JPH0738645A

JPH0738645A - アナログ電話信号測定装置

Info

Publication number: JPH0738645A
Application number: JP6174667A
Authority: JP
Inventors: Breda Lodewijk M Van; ブレダロデウイックマリアバン
Original assignee: Koninklijke PTT Nederland NV
Current assignee: Koninklijke PTT Nederland NV
Priority date: 1993-06-23
Filing date: 1994-06-23
Publication date: 1995-02-07
Also published as: AU6478794A; EP0632633A1; AU674221B2; NL9301094A; US5561700A

Abstract

(57)【要約】（修正有）【目的】リアルタイムでアナログ電話トラヒックを分
析する装置を提供する。【構成】装置は種々の状態となることができ、各状態
において特性についてテストできるプロセッサを備え
る。第１状態４０はストレス状態、第２状態４１は呼出
し状態、第３状態４２はダイヤル状態、第４状態４３は
トーク状態にそれぞれ相当する。第１状態から呼出し信
号５０の検出に応答して第２状態に飛び越し、そこで受
話者オフ・フック信号５２の検出に応答して第４状態に
飛び越す一方、呼出し信号５１に応答してシステムは第
２状態に留まる。第１状態から話し中信号５３の検出に
応答して第３状態に飛び越し、そこからビル・パルス信
号５５の検出に応答して第４状態に飛び越す一方、ダイ
ヤルパルス信号５４に応答して、システムは第３状態に
留まる。第２状態からシステムは不在呼出し信号５８に
応答して、第１状態に戻り、第３及び第４状態からそれ
ぞれ受話者オフ・フック信号５７，５６の検出に応答し
て第１状態に戻る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、加入者線路にリンクで
き、加入者線路に存在するアナログ電圧をディジタルサ
ンプルに変換するコンバータと、コンバータにリンクさ
れ、多数のディジタルサンプルを記憶するメモリと、メ
モリにリンクされるプロセッサとを備える、アナログ電
話信号を測定する装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】この形式の装置はＥＰ０２０００３８Ｂ
１に開示されている。ここに記載される装置は、コンバ
ータによってアナログ電圧を、メモリに記憶されること
になるディジタルサンプルに変換することによって、デ
ィジタル電話システムの線路に存在するアナログ信号を
測定する。プロセッサは、各新サンプルについて、これ
がもっとも大きい以前に記憶されたサンプルよりも大き
いかどうかチェックし、この場合、以前に記憶されたサ
ンプルは新しい大きいサンプルと交換され、または、こ
れがもっとも小さい以前に記憶されたサンプルよりも小
さいかどうかチェックし、この場合、以前に記憶された
サンプルは新しい小さいサンプルと交換される。従っ
て、一定時間間隔後、最大と最小が得られ、これらは、
特定の時間間隔中に得られるすべてのサンプルの実際の
最大と最小であり、そこから、数式にもとづき、新しい
値が引き出される。この周知の装置は、原則として、障
害を見つけるように構成されていること、および原則と
してアナログ電話トラヒックのリアルタイム測定に適し
ないという欠点がある。特定の時間間隔中実際の最大・
最小の決定が、（呼出パルス、ダイヤルパルス、かなり
の許容差のあるビルパルス、一般に、一見して同じにみ
えるが異なる前および（または）後の記録を有するパル
スを含み）きわめて複雑なアナログ電話トラヒックを分
析・解釈するには完全に不適当である。

【０００３】

【発明の目的】本発明の目的の１つは、リアルタイムで
アナログ電話トラヒックを分析・解釈できる、前記形式
の装置を提供することを目的としている。

【０００４】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明による装置は、プロセッサが、各状態におい
て、少なくとも１つのマスク条件を発生する状態と、多
数の記憶ディジタルサンプルの少なくとも一部がこのマ
スク条件を満足するかどうかチェックする状態との、少
なくとも２つの状態になりうるように構成されることを
特徴とする。

【０００５】プロセッサが少なくとも２つの状態になり
うる結果、互いに同じにみえ、各々異なる以前および
（または）以後の記録を有する２つのパルスを別に解釈
でき、以前および以後の記録によりプロセッサがどんな
状態であるかを決定する。各状態において、少なくとも
１つのマスク条件の発生と、記憶されたディジタルサン
プル数の少なくとも一部がこのマスク条件を満足するか
どうかのチェックとにより、ディジタルサンプルのテス
トに影響するある限度内の許容差の可能性なしで、ある
性質のディジタルサンプルの部分をテストするオプショ
ンを与える。どこかに唯一独特な許容差または許容差の
独特な組合わせを有するディジタルサンプルの各部分に
対する別のマスクの発生により、リアルタイム分析と解
釈が不可能になる。本発明への識見を表す上記のことに
よって、前述の問題は都合よく解決される。

【０００６】本発明はもう１つの識見にもとづいてお
り、すなわち、ディジタルサンプルはシフトレジスタの
長さを掛けたクロックパルスのサイクルに等しいほとん
どの時間に得られるので、たとえば、シフトレジスタに
記憶されるディジタルサンプルのリアルタイム分析と解
釈が早急に行うこと、および、以前および（または）以
後の記録は、プロセスにおいて、シフトレジスタに記憶
されるディジタルサンプルから引き出されることはない
が、プロセッサの有する状態はディジタルサンプルの分
析と解釈に含まれることである。

【０００７】シフトレジスタの長さのかなりの増大また
は、一定時間中におけるかなり多数のディジタルサンプ
ルの一定位置記憶は問題の解決に寄与するが、これは、
同時に、所要プロセッサ容量の不適格的増大となりま
た、所要メモリを不利益的に大きくすることになる。さ
らにまた、この場合、リアルタイム分析と解釈が交信で
きなくる。

【０００８】本発明による装置の第１実施例は、プロセ
ッサが、第１形式のマスク条件の場合、一方の意味で比
較結果に応答してプロセッサの有する状態を変え、他の
意味で比較結果に応答してプロセッサの有する同じ状態
を維持し、そして第２形式のマスク条件の場合、一方の
意味で比較結果に応答してプロセッサの有する同じ状態
を維持するように構成されることを特徴とする。

【０００９】一定の意味での比較結果があるマスク条件
を満足する記憶されたディジタルサンプル数の一部に相
当し、さらに、他方の意味での比較結果があるマスク条
件を満足しない記憶されたディジタルサンプルの一部に
相当すれば、プロセッサは、他方の意味での比較結果の
場合（すなわち、マスク条件が満足されなければ）、一
般に同じ状態に留まり；一方の意味での比較結果の場合
（すなわち、マスク条件が満足されれば）、プロセッサ
は、マスク条件の形式により、同じ状態または変化状態
に留まる。

【００１０】明らかに、プロセッサは、一方の意味での
比較結果と他方の意味での比較結果の２つの場合に、比
較結果に左右される値を補助変数に割り当てる。たとえ
ば、第３分析／解釈後に第３ダイヤルパルスが自記さ
れ、２つの以前および（または）解釈後に第１と第２の
ダイヤルパルスが自記されれば、全部のダイヤルパルス
は加入者がダイヤルする数の判定基準であるため更新し
ておかねばならないから、第３分析後、値３を補助変数
に割り当てる必要がある。

【００１１】本発明による装置の第３実施例は、プロセ
ッサが、前後に記憶されたディジタルサンプル間の変化
を検出し、また検出変化に応答して変化信号を発生する
ように構成されることを特徴とする。

【００１２】これは、プロセッサは変化信号に応答して
検出された変化後のみにマスク条件の発生を開始する結
果、プロセッサ容量のさらに能率的用法となるので、記
憶されたディジタルサンプル数の１部が１つ以上のマス
ク条件を満足するかどうかのチェックは連続的（不要
に）とはならない。

【００１３】変化の検出は、たとえば、記憶されたディ
ジタルサンプル数内にある２つの連続ディジタルサンプ
ルの相互比較によって、行われる。また、２つの大きい
組のディジタルサンプルを相互に比較できることも明ら
かである。

【００１４】本発明による装置の第３実施例は、プロセ
ッサが、時間間隔信号を開始し、時間間隔信号により越
えた時間域に応答して行き過ぎ量信号を発生するように
構成されることを特徴とする。

【００１５】時間間隔信号が時間域をこえた後行き過ぎ
量信号に応答して、プロセッサをリセット状態またはレ
スト状態に復帰させると、無関係のサンプルの分析に際
し特定の状態でプロセッサが不必要に長時間を費やさな
いようにし、現れる信号の異常を検出できる。

【００１６】“時間間隔”、“行き過ぎ量信号”および
“域信号”なる語は、この文脈では、できるかぎり広い
意味に理解すべきである。その実行は、ソフトウエアに
より完全に、ハードウエアにより完全に、またはそれら
混合により行われる。また、上向き計数で、限界の行き
過ぎを検出できる一方、下向き計数により、０値の到達
が検出できる。

【００１７】本発明による装置の第４実施例は、マスク
条件が記憶ディジタルサンプル数内の周期性に関係する
ことを特徴とする。

【００１８】記憶ディジタルサンプルの一部の周期性を
チェックすることによって、これらディジタルサンプル
が、たとえば、呼出し信号から始まるのかどうか見出す
ことができる。

【００１９】本発明による第５実施例は、マスク条件が
多数の記憶ディジタルサンプルに関係することを特徴と
する。

【００２０】記憶ディジタルサンプルについて、ここで
特定数が関係があるかどうかをチェックすることによっ
て、これらディジタルサンプルが、たとえば、受話器オ
フ・フック信号または話し中信号から始まるのかどうか
を見出すことができる。

【００２１】本発明による装置の第６実施例は、マスク
条件が記憶ディジタルサンプル数内に位置する少数の記
憶ディジタルサンプルの長さに関係することを特徴とす
る。

【００２２】記憶ディジタルサンプルの一部内に位置す
る少数の記憶ディジタルサンプルの長さをチェックする
ことにより、これらディジタルサンプルがダイヤルパル
ス信号から始まるかどうかを見出すことができる。

【００２３】なお、本発明による装置は電話信号を測定
するように構成されているが、たとえば、テレックスや
ヒデオ信号の測定にも適していることは明らかである。
ここで“電話信号”なる語は結果的に、できるだけ広い
意味で解釈され、従って、一般に、本発明による装置に
よって分析・解釈されるデータを含む信号に係る。

【００２４】引用例ＥＰ０２０００３８Ｂ１オランダ出願番号９３０１０９４（優先権書類）すべて
引用例はこの出願に組み入れられる。

【００２５】

【実施例】本発明について、図面に示す特定の実施例を
参照して詳細に説明する。本発明による装置におけるプ
ロセッサの作動モードの（図１に示す）流れ図におい
て、囲みわくの意味はつぎのとおりである。囲みわく意味１検出変化が検出されたか。はい：４へ進むいいえ：２へ進む２過ぎた時間のことか。はい：４へ進むいいえ：３へ進む３分析してない（まだ）。１へ戻る４分析している。５プロセッサは第１状態か。はい：６へ進むいいえ：１５へ進む６第１マスク条件発生７多数のサンプルは第１マスク条件を満たしているか。はい：８へ進むいいえ：１１へ進む８第２状態へ移転。９信号の終り待ち。１０開始時間モニタ。１へ戻る

【００２６】１１第２マスク条件発生。１２多数のサンプルは第２マスク条件を満たしているか。はい：１３へ進むいいえ：１４へ進む１３第３状態へ移転。１へ戻る１４第１状態のまま。１へ戻る１５プロセッサは第２状態か。はい：１６へ進むいいえ：２４へ進む１６第３マスク条件発生。１７多数のサンプルは第３マスク条件を満たしているか。はい：１８へ進むいいえ：２１へ進む１８第２状態のまま。１９信号の終り待ち。２０リセットタイム・モニタ１へ戻る

【００２７】２１第４マスク条件発生。２２停止時間モニタ２３第４状態へ移転。１へ戻る２４プロセッサは第３状態か。はい：２５へ進むいいえ：３２へ進む（図１に示されない）２５第５マスク条件発生。２６多数のサンプルは第５マスク条件を満たしているか。はい：２７へ進むいいえ：２９へ進む２７第３状態のまま。２８信号の終り待ち。１へ戻る２９第６マスク条件発生。３０第４状態へ移転。３１信号の終り待ち。１へ戻る

【００２８】プロセッサは、図１に示す流れ図に従って
つぎのように働く。たとえば、サンプルの差を定めるこ
とによって、前後記憶されたサンプル間に変化が生じた
かどうかの通常のチェックを行った（囲いわく１、以下
同じ）、変化が生ずれば、分析を行う（４）、変化が
（未だ）生じなければ、たとえば、時間モニタのため開
始した時間信号にたいし、一定限度をこえたかどうかを
チェックすることによって、越えた時間の問題かどうか
のチェックが行われる（２）、そうでなければ、まだ分
析は行わない（３）、事実そうであれば、分析を行う
（４）。

【００２９】分析の目的で、まず、プロセッサは第１状
態（いわゆるレスト状態）かどうかチェックが行われる
（５）、これは、たとえば、プロセッサメモリ内の状態
パラメーターを調べることにより行われる。プロセッサ
が第１状態であれば、第１マスク条件が発生する
（６）、これについては以下で詳述する。プロセッサ
は、一定数のサンプルが第１マスク条件を満たしている
かどうかをチェックする（７）。満たしていれば、プロ
セッサは、たとえば、状態パラメーターの値を増大する
ことにより、第２状態へ飛び越す（８）。プロセッサは
さらに分析される信号の終りを待つ（９）、そして時間
モニタが開始される（１０）ことにより、前後に記憶さ
れたサンプル間の変化についてチェックが再び行われる
（１）。一定数のサンプルが第１マスク条件を満たさな
ければ、第２マスク条件が発生する（１）。これについ
ては以下で詳述する。プロセッサは、一定数のサンプル
がこの第２マスク条件を満たしたかどうかチェックする
（１２）。満たしていれば、プロセッサは、状態パラメ
ーターの値をさらに増大することにより、第３状態へ飛
び越える（１３）。その後、前後に記憶されたサンプル
間の変化についてチェックがが行われる（１）。一定数
のサンプルが第２マスク条件を満たしていなければ、プ
ロセッサは第１状態に留まり、その上で、前後に記憶さ
れた変化についてチェツクが行われる（１）。

【００３０】プロセッサが第１状態でなければ、プロセ
ッサが第２状態かどうかのチェックが行われる（１
５）。これは、たとえば、プロセッサメモリ内の状態パ
ラメーターの値を調べることにより行われる。プロセッ
サが第２状態であれば、第３マスク状態が発生する（１
６）。これについては以下で詳述する。プロセッサは、
一定数のサンプルがこの第３マスク条件を満たしている
かどうかをチェックする（１７）。満たしていれば、プ
ロセッサは第２状態に留まる（１８）。プロセッサはさ
らに分析される信号の終りを待ち（１９）、時間モニタ
がリセットされてから（２０）、前後に記憶されたサン
プル間の変化についてのチェックが行われる（１）。一
定数のサンプルが第３マスク条件を満たしていなけれ
ば、第４マスク条件が発生する（２１）。これについて
は以下で詳述する。さらに、プロセッサは時間モニタを
停止し（２２）、プロセッサは、たとえば、状態パラメ
ーターの値をさらに増大することによって第４状態へ飛
び越す。その後、前後に記憶されたサンプル間の変化に
ついてのチェックが行われる（１）。

【００３１】プロセッサが第２状態（１５）になけれ
ば、プロセッサが第３状態かどうかチェックが行われる
（２４）。これは、たとえば、プロセッサメモリ内の状
態パラメーターの値を調べることによって行われる。プ
ロセッサが第３状態であれば、第５マスク条件が発生す
る（２５）。これについては以下で詳述する。プロセッ
サは一定数のサンプルがこの第５マスク条件を満たして
いるかどうかをチェックする（２６）。満たしていれ
ば、プロセッサは第３状態に留まる（２７）。プロセッ
サはさらに、分析される信号の終りを待ってから（２
８）、前後に記憶されるサンプル間の変化についてチェ
ックが行われる（１）。一定数のサンプルが第５マスク
条件を満たしていなければ、第６マスク条件が発生す
る。これについては以下で詳述する。さらに、プロセッ
サは、たとえば、状態パラメーターの値をさらに増大す
ることにより、第４状態へ飛び越す（３０）。その後、
プロセッサは分析される信号の終りを待ち（３１）、そ
の後、前後に記憶されたサンプル間の変化についてチェ
ックが行われる（１）。

【００３２】本発明による装置におけるプロセッサの
（図２に示す）状態線図において、第１状態４０はトレ
ス状態に相当し、第２状態４１は呼出し状態に相当し、
第３状態４３はダイヤル状態に相当し、第４状態４３は
トーク状態に相当する。第１状態４０から、呼出し信号
５０の検出に応答して、第２状態４１に飛び越す。第２
状態４１から、受話者オフ・フック信号５２の検出に応
答して第４状態４３に飛び越す一方、呼出し信号５１に
応答してシステムは第２状態４１に留まる。第１状態４
０から、話し中信号５３の検出に応答して、第３状態４
２に飛び越す。第３状態４２から、ビル・パルス信号５
５の検出に応答して、第４状態４３に飛び越す一方、ダ
イヤルパルス信号５４に応答してシステムは第３状態４
２に留まる。第２状態４１からシステムは、不在呼出し
信号５８に応答して、第１状態４０に戻り、第３状態４
２と第４状態４３からシステムは、夫々受話者オフ・フ
ック信号５７，５６の検出に応答して第１状態４０に戻
る。

【００３３】図３はメモリに記憶される多数のディジタ
ルサンプルを示す。図３ａは２４のサンプルを備えるメ
モリ７０の断面を示し、その内１２のサンプルが示さ
れ、初めの８つのサンプルは例えばＡ型バイトで、残り
の４つのサンプルは例えばＢ型バイトである（通常の条
件では、この形式のメモリは約４０バイトを含み，各々
約５ｍｓｅｃの持続時間を有するので合計約２００ｍｓ
ｅｃとなる）。この場合、１サンプルは１バイトに相当
するが、１サンプルが１バイトの一部に相当することも
できる。各バイトは８ビットに相当し、３ビットは直流
電圧値を示す一方、５ビットは特定トーンに相当する。
８ビットから成るこのようなバイトは、当業者にとって
周知の方法で、（第１基準レベルと比較する）ａワイヤ
にリンクされる第１コンパレータを介し、（第２基準レ
ベルと比較する）ｂワイヤにリンクされる第２コンパレ
ータを介し、両ワイヤにリンクされる第３コンパレータ
を介し、所謂ＴＤＫ認識チップを介し、さらに１つのプ
ログラムマブルロジック（プログラムマブル・アレイ・
ロジク・ＰＡＬ）にすべてリンクされる所謂１２／１６
ｋＨｚビルパルス認識チップを介して、電話信号から引
き出される。このロジックは、コンパレータ、ＴＤＫ認
識チップおよび１２／１６チップから発する信号に応答
して、８ビットから成りその後サンプルされる出力信号
を発生する。シリアルバイトのこのサンプル化出力信号
は（例えば、シフトレジスタ等）メモリ７０に記憶され
る。サンプルの解釈はプロセッサがある状態や、特に次
のような、それらが試験される相対瞬間に左右される。

【００３４】第１状態（レスト状態）のとき、第１マス
ク条件が満たされなければ、プロセッサは第２マスク条
件（図２の１１）を発生する。この第２マスク条件の簡
単化変形は例えばつぎのとおりである。Ｉ第１バイトは形式Ａか。いいえ：Ｉへ進むはい：ＩＩへ進む。ＩＩつぎのバイトは形式Ｂか。いいえ：ＩＩへ進む。はい：第２状態へ進む。

【００３５】プロセッサが、図３ａに示す記憶内容を有
する第２マスク条件を発生すれば、Ａ型である第１バイ
ト（Ａ）がなるべく早く設定される。この目的のため、
たとえば、Ａ型のバイトを発生しこれを、たとえば、ア
グリーメントの場合、値０の差を決めることにより、記
憶バイトと比較する。つぎにＢ型でないつぎの７つのバ
イトが設定される（この目的のため、プロセッサは、こ
れをたとえば、Ｂ型バイトを発生し、たとえば非アグリ
ーメントの場合、値０でない差を決めることにより記憶
バイトと比較する）。一方、第９バイト（Ｂ）について
実際にＢ型が設定される。それに応じて、プロセッサは
第２状態（呼出し状態、図２の囲いわく８）に移転す
る。

【００３６】図３ｂは１２のバイトからなるメモリ７０
区分を示し、はじめの３つのＣ型バイト、つぎの５つと
Ｄ型バイト、つぎに３つのＣ型バイト、および１つのＤ
型バイトである。

【００３７】第１状態（レスト状態）または第２状態
（呼出し状態）のとき、プロセッサは第１（図２の６）
または第３マスク条件（図２の１６）を発生する。これ
らは互いに等しく、簡単化変形は、たとえば、つぎの通
りである。

【００３８】ＩＩＩ第１バイトはＣ型か。いいえ：Ｖへ進む。はい：増補計数状態でＩＶへ進む。ＩＶつぎのバイトはＣ型か。はい：増補計数状態でＩＶへ進む。いいえ：Ｖへ進む。ＶつぎのバイトはＤ型か。はい：増補計数状態でＶへ進む。いいえ：ＩＶへ進む。ＶＩ計数状態は値８か。はい：第３状態へ進む。いいえ：計数状態は値０となり、ＩＩＩへ進む。

【００３９】プロセッサが図３ｂに示す記憶内容を有す
る第１または第３マスク条件を発生すれば、なるべく早
くＣ型である第１バイト（Ｃ）が設定される。この目的
のため、プロセッサは、たとえば、Ｃ型とＤ型の両バイ
トを発生し、これら両バイトを、たとえば、アグリーメ
ントの場合値０であり、非アグリーメントの場合値０で
ない差を決めることにより、記憶バイトと比較する。つ
ぎに、同じくＣ型であるつぎの２つのバイトＣが設定さ
れ、Ｄ型であるつぎの５つのバイトが設定され、一方第
９バイト（Ｃ）については、再びＣ型が設定される。Ｃ
型とＤ型の合計８つのバイトがみられると、つぎにプロ
セッサは第１状態から第２状態（図２の囲いわく８の呼
出し状態）へ移転し、またはプロセッサは第２状態（図
２の囲いわく１８）に留まる。この理由は、呼出し信号
（２５Ｈｚ）は、Ｃ型とＤ型の８つのバイトに相当する
周期４０ｍｓｅｃを有し、３つのＣと５つのＤの分配ま
たは４つのＣと４つのＤの分配では、呼出し信号がある
と決定されるからである。

【００４０】図３ｃは２４のバイト、Ｅ型のはじめの６
つのバイト、Ｆ型のつぎの８つのバイト、およびつぎに
Ｅ型の１０のバイトからなるメモリ７０を示す。第３状
態（ダイヤル状態）のとき、プロセッサは第５マスク条
件を発生する。簡単化変形はたとえばつぎの通りであ
る。

【００４１】ＶＩＩ第１バイトはＥ型であるか。はい：増補Ｅ計数状態でＶＩＩＩに進む。いいえ：ＶＩＩへ進む。ＶＩＩＩつぎのバイトはＥ型か。はい：増補Ｅ計数状態でＶＩＩＩに進む。いいえ：ＩＸへ進む。ＩＸつぎのバイトはＦ型か。はい：増補Ｆ計数状態でＩＸへ進む。いいえ：Ｘへ進む。Ｘ７≦Ｆ計数状態は≦９か。はい：増補ダイヤルパルス計数状態でＶＩＩへ進む。いいえ：ＸＩへ進む。ＸＩＥ計数状態は≧２０か。はい：ダイヤルパルス計数を数字として記憶し、すべ
ての計数状態は値０となり、ＶＩＩへ進む。いいえ：ＥとＦの計数状態のみが値０となり、ＶＩＩへ
進む。

【００４２】プロセッサが図３ｃに示す記憶内容を有す
る第５マスク条件を発生すれば、なるべく早くＥ型の第
１バイト（Ｅ）が設定される。この目的のため、プロセ
ッサは、たとえば、Ｅ型とＦ型の両バイトを発生し、こ
れら両バイトを、たとえばアグリーメントの場合値０
で、非アグリーメントの場合値０でない差を決めること
により、記憶バイトと比較する。つぎに、同様にＥ型で
あるつぎの５つのバイト（Ｅ）が設定されて、Ｆ型であ
るつぎの８つのバイトが設定され、第１５バイト（Ｅ）
について、再び、Ｅ型等が設定される。合計で７つ、８
つまたは９つのＦ型バイトが設定されていると、ダイヤ
ルパルス計数状態は、ダイヤルパルスの持続時間は少な
くとも３５ｍｓｅｃとせいぜい４５ｍｓｅｃであるか
ら、増補される。ついで、加入者がダイヤルした数字を
表す、ダイヤルパルスの全数が設定される。同じシリー
スのダイヤルパルスに属する２つのダイヤルパルス間の
最大持続時間は約１００ｍｓｅｃであるから、２０以上
のＥ型バイトの場合、ダイヤルパルス・シリースは終了
したものと推定される。

【００４３】第２状態（呼出し状態）のとき、プロセッ
サは、たとえば第２マスク条件にほぼ相当する第４マス
ク条件（図２の２１）を発生してから、プロセッサは第
４状態（トーク状態、図２の２３）へ自動的に移転す
る。

【００４４】第３状態のとき（ダイヤル状態）、プロセ
ッサは、たとえば２倍高い周波数、従って２倍短い周期
時間は別として、第１と第３マスク条件に相当する第６
マスク条件（図２の２９）を発生してから、プロセッサ
は第４状態（トーク状態、図２の３０）へ自動的に移転
する。

【００４５】第１、第３、第６マスク条件は多数の記憶
サンプル内の周期性に関係する一方、第５マスク条件に
より多数の記憶サンプル内にある少数の記憶サンプルの
長さに関係する。第２と第４マスク条件は多数の記憶サ
ンプル内の移転のみに関係する。しかし、実際には、妨
害パルスに関して、各移転に反応できるが、それに代
え、最少数のサンプルのみから成る移転に反応できるに
すぎない。この場合、最後に述べた２つのマスク条件が
多数の記憶サンプルの長さに関係する。

【００４６】最後に、なお、実際にはプロセッサはほと
んど待たないのは明らかであるが（図１の９、１９、２
８、３１に示される）、待つ代わりに、他のこと、例え
ば、他の線路の分析が続くことがよくある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による装置におけるプロセッサの作動態
様の流れ線図を示す。

【図２】本発明の装置にプロセッサの状態線図を示す。

【図３】メモリに記憶される多数のディジタルサンプル
を示し、そのサンプルについて、本発明による装置にお
けるプロセッサは、これらサンプルがマスク条件を満た
しているかどうかチェックする。

【符号の説明】

４０第１状態４１第２状態４２第３状態４３第４状態５０，５１呼出し信号５２受話者オフ・フック信号５３話し中信号５４ダイヤルパルス信号５５ビル・パルス信号５６，５７受話者オフ・フック信号７０メモリ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】加入者線路にリンクでき、加入者線路に
存在するアナログ電圧をディジタルサンプルに変換する
コンバータと、コンバータにリンクされ、多数のディジ
タルサンプルを記憶するメモリと、メモリにリンクされ
るプロセッサとを備えるアナログ電話信号測定装置にお
いて、プロセッサは、各状態において、少なくとも１つ
のマスク条件を発生する状態と、多数の記憶ディジタル
サンプルの少なくとも一部がこのマスク条件を満足する
かどうかチェックする状態との、少なくとも２つの状態
になりうるように構成されることを特徴とするアナログ
電話信号測定装置。
【請求項２】プロセッサが、第１形式のマスク条件の
場合、一方の意味で比較結果に応答してプロセッサの有
する状態を変え、他の意味で比較結果に応答してプロセ
ッサの有する同じ状態を維持し、そして第２の形式のマ
スク条件の場合、一方の意味で比較結果に応答してプロ
セッサの有する同じ状態を維持するように構成される請
求項第１項記載の装置。
【請求項３】プロセッサが、前および後に記憶された
ディジタルサンプル間の変化を検出し、検出変化に応答
して変化信号を発生するように構成される、請求項第２
項記載の装置。
【請求項４】プロセッサが、時間間隔信号を開始し、
時間間隔信号により越えた時間域に応答して行き過ぎ量
信号を発生するように構成される請求項第１項または第
２項記載の装置。
【請求項５】マスク条件が記憶ディジタルサンプル数
内の周期性に関係する請求項第３項または第４項記載の
装置。
【請求項６】マスク条件は多数の記憶ディジタルサン
プルに関係する請求項第３項または第４項記載の装置。
【請求項７】マスク条件が、記憶ディジタルサンプル
数内に位置する少数の記憶ディジタルサンプルの長さに
関係する請求項第３項または第４項記載の装置。