JPH02238383A - 三相共通タンク形遮断器の試験回路 - Google Patents
三相共通タンク形遮断器の試験回路Info
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- JPH02238383A JPH02238383A JP1060114A JP6011489A JPH02238383A JP H02238383 A JPH02238383 A JP H02238383A JP 1060114 A JP1060114 A JP 1060114A JP 6011489 A JP6011489 A JP 6011489A JP H02238383 A JPH02238383 A JP H02238383A
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- Tests Of Circuit Breakers, Generators, And Electric Motors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、各相の遮断部が共通の接地タンク内に収納
された三相共通タンク形遮断器の三相短絡遮断時におけ
る遮断部の遮断性能と、遮断第１相となった相の遮断部
と残り２相の遮断部との間の絶縁耐力と、金相の対地絶
縁耐力とを１回の試験により確認可能な試験回路として
、遮断器各相の遮断部に短絡電流を供給する三相電流源
と、遮断第】−相となる相の端子間に再起電圧を供給す
るとｋもに咳供給された再起電圧の定常分を前記三相電
流源の運転周波数における１７４周波の時間にその波高
値からほぼ最終値まで減衰させる時定数を有する回路素
子が付加された第１の電圧源と、各相の負荷側端子に一
括して大地との間に相電圧を印加する第２の電圧源とを
備えるとともに、前記第１の電圧源が、再起電圧の定常
分波高値を供給可能な電圧に充電される電源コンデンサ
を始動ギャップとインダクタンスとを順に介して再起電
圧過渡分の波形を卵整する、該波形調整のための抵抗と
コンデンサとの直列回路素子を含む波形調整回路に接続
した閉回路として形成され、遮断第１相となる相への再
起電圧の供給が波形調整回路の両端子から行われる三相
共通タンク形遮断器の試験回路の改良に関する． 〔従来の技術〕 この種試験回路としてさきに本願発明者は第１１図およ
び第１３図に示すごとき試験回路を提案した（特開昭５
９− １０９８７３号公報参照） これらの試験回路
の構成と動作は次の通りである６ 各相の遮断部が共通の接地タンク内に収容された三相共
通タンク形遮断器（以下、単に遮断器とも記す）の各相
電源側端子のうち、遮断第１相となる相（Ａ相とする）
は補助遮断器６と電流調整用リアクトル２とを介して低
電圧の三相電流源１のＡ相出力端子に，残り２相（Ｂ相
，Ｃ相）は電流調整用リアクトル２のみを介して三相電
流源のＢ相．Ｃ相の出力端子にそれぞれ接続され、負簡
側端子は三相一括して後に詳細を説明する第２の電圧ｆ
ｌ１２の出力端子に接続されている．補助遮断器６の三
相電流源１側と遮断器４のＣ相遮断部の三相電流源１側
とにはそれぞれ、遮断器４内でアークが早く切れすぎな
いように、アーク延長回路７Ａ，７Ｇが接続され、それ
ぞれの相の電流零点直前でアーク延長回路を起動して逆
方向の衝撃性長波尾電流を強制的に注入し、アークをさ
らに１半波以上延長させるようにしている．遮断器４に
このような回路構成で短絡電流を供給することにより、
電流に関する条件はアーク電圧による電流の変歪を除け
ば実回路に一致する． 遮断第１相となるＡ相の電流遮断にひきつづき再起電圧
を供給する第１の電圧源１１は、所定の再起電圧定常分
波高値を供給可能な電圧に充電される電源コンデンサ１
１１ と、この電源コンデンサ１１１を放電させる始動
ギャップ１１２と、Ａ相を通過する短絡電流の最終零点
直前でＡ相に注入する高周波正弦波電流の大きさもしく
は最大傾斜をきめるインダクタンス１１３と、再起電圧
過渡分の波形を調整する，抵抗１１４とコンデンサ１１
５とがらなる直列回路素子とコンデンサ１１６との並列
回路として構成された波形調整回路１８とが順に直列に
接続された閉回路として形成され、Ａ相への再起！圧の
供給は波形調整回路１８の鱒端子から行われる．この波
形調整回路１８の両端子間（第１１図の場合）または波
形調整回路１８内のコンデンサ１１５の両端子間（第１
３図の場合）にはさらに、三相電Ｆ源ｔの運転周波数に
おける１７４周波の時間に再起電圧定常分をその波高値
から最終値まで減衰させる時定数を有する．抵抗１２３
とコンデンサ１２４ とからなる直列回路素子または
抵抗１１４と抵抗１２５との和とコンデンサ１２６とで
前記の時定数を与える抵抗１２５とコンデンサ１２６
とからなる直列回路素子が接続され、始動ギャップ１１
２の放電によりＡ相遮断部の電源側端子に供給された再
起電圧定常分が所定の波高値に達した後、この定常分電
圧を１７４周期後にここでは非有効接地系用遮断器を司
象として０．７３２ Ｅ （Ｅは実回路の相電圧）に
減衰させている．一方、遮断器４の負荷側端子には、Ａ
相短絡電流遮断時点より１７４周期後から一括して大地
との間に実回路に等しい相電圧が印加され、Ａ相遮断部
の電源側端子と遮断器の負荷側端子との間には第１２図
のハッチングで示す電圧が印加される．ここで、ｅ，は
第１の電圧源１１から供給される電圧であり、ｅ２は第
２の電圧源１２カリろ供給される電圧を示す．図からみ
られるように、電気角０〜π／２の間はＡ相遮断部の両
端子間に再起電圧定常分として１．５Ｅから０．７３２
Ｅに減衰する電圧がかかり、Ｂ，Ｃ相短絡電流が遮断
されるπ／２の時点以降はＡ相遮断部のｚｎ側と全相の
負荷側端子との間に波高値が１．７３２ Ｅの運転周波
数電圧がかかる．すなわち、試験回路を第１１図あるい
は第１３図めように構成することにより、電流条件を実
回路と一致させつつ、遮断部の遮断性能と、遮断第１相
と残り２相との間の絶縁耐力（１．７３２ ８）と、各
相遮断部とタンクとの間の絶縁耐力（１．０Ｅ）とを１
回の試験で検証することができる．〔発明が解決しよう
とする課題〕 このように構成された試験回路の問題点は次の２つであ
る．すなわち、まず、遮断第１相と残り２相との間に線
間電圧１．７３２ Ｅを印加するとともに各相遮断部と
タンクとの間に相電圧を印加することができるためには
、遮断第１相の電流遮断時点から電気角π／２経過する
までに再起電圧定常分電圧が０．７３２巳の値になって
いる必要がある．従来は抵抗１２３とコンデンサ１２４
とのみでコンデンサ１２４への充電の時定数をコンデン
サの端子電圧がほぼ飽和値に達するまでの時間が電気角
π／２となるように設定するとともに （この充電によ
り電源コンデンサ１１１の端子電圧が降下し、再起電圧
定常分が減衰する）充電終了後の端子電圧が０．７３２
Ｅとなるように抵抗１２３とコンデンサ１２４とのそ
れぞれの定数を決定していた．このため、コンデンサ１
２４の容量は′ｔ源コンデンサ１１１の容量とほぼ等し
くなり、膨大な費用を要する結果となっていた。因みに
１相当り１遮断点で定格電圧３００ｋＶの遮断器を構成
する際に必要となる第１の電圧源の電源コンデンサの静
電容量は次式により求められる． ここで、ＬＶ’インダクタンス１１３のインダクタンス
値， Ｅｖ ：電源コンデンサ１１１の充電電圧．Ｉ ：遮断
電流実効値， ω ：三相電流源１の運転角周波数 であり、Ｉ−５０ｋＡ葦．ω＝３１４とした場合、電源
コンデンサは約３２０ｋＶに充電可能な，静電容量が約
５μＦのものでなければならない。
された三相共通タンク形遮断器の三相短絡遮断時におけ
る遮断部の遮断性能と、遮断第１相となった相の遮断部
と残り２相の遮断部との間の絶縁耐力と、金相の対地絶
縁耐力とを１回の試験により確認可能な試験回路として
、遮断器各相の遮断部に短絡電流を供給する三相電流源
と、遮断第】−相となる相の端子間に再起電圧を供給す
るとｋもに咳供給された再起電圧の定常分を前記三相電
流源の運転周波数における１７４周波の時間にその波高
値からほぼ最終値まで減衰させる時定数を有する回路素
子が付加された第１の電圧源と、各相の負荷側端子に一
括して大地との間に相電圧を印加する第２の電圧源とを
備えるとともに、前記第１の電圧源が、再起電圧の定常
分波高値を供給可能な電圧に充電される電源コンデンサ
を始動ギャップとインダクタンスとを順に介して再起電
圧過渡分の波形を卵整する、該波形調整のための抵抗と
コンデンサとの直列回路素子を含む波形調整回路に接続
した閉回路として形成され、遮断第１相となる相への再
起電圧の供給が波形調整回路の両端子から行われる三相
共通タンク形遮断器の試験回路の改良に関する． 〔従来の技術〕 この種試験回路としてさきに本願発明者は第１１図およ
び第１３図に示すごとき試験回路を提案した（特開昭５
９− １０９８７３号公報参照） これらの試験回路
の構成と動作は次の通りである６ 各相の遮断部が共通の接地タンク内に収容された三相共
通タンク形遮断器（以下、単に遮断器とも記す）の各相
電源側端子のうち、遮断第１相となる相（Ａ相とする）
は補助遮断器６と電流調整用リアクトル２とを介して低
電圧の三相電流源１のＡ相出力端子に，残り２相（Ｂ相
，Ｃ相）は電流調整用リアクトル２のみを介して三相電
流源のＢ相．Ｃ相の出力端子にそれぞれ接続され、負簡
側端子は三相一括して後に詳細を説明する第２の電圧ｆ
ｌ１２の出力端子に接続されている．補助遮断器６の三
相電流源１側と遮断器４のＣ相遮断部の三相電流源１側
とにはそれぞれ、遮断器４内でアークが早く切れすぎな
いように、アーク延長回路７Ａ，７Ｇが接続され、それ
ぞれの相の電流零点直前でアーク延長回路を起動して逆
方向の衝撃性長波尾電流を強制的に注入し、アークをさ
らに１半波以上延長させるようにしている．遮断器４に
このような回路構成で短絡電流を供給することにより、
電流に関する条件はアーク電圧による電流の変歪を除け
ば実回路に一致する． 遮断第１相となるＡ相の電流遮断にひきつづき再起電圧
を供給する第１の電圧源１１は、所定の再起電圧定常分
波高値を供給可能な電圧に充電される電源コンデンサ１
１１ と、この電源コンデンサ１１１を放電させる始動
ギャップ１１２と、Ａ相を通過する短絡電流の最終零点
直前でＡ相に注入する高周波正弦波電流の大きさもしく
は最大傾斜をきめるインダクタンス１１３と、再起電圧
過渡分の波形を調整する，抵抗１１４とコンデンサ１１
５とがらなる直列回路素子とコンデンサ１１６との並列
回路として構成された波形調整回路１８とが順に直列に
接続された閉回路として形成され、Ａ相への再起！圧の
供給は波形調整回路１８の鱒端子から行われる．この波
形調整回路１８の両端子間（第１１図の場合）または波
形調整回路１８内のコンデンサ１１５の両端子間（第１
３図の場合）にはさらに、三相電Ｆ源ｔの運転周波数に
おける１７４周波の時間に再起電圧定常分をその波高値
から最終値まで減衰させる時定数を有する．抵抗１２３
とコンデンサ１２４ とからなる直列回路素子または
抵抗１１４と抵抗１２５との和とコンデンサ１２６とで
前記の時定数を与える抵抗１２５とコンデンサ１２６
とからなる直列回路素子が接続され、始動ギャップ１１
２の放電によりＡ相遮断部の電源側端子に供給された再
起電圧定常分が所定の波高値に達した後、この定常分電
圧を１７４周期後にここでは非有効接地系用遮断器を司
象として０．７３２ Ｅ （Ｅは実回路の相電圧）に
減衰させている．一方、遮断器４の負荷側端子には、Ａ
相短絡電流遮断時点より１７４周期後から一括して大地
との間に実回路に等しい相電圧が印加され、Ａ相遮断部
の電源側端子と遮断器の負荷側端子との間には第１２図
のハッチングで示す電圧が印加される．ここで、ｅ，は
第１の電圧源１１から供給される電圧であり、ｅ２は第
２の電圧源１２カリろ供給される電圧を示す．図からみ
られるように、電気角０〜π／２の間はＡ相遮断部の両
端子間に再起電圧定常分として１．５Ｅから０．７３２
Ｅに減衰する電圧がかかり、Ｂ，Ｃ相短絡電流が遮断
されるπ／２の時点以降はＡ相遮断部のｚｎ側と全相の
負荷側端子との間に波高値が１．７３２ Ｅの運転周波
数電圧がかかる．すなわち、試験回路を第１１図あるい
は第１３図めように構成することにより、電流条件を実
回路と一致させつつ、遮断部の遮断性能と、遮断第１相
と残り２相との間の絶縁耐力（１．７３２ ８）と、各
相遮断部とタンクとの間の絶縁耐力（１．０Ｅ）とを１
回の試験で検証することができる．〔発明が解決しよう
とする課題〕 このように構成された試験回路の問題点は次の２つであ
る．すなわち、まず、遮断第１相と残り２相との間に線
間電圧１．７３２ Ｅを印加するとともに各相遮断部と
タンクとの間に相電圧を印加することができるためには
、遮断第１相の電流遮断時点から電気角π／２経過する
までに再起電圧定常分電圧が０．７３２巳の値になって
いる必要がある．従来は抵抗１２３とコンデンサ１２４
とのみでコンデンサ１２４への充電の時定数をコンデン
サの端子電圧がほぼ飽和値に達するまでの時間が電気角
π／２となるように設定するとともに （この充電によ
り電源コンデンサ１１１の端子電圧が降下し、再起電圧
定常分が減衰する）充電終了後の端子電圧が０．７３２
Ｅとなるように抵抗１２３とコンデンサ１２４とのそ
れぞれの定数を決定していた．このため、コンデンサ１
２４の容量は′ｔ源コンデンサ１１１の容量とほぼ等し
くなり、膨大な費用を要する結果となっていた。因みに
１相当り１遮断点で定格電圧３００ｋＶの遮断器を構成
する際に必要となる第１の電圧源の電源コンデンサの静
電容量は次式により求められる． ここで、ＬＶ’インダクタンス１１３のインダクタンス
値， Ｅｖ ：電源コンデンサ１１１の充電電圧．Ｉ ：遮断
電流実効値， ω ：三相電流源１の運転角周波数 であり、Ｉ−５０ｋＡ葦．ω＝３１４とした場合、電源
コンデンサは約３２０ｋＶに充電可能な，静電容量が約
５μＦのものでなければならない。
第２に、遮断第１相の電流遮断後、残り２相の電流遮断
時点までに遮断第１相と残り２相との間および遮断第１
相の端子間にかかる電圧は、実系統では第２図における
曲線２００のように余弦波形となるのに対し、第１１図
または第１３図の試験回路では第１２図のように下方へ
大きく凹む減衰曲線となり、両曲線の差に相当した電圧
分だけ試験条件が実回路より緩和された結果となる欠点
があった。
時点までに遮断第１相と残り２相との間および遮断第１
相の端子間にかかる電圧は、実系統では第２図における
曲線２００のように余弦波形となるのに対し、第１１図
または第１３図の試験回路では第１２図のように下方へ
大きく凹む減衰曲線となり、両曲線の差に相当した電圧
分だけ試験条件が実回路より緩和された結果となる欠点
があった。
この発明の目的は、三相共通タンク形遮断器における三
相短絡電流遮断時の遮断部の遮断性能と、遮断第１相と
残り２相との間の絶縁耐力と、金相の対地絶縁耐力とを
１回の試験で検証することのできる試験回路を、より安
価に．かつ試験条件の過酷度が実回路により近似するよ
うに構成することである。
相短絡電流遮断時の遮断部の遮断性能と、遮断第１相と
残り２相との間の絶縁耐力と、金相の対地絶縁耐力とを
１回の試験で検証することのできる試験回路を、より安
価に．かつ試験条件の過酷度が実回路により近似するよ
うに構成することである。
上記課題を解決するために、この発明においては、遮断
器各相の遮断部に短絡電流を供給する三相電流源と、遮
断第１相となる相の端子間に再起電圧を供給するととも
に該供給された再起電圧の定常分を前記三相電流源の運
転周波数における１７４周波の時間にその波高値からほ
ぼ最終値まで減衰させる時定数を有する回路素子が付加
された第１の電圧源と、各相の負荷側端子に一括して大
地との間に相電圧を印加する第２の電圧源とを備えると
ともに、前記第１の電圧源が、再起電圧の定常分波高値
を供給可能な電圧に充電される電源コンデンサを始動ギ
ャップとインダクタンスとを順に介して再起電圧過渡分
の波形を調整する，該波形調整のための抵抗とコンデン
サとの直列回路素子を含む波形＃Ａ整回路に接続した閉
回路として形成され、遮断第１相となる相への再起電圧
の供給が波形調整回路の両端子から行われる三相共通タ
ンク形遮断器の試験回路を前記再起電圧の定常分を減衰
させる回路素子が前記時定数を与える抵抗とコンデンサ
との直列回路素子と．該抵抗中の適宜の１点と該コンデ
ンサの反抵抗側端子との間に接続される非直線性抵抗素
子とからなり波形調整回路の両端子間に接続された構成
とするか、この回路素子が始動ギャップとインダクタン
スとの接続点と，電源コンデンサと波形調整回路との接
続点との間に接続された構成とするか、あるいはこの回
路素子が波形調整回路に含まれる抵抗とコンデンサとの
直列回路素子におけるコンデンサの両端子間に接続され
た構成とするものとする．〔作用〕 説明の便宜上、再起電圧定常分を減衰させる回路素子が
波形調整回路の両端子間に接続された回路構成における
本発明の作用について説明する．第１図はこの場合の回
路構成を示し、符号１５は本発明の回路素子を示す．ま
た第２図は回路素子ｌ５の抵抗】２５を１．２５ａ ｋ
． １２５ｂとに分割する点Ｃの位置を変えた場合の回
路素子各部位の対地電位の時間変化を示す．以下、これ
らの図を参照しつつ本発明の作用を、回路素子１５を構
成する各回路要素の定数決定方法とともに説明する。
器各相の遮断部に短絡電流を供給する三相電流源と、遮
断第１相となる相の端子間に再起電圧を供給するととも
に該供給された再起電圧の定常分を前記三相電流源の運
転周波数における１７４周波の時間にその波高値からほ
ぼ最終値まで減衰させる時定数を有する回路素子が付加
された第１の電圧源と、各相の負荷側端子に一括して大
地との間に相電圧を印加する第２の電圧源とを備えると
ともに、前記第１の電圧源が、再起電圧の定常分波高値
を供給可能な電圧に充電される電源コンデンサを始動ギ
ャップとインダクタンスとを順に介して再起電圧過渡分
の波形を調整する，該波形調整のための抵抗とコンデン
サとの直列回路素子を含む波形＃Ａ整回路に接続した閉
回路として形成され、遮断第１相となる相への再起電圧
の供給が波形調整回路の両端子から行われる三相共通タ
ンク形遮断器の試験回路を前記再起電圧の定常分を減衰
させる回路素子が前記時定数を与える抵抗とコンデンサ
との直列回路素子と．該抵抗中の適宜の１点と該コンデ
ンサの反抵抗側端子との間に接続される非直線性抵抗素
子とからなり波形調整回路の両端子間に接続された構成
とするか、この回路素子が始動ギャップとインダクタン
スとの接続点と，電源コンデンサと波形調整回路との接
続点との間に接続された構成とするか、あるいはこの回
路素子が波形調整回路に含まれる抵抗とコンデンサとの
直列回路素子におけるコンデンサの両端子間に接続され
た構成とするものとする．〔作用〕 説明の便宜上、再起電圧定常分を減衰させる回路素子が
波形調整回路の両端子間に接続された回路構成における
本発明の作用について説明する．第１図はこの場合の回
路構成を示し、符号１５は本発明の回路素子を示す．ま
た第２図は回路素子ｌ５の抵抗】２５を１．２５ａ ｋ
． １２５ｂとに分割する点Ｃの位置を変えた場合の回
路素子各部位の対地電位の時間変化を示す．以下、これ
らの図を参照しつつ本発明の作用を、回路素子１５を構
成する各回路要素の定数決定方法とともに説明する。
まず、回路素子１５を構成する各回路要素の定数決定方
法につき説明する．非直線性抵抗素子（以下ＮＬＲと記
す）１２８はＺｎＯなどの粉末を主体とする円板状の焼
結体を適宜の高さに積み重ねてなるもので、動作電圧す
なわち抵抗値が急に小さくなりはじめる端子電圧が０．
７３２ Ｅとなるように高さ寸法を決める．次に、コン
デンサ１２４の静電容量を電源コンデンサ１１１より十
分に小さい適宜の値に設定する．第２図はこの静電容量
をｔ源コンデンサ１１ｌの１７２とした場合を示してい
る。抵抗１２５の抵抗値は、Ｎ Ｉ．． Ｈの動作後π
／２のτ気角経過した時染で再起電圧定常分が０．７３
２ Ｅとなるように決定する．コンデンサ１２４の静電
容量を電源コンデンサ１１１の１７２とした場合は、こ
の時定数は電．気角π／２の約１／３の時間となり、こ
の時間をｔ源コンデンサ１１１の静電容量で除すること
により抵抗１２５の抵抗｛＋ｆｆが求する。
法につき説明する．非直線性抵抗素子（以下ＮＬＲと記
す）１２８はＺｎＯなどの粉末を主体とする円板状の焼
結体を適宜の高さに積み重ねてなるもので、動作電圧す
なわち抵抗値が急に小さくなりはじめる端子電圧が０．
７３２ Ｅとなるように高さ寸法を決める．次に、コン
デンサ１２４の静電容量を電源コンデンサ１１１より十
分に小さい適宜の値に設定する．第２図はこの静電容量
をｔ源コンデンサ１１ｌの１７２とした場合を示してい
る。抵抗１２５の抵抗値は、Ｎ Ｉ．． Ｈの動作後π
／２のτ気角経過した時染で再起電圧定常分が０．７３
２ Ｅとなるように決定する．コンデンサ１２４の静電
容量を電源コンデンサ１１１の１７２とした場合は、こ
の時定数は電．気角π／２の約１／３の時間となり、こ
の時間をｔ源コンデンサ１１１の静電容量で除すること
により抵抗１２５の抵抗｛＋ｆｆが求する。
抵抗１２５における分割点ＣがＤ点と一致し，た♂き、
すなわらＮ Ｌ Ｒ １２Ｂをコンデンサ１２４に並列
に接続した場合には、始動ギャンブ１１２の放電により
遮断器４のｔ源側端子で一度所定の波高値に到達した再
起電圧定常分は、コンデンサ１２４が曲線２０３のよう
に充電されるにつれて曲線２０２のように減衰し、電気
角がほぼπ／２の時点で一定値（約１．１ Ｅ）に落ち
着く．この減衰の途中すなわちコンデンサ１２４の充電
の途中でコンデンサの端子電圧が０．７３２ Ｅとなっ
たＡ点の時点でＮ Ｌ Ｒ １２８が動作し、コンデン
サ１２４の端子電圧は０．７３２ Ｈに維持されるとと
もに、電源コンデンサ１１１の端子電圧はＡ点の値から
曲線２０４に沿い電源コンデンサ１１１の静電容量と抵
抗１２５の抵抗値とできまる時定数でＯ．７３２ Ｅに
向かって減衰をはじめる。
すなわらＮ Ｌ Ｒ １２Ｂをコンデンサ１２４に並列
に接続した場合には、始動ギャンブ１１２の放電により
遮断器４のｔ源側端子で一度所定の波高値に到達した再
起電圧定常分は、コンデンサ１２４が曲線２０３のよう
に充電されるにつれて曲線２０２のように減衰し、電気
角がほぼπ／２の時点で一定値（約１．１ Ｅ）に落ち
着く．この減衰の途中すなわちコンデンサ１２４の充電
の途中でコンデンサの端子電圧が０．７３２ Ｅとなっ
たＡ点の時点でＮ Ｌ Ｒ １２８が動作し、コンデン
サ１２４の端子電圧は０．７３２ Ｈに維持されるとと
もに、電源コンデンサ１１１の端子電圧はＡ点の値から
曲線２０４に沿い電源コンデンサ１１１の静電容量と抵
抗１２５の抵抗値とできまる時定数でＯ．７３２ Ｅに
向かって減衰をはじめる。
従って、遮断第１相の相における電流遮断の時点から残
り２相におけるｉｔ流遮断時点までの間に遮断第１相の
両端子間、および該遮断第１相と残り２相との間にかか
る再起電圧定常分は、電気角ＯからＡ点の時点までは曲
線２０２に従って推移し、Ａ点以後は曲線２０４に従っ
て推移する．また、抵抗１２５における分割点Ｃが抵抗
中の適宜の１点にある場合には、コンデンサ１２４の充
電曲線は、曲線２０６で示すように、分割点の位置によ
る分割比率によってきまるＸ点から出発し、Ａ点でＮＬ
Ｐが動作した後は分割点Ｃの対地電位は０．７３２ ２
に維持され、一方、Ｂ点の対地電位は、分割点ＣがＤ点
と一致した場合と比べ、より小さい時定数で曲線２０５
に沿い０．７３２ Ｅに向かって減衰する．曲線２０５
は曲！２０４より下方に位置するが、電気角π／２の時
点では０．７３２ Ｂに対してより近い値を示し、遮断
第１相と残り２相との間の相間耐圧検証の目的にはより
合致している。
り２相におけるｉｔ流遮断時点までの間に遮断第１相の
両端子間、および該遮断第１相と残り２相との間にかか
る再起電圧定常分は、電気角ＯからＡ点の時点までは曲
線２０２に従って推移し、Ａ点以後は曲線２０４に従っ
て推移する．また、抵抗１２５における分割点Ｃが抵抗
中の適宜の１点にある場合には、コンデンサ１２４の充
電曲線は、曲線２０６で示すように、分割点の位置によ
る分割比率によってきまるＸ点から出発し、Ａ点でＮＬ
Ｐが動作した後は分割点Ｃの対地電位は０．７３２ ２
に維持され、一方、Ｂ点の対地電位は、分割点ＣがＤ点
と一致した場合と比べ、より小さい時定数で曲線２０５
に沿い０．７３２ Ｅに向かって減衰する．曲線２０５
は曲！２０４より下方に位置するが、電気角π／２の時
点では０．７３２ Ｂに対してより近い値を示し、遮断
第１相と残り２相との間の相間耐圧検証の目的にはより
合致している。
上記いずれの場合も従来の回路構成に比べ再起電圧定常
分の減衰波形を実系統の場合に現われる電圧波形により
近い波形とすることができ、かつコンデンサ１２４の容
量が小さくなる．なお、第２図にみられるように、分割
点Ｃの位置がＢ点に近づくにつれ、図中の点八゜は曲線
２０２に沿って時間原点に近づき、点Ａ”ガ時間原点と
一致する分割点では再び従来の曲線２０１ と同様の電
圧波形となるから、分割点の位置設定は点Ａ″が時間原
点と一致する点とＤ点との間で、試験の重点が遮断第１
相の遮断性能の検証にあるのか、遮断第１相と残り２相
との間の絶縁耐力の検証にあるのかなど、目的により合
致するように行う． 〔実施例〕 第３図に本発明の第１の実施例を示す．図中、第１１図
．第１３図と同一の回路または回路要素には同一符号を
付し、説明を省略する．第１の電圧源１１の電源コンデ
ンサ１１１から遮断器４の遮断第１相の電源側端子に供
給された再起電圧定常分を減衰させる回路素子１５１は
、抵抗１２３とコンデンサ１２４ とからなる直列回路
素子と、コンデンサ１２４に並列に接続されたＮＬＲ１
２８とからなり、波形調整回路ｌ８の両端子間に接続さ
れている．コンデンサ１２４の静電容量は電源コンデン
サ１１１の静電容量の１７２程度以下の十分小さい値に
設定され、抵抗１２３の抵抗値はＮ Ｌ Ｒ １２８の
動作後π／２の電気角経過後に再起電圧定常分が０．７
３２ Ｅとなるように決められている． 第４図は第３図のように構成された回路素子１５１を、
第３図の波形調整回路１８における抵抗１１４とコンデ
ンサ１１５との直列回路に対してさらに抵抗１３ｌ，コ
ンデンサｌ３２，インダクタンス１３３の並列回路１３
０を直列に追加して構成された波形調整回路ｌ９を有す
る第１の電圧源に適用した．第３図の応用例を示す．こ
の並列回路１３０は再起電圧過渡分の波形を遮断器の規
格による複周波数とするために追加されるものであり、
再起電圧の定常分への影響は生じないから、再起電圧過
渡分が単一周波数の波形となる第３図の回路素子１５１
をそのまま適用することが可能である。
分の減衰波形を実系統の場合に現われる電圧波形により
近い波形とすることができ、かつコンデンサ１２４の容
量が小さくなる．なお、第２図にみられるように、分割
点Ｃの位置がＢ点に近づくにつれ、図中の点八゜は曲線
２０２に沿って時間原点に近づき、点Ａ”ガ時間原点と
一致する分割点では再び従来の曲線２０１ と同様の電
圧波形となるから、分割点の位置設定は点Ａ″が時間原
点と一致する点とＤ点との間で、試験の重点が遮断第１
相の遮断性能の検証にあるのか、遮断第１相と残り２相
との間の絶縁耐力の検証にあるのかなど、目的により合
致するように行う． 〔実施例〕 第３図に本発明の第１の実施例を示す．図中、第１１図
．第１３図と同一の回路または回路要素には同一符号を
付し、説明を省略する．第１の電圧源１１の電源コンデ
ンサ１１１から遮断器４の遮断第１相の電源側端子に供
給された再起電圧定常分を減衰させる回路素子１５１は
、抵抗１２３とコンデンサ１２４ とからなる直列回路
素子と、コンデンサ１２４に並列に接続されたＮＬＲ１
２８とからなり、波形調整回路ｌ８の両端子間に接続さ
れている．コンデンサ１２４の静電容量は電源コンデン
サ１１１の静電容量の１７２程度以下の十分小さい値に
設定され、抵抗１２３の抵抗値はＮ Ｌ Ｒ １２８の
動作後π／２の電気角経過後に再起電圧定常分が０．７
３２ Ｅとなるように決められている． 第４図は第３図のように構成された回路素子１５１を、
第３図の波形調整回路１８における抵抗１１４とコンデ
ンサ１１５との直列回路に対してさらに抵抗１３ｌ，コ
ンデンサｌ３２，インダクタンス１３３の並列回路１３
０を直列に追加して構成された波形調整回路ｌ９を有す
る第１の電圧源に適用した．第３図の応用例を示す．こ
の並列回路１３０は再起電圧過渡分の波形を遮断器の規
格による複周波数とするために追加されるものであり、
再起電圧の定常分への影響は生じないから、再起電圧過
渡分が単一周波数の波形となる第３図の回路素子１５１
をそのまま適用することが可能である。
第５図は回路素子１５ｌの接続位置に対する別の実施例
を示す回路図である。すなわぢ、この実施例では、回路
素子１５１は、第４図と同じ波形調整回路１９を有する
第１の電圧源１１の始動ギャンプ１１２と．インダクタ
ンス１１３との接続点と．電源コンデンサ１１１ と波
形調整回路１９との接続点との間に接続されている．こ
のように、回路素子１５１ をインダクタンス１１３よ
り電源コンデン′サ１１１寄りに１妾続することにより
、インダクタンス１１３より遮断器４側にある回路要素
の，所定の再起電圧過渡波形を与えるための定数決定が
容昌となり、このため、所定の過渡波形により近い過渡
波形を得ることが容易に可能となる．第６図は回路素子
１５１が第５図の位置に接続された場合の再起電圧波形
（定常分に過渡分が重畳された波形）を示し、第７図は
より長い時間範囲にわたる再起電圧全体の波形を示す。
を示す回路図である。すなわぢ、この実施例では、回路
素子１５１は、第４図と同じ波形調整回路１９を有する
第１の電圧源１１の始動ギャンプ１１２と．インダクタ
ンス１１３との接続点と．電源コンデンサ１１１ と波
形調整回路１９との接続点との間に接続されている．こ
のように、回路素子１５１ をインダクタンス１１３よ
り電源コンデン′サ１１１寄りに１妾続することにより
、インダクタンス１１３より遮断器４側にある回路要素
の，所定の再起電圧過渡波形を与えるための定数決定が
容昌となり、このため、所定の過渡波形により近い過渡
波形を得ることが容易に可能となる．第６図は回路素子
１５１が第５図の位置に接続された場合の再起電圧波形
（定常分に過渡分が重畳された波形）を示し、第７図は
より長い時間範囲にわたる再起電圧全体の波形を示す。
また、第８図は第４図に示す位置に回路素子１５１を接
続した場舎の，第６図と対比される再起電圧波形を示す
。第８図の波形では第１の山が十分な高さに到達してお
らず、同一定数の回路要素を用いて構成された回路素子
１５１を使用した場合、試験条件が第５図と比較して緩
和されている。なお、第９図は再起電圧定常分を減衰さ
せる回路素子としてＮＬＰを含まない従来の回路素子を
用いた場合の波形調整回路１９による再起電圧波形を示
すものであり、この場合には、ＮＬＰがないため、再起
電圧の波形中第２の山の波高値が異常に高く、試験条件
が不要に過酷となっていることを示す．回路素子］５を
いずれの位置に接続するかは、試験場における接続の難
易９遮断器の遮断性能の検証を再起電圧過渡波形のいず
れの部分に重点をおいて行うかなどを勘案して決定する
．第１０図はさらに、再起電圧定常分を減衰させるＦ１
路素子の接続位置に関する第３の実施例とし２″？．波
形調整回路１Ｂ中のコンデンサ１１５に並列に接続．ｊ
、７た場合を示す。この場合には、コンデンサ１２７の
静電容量は第３図ないし第５図におけるコンデ’／＋１
２４の静電容量とほぼ等しく、従ってコンデンサ１１５
の静電容量はコンデンサ１２７と比べて極めて小さいか
ら、抵抗１２６の抵抗値は、抵抗１１４の抵抗値との和
が第３図ないし第５図における抵抗１２３の抵抗値とほ
ぼ等しくなるように設定すればよい。
続した場舎の，第６図と対比される再起電圧波形を示す
。第８図の波形では第１の山が十分な高さに到達してお
らず、同一定数の回路要素を用いて構成された回路素子
１５１を使用した場合、試験条件が第５図と比較して緩
和されている。なお、第９図は再起電圧定常分を減衰さ
せる回路素子としてＮＬＰを含まない従来の回路素子を
用いた場合の波形調整回路１９による再起電圧波形を示
すものであり、この場合には、ＮＬＰがないため、再起
電圧の波形中第２の山の波高値が異常に高く、試験条件
が不要に過酷となっていることを示す．回路素子］５を
いずれの位置に接続するかは、試験場における接続の難
易９遮断器の遮断性能の検証を再起電圧過渡波形のいず
れの部分に重点をおいて行うかなどを勘案して決定する
．第１０図はさらに、再起電圧定常分を減衰させるＦ１
路素子の接続位置に関する第３の実施例とし２″？．波
形調整回路１Ｂ中のコンデンサ１１５に並列に接続．ｊ
、７た場合を示す。この場合には、コンデンサ１２７の
静電容量は第３図ないし第５図におけるコンデ’／＋１
２４の静電容量とほぼ等しく、従ってコンデンサ１１５
の静電容量はコンデンサ１２７と比べて極めて小さいか
ら、抵抗１２６の抵抗値は、抵抗１１４の抵抗値との和
が第３図ないし第５図における抵抗１２３の抵抗値とほ
ぼ等しくなるように設定すればよい。
以上に述べたように、本発明によれば、再起電圧定常分
の電圧を減衰させて三相共通タンク形遮断器における遮
断第１相の遮断部端子間，遮断第１相と残り２相との間
の相関，金相遮断部と大地間に実回路と等価な電圧過酷
度を与えるための回路素子を、抵抗とコンデンサとの直
列回路素子と，抵抗中の適宜の１点とコンデンサの反抵
抗側端子との間に接続される非直線性抵抗素子とを用い
て構成したので、この回路素子における直列回路素子中
のコンデンサ容量を第１の電圧源中の電源コンデンサの
容量よりも十分に小さく設定しつつ、より実回路に近い
波形の電圧を遮断第１相の電源側端子に得ることができ
、試験回路を安価に構成することができるとともに実回
路により忠実な試験が可能となる効果がある．
の電圧を減衰させて三相共通タンク形遮断器における遮
断第１相の遮断部端子間，遮断第１相と残り２相との間
の相関，金相遮断部と大地間に実回路と等価な電圧過酷
度を与えるための回路素子を、抵抗とコンデンサとの直
列回路素子と，抵抗中の適宜の１点とコンデンサの反抵
抗側端子との間に接続される非直線性抵抗素子とを用い
て構成したので、この回路素子における直列回路素子中
のコンデンサ容量を第１の電圧源中の電源コンデンサの
容量よりも十分に小さく設定しつつ、より実回路に近い
波形の電圧を遮断第１相の電源側端子に得ることができ
、試験回路を安価に構成することができるとともに実回
路により忠実な試験が可能となる効果がある．
第１図は本発明による再起電圧定常分減衰用回路素子を
用いた試験回路の基本構成を示す回路図、第２図は第１
図の回路構成において得られる再起ｔ Ｅ定常分波形の
時間変化を実回路の定常分電圧波形と対比して示す線図
、第３図は本発明の第１の実施例による再起電圧定常分
減衰用回路素子の構成と該回路素子の接続位置とを示す
試験回路図、第４図は第３図と異なる波形調整回路を有
する第１の電圧源への本発明による再起電圧定常分減衰
用回路素子の適用例を示す試験回路図、第５図は本発明
による再起電圧定常分減衰用回路素子の接続位置に関す
る第２の実施例を示す試験回路図、第６図は第５図の試
験回路で得られた再起電圧の過渡波形を示す波形図、第
７図は第６図と同一波形をより長い時間範囲まで示す再
起電圧全体波形図．、第８図は第４図の試験回路で得ら
れた再起電圧の過渡波形を示す波形図、第９図は第４図
におけるりで起電圧定常分減衰用回路素子の代わりに従
来の再起電圧定常分減衰用回路素子を用いた場合に得ら
れた再起電圧の過渡波形を示す波形図、第ｌＯ図は本発
明による再起電圧定常分減衰用回路素子の接続位置に関
する第３の実施例を示す試験回路図、第１１図は従来の
再起電圧定常分減衰用回路票子の構成例と接続位置例と
を示す試験回路図、第１２図は第１１図の試験回路構成
により遮断器の電’ｌｆＡ＠および負荷側端子に得られ
る電圧波形を示す波形図、第１３図は再起電圧定常分減
衰用回路素子・ハ第１１図と異なる接続位置例を示す試
験回路図である。 １ク三相電流源、４；遮断器 （三相共通タンク形遮断
器）、１１：第１の電圧源、１２：第２の電圧源、１４
．１８，１９ ：波形調整回路、１５， １５１イ．１
５２：回路素子、１１１；電源コンデンサ、１１２：始
動ギャップ、ｌ１３：インダクタンス、１１４：抵抗、
１１５：コンデンサ、１２３，１２５．１２５ａ，Ｌ２
５ｂ，１２６ ：抵抗、１２４．１２７ ４コンデン
サ、１２８，１２９ ：非直線性抵抗素子． 第１図 Ｌ − −−− −−−．．１第７目 第８図 第ｑ図 しー−−一＝Ｊ １−− ＋一＋＋ Ｊ
用いた試験回路の基本構成を示す回路図、第２図は第１
図の回路構成において得られる再起ｔ Ｅ定常分波形の
時間変化を実回路の定常分電圧波形と対比して示す線図
、第３図は本発明の第１の実施例による再起電圧定常分
減衰用回路素子の構成と該回路素子の接続位置とを示す
試験回路図、第４図は第３図と異なる波形調整回路を有
する第１の電圧源への本発明による再起電圧定常分減衰
用回路素子の適用例を示す試験回路図、第５図は本発明
による再起電圧定常分減衰用回路素子の接続位置に関す
る第２の実施例を示す試験回路図、第６図は第５図の試
験回路で得られた再起電圧の過渡波形を示す波形図、第
７図は第６図と同一波形をより長い時間範囲まで示す再
起電圧全体波形図．、第８図は第４図の試験回路で得ら
れた再起電圧の過渡波形を示す波形図、第９図は第４図
におけるりで起電圧定常分減衰用回路素子の代わりに従
来の再起電圧定常分減衰用回路素子を用いた場合に得ら
れた再起電圧の過渡波形を示す波形図、第ｌＯ図は本発
明による再起電圧定常分減衰用回路素子の接続位置に関
する第３の実施例を示す試験回路図、第１１図は従来の
再起電圧定常分減衰用回路票子の構成例と接続位置例と
を示す試験回路図、第１２図は第１１図の試験回路構成
により遮断器の電’ｌｆＡ＠および負荷側端子に得られ
る電圧波形を示す波形図、第１３図は再起電圧定常分減
衰用回路素子・ハ第１１図と異なる接続位置例を示す試
験回路図である。 １ク三相電流源、４；遮断器 （三相共通タンク形遮断
器）、１１：第１の電圧源、１２：第２の電圧源、１４
．１８，１９ ：波形調整回路、１５， １５１イ．１
５２：回路素子、１１１；電源コンデンサ、１１２：始
動ギャップ、ｌ１３：インダクタンス、１１４：抵抗、
１１５：コンデンサ、１２３，１２５．１２５ａ，Ｌ２
５ｂ，１２６ ：抵抗、１２４．１２７ ４コンデン
サ、１２８，１２９ ：非直線性抵抗素子． 第１図 Ｌ − −−− −−−．．１第７目 第８図 第ｑ図 しー−−一＝Ｊ １−− ＋一＋＋ Ｊ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １）遮断器各相の遮断部に短絡電流を供給する三相電流
源と、遮断第１相となる相の端子間に再起電圧を供給す
るとともに該供給された再起電圧の定常分を前記三相電
流源の運転周波数における１／４周波の時間にその波高
値からほぼ最終値まで減衰させる時定数を有する回路素
子が付加された第１の電圧源と、各相の負荷側端子に一
括して大地との間に相電圧を印加する第２の電圧源とを
備えるとともに、前記第１の電圧源が、再起電圧の定常
分波高値を供給可能な電圧に充電される電源コンデンサ
を始動ギャップとインダクタンスとを順に介して再起電
圧過渡分の波形を調整する、該波形調整のための抵抗と
コンデンサとの直列回路素子を含む波形調整回路に接続
した閉回路として形成され、遮断第１相となる相への再
起電圧の供給が波形調整回路の両端子から行われる三相
共通タンク形遮断器の試験回路において、前記再起電圧
の定常分を減衰させる回路素子が前記時定数を与える抵
抗とコンデンサとの直列回路素子と、該抵抗中の適宜の
１点と該コンデンサの反抵抗側端子との間に接続される
非直線性抵抗素子とからなり波形調整回路の両端子間に
接続されることを特徴とする三相共通タンク形遮断器の
試験回路。 ２）遮断器各相の遮断部に短絡電流を供給する三相電流
源と、遮断第１相となる相の端子間に再起電圧を供給す
るとともに該供給された再起電圧の定常分を前記三相電
流源の運転周波数における１／４周波の時間にその波高
値からほぼ最終値まで減衰させる時定数を有する回路素
子が付加された第１の電圧源と、各相の負荷側端子に一
括して大地との間に相電圧を印加する第２の電圧源とを
備えるとともに、前記第１の電圧源が、再起電圧の定常
分波高値を供給可能な電圧に充電される電源コンデンサ
を始動ギャップとインダクタンスとを順に介して再起電
圧過渡分の波形を調整する、該波形調整のための抵抗と
コンデンサとの直列回路素子を含む波形調整回路に接続
した閉回路として形成され、遮断第１相となる相への再
起電圧の供給が波形調整回路の両端子から行われる三相
共通タンク形遮断器の試験回路において、前記再起電圧
の定常分を減衰させる回路素子が前記時定数を与える抵
抗とコンデンサとの直列回路素子と、該抵抗中の適宜の
１点と該コンデンサの反抵抗側端子との間に接続される
非直線性抵抗素子とからなり始動ギャップとインダクタ
ンスとの接続点と、電源コンデンサと波形調整回路との
接続点との間に接続されることを特徴とする三相共通タ
ンク形遮断器の試験回路。 ３）遮断器各相の遮断部に短絡電流を供給する三相電流
源と、遮断第１相となる相の端子間に再起電圧を供給す
るとともに該供給された再起電圧の定常分を前記三相電
流源の運転周波数における１／４周波の時間にその波高
値からほぼ最終値まで減衰させる時定数を有する回路素
子が付加された第１の電圧源と、各相の負荷側端子に一
括して大地との間に相電圧を印加する第２の電圧源とを
備えるとともに、前記第１の電圧源が、再起電圧の定常
分波高値を供給可能な電圧に充電される電源コンデンサ
を始動ギャップとインダクタンスとを順に介して再起電
圧過渡分の波形を調整する、該波形調整のための抵抗と
コンデンサとの直列回路素子を含む波形調整回路に接続
した閉回路として形成され、遮断第１相となる相への再
起電圧の供給が波形調整回路の両端子から行われる三相
共通タンク形遮断器の試験回路において、前記再起電圧
の定常分を減衰させる回路素子が前記時定数を与える抵
抗とコンデンサとの直列回路素子と、該抵抗中の適宜の
１点と該コンデンサの反抵抗側端子との間に接続される
非直線性抵抗素子とからなり波形調整回路に含まれる抵
抗とコンデンサとの直列回路素子におけるコンデンサの
両端子間に接続されることを特徴とする三相共通タンク
形遮断器の試験回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6011489A JPH0748075B2 (ja) | 1989-03-13 | 1989-03-13 | 三相共通タンク形遮断器の試験回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6011489A JPH0748075B2 (ja) | 1989-03-13 | 1989-03-13 | 三相共通タンク形遮断器の試験回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02238383A true JPH02238383A (ja) | 1990-09-20 |
| JPH0748075B2 JPH0748075B2 (ja) | 1995-05-24 |
Family
ID=13132764
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6011489A Expired - Lifetime JPH0748075B2 (ja) | 1989-03-13 | 1989-03-13 | 三相共通タンク形遮断器の試験回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0748075B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2021036114A1 (zh) * | 2019-08-28 | 2021-03-04 | 广安电气检测中心(广东)有限公司 | 四参数瞬态恢复电压(trv)调节电路 |
| CN114264952A (zh) * | 2022-02-28 | 2022-04-01 | 欧米勒电气有限公司 | 一种基于数据处理的断路器运行状态特征管理系统 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59109873A (ja) * | 1982-12-16 | 1984-06-25 | Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd | 三相共通タンク形遮断器の試験装置 |
| JPS60216280A (ja) * | 1984-04-11 | 1985-10-29 | Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd | 非直接接地系統用三相遮断器の合成試験回路 |
-
1989
- 1989-03-13 JP JP6011489A patent/JPH0748075B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0748075B2 (ja) | 1995-05-24 |
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