JPH074605Y2 - 発光素子の試験装置 - Google Patents

発光素子の試験装置

Info

Publication number
JPH074605Y2
JPH074605Y2 JP1987196361U JP19636187U JPH074605Y2 JP H074605 Y2 JPH074605 Y2 JP H074605Y2 JP 1987196361 U JP1987196361 U JP 1987196361U JP 19636187 U JP19636187 U JP 19636187U JP H074605 Y2 JPH074605 Y2 JP H074605Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
light emitting
emitting element
constant temperature
trays
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP1987196361U
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0199071U (ja
Inventor
文夫 矢部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Rohm Co Ltd
Original Assignee
Rohm Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rohm Co Ltd filed Critical Rohm Co Ltd
Priority to JP1987196361U priority Critical patent/JPH074605Y2/ja
Publication of JPH0199071U publication Critical patent/JPH0199071U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH074605Y2 publication Critical patent/JPH074605Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、レーザーダイオード等の発光素子における耐
久性能を、高温の状態で試験するための試験装置に関す
るものである。
〔従来の技術〕
一般に、レーザーダイオード等の発光素子における高温
での性能試験は、当該発光素子から発射される光を、フ
ァトトランジスター等の受光素子にて受光することによ
り、以下に述べる要領で行なわれる。なお、高温での性
能試験は発光素子を高温にすることにより、当該発光素
子への負荷を大きくし、短時間で寿命を試験するためで
ある。
すなわち、発光素子に電流を印加することによって、当
該発光素子より一定のワット数の光を発光し、この光
を、当該発光素子に対向した受光素子にて受光して、そ
のときにおける受光素子における出力電流値を基準電流
とすると云うように、いわゆる、「受光素子のゼロ点調
整」を行い、次いで、発光素子とこれに対向した受光素
子とを、所定の温度(60〜70℃)に保持した恒温容器内
に入れ、発光素子に印加する電流を、当該発光素子に対
向した受光素子における出力電流が、常時、前記基準電
流になるように制御(これを、オートパワーコントロー
ルと云う)し、このときにおける発光素子に対する印加
電流を、適宜時間(約30分)の間隔で検出することによ
り、この適宜時間の間隔で検出した検出印加電流を、前
記ゼロ点調整のときにおける印加電流と比較することに
より、発光素子の高温での性能を試験するようにしてい
る。
そして、従来、この種の試験は、例えば特開昭59-22277
4号公報に記載されているように、恒温容器内に挿入し
たトレーに、被試験物である発光素子を多数個取付ける
一方、前記トレーの上部に配設した取付枠に、前記発光
素子と同数個の発光素子を、前記各発光素子の各々に対
向するようにして取付けることにより、発光素子におけ
る高温での性能の試験を、多数個の発光素子について同
時に行うようにしている。
〔考案が解決しようとする問題点〕
しかし、この従来の試験装置では、多数個の発光素子に
おける高温での性能試験を同時に行うことができる利点
を有するが、その反面、発光素子と同数個の受光素子を
必要とするから、試験装置が著しく高価になるのであ
り、しかも、多数個の受光素子の各々に対して「ゼロ点
調整」を行なわねばならないから、受光素子に対する
「ゼロ点調整」に多大の手数と、時間とを必要とするの
であった。
本考案は、この問題を解消した試験装置を提供すること
を目的とするものである。
〔問題を解決するための手段〕
この目的を達成するため本考案は、 「恒温容器内に、被試験物である複数個の発光素子を列
状に取付けた複数枚のトレーを、多段状に配設すると共
に、該各トレーの各々に対向する複数段の支持枠を、レ
ール手段を介して、前記トレーにおける各発光素子の列
方向に往復移動するように設けて、この各支持枠の各々
に、前記トレーにおける各発光素子からの光を受光する
ための受光素子を、前記発光素子における一つの列に対
して少なくとも一個ずつ取付ける一方、前記恒温容器の
外側に、前記各支持枠を一斉に往復動するための駆動モ
ータを設ける。」 と言う構成にした。
〔作用〕
このように構成すると、複数段の各支持枠に取付けた受
光素子は、これが取付く支持枠の移動に伴い、各段にお
けるトレーに対して列状に取付けた各発光素子からの光
を順番に受光できるから、一つの列における複数個の発
光素子を、当該一つの列に対する少なくとも一個の受光
素子によって試験することができるのである。
〔考案の効果〕
従って、本考案によると、 .多数個の発光素子を同時に試験する場合に使用する
発光素子を、発光素子と同数個にする必要はなく、受光
素子の数量は、発光素子における一列当たりに少なくと
も一個と云うように著しく少なくできるから、従来の試
験装置とは比較にならない程安価になる。
.複数個の発光素子を備えた複数枚のトレーを多段状
に配設すると共に、この各トレーの各々に対する支持枠
を、一斉に往復動するように構成したことにより、一回
の往復動によって、各トレーにおける各発光素子の検査
を一挙に行うことができ、換言すると、多数個の発光素
子を同時に検査することができるから、検査に要するコ
ストを大幅に低減できる。
.前記各段における支持枠を一斉に往復動するための
駆動モータを、恒温容器の外側に設けたことにより、こ
の駆動モータが、恒温容器内における熱負荷を受けるこ
とがないから、前記駆動モータの耐久性を確保できる。
と言う効果を有する。
〔実施例〕
以下、本考案の実施例を図面について説明するに、図に
おいて符号1は、前面に開閉自在な扉2を備え、且つ、
内部を高温に保持した恒温容器を示し、該恒温容器1内
における底面から左右両側に立設した縦部材3には、横
部材4が多段状に設けられ、この各横部材4の上面に
は、トレー5が各々着脱自在に載置されており、この各
トレー5の上面には、第3図に示すように、被試験物で
ある多数個のレーザーダイオード等の発光素子6が複数
列状に取付けられている。
符号7は、前記各トレー5の上面に対向するように各々
配設した支持枠を示し、該各支持枠7は、前記恒温容器
1における天井面に設けたレール8に、前記発光素子6
の列方向に自在に移動するように吊設されており、この
各支持枠7を、矢印Aで示すように、前記恒温容器1に
おける天井面に軸支したねじ軸9を、前記恒温容器1の
外側に配設した駆動モータ10にて正逆回転することによ
り、前記発光素子6の列方向に往復移動するように構成
する。
そして、前記各支持枠7の下面には、前記発光素子6に
おける各列に該当する部位に、発光素子5からの光を受
光するためのフォトトランジスター等の受光素子11を少
なくとも一個ずつ取付けた構成にする。
このように構成すると、各支持枠7に取付けた各受光素
子11は、これが取付く各支持枠7の移動に伴い、各トレ
ー5に対して列状に取付けた各発光素子6からの光を順
番に受光できるから、一つの列における複数個の発光素
子6を、当該一つの列に対する少なくとも一個の受光素
子11によって試験することができる。
【図面の簡単な説明】
図面は本考案の実施例を示し、第1図は縦断正面図、第
2図は第1図のII-II視断面図、第3図はトレーの斜視
図である。 1……恒温容器、2……扉、5……トレー、6……発光
素子、7……支持枠、9……ねじ軸、10……駆動モー
タ、11……受光素子。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】恒温容器内に、被試験物である複数個の発
    光素子を列状に取付けた複数枚のトレーを、多段状に配
    設すると共に、該各トレーの各々に対向する複数段の支
    持枠を、レール手段を介して、前記トレーにおける各発
    光素子の列方向に往復移動するように設けて、この各支
    持枠の各々に、前記トレーにおける各発光素子からの光
    を受光するための受光素子を、前記発光素子における一
    つの列に対して少なくとも一個ずつ取付ける一方、前記
    恒温容器の外側に、前記各支持枠を一斉に往復動するた
    めの駆動モータを設けたことを特徴とする発光素子の試
    験装置。
JP1987196361U 1987-12-23 1987-12-23 発光素子の試験装置 Expired - Lifetime JPH074605Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1987196361U JPH074605Y2 (ja) 1987-12-23 1987-12-23 発光素子の試験装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1987196361U JPH074605Y2 (ja) 1987-12-23 1987-12-23 発光素子の試験装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0199071U JPH0199071U (ja) 1989-07-03
JPH074605Y2 true JPH074605Y2 (ja) 1995-02-01

Family

ID=31486983

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1987196361U Expired - Lifetime JPH074605Y2 (ja) 1987-12-23 1987-12-23 発光素子の試験装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH074605Y2 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2628267B2 (ja) * 1993-03-19 1997-07-09 プロサイド株式会社 マイクロコンピュータの耐久試験装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59222774A (ja) * 1983-06-02 1984-12-14 Shin Nippon Denko Kk 発光素子用試験装置
JPH0629827B2 (ja) * 1986-04-16 1994-04-20 アンリツ株式会社 レ−ザダイオ−ドの特性測定装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0199071U (ja) 1989-07-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20190277824A1 (en) Method and system for examining eggs
US9991146B2 (en) Detection device
US5290134A (en) Pick and place for automatic test handler
US20110102582A1 (en) Biological growth plate scanner
WO2017157046A1 (zh) 一种适用于测量复杂结构的测量系统
US7226270B2 (en) Apparatus for transferring semiconductor device in handler
US9435783B2 (en) Hatching egg inspection apparatus and hatching egg inspecting method using a central and outer light emitter
JPH03505916A (ja) 測定機械における部品制御装置
JPH074605Y2 (ja) 発光素子の試験装置
CN108672312A (zh) 光学检测机、光学检测方法及计算机可读存储介质
KR100616459B1 (ko) 테스트 로봇 시스템
KR20060093555A (ko) 버섯재배장치
CN110058035A (zh) 一种样本加载、检测和分析一体化设备及其检测方法
CN210037615U (zh) 一种叶绿素荧光成像装置
CN207556489U (zh) 一种防尘罩骨架偏正自动检测仪
CN212459975U (zh) 电池测试系统
JPH0249570Y2 (ja)
CN103760188B (zh) 寝具保温性能测试仪
CN112213508B (zh) 一种高通量全自动免疫发光分析系统
CN208224117U (zh) 一种光器件引脚焊接质量检测装置
JPS58107406A (ja) エ−ジング設備
KR100287556B1 (ko) 수평식핸들러의 테스트 소켓과 소자의 콘택트장치
KR101909181B1 (ko) 기판 이송 어셈블리, 이를 포함하는 기판 처리 장치 및 위치 보정 방법
KR100365133B1 (ko) 수평식 핸들러의 디바이스 로딩 및 언로딩용 버퍼
CN216560223U (zh) 一种凝血仪光路检测系统