JPH0748075B2 - 三相共通タンク形遮断器の試験回路 - Google Patents
三相共通タンク形遮断器の試験回路Info
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- JPH0748075B2 JPH0748075B2 JP6011489A JP6011489A JPH0748075B2 JP H0748075 B2 JPH0748075 B2 JP H0748075B2 JP 6011489 A JP6011489 A JP 6011489A JP 6011489 A JP6011489 A JP 6011489A JP H0748075 B2 JPH0748075 B2 JP H0748075B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、各相の遮断部が共通の接地タンク内に収納
された三相共通タンク形遮断器の三相短絡遮断時におけ
る遮断部の遮断性能と、遮断第１相となった相の遮断部
と残り２相の遮断部との間の絶縁耐力と、全相の対地絶
縁耐力とを１回の試験により確認可能な試験回路とし
て、遮断器各相の遮断部に短絡電流を供給する三相電流
源と、遮断第１相となる相の端子間に再起電圧を供給す
るとともに該供給された再起電圧の定常分を前記三相電
流源の運転周波数における1/4周波の時間にその波高値
からほぼ最終値まで減衰させる時定数を有する回路素子
が付加された第１の電圧源と、各相の負荷側端子に一括
して大地との間に相電圧を印加する第２の電圧源とを備
えるとともに、前記第１の電圧源が、再起電圧の定常分
波高値を供給可能な電圧に充電される電源コンデンサを
始動ギャップとインダクタンスとを順に介して再起電圧
過渡分の波形を調整する，該波形調整のための抵抗とコ
ンデンサとの直列回路素子を含む波形調整回路に接続し
た閉回路として形成され、遮断第１相となる相への再起
電圧の供給が波形調整回路の両端子から行われる三相共
通タンク形遮断器の試験回路の改良に関する。
された三相共通タンク形遮断器の三相短絡遮断時におけ
る遮断部の遮断性能と、遮断第１相となった相の遮断部
と残り２相の遮断部との間の絶縁耐力と、全相の対地絶
縁耐力とを１回の試験により確認可能な試験回路とし
て、遮断器各相の遮断部に短絡電流を供給する三相電流
源と、遮断第１相となる相の端子間に再起電圧を供給す
るとともに該供給された再起電圧の定常分を前記三相電
流源の運転周波数における1/4周波の時間にその波高値
からほぼ最終値まで減衰させる時定数を有する回路素子
が付加された第１の電圧源と、各相の負荷側端子に一括
して大地との間に相電圧を印加する第２の電圧源とを備
えるとともに、前記第１の電圧源が、再起電圧の定常分
波高値を供給可能な電圧に充電される電源コンデンサを
始動ギャップとインダクタンスとを順に介して再起電圧
過渡分の波形を調整する，該波形調整のための抵抗とコ
ンデンサとの直列回路素子を含む波形調整回路に接続し
た閉回路として形成され、遮断第１相となる相への再起
電圧の供給が波形調整回路の両端子から行われる三相共
通タンク形遮断器の試験回路の改良に関する。
この種試験回路としてさきに本願発明者は第11図および
第13図に示すごとき試験回路を提案した（特開昭59−10
9873号公報参照）。これらの試験回路の構成と動作は次
の通りである。
第13図に示すごとき試験回路を提案した（特開昭59−10
9873号公報参照）。これらの試験回路の構成と動作は次
の通りである。
各相の遮断部が共通の接地タンク内に収容された三相共
通タンク形遮断器（以下、単に遮断器とも記す）の各相
電源側端子のうち、遮断第１相となる相（Ａ相とする）
は補助遮断器６と電流調整用リアクトル２とを介して低
電圧の三相電流源１のＡ相出力端子に，残り２相（Ｂ
相,C相）は電流調整用リアクトル２のみを介して三相電
流源のＢ相,C相の出力端子にそれぞれ接続され、負荷側
端子は三相一括して後に詳細を説明する第２の電圧源12
の出力端子に接続されている。補助遮断器６の三相電流
源１側と遮断器４のＣ相遮断部の三相電流源１側とには
それぞれ、遮断器４内でアークが早く切れすぎないよう
に、アーク延長回路7A,7Cが接続され、それぞれの相の
電流零点直前でアーク延長回路を起動して逆方向の衝撃
性長波尾電流を強制的に注入し、アークをさらに１半波
以上延長させるようにしている。遮断器４にこのような
回路構成で短絡電流を供給することにより、電流に関す
る条件はアーク電圧による電流の変歪を除けば実回路に
一致する。
通タンク形遮断器（以下、単に遮断器とも記す）の各相
電源側端子のうち、遮断第１相となる相（Ａ相とする）
は補助遮断器６と電流調整用リアクトル２とを介して低
電圧の三相電流源１のＡ相出力端子に，残り２相（Ｂ
相,C相）は電流調整用リアクトル２のみを介して三相電
流源のＢ相,C相の出力端子にそれぞれ接続され、負荷側
端子は三相一括して後に詳細を説明する第２の電圧源12
の出力端子に接続されている。補助遮断器６の三相電流
源１側と遮断器４のＣ相遮断部の三相電流源１側とには
それぞれ、遮断器４内でアークが早く切れすぎないよう
に、アーク延長回路7A,7Cが接続され、それぞれの相の
電流零点直前でアーク延長回路を起動して逆方向の衝撃
性長波尾電流を強制的に注入し、アークをさらに１半波
以上延長させるようにしている。遮断器４にこのような
回路構成で短絡電流を供給することにより、電流に関す
る条件はアーク電圧による電流の変歪を除けば実回路に
一致する。
遮断第１相となるＡ相の電流遮断にひきつづき再起電圧
を供給する第１の電圧源11は、所定の再起電圧定常分波
高値を供給可能な電圧に充電される電源コンデンサ111
と、この電源コンデンサ111を放電させる始動ギャップ1
12と、Ａ相を通過する短絡電流の最終零点直前でＡ相に
注入する高周波正弦波電流の大きさもしくは最大傾斜を
きめるインダクタンス113と、再起電圧過渡分の波形を
調整する，抵抗114とコンデンサ115とからなる直列回路
素子とコンデンサ116との並列回路として構成された波
形調整回路18とが順に直列に接続された閉回路として形
成され、Ａ相への再起電圧の供給は波形調整回路18の両
端子から行われる。この波形調整回路18の両端子間（第
11図の場合）または波形調整回路18内のコンデンサ115
の両端子間（第13図の場合）にはさらに、三相電流源１
の運転周波数における1/4周波の時間に再起電圧定常分
をその波高値から最終値まで減衰させる時定数を有す
る，抵抗123とコンデンサ124とからなる直列回路素子ま
たは抵抗114と抵抗125との和とコンデンサ126とで前記
の時定数を与える抵抗125とコンデンサ126とからなる直
列回路素子が接続され、始動ギャップ112の放電により
Ａ相遮断部の電源側端子に供給された再起電圧定常分が
所定の波高値に達した後、この定常分電圧を1/4周期後
にここでは非有効接地系用遮断器を対象として0.732E
（Ｅは実回路の相電圧）に減衰させている。一方、遮断
器４の負荷側端子には、Ａ相短絡電流遮断時点より1/4
周期後から一括して大地との間に実回路に等しい相電圧
が印加され、Ａ相遮断部の電源側端子と遮断器の負荷側
端子との間には第12図のハッチングで示す電圧が印加さ
れる。ここで、e1は第１の電圧源11から供給される電圧
であり、e2は第２の電圧源12から供給される電圧を示
す。図からみられるように、電気角０〜π/2の間はＡ相
遮断部の両端子間に再起電圧定常分として1.5Eから0.73
2Eに減衰する電圧がかかり、B,C相短絡電流が遮断され
るπ/2の時点以降はＡ相遮断部の電源側と全相の負荷側
端子との間に波高値が1.732Eの運転周波数電圧がかか
る。すなわち、試験回路を第11図あるいは第13図のよう
に構成することにより、電流条件を実回路と一致させつ
つ、遮断部の遮断性能と、遮断第１相と残り２相との間
の絶縁耐力（1.732E）と、各相遮断部とタンクとの間の
絶縁耐力（1.0E）とを１回の試験で検証することができ
る。
を供給する第１の電圧源11は、所定の再起電圧定常分波
高値を供給可能な電圧に充電される電源コンデンサ111
と、この電源コンデンサ111を放電させる始動ギャップ1
12と、Ａ相を通過する短絡電流の最終零点直前でＡ相に
注入する高周波正弦波電流の大きさもしくは最大傾斜を
きめるインダクタンス113と、再起電圧過渡分の波形を
調整する，抵抗114とコンデンサ115とからなる直列回路
素子とコンデンサ116との並列回路として構成された波
形調整回路18とが順に直列に接続された閉回路として形
成され、Ａ相への再起電圧の供給は波形調整回路18の両
端子から行われる。この波形調整回路18の両端子間（第
11図の場合）または波形調整回路18内のコンデンサ115
の両端子間（第13図の場合）にはさらに、三相電流源１
の運転周波数における1/4周波の時間に再起電圧定常分
をその波高値から最終値まで減衰させる時定数を有す
る，抵抗123とコンデンサ124とからなる直列回路素子ま
たは抵抗114と抵抗125との和とコンデンサ126とで前記
の時定数を与える抵抗125とコンデンサ126とからなる直
列回路素子が接続され、始動ギャップ112の放電により
Ａ相遮断部の電源側端子に供給された再起電圧定常分が
所定の波高値に達した後、この定常分電圧を1/4周期後
にここでは非有効接地系用遮断器を対象として0.732E
（Ｅは実回路の相電圧）に減衰させている。一方、遮断
器４の負荷側端子には、Ａ相短絡電流遮断時点より1/4
周期後から一括して大地との間に実回路に等しい相電圧
が印加され、Ａ相遮断部の電源側端子と遮断器の負荷側
端子との間には第12図のハッチングで示す電圧が印加さ
れる。ここで、e1は第１の電圧源11から供給される電圧
であり、e2は第２の電圧源12から供給される電圧を示
す。図からみられるように、電気角０〜π/2の間はＡ相
遮断部の両端子間に再起電圧定常分として1.5Eから0.73
2Eに減衰する電圧がかかり、B,C相短絡電流が遮断され
るπ/2の時点以降はＡ相遮断部の電源側と全相の負荷側
端子との間に波高値が1.732Eの運転周波数電圧がかか
る。すなわち、試験回路を第11図あるいは第13図のよう
に構成することにより、電流条件を実回路と一致させつ
つ、遮断部の遮断性能と、遮断第１相と残り２相との間
の絶縁耐力（1.732E）と、各相遮断部とタンクとの間の
絶縁耐力（1.0E）とを１回の試験で検証することができ
る。
このように構成された試験回路の問題点は次の２つであ
る。すなわち、まず、遮断第１相と残り２相との間に線
間電圧1.732Eを印加するとともに各相遮断部とタンクと
の間に相電圧を印加することができるためには、遮断第
１相の電流遮断時点から電気角π/2経過するまでに再起
電圧定常分電圧が0.732Eの値になっている必要がある。
従来は抵抗123とコンデンサ124とのみでコンデンサ124
への充電の時定数をコンデンサの端子電圧がほぼ飽和値
に達するまでの時間が電気角π/2となるように設定する
とともに（この充電により電源コンデンサ111の端子電
圧が降下し、再起電圧定常分が減衰する）充電終了後の
端子電圧が0.732Eとなるように抵抗123とコンデンサ124
とのそれぞれの定数を決定していた。このため、コンデ
ンサ124の容量は電源コンデンサ111の容量とはほぼ等し
くなり、膨大な費用を要する結果となっていた。因みに
１相当り１遮断点で定格電圧300kVの遮断器を構成する
際に必要となる第１の電圧源の電源コンデンサの静電容
量は次式により求められる。
る。すなわち、まず、遮断第１相と残り２相との間に線
間電圧1.732Eを印加するとともに各相遮断部とタンクと
の間に相電圧を印加することができるためには、遮断第
１相の電流遮断時点から電気角π/2経過するまでに再起
電圧定常分電圧が0.732Eの値になっている必要がある。
従来は抵抗123とコンデンサ124とのみでコンデンサ124
への充電の時定数をコンデンサの端子電圧がほぼ飽和値
に達するまでの時間が電気角π/2となるように設定する
とともに（この充電により電源コンデンサ111の端子電
圧が降下し、再起電圧定常分が減衰する）充電終了後の
端子電圧が0.732Eとなるように抵抗123とコンデンサ124
とのそれぞれの定数を決定していた。このため、コンデ
ンサ124の容量は電源コンデンサ111の容量とはほぼ等し
くなり、膨大な費用を要する結果となっていた。因みに
１相当り１遮断点で定格電圧300kVの遮断器を構成する
際に必要となる第１の電圧源の電源コンデンサの静電容
量は次式により求められる。
ここで、Lv :インダクタンス113のインダクタンス値， Ev： 電源コンデンサ111の充電電圧， I: 遮断電流実効値， ω： 三相電流源１の運転角周波数 であり、Ｉ＝50kA,ω＝314とした場合、電源コンデンサ
は約320kVに充電可能な，静電容量が約５μＦのもので
なければならない。
は約320kVに充電可能な，静電容量が約５μＦのもので
なければならない。
第２に、遮断第１相の電流遮断後、残り２相の電流遮断
時点までに遮断第１相と残り２相との間および遮断第１
相の端子間にかかる電圧は、実系統では第２図における
曲線200のように余弦波形となるのに対し、第11図また
は第13図の試験回路では第12図のように下方へ大きく凹
む減衰曲線となり、両曲線の差に相当した電圧分だけ試
験条件が実回路より緩和された結果となる欠点があっ
た。
時点までに遮断第１相と残り２相との間および遮断第１
相の端子間にかかる電圧は、実系統では第２図における
曲線200のように余弦波形となるのに対し、第11図また
は第13図の試験回路では第12図のように下方へ大きく凹
む減衰曲線となり、両曲線の差に相当した電圧分だけ試
験条件が実回路より緩和された結果となる欠点があっ
た。
この発明の目的は、三相共通タンク形遮断器における三
相短絡電流遮断時の遮断部の遮断性能と、遮断第１相と
残り２層との間の絶縁耐力と、全相の対地絶縁耐力とを
１回の試験で検証することのできる試験回路を、より安
価に，かつ試験条件の過酷度が実回路により近似するよ
うに構成することである。
相短絡電流遮断時の遮断部の遮断性能と、遮断第１相と
残り２層との間の絶縁耐力と、全相の対地絶縁耐力とを
１回の試験で検証することのできる試験回路を、より安
価に，かつ試験条件の過酷度が実回路により近似するよ
うに構成することである。
上記課題を解決するために、この発明においては、遮断
器各相の遮断部に短絡電流を供給する三相電流源と、遮
断第１相となる相の端子間に再起電圧を供給するととも
に該供給された再起電圧の定常分を前記三相電流源の運
転周波数における1/4周波の時間にその波高値からほぼ
最終値まで減衰させる時定数を有する回路素子が付加さ
れた第１の電圧源と、各相の負荷側端子に一括して大地
との間に相電圧を印加する第２の電圧源とを備えるとと
もに、前記第１の電圧源が、再起電圧の定常分波高値を
供給可能な電圧に充電される電源コンデンサを始動ギャ
ップとインダクタンスとを順に介して再起電圧過渡分の
波形を調整する，該波形調整のための抵抗とコンデンサ
との直列回路素子を含む波形調整回路に接続した閉回路
として形成され、遮断第１相となる相への再起電圧の供
給が波形調整回路の両端子から行われる三相共通タンク
形遮断器の試験回路を前記再起電圧の定常分を減衰させ
る回路素子が前記時定数を与える抵抗とコンデンサとの
直列回路素子と，該抵抗中の適宜の１点と該コンデンサ
の反抵抗側端子との間に接続される非直線性抵抗素子と
からなり始動ギャップとインダクタンスとの接続点と，
電源コンデンサと波形調整回路との接続点との間に接続
された構成とするものとする。
器各相の遮断部に短絡電流を供給する三相電流源と、遮
断第１相となる相の端子間に再起電圧を供給するととも
に該供給された再起電圧の定常分を前記三相電流源の運
転周波数における1/4周波の時間にその波高値からほぼ
最終値まで減衰させる時定数を有する回路素子が付加さ
れた第１の電圧源と、各相の負荷側端子に一括して大地
との間に相電圧を印加する第２の電圧源とを備えるとと
もに、前記第１の電圧源が、再起電圧の定常分波高値を
供給可能な電圧に充電される電源コンデンサを始動ギャ
ップとインダクタンスとを順に介して再起電圧過渡分の
波形を調整する，該波形調整のための抵抗とコンデンサ
との直列回路素子を含む波形調整回路に接続した閉回路
として形成され、遮断第１相となる相への再起電圧の供
給が波形調整回路の両端子から行われる三相共通タンク
形遮断器の試験回路を前記再起電圧の定常分を減衰させ
る回路素子が前記時定数を与える抵抗とコンデンサとの
直列回路素子と，該抵抗中の適宜の１点と該コンデンサ
の反抵抗側端子との間に接続される非直線性抵抗素子と
からなり始動ギャップとインダクタンスとの接続点と，
電源コンデンサと波形調整回路との接続点との間に接続
された構成とするものとする。
第１図は本発明の回路構成を示し、符号15は本発明の回
路素子を示す。また第２図は回路素子15の抵抗125を125
aと125bとに分割する点Ｃの位置を変えた場合の回路素
子各部位の対地電位の時間変化を示す。以下、これらの
図を参照しつつ本発明の作用を、回路素子15を構成する
各回路要素の定数決定方法とともに説明する。
路素子を示す。また第２図は回路素子15の抵抗125を125
aと125bとに分割する点Ｃの位置を変えた場合の回路素
子各部位の対地電位の時間変化を示す。以下、これらの
図を参照しつつ本発明の作用を、回路素子15を構成する
各回路要素の定数決定方法とともに説明する。
まず、回路素子15を構成する各回路要素の定数決定方法
につき説明する。非直線性抵抗素子（以下NLRと記す）1
28はZnOなどの粉末を主体とする円板状の焼結体を適宜
の高さに積み重ねてなるもので、動作電圧すなわち抵抗
値が急に小さくなりはじめる端子電圧が0.732Eとなるよ
うに高さ寸法を決める。次に、コンデンサ124の静電容
量を電源コンデンサ111より十分に小さい適宜の値に設
定する。第２図はこの静電容量を電源コンデンサ111の1
/2とした場合を示している。抵抗125の抵抗値は、NLRの
動作後π/2の電気角経過した時点で再起電圧定常分が0.
732Eとなるように決定する。コンデンサ124の静電容量
を電源コンデンサ111の1/2とした場合は、この時定数は
電気角π/2の約1/3の時間となり、この時間を電源コン
デンサ111の静電容量で除することにより抵抗125の抵抗
値が求まる。
につき説明する。非直線性抵抗素子（以下NLRと記す）1
28はZnOなどの粉末を主体とする円板状の焼結体を適宜
の高さに積み重ねてなるもので、動作電圧すなわち抵抗
値が急に小さくなりはじめる端子電圧が0.732Eとなるよ
うに高さ寸法を決める。次に、コンデンサ124の静電容
量を電源コンデンサ111より十分に小さい適宜の値に設
定する。第２図はこの静電容量を電源コンデンサ111の1
/2とした場合を示している。抵抗125の抵抗値は、NLRの
動作後π/2の電気角経過した時点で再起電圧定常分が0.
732Eとなるように決定する。コンデンサ124の静電容量
を電源コンデンサ111の1/2とした場合は、この時定数は
電気角π/2の約1/3の時間となり、この時間を電源コン
デンサ111の静電容量で除することにより抵抗125の抵抗
値が求まる。
抵抗125における分割点ＣがＤ点と一致したとき、すな
わちNLR128をコンデンサ124に並列に接続した場合に
は、始動ギャップ112の放電により遮断器４の電源側端
子で一度所定の波高値に到達した再起電圧定常分は、コ
ンデンサ124が曲線203のように充電されるにつれて曲線
202のように減衰し、電気角がほぼπ/2の時点で一定値
（約1.1E）に落ち着く。この減衰の途中すなわちコンデ
ンサ124の充電の途中でコンデンサの端子電圧が0.732E
となったＡ点の時点でNLR128が動作し、コンデンサ124
の端子電圧は0.732Eに維持されるとともに、電源コンデ
ンサ111の端子電圧はＡ点の値から曲線204に沿い電源コ
ンデンサ111の静電容量と抵抗125の抵抗値とできまる時
定数で0.732Eに向かって減衰をはじめる。従って、遮断
第１相の相における電流遮断の時点から残り２相におけ
る電流遮断時点までの間に遮断第１相の両端子間、およ
び該遮断第１相と残り２相との間にかかる再起電圧定常
分は、電気角０からＡ点の時点までは曲線202に従って
推移し、Ａ点以後は曲線204に従って推移する。
わちNLR128をコンデンサ124に並列に接続した場合に
は、始動ギャップ112の放電により遮断器４の電源側端
子で一度所定の波高値に到達した再起電圧定常分は、コ
ンデンサ124が曲線203のように充電されるにつれて曲線
202のように減衰し、電気角がほぼπ/2の時点で一定値
（約1.1E）に落ち着く。この減衰の途中すなわちコンデ
ンサ124の充電の途中でコンデンサの端子電圧が0.732E
となったＡ点の時点でNLR128が動作し、コンデンサ124
の端子電圧は0.732Eに維持されるとともに、電源コンデ
ンサ111の端子電圧はＡ点の値から曲線204に沿い電源コ
ンデンサ111の静電容量と抵抗125の抵抗値とできまる時
定数で0.732Eに向かって減衰をはじめる。従って、遮断
第１相の相における電流遮断の時点から残り２相におけ
る電流遮断時点までの間に遮断第１相の両端子間、およ
び該遮断第１相と残り２相との間にかかる再起電圧定常
分は、電気角０からＡ点の時点までは曲線202に従って
推移し、Ａ点以後は曲線204に従って推移する。
また、抵抗125における分割点Ｃが抵抗中の適宜の１点
にある場合には、コンデンサ124の充電曲線は、曲線206
で示すように、分割点の位置による分割比率によってき
まるＸ点から出発し、A'点でNLRが動作した後は分割点
Ｃの対地電位は0.732Eに維持され、一方、Ｂ点の対地電
位は、分割点ＣがＤ点と一致した場合と比べ、より小さ
い時定数で曲線205に沿い0.732Eに向かって減衰する。
曲線205は曲線204より下方に位置するが、電気角π/2の
時点では0.732Eに対してより近い値を示し、遮断第１相
と残り２相との間の相間耐圧検証の目的にはより合致し
ている。
にある場合には、コンデンサ124の充電曲線は、曲線206
で示すように、分割点の位置による分割比率によってき
まるＸ点から出発し、A'点でNLRが動作した後は分割点
Ｃの対地電位は0.732Eに維持され、一方、Ｂ点の対地電
位は、分割点ＣがＤ点と一致した場合と比べ、より小さ
い時定数で曲線205に沿い0.732Eに向かって減衰する。
曲線205は曲線204より下方に位置するが、電気角π/2の
時点では0.732Eに対してより近い値を示し、遮断第１相
と残り２相との間の相間耐圧検証の目的にはより合致し
ている。
上記いずれの場合も従来の回路構成に比べ再起電圧定常
分の減衰波形を実系統の場合に現われる電圧波形により
近い波形とすることができ、かつコンデンサ124の容量
が小さくなる。なお、第２図にみられるように、分割点
Ｃの位置がＢ点に近づくにつれ、図中の点A'は曲線202
に沿って時間原点に近づき、点A'ガ時間原点と一致する
分割点では再び従来の曲線201と同様の電圧波形となる
から、分割点の位置設定は点A'が時間原点と一致する点
とＤ点との間で、試験の重点が遮断第１相の遮断性能の
検証にあるのか、遮断第１相と残り２相との間の絶縁耐
力の検証にあるのかなど、目的により合致するように行
う。
分の減衰波形を実系統の場合に現われる電圧波形により
近い波形とすることができ、かつコンデンサ124の容量
が小さくなる。なお、第２図にみられるように、分割点
Ｃの位置がＢ点に近づくにつれ、図中の点A'は曲線202
に沿って時間原点に近づき、点A'ガ時間原点と一致する
分割点では再び従来の曲線201と同様の電圧波形となる
から、分割点の位置設定は点A'が時間原点と一致する点
とＤ点との間で、試験の重点が遮断第１相の遮断性能の
検証にあるのか、遮断第１相と残り２相との間の絶縁耐
力の検証にあるのかなど、目的により合致するように行
う。
第３図に本発明の第１の参考例を示す。図中、第11図，
第13図と同一の回路または回路要素には同一符号を付
し、説明を省略する。第１の電圧源11の電源コンデンサ
111から遮断器４の遮断第１相の電源側端子に供給され
た再起電圧定常分を減衰させる回路素子151は、抵抗123
とコンデンサ124とからなる直列回路素子と、コンデン
サ124に並列に接続されたNLR128とからなり、波形調整
回路18の両端子間に接続されている。コンデンサ124の
静電容量は電源コンデンサ111の静電容量の1/2程度以下
の十分小さい値に設定され、抵抗123の抵抗値はNLR128
の動作後π/2の電気角経過後に再起電圧定常分が0.732E
となるように決められている。
第13図と同一の回路または回路要素には同一符号を付
し、説明を省略する。第１の電圧源11の電源コンデンサ
111から遮断器４の遮断第１相の電源側端子に供給され
た再起電圧定常分を減衰させる回路素子151は、抵抗123
とコンデンサ124とからなる直列回路素子と、コンデン
サ124に並列に接続されたNLR128とからなり、波形調整
回路18の両端子間に接続されている。コンデンサ124の
静電容量は電源コンデンサ111の静電容量の1/2程度以下
の十分小さい値に設定され、抵抗123の抵抗値はNLR128
の動作後π/2の電気角経過後に再起電圧定常分が0.732E
となるように決められている。
第４図は第３図のように構成された回路素子151を、第
３図の波形調整回路18における抵抗114とコンデンサ115
との直列回路に対してさらに抵抗131,コンデンサ132,イ
ンダクタンス133の並列回路130を直列に追加して構成さ
れた波形調整回路19を有する第１の電圧源に適用した，
第３図の応用例を示す。この並列回路130は再起電圧過
渡分の波形を遮断器の規格による複周波数とするために
追加されるものであり、再起電圧の定常分への影響は生
じないから、再起電圧過渡分が単一周波数の波形となる
第３図の回路素子151をそのまま適用することが可能で
ある。
３図の波形調整回路18における抵抗114とコンデンサ115
との直列回路に対してさらに抵抗131,コンデンサ132,イ
ンダクタンス133の並列回路130を直列に追加して構成さ
れた波形調整回路19を有する第１の電圧源に適用した，
第３図の応用例を示す。この並列回路130は再起電圧過
渡分の波形を遮断器の規格による複周波数とするために
追加されるものであり、再起電圧の定常分への影響は生
じないから、再起電圧過渡分が単一周波数の波形となる
第３図の回路素子151をそのまま適用することが可能で
ある。
第５図は本発明の実施例を示す回路図である。すなわ
ち、この実施例では、回路素子151は、第４図と同じ波
形調整回路19を有する第１の電圧源11の始動ギャップ11
2とインダクタンス113との接続点と，電源コンデンサ11
1と波形調整回路19との接続点との間に接続されてい
る。このように、回路素子151をインダクタンス113より
電源コンデンサ111寄りに接続することにより、インダ
クタンス113より遮断器４側にある回路要素の，所定の
再起電圧過渡波形を与えるための定数決定が容易とな
り、このため、所定の過渡波形により近い過渡波形を得
ることが容易に可能となる。第６図は回路素子151が第
５図の位置に接続された場合の再起電圧波形（定常分に
過渡分が重畳された波形）を示し、第７図はより長い時
間範囲にわたる再起電圧全体の波形を示す。また、第８
図は第４図に示す位置に回路素子151を接続した場合
の，第６図と対比される再起電圧波形を示す。第８図の
波形では第１の山が十分な高さに到達しておらず、同一
定数の回路要素を用いて構成された回路素子151を使用
した場合、試験条件が第５図と比較して緩和されてい
る。なお、第９図は再起電圧定常分を減衰させる回路素
子としてNLRを含まない従来の回路素子を用いた場合の
波形調整回路19による再起電圧波形を示すものであり、
この場合には、NLRがないため、再起電圧の波形中第２
の山の波高値が異常に高く、試験条件が不要に過酷とな
っていることを示す。回路素子15をいずれの位置に接続
するかは、試験場における接続の難易，遮断器の遮断性
能の検証を再起電圧過渡波形のいずれの部分に重点をお
いて行うかなどを勘案して決定する。
ち、この実施例では、回路素子151は、第４図と同じ波
形調整回路19を有する第１の電圧源11の始動ギャップ11
2とインダクタンス113との接続点と，電源コンデンサ11
1と波形調整回路19との接続点との間に接続されてい
る。このように、回路素子151をインダクタンス113より
電源コンデンサ111寄りに接続することにより、インダ
クタンス113より遮断器４側にある回路要素の，所定の
再起電圧過渡波形を与えるための定数決定が容易とな
り、このため、所定の過渡波形により近い過渡波形を得
ることが容易に可能となる。第６図は回路素子151が第
５図の位置に接続された場合の再起電圧波形（定常分に
過渡分が重畳された波形）を示し、第７図はより長い時
間範囲にわたる再起電圧全体の波形を示す。また、第８
図は第４図に示す位置に回路素子151を接続した場合
の，第６図と対比される再起電圧波形を示す。第８図の
波形では第１の山が十分な高さに到達しておらず、同一
定数の回路要素を用いて構成された回路素子151を使用
した場合、試験条件が第５図と比較して緩和されてい
る。なお、第９図は再起電圧定常分を減衰させる回路素
子としてNLRを含まない従来の回路素子を用いた場合の
波形調整回路19による再起電圧波形を示すものであり、
この場合には、NLRがないため、再起電圧の波形中第２
の山の波高値が異常に高く、試験条件が不要に過酷とな
っていることを示す。回路素子15をいずれの位置に接続
するかは、試験場における接続の難易，遮断器の遮断性
能の検証を再起電圧過渡波形のいずれの部分に重点をお
いて行うかなどを勘案して決定する。
第10図はさらに、再起電圧定常分を減衰させる回路素子
の接続位置に関する本発明の第２の参考例として、波形
調整回路18中のコンデンサ115に並列に接続した場合を
示す。この場合には、コンデンサ127の静電容量は第３
図ないし第５図におけるコンデンサ124の静電容量とほ
ぼ等しく、従ってコンデンサ115の静電容量はコンデン
サ127と比べて極めて小さいから、抵抗126の抵抗値は、
抵抗114の抵抗値との和が第３図ないし第５図における
抵抗123の抵抗値とほぼ等しくなるように設定すればよ
い。
の接続位置に関する本発明の第２の参考例として、波形
調整回路18中のコンデンサ115に並列に接続した場合を
示す。この場合には、コンデンサ127の静電容量は第３
図ないし第５図におけるコンデンサ124の静電容量とほ
ぼ等しく、従ってコンデンサ115の静電容量はコンデン
サ127と比べて極めて小さいから、抵抗126の抵抗値は、
抵抗114の抵抗値との和が第３図ないし第５図における
抵抗123の抵抗値とほぼ等しくなるように設定すればよ
い。
以上に述べたように、本発明によれば、再起電圧定常分
の電圧を減衰させて三相共通タンク形遮断器における遮
断第１相の遮断部端子間，遮断第１相と残り２相との間
の相間，全相遮断部と大地間に実回路と等価な電圧過酷
度を与えるための回路素子を、抵抗とコンデンサとの直
列回路素子と，抵抗中の適宜の１点のコンデンサの反抵
抗側端子との間に接続される非直線性抵抗素子とを用い
て構成したので、この回路素子における直列回路素子中
のコンデンサ容量を第１の電圧源中の電源コンデンサの
容量よりも十分に小さく設定しつつ、より実回路に近い
波形の電圧を遮断第１相の電源側端子に得ることがで
き、試験回路を安価に構成することができるとともに実
回路により忠実な試験が可能となる効果がある。
の電圧を減衰させて三相共通タンク形遮断器における遮
断第１相の遮断部端子間，遮断第１相と残り２相との間
の相間，全相遮断部と大地間に実回路と等価な電圧過酷
度を与えるための回路素子を、抵抗とコンデンサとの直
列回路素子と，抵抗中の適宜の１点のコンデンサの反抵
抗側端子との間に接続される非直線性抵抗素子とを用い
て構成したので、この回路素子における直列回路素子中
のコンデンサ容量を第１の電圧源中の電源コンデンサの
容量よりも十分に小さく設定しつつ、より実回路に近い
波形の電圧を遮断第１相の電源側端子に得ることがで
き、試験回路を安価に構成することができるとともに実
回路により忠実な試験が可能となる効果がある。
第１図は本発明による再起電圧定常分減衰用回路素子を
用いた試験回路の基本構成を示す回路図、第２図は第１
図の回路構成において得られる再起電圧定常分波形の時
間変化を実回路の定常分電圧波形と対比して示す線図、
第３図は本発明の第１の参考例による再起電圧定常分減
衰用回路素子の構成と該回路素子の接続位置とを示す試
験回路図、第４図は第３図と異なる波形調整回路を有す
る第１の電圧源に第３図のように構成された再起電圧定
常分減衰用回路素子を適用した第３図の応用例を示す試
験回路図、第５図は本発明による実施例を示す試験回路
図、第６図は第５図の試験回路で得られた再起電圧の過
渡波形を示す波形図、第７図は第６図と同一波形をより
長い時間範囲まで示す再起電圧全体波形図、第８図は第
４図の試験回路で得られた再起電圧の過渡波形を示す波
形図、第９図は第４図における再起電圧定常分減衰用回
路素子の代わりに従来の再起電圧定常分減衰用回路素子
を用いた場合に得られた再起電圧の過渡波形を示す波形
図、第10図は本発明による再起電圧定常分減衰用回路素
子の接続位置に関する第２の参考例を示す試験回路図、
第11図は従来の再起電圧定常分減衰用回路素子の構成例
と接続位置例とを示す試験回路図、第12図は第11図の試
験回路構成により遮断器の電源側および負荷側端子に得
られる電圧波形を示す波形図、第13図は再起電圧定常分
減衰用回路素子の第11図と異なる接続位置例を示す試験
回路図である。 1:三相電流源、4:遮断器（三相共通タンク形遮断器）、
11:第１の電圧源、12:第２の電圧源、14,18,19:波形調
整回路、15,151,152:回路素子、111:電源コンデンサ、1
12:始動ギャップ、113:インダクタンス、114:抵抗、11
5:コンデンサ、123,125,125a,125b,126:抵抗、124,127:
コンデンサ、128,129:非直線性抵抗素子。
用いた試験回路の基本構成を示す回路図、第２図は第１
図の回路構成において得られる再起電圧定常分波形の時
間変化を実回路の定常分電圧波形と対比して示す線図、
第３図は本発明の第１の参考例による再起電圧定常分減
衰用回路素子の構成と該回路素子の接続位置とを示す試
験回路図、第４図は第３図と異なる波形調整回路を有す
る第１の電圧源に第３図のように構成された再起電圧定
常分減衰用回路素子を適用した第３図の応用例を示す試
験回路図、第５図は本発明による実施例を示す試験回路
図、第６図は第５図の試験回路で得られた再起電圧の過
渡波形を示す波形図、第７図は第６図と同一波形をより
長い時間範囲まで示す再起電圧全体波形図、第８図は第
４図の試験回路で得られた再起電圧の過渡波形を示す波
形図、第９図は第４図における再起電圧定常分減衰用回
路素子の代わりに従来の再起電圧定常分減衰用回路素子
を用いた場合に得られた再起電圧の過渡波形を示す波形
図、第10図は本発明による再起電圧定常分減衰用回路素
子の接続位置に関する第２の参考例を示す試験回路図、
第11図は従来の再起電圧定常分減衰用回路素子の構成例
と接続位置例とを示す試験回路図、第12図は第11図の試
験回路構成により遮断器の電源側および負荷側端子に得
られる電圧波形を示す波形図、第13図は再起電圧定常分
減衰用回路素子の第11図と異なる接続位置例を示す試験
回路図である。 1:三相電流源、4:遮断器（三相共通タンク形遮断器）、
11:第１の電圧源、12:第２の電圧源、14,18,19:波形調
整回路、15,151,152:回路素子、111:電源コンデンサ、1
12:始動ギャップ、113:インダクタンス、114:抵抗、11
5:コンデンサ、123,125,125a,125b,126:抵抗、124,127:
コンデンサ、128,129:非直線性抵抗素子。
Claims (1)
- 【請求項１】遮断器各相の遮断部に短絡電流を供給する
三相電流源と、遮断第１相となる相の端子間に再起電圧
を供給するとともに該供給された再起電圧の定常分を前
記三相電流源の運転周波数における1/4周波の時間にそ
の波高値からほぼ最終値まで減衰させる時定数を有する
回路素子が付加された第１の電圧源と、各相の負荷側端
子に一括して大地との間に相電圧を印加する第２の電圧
源とを備えるとともに、前記第１の電圧源が、再起電圧
の定常分波高値を供給可能な電圧に充電される電源コン
デンサを始動ギャップとインダクタンスとを順に介して
再起電圧過渡分の波形を調整する，該波形調整のための
抵抗とコンデンサとの直列回路素子を含む波形調整回路
に接続した閉回路として形成され、遮断第１相となる相
への再起電圧の供給が波形調整回路の両端子から行われ
る三相共通タンク形遮断器の試験回路において、前記再
起電圧の定常分を減衰させる回路素子が前記時定数を与
える抵抗とコンデンサとの直列回路素子と，該抵抗の適
宜の１点と該コンデンサの反抵抗側端子との間に接続さ
れる非直線性抵抗素子とからなり始動ギャップとインダ
クタンスとの接続点と，電源コンデンサと波形調整回路
との接続点との間に接続されることを特徴とする三相共
通タンク形遮断器の試験回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6011489A JPH0748075B2 (ja) | 1989-03-13 | 1989-03-13 | 三相共通タンク形遮断器の試験回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6011489A JPH0748075B2 (ja) | 1989-03-13 | 1989-03-13 | 三相共通タンク形遮断器の試験回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02238383A JPH02238383A (ja) | 1990-09-20 |
| JPH0748075B2 true JPH0748075B2 (ja) | 1995-05-24 |
Family
ID=13132764
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6011489A Expired - Lifetime JPH0748075B2 (ja) | 1989-03-13 | 1989-03-13 | 三相共通タンク形遮断器の試験回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0748075B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110531257A (zh) * | 2019-08-28 | 2019-12-03 | 广安电气检测中心(广东)有限公司 | 四参数瞬态恢复电压（trv）调节电路 |
| CN114264952B (zh) * | 2022-02-28 | 2022-05-06 | 欧米勒电气有限公司 | 一种基于数据处理的断路器运行状态特征管理系统 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59109873A (ja) * | 1982-12-16 | 1984-06-25 | Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd | 三相共通タンク形遮断器の試験装置 |
| JPS60216280A (ja) * | 1984-04-11 | 1985-10-29 | Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd | 非直接接地系統用三相遮断器の合成試験回路 |
-
1989
- 1989-03-13 JP JP6011489A patent/JPH0748075B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02238383A (ja) | 1990-09-20 |
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