JPH074617Y2 - 磁気ヒステリシス特性測定装置 - Google Patents
磁気ヒステリシス特性測定装置Info
- Publication number
- JPH074617Y2 JPH074617Y2 JP1986160687U JP16068786U JPH074617Y2 JP H074617 Y2 JPH074617 Y2 JP H074617Y2 JP 1986160687 U JP1986160687 U JP 1986160687U JP 16068786 U JP16068786 U JP 16068786U JP H074617 Y2 JPH074617 Y2 JP H074617Y2
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- JP
- Japan
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- measured
- cores
- hall element
- hysteresis characteristic
- magnetic hysteresis
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Description
【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この考案は、強磁性体などの磁気ヒステリシス特性を測
定する磁気ヒステリシス特性測定装置に関し、特にドリ
フトなどの測定誤差が少なく、かつ、磁気ヒステリシス
特性を測定するために、予め被計測物に検出コイルを巻
装するなどといった準備操作を必要としない磁気ヒステ
リシス特性測定装置としたものである。
定する磁気ヒステリシス特性測定装置に関し、特にドリ
フトなどの測定誤差が少なく、かつ、磁気ヒステリシス
特性を測定するために、予め被計測物に検出コイルを巻
装するなどといった準備操作を必要としない磁気ヒステ
リシス特性測定装置としたものである。
従来のこの種の磁気ヒステリシス特性測定装置は、第３
図に示す如く、ヨーク１の互いに適宜間隔をおいて対向
させたコア2,3に、ソレノイドコイル4,5を巻装し、この
ソレノイドコイル4,5に電源制御装置６を接続する。前
記コア２は、他方のコア３に対し、これらコア2,3で挟
持される被計測物７の大きさに応じて間隔を調整できる
ようにハンドル16により上下動可能になっている。
図に示す如く、ヨーク１の互いに適宜間隔をおいて対向
させたコア2,3に、ソレノイドコイル4,5を巻装し、この
ソレノイドコイル4,5に電源制御装置６を接続する。前
記コア２は、他方のコア３に対し、これらコア2,3で挟
持される被計測物７の大きさに応じて間隔を調整できる
ようにハンドル16により上下動可能になっている。
前記コア2,3に近接させて、もしくはコア2,3間に位置さ
せてコア間の磁場の磁化力を測定するためのホール素子
８を配設する。このホール素子８は、制御電流が供給で
きるようになっていることはもとより、前記ソレノイド
コイル4,5に流れる励磁電流によりコア2,3間に生じる交
番磁場が加わるようになっており、前記制御電流と前記
交番磁場とを受け、前記被計測物７に作用する磁化力に
対応して出力される検出電圧を、検出回路９に印加する
ようになっている。この検出回路９は通常の増幅器など
が使用されている。
せてコア間の磁場の磁化力を測定するためのホール素子
８を配設する。このホール素子８は、制御電流が供給で
きるようになっていることはもとより、前記ソレノイド
コイル4,5に流れる励磁電流によりコア2,3間に生じる交
番磁場が加わるようになっており、前記制御電流と前記
交番磁場とを受け、前記被計測物７に作用する磁化力に
対応して出力される検出電圧を、検出回路９に印加する
ようになっている。この検出回路９は通常の増幅器など
が使用されている。
強磁性体の被計測物７は、予め周面に被計測物中の磁束
密度を測定するための検出コイル10を巻装して前記コア
2,3に挟持させ、この検出コイル10を積分器11に接続す
る。前記検出回路９および積分器11は、磁気ヒステリシ
ス特性を表示するX-Yレコーダ12に接続されている。
密度を測定するための検出コイル10を巻装して前記コア
2,3に挟持させ、この検出コイル10を積分器11に接続す
る。前記検出回路９および積分器11は、磁気ヒステリシ
ス特性を表示するX-Yレコーダ12に接続されている。
そして、前記ソレノイドコイル4,5に前記電源制御装置
６から制御された励磁電流を流すことにより、前記コア
2,3間にピーク値が自由に調整できる交番磁場を発生さ
せ、この交番磁場の磁化力Ｈの値をホール素子８によっ
て検出して前記検出回路９を介してX-Yレコーダ12に印
加する。
６から制御された励磁電流を流すことにより、前記コア
2,3間にピーク値が自由に調整できる交番磁場を発生さ
せ、この交番磁場の磁化力Ｈの値をホール素子８によっ
て検出して前記検出回路９を介してX-Yレコーダ12に印
加する。
一方、前記交番磁場を受けて、被計測物７に生じる磁束
密度Ｂの値は、前記検出コイル10で検出して前記積分器
11を介してX-Yレコーダ12に印加する。このX-Yレコーダ
12は、前記交番磁場の磁化力Ｈおよび磁束密度Ｂの検出
値を受けて磁気ヒステリシス特性曲線を描写させ、記録
する。
密度Ｂの値は、前記検出コイル10で検出して前記積分器
11を介してX-Yレコーダ12に印加する。このX-Yレコーダ
12は、前記交番磁場の磁化力Ｈおよび磁束密度Ｂの検出
値を受けて磁気ヒステリシス特性曲線を描写させ、記録
する。
しかし、この磁気ヒステリシス特性測定装置では、前記
磁束密度Ｂを検出するのに、その磁束密度の変化分にの
み応動する検出コイル10を被計測物７に巻装して使用し
ているために、後段の回路に積分器11を用いなければな
らない。この積分器11は、ドリフトが大きく、その磁気
ヒステリシス特性の測定の都度調整作業を強いられて、
高精度の測定が期待できず、また、被計測物７に検出コ
イル10を巻装するといった計測前の準備作業を必要とし
て煩瑣である。しかも、前記被計測物７は、予め消磁さ
せて使用しなければならず、消磁させないまま測定する
と、磁場の磁化力Ｈおよび磁束密度Ｂを各零点を中心と
した磁気ヒステリシス特性曲線を描写させることができ
ない。
磁束密度Ｂを検出するのに、その磁束密度の変化分にの
み応動する検出コイル10を被計測物７に巻装して使用し
ているために、後段の回路に積分器11を用いなければな
らない。この積分器11は、ドリフトが大きく、その磁気
ヒステリシス特性の測定の都度調整作業を強いられて、
高精度の測定が期待できず、また、被計測物７に検出コ
イル10を巻装するといった計測前の準備作業を必要とし
て煩瑣である。しかも、前記被計測物７は、予め消磁さ
せて使用しなければならず、消磁させないまま測定する
と、磁場の磁化力Ｈおよび磁束密度Ｂを各零点を中心と
した磁気ヒステリシス特性曲線を描写させることができ
ない。
また、磁場の磁化力Ｈに対する正確な磁束密度Ｂの値を
得るには、検出コイル10の巻数と、被計測物７の断面積
とを勘案して算出しなければならない、といった手数を
要して煩瑣なものであった。
得るには、検出コイル10の巻数と、被計測物７の断面積
とを勘案して算出しなければならない、といった手数を
要して煩瑣なものであった。
そこで、この考案は、前記事情に鑑み、磁気ヒステリシ
ス特性の計測前に予め被計測物に検出コイルを巻装する
といった準備作業を必要とせず、また、従来の如く後段
の信号処理に積分器を必要としないので、ドリフトなど
の計測誤差も少なく、磁気ヒステリシス特性の測定にき
わめて便利な磁気ヒステリシス特性測定装置を提供する
ことを目的とする。
ス特性の計測前に予め被計測物に検出コイルを巻装する
といった準備作業を必要とせず、また、従来の如く後段
の信号処理に積分器を必要としないので、ドリフトなど
の計測誤差も少なく、磁気ヒステリシス特性の測定にき
わめて便利な磁気ヒステリシス特性測定装置を提供する
ことを目的とする。
本考案は、前記目的を達成するために、磁気ヒステリシ
ス特性測定装置において、前記コア間の間隔を、前記被
計測物の大きさに応じて調整可能な調整手段と、周囲の
空間磁界を検出するために前記コア間に配置し、前記コ
ア間の前記被計測物に近接した位置に出入回動自在に端
部を保持した第１のホール素子と、前記コア間に挟持し
た前記被計測物の内部磁束密度を測定するために前記被
計測物に接触する一方のコア表面に埋設した第２のホー
ル素子と、前記被計測物に作用する磁化力に対応して前
記第１のホール素子から出力される信号と前記被計測物
を通る内部磁束密度に対応して前記第２のホール素子か
ら出力される信号とを検出信号により印加された磁気ヒ
ステリシス特性を表示するX-Yレコーダーとからなり、
前記被計測物に磁化コイルを巻装することなく、被計測
物の取替えが簡単にできるようにした。
ス特性測定装置において、前記コア間の間隔を、前記被
計測物の大きさに応じて調整可能な調整手段と、周囲の
空間磁界を検出するために前記コア間に配置し、前記コ
ア間の前記被計測物に近接した位置に出入回動自在に端
部を保持した第１のホール素子と、前記コア間に挟持し
た前記被計測物の内部磁束密度を測定するために前記被
計測物に接触する一方のコア表面に埋設した第２のホー
ル素子と、前記被計測物に作用する磁化力に対応して前
記第１のホール素子から出力される信号と前記被計測物
を通る内部磁束密度に対応して前記第２のホール素子か
ら出力される信号とを検出信号により印加された磁気ヒ
ステリシス特性を表示するX-Yレコーダーとからなり、
前記被計測物に磁化コイルを巻装することなく、被計測
物の取替えが簡単にできるようにした。
この考案は前記のような磁気ヒステリシス特性測定装置
としたので、まず、前記被計測物26を単にコア22,23間
に挟持させ、次いで前記電源制御装置27から励磁電流を
前記ソレノイドコイル24,25に流してコア22,23間に交番
磁界を発生させ、この交番磁界の磁化力Ｈを前記第１の
ホール素子29が検出してその検出信号を前記X-Yレコー
ダー30に印加し、一方、前記被計測物26中の磁束密度Ｂ
を前記第２のホール素子32が検出してその検出信号を前
記X-Yレコーダー30に印加することによって、このX-Yレ
コーダー30に磁気ヒステリシス特性曲線を表示、記録す
ることができる。
としたので、まず、前記被計測物26を単にコア22,23間
に挟持させ、次いで前記電源制御装置27から励磁電流を
前記ソレノイドコイル24,25に流してコア22,23間に交番
磁界を発生させ、この交番磁界の磁化力Ｈを前記第１の
ホール素子29が検出してその検出信号を前記X-Yレコー
ダー30に印加し、一方、前記被計測物26中の磁束密度Ｂ
を前記第２のホール素子32が検出してその検出信号を前
記X-Yレコーダー30に印加することによって、このX-Yレ
コーダー30に磁気ヒステリシス特性曲線を表示、記録す
ることができる。
以下、この考案の磁気ヒステリシス特性測定装置の一実
施例を図面に基づいて詳細に説明する。
施例を図面に基づいて詳細に説明する。
第１図において、21はヨーク、22,23は前記ヨーク21に
設けソレノイドコイル24,25が巻装されたコアである。
この一方のコア22は、他方のコア23にに対して、これら
のコア22,23に挟持される被計測物26の大きさに応じて
コア間隔の調整が可能なように、ハンドルによって移動
可能になっている。前記ソレノイドコイル24,25は電源
制御装置27に接続されている。
設けソレノイドコイル24,25が巻装されたコアである。
この一方のコア22は、他方のコア23にに対して、これら
のコア22,23に挟持される被計測物26の大きさに応じて
コア間隔の調整が可能なように、ハンドルによって移動
可能になっている。前記ソレノイドコイル24,25は電源
制御装置27に接続されている。
前記ヨーク21には、支持板28の基端が揺動自在に取付け
られ、この支持板28の先端には、ソレノイドコイル24,2
5に流れる励磁電流によって磁化されたコア22,23間の磁
場の磁化力Ｈを測定する第１のホール素子29が取付けら
れている。この第１のホール素子29は、支持板28の板面
に付設するか、または、支持板28の板面を切欠いて埋設
する。この第１のホール素子29と磁気ヒステリシス特性
を表示するX-Yレコーダー30とを接続するコード31は、
支持板28の板面に敷設するか、もくは支持板28に孔や切
欠きなどを設けてこれらの内部に挿通させる。また、前
記支持板28は、計測中にあってはコア22,23の空隙間に
この先端に取付けた前記第１のホール素子29が位置する
ように回動されている。
られ、この支持板28の先端には、ソレノイドコイル24,2
5に流れる励磁電流によって磁化されたコア22,23間の磁
場の磁化力Ｈを測定する第１のホール素子29が取付けら
れている。この第１のホール素子29は、支持板28の板面
に付設するか、または、支持板28の板面を切欠いて埋設
する。この第１のホール素子29と磁気ヒステリシス特性
を表示するX-Yレコーダー30とを接続するコード31は、
支持板28の板面に敷設するか、もくは支持板28に孔や切
欠きなどを設けてこれらの内部に挿通させる。また、前
記支持板28は、計測中にあってはコア22,23の空隙間に
この先端に取付けた前記第１のホール素子29が位置する
ように回動されている。
一方、被計測物26中の磁束密度Ｂを測定する第２のホー
ル素子32は、第２図に詳細に示すように、コア23の表
面、特に前記被計測物26が載置される表面の一部を切欠
いた切欠34に嵌着した後、保護板33を被着させて埋設す
る。この第２のホール素子32と前記磁気ヒステリシス特
性を表示するX-Yコレーダー30とを接続するコード36
は、前記切欠34内に挿通させて外部に引出す。
ル素子32は、第２図に詳細に示すように、コア23の表
面、特に前記被計測物26が載置される表面の一部を切欠
いた切欠34に嵌着した後、保護板33を被着させて埋設す
る。この第２のホール素子32と前記磁気ヒステリシス特
性を表示するX-Yコレーダー30とを接続するコード36
は、前記切欠34内に挿通させて外部に引出す。
このように構成された磁気ヒステリシス特性測定装置に
よって、被計測物26の磁気ヒステリシス特性を測定する
には、まず、被計測物26をコア22,23間に挟持させ、次
いでソレノイドコイル24,25に電源制御装置27から励磁
電流を流し、コア22,23間に交番磁場を発生させる。交
番磁場でのピーク値は、前記電源制御装置27の制御によ
るソレノイドコイル24,25に流す励磁電流量により自由
に調整できることは勿論である。
よって、被計測物26の磁気ヒステリシス特性を測定する
には、まず、被計測物26をコア22,23間に挟持させ、次
いでソレノイドコイル24,25に電源制御装置27から励磁
電流を流し、コア22,23間に交番磁場を発生させる。交
番磁場でのピーク値は、前記電源制御装置27の制御によ
るソレノイドコイル24,25に流す励磁電流量により自由
に調整できることは勿論である。
この交番磁場の磁化力Ｈは、前記第１のホール素子29で
検出し、この検出値を前記X-Yレコーダー30に印加す
る。一方。被計測物26には前記コア22,23間に生じる交
番磁場によりその内部に磁束が通り、その磁束密度Ｂを
前記第２のホール素子32が検出して、この検出値を前記
X-Yレコーダー30に印加する。前記第２のホール素子32
は、コア23の表面に埋設されてはいるが、しかし、被計
測物26の直下に位置しているために、被計測物26内を通
る磁束がそのままこの第２ホール素子32に作用し、この
第２のホール素子32に通る磁束密度Ｂと第２のホール素
子32に流す制御電流との作用により、この第２のホール
素子32から磁束密度Ｂの大きさに比例する検出電圧を得
て、これを前記X-Yレコーダー30に印加する。
検出し、この検出値を前記X-Yレコーダー30に印加す
る。一方。被計測物26には前記コア22,23間に生じる交
番磁場によりその内部に磁束が通り、その磁束密度Ｂを
前記第２のホール素子32が検出して、この検出値を前記
X-Yレコーダー30に印加する。前記第２のホール素子32
は、コア23の表面に埋設されてはいるが、しかし、被計
測物26の直下に位置しているために、被計測物26内を通
る磁束がそのままこの第２ホール素子32に作用し、この
第２のホール素子32に通る磁束密度Ｂと第２のホール素
子32に流す制御電流との作用により、この第２のホール
素子32から磁束密度Ｂの大きさに比例する検出電圧を得
て、これを前記X-Yレコーダー30に印加する。
一方、第１のホール素子29は、従前のように、ソレノイ
ドコイル24,25に流れる励磁電流によってコア22,23間に
生じる磁場と第１のホール素子29に流す制御電流との作
用により、この磁場の磁化力Ｈに比例する検出電圧を得
て、これを前記X-Yレコーダー30に印加する。そして、
このX-Yレコーダー30は、前記のようなそれぞれの検出
電圧の印加により被計測物26の磁気ヒステリシス特性曲
線を描写し、記録する。
ドコイル24,25に流れる励磁電流によってコア22,23間に
生じる磁場と第１のホール素子29に流す制御電流との作
用により、この磁場の磁化力Ｈに比例する検出電圧を得
て、これを前記X-Yレコーダー30に印加する。そして、
このX-Yレコーダー30は、前記のようなそれぞれの検出
電圧の印加により被計測物26の磁気ヒステリシス特性曲
線を描写し、記録する。
以上説明したように、この考案の磁気ヒステリシス特性
測定装置によれば、その磁気ヒステリシス特性の計測前
に従来のように、予め被計測物に検出コイルを巻装する
といった準備作業を必要としないから、作業能率を向上
せしめることができる。
測定装置によれば、その磁気ヒステリシス特性の計測前
に従来のように、予め被計測物に検出コイルを巻装する
といった準備作業を必要としないから、作業能率を向上
せしめることができる。
また、被計測物に検出コイルが存在しないから、検出コ
イルから得られる信号処理のための積分器を必要とせ
ず、ドリフトなどによる計測誤差も少なく、測定精度が
高くなる。更に、測定領域に出入自在にホール素子を配
置したから、被計測物の取付け作業も簡易に行うことが
でき、その上、二つのホール素子により精密に測定する
ことができる。
イルから得られる信号処理のための積分器を必要とせ
ず、ドリフトなどによる計測誤差も少なく、測定精度が
高くなる。更に、測定領域に出入自在にホール素子を配
置したから、被計測物の取付け作業も簡易に行うことが
でき、その上、二つのホール素子により精密に測定する
ことができる。
第１図はこの考案に係る磁気ヒステリシス特性測定装置
の一実施例を示す電気回路のブロック図、第２図は磁束
密度を測定する第２のホール素子をコアに取付けた状態
を示す要部斜視図、第３図は従来の磁気ヒステリシス特
性測定装置の電気回路のブロック図である。 22,23……コア 24,25……ソレノイドコイル 26……被計測物 27……電源制御装置 28……支持板 29……第１のホール素子 30……X-Yレコーダー 31……コード 32……第２のホール素子 33……保護板 34……切欠 36……コード
の一実施例を示す電気回路のブロック図、第２図は磁束
密度を測定する第２のホール素子をコアに取付けた状態
を示す要部斜視図、第３図は従来の磁気ヒステリシス特
性測定装置の電気回路のブロック図である。 22,23……コア 24,25……ソレノイドコイル 26……被計測物 27……電源制御装置 28……支持板 29……第１のホール素子 30……X-Yレコーダー 31……コード 32……第２のホール素子 33……保護板 34……切欠 36……コード
Claims (1)
- 【請求項１】被計測物を挟持可能に互いに間隔をおいて
対向させて配置したコアに、電源制御装置から制御され
た励磁電流が流れるソレノイドコイルをそれぞれ巻装
し、前記コア間の磁場の磁化力を測定する磁気ヒステリ
シス特性測定装置において、 前記コア間の間隔を、前記被計測物の大きさに応じて調
整可能な調整手段と、 周囲の空間磁界を検出するために前記コア間に配置し、
前記コア間の前記被計測物に近接した位置に出入回動自
在に端部を保持した第１のホール素子と、 前記コア間に挟持した前記被計測物の内部磁束密度を測
定するために前記被計測物に接触する一方のコア表面に
埋設した第２のホール素子と、 前記被計測物に作用する磁化力に対応して前記第１のホ
ール素子から出力される信号と前記被計測物を通る内部
磁束密度に対応して前記第２のホール素子から出力され
る信号との検出信号により印加された磁気ヒステリシス
特性を表示するX-Yレコーダとからなり、 前記被計測物に磁化コイルを巻装することなく、被計測
物の取替えが簡単にできることを特徴とする磁気ヒステ
リシス特性測定装置
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986160687U JPH074617Y2 (ja) | 1986-10-20 | 1986-10-20 | 磁気ヒステリシス特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1986160687U JPH074617Y2 (ja) | 1986-10-20 | 1986-10-20 | 磁気ヒステリシス特性測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6367886U JPS6367886U (ja) | 1988-05-07 |
| JPH074617Y2 true JPH074617Y2 (ja) | 1995-02-01 |
Family
ID=31086298
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1986160687U Expired - Lifetime JPH074617Y2 (ja) | 1986-10-20 | 1986-10-20 | 磁気ヒステリシス特性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH074617Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4922200A (en) * | 1989-08-25 | 1990-05-01 | Ldj Electronics, Inc. | Apparatus for measuring the hysteresis loop of magnetic film |
| JP7032369B2 (ja) * | 2019-11-22 | 2022-03-08 | 電子磁気工業株式会社 | 磁気特性測定装置、及び磁気特性測定方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51147072U (ja) * | 1975-05-20 | 1976-11-25 |
-
1986
- 1986-10-20 JP JP1986160687U patent/JPH074617Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6367886U (ja) | 1988-05-07 |
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