽１へのテストボード４の出
し入れ行うための各出入口９、及び該各出入口９に対す
る小扉10を、前記試験槽１における大きい扉２に対して
設けた場合を示したが、前記各出入口９及び小扉10は、
試験槽１における大きい扉２に対して設けることに代え
て、試験槽１を構成する他の側面に設けても良いのであ
り、前記実施例は、耐熱試験の場合であったが、同様に
して耐寒試験又は耐湿試験の場合にも適用できることは
言うまでもない。

〔発明の効果〕

以上の通り本発明によると、試験槽に対するテストボー
ドの出し入れの都度、試験槽における大きい扉を開く必
要がなく、コネクタの箇所ごとに設けた出入口からテス
トボードの出し入れ行うことができて、テストボードの
出し入れに伴う熱気、冷気又は湿気の逃げを僅少に留め
ることができるから、試験槽内を所定の温度又は湿度に
するまでの無駄な時間を短縮できると共に、消費電力を
節減することができ、しかも、作業者が浴びる熱気を低
減できるから、作業の安全性を向上できるのである。

その上、本発明によると、テストボードのコネクタに対
する差し込み、及びコネクタからの引き抜きを、前記出
入口に対する小扉の開閉に連動して自動的に行うことが
できるから、前記のように試験槽内を所定の温度又は湿
度にするまでの無駄な時間を短縮できることと相俟っ
て、試験の能率を著しく向上することができる。

【図面の簡単な説明】

図面は本発明の実施例を示し、第１図は要部を示す縦断
正面図で第３図のＩ−Ｉ視拡大断面図、第２図は第１図
のII-II視断面図、第３図は全体の斜視図、第４図はテ
ストボードの抜き差し機構の斜視図である。 １……試験槽、２……扉、３……加熱循環装置、４……
テストボード、５……コネクタ、６……電子部品、８…
…ガイド部材、９……出入口、10……小扉、12……抜き
差し機構、13,14……軸、15……引き抜き部材、16……
差し込み部材、17、18……レバー、19,20……リンク
杆、21……連結ピン。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】少なくとも一側面を開放した箱型試験槽
   に、その一側面における開放部を密閉するための扉を開
   閉自在に設ける一方、前記試験槽内に、多数個の電子部
   品が取付くテストボードを着脱自在に差し込むためのコ
   ネクタを複数個を設けて成る試験装置において、前記試
   験槽の開放部に対する扉又は試験槽における他の側面に
   は、一つのテストボードを試験槽に対して出し入れする
   ための出入口を前記各コネクタの箇所ごとに設けると共
   に、該各出入口の各々に対する開閉自在な小扉を設ける
   一方、前記試験槽内には、前記テストボードをコネクタ
   に差し込む方向に押圧するための差し込み部材と、テス
   トボードをコネクタより引き抜く方向に押圧するための
   引き抜き部材とを前記各コネクタの箇所ごとに設け、該
   差し込み部材及び引き抜き部材を前記小扉に対して、当
   該小扉を開いたとき引き抜き部材がテストボードをコネ
   クタから引き抜く方向に作動し、小扉を閉じたとき差し
   込み部材がテストボードをコネクタに差し込む方向に作
   動するように連動連結したことを特徴とする電子部品の
   耐候試験装置。