JP3518206B2 - 深部線量測定装置 - Google Patents
深部線量測定装置Info
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- G01T1/201—Measuring radiation intensity with scintillation detectors using scintillating fibres
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、電子やＸ線その
他粒子線を用いたがん治療装置の運転条件を決めるため
の人体の深部線量を測定する深部線量測定装置に係わる
ものである。
他粒子線を用いたがん治療装置の運転条件を決めるため
の人体の深部線量を測定する深部線量測定装置に係わる
ものである。
【０００２】
【従来の技術】図８は従来の深部線量分布の測定方法を
示す図である。従来の深部線量測定装置は、水ファント
ム１０４中に配置している電離箱１０２でその地点での
吸収線量を測定し、電離箱を深さ方向およびビーム軸の
水平方向に移動させて吸収線量分布を測定する構造にな
っている。
示す図である。従来の深部線量測定装置は、水ファント
ム１０４中に配置している電離箱１０２でその地点での
吸収線量を測定し、電離箱を深さ方向およびビーム軸の
水平方向に移動させて吸収線量分布を測定する構造にな
っている。
【０００３】従来の深部線量測定装置は上記のように構
成され、粒子線１０１が水ファントム１０４中の電離箱
１０２内の空気を電離し、その電離量を増幅器１０３等
により増幅して測定している。吸収線量分布を測定する
ためには、電離箱１０２を移動して、その都度電離量を
測定する。
成され、粒子線１０１が水ファントム１０４中の電離箱
１０２内の空気を電離し、その電離量を増幅器１０３等
により増幅して測定している。吸収線量分布を測定する
ためには、電離箱１０２を移動して、その都度電離量を
測定する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】深部線量分布を測定す
るためには、水ファントム１０４中にある電離箱１０２
を測定のたびに移動させているため、測定に非常に多く
の時間と手間を要した。さらに３次元の空間線量分布を
測定するためには、膨大な時間と手間を要していた。ま
た、電子線やＸ線などの粒子線照射装置に出力変動が生
じた場合、もう一度はじめから、深部線量を測定しなけ
ればならず、非常に多くの労力を必要とした。
るためには、水ファントム１０４中にある電離箱１０２
を測定のたびに移動させているため、測定に非常に多く
の時間と手間を要した。さらに３次元の空間線量分布を
測定するためには、膨大な時間と手間を要していた。ま
た、電子線やＸ線などの粒子線照射装置に出力変動が生
じた場合、もう一度はじめから、深部線量を測定しなけ
ればならず、非常に多くの労力を必要とした。
【０００５】この発明は上記の問題を解決するためにな
されたものであり、深部線量分布を短時間にかつ高精度
に測定できる深部線量測定装置を提供することを目的と
している。
されたものであり、深部線量分布を短時間にかつ高精度
に測定できる深部線量測定装置を提供することを目的と
している。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明の第１の構成に
係わる深部線量測定装置は、シンチレータを含まない光
ファイバを束ねてブロック状にして構成した検出部と、
この検出部に入射するX線又は粒子線により、この検出
部内で発生するチェレンコフ光の光量の深度分布を、検
出部端面からの光を測定することによって求める画像計
測器と、この画像計測器で得られたチェレンコフ光の光
量の深度分布から、予め求めた、チェレンコフ光量と吸
収線量との相関関係に基づき検出部内での深部吸収線量
分布を求める画像処理装置とを備えたものである。
係わる深部線量測定装置は、シンチレータを含まない光
ファイバを束ねてブロック状にして構成した検出部と、
この検出部に入射するX線又は粒子線により、この検出
部内で発生するチェレンコフ光の光量の深度分布を、検
出部端面からの光を測定することによって求める画像計
測器と、この画像計測器で得られたチェレンコフ光の光
量の深度分布から、予め求めた、チェレンコフ光量と吸
収線量との相関関係に基づき検出部内での深部吸収線量
分布を求める画像処理装置とを備えたものである。
【０００７】この発明の第２の構成に係わる深部線量測
定装置は、シンチレーションファイバとシンチレータを
含まない光ファイバを交互に配置したファイバブロック
の１端からは検出部に入射するX線又は粒子線により、
シンチレーションファイバ内で発生する光のみが取り出
せるようにし、他の１端からはシンチレータを含まない
光ファイバ内で発生する光のみが取り出せるように構成
した検出部と、この前記各端面からの光量をそれぞれ独
立に計測できる画像計測器と、この画像計測器で得られ
た前記各端面からの光量の深度分布の差分を求め、この
差分結果から前記検出部内での深部吸収線量分布を求め
る画像処理装置とを備えたものである。
定装置は、シンチレーションファイバとシンチレータを
含まない光ファイバを交互に配置したファイバブロック
の１端からは検出部に入射するX線又は粒子線により、
シンチレーションファイバ内で発生する光のみが取り出
せるようにし、他の１端からはシンチレータを含まない
光ファイバ内で発生する光のみが取り出せるように構成
した検出部と、この前記各端面からの光量をそれぞれ独
立に計測できる画像計測器と、この画像計測器で得られ
た前記各端面からの光量の深度分布の差分を求め、この
差分結果から前記検出部内での深部吸収線量分布を求め
る画像処理装置とを備えたものである。
【０００８】この発明の第３の構成に係わる深部線量測
定装置は、片端面からシンチレーションファイバとシン
チレータを含まない光ファイバの両方の光が出るように
構成した検出部とし、その端面における光量分布を画像
計測器で測定して、画像処理装置においてシンチレーシ
ョンファイバの光とシンチレータを含まない光ファイバ
の光の差分をとることを特徴とするものである。
定装置は、片端面からシンチレーションファイバとシン
チレータを含まない光ファイバの両方の光が出るように
構成した検出部とし、その端面における光量分布を画像
計測器で測定して、画像処理装置においてシンチレーシ
ョンファイバの光とシンチレータを含まない光ファイバ
の光の差分をとることを特徴とするものである。
【０００９】この発明の第４の構成に係わる深部線量測
定装置は、検出部を、位置分解能に対応する長さのシン
チレーションファイバブロックの両端に、当該ファイバ
と同じ材質で、かつ、当該シンチレーションファイバブ
ロック全長で電子平衡状態を作り出すために必要な長さ
を有する透明プラスティックブロックを配置して構成
し、画像計測器と当該検出部とを空間を介して配置した
ことを特徴とするものである。
定装置は、検出部を、位置分解能に対応する長さのシン
チレーションファイバブロックの両端に、当該ファイバ
と同じ材質で、かつ、当該シンチレーションファイバブ
ロック全長で電子平衡状態を作り出すために必要な長さ
を有する透明プラスティックブロックを配置して構成
し、画像計測器と当該検出部とを空間を介して配置した
ことを特徴とするものである。
【００１０】
【発明の実施の形態】実施の形態１．
以下、この発明の実施の形態を図について説明する。図
１はこの発明の実施の形態１における深部線量測定装置
の構成を示す図である。図において、２０１は電子、Ｘ
線、陽子、重粒子などの粒子線、２０２はシンチレーシ
ョンファイバを束ねてブロック状にした検出部、２０３
はレンズやテーパファイバ（ライトガイド）などの光学
系、２０４は検出部からの光２０８を分光する分光器、
２０５はＣＣＤカメラなどの画像計測器、２０６は取り
込んだ画像を処理する画像処理装置、２０７は画像処理
した結果すなわち吸収線量分布を表示する表示装置であ
る。
１はこの発明の実施の形態１における深部線量測定装置
の構成を示す図である。図において、２０１は電子、Ｘ
線、陽子、重粒子などの粒子線、２０２はシンチレーシ
ョンファイバを束ねてブロック状にした検出部、２０３
はレンズやテーパファイバ（ライトガイド）などの光学
系、２０４は検出部からの光２０８を分光する分光器、
２０５はＣＣＤカメラなどの画像計測器、２０６は取り
込んだ画像を処理する画像処理装置、２０７は画像処理
した結果すなわち吸収線量分布を表示する表示装置であ
る。
【００１１】次に上記のように構成された実施例１の深
部線量測定装置の動作について説明する。まず、粒子線
２０１が検出部２０２に入射し、検出部２０２内で発光
する。この光を検出部の端面に伝送し光学系２０３、分
光器２０４、画像計測器２０５、画像処理装置２０６を
経由して吸収線量分布を表示装置に表示する。検出部２
０２内では、検出部に吸収されたエネルギーに比例した
量のシンチレーション光と、粒子線が検出器内を通過す
る速度に応じたチェレンコフ光を発する。吸収線量を正
確に測定するためには、チェレンコフ光を除去しシンチ
レーション光のみを測定する必要がある。
部線量測定装置の動作について説明する。まず、粒子線
２０１が検出部２０２に入射し、検出部２０２内で発光
する。この光を検出部の端面に伝送し光学系２０３、分
光器２０４、画像計測器２０５、画像処理装置２０６を
経由して吸収線量分布を表示装置に表示する。検出部２
０２内では、検出部に吸収されたエネルギーに比例した
量のシンチレーション光と、粒子線が検出器内を通過す
る速度に応じたチェレンコフ光を発する。吸収線量を正
確に測定するためには、チェレンコフ光を除去しシンチ
レーション光のみを測定する必要がある。
【００１２】シンチレーション光はシンチレータに応じ
た波長の光を発する一方、チェレンコフ光の波長分布は
波長の２乗に反比例し、紫外領域から青色領域までの連
続分布を持っている。青色領域より長い波長領域、例え
ば緑色領域の光を発するシンチレータを選択すると、シ
ンチレーション光とチェレンコフ光の波長が違うため、
分光器２０４で容易に弁別することができる。その結
果、深部線量分布を正確に測定することができる。
た波長の光を発する一方、チェレンコフ光の波長分布は
波長の２乗に反比例し、紫外領域から青色領域までの連
続分布を持っている。青色領域より長い波長領域、例え
ば緑色領域の光を発するシンチレータを選択すると、シ
ンチレーション光とチェレンコフ光の波長が違うため、
分光器２０４で容易に弁別することができる。その結
果、深部線量分布を正確に測定することができる。
【００１３】また、シンチレータの発光波長が青色領域
の場合でも、シンチレータの発光波長領域の近傍でシン
チレータの光量とチェレンコフ光の光量を比較して、シ
ンチレータの光量からチェレンコフ光の光量を差し引く
ことにより、シンチレーション光の光量のみを取り出す
ことができる。その結果、深部線量分布を正確に測定す
ることができる。
の場合でも、シンチレータの発光波長領域の近傍でシン
チレータの光量とチェレンコフ光の光量を比較して、シ
ンチレータの光量からチェレンコフ光の光量を差し引く
ことにより、シンチレーション光の光量のみを取り出す
ことができる。その結果、深部線量分布を正確に測定す
ることができる。
【００１４】実施の形態２
図２はこの発明の実施の形態２における深部線量測定装
置の構成を示す図である。図において、上記実施の形態
１と同様の部分は同一符号を付して個々の説明は省略す
る。上記実施の形態１と異なる部分は、２０９が検出部
のシンチレータの発光波長領域に合致した波長領域の光
のみを透過するバンドパスフィルタで構成されている点
である。
置の構成を示す図である。図において、上記実施の形態
１と同様の部分は同一符号を付して個々の説明は省略す
る。上記実施の形態１と異なる部分は、２０９が検出部
のシンチレータの発光波長領域に合致した波長領域の光
のみを透過するバンドパスフィルタで構成されている点
である。
【００１５】上記のように構成された深部線量測定装置
は、検出部で発光した光のうちシンチレーション光のみ
が画像計測器に入射するので、深部線量分布を正確に測
定することができる。
は、検出部で発光した光のうちシンチレーション光のみ
が画像計測器に入射するので、深部線量分布を正確に測
定することができる。
【００１６】実施の形態３．
図３はこの発明の実施の形態３における深部線量測定装
置の構成を示す図である。図において、検出部２０２
は、通常の光ファイバ２１１とシンチレーションファイ
バ２１２を交互に束ねたファイバブロックである。通常
の光ファイバ２１１とシンチレーションファイバ２１２
の材質は同じもので、蛍光材が添加されているか否かが
異なるだけである。検出部２０２の一端は遮光膜２１０
により通常の光ファイバのみの端面を遮光してシンチレ
ーションファイバからの光のみを画像計測装置２０５ａ
で計測し、もう一端は遮光膜２１０よりシンチレーショ
ンファイバのみの端面を遮光して通常の光ファイバから
の光のみを画像計測装置２０５ｂで計測する。２０５ａ
および２０５ｂの画像出力を画像差分装置２１３によ
り、シンチレーションファイバからの光からチェレンコ
フ光を差し引くことで、シンチレーション光のみを計測
することができる。その結果、深部線量分布を正確に測
定することができる。
置の構成を示す図である。図において、検出部２０２
は、通常の光ファイバ２１１とシンチレーションファイ
バ２１２を交互に束ねたファイバブロックである。通常
の光ファイバ２１１とシンチレーションファイバ２１２
の材質は同じもので、蛍光材が添加されているか否かが
異なるだけである。検出部２０２の一端は遮光膜２１０
により通常の光ファイバのみの端面を遮光してシンチレ
ーションファイバからの光のみを画像計測装置２０５ａ
で計測し、もう一端は遮光膜２１０よりシンチレーショ
ンファイバのみの端面を遮光して通常の光ファイバから
の光のみを画像計測装置２０５ｂで計測する。２０５ａ
および２０５ｂの画像出力を画像差分装置２１３によ
り、シンチレーションファイバからの光からチェレンコ
フ光を差し引くことで、シンチレーション光のみを計測
することができる。その結果、深部線量分布を正確に測
定することができる。
【００１７】実施の形態４．
図４はこの発明の実施の形態４における深部線量測定装
置の構成を示す図である。図において、検出部２０２は
通常の光ファイバ２１１とシンチレーションファイバ２
１２を交互に束ねたファイバブロックである。検出部２
０２の端面からの光を画像計測器２０５で計測する。そ
の結果、シンチレーションファイバの位置における発光
量と通常のファイバの位置における発光量に違いが生
じ、その違いが画像上の表示位置の違いとなり表示され
る。シンチレーションファイバの部分での発光量から、
その近傍の通常のファイバの部分の発光量を画像処理装
置２０６で差し引くことにより、シンチレーションファ
イバからの光からチェレンコフ光を除去することができ
る。その結果、深部線量分布を正確に測定することがで
きる。
置の構成を示す図である。図において、検出部２０２は
通常の光ファイバ２１１とシンチレーションファイバ２
１２を交互に束ねたファイバブロックである。検出部２
０２の端面からの光を画像計測器２０５で計測する。そ
の結果、シンチレーションファイバの位置における発光
量と通常のファイバの位置における発光量に違いが生
じ、その違いが画像上の表示位置の違いとなり表示され
る。シンチレーションファイバの部分での発光量から、
その近傍の通常のファイバの部分の発光量を画像処理装
置２０６で差し引くことにより、シンチレーションファ
イバからの光からチェレンコフ光を除去することができ
る。その結果、深部線量分布を正確に測定することがで
きる。
【００１８】実施の形態５．
図５はこの発明の実施の形態５における深部線量測定装
置の構成を示す図である。図において、上記実施の形態
１と同様の部分は同一符号を付して個々の説明は省略す
る。２１４は通常の光ファイバを束ねてブロック状とし
た検出部である。
置の構成を示す図である。図において、上記実施の形態
１と同様の部分は同一符号を付して個々の説明は省略す
る。２１４は通常の光ファイバを束ねてブロック状とし
た検出部である。
【００１９】上記のように構成された実施の形態５の深
部線量測定装置は、チェレンコフ光のみを計測すること
になり、チェレンコフ光の深部分布を測定する。チェレ
ンコフ光の分布からあらかじめ求めておいたチェレンコ
フ光分布と深部吸収線量分布の相関関係より、チェレン
コフ光の分布から深部線量分布を求めることができ、検
出部の材料コストを低減できる。
部線量測定装置は、チェレンコフ光のみを計測すること
になり、チェレンコフ光の深部分布を測定する。チェレ
ンコフ光の分布からあらかじめ求めておいたチェレンコ
フ光分布と深部吸収線量分布の相関関係より、チェレン
コフ光の分布から深部線量分布を求めることができ、検
出部の材料コストを低減できる。
【００２０】実施の形態６．
図６はこの発明の実施の形態６における深部線量測定装
置の構成を示す図である。図において、２０５は画像計
測器であり、検出部が長さの短いシンチレーションファ
イバブロック２１５および透明プラスティックブロック
２１６より構成されている。透明プラスティックブロッ
ク２１６の材質はシンチレーションファイバブロック２
１５の材質と同じで、検出部２０２全体として均質であ
る。シンチレーションファイバブロック２１５の端面の
光を、透明プラスティックブロックを介して画像計測器
２０５で測定する。シンチレーションファイバブロック
２１５の長さが短いので吸収線量の位置分解能が向上
し、かつシンチレーションファイバブロックの材料コス
トを低減することができる。シンチレーションファイバ
ブロック２１５の長さが短くても両側に透明アクリルブ
ロックが配置されているので、電子平衡状態が保たれて
いることはいうまでもない。
置の構成を示す図である。図において、２０５は画像計
測器であり、検出部が長さの短いシンチレーションファ
イバブロック２１５および透明プラスティックブロック
２１６より構成されている。透明プラスティックブロッ
ク２１６の材質はシンチレーションファイバブロック２
１５の材質と同じで、検出部２０２全体として均質であ
る。シンチレーションファイバブロック２１５の端面の
光を、透明プラスティックブロックを介して画像計測器
２０５で測定する。シンチレーションファイバブロック
２１５の長さが短いので吸収線量の位置分解能が向上
し、かつシンチレーションファイバブロックの材料コス
トを低減することができる。シンチレーションファイバ
ブロック２１５の長さが短くても両側に透明アクリルブ
ロックが配置されているので、電子平衡状態が保たれて
いることはいうまでもない。
【００２１】実施の形態７．
図７はこの発明の実施の形態７における深部線量測定装
置の検出部を示す図である。図において、２１５はシン
チレーションファイバブロック、２１６は透明プラステ
ィックブロックである。シンチレーションファイバブロ
ック２１５の端面からの光をカメラなどの画像計測器で
測定する場合に、この光が透明プラスティックブロック
２１６の側面に反射する成分がある。透明プラスティッ
クブロック２１６の寸法をシンチレーションファイバブ
ロックより１ｃｍ程度大きくすることにより、その反射
成分がカメラなどの画像計測器で撮影したときに撮影領
域から離れるので反射成分を除去して測定することがで
きる。その結果、深部線量分布を正確に測定することが
できる。
置の検出部を示す図である。図において、２１５はシン
チレーションファイバブロック、２１６は透明プラステ
ィックブロックである。シンチレーションファイバブロ
ック２１５の端面からの光をカメラなどの画像計測器で
測定する場合に、この光が透明プラスティックブロック
２１６の側面に反射する成分がある。透明プラスティッ
クブロック２１６の寸法をシンチレーションファイバブ
ロックより１ｃｍ程度大きくすることにより、その反射
成分がカメラなどの画像計測器で撮影したときに撮影領
域から離れるので反射成分を除去して測定することがで
きる。その結果、深部線量分布を正確に測定することが
できる。
【００２２】
【発明の効果】以上のように、この発明の請求項１の深
部線量測定装置は、シンチレータを含まない光ファイバ
を束ねてブロックとした検出部の端面からの光によりチ
ェレンコフ光の分布を測定し、チェレンコフ光分布と深
部線量分布の相関を利用して深部線量分布を測定してい
るので、検出部の材料コストが低減できる。
部線量測定装置は、シンチレータを含まない光ファイバ
を束ねてブロックとした検出部の端面からの光によりチ
ェレンコフ光の分布を測定し、チェレンコフ光分布と深
部線量分布の相関を利用して深部線量分布を測定してい
るので、検出部の材料コストが低減できる。
【００２３】また、この発明の請求項２の深部線量測定
装置は、シンチレーションファイバとシンチレータを含
まない光ファイバを交互に配置したファイバブロックの
１端からは検出部に入射するX線又は粒子線により、シ
ンチレーションファイバ内で 発生する光のみが取り出せ
るようにし、他の１端からはシンチレータを含まない光
ファイバ内で発生する光のみが取り出せるように構成し
た検出部と、この前記各端面からの光量をそれぞれ独立
に計測できる画像計測器と、この画像計測器で得られた
前記各端面からの光量の深度分布の差分を求め、この差
分結果から前記検出部内での深部吸収線量分布を求める
画像処理装置とを備えたものであるから、シンチレーシ
ョン光により深部吸収線量分布を求める際のチェレンコ
フ光の影響を除去することができ、深部線量分布を高精
度に測定することができる。
装置は、シンチレーションファイバとシンチレータを含
まない光ファイバを交互に配置したファイバブロックの
１端からは検出部に入射するX線又は粒子線により、シ
ンチレーションファイバ内で 発生する光のみが取り出せ
るようにし、他の１端からはシンチレータを含まない光
ファイバ内で発生する光のみが取り出せるように構成し
た検出部と、この前記各端面からの光量をそれぞれ独立
に計測できる画像計測器と、この画像計測器で得られた
前記各端面からの光量の深度分布の差分を求め、この差
分結果から前記検出部内での深部吸収線量分布を求める
画像処理装置とを備えたものであるから、シンチレーシ
ョン光により深部吸収線量分布を求める際のチェレンコ
フ光の影響を除去することができ、深部線量分布を高精
度に測定することができる。
【００２４】また、この発明の請求項３の深部線量測定
装置は、この発明の第３の構成に係わる深部線量測定装
置は、片端面からシンチレーションファイバとシンチレ
ータを含まない光ファイバの両方の光が出るように構成
した検出部とし、その端面における光量分布を画像計測
器で測定して、画像処理装置においてシンチレーション
ファイバの光とシンチレータを含まない光ファイバの光
の差分をとるので、シンチレーション光により深部吸収
線量分布を求める際のチェレンコフ光の影響を除去する
ことができ、深部線量分布を高精度に測定することがで
きる。
装置は、この発明の第３の構成に係わる深部線量測定装
置は、片端面からシンチレーションファイバとシンチレ
ータを含まない光ファイバの両方の光が出るように構成
した検出部とし、その端面における光量分布を画像計測
器で測定して、画像処理装置においてシンチレーション
ファイバの光とシンチレータを含まない光ファイバの光
の差分をとるので、シンチレーション光により深部吸収
線量分布を求める際のチェレンコフ光の影響を除去する
ことができ、深部線量分布を高精度に測定することがで
きる。
【００２５】また、この発明の請求項４の深部線量測定
装置は、検出部を、位置分解能に対応する長さのシンチ
レーションファイバブロックの両端に、当該ファイバと
同じ材質で、かつ、当該シンチレーションファイバブロ
ック全長で電子平衡状態を作り出すために必要な長さを
有する透明プラスティックブロックを配置して構成し、
画像計測器と当該検出部とを空間を介して配置したため
に、吸収線量の位置分解能が向上し、かつシンチレーシ
ョンファイバブロックの材料コストを低減することがで
きる。
装置は、検出部を、位置分解能に対応する長さのシンチ
レーションファイバブロックの両端に、当該ファイバと
同じ材質で、かつ、当該シンチレーションファイバブロ
ック全長で電子平衡状態を作り出すために必要な長さを
有する透明プラスティックブロックを配置して構成し、
画像計測器と当該検出部とを空間を介して配置したため
に、吸収線量の位置分解能が向上し、かつシンチレーシ
ョンファイバブロックの材料コストを低減することがで
きる。
【図１】 この発明の実施の形態１における深部線量測
定装置の構成を示す図である。
定装置の構成を示す図である。
【図２】 この発明の実施の形態２における深部線量測
定装置の構成を示す図である。
定装置の構成を示す図である。
【図３】 この発明の実施の形態３における深部線量測
定装置の構成を示す図である。
定装置の構成を示す図である。
【図４】 この発明の実施の形態４における深部線量測
定装置の構成を示す図である。
定装置の構成を示す図である。
【図５】 この発明の実施の形態５における深部線量測
定装置の構成を示す図である。
定装置の構成を示す図である。
【図６】 この発明の実施の形態６における深部線量測
定装置の構成を示す図である。
定装置の構成を示す図である。
【図７】 この発明の実施の形態７における深部線量測
定装置の構成を示す図である。
定装置の構成を示す図である。
【図８】 従来の深部線量測定装置の構成を示す図であ
る。
る。
１０１、２０１ 粒子線、１０２ 電離箱、１０３ 増
幅器、１０４ 水ファントム、２０２ 分光器、２０３
光学系、２０４ 分光器、２０５、２０５ａ、２０５
ｂ 画像計測器、２０６ 画像処理装置、２０７ 表示
装置、２０８ 光、２０９ バンドパスフィルター、２
１０ 遮光膜、２１１ 通常の光ファイバ、２１２ シ
ンチレーションファイバ、２１３ 画像差分装置、２１
４ 通常の光ファイバを束ねてつくったブロック、２１
５ シンチレーションファイバブロック、２１６ 透明
プラスティックブロック
幅器、１０４ 水ファントム、２０２ 分光器、２０３
光学系、２０４ 分光器、２０５、２０５ａ、２０５
ｂ 画像計測器、２０６ 画像処理装置、２０７ 表示
装置、２０８ 光、２０９ バンドパスフィルター、２
１０ 遮光膜、２１１ 通常の光ファイバ、２１２ シ
ンチレーションファイバ、２１３ 画像差分装置、２１
４ 通常の光ファイバを束ねてつくったブロック、２１
５ シンチレーションファイバブロック、２１６ 透明
プラスティックブロック
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 寺谷 英作
東京都千代田区丸の内二丁目２番３号
三菱電機株式会社内
(72)発明者 妹尾 聡
東京都千代田区大手町二丁目６番２号
三菱電機エンジニアリング株式会社内
(56)参考文献 特開 平４−274792（ＪＰ，Ａ)
特開 平６−214035（ＪＰ，Ａ)
特開 平８−21879（ＪＰ，Ａ)
特開 昭63−238586（ＪＰ，Ａ)
特開 平６−201835（ＪＰ，Ａ)
特開 平８−226973（ＪＰ，Ａ)
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
G01T 1/00 - 7/12
Claims (4)
- 【請求項１】 シンチレータを含まない光ファイバを束
ねてブロック状にして構成した検出部と、この検出部に
入射するX線又は粒子線により、この検出部内で発生す
るチェレンコフ光の深度分布を、この検出部端面からの
光を測定することによって求める画像計測器と、この画
像計測器で得られたチェレンコフ光の光量の深度分布か
ら、予め求めた、チェレンコフ光分布と深部吸収線量分
布との相関関係に基づき深部吸収線量分布を求める画像
処理装置とを備えた深部線量測定装置。 - 【請求項２】 シンチレーションファイバとシンチレー
タを含まない光ファイバを交互に配置したファイバブロ
ックの１端からは検出部に入射するX線又は粒子線によ
り、シンチレーションファイバ内で発生する光のみが取
り出せるようにし、他の１端からはシンチレータを含ま
ない光ファイバ内で発生する光のみが取り出せるように
構成した検出部と、この前記各端面からの光量をそれぞ
れ独立に計測できる画像計測器と、この画像計測器で得
られた前記各端面からの光量の深度分布の差分を求め、
この差分結果から前記検出部内での深部吸収線量分布を
求める画像処理装置とを備えた深部線量測定装置。 - 【請求項３】 片端面からシンチレーションファイバと
シンチレータを含まない光ファイバの両方の光が出るよ
うに構成した検出部とし、その端面における光量分布を
画像計測器で測定して、画像処理装置においてシンチレ
ーションファイバの光とシンチレータを含まない光ファ
イバの光の差分をとることを特徴とする請求項２に記載
の深部線量測定装置。 - 【請求項４】 検出部を、位置分解能に対応する長さの
シンチレーションファイバブロックの両端に、当該ファ
イバと同じ材質で、かつ、当該シンチレーションファイ
バブロック全長で電子平衡状態を作り出すために必要な
長さを有する透明プラスティックブロックを配置して構
成し、画像計測器と当該検出部とを空間を介して配置し
たことを特徴とする請求項１に記載の深部線量測定装
置。
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