JPH0745018Y2 - プリント基板の検査装置用治具 - Google Patents

プリント基板の検査装置用治具

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JPH0745018Y2
JPH0745018Y2 JP1990043406U JP4340690U JPH0745018Y2 JP H0745018 Y2 JPH0745018 Y2 JP H0745018Y2 JP 1990043406 U JP1990043406 U JP 1990043406U JP 4340690 U JP4340690 U JP 4340690U JP H0745018 Y2 JPH0745018 Y2 JP H0745018Y2
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JP
Japan
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printed circuit
circuit board
jig
inspection
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Application number
JP1990043406U
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English (en)
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JPH043364U (ja
Inventor
勝紀 柳沢
Original Assignee
株式会社ユニシアジェックス
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Publication date
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  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 〔考案の目的〕 (産業上の利用分野) この考案、自動車のエンジン制御用マイクロプロセッサ
などに用いるプリント基板の検査装置用治具に関する。
(従来の技術) 一般に多種類のプリント基板に電子部品を組付け、これ
をマイクロプロセッサとして完成し、各仕様に適合した
自動車エンジンの制御などのコントローラとして使用す
る場合が多い。このようなものの生産上の検査におい
て、完成したものではカバーなどのため、内部回路(イ
ンサーキット)を検査できないことが多く、そのため、
プリント基板を裸のまま、即ち、各電子部品を取付ける
前段階の各種回路部分のある基板のままで、その良否を
検査することが生産ライン上でしばしば行なわれる。
このようなプリント基板の中間検査を行なう場合、各プ
リント基板に専用の検査治具を用意し、検査のつど、こ
の検査治具を使うようにしていた。
又、各プリント基板専用の検査治具を用いる代りに、汎
用性のあるものとして、第3図および第4図に示すもの
を使用していた。いま、この汎用性のあるものについて
詳しく説明する。
即ち、台1の上に多数のコンタクトプローブ2を突出さ
せてなる導通プレート3を台1に対して上下動自在(矢
印Z)に取付けてある。コンタクトプローブ2はクッシ
ョン用ばねを有し、接触圧を加減できるようにしてあ
る。台1の前後には、L形部材4,4を相対して固定して
あり、このL形部材4,4に検査されるべきプリント基板
(P/B)5を載置する。プリント基板5の奥行両側に穴
6があり、導通プレート3を上げたとき、これに植設さ
れた基準ピン7が穴6に入り、プレート3に対し基板5
を位置決めできるようにしてある。押え枠8は奥行部分
が台1に蝶番9にて回転自在(矢印R)に取付けられ
る。押さえ枠8はプリント基板5を台1上に押さえつけ
うるように、押棒10とこれを支持する支持棒11とを有す
る。押棒10は支持棒11上で左右(X方向)に移動調節可
能で、また支持棒11は枠材12上で前後(Y方向)に移動
調節可能であり、各プリント基板5の種類に合わせてこ
れらを調節し基板5上の適当な位置、回路などのない平
面部分を押さえるようにする。押さえ枠8はプリント基
板5を押さえたあと第4図のように、ロック13aでロッ
クし固定される。レバー13はこれを矢印S方向に操作す
ることにより導通プレート3を上下動させるようにリン
ク結合されてある。プリント基板5は多種類あるとき
は、これに見合う検査用の導通プレート3にビス14の脱
着にて取換える。そして検査部は図示のようにハーネス
により外部に連結されたものを使用する。
従来は、以上のような検査装置で各種のプリント基板に
ついてその中間検査を行なうようにしていた。
(考案が解決しようとする課題) しかしながら、従来のものは、プリント基板専用のもの
では個々に用意する必要があるため、価格が上昇し、
又、汎用性のあるものでは、押さえ枠の調節に時間を要
し段取替のための工数がかかり、結局は検査のための費
用価格が上昇するという問題点があった。
この考案は、段取替え及び作業工数を低減できる汎用性
のあるプリント基板の検査装置を提供することによって
前記問題点を解決することを目的としている。
〔考案の構成〕
(課題を解決するための手段) この考案は、前記目的を達成するため、多数のコンタク
トプローブを突出させた導通プレートを台に対して上下
動自在に装着し、前記導通プレートを台上に設置した被
検査板であるプリント基板に当てて該基板上の各種回路
部分の検査を行なうようにしたプリント基板の検査装置
に使用する治具において、台上にプリント基板を設置面
内の一方向からスライドさせる断面コ字形のガイドを相
対して設けると共に導通プレートに前記プリント基板の
前記スライド方向の大半の位置を決めるストッパピン
と、このストッパピンより短く形成され前記プリント基
板の正確な位置を決める基準ピンを設けたものである。
(作用) ガイドにプリント基板の前後縁を例えば水平横方向から
はめこみ、スライドさせる。左右方向は例えば導通プレ
ートの植設ストッパにより位置決めし、またガイド内の
前後方向は同じくプレート上の植設基準ピンにプリント
基板の穴をはめこんで位置決めする。導通プレートを上
げてそのコンタクトプローブをプリント基板の回路部分
に接触させたとき、ガイドによりプリント基板の上方向
への移動が押さえられる。これにより従来の汎用性形式
の押棒の調節などの段取替の工数を一切不要とするの
で、検査のための段取替え及び作業工数を低減できる。
(実施例) 以下、この考案の一実施例を第1図及び第2図により説
明する。なお、従来と同一のものは同一符号を付し説明
を省略する。
まず、構成を説明する。台1上には前後にコ型断面のガ
イド16,16がプリント基板5の奥行B寸法にほぼあう間
隔で、かつ向かいあうように固定されている。導通プレ
ート3には従来同様基準ピン7が2個植設されているほ
か、左側に間隔を置いて、ストッパピン17,17が植設さ
れている。
次に前記実施例の作用を説明する。プリント基板5をそ
の前後縁をガイド16にはめこみ、矢印X方向に滑らせる
と、プリント基板5の上下方向の位置が決まる。そして
ストッパピン17に当るまで滑らせる。これにより左右
(X方向)の位置が決まる。次に、ガイド16の溝内で前
後(Y方向)に微小量ずらせ、基準ピン7に穴6を合わ
せる。レバー13を矢印S方向にて上げ、導通プレート3
をその取付台18と共に上げ(Z方向)、プレート3をプ
リント基板5に当てる。即ち、コンタクトプローブ2を
基板5上の所定の回路部分に接触させるわけである。
プリント基板5が異なる場合は、そのインサーキット回
路にみあう回路検査用の導通プレート3をビス14により
取替える。その場合、両ガイド16,16はそのままでよい
ので、段取替え、及びその作業工数が格段と低減され
る。なお、プリント基板5の奥行B寸法が多少異なって
も、ガイド16,16の溝に余裕をもってはいり、これをス
ライドできるようにし、正確な奥行(Y方向)の位置決
めは基準ピン7と穴6とによって行なうようにする。こ
れにより、各種プリント基板を同一治具で検査できる汎
用性のあるものとなる。
〔考案の効果〕
以上説明したように、この考案によれば、多種のプリン
ト基板を検査するものとして、極めて汎用性があり、か
つ、段取替の為の工数を低減することができるという効
果を生ずる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの考案の一実施例を示す全体的斜視図、第2
図は第1図のII-II線による断面図、第3図は従来のも
のを示す全体的斜視図、第4図は第3図のIV-IV線によ
る断面図である。 1:台 2:コンタクトプローブ 3:導通プレート 4:L形部材 5:プリント基板 6:穴 7:基準ピン 8:押さえ枠 9:蝶番 10:押棒 11:支持棒 12:枠材 13:レバー 14:ビス 16:ガイド 17:ストッパピン 18:取付台

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】多数のコンタクトプローブを突出させた導
    通プレートを台に対して上下動自在に装着し、前記導通
    プレートを台上に設置した被検査板であるプリント基板
    に当てて該基板上の各種回路部分の検査を行なうように
    したプリント基板の検査装置に使用する治具において、
    台上にプリント基板を設置面内の一方向からスライドさ
    せる断面コ字形のガイドを相対して設けると共に導通プ
    レートに前記プリント基板の前記スライド方向の大半の
    位置を決めるストッパピンと、このストッパピンより短
    く形成され前記プリント基板の正確な位置を決める基準
    ピンを設けたことを特徴とするプリント基板の検査装置
    用治具。
JP1990043406U 1990-04-25 1990-04-25 プリント基板の検査装置用治具 Expired - Lifetime JPH0745018Y2 (ja)

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JPH043364U JPH043364U (ja) 1992-01-13
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS59195578U (ja) * 1983-06-11 1984-12-26 パイオニア株式会社 プリント基板試験装置
JPS6197773U (ja) * 1984-11-30 1986-06-23

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JPH043364U (ja) 1992-01-13

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