JPH0735868A - 汚染分布測定装置およびその方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】大面積または凹凸を有する被測定面のα，βお
よびγ放射能による汚染分布を１台の装置で一括測定す
る。 【構成】放射線測定シート１と汚染防止シート３を各々
個別に保持、収納するシート保持具４ａ，４ｂを有し、
このシート保持具４ａ，４ｂを伸縮アーム５に取り付
け、この伸縮アーム５を支持架台６に固定する。支持架
台６には伸縮アーム５とシート保持具４ａ，４ｂを駆動
する駆動機構７、装置固定手段８、装置移動機構９、演
算回路10および記録・伝送機構11が設置されている。放
射線測定シート１には輝尽性蛍光発光物質を含む高分子
化合物層が設けられている。この放射線測定シート１で
被測定面を覆い、一定時間放置して放射線エネルギーを
貯え、励起光を照射し発光を読み取り、演算処理して汚
染箇所および汚染濃度を決定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、例えば原子力発電施設
または放射性物質取扱い施設の放射能汚染の可能性があ
る床や壁の一部または全部、または、これら施設から発
生する放射能汚染の可能性がある大型機器の表面のよう
な広域、あるいは大面積かつ凹凸面をもつ被測定面の汚
染分布測定装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来の放射能汚染の測定には以下のよう
な装置および方法が知られている。

【０００３】(1) スミヤ濾紙により被測定面を拭き取
り、そのスミヤ濾紙を放射線測定器により放射線計数す
るスミヤ法や、放射線検出器を被測定面の近くへ設置し
て、直接放射線計数を行うダイレクトサーベイ法が表面
汚染密度測定法として広く用いられている。

【０００４】(2) 広域の放射線量監視や空気中の放射能
濃度を常時監視する装置としてエリアモニタ等が放射性
物質を取り扱う施設内または周辺区域で使用されてい
る。

【０００５】(3) 遠隔自動にて放射性廃棄物の表面に付
着した放射性物質の汚染分布状況を評価する方法として
放射線映像化装置ＲＩＤ（『動燃技法』No.68 1988.12,
資料番号：68-7 およびその引用文献）等が開発されて
いる。

【０００６】(4) 凹凸面をもつ不定形物品用の汚染モニ
タとして、たとえば特開平2-115785号公報や特開平2-27
2387号公報に記載の装置が知られている。これら装置は
被測定対象をシンチレータ布状部材で覆い、または気体
あるいは液体シンチレータを充満した伸縮自在な袋状部
材を加圧し測定対象に押し当てるように近接させた状態
でそれらから発光する光を周囲に設置した光検出器で測
定するものである。

【０００７】(5) 放射線場の壁や床に敷きつめたり張っ
たり、あるいは作業服に取り付けて使用し放射線照射量
をリアルタイムで検出するものとしてたとえば特公平5-
012671号公報に記載の検出器が知られている。この検出
器は小型であり、放射線照射のエネルギーにより構造破
壊を起こす高分子化合物でできたマイクロカプセルに封
入された化合物の呈色反応により、α線，β線，γ線お
よび中性子線の放射線量に応じて色の変化を直接確認す
ることができる。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】上記の各種方法および
装置で大面積または凹凸面の汚染分布測定を行うために
は以下のような課題が残されている。

【０００９】上記 (1)の方法は、小物物品や床あるいは
壁の小面積、または放射性廃棄物を収容した容器表面の
ような比較的なめらかな面の汚染測定に対して有効であ
るが、測定面が広大だったり、粗かったり凹凸があるよ
うな場合にはスミヤ濾紙の拭き取り圧によりスミヤ効率
が異なってしまうことや、拭き取りと放射線計数に多大
な時間と労力を要してしまう難点がある。

【００１０】上記 (2)のエリアモニタは検出器が設置さ
れた場所での放射線量を監視するため、例えば大面積の
壁面の汚染分布あるいは壁面からの放射線量分布を測定
するためには複数の検出器を壁面に近接させてびっしり
並べなければならず経済性が悪い。

【００１１】上記 (3)の装置は上記 (2)のように検出器
を複数台使用することを解消してくれる。しかし、放射
線検出器を測定対象からかなり離して設置し放射線の入
射位置測定により汚染箇所を探索するこの種の方法で
は、吸収の少ないγ線に比べて物質中の飛程が小さいα
線やβ線を検出することは非常に難しい。また放射線検
出器を測定対象から離して設置する場合感度が低下して
しまう。

【００１２】上記 (4)の装置ではα線，β線検出性およ
び凹凸面対応性は改善されているが汚染分布測定の位置
分解能は良好とはいえない。また、大型機器，床，壁に
適用するにはそれら測定対象を暗室内に配置した光検出
器で囲む必要があり、装置が非常に大型化してしまう。
加えて、汚染している被測定面に検出器を押し当てると
検出部が汚染されるおそれがある。

【００１３】上記 (5)のような検出器を大面積の測定対
象に一面に敷きつめる方法はその作業に多大な時間と労
力が必要である。また、測定対象の面積に合わせた大型
の検出器を製作して用いることで大面積に対応させるこ
とも可能であるが、酸化還元反応や錯体形成反応といっ
た化合物の呈色反応を利用している原理上、検出器の再
生が難しい。

【００１４】本発明は上記課題を解決するためになされ
たもので、大面積または凹凸のある被測定面のα，β，
γおよび中性子放射能による汚染箇所と汚染濃度または
汚染密度を１台の装置で一括に測定でき、かつ作業が迅
速・簡便で、かつ検出部の汚染が防止でき、かつ検出部
の再生が可能な汚染分布測定装置を提供することであ
る。

【００１５】

【課題を解決するための手段】本発明は、大面積を一度
に覆うことができる薄いフレキシブルシート上に形成し
た輝尽性蛍光発光物質を含む透明な高分子化合物層から
なる放射線測定シートと、この放射線測定シートの被測
定面による汚染を防止する薄い汚染防止シートと、この
汚染防止シートと前記放射線測定シートを各々個別に保
持・収納するシート保持具と、前記放射線測定シート中
に蓄積された放射線エネルギーを輝尽性蛍光の形で取り
出すための発光読み取り手段と、前記シート保持具を担
持する伸縮アームと、前記シート保持具および伸縮アー
ムを支える支持架台と、前記伸縮アームと前記シート保
持具を駆動することが可能な駆動機構と、前記支持架台
を地面または床面に固定し支える固定手段と、前記発光
読み取り手段から出力される検出信号を演算処理する演
算回路と、この演算回路による演算結果を記録または表
示または他の計算機等の装置へ伝送する記録・伝送手段
とを具備することを特徴とする。

【００１６】また、本発明は前記発光読み取り手段が放
射線エネルギーを蓄積した輝尽性蛍光発光物質に励起光
を照射し蛍光を発光させる励起光源と、発生した蛍光を
検知し電気信号に変換する光検出器と、この光検出器と
前記励起光源を外部の光から遮断する遮光手段と、発光
の読み取り後でも放射線測定シートに残存する放射線エ
ネルギーを消去する消去ヘッドとからなることを特徴と
する。

【００１７】本発明によれば前記放射線測定シートで前
記被測定面を一定時間覆った後、前記発光読み取り手段
により前記放射線測定シート上方を走査させながら発光
を検出し、出力された読み取り信号が前記演算回路に到
達した時間または前記読取り手段の前記放射線測定シー
ト上での位置から発光箇所ひいては汚染箇所を特定し、
かつ読取り信号の強度から発光強度ひいては汚染濃度ま
たは汚染密度を求めることが可能となる。

【００１８】さらに、本発明は、放射線エネルギーを蓄
積した輝尽性蛍光発光物質に励起光を照射し蛍光を発光
させる励起光源と、発光した蛍光を伝達する光ファイバ
ケーブルと、この光ファイバケーブルの両端にそれぞれ
接続された光検出器と、この光検出器と前記励起光源と
前記光ファイバを外部の光から遮断する遮光手段と、発
光の読み取り後でも放射線測定シートに残存する放射線
エネルギーを消去する消去ヘッドとからなることを特徴
とする。

【００１９】本発明によれば前記放射線測定シートで前
記被測定面を一定時間覆った後、前記放射線測定シート
の水平方向の一方向を横断するように配置した前記発光
読み取り手段で発光を検出し、出力された２つの読み取
り信号が前記演算回路に到達した時間比と強度比より発
光箇所ひいては汚染箇所を特定し、かつ２つの読み取り
信号の和から発光強度ひいては汚染濃度または汚染密度
を求めることが可能となる。

【００２０】

【作用】このように構成した装置により、大面積または
凹凸のある被測定面を形状に沿って覆うように前記放射
線測定シートをかぶせて測定することにより、放射線種
にかかわらず、このような大面積で凹凸面の汚染測定を
単一の装置で一括かつ簡便に行うことができ、しかも前
記読み取り手段による発光読み取り信号の時間情報や強
度情報を用いて汚染箇所と汚染濃度または汚染密度を特
定することができる。

【００２１】また、前記輝尽性蛍光発光体からの蛍光発
光時間は放射能による汚染濃度または汚染密度に依存せ
ず瞬時であるため発光読み取り時間は短くしかも任意に
設定できるので迅速・簡便な作業が可能であり、汚染分
布評価の位置分解能も良好である。

【００２２】また、前記汚染防止シートにより被測定面
と放射線測定シートの直接接触を防ぎ、放射線測定シー
トと汚染防止シートを別々に収納・保持することにより
検出部である放射線測定シートの二次的な汚染を防止で
きる。

【００２３】さらに、前記発光読み取り手段で読み取ら
れなかった放射線エネルギーを残らず発光させる消光ヘ
ッドを設けることにより、発光の読み取りに引き続いて
すぐに放射線測定シートを再生でき、次回の測定に迅速
に対応することができる。

【００２４】

【実施例】本発明に係る汚染分布測定装置の第１の実施
例を図面により詳細に説明する。図１は本発明の第１の
実施例の構成図を示している。

【００２５】本実施例の汚染分布測定装置は、主に、放
射線測定シート１と、この放射線測定シート１の上方に
設けた発光読み取り手段２と、前記放射線測定シート１
の対向面に設けた汚染防止シート３と、前記各シート
１，３を保持する放射線測定シート保持具４ａおよび汚
染防止シート保持具４ｂからなるシート保持具４と、こ
のシート保持具４を先端部に取り付ける一対の伸縮アー
ム５と、この伸縮アーム５の端末部を固定する支持架台
６と、この支持架台６に設けられた装置駆動機構７、装
置固定手段８、装置移動機構９、演算回路10および記録
・伝送機構11とから構成される。

【００２６】放射線測定シート１は放射線測定シート保
持具４ａに自動で出し入れされる。また、汚染防止シー
ト３は同様に汚染防止シート保持具４ｂに自動で出し入
れされる。伸縮アーム５は自動でその長さを自在に変化
させることができる。

【００２７】図１は放射線測定シート１と汚染防止シー
ト３が引き出された状態を示しているが、測定を行わな
い場合には放射線測定シート１と汚染防止シート３はそ
れぞれ放射線測定シート保持具４ａと汚染防止シート保
持具４ｂに収納され伸縮アーム５が縮められるので、汚
染分布測定装置はコンパクトな大きさとなり、保管エリ
アが比較的小さくてよい。

【００２８】次に上記実施例の汚染分布測定装置が壁面
14の放射線測定を行う例について説明する。伸縮アーム
５は短く収納された状態から徐々に伸長していき、同時
に放射線測定シート１と汚染防止シート３が引き出され
る。伸縮アーム５は図１中の角度θの方向に駆動するこ
とができ、放射線測定シート１と汚染防止シート３が引
き出されるに従って支持架台６上にそれらシートが乗ら
ないようにθを小さくする方向、すなわち壁面14に向か
って伸縮アーム５を傾けていく。

【００２９】放射線測定シート１と汚染防止シート３が
所定の長さ引き出されたら、装置移動機構９により装置
全体を壁面14に近付けていく。壁面14に汚染防止シート
３が接触しない程度に近付いたら装置は停止し、装置固
定手段８により床面15に固定される。壁面14と装置との
距離はレーザー距離計などの距離センサによって監視す
ることができる。

【００３０】放射線測定シート保持具４ａおよび汚染防
止シート保持具４ｂと伸縮アーム５との接続部はこれら
シート保持具４が周方向に自動で駆動するようになって
いる。装置が固定された後放射線測定シート保持具４ａ
が周方向に回転し発光読み取り手段２が放射線測定シー
ト１と汚染防止シート３を壁面14に押し付ける。

【００３１】この状態で一定時間経過すると、壁面14の
放射能汚染箇所から放出された放射線エネルギーが放射
線測定シート１中に蓄積される。一定時間この放射線測
定を行った後、装置固定手段８を緩め装置を固定状態か
ら開放し装置移動機構により装置を壁面14から離れる方
向に移動させ放射線測定シート１と汚染防止シート３を
壁面14から離す。

【００３２】放射線測定シート１と汚染防止シート３は
それぞれの保持具４ａ，４ｂに収納される。同時に図３
または図４に示される発光読み取り方法により放射線測
定シート１に蓄積された放射線エネルギーを蛍光発光の
形で読み取り、読み取り信号は演算回路10に出力され演
算処理により発光位置すなわち汚染箇所を特定し、また
発光強度も特定し、さらに予め求めておいた発光強度と
放射能強度との関係から放射能汚染濃度または汚染密度
を決定する。

【００３３】得られた汚染箇所と汚染濃度または汚染密
度の情報は記録・伝送機構に記録され、必要があればデ
ジタル値や汚染マップの形で表示されたり他の計算機装
置等へ伝送される。伝送方法は信号伝達ケーブルや無線
送信によって行うことができる。

【００３４】図２は、放射線測定シート１と汚染防止シ
ート３を凹凸面を有する被測定面16にかぶせた状態と、
放射線測定シート１の断面を示している。放射線測定シ
ート１は図２に示すように柔軟なフレキシブルシート12
上に輝尽性蛍光発光体層13を形成した構成になってい
る。この輝尽性蛍光発光体層13としては例えば特開昭 5
9-228200号公報に記載のシート上に輝尽性蛍光体が分散
された結合剤からなる蛍光体層を用いることができる。
フレキシブルシート12は例えば柔軟性のあるポリエチレ
ンなどの高分子物質が適用できる。

【００３５】放射線測定シート１は図２に示すように汚
染防止シート３により被測定面16と直接接触しないよう
に位置しており、放射線測定シート１は被測定面16の汚
染箇所による二次的な汚染から保護される。

【００３６】また、放射線測定シート１と汚染防止シー
ト３は薄く柔軟性をもっており、被測定面16の凹凸部分
にも近接するので、凹凸部分に汚染がある場合でもその
汚染箇所からの放射線を検出することができる。

【００３７】輝尽性蛍光発光体層13とフレキシブルシー
ト12と汚染防止シート３のそれぞれの厚さは、対象とす
る放射線の線種およびエネルギーによって決定されるも
のであるが、汚染防止シート３の厚み（単位面積当たり
の重量）とフレキシブルシート12の厚みは目的とする放
射線エネルギーの最大飛程より十分小さいことが望まし
い。

【００３８】なお、図２の例では、フレキシブルシート
12が輝尽性蛍光発光体層13の発光体層下面13ｂと接して
いるが、発光体層上面13ａ側に接触していてもかまわな
い。ただし、フレキシブルシート12が透明でない材質で
形成されている場合、後述の図３および図４で示す放射
線測定シート１からの発光の読み取り操作はフレキシブ
ルシート12のない面から行う必要がある。

【００３９】言い換えると、フレキシブルシート12が透
明な材質で形成されている場合には、発光の読み取り面
にかかわらず発光体層上面13ａ，発光体層下面13ｂのど
ちらにフレキシブルシート12が接していてもよい。

【００４０】さらに言えば、α線のような飛程の小さい
荷電粒子を測定対象とする場合には被測定面16と輝尽性
蛍光発光体層13の間にフレキシブルシート12が存在しな
い方がα線の吸収が少なくなるので発光の読み取り感度
が向上する。

【００４１】図３は、図１の発光読み取り手段２が１つ
の励起光源21と、１つの光検出器22と、スライド機構20
と、スライド用レール23と、遮光ボックス24と、消去ヘ
ッド18とから構成されることを示した図であり、被測定
面を一定時間覆っていた放射線測定シート１を放射線測
定シート保持具４ａに巻き取りながら発光を読み取る一
例を示す図である。

【００４２】スライド機構20は励起光源21と光検出器22
の対を保持しており、放射線測定シート１を横切るよう
に設置したスライド用レール23をＸ方向に自動で移動す
る。励起光源21は放射線測定シート１へ励起光を照射で
きる角度に固定され、光検出器22は励起光を受けた放射
線測定シート１からの輝尽性蛍光発光を受光できる角度
に固定されており、蛍光波長領域の光のみを電気信号に
変換する機能をもっている。

【００４３】励起光源21と光検出器22は外部からの光を
遮断する遮光ボックス24内に収納されているため、光検
出器22は励起光を受けて発光した輝尽性蛍光のみを有効
に検出する。

【００４４】また、発光読み取り後でも放射線測定シー
ト１内に残存する放射線エネルギーは励起光源21と光検
出器22の後方に位置する消去ヘッド18で完全に消去され
る。消去ヘッド18は放射線測定シート１を横断するよう
に設置され励起光源21と同波長の光を照射できる光源を
用いる。

【００４５】次に発光の読み取りおよび読み取り信号の
処理を説明する。放射線測定後、まず、放射線測定シー
ト保持具４ａにより放射線測定シート１をＹ方向の読み
取り開始位置まで移動させる。その状態から、励起光源
21から励起光を照射しながらスライド機構20をＸ方向に
一定速度で走査する。光検出器22は輝尽性蛍光発光を有
効に検出し電気信号に変換して読み取り信号として信号
ケーブル17を通して演算回路10に連続的に出力する。

【００４６】このＸ方向の走査が１回終わると、放射線
測定シート１を放射線測定シート保持具４ａに少し巻き
取り、再びＸ方向の走査を行う。このＹ方向の巻き取り
とそれに続くＸ方向の走査を目的の発光読み取り終了位
置まで繰り返す。演算回路10では、連続的に送られてく
る読み取り信号の強度を一定時間毎に積算した値を順次
メモリ上に格納していく。

【００４７】ここで、Ｙ方向の分割数をｍ個、Ｘ方向の
分割数をｎ個とすると演算回路10にはｍ×ｎ個（チャン
ネル）の二次元メモリが確保される。よって演算回路10
では、一定時間内に入射した読み取り信号の強度積算値
を、Ｙ方向の移動回数とＸ方向の走査時刻に対応するメ
モリチャンネルに格納させることができる。メモリチャ
ンネルは発光位置もしくは区域に相当し、そのメモリチ
ャンネルに格納された値は発光強度に相当する。

【００４８】演算回路10に格納された発光位置情報と発
光強度情報は読み取りを行いながらまたは読み取り終了
後、記録・伝送機構11に転送され、発光区域情報と発光
強度情報から汚染箇所を特定し、かつ予め求めておいた
発光強度と放射能強度との関係より汚染濃度または汚染
密度に換算してデジタル値や汚染マップなどを表示する
かまたは情報を上位の計算機装置等に伝送する。

【００４９】このような発光の読み取り操作において
は、Ｘ方向の走査時間およびＹ方向の移動時間は目標と
する汚染分布評価の位置分解能つまり前記分割数ｍ，ｎ
によって決まるが、蛍光の発光時間が放射線強度によら
ず一定でありかつ瞬時に起こることから発光読み取り時
間は任意に設定できかつその時間は少なくてすむので迅
速な発光読み取り操作を行うことができる。

【００５０】また、放射線測定シート１を巻き取りなが
ら発光の読み取りと残存する放射線エネルギーの消去を
行うことができるので、放射線の検出部である放射線測
定シート１の再生を行えるのみならず発光読み取りが終
了すると同時に次回の測定準備ができる。

【００５１】なお、汚染があった場合、汚染防止シート
３は切り捨ててしまえばよいし、汚染がなかった場合は
汚染防止シート保持具４ｂに汚染防止シート３を巻き取
って再使用することが可能である。

【００５２】図４は、図１の発光読み取り手段２が励起
光源21と、光ファイバケーブル25と、遮光ボックス24
と、一対の光検出器26ａ，26ｂと光入路27と、消去ヘッ
ド18とから構成されることを示した図であり、被測定面
を一定時間覆っていた放射線測定シート１を放射線測定
シート保持具４ａに巻き取りながら発光の読み取りを行
う一例を示す図である。

【００５３】励起光源21は放射線測定シート１を横切っ
て放射線測定シート１へ励起光を照射できる角度に固定
されている。光ファイバケーブル25は励起光を受けた放
射線測定シート１からの輝尽性蛍光発光を受光し両端に
接続された光検出器26ａ，26ｂの両方に光信号を伝達す
るため放射線測定シート１を横切るように固定されてい
る。

【００５４】光検出器26ａ，26ｂは伝達された光信号を
電気信号に変換する機能をもっている。また、光入路27
は発光した輝尽性蛍光が光ファイバケーブル25に入射し
やすい入射角に調節する機能をもつ屈折率の大きい例え
ばガラス系材質で形成されている。

【００５５】励起光源21と光ファイバケーブル25と光検
出器26ａ，26ｂの光受光面は、外部からの光を遮断する
遮光ボックス24内に収納されているため、光ファイバケ
ーブル25は発光した輝尽性蛍光のみを光検出器26ａ，26
ｂへ伝達する。

【００５６】また、図３と同様に、発光読み取り後でも
残存する放射線エネルギーは励起光源21と光検出器22の
後方に位置する消去ヘッド18で完全に消去される。消去
ヘッド18は、放射線測定シート１を横断するように設置
され励起光源21と同波長の光を照射できる光源を用い
る。

【００５７】次に発光の読み取り操作と読み取り信号の
演算処理を説明する。一定時間の放射線測定後、放射線
測定シート１をＹ方向に一定速度で巻き取りながら励起
光源21から励起光を照射する。光ファイバケーブル25を
伝達し光検出器26ａ，26ｂに到達した輝尽性蛍光は電気
信号に変換され読み取り信号として演算回路10に出力さ
れる。演算回路10には放射線測定シート１のＹ方向の巻
き取りが終了するまで多数の電気信号が連続的に入力さ
れることになる。

【００５８】ところで光ファイバケーブル25を伝達した
発光信号は伝達距離に応じてその強度および伝達時間が
変化するため光検出器26ａ，26ｂから出力され演算回路
10に到達した２つの読み取り信号の到達時間と信号強度
は多くの場合互いに異なる。

【００５９】ここで、光ファイバケーブル25を伝達し光
検出器26ａおよび26ｂを経由して演算回路10で観測され
る読み取り信号の到達時間をそれぞれＴａおよびＴｂ、
また信号強度をＩａおよびＩｂとすると、Ｉａ／Ｉｂの
比の値またはＴａ／Ｔｂの比の値は伝達距離情報をもっ
ているので発光位置を特定することができる。

【００６０】ところが、前述のように輝尽性蛍光の発光
は瞬時に起こるため、演算回路10にいは短時間に多量の
信号が入力されることになる。すなわち信号の計数率
（単位時間当たりの信号検出数）が高くなり、出力され
た多数の読み取り信号のなかから光ファイバケーブル25
のある一点に入射し光検出器26ａ，26ｂに向かって分か
れて伝達された真の信号カップルを見つけるのは難し
い。このような高計数率において真の信号カップルを見
つけるにはＩａ／Ｉｂの値とＴａ／Ｔｂの値の両者の相
関関係を利用できる。

【００６１】まず、どちらか一方の光検出器から演算回
路10に出力されたある読み取り信号を基本にして、その
読み取り信号が演算回路10に入力した時刻から所定の時
間内に他方の光検出器を通って演算回路10に入力した個
々の信号についてＩａ／Ｉｂの値とＴａ／Ｔｂの値を計
算する。

【００６２】次に、得られたＩａ／Ｉｂの値とＴａ／Ｔ
ｂの値が予め求めておいたＩａ／Ｉｂの値とＴａ／Ｔｂ
の値の両者の相関関係に合致する２つの読み取り信号を
選び、それら２つの信号のＩａ／Ｉｂの値またはＴａ／
Ｔｂの値から光ファイバケーブル25への発光入射位置を
求めることができる。また、それら２つの信号強度の和
すなわちＩａ＋Ｉｂの値より発光強度を求めることがで
きる。

【００６３】上記の演算は読み取り時間中連続して行わ
れ、得られた演算結果は以下のように処理される。ここ
で、発光読み取り時間ｔ（読み取り開始から終了までの
全時間）をｑ分割したとすると、演算回路10のメモリ上
にｑ個の時間チャンネルを設定する。また、上記Ｉａ／
Ｉｂの値またはＴａ／Ｔｂの値に対応するｒ個の信号比
チャンネルを設定する。この時演算回路10にはｑ×ｒ個
の二次元メモリを確保する。

【００６４】真の信号カップルの演算回路10への到達時
刻（発光読み取り開始からの経過時間）に応じて適当な
時間チャンネルを割り当て、かつＩａ／Ｉｂの値または
Ｔａ／Ｔｂの値に応じて適当な信号比チャンネルを割り
当てる。

【００６５】割り当てられた時間チャンネルおよび信号
比チャンネルに相当する二次元メモリ上にＩａとＩｂの
和の値を格納する。割り当てられたチャンネルのメモリ
上にすでに数値が格納されている場合はすでに格納され
ている数値に新たなＩａとＩｂの和の値を足し合わせ
る。

【００６６】前記時間チャンネルはＹ方向の位置情報を
表し、信号比チャンネルはＸ方向の位置情報を表すの
で、二次元メモリの対応するチャンネルから発光箇所ま
たは区域を特定でき、その二次元メモリに格納された数
値より発光強度を特定することができる。

【００６７】以上のような発光読み取り操作において
は、図３に示す発光読み取り方法に比べＸ方向の走査が
ない分、より迅速な発光の読み取りを行うことができ
る。また、図３と同様に、放射線測定シート１を巻き取
りながら発光の読み取りと残存する放射線エネルギーの
消去を行うので、発光の読み取りが終了すると同時に放
射線検出部である放射線測定シート１を再生できる。

【００６８】さらに、汚染があった場合、汚染防止シー
ト３は切り捨ててしまえばよいし汚染がなかった場合は
汚染防止シート保持具４ｂに汚染防止シート３を巻き取
って再使用することが可能である。

【００６９】本発明の他の実施例として、図５に示すよ
うに発光読み取り手段２をＸ方向に近接して配置した複
数の励起光源21と光検出器22のユニットと、各ユニット
を光学的に独立に保持する分割ボックス28と、全てのユ
ニットを外部の光から遮断する遮光ボックス24と、消去
ヘッド18とから形成し、個々の光検出器22から出力され
る読み取り信号を演算回路10に出力することで、Ｘ方向
の走査を行わないで汚染箇所と汚染濃度または汚染密度
を測定する汚染分布測定装置がある。

【００７０】この装置では図３で説明した方法に比べ励
起光源21と光検出器22の数が増えるが、Ｘ方向の走査を
行わない分、発光の読み取り時間が短縮でき、かつＸ方
向スライド機構という駆動部分がなくなることから装置
の信頼性が向上する。

【００７１】図６は本発明に係る汚染分布測定装置30を
用いて大型機器29の表面の汚染分布測定を行う方法を示
す図である。図に示すように大型機器29の上面を測定す
る場合伸縮アーム５をほぼ水平に倒す必要がある。この
ために放射線測定シート１と汚染防止シート３を引き出
す前に予め伸縮アーム５をある程度水平方向に倒してお
き、その状態から伸縮アーム５を伸長させながらシート
を引き出していき最終的にアーム先端支持具19でアーム
先端を支えることにより装置を安定な状態に保つことが
可能である。

【００７２】また、発光読み取り手段２を装置本体から
切り離して、例えば外部からの遮光が可能な専用の発光
読み取り室に設置して用いることも勿論可能である。こ
の場合、測定現場に持ち込む装置がより簡便になる。測
定現場での汚染分布評価が特に必要なかったり、複数の
測定流量済みの放射線測定シート１をまとめて読み取る
場合に極めて有効かつ合理的な方法となる。

【００７３】

【発明の効果】本発明によれば、輝尽性蛍光発光体層を
もつ薄いフレキシブルな放射線測定シートと輝尽性蛍光
の読み取り手段を備える自動化装置により、被測定面が
大面積で凹凸があるにもかかわらず、かつ対象とする放
射線の線種にかかわらず、一定時間の放射線測定で蓄積
された放射線エネルギーを輝尽性発光の形ですばやく読
み取り汚染マップを作成することで迅速かつ簡単に被測
定面の汚染分布と汚染濃度または汚染密度を測定するこ
とが可能である。

【００７４】また、発光の読み取りと同時に放射線検出
部である放射線測定シートに残存した放射線エネルギー
を消去ヘッドにより消去することができるので、放射線
検出部の迅速な再生が可能となる。さらに、汚染防止シ
ートにより放射線検出部の二次的な汚染を防ぐこともで
きる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る汚染分布測定装置の一実施例を概
略的に示す斜視図。

【図２】図１における放射線検出部を示す断面図。

【図３】図１における励起光源と光検出器を用いた発光
読み取り手段を示す概略構成図。

【図４】図１における励起光源と光ファイバケーブルと
光検出器を用いた発光読み取り手段を示す概略構成図。

【図５】本発明の他の実施例における主に複数の励起光
源と光検出器を用いた発光読み取り手段を示す概略構成
図。

【図６】本発明の他の実施例として大型機器に対応した
装置を概略的に示す斜視図。

【符号の説明】

１…放射線測定シート、２…発光読み取り手段、３…汚
染防止シート、４…シート保持具、４ａ…放射線測定シ
ート保持具、４ｂ…汚染防止シート保持具、５…伸縮ア
ーム、６…支持架台、７…駆動機構、８…装置固定手
段、９…装置移動機構、10…演算回路、11…記録・伝送
機構、12…フレキシブルシート、13…輝尽性蛍光発光体
層、13ａ…発光体層上面、13ｂ…発光体層下面、14…壁
面、15…床面、16…被測定面、17…信号ケーブル、18…
消去ヘッド、19…アーム先端支持具、20…スライド機
構、21…励起光源、22…光検出器、23…スライド用レー
ル、24…遮光ボックス、25…光ファイバケーブル、26
（26ａ，26ｂ）…光検出器、27…光入路、28…分割ボッ
クス、29…大型機器、30…汚染分布測定装置。

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被測定面に存在する放射性物質による汚
   染箇所および汚染濃度または汚染密度を測定する汚染分
   布測定装置において、輝尽性蛍光発光物質を含む透明な
   高分子化合物層からなるフレキシブルシート状の放射線
   測定シートと、この放射線測定シートの前記被測定面に
   よる汚染を防止する汚染防止シートと、この汚染防止シ
   ートと前記放射線測定シートを各々個別に保持・収納す
   るシート保持具と、前記放射線測定シート中に蓄積され
   た放射線エネルギーを輝尽性蛍光の形で取り出すための
   発光読み取り手段と、前記シート保持具を担持する伸縮
   アームと、前記シート保持具および伸縮アームを支える
   支持架台と、前記伸縮アームと前記シート保持具を駆動
   することが可能な駆動機構と、前記支持架台を地面また
   は床面に固定し支える固定手段と、前記発光読み取り手
   段から出力される検出信号を演算処理する演算回路と、
   この演算回路による演算結果を記録または表示または他
   の計算機等の装置へ伝送する記録・伝送手段とを具備す
   ることを特徴とする汚染分布測定装置。
2. 【請求項２】 前記発光読み取り手段は、放射線エネル
   ギーを蓄積した輝尽性蛍光発光物質に励起光を照射し蛍
   光を発光させる励起光源と、発生した蛍光を検知し電気
   信号に変換する光検出器と、この光検出器と前記励起光
   源を外部の光から遮断する遮光手段と、発光の読み取り
   後でも放射線測定シートに残存する放射線エネルギーを
   消去する消去ヘッドとからなることを特徴とする請求項
   １記載の汚染分布測定装置。
3. 【請求項３】 前記発光読み取り手段は、放射線エネル
   ギーを蓄積した輝尽性蛍光発光物質に励起光を照射し蛍
   光を発光させる励起光源と、発光した蛍光を伝達する光
   ファイバケーブルと、この光ファイバケーブルの両端に
   それぞれ接続された光検出器と、この光検出器と前記励
   起光源と前記光ファイバを外部の光から遮断する遮光手
   段と、発光の読み取り後でも放射線測定シートに残存す
   る放射線エネルギーを消去する消去ヘッドとからなるこ
   とを特徴とする請求項１記載の汚染分布測定装置。
4. 【請求項４】 放射線測定シートで被測定面を覆い一定
   時間放置したのち、発光読み取り手段により前記放射線
   測定シートからの発光を検出し出力された読み取り信号
   が演算回路へ到達する時間あるいは読み取り手段の前記
   放射線測定シート上での位置から発光位置を特定し、ま
   た出力された読み取り信号の強度から発光強度を特定
   し、さらに特定された発光位置および発光強度から前記
   演算回路によりそれぞれ汚染箇所および汚染位置を求め
   ることを特徴とする汚染分布測定方法。