JPH0737748A - 積層セラミック電子部品の製造方法及びセラミックグリーンシート供給体 - Google Patents
積層セラミック電子部品の製造方法及びセラミックグリーンシート供給体Info
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- JPH0737748A JPH0737748A JP5179147A JP17914793A JPH0737748A JP H0737748 A JPH0737748 A JP H0737748A JP 5179147 A JP5179147 A JP 5179147A JP 17914793 A JP17914793 A JP 17914793A JP H0737748 A JPH0737748 A JP H0737748A
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Landscapes
- Ceramic Capacitors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 積層セラミック電子部品において、金属膜と
セラミック層との間のデラミネーションの発生を抑制
し、また金属膜の成分がセラミック層へ拡散することに
よる特性劣化を抑制する。 【構成】 支持フィルム1上に異なる金属からなる複数
の金属層2,3,4を積層させた金属膜5を形成し、こ
の金属膜を内部電極または配線回路として用いるような
積層セラミック電子部品を製造する。
セラミック層との間のデラミネーションの発生を抑制
し、また金属膜の成分がセラミック層へ拡散することに
よる特性劣化を抑制する。 【構成】 支持フィルム1上に異なる金属からなる複数
の金属層2,3,4を積層させた金属膜5を形成し、こ
の金属膜を内部電極または配線回路として用いるような
積層セラミック電子部品を製造する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、積層セラミックコンデ
ンサ、多層セラミック基板、積層バリスタ、積層圧電素
子等の積層セラミック電子部品を製造する方法に関する
ものである。
ンサ、多層セラミック基板、積層バリスタ、積層圧電素
子等の積層セラミック電子部品を製造する方法に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】近年、積層セラミック電子部品の分野に
おいても、回路部品の高密度化に伴い、小型化及び高性
能化が要望されている。
おいても、回路部品の高密度化に伴い、小型化及び高性
能化が要望されている。
【0003】積層セラミックコンデンサは、従来より、
内部電極となる金属膜を有したセラミックグリーンシー
トを複数枚積層し、これを熱圧着した後焼成することに
より製造されている。従来の製造方法では、まず、有機
フィルム支持体、例えばポリエチレンテレフタレート
(PET)フィルム上にドクターブレード法によりシー
ト状のセラミックグリーンシートを形成し、その上に内
部電極となる金属、例えばパラジウム、銀パラジウム、
Ni等の導電ペーストを所定のパターンにスクリーン印
刷する。次に、導電ペーストで内部電極を形成したセラ
ミックグリーンシートを複数枚積層し、厚み方向にプレ
スすることにより圧着し、これによって得られた積層体
を、個々の積層コンデンサを得るため切断する。次に、
得られた個々の積層体を焼成して焼結体とし、焼結体の
表面の所定の領域に外部電極となる導電ペーストを塗布
焼付けし、積層セラミックコンデンサとしている。
内部電極となる金属膜を有したセラミックグリーンシー
トを複数枚積層し、これを熱圧着した後焼成することに
より製造されている。従来の製造方法では、まず、有機
フィルム支持体、例えばポリエチレンテレフタレート
(PET)フィルム上にドクターブレード法によりシー
ト状のセラミックグリーンシートを形成し、その上に内
部電極となる金属、例えばパラジウム、銀パラジウム、
Ni等の導電ペーストを所定のパターンにスクリーン印
刷する。次に、導電ペーストで内部電極を形成したセラ
ミックグリーンシートを複数枚積層し、厚み方向にプレ
スすることにより圧着し、これによって得られた積層体
を、個々の積層コンデンサを得るため切断する。次に、
得られた個々の積層体を焼成して焼結体とし、焼結体の
表面の所定の領域に外部電極となる導電ペーストを塗布
焼付けし、積層セラミックコンデンサとしている。
【0004】また、特開昭60−83315号公報及び
特開昭64−42809号公報では、セラミックグリー
ンシート上に蒸着などの薄膜形成法により金属薄膜を形
成し、この金属薄膜を内部電極として用いる技術が提案
されている。薄膜形成法により形成した金属薄膜を内部
電極として用いることにより、セラミック層の薄膜化が
可能となり、信頼性の高い積層セラミックコンデンサを
得ることが可能となる。
特開昭64−42809号公報では、セラミックグリー
ンシート上に蒸着などの薄膜形成法により金属薄膜を形
成し、この金属薄膜を内部電極として用いる技術が提案
されている。薄膜形成法により形成した金属薄膜を内部
電極として用いることにより、セラミック層の薄膜化が
可能となり、信頼性の高い積層セラミックコンデンサを
得ることが可能となる。
【0005】また、多層セラミック基板においても同様
に、導電ペーストを印刷して配線を形成したセラミック
グリーンシートを積層し焼成して焼結体とし、多層セラ
ミック基板を製造している。また、各セラミック層間の
回路配線を、薄膜形成法によって形成する方法も知られ
ている。
に、導電ペーストを印刷して配線を形成したセラミック
グリーンシートを積層し焼成して焼結体とし、多層セラ
ミック基板を製造している。また、各セラミック層間の
回路配線を、薄膜形成法によって形成する方法も知られ
ている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな積層セラミック電子部品においては、焼結後におい
てセラミック層と金属膜との間でデラミネーションが発
生し易いという問題があった。このため、積層セラミッ
クコンデンサ等においては、内部電極間の短絡や、耐電
圧の低下など信頼性の低下を招くという問題があった。
うな積層セラミック電子部品においては、焼結後におい
てセラミック層と金属膜との間でデラミネーションが発
生し易いという問題があった。このため、積層セラミッ
クコンデンサ等においては、内部電極間の短絡や、耐電
圧の低下など信頼性の低下を招くという問題があった。
【0007】また多層セラミック基板においては、金属
膜中の成分が絶縁セラミック層に拡散し特性劣化を生じ
る場合があった。本発明の目的は、金属膜とセラミック
層とのデラミネーションの発生の抑制や、金属膜中の成
分がセラミック層へ拡散することによる特性劣化の抑制
を実現することのできる積層セラミック電子部品の製造
方法及び該製造方法において用いることのできるセラミ
ックグリーンシート供給体を提供することにある。
膜中の成分が絶縁セラミック層に拡散し特性劣化を生じ
る場合があった。本発明の目的は、金属膜とセラミック
層とのデラミネーションの発生の抑制や、金属膜中の成
分がセラミック層へ拡散することによる特性劣化の抑制
を実現することのできる積層セラミック電子部品の製造
方法及び該製造方法において用いることのできるセラミ
ックグリーンシート供給体を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明に従う製造方法
は、金属膜を有するセラミックグリーンシートを積層
し、焼成することによって積層セラミック電子部品を製
造する方法であり、異なる金属からなる複数の金属層を
積層させた金属膜を支持フィルム上に形成する工程と、
支持フィルム上の金属膜をセラミックグリーンシート上
に転写しセラミックグリーンシートを積層する工程とを
備えることを特徴としている。
は、金属膜を有するセラミックグリーンシートを積層
し、焼成することによって積層セラミック電子部品を製
造する方法であり、異なる金属からなる複数の金属層を
積層させた金属膜を支持フィルム上に形成する工程と、
支持フィルム上の金属膜をセラミックグリーンシート上
に転写しセラミックグリーンシートを積層する工程とを
備えることを特徴としている。
【0009】本発明のセラミックグリーンシート供給体
は、支持フィルムと、支持フィルム上に異なる金属から
なる複数の金属層を積層させて形成した金属膜と、支持
フィルムの金属膜が形成された側に積層されたセラミッ
クグリーンシートとを備えることを特徴としている。
は、支持フィルムと、支持フィルム上に異なる金属から
なる複数の金属層を積層させて形成した金属膜と、支持
フィルムの金属膜が形成された側に積層されたセラミッ
クグリーンシートとを備えることを特徴としている。
【0010】
【作用】本発明の製造方法において、金属膜のセラミッ
クグリーンシートへの転写は、セラミックグリーンシー
ト上に支持フィルム上の金属膜を載せ、支持フィルムを
剥離して金属膜をセラミックグリーンシート上に転写し
てもよいし、金属膜を有する支持フィルムの上にスラリ
ーを塗布するなどしてセラミックグリーンシートを形成
し、このセラミックグリーンシートを他のセラミックグ
リーンシート上に積層した後、支持フィルムを剥離する
際にセラミックグリーンシート上に金属膜を残し転写さ
せてもよい。
クグリーンシートへの転写は、セラミックグリーンシー
ト上に支持フィルム上の金属膜を載せ、支持フィルムを
剥離して金属膜をセラミックグリーンシート上に転写し
てもよいし、金属膜を有する支持フィルムの上にスラリ
ーを塗布するなどしてセラミックグリーンシートを形成
し、このセラミックグリーンシートを他のセラミックグ
リーンシート上に積層した後、支持フィルムを剥離する
際にセラミックグリーンシート上に金属膜を残し転写さ
せてもよい。
【0011】金属膜とセラミックス層との間のデラミネ
ーションは、金属膜を薄膜形成法により形成した場合に
特に生じ易いものであるが、本発明における金属膜の形
成方法は特に限定されるものではなく、導電ペーストの
塗布により形成させたものでもよいし、蒸着、スパッタ
リングまたはイオンプレーティング等の薄膜形成法やメ
ッキなどの薄膜形成法により形成させたものでもよい。
ーションは、金属膜を薄膜形成法により形成した場合に
特に生じ易いものであるが、本発明における金属膜の形
成方法は特に限定されるものではなく、導電ペーストの
塗布により形成させたものでもよいし、蒸着、スパッタ
リングまたはイオンプレーティング等の薄膜形成法やメ
ッキなどの薄膜形成法により形成させたものでもよい。
【0012】本発明における金属膜の金属の材質は特に
限定されるものではないが、導電性に優れた金属が好ま
しく、例えば、Cu、Ni、Al、Ag、Pdなどが挙
げられる。
限定されるものではないが、導電性に優れた金属が好ま
しく、例えば、Cu、Ni、Al、Ag、Pdなどが挙
げられる。
【0013】比較的高温で焼結される積層セラミックコ
ンデンサなどの積層セラミック電子部品においては、内
部電極となる金属膜として、一般に、Ni、Ag、Pd
などが用いられている。このような積層セラミックコン
デンサ等において金属膜とセラミック層との間のデラミ
ネーションの発生を抑制する場合には、Ni、Ag、P
dなどの金属からなる金属層と、これらの金属よりも酸
化速度が大きい金属からなる金属層とを組み合わせ積層
し金属膜とすることが好ましい。このような酸化速度が
大きな金属としては、Cu、Alなどを挙げることがで
きる。
ンデンサなどの積層セラミック電子部品においては、内
部電極となる金属膜として、一般に、Ni、Ag、Pd
などが用いられている。このような積層セラミックコン
デンサ等において金属膜とセラミック層との間のデラミ
ネーションの発生を抑制する場合には、Ni、Ag、P
dなどの金属からなる金属層と、これらの金属よりも酸
化速度が大きい金属からなる金属層とを組み合わせ積層
し金属膜とすることが好ましい。このような酸化速度が
大きな金属としては、Cu、Alなどを挙げることがで
きる。
【0014】各種金属の酸化速度の評価は、例えば10
0℃〜300℃の温度まで酸素分圧10-2〜10-6at
mの雰囲気下で加熱した際の重量増加率を測定すること
により評価することができる。このような酸化速度は、
単に金属の種類のみで異なるものではなく、成膜の条件
等によっても異なるものである。
0℃〜300℃の温度まで酸素分圧10-2〜10-6at
mの雰囲気下で加熱した際の重量増加率を測定すること
により評価することができる。このような酸化速度は、
単に金属の種類のみで異なるものではなく、成膜の条件
等によっても異なるものである。
【0015】PETフィルム上に2μmの厚みで、C
u、Ni、Al、Ag、またはPdを蒸着させ、これら
の各金属膜について200℃、酸素分圧10-3atmの
雰囲気での加熱による重量増加率を測定してところ、表
1のようになった。
u、Ni、Al、Ag、またはPdを蒸着させ、これら
の各金属膜について200℃、酸素分圧10-3atmの
雰囲気での加熱による重量増加率を測定してところ、表
1のようになった。
【0016】
【表1】
【0017】表1において、酸化速度は以下の式から算
出している。 酸化速度=W1 −W0 =ΔWmg/cm2 ,hr (ここで、W1 は酸化後の重量、W0 は酸化前の重量を
示す。)本発明に従い異なる金属からなる複数の金属層
を積層した金属膜は、焼成の際に合金化される場合が多
いので、金属膜における金属層の配置は特に限定される
ものではないが、セラミック層との間のデラミネーショ
ンの発生を抑制するためには、CuまたはAlなどの酸
化速度の大きな金属の金属層をセラミック層と接するよ
うに配置しておくことが好ましい。すなわち、本発明に
おいて金属膜が3層以上の構造である場合には、内側の
層にNi、Ag、Pdなどの酸化速度の小さな金属層を
配置し、外側のセラミック層と接する部分にCuまたは
Alなどの金属層を配置してサンドイッチ構造とするこ
とが好ましい。
出している。 酸化速度=W1 −W0 =ΔWmg/cm2 ,hr (ここで、W1 は酸化後の重量、W0 は酸化前の重量を
示す。)本発明に従い異なる金属からなる複数の金属層
を積層した金属膜は、焼成の際に合金化される場合が多
いので、金属膜における金属層の配置は特に限定される
ものではないが、セラミック層との間のデラミネーショ
ンの発生を抑制するためには、CuまたはAlなどの酸
化速度の大きな金属の金属層をセラミック層と接するよ
うに配置しておくことが好ましい。すなわち、本発明に
おいて金属膜が3層以上の構造である場合には、内側の
層にNi、Ag、Pdなどの酸化速度の小さな金属層を
配置し、外側のセラミック層と接する部分にCuまたは
Alなどの金属層を配置してサンドイッチ構造とするこ
とが好ましい。
【0018】また、多層セラミック基板などのように、
比較的低温で焼成される場合には、回路配線を形成する
金属膜として、Cuなどが用いられている。このような
金属膜のCu成分が焼成の際の加熱によってセラミック
層へ拡散すると特性劣化を招く。このような場合、本発
明に従い、異なる金属からなる複数の金属層を積層させ
て金属膜を形成させることによりCuなどの金属の拡散
を抑制することができる。例えば、Cuの金属層の両側
にAg層やNi層を配置しサンドイッチ構造とすること
により、Cuのセラミック層への拡散を抑制することが
できる。
比較的低温で焼成される場合には、回路配線を形成する
金属膜として、Cuなどが用いられている。このような
金属膜のCu成分が焼成の際の加熱によってセラミック
層へ拡散すると特性劣化を招く。このような場合、本発
明に従い、異なる金属からなる複数の金属層を積層させ
て金属膜を形成させることによりCuなどの金属の拡散
を抑制することができる。例えば、Cuの金属層の両側
にAg層やNi層を配置しサンドイッチ構造とすること
により、Cuのセラミック層への拡散を抑制することが
できる。
【0019】
【実施例の説明】実施例1 まず、図1に示すように、PETフィルムなどの支持フ
ィルム1の上に、Cu層2を平均0.1μm程度の厚み
となるように蒸着した後、このCu層2の上に、Ni層
3を1μm程度の厚みとなるように蒸着する。さらに、
このNi層3の上に、Cu層2と同様に、平均0.1μ
m程度の厚みとなるようにCu層4を蒸着し、支持フィ
ルム1上に金属膜5を形成する。
ィルム1の上に、Cu層2を平均0.1μm程度の厚み
となるように蒸着した後、このCu層2の上に、Ni層
3を1μm程度の厚みとなるように蒸着する。さらに、
このNi層3の上に、Cu層2と同様に、平均0.1μ
m程度の厚みとなるようにCu層4を蒸着し、支持フィ
ルム1上に金属膜5を形成する。
【0020】この金属膜5の上にフォトレジストを塗布
し、通常用いられるフォトリソグラフィー法により金属
膜5を積層セラミックコンデンサの内部電極となるよう
にパターン化する。
し、通常用いられるフォトリソグラフィー法により金属
膜5を積層セラミックコンデンサの内部電極となるよう
にパターン化する。
【0021】次に、図2を参照して、このようにしてパ
ターン化した金属膜5を有する支持フィルム1上に、セ
ラミックスラリー6を塗布し、電極セラミック一体化シ
ートを作製する。なおセラミックスラリー6としては、
チタン酸バリウムを主成分としたセラミック粉末、有機
バインダー及び有機溶剤からなるスラリーを用いた。塗
布後のセラミックグリーンシート7の厚みは10μmで
あった。
ターン化した金属膜5を有する支持フィルム1上に、セ
ラミックスラリー6を塗布し、電極セラミック一体化シ
ートを作製する。なおセラミックスラリー6としては、
チタン酸バリウムを主成分としたセラミック粉末、有機
バインダー及び有機溶剤からなるスラリーを用いた。塗
布後のセラミックグリーンシート7の厚みは10μmで
あった。
【0022】以上のようにして得られた電極セラミック
一体化シートを用いて、積層セラミックコンデンサを作
製した。図3に示すように、まず支持フィルム11上に
セラミックグリーンシート12(厚み100μm)が形
成された、内部電極の形成されていないセラミック一体
化シートを受台15の上に載せた。このセラミックグリ
ーンシート12の上に、上述のようにして作製した、内
部電極の形成されたセラミック一体化シートを、セラミ
ックグリーンシート7がセラミックグリーンシート12
の上に重なるように積層し、加圧プレス13によって加
圧した。受台15にはヒーター16が、加圧プレス13
にはヒーター14が備えられており、加圧の際これらの
ヒーターにより加熱した。温度80℃、圧力50kg/
cm2 の条件で支持フィルム1側から加圧し、加圧後支
持フィルム1を剥離し、金属膜5をセラミックグリーン
シート7上に転写した。
一体化シートを用いて、積層セラミックコンデンサを作
製した。図3に示すように、まず支持フィルム11上に
セラミックグリーンシート12(厚み100μm)が形
成された、内部電極の形成されていないセラミック一体
化シートを受台15の上に載せた。このセラミックグリ
ーンシート12の上に、上述のようにして作製した、内
部電極の形成されたセラミック一体化シートを、セラミ
ックグリーンシート7がセラミックグリーンシート12
の上に重なるように積層し、加圧プレス13によって加
圧した。受台15にはヒーター16が、加圧プレス13
にはヒーター14が備えられており、加圧の際これらの
ヒーターにより加熱した。温度80℃、圧力50kg/
cm2 の条件で支持フィルム1側から加圧し、加圧後支
持フィルム1を剥離し、金属膜5をセラミックグリーン
シート7上に転写した。
【0023】このようにして積層したセラミックグリー
ンシートの上に、積層セラミックコンデンサとなるよう
に内部電極のパターンの位置が異なる他のセラミックグ
リーンシートを同様にして積層した。このようにして内
部電極のパターンの位置が異なるセラミックグリーンシ
ートを所定枚数積層し、最後に厚み100μmの内部電
極の形成されていないセラミックグリーンシートを積層
し、多数の積層セラミック積層体を含むマザーの積層体
を得た。次に、これを個々の積層セラミックコンデンサ
となるように2×1.25mmのチップ状に切断した。
得られた積層体を焼成して焼結体とた。焼成温度は13
00℃とし、酸素分圧10-8.5atmの雰囲気下で焼成
した。焼結体の表面の所定の領域に外部電極となる導電
ペーストを塗布し、焼付けて積層セラミックコンデンサ
を得た。
ンシートの上に、積層セラミックコンデンサとなるよう
に内部電極のパターンの位置が異なる他のセラミックグ
リーンシートを同様にして積層した。このようにして内
部電極のパターンの位置が異なるセラミックグリーンシ
ートを所定枚数積層し、最後に厚み100μmの内部電
極の形成されていないセラミックグリーンシートを積層
し、多数の積層セラミック積層体を含むマザーの積層体
を得た。次に、これを個々の積層セラミックコンデンサ
となるように2×1.25mmのチップ状に切断した。
得られた積層体を焼成して焼結体とた。焼成温度は13
00℃とし、酸素分圧10-8.5atmの雰囲気下で焼成
した。焼結体の表面の所定の領域に外部電極となる導電
ペーストを塗布し、焼付けて積層セラミックコンデンサ
を得た。
【0024】実施例2 図4に示すように、支持フィルム21上に、平均0.1
μm程度の厚みのCu層22を蒸着により形成し、次
に、このCu層22の上に、Ni層を1μm程度の厚み
になるように蒸着する。さらに、Ni層23の上に、平
均0.1μm程度の厚みのAl層24を蒸着により形成
する。以上のようにして、支持フィルム21上に金属膜
25を形成し、このシートを用い実施例1と同様にして
電極セラミック一体化シートを作製し、これを用いて積
層セラミックコンデンサを製造した。
μm程度の厚みのCu層22を蒸着により形成し、次
に、このCu層22の上に、Ni層を1μm程度の厚み
になるように蒸着する。さらに、Ni層23の上に、平
均0.1μm程度の厚みのAl層24を蒸着により形成
する。以上のようにして、支持フィルム21上に金属膜
25を形成し、このシートを用い実施例1と同様にして
電極セラミック一体化シートを作製し、これを用いて積
層セラミックコンデンサを製造した。
【0025】実施例3 図5に示すように、支持フィルム31上に、平均0.1
μm程度の厚みのCu層32を蒸着により形成し、この
Cu層32の上に平均0.2μm程度の厚みのAg層3
3を蒸着した後、平均0.5μm程度の厚みのPd層3
4をメッキにより形成した。このPd層34の上に、平
均0.1μm程度の厚みのCu層35を蒸着により形成
した。以上のようにして支持フィルム31上に金属膜3
6を形成し、このシートを用い実施例1と同様にして、
電極セラミック一体化シートを作製し、積層セラミック
コンデンサを製造した。
μm程度の厚みのCu層32を蒸着により形成し、この
Cu層32の上に平均0.2μm程度の厚みのAg層3
3を蒸着した後、平均0.5μm程度の厚みのPd層3
4をメッキにより形成した。このPd層34の上に、平
均0.1μm程度の厚みのCu層35を蒸着により形成
した。以上のようにして支持フィルム31上に金属膜3
6を形成し、このシートを用い実施例1と同様にして、
電極セラミック一体化シートを作製し、積層セラミック
コンデンサを製造した。
【0026】実施例4 図6に示すように、支持フィルム41上に、平均0.1
μm程度の厚みのCu層42を蒸着により形成し、この
上に平均0.2μm程度の厚みのAg層43を蒸着によ
って形成した後、このAg層43の上に平均0.5μm
程度の厚みのPd層をメッキにより形成した。このPd
層44の上に平均0.1μm程度の厚みのAl層45を
形成した。以上のようにして、支持フィルム41上に金
属膜46を形成し、実施例1と同様にして、電極セラミ
ック一体化シートを作製し、積層セラミックコンデンサ
を製造した。
μm程度の厚みのCu層42を蒸着により形成し、この
上に平均0.2μm程度の厚みのAg層43を蒸着によ
って形成した後、このAg層43の上に平均0.5μm
程度の厚みのPd層をメッキにより形成した。このPd
層44の上に平均0.1μm程度の厚みのAl層45を
形成した。以上のようにして、支持フィルム41上に金
属膜46を形成し、実施例1と同様にして、電極セラミ
ック一体化シートを作製し、積層セラミックコンデンサ
を製造した。
【0027】比較例1 図7に示すように、支持フィルム51上に、平均1μm
程度の厚みのNi層52を蒸着により形成し、このシー
トを用いて、実施例1と同様にして、電極セラミック一
体化シートを作製し、積層セラミックコンデンサを製造
した。
程度の厚みのNi層52を蒸着により形成し、このシー
トを用いて、実施例1と同様にして、電極セラミック一
体化シートを作製し、積層セラミックコンデンサを製造
した。
【0028】以下、導電ペーストを塗布して金属膜を形
成する実施例及び比較例について説明する。実施例5 支持フィルム上にチタン酸バリウムを主成分としたセラ
ミック粉末、有機バインダー及び有機溶剤からなるスラ
リーを塗布し、セラミックシートを作製した。このシー
ト上に、Cuペーストを用い、焼成後の厚みが0.8μ
mとなるように電極パターンを印刷した。このようにし
て形成したCu層の上に、Niペーストを焼成後の厚み
が3.0μmとなるように重ねて印刷し、さらにそのに
Cuペーストを焼成後の厚みが0.8μmとなるように
重ねて印刷した。このようにして得られた電極セラミッ
ク一体化シートを用いて、実施例1と同様にして、積層
セラミックコンデンサを作製した。なお焼成温度は13
00℃ではなく、1250℃とした。
成する実施例及び比較例について説明する。実施例5 支持フィルム上にチタン酸バリウムを主成分としたセラ
ミック粉末、有機バインダー及び有機溶剤からなるスラ
リーを塗布し、セラミックシートを作製した。このシー
ト上に、Cuペーストを用い、焼成後の厚みが0.8μ
mとなるように電極パターンを印刷した。このようにし
て形成したCu層の上に、Niペーストを焼成後の厚み
が3.0μmとなるように重ねて印刷し、さらにそのに
Cuペーストを焼成後の厚みが0.8μmとなるように
重ねて印刷した。このようにして得られた電極セラミッ
ク一体化シートを用いて、実施例1と同様にして、積層
セラミックコンデンサを作製した。なお焼成温度は13
00℃ではなく、1250℃とした。
【0029】比較例2 支持フィルム上にNiペーストを焼成後の厚みが3.0
μmとなるようにパターン印刷した。この電極上に、チ
タン酸バリウムを主成分としたセラミック粉末、有機バ
インダー及び有機溶剤からなるスラリーを塗布し、電極
セラミック一体化シートを作製した。この電極セラミッ
ク一体化シートを用い、実施例1と同様にして、積層セ
ラミックコンデンサを製造した。
μmとなるようにパターン印刷した。この電極上に、チ
タン酸バリウムを主成分としたセラミック粉末、有機バ
インダー及び有機溶剤からなるスラリーを塗布し、電極
セラミック一体化シートを作製した。この電極セラミッ
ク一体化シートを用い、実施例1と同様にして、積層セ
ラミックコンデンサを製造した。
【0030】以上のようにして得られた実施例1〜5並
びに比較例1,2の積層セラミックコンデンサのデラミ
ネーションの発生率を評価するため、得られた焼結体を
樹脂で固め、さらに研磨を行い光学顕微鏡によって断面
を観察した。サンプル20個中におけるデラミネーショ
ン発生のコンデンサの数を求めた。
びに比較例1,2の積層セラミックコンデンサのデラミ
ネーションの発生率を評価するため、得られた焼結体を
樹脂で固め、さらに研磨を行い光学顕微鏡によって断面
を観察した。サンプル20個中におけるデラミネーショ
ン発生のコンデンサの数を求めた。
【0031】また、得られた積層セラミックコンデンサ
について、耐湿負荷試験を行った。試験条件は、121
℃、湿度100%、気圧2atmの条件下で、16Vを
40時間印加したときのサンプル20個中のIR劣化数
を測定し評価した。これらの結果を表2に示す。
について、耐湿負荷試験を行った。試験条件は、121
℃、湿度100%、気圧2atmの条件下で、16Vを
40時間印加したときのサンプル20個中のIR劣化数
を測定し評価した。これらの結果を表2に示す。
【0032】
【表2】
【0033】表2から明らかなように、実施例1〜5の
積層セラミックコンデンサにおいては、研磨断面にデラ
ミネーションが観察されず、耐湿負荷試験におけるIR
劣化不良も発生していないことがわかる。これに対し
て、比較例1,2の積層セラミックコンデンサには、研
磨断面にデラミネーションが観察された。また耐湿負荷
試験におけるIR劣化不良も多数発生していることがわ
かる。
積層セラミックコンデンサにおいては、研磨断面にデラ
ミネーションが観察されず、耐湿負荷試験におけるIR
劣化不良も発生していないことがわかる。これに対し
て、比較例1,2の積層セラミックコンデンサには、研
磨断面にデラミネーションが観察された。また耐湿負荷
試験におけるIR劣化不良も多数発生していることがわ
かる。
【0034】以下、本発明の製造方法に従い、多層セラ
ミック基板を製造する実施例について説明する。実施例6 PETフィルムなどの支持フィルム上に平均0.3μm
程度の厚みのAg層を形成し、その上に平均3μm程度
の厚みのCu層を形成し、その上に平均0.3μm程度
の厚みのAg層をそれぞれ蒸着により形成することによ
って、支持フィルム上にサンドイッチ構造の金属膜を形
成した。このようにして形成した金属膜上にフォトレジ
ストを塗布し、通常用いられるフォトリソグラフィー法
によって金属膜を所定の配線パターンとなるようにパタ
ーン化した。
ミック基板を製造する実施例について説明する。実施例6 PETフィルムなどの支持フィルム上に平均0.3μm
程度の厚みのAg層を形成し、その上に平均3μm程度
の厚みのCu層を形成し、その上に平均0.3μm程度
の厚みのAg層をそれぞれ蒸着により形成することによ
って、支持フィルム上にサンドイッチ構造の金属膜を形
成した。このようにして形成した金属膜上にフォトレジ
ストを塗布し、通常用いられるフォトリソグラフィー法
によって金属膜を所定の配線パターンとなるようにパタ
ーン化した。
【0035】このような配線パターンを形成した支持フ
ィルム上に、セラミックスラリーを塗布し、厚み10μ
mのセラミックグリーンシートを有する配線セラミック
一体化シートを作製した。なお、スラリーとしては、ア
ルミナAl2 O3 とホウケイ酸ガラスの粉末をそれぞれ
重量比で45:55となるように調整し、有機バインダ
ーとともに溶媒中に分散したスラリーを用いた。
ィルム上に、セラミックスラリーを塗布し、厚み10μ
mのセラミックグリーンシートを有する配線セラミック
一体化シートを作製した。なお、スラリーとしては、ア
ルミナAl2 O3 とホウケイ酸ガラスの粉末をそれぞれ
重量比で45:55となるように調整し、有機バインダ
ーとともに溶媒中に分散したスラリーを用いた。
【0036】次に、このようにして得られた配線セラミ
ック一体化シートに、レーザーによってスルーホールを
形成し、形成されたスルーホール内にアルミナパウダー
を混ぜた銀ペーストを充填した。
ック一体化シートに、レーザーによってスルーホールを
形成し、形成されたスルーホール内にアルミナパウダー
を混ぜた銀ペーストを充填した。
【0037】このようにして得られた配線セラミック一
体化シートを、実施例1と同様にして積層し圧着して積
層体を得た。得られた積層体を、3mm角の矩形状に切
断し、800℃で焼成した。得られた焼成体に、外部接
続端子をメッキによって取り付け、多層セラミック基板
を得た。
体化シートを、実施例1と同様にして積層し圧着して積
層体を得た。得られた積層体を、3mm角の矩形状に切
断し、800℃で焼成した。得られた焼成体に、外部接
続端子をメッキによって取り付け、多層セラミック基板
を得た。
【0038】実施例7 支持フィルム上に、平均0.3μm程度の厚みのNi
層、平均3μm程度の厚みのCu層、及び平均0.3μ
m程度の厚みのNi層を順次形成し、支持フィルム上に
金属膜をそれぞれ蒸着により形成した。実施例6と同様
にして、通常のフォトリソグラフィー法によってパター
ン化して配線セラミック一体化シートを作製した。
層、平均3μm程度の厚みのCu層、及び平均0.3μ
m程度の厚みのNi層を順次形成し、支持フィルム上に
金属膜をそれぞれ蒸着により形成した。実施例6と同様
にして、通常のフォトリソグラフィー法によってパター
ン化して配線セラミック一体化シートを作製した。
【0039】得られた配線セラミック一体化シートを用
いて、実施例6と同様にして積層し、積層体を得た。得
られた積層体を3mm角の矩形状に切断し、空気中35
0℃で3時間脱脂を行った後、非酸化雰囲気中800℃
で2時間焼成した。
いて、実施例6と同様にして積層し、積層体を得た。得
られた積層体を3mm角の矩形状に切断し、空気中35
0℃で3時間脱脂を行った後、非酸化雰囲気中800℃
で2時間焼成した。
【0040】比較例3 支持フィルム上に、平均3μm程度の厚みのCu層のみ
を蒸着により形成しこれを金属膜として、実施例6と同
様にして配線セラミック一体化シートを作製し、これを
積層した後、焼成して多層セラミック基板とした。
を蒸着により形成しこれを金属膜として、実施例6と同
様にして配線セラミック一体化シートを作製し、これを
積層した後、焼成して多層セラミック基板とした。
【0041】実施例6及び7並びに比較例3の多層セラ
ミック基板について、それぞれ断面を研磨し、Ni及び
Cuの基板内への拡散濃度を調べた。その結果、実施例
6及び7は、Ni,Cuの拡散が見られなかったのに対
し、比較例3の多層セラミック基板では、金属/セラミ
ック界面から2μmの距離までCuの拡散が見られ、そ
の部分の絶縁抵抗が低下していた。
ミック基板について、それぞれ断面を研磨し、Ni及び
Cuの基板内への拡散濃度を調べた。その結果、実施例
6及び7は、Ni,Cuの拡散が見られなかったのに対
し、比較例3の多層セラミック基板では、金属/セラミ
ック界面から2μmの距離までCuの拡散が見られ、そ
の部分の絶縁抵抗が低下していた。
【0042】
【発明の効果】本発明の製造方法に従えば、異なる金属
膜からなる複数の金属層を積層させた金属膜を支持フィ
ルム上に形成し、この金属膜をセラミックグリーンシー
ト上に転写している。積層セラミックコンデンサ等にお
いては、Cu及びAlなどの酸化速度の大きな金属から
なる金属層を金属層に積層させることにより、セラミッ
ク層に対する金属膜の密着性を高めることができ、デラ
ミネーションの発生を抑制することができる。また多層
セラミック基板等においては、Ag及びNiなどの金属
からなる金属層でCuなどの拡散し易い成分を含む金属
層を挟むサンドイッチ構造とすることにより、金属膜の
成分がセラミック層に拡散するのを抑制することがで
き、特性の劣化を抑制することができる。
膜からなる複数の金属層を積層させた金属膜を支持フィ
ルム上に形成し、この金属膜をセラミックグリーンシー
ト上に転写している。積層セラミックコンデンサ等にお
いては、Cu及びAlなどの酸化速度の大きな金属から
なる金属層を金属層に積層させることにより、セラミッ
ク層に対する金属膜の密着性を高めることができ、デラ
ミネーションの発生を抑制することができる。また多層
セラミック基板等においては、Ag及びNiなどの金属
からなる金属層でCuなどの拡散し易い成分を含む金属
層を挟むサンドイッチ構造とすることにより、金属膜の
成分がセラミック層に拡散するのを抑制することがで
き、特性の劣化を抑制することができる。
【図1】本発明に従う実施例1において形成した支持フ
ィルム上の金属膜を示す断面図。
ィルム上の金属膜を示す断面図。
【図2】本発明に従う実施例1において金属膜を有した
支持フィルム上にセラミックスラリーを塗布する状態を
示す断面図。
支持フィルム上にセラミックスラリーを塗布する状態を
示す断面図。
【図3】本発明に従う実施例1においてセラミックグリ
ーンシートを積層する状態を示す断面図。
ーンシートを積層する状態を示す断面図。
【図4】本発明に従う実施例2において形成した支持フ
ィルム上の金属膜を示す断面図。
ィルム上の金属膜を示す断面図。
【図5】本発明に従う実施例3において支持フィルム上
に形成した金属膜を示す断面図。
に形成した金属膜を示す断面図。
【図6】本発明に従う実施例4において支持フィルム上
に形成した金属膜を示す断面図。
に形成した金属膜を示す断面図。
【図7】比較例1において支持フィルム上に形成した金
属膜を示す断面図。
属膜を示す断面図。
1…支持フィルム 2,4…Cu層 3…Ni層 5…金属膜 6…セラミックスラリー 7…セラミックグリーンシート
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鈴木 達也 京都府長岡京市天神二丁目26番10号 株式 会社村田製作所内
Claims (2)
- 【請求項1】 金属膜を有するセラミックグリーンシー
トを積層し焼成することによって積層セラミック電子部
品を製造する方法であって、 異なる金属からなる複数の金属層を積層させた金属膜を
支持フィルム上に形成する工程と、 前記支持フィルム上の金属膜をセラミックグリーンシー
ト上に転写しセラミックグリーンシートを積層する工程
とを備える、積層セラミック電子部品の製造方法。 - 【請求項2】 支持フィルムと、 該支持フィルム上に異なる金属からなる複数の金属層を
積層させて形成した金属膜と、 前記支持フィルムの金属膜が形成された側に積層された
セラミックグリーンシートとを備える、セラミックグリ
ーンシート供給体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5179147A JPH0737748A (ja) | 1993-07-20 | 1993-07-20 | 積層セラミック電子部品の製造方法及びセラミックグリーンシート供給体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5179147A JPH0737748A (ja) | 1993-07-20 | 1993-07-20 | 積層セラミック電子部品の製造方法及びセラミックグリーンシート供給体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0737748A true JPH0737748A (ja) | 1995-02-07 |
Family
ID=16060794
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5179147A Pending JPH0737748A (ja) | 1993-07-20 | 1993-07-20 | 積層セラミック電子部品の製造方法及びセラミックグリーンシート供給体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0737748A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1091538C (zh) * | 1996-06-14 | 2002-09-25 | 株式会社村田制作所 | 多层陶瓷电容器 |
WO2003036666A1 (fr) * | 2001-10-25 | 2003-05-01 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Composant electronique ceramique stratifie et son procede de fabrication |
WO2008072448A1 (ja) * | 2006-12-12 | 2008-06-19 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | 積層セラミック電子部品の製造方法および積層セラミック電子部品 |
-
1993
- 1993-07-20 JP JP5179147A patent/JPH0737748A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1091538C (zh) * | 1996-06-14 | 2002-09-25 | 株式会社村田制作所 | 多层陶瓷电容器 |
WO2003036666A1 (fr) * | 2001-10-25 | 2003-05-01 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Composant electronique ceramique stratifie et son procede de fabrication |
US7042706B2 (en) | 2001-10-25 | 2006-05-09 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Laminated ceramic electronic component and method of manufacturing the electronic component |
WO2008072448A1 (ja) * | 2006-12-12 | 2008-06-19 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | 積層セラミック電子部品の製造方法および積層セラミック電子部品 |
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