JPH0734085B2 - 絞り込み測光方式のカメラ - Google Patents
絞り込み測光方式のカメラInfo
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- JPH0734085B2 JPH0734085B2 JP17366383A JP17366383A JPH0734085B2 JP H0734085 B2 JPH0734085 B2 JP H0734085B2 JP 17366383 A JP17366383 A JP 17366383A JP 17366383 A JP17366383 A JP 17366383A JP H0734085 B2 JPH0734085 B2 JP H0734085B2
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-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B7/00—Control of exposure by setting shutters, diaphragms or filters, separately or conjointly
- G03B7/08—Control effected solely on the basis of the response, to the intensity of the light received by the camera, of a built-in light-sensitive device
- G03B7/091—Digital circuits
- G03B7/097—Digital circuits for control of both exposure time and aperture
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Exposure Control For Cameras (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 (発明の技術分野) 本発明は自動露出制御装置等に用いられる絞り込み測光
方式のカメラに関し、特に、瞬間絞り込み測光によつて
絞りやシヤツターを制御する方式の装置において、測光
光学系に起因する露出誤差を補正する装置に関する。
方式のカメラに関し、特に、瞬間絞り込み測光によつて
絞りやシヤツターを制御する方式の装置において、測光
光学系に起因する露出誤差を補正する装置に関する。
(発明の背景) 自動露出を行なう時のTTL測光方式には大きく分けて開
放測光方式と絞り込み測光方式が知られている。又、最
近は、マルチモードのカメラを実現するために、フアイ
ンダー内表示は開放測光で行ない、シヤツタ釦を押下げ
た直後の一瞬の間に絞りを絞り込んで再度測光し絞り制
御やシヤツタ制御を行なう、いわゆる「瞬間絞り込み測
光方式」による制御も行なわれている。尚、この瞬間絞
り込み測光も絞り込み測光の一例であることはいうまで
もない。これらのTTL測光方式によつて露出制御を行な
う場合、測光光電流とフイルム面の照度とが1対1に対
応することが前提となるが、フイルム面には直接撮影レ
ンズにより像が結像されるのに対して、受光素子には、
撮影レンズ、スクリーン、コンデンサレンズ、ペンタプ
リズム、そして受光素子に像を結ぶための光学系を介し
た光により像が形成される。したがつて測光光電流とフ
イルム面照度との線形性が保ちにくいのが実情である。
特に近年はカメラの小型軽量化のため、コンデンサレン
ズ等が省かれたり、フアインダーを明るくするためスク
リーンの拡散特性が変わり、露出制御時の誤差の増えや
すい状況にある。
放測光方式と絞り込み測光方式が知られている。又、最
近は、マルチモードのカメラを実現するために、フアイ
ンダー内表示は開放測光で行ない、シヤツタ釦を押下げ
た直後の一瞬の間に絞りを絞り込んで再度測光し絞り制
御やシヤツタ制御を行なう、いわゆる「瞬間絞り込み測
光方式」による制御も行なわれている。尚、この瞬間絞
り込み測光も絞り込み測光の一例であることはいうまで
もない。これらのTTL測光方式によつて露出制御を行な
う場合、測光光電流とフイルム面の照度とが1対1に対
応することが前提となるが、フイルム面には直接撮影レ
ンズにより像が結像されるのに対して、受光素子には、
撮影レンズ、スクリーン、コンデンサレンズ、ペンタプ
リズム、そして受光素子に像を結ぶための光学系を介し
た光により像が形成される。したがつて測光光電流とフ
イルム面照度との線形性が保ちにくいのが実情である。
特に近年はカメラの小型軽量化のため、コンデンサレン
ズ等が省かれたり、フアインダーを明るくするためスク
リーンの拡散特性が変わり、露出制御時の誤差の増えや
すい状況にある。
(発明の目的) 本発明はこのようにTTL測光時のフイルム面照度と測光
光電流の線形性の保ちにくい状況においても、適切な補
正を行なうことにより露出誤差の少ないカメラを実現す
ることを目的とする。
光電流の線形性の保ちにくい状況においても、適切な補
正を行なうことにより露出誤差の少ないカメラを実現す
ることを目的とする。
(実施例) 第1図は本発明の対象となる測光光学系の一例である。
1は撮影レンズ、2は絞り、3はクイツクリターン・ミ
ラー、4はシヤツター、5はフイルム面、6はフアイン
ダー・スクリーン、7はペンタプリズム、8は三角プリ
ズム、9は集光レンズ、そして10は測光用の受光素子で
ある。部材8、9、10は接眼レンズ(図示せず)の両脇
に1組配置されている。尚、本装置ではコンデンサレン
ズが省略されている。撮影時にはクイツクリターンミラ
ー3がアツプして、シヤツタ4が開くことにより、被写
界光はレンズ1と絞り2のみを通つてフイルム面5に到
達する。一方、測光時には、レンズ1、絞り2、ミラー
3、スクリーン6、ペンタプリズム7、三角プリズム
8、そして集光レンズ9を通つた光が受光素子10に到達
する。このように測光時には、経路が増えるため、絞り
込み測光(いわゆる「絞り込み測光」といわゆる「瞬間
絞り込み測光」とを含む)を行なう時には受光素子の出
力とフイルム面の照度との対応関係、すなわち線形性に
誤差が発生してくる。第2図は第1図の測光系を有する
カメラで絞り込み測光を行なう場合において、絞りとシ
ヤツタを適正露出を得るとされた絞り値とシヤツタ速度
値にそれぞれ制御した時の実際の露光量誤差を示してい
る。同図より絞り値を変えてゆくことにより露光量誤差
が変化することがわかる。これは後述する如く、適正露
出を得るとされた測光出力が、絞り値とともに変化する
出力誤差を含んでいること、に起因するものである。以
下第2図について詳述する。同図において、F1.4のとき
は誤差はないが、F2、F2.8と絞りを絞るにつれて露光量
誤差がアンダー側へ−0.4〔EV〕ほど生じ、再びF5.6付
近で元にもどり、F8、F11と絞るにつれて今度は露光量
誤差がオーバー側に0.2〔EV〕ほど生ずる。この特性は
撮影レンズを別の変換レンズに変えてもほとんど変らず
露光時の絞り値そのものに関係している。開放絞り値が
F2、F2.8のレンズであれば、第2図のF2、F2.8のところ
から点線で示すF22、F32までの変化となる。このように
変換レンズの種類が変わつても絞り値によつてほぼ特性
が定まる理由は次のように考えられる。第3図は第1図
の測光系を展開した光学系の概略で、1がレンズ、2が
絞り、6がスクリーン、10が受光素子、そして11が接眼
レンズである。FナンバーFNOは有効口径Dと焦点距離
Fとによつて FNO=F/D と定まる。よつてFナンバーFNOによつてスクリーン6
での拡散の仕方が定まり、受光素子10への光の影響は同
様に定まるので、第2図のような特性が、レンズによら
ないものとなる。
1は撮影レンズ、2は絞り、3はクイツクリターン・ミ
ラー、4はシヤツター、5はフイルム面、6はフアイン
ダー・スクリーン、7はペンタプリズム、8は三角プリ
ズム、9は集光レンズ、そして10は測光用の受光素子で
ある。部材8、9、10は接眼レンズ(図示せず)の両脇
に1組配置されている。尚、本装置ではコンデンサレン
ズが省略されている。撮影時にはクイツクリターンミラ
ー3がアツプして、シヤツタ4が開くことにより、被写
界光はレンズ1と絞り2のみを通つてフイルム面5に到
達する。一方、測光時には、レンズ1、絞り2、ミラー
3、スクリーン6、ペンタプリズム7、三角プリズム
8、そして集光レンズ9を通つた光が受光素子10に到達
する。このように測光時には、経路が増えるため、絞り
込み測光(いわゆる「絞り込み測光」といわゆる「瞬間
絞り込み測光」とを含む)を行なう時には受光素子の出
力とフイルム面の照度との対応関係、すなわち線形性に
誤差が発生してくる。第2図は第1図の測光系を有する
カメラで絞り込み測光を行なう場合において、絞りとシ
ヤツタを適正露出を得るとされた絞り値とシヤツタ速度
値にそれぞれ制御した時の実際の露光量誤差を示してい
る。同図より絞り値を変えてゆくことにより露光量誤差
が変化することがわかる。これは後述する如く、適正露
出を得るとされた測光出力が、絞り値とともに変化する
出力誤差を含んでいること、に起因するものである。以
下第2図について詳述する。同図において、F1.4のとき
は誤差はないが、F2、F2.8と絞りを絞るにつれて露光量
誤差がアンダー側へ−0.4〔EV〕ほど生じ、再びF5.6付
近で元にもどり、F8、F11と絞るにつれて今度は露光量
誤差がオーバー側に0.2〔EV〕ほど生ずる。この特性は
撮影レンズを別の変換レンズに変えてもほとんど変らず
露光時の絞り値そのものに関係している。開放絞り値が
F2、F2.8のレンズであれば、第2図のF2、F2.8のところ
から点線で示すF22、F32までの変化となる。このように
変換レンズの種類が変わつても絞り値によつてほぼ特性
が定まる理由は次のように考えられる。第3図は第1図
の測光系を展開した光学系の概略で、1がレンズ、2が
絞り、6がスクリーン、10が受光素子、そして11が接眼
レンズである。FナンバーFNOは有効口径Dと焦点距離
Fとによつて FNO=F/D と定まる。よつてFナンバーFNOによつてスクリーン6
での拡散の仕方が定まり、受光素子10への光の影響は同
様に定まるので、第2図のような特性が、レンズによら
ないものとなる。
第4図は両優先方式のカメラにおいて瞬間絞り込み測光
を行なう自動露出制御装置の一例のブロツク図である。
20は前述した受光素子10を含む測光回路でレリーズ前の
表示演算を行なうときには(BV−AVO)に対応した測光
出力が得られ、絞り込み過程では(BV−AV)に対応した
測光出力が得られる。ここでBVは被写体の輝度値であ
り、AVは絞り込み途中の絞り値そして、AVOは開放絞り
値を示す。21はフイルム感度設定手段でフイルム感度値
SVに対応した出力を、22はシヤツタダイヤルを含むシヤ
ツタ速度設定手段で、設定シヤツタ速度値TVMに対応し
た出力を発生する。23と24はそれぞれ開放絞り値設定手
段と絞り環を含む絞り込み段数設定手段で、装着したレ
ンズの開放絞り値AVOと設定絞り込み段数(AVM−AVO)
に対応した出力を発生する。AVMは絞り環等により設定
した絞り値である。25は露出制御モード設定手段で、シ
ヤツタ優先モード(Sモード)のとき1、絞り優先モー
ド(Aモード)のとき0となる。
を行なう自動露出制御装置の一例のブロツク図である。
20は前述した受光素子10を含む測光回路でレリーズ前の
表示演算を行なうときには(BV−AVO)に対応した測光
出力が得られ、絞り込み過程では(BV−AV)に対応した
測光出力が得られる。ここでBVは被写体の輝度値であ
り、AVは絞り込み途中の絞り値そして、AVOは開放絞り
値を示す。21はフイルム感度設定手段でフイルム感度値
SVに対応した出力を、22はシヤツタダイヤルを含むシヤ
ツタ速度設定手段で、設定シヤツタ速度値TVMに対応し
た出力を発生する。23と24はそれぞれ開放絞り値設定手
段と絞り環を含む絞り込み段数設定手段で、装着したレ
ンズの開放絞り値AVOと設定絞り込み段数(AVM−AVO)
に対応した出力を発生する。AVMは絞り環等により設定
した絞り値である。25は露出制御モード設定手段で、シ
ヤツタ優先モード(Sモード)のとき1、絞り優先モー
ド(Aモード)のとき0となる。
26は第1の演算回路で、測光回路20の測光出力(BV−AV
O)とフイルム感度設定手段のフイルム感度値SVの加算
をし、 (BV−AVO)+(SV)=(BV+SV)−AVO =LV−AVO …(1) を得る。ここで、LVは光値(Light Value)とよばれる
もので LV=BV+SV …(2) の関係がある。
O)とフイルム感度設定手段のフイルム感度値SVの加算
をし、 (BV−AVO)+(SV)=(BV+SV)−AVO =LV−AVO …(1) を得る。ここで、LVは光値(Light Value)とよばれる
もので LV=BV+SV …(2) の関係がある。
27は第2の演算回路で、第1の演算回路26の出力(LV−
AVO)と設定手段24の絞り込み段数(AVM−AVO)とを入
力とし、 (LV−AVO)−(AVM−AVO)=LV−AVM =TVS …(3) の演算をし、設定絞り値AVMに対して適正露出を得る制
御シヤツタ速度値であるTVSを算出する。一方第3の演
算回路28は演算回路26の出力(LV−AVO)と設定手段23
の開放絞り値AVOと設定手段22の設定シヤツタ速度値TVM
とによつて、 (LV−AVO)+(AVO)−(TVM)=LV−TVM =AVS …(4) の演算をし、設定シヤツタ速度TVMに対して適正露出を
得る制御絞り値であるAVSを算出する。
AVO)と設定手段24の絞り込み段数(AVM−AVO)とを入
力とし、 (LV−AVO)−(AVM−AVO)=LV−AVM =TVS …(3) の演算をし、設定絞り値AVMに対して適正露出を得る制
御シヤツタ速度値であるTVSを算出する。一方第3の演
算回路28は演算回路26の出力(LV−AVO)と設定手段23
の開放絞り値AVOと設定手段22の設定シヤツタ速度値TVM
とによつて、 (LV−AVO)+(AVO)−(TVM)=LV−TVM =AVS …(4) の演算をし、設定シヤツタ速度TVMに対して適正露出を
得る制御絞り値であるAVSを算出する。
ゲート手段29はAモードとなつて設定手段25のモード信
号が「0」のとき開となり、演算手段27の出力TVSが表
示手段31に伝達され、表示手段31はモード信号の「0」
によつて制御シヤツタ速度値の表示を行なう。
号が「0」のとき開となり、演算手段27の出力TVSが表
示手段31に伝達され、表示手段31はモード信号の「0」
によつて制御シヤツタ速度値の表示を行なう。
ゲート手段30はSモードとなつて設定手段25のモード信
号が「1」のとき開となつて、演算手段28の出力AVSが
表示手段31に伝達され、表示手段31はモード信号の
「1」によつて制御絞り値の表示を行なう。
号が「1」のとき開となつて、演算手段28の出力AVSが
表示手段31に伝達され、表示手段31はモード信号の
「1」によつて制御絞り値の表示を行なう。
32は第4の演算回路で、設定手段21、22のフイルム感度
値SVとシヤツタ速度値TVMの演算をし、(TVM−SV)を出
力する。
値SVとシヤツタ速度値TVMの演算をし、(TVM−SV)を出
力する。
33は絞り制御手段で、Sモードの時に絞り込み途中で任
意の絞り値で絞り込みの停止を行ない所定の絞り値に制
御する。Aモードのときは設定手段25のモード信号が
「0」となつて作動しないので、絞りは従来公知の機構
(不図示)により絞り環でプリセツトした絞り値AVMま
で絞り込まれるものとする。絞り制御手段33はSモード
のとき、設定手段25のモード信号が「1」となつて作動
状態となる。したがつて絞り制御手段33には演算手段32
の出力(TVM−SV)と測光回路の絞り込み途中の測光出
力(BV−AV)が入力し、この制御手段33は両者の比較を
行ない BV−AV=TVM−SV …(5) となつた時に絞り込みの停止を行なう。(5)式が成り
立つ時のAVをAVSとすると BV+SV=TVM+AVS …(6) となり、このときのAVSが設定シヤツタ速度値TVMに対す
る適正絞り値となりただしこのTVMとAVSによる露光量は
第2図に示した露光量誤差を含むものである。演算手段
28の表示の為の出力AVSに対応する。
意の絞り値で絞り込みの停止を行ない所定の絞り値に制
御する。Aモードのときは設定手段25のモード信号が
「0」となつて作動しないので、絞りは従来公知の機構
(不図示)により絞り環でプリセツトした絞り値AVMま
で絞り込まれるものとする。絞り制御手段33はSモード
のとき、設定手段25のモード信号が「1」となつて作動
状態となる。したがつて絞り制御手段33には演算手段32
の出力(TVM−SV)と測光回路の絞り込み途中の測光出
力(BV−AV)が入力し、この制御手段33は両者の比較を
行ない BV−AV=TVM−SV …(5) となつた時に絞り込みの停止を行なう。(5)式が成り
立つ時のAVをAVSとすると BV+SV=TVM+AVS …(6) となり、このときのAVSが設定シヤツタ速度値TVMに対す
る適正絞り値となりただしこのTVMとAVSによる露光量は
第2図に示した露光量誤差を含むものである。演算手段
28の表示の為の出力AVSに対応する。
第5演算手段34は測光出力20の絞り込み完了後のAモー
ド時の測光出力(BV−AVM)あるいはSモード時の測光
出力(BV−AVS)と設定手段21のフイルム感度値SVとの
次式のような演算を行なう。すなわちAモードの時に
は、絞りは不図示の機構により設定絞り値AVMまで絞り
込まれ、 (BV−AVM)+SV=(BV+SV)−AVM=LV−AVM =TVS …(7) となり、設定絞り値AVMに対して適正露出を得るとされ
るシヤツタ速度値TVSとなる(ただし、このAVMとTVSに
よる露光量は第2図に示した露光量誤差を含むものであ
る)。このTVSは演算手段27の表示の為の出力TVSと対応
する。
ド時の測光出力(BV−AVM)あるいはSモード時の測光
出力(BV−AVS)と設定手段21のフイルム感度値SVとの
次式のような演算を行なう。すなわちAモードの時に
は、絞りは不図示の機構により設定絞り値AVMまで絞り
込まれ、 (BV−AVM)+SV=(BV+SV)−AVM=LV−AVM =TVS …(7) となり、設定絞り値AVMに対して適正露出を得るとされ
るシヤツタ速度値TVSとなる(ただし、このAVMとTVSに
よる露光量は第2図に示した露光量誤差を含むものであ
る)。このTVSは演算手段27の表示の為の出力TVSと対応
する。
尚、Sモードのときには絞りはAVSまで絞り込まれ、演
算手段34は (BV−AVS)+SV=(BV+SV)−AVS =TVM …(8) を出力するようになる。これは、(6)式より、設定し
たシヤツタ速度値TVMに対応したものである。
算手段34は (BV−AVS)+SV=(BV+SV)−AVS =TVM …(8) を出力するようになる。これは、(6)式より、設定し
たシヤツタ速度値TVMに対応したものである。
35はメモリ回路でクイツクリターンミラーアツプ3直前
の演算手段34の出力TVS(あるいはTVM)を記憶する。36
は公知のシヤツタ速度制御回路でメモリ回路35に記憶さ
れたTVMあるいはTVSに従つたシヤツタ速度の制御を行な
う。
の演算手段34の出力TVS(あるいはTVM)を記憶する。36
は公知のシヤツタ速度制御回路でメモリ回路35に記憶さ
れたTVMあるいはTVSに従つたシヤツタ速度の制御を行な
う。
このような瞬間絞り込み測光方式の制御を行なうカメラ
の特徴は、交換レンズに新らたな連動ピンを必要としな
いために幅広いレンズが使用出来るばかりでなく、絞り
制御時の実際に制御される絞り値に基づいて露出を制御
するので、露光量の誤差が少ない、すなわち適正露出を
得やすいという点である。
の特徴は、交換レンズに新らたな連動ピンを必要としな
いために幅広いレンズが使用出来るばかりでなく、絞り
制御時の実際に制御される絞り値に基づいて露出を制御
するので、露光量の誤差が少ない、すなわち適正露出を
得やすいという点である。
しかしながら上述したような瞬間絞り込み測光方式も含
めて、絞り込み測光方式のカメラでは、第2図で説明し
たような絞り値に応じて変化する露光量誤差が生じてい
たにもかかわらず、これを考慮して露出を制御するもの
はなかつた。本発明はこのような露光量誤差をなくそう
とするものである。
めて、絞り込み測光方式のカメラでは、第2図で説明し
たような絞り値に応じて変化する露光量誤差が生じてい
たにもかかわらず、これを考慮して露出を制御するもの
はなかつた。本発明はこのような露光量誤差をなくそう
とするものである。
第5図は本発明の実施例のブロツク図である。部材20〜
36については第4図のそれと同じ機能を有しており、新
らたに部材37〜40が加わつている。演算手段37は設定手
段23と24の開放絞り値AVOと設定絞り込み段数(AVM−AV
O)を加算し、設定絞り値AVMを算出する。ゲート手段38
はAモードとなつて設定手段25のモード信号が「0」の
とき開となり補正値発生手段39へ設定絞り値AVMを伝達
する。一方Sモードのときは、設定手段25のモード信号
が「1」となつてゲート手段30が開となることにより演
算手段28の出力AVSが補正値発生手段39へ伝達される。
このように補正値発生手段39にはモードによつて設定絞
り値AVMあるいは制御絞り値AVSが伝達される。補正値発
生手段39は絞り値(AVMあるいはAVS)の関数である補正
値αを発生する。補正演算手段40は設定手段21のフイル
ム感度値SVと補正値発生手段39の出力αの加算をし、SV
+αを発生する。
36については第4図のそれと同じ機能を有しており、新
らたに部材37〜40が加わつている。演算手段37は設定手
段23と24の開放絞り値AVOと設定絞り込み段数(AVM−AV
O)を加算し、設定絞り値AVMを算出する。ゲート手段38
はAモードとなつて設定手段25のモード信号が「0」の
とき開となり補正値発生手段39へ設定絞り値AVMを伝達
する。一方Sモードのときは、設定手段25のモード信号
が「1」となつてゲート手段30が開となることにより演
算手段28の出力AVSが補正値発生手段39へ伝達される。
このように補正値発生手段39にはモードによつて設定絞
り値AVMあるいは制御絞り値AVSが伝達される。補正値発
生手段39は絞り値(AVMあるいはAVS)の関数である補正
値αを発生する。補正演算手段40は設定手段21のフイル
ム感度値SVと補正値発生手段39の出力αの加算をし、SV
+αを発生する。
第6図は第2図の露光量誤差の幅を低減させるための方
法を示すものである。点線は第2図に対応したものであ
る。
法を示すものである。点線は第2図に対応したものであ
る。
から まで+1/3〔EV〕オーバー側へ露光量をシフトさせるこ
とにより露光量誤差の変化幅は減少する。第2図では変
化幅が−0.4〜+0.2〔EV〕まで0.6〔EV〕の幅になつて
いるのに対して第6図では−0.1〜+0.2〔EV〕までの0.
3〔EV〕の幅におさまつている。第5図の補正値発生手
段39と演算手段40はまさに第6図実線の如く露光量の補
正操作を行なうためのものである。すなわち、補正値発
生手段39は絞り値(AVSあるいはAVM)によつて の値を発生する。
とにより露光量誤差の変化幅は減少する。第2図では変
化幅が−0.4〜+0.2〔EV〕まで0.6〔EV〕の幅になつて
いるのに対して第6図では−0.1〜+0.2〔EV〕までの0.
3〔EV〕の幅におさまつている。第5図の補正値発生手
段39と演算手段40はまさに第6図実線の如く露光量の補
正操作を行なうためのものである。すなわち、補正値発
生手段39は絞り値(AVSあるいはAVM)によつて の値を発生する。
演算手段40は設定手段21のフイルム感度値SVに補正値α
を加算するが、α=−1/3を加算することによりフイル
ム感度値を低下せしめ露光量をオーバー側に補正するも
のである。
を加算するが、α=−1/3を加算することによりフイル
ム感度値を低下せしめ露光量をオーバー側に補正するも
のである。
以上のようにフイルム感度値に補正を加えることにより
露出の補正を行なうので、Aモードにおいてはシヤツタ
速度は第6図の実線のような露光量になる如く制御され
る。又、Sモードの時には絞りが第6図の実線のような
露光量になる如く制御されてシヤツタ速度が設定値に制
御される。よつてAモード、Sモードどちらも露光量と
しては第6図のように制御されるので、第2図のように
制御される第4図の回路と比べて露光量の誤差が改善さ
れることになる。以上の過程にもう少し説明を加えると
次のようになる。
露出の補正を行なうので、Aモードにおいてはシヤツタ
速度は第6図の実線のような露光量になる如く制御され
る。又、Sモードの時には絞りが第6図の実線のような
露光量になる如く制御されてシヤツタ速度が設定値に制
御される。よつてAモード、Sモードどちらも露光量と
しては第6図のように制御されるので、第2図のように
制御される第4図の回路と比べて露光量の誤差が改善さ
れることになる。以上の過程にもう少し説明を加えると
次のようになる。
Aモードにおいては絞りは不図示の機械的機構により設
定絞り値AVMまで絞り込まれるので絞り制御の測光出力
は(BV−AVM)となる。一方演算手段40の出力は(SV+
α)となるので、演算手段34の出力は、(7)式に対し
て (BV−AVM)+(SV+α)=(BV+SV)−AVM+α =LV−AVM+α =TVS *+α …(12) となる。このようにシヤツタ速度はTVS *で制御される。
ここでTVS *は補正されたすなわち第6図に示した露光量
を得る為の値である。よつて となつて(10)式が成り立つ時はα=−1/3となつてシ
ヤツタ速度値が前述したTVよりも だけ低速にシフトすることにより、露光量がオーバー側
に補正される。
定絞り値AVMまで絞り込まれるので絞り制御の測光出力
は(BV−AVM)となる。一方演算手段40の出力は(SV+
α)となるので、演算手段34の出力は、(7)式に対し
て (BV−AVM)+(SV+α)=(BV+SV)−AVM+α =LV−AVM+α =TVS *+α …(12) となる。このようにシヤツタ速度はTVS *で制御される。
ここでTVS *は補正されたすなわち第6図に示した露光量
を得る為の値である。よつて となつて(10)式が成り立つ時はα=−1/3となつてシ
ヤツタ速度値が前述したTVよりも だけ低速にシフトすることにより、露光量がオーバー側
に補正される。
Sモードの時には絞り制御手段33には、演算手段32の出
力(TVM−SV−α)と、測光回路20からは絞り込み過程
の測光出力(BV−AV)が入力し、(5)式に対応して、 BV−AV=TVM−SV−α …(13) が成り立つ時のAVをAVS *とすると、次式が得られる。こ
こでAVS *は補正された値である。
力(TVM−SV−α)と、測光回路20からは絞り込み過程
の測光出力(BV−AV)が入力し、(5)式に対応して、 BV−AV=TVM−SV−α …(13) が成り立つ時のAVをAVS *とすると、次式が得られる。こ
こでAVS *は補正された値である。
BV+SV=TVM+(AVS *−α) …(14) このように絞り値はAVS *で制御される。この制御絞り値
AVS *は第6図に示した露光量を得る為の値である。よつ
て となつて(10)式が成り立つ時にはα=−1/3となるの
で、(6)式と(14)式を比較すると実際に制御される
絞り値AVS *は適正露出を得るとされた制御絞り値AVSよ
りも1/3〔EV〕分だけ小さくなる。すなわち1/3〔EV〕分
だけ開く方向に補正されて制御される。一方絞り制御後
における測光回路20の測光出力は補正後の絞り値AVS *に
基づいて(BV−AVS *)となるので、演算手段34の出力は
演算手段40の(SV+α)と加算され、(8)式に対して (BV−AVS *)+SV+α=(BV+SV)−AVS *+α =TVM …(15) となる。これは(14)式より設定した設定シヤツタ速度
値TVMに対応したものとなる。
AVS *は第6図に示した露光量を得る為の値である。よつ
て となつて(10)式が成り立つ時にはα=−1/3となるの
で、(6)式と(14)式を比較すると実際に制御される
絞り値AVS *は適正露出を得るとされた制御絞り値AVSよ
りも1/3〔EV〕分だけ小さくなる。すなわち1/3〔EV〕分
だけ開く方向に補正されて制御される。一方絞り制御後
における測光回路20の測光出力は補正後の絞り値AVS *に
基づいて(BV−AVS *)となるので、演算手段34の出力は
演算手段40の(SV+α)と加算され、(8)式に対して (BV−AVS *)+SV+α=(BV+SV)−AVS *+α =TVM …(15) となる。これは(14)式より設定した設定シヤツタ速度
値TVMに対応したものとなる。
以上のように、Sモードではシヤツタ速度は設定した値
に制御され絞りの変化に対応して露光量が変化すること
になる。
に制御され絞りの変化に対応して露光量が変化すること
になる。
以上のようにして絞り値あるいはシヤツタ速度値が制御
され、第6図に示した露光量の補正がなされる。
され、第6図に示した露光量の補正がなされる。
第7図は第5図に示した実施例の第1の具体例を示すブ
ロツク図である。このブロツク図の内容は第9図のフロ
ーチヤートによつて明確化される。
ロツク図である。このブロツク図の内容は第9図のフロ
ーチヤートによつて明確化される。
測光回路100は公知の構成で、レンズ1、絞り2を通つ
た光を測光する。レリーズ前の開放時にはBV−AVOであ
り、絞り2が絞り込まれた状態ではBV−AVに対応した出
力を発生する。101〜104はそれぞれフイルム感度SV、開
放絞り値AVO、設定絞り込み段数AVM−AVO、設定シヤツ
タ速度、TVMの設定手段になつており、それぞれ設定値
に対応したアナログ量を発生する。110はアナログスイ
ツチ回路でマイクロコンピユータユニツト200(以下MCU
200と言う)のP2〜P0端子によつて設定される“5"、
“4"、“3"、…、“0"によつて対応する入力端子“5"〜
“0"のアナログ量が“OUT"端子に伝達される。111は6
ビツトのA/D変換器でアナログスイツチ回路110で選択さ
れたアナログ量をデイジタル量に変換して上位2ビツト
をMCUのR9、R8端子へ下位4ビツトをK3〜K0端子に伝達
する。112は6ビツトのD/A変換器でMCU200のR5〜R0端子
によつて定まるアナログ量を発生し、第5図の演算手段
32に対応した働きをする。
た光を測光する。レリーズ前の開放時にはBV−AVOであ
り、絞り2が絞り込まれた状態ではBV−AVに対応した出
力を発生する。101〜104はそれぞれフイルム感度SV、開
放絞り値AVO、設定絞り込み段数AVM−AVO、設定シヤツ
タ速度、TVMの設定手段になつており、それぞれ設定値
に対応したアナログ量を発生する。110はアナログスイ
ツチ回路でマイクロコンピユータユニツト200(以下MCU
200と言う)のP2〜P0端子によつて設定される“5"、
“4"、“3"、…、“0"によつて対応する入力端子“5"〜
“0"のアナログ量が“OUT"端子に伝達される。111は6
ビツトのA/D変換器でアナログスイツチ回路110で選択さ
れたアナログ量をデイジタル量に変換して上位2ビツト
をMCUのR9、R8端子へ下位4ビツトをK3〜K0端子に伝達
する。112は6ビツトのD/A変換器でMCU200のR5〜R0端子
によつて定まるアナログ量を発生し、第5図の演算手段
32に対応した働きをする。
113は6ビツトのD/A変換器でMCUR15〜R10端子によつて
定まるアナログ量を発生し、第5図の演算手段40に対応
した働きをする。
定まるアナログ量を発生し、第5図の演算手段40に対応
した働きをする。
114は絞り制御手段で第4図の33と同じ働きをする。絞
り制御手段114はシヤツタレリーズ動作の後MCU200のR6
端子が“L"となつたときに作動状態となる。115は絞り
込み停止用のマグネツトである。
り制御手段114はシヤツタレリーズ動作の後MCU200のR6
端子が“L"となつたときに作動状態となる。115は絞り
込み停止用のマグネツトである。
OPアンプ120の非反転入力端子には、D/A変換器113にセ
ツトされる($33−SV*)に対応するアナログ量(ここ
ではSV*は前述したSV+αに相当する。)が加わり、よ
つてOPアンプ120の反転入力端子とトランジスタ119のエ
ミツタに接続する抵抗121の一端はOPアンプの非反転入
力端子と同一の電位となる。抵抗121のもう一方の端子
には測光回路100の電位が印加される。抵抗121の回路10
0に接続する一端は絞りがAVMあるいはAVS *(以下これを
AVM.S *と記す)まで絞り込まれてミラーアツプ直前の時
には(BV−▲AVM *.S▼)の電位となる。よつて抵抗121
の両端の電位差は($33−SV*)−(BV−AVM *.S)とな
る。トランジスタ119のhFEが高ければ抵抗121と122には
ほぼ等しい電流が流れるので、両者の抵抗値が等しけれ
ば、抵抗122の両端の電位差も {($33−SV*)−(BV−AVM.* S)}に等しくなる。
又、この値は($33−TVM.S *)に対応する。ここでTVM.
S *は前述したTVMあるいはTVS *のことであり、AVM.S *ま
で絞り込まれた時に下記のアペツクス式を満足するシヤ
ツタ速度値である。
ツトされる($33−SV*)に対応するアナログ量(ここ
ではSV*は前述したSV+αに相当する。)が加わり、よ
つてOPアンプ120の反転入力端子とトランジスタ119のエ
ミツタに接続する抵抗121の一端はOPアンプの非反転入
力端子と同一の電位となる。抵抗121のもう一方の端子
には測光回路100の電位が印加される。抵抗121の回路10
0に接続する一端は絞りがAVMあるいはAVS *(以下これを
AVM.S *と記す)まで絞り込まれてミラーアツプ直前の時
には(BV−▲AVM *.S▼)の電位となる。よつて抵抗121
の両端の電位差は($33−SV*)−(BV−AVM *.S)とな
る。トランジスタ119のhFEが高ければ抵抗121と122には
ほぼ等しい電流が流れるので、両者の抵抗値が等しけれ
ば、抵抗122の両端の電位差も {($33−SV*)−(BV−AVM.* S)}に等しくなる。
又、この値は($33−TVM.S *)に対応する。ここでTVM.
S *は前述したTVMあるいはTVS *のことであり、AVM.S *ま
で絞り込まれた時に下記のアペツクス式を満足するシヤ
ツタ速度値である。
BV+SV*=TVM.S *+AVM.S * …(16) 119〜122が第5図の演算手段34に対応する。スイツチSW
3はミラーアツプ時にOFFとなりミラーダウン後ONとなる
スイツチである。メモリコンデンサ123は、ミラーアツ
プ直前に($33−TVM.S *)に対応した値となり、スイツ
チSW3がOFFとなることによりこの電位を記憶する。この
コンデンサ123は第5図のメモリ手段35に対応する。
3はミラーアツプ時にOFFとなりミラーダウン後ONとなる
スイツチである。メモリコンデンサ123は、ミラーアツ
プ直前に($33−TVM.S *)に対応した値となり、スイツ
チSW3がOFFとなることによりこの電位を記憶する。この
コンデンサ123は第5図のメモリ手段35に対応する。
部材124〜126が第5図のシヤツタ制御手段36の働きをす
る。ミラーアツプ時にスイツチSW4がONとなり、コンパ
レータ126が作動状態となる。このときシヤツタ先幕の
走行に連動してOFFとなるトリガスイツチSW5はまだON状
態なので作動状態となつたコンパレータ126の出力は
“L"となつてシヤツタマグネツト127に通電がされ、ト
リガスイツチSW5がOFFするまでに機械系の部材によるシ
ヤツタ後幕の係止に置き換わり、後幕の保持をする。先
幕が走行してトリガスイツチSW5がOFFするとタイマコン
デンサ124が電流源125によつて充電され、コンデンサ12
4の両端に露出時間に対応した電圧を発生する。メモリ
コンデンサ123に記憶された($33−TVM.* S)の電位に
対応し、高速秒時の時(TVM.* Sが大きい時)はコンデン
サ124に短時間に電荷が蓄積された段階でコンパレータ1
26の出力が反転し、シヤツタマグネツト127の通電が解
除されて、後幕の係止が解かれ、シヤツタ秒時に制御さ
れる。TVM.S *が小さい時には、コンデンサ124に充電時
間に要し、シヤツタは低速で制御される。抵抗130、コ
ンデンサ131はMCU200の▲▼端子に入力し、
電源投入時のリセツトを行なう。コンデンサ132、134と
発振子133はMCU200の“Xtal"、“EXtal"端子に接続し、
内部の発振回路によつて基準発振を発生する。抵抗13
5、137とコンデンサ136はレリーズスイツチSW2の微分回
路を形成し、MCU200の▲▼端子に接続されること
により、レリーズ動作をした時に演算の割込みを行なわ
しめる。
る。ミラーアツプ時にスイツチSW4がONとなり、コンパ
レータ126が作動状態となる。このときシヤツタ先幕の
走行に連動してOFFとなるトリガスイツチSW5はまだON状
態なので作動状態となつたコンパレータ126の出力は
“L"となつてシヤツタマグネツト127に通電がされ、ト
リガスイツチSW5がOFFするまでに機械系の部材によるシ
ヤツタ後幕の係止に置き換わり、後幕の保持をする。先
幕が走行してトリガスイツチSW5がOFFするとタイマコン
デンサ124が電流源125によつて充電され、コンデンサ12
4の両端に露出時間に対応した電圧を発生する。メモリ
コンデンサ123に記憶された($33−TVM.* S)の電位に
対応し、高速秒時の時(TVM.* Sが大きい時)はコンデン
サ124に短時間に電荷が蓄積された段階でコンパレータ1
26の出力が反転し、シヤツタマグネツト127の通電が解
除されて、後幕の係止が解かれ、シヤツタ秒時に制御さ
れる。TVM.S *が小さい時には、コンデンサ124に充電時
間に要し、シヤツタは低速で制御される。抵抗130、コ
ンデンサ131はMCU200の▲▼端子に入力し、
電源投入時のリセツトを行なう。コンデンサ132、134と
発振子133はMCU200の“Xtal"、“EXtal"端子に接続し、
内部の発振回路によつて基準発振を発生する。抵抗13
5、137とコンデンサ136はレリーズスイツチSW2の微分回
路を形成し、MCU200の▲▼端子に接続されること
により、レリーズ動作をした時に演算の割込みを行なわ
しめる。
LED7〜LED0はそれぞれカソード側がMCU200のO7〜O0端子
に接続されアノード側が抵抗140を介して電源に接続し
ている。MCU200のO7〜O0端子の1つがLになることによ
つてLED7〜LED0の1つが点灯する。これらのLEDアレイ
は露出モード選択部材に連動するモードスイツチSW1に
よつてAモードの時は“1000"…“8−1"、の表示用フ
イルムが、Sモードの時には“F16−F32”、“F11”、
…“F1.4"の表示用フイルムが選択されて、フアインダ
ー内に確認可能となる。MCU200は4ビツトのマイコン
で、内部の構成は第8図に示す。MCU200は演算部ALU、M
CUに対する命令を書き込んだROM、ROMのアドレスを指定
するプログラムカウンタPC、ROMの命令を翻訳するイン
ストラクシヨンデコーダDEC、翻訳された命令を実行す
るコントロールロジツク部CL、X、Yで指定されるレジ
スタとして機能するRAM、発振回路OSC、出力専用ポート
P、O、入力専用ポートK、入出力ポートR、およびタ
イマーT等から構成される。このようなマイコンには富
士通製のMB8850シリーズなどがある。又、RAMの1部を
表1に示すように使用する。4ビツトマイコンなどで2
ワードを1つのレジスタとして使用これをZで示す。
に接続されアノード側が抵抗140を介して電源に接続し
ている。MCU200のO7〜O0端子の1つがLになることによ
つてLED7〜LED0の1つが点灯する。これらのLEDアレイ
は露出モード選択部材に連動するモードスイツチSW1に
よつてAモードの時は“1000"…“8−1"、の表示用フ
イルムが、Sモードの時には“F16−F32”、“F11”、
…“F1.4"の表示用フイルムが選択されて、フアインダ
ー内に確認可能となる。MCU200は4ビツトのマイコン
で、内部の構成は第8図に示す。MCU200は演算部ALU、M
CUに対する命令を書き込んだROM、ROMのアドレスを指定
するプログラムカウンタPC、ROMの命令を翻訳するイン
ストラクシヨンデコーダDEC、翻訳された命令を実行す
るコントロールロジツク部CL、X、Yで指定されるレジ
スタとして機能するRAM、発振回路OSC、出力専用ポート
P、O、入力専用ポートK、入出力ポートR、およびタ
イマーT等から構成される。このようなマイコンには富
士通製のMB8850シリーズなどがある。又、RAMの1部を
表1に示すように使用する。4ビツトマイコンなどで2
ワードを1つのレジスタとして使用これをZで示す。
第9図はMCU200のフローチヤートである。以下第9図を
用いて説明する。
用いて説明する。
先ず最初の操作として、設定値をすべて入力しなければ
ならない。Pポート出力を5にセツトし、Yレジスタを
5にセツトする。いまM〔a、b〕をXレジスタがa
で、Yレジスタがbの時に指定されるRAMの4ビツトの
データメモリとして表わす。するとKポートの4ビツト
がM〔O、Y〕にストアされ、M〔1、Y〕がクリアさ
れる。そしてM〔1、Y〕の21および20の桁であるM
〔1、Y〕1M〔1、Y〕0にR9、R8端子の入力をセツト
する。ここでデータメモリM〔a、b〕nの〔 〕の右
下にある数字nはそのデータメモリの2n桁のメモリであ
ることを示す。その後PとYの値を1つ減じて上記操作
を繰り返し、Y=$Fとなるまで続けることにより第7
図の設定手段105〜101、測光回路100のアナログ量のA/D
変換値が表1に示すレジスタZ5(=M〔1、5〕、M
〔0、5〕)、Z4、…、Z0(=M〔1、0)、M〔0、
0〕)にストアされる。次に表示出力の演算を行なう。
先ず、レジスターZ0の内容をZ6に転送し、Z1の内容を加
えることにより、Z6に、 (BV−AVO)+(SV)=LV−AVO …(1) をセツトする。次にSモードかどうかの判断をする。S
モードのときはモードスイツチSW1がONとなり、設定手
段105の出力は“L"レベルとなり、Z5には“$00"がスト
アされる。一方AモードのときはモードスイツチSW1がO
FFとなり、設定手段105の出力は“H"となり、Z5には
“$3F"がストアされる。よつて Z5<$20 …(17) のときがSモードとなる。Sモードのとき、レジスタZ6
にZ2を加えZ4を減じることによりレジスタZ6には (LV−AVO)+AVO−TVM=LV−TVM =AVS …(4) が残る。レジスタZ6は、モードに関係なく計算上適出を
得られる。絞り値AVMあるいはAVS(以下これをAVM.Sと
記す)をストアするメモリとして働く。Sモードのとき
はAVM.SはAVSとなる。次にZ6の内容をZ7に転送し、これ
より1〔EV〕に対応する3を減じる。これはZ7は表示に
関するアペツクス値DVをストアするレジスタでSモード
でF値表示をする場合F1.4(AV=1)からスタートする
ためである。一方、 Z5≧$20 …(18) が成り立つAモードの場合、レジスタZ6の内容をZ7に転
送し、Z6にはZ3の絞込段数(AVM−AVO)をストアする。
Z6にZ2のAVOを加算することにより、レジスタZ6には (AVM−AVO)+(AVO)=AVM …(19) がストアされる。すなわち、AモードのときはAVM.SはA
VMとなる。一方Z7にはZ6にストアされていた(LV−A
VO)がストアされているので、Z3の(AVM−AVO)を減じ
ることにより (LV−AVO)−(AVM−AVO)=LV−AVM =TVS …(3) となつて計算上適正露出を得るとされる制御シヤツタ透
度値TVSとなる。この後、第7図に示すようにシヤツタ
速度の表示を“8−1"と1/8(TV=3)からスタートす
るためこれに対応する9を減じる Aモードの場合もSモードの場合も以下の制御は同一
で、Z7の内容を1/3にすることにより、1/3〔EV〕ステツ
プだつた表示値DVを1段ステツプに変換する。次にキヤ
リーフラグCFを0にセツトし、レジスタZ8を11111111B
(Bは2進数を示す)にセツトし、レジスタZ8をキヤリ
ーフラグCFを含んだ状態で左へ回転させる。すなわちこ
のとき CF=1 Z8=11111110B となる。
ならない。Pポート出力を5にセツトし、Yレジスタを
5にセツトする。いまM〔a、b〕をXレジスタがa
で、Yレジスタがbの時に指定されるRAMの4ビツトの
データメモリとして表わす。するとKポートの4ビツト
がM〔O、Y〕にストアされ、M〔1、Y〕がクリアさ
れる。そしてM〔1、Y〕の21および20の桁であるM
〔1、Y〕1M〔1、Y〕0にR9、R8端子の入力をセツト
する。ここでデータメモリM〔a、b〕nの〔 〕の右
下にある数字nはそのデータメモリの2n桁のメモリであ
ることを示す。その後PとYの値を1つ減じて上記操作
を繰り返し、Y=$Fとなるまで続けることにより第7
図の設定手段105〜101、測光回路100のアナログ量のA/D
変換値が表1に示すレジスタZ5(=M〔1、5〕、M
〔0、5〕)、Z4、…、Z0(=M〔1、0)、M〔0、
0〕)にストアされる。次に表示出力の演算を行なう。
先ず、レジスターZ0の内容をZ6に転送し、Z1の内容を加
えることにより、Z6に、 (BV−AVO)+(SV)=LV−AVO …(1) をセツトする。次にSモードかどうかの判断をする。S
モードのときはモードスイツチSW1がONとなり、設定手
段105の出力は“L"レベルとなり、Z5には“$00"がスト
アされる。一方AモードのときはモードスイツチSW1がO
FFとなり、設定手段105の出力は“H"となり、Z5には
“$3F"がストアされる。よつて Z5<$20 …(17) のときがSモードとなる。Sモードのとき、レジスタZ6
にZ2を加えZ4を減じることによりレジスタZ6には (LV−AVO)+AVO−TVM=LV−TVM =AVS …(4) が残る。レジスタZ6は、モードに関係なく計算上適出を
得られる。絞り値AVMあるいはAVS(以下これをAVM.Sと
記す)をストアするメモリとして働く。Sモードのとき
はAVM.SはAVSとなる。次にZ6の内容をZ7に転送し、これ
より1〔EV〕に対応する3を減じる。これはZ7は表示に
関するアペツクス値DVをストアするレジスタでSモード
でF値表示をする場合F1.4(AV=1)からスタートする
ためである。一方、 Z5≧$20 …(18) が成り立つAモードの場合、レジスタZ6の内容をZ7に転
送し、Z6にはZ3の絞込段数(AVM−AVO)をストアする。
Z6にZ2のAVOを加算することにより、レジスタZ6には (AVM−AVO)+(AVO)=AVM …(19) がストアされる。すなわち、AモードのときはAVM.SはA
VMとなる。一方Z7にはZ6にストアされていた(LV−A
VO)がストアされているので、Z3の(AVM−AVO)を減じ
ることにより (LV−AVO)−(AVM−AVO)=LV−AVM =TVS …(3) となつて計算上適正露出を得るとされる制御シヤツタ透
度値TVSとなる。この後、第7図に示すようにシヤツタ
速度の表示を“8−1"と1/8(TV=3)からスタートす
るためこれに対応する9を減じる Aモードの場合もSモードの場合も以下の制御は同一
で、Z7の内容を1/3にすることにより、1/3〔EV〕ステツ
プだつた表示値DVを1段ステツプに変換する。次にキヤ
リーフラグCFを0にセツトし、レジスタZ8を11111111B
(Bは2進数を示す)にセツトし、レジスタZ8をキヤリ
ーフラグCFを含んだ状態で左へ回転させる。すなわちこ
のとき CF=1 Z8=11111110B となる。
以下Z7の内容を1つ減らしながら、Z7を頁になるまで繰
返すことによりZ8には、“11111110B"、“11111101B"、
……、“10111111B"、“01111111B"のいずれかが残る。
例えばZ7に5がストアされていた時にはZ8は“11011111
B"となつて25の桁が“0"となる。レジスタZ8の内容をO7
〜O0ポートに送り出すことにより、特定のLEDを点灯す
ることが出来る。Z7が5のときはO5出力が“L"となつて
LED5が点灯し、モードによつて“250"あるいは“F8"を
示す。
返すことによりZ8には、“11111110B"、“11111101B"、
……、“10111111B"、“01111111B"のいずれかが残る。
例えばZ7に5がストアされていた時にはZ8は“11011111
B"となつて25の桁が“0"となる。レジスタZ8の内容をO7
〜O0ポートに送り出すことにより、特定のLEDを点灯す
ることが出来る。Z7が5のときはO5出力が“L"となつて
LED5が点灯し、モードによつて“250"あるいは“F8"を
示す。
次は、第2図の測光誤差の補正をする部分のフローであ
る。レジスタZ6には絞り込まれる絞り値AVM.Sがストア
されているので、 に対応する4と比較することにより、 が成り立つて、さらに に対応する$Eと比較し、 が成り立つ時、フイルム感度値SVをストアしているレジ
スタZ1から1/3〔EV〕に対応する1を減じる。上記2つ
の式のいずれかが成り立たない時はこの操作は行なわれ
ない。よつてこの段階で(9)〜(11)式の補正後のフ
イルム感度値SVとなつて第5図の演算手段40の出力(SV
+α)に対応したものとなる。
る。レジスタZ6には絞り込まれる絞り値AVM.Sがストア
されているので、 に対応する4と比較することにより、 が成り立つて、さらに に対応する$Eと比較し、 が成り立つ時、フイルム感度値SVをストアしているレジ
スタZ1から1/3〔EV〕に対応する1を減じる。上記2つ
の式のいずれかが成り立たない時はこの操作は行なわれ
ない。よつてこの段階で(9)〜(11)式の補正後のフ
イルム感度値SVとなつて第5図の演算手段40の出力(SV
+α)に対応したものとなる。
次は第7図のD/A変換器112、及び113を制御するための
フローである。D/A変換器112を制御するためのレジスタ
としてZ9を使用する。ゲタ分として$18をZ9にストア
し、Z4のTVMを加算する。次にZ1の補正後のフイルム感
度値SV*を減じ、 Z9=$18+TVM−SV* …(22) とする。一方D/A変換器113を制御するためのレジスタと
してZ10を使用する。ゲタ分として$33をストアし、Z1
の内容を減じることにより、 Z10=$33−SV* …(23) とする。次に一旦割込禁止状態として、レジスタZ9、Z
10の内容をR5〜R0およびR15〜R0ポートへ送り出す。D/A
変換器を制御する値が変わる時にレリーズ割込があると
誤動作を生じるからである。よつて送り出した後割込み
禁止を解除する。
フローである。D/A変換器112を制御するためのレジスタ
としてZ9を使用する。ゲタ分として$18をZ9にストア
し、Z4のTVMを加算する。次にZ1の補正後のフイルム感
度値SV*を減じ、 Z9=$18+TVM−SV* …(22) とする。一方D/A変換器113を制御するためのレジスタと
してZ10を使用する。ゲタ分として$33をストアし、Z1
の内容を減じることにより、 Z10=$33−SV* …(23) とする。次に一旦割込禁止状態として、レジスタZ9、Z
10の内容をR5〜R0およびR15〜R0ポートへ送り出す。D/A
変換器を制御する値が変わる時にレリーズ割込があると
誤動作を生じるからである。よつて送り出した後割込み
禁止を解除する。
これでレリーズ釦の押圧前(レリーズ前)のシーケンス
が1通り終了したことになる。そしてこの後スタート状
態にもどすことにより、前述の動作を繰返すことにな
る。
が1通り終了したことになる。そしてこの後スタート状
態にもどすことにより、前述の動作を繰返すことにな
る。
第10図はシヤツタボタンが押されてレリーズスイツチSW
2がONとなりMCU200の▲▼がLとなつて、割込処
理を行なうときのフローチヤートである。
2がONとなりMCU200の▲▼がLとなつて、割込処
理を行なうときのフローチヤートである。
(17)式が成り立つて、Sモードの時は第7図のR6端子
をLとする。すると絞り制御手段114が作動状態とな
る。その後シヤツタボタンに連動して、絞り込みが開始
し、 BV−AV=$18+TVM+SV* …(24) となつたところで絞り制御手段114の出力がLとなり絞
り込み停止マグネツトが通電し、絞り込みの停止を行な
う。このようにして得られた絞り値AVが前述したAV*と
なる。
をLとする。すると絞り制御手段114が作動状態とな
る。その後シヤツタボタンに連動して、絞り込みが開始
し、 BV−AV=$18+TVM+SV* …(24) となつたところで絞り制御手段114の出力がLとなり絞
り込み停止マグネツトが通電し、絞り込みの停止を行な
う。このようにして得られた絞り値AVが前述したAV*と
なる。
一方、(18)式が成り立つAモードの時はR6端子がHの
ままなので絞り制御手段114が作動しないので設定絞り
値AVMまで絞り込まれる。Aモード、Sモードのいずれ
の場合でも絞り込みが完了すると測光回路100の測光出
力は(BV−AVM.S *)となつて、D/A変換器113の出力は
($33−SV*)なので、メモリコンデンサには($33−
TVM.S *)に対応した値が記憶される。ミラーアツプに同
期してミラースイツチSW3がOFFすることにより記憶され
たシヤツタ速度TVM.S *での制御がなされる。レリーズ動
作の直後からMCU200の内部タイマーによつて70msカウン
トしてR6をHとするが70msを経過するまでにはすでに絞
り込みは完了している。制御されるシヤツタ速度によつ
ては、ミラーアツプ中に第9図に示したチヤートにおけ
る割込前の状態にMCU200が復帰(リターン)することに
なるが、シヤツタ制御系には影響を与えない。
ままなので絞り制御手段114が作動しないので設定絞り
値AVMまで絞り込まれる。Aモード、Sモードのいずれ
の場合でも絞り込みが完了すると測光回路100の測光出
力は(BV−AVM.S *)となつて、D/A変換器113の出力は
($33−SV*)なので、メモリコンデンサには($33−
TVM.S *)に対応した値が記憶される。ミラーアツプに同
期してミラースイツチSW3がOFFすることにより記憶され
たシヤツタ速度TVM.S *での制御がなされる。レリーズ動
作の直後からMCU200の内部タイマーによつて70msカウン
トしてR6をHとするが70msを経過するまでにはすでに絞
り込みは完了している。制御されるシヤツタ速度によつ
ては、ミラーアツプ中に第9図に示したチヤートにおけ
る割込前の状態にMCU200が復帰(リターン)することに
なるが、シヤツタ制御系には影響を与えない。
以上のように第7図のブロツク図で特徴となつているよ
うに、D/A変換器112、113にセツトされる値によつて制
御絞り値AVS *と制御シヤツタ速度値TVS *が設定値TVMあ
るいはAVMにて第6図に示した補正を行ない実際に適正
な露光量を得るようになつている点である。
うに、D/A変換器112、113にセツトされる値によつて制
御絞り値AVS *と制御シヤツタ速度値TVS *が設定値TVMあ
るいはAVMにて第6図に示した補正を行ない実際に適正
な露光量を得るようになつている点である。
第11図は第5図の装置の第2具体例のブロツク図であ
る。この具体例が第7図のブロツク図と異なるのはテレ
コンを装着した時ONとなるスイツチSW6からなる設定手
段106、および測光誤差の異なるフアインダスクリーン
を装着した時ONとなるスイツチSW7から成る設定手段107
が、アナログスイツチ回路110に接続していることであ
る。
る。この具体例が第7図のブロツク図と異なるのはテレ
コンを装着した時ONとなるスイツチSW6からなる設定手
段106、および測光誤差の異なるフアインダスクリーン
を装着した時ONとなるスイツチSW7から成る設定手段107
が、アナログスイツチ回路110に接続していることであ
る。
第12図は本具体例のMCU200のフローチヤートの一部で、
第9図の に対応する部分であり、その他のフローチヤートは第9
図と同一である。まず第9図の の部分の最初にPポートに6をセツトし、R9端子がLに
なるかをチエツクする。カメラとマスターレンズの間に
装着され、マスターレンズの焦点距離を2倍にするコン
バージヨンレンズ(以下テレコンという)を装着した場
合、スイツチSW6がONとなり、設定手段106のアナログ量
は“0"となる。したがつてアナログスイツチ回路110に
よつて選択されて、A/D変換器111で変換されるデイジタ
ル値は$00となる。よつて最上位ビツトが入力するR9端
子はLとなる。このとき、補正操作は行なわない。とい
うのは第13図にテレコンを装着した時の測光誤差を示す
が測光誤差は実効的な絞り値で作用するため第2図のグ
ラフを左右へ2段分平行移動した状態となる(実効的絞
り値で伝達されないので)。F1.4のところに曲線が伸び
てないのはテレコンによつて最大口径が狭くなつている
ためである。このように第2図で示すように最もアンダ
ーとなる部分がなくなつたので第6図に示したような補
正を行なわないようにした。もちろんF2付近も細かく補
正すればそれだけの効果を生じるが、テレコンを開放で
使用することは少ないので、実施例ではこのような補正
を省略している。
第9図の に対応する部分であり、その他のフローチヤートは第9
図と同一である。まず第9図の の部分の最初にPポートに6をセツトし、R9端子がLに
なるかをチエツクする。カメラとマスターレンズの間に
装着され、マスターレンズの焦点距離を2倍にするコン
バージヨンレンズ(以下テレコンという)を装着した場
合、スイツチSW6がONとなり、設定手段106のアナログ量
は“0"となる。したがつてアナログスイツチ回路110に
よつて選択されて、A/D変換器111で変換されるデイジタ
ル値は$00となる。よつて最上位ビツトが入力するR9端
子はLとなる。このとき、補正操作は行なわない。とい
うのは第13図にテレコンを装着した時の測光誤差を示す
が測光誤差は実効的な絞り値で作用するため第2図のグ
ラフを左右へ2段分平行移動した状態となる(実効的絞
り値で伝達されないので)。F1.4のところに曲線が伸び
てないのはテレコンによつて最大口径が狭くなつている
ためである。このように第2図で示すように最もアンダ
ーとなる部分がなくなつたので第6図に示したような補
正を行なわないようにした。もちろんF2付近も細かく補
正すればそれだけの効果を生じるが、テレコンを開放で
使用することは少ないので、実施例ではこのような補正
を省略している。
次にPポートに7をセツトしてR9端子がLになるかをチ
エツクする。拡散性の良いスクリーンを装着した場合、
スイツチSW7がONし、設定手段107のアナログ量は“0"と
なる。このときアナログスイツチ回路110に選択されてA
/D変換器111によつてA/D変換されるデイジタル量は$00
となり、最上位ビツトが入力するR9端子はLとなる。こ
のときも補正操作は行なわない。拡散性の良いスクリー
ンを装着した場合の測光誤差は第14図のように小さくな
り補正の必要性がなくなるからである。もちろん補正値
を1/3〔EV〕ステツプでなく1/6〔EV〕ステツプのように
細かく定めるならばそれなりの効果を発生する。
エツクする。拡散性の良いスクリーンを装着した場合、
スイツチSW7がONし、設定手段107のアナログ量は“0"と
なる。このときアナログスイツチ回路110に選択されてA
/D変換器111によつてA/D変換されるデイジタル量は$00
となり、最上位ビツトが入力するR9端子はLとなる。こ
のときも補正操作は行なわない。拡散性の良いスクリー
ンを装着した場合の測光誤差は第14図のように小さくな
り補正の必要性がなくなるからである。もちろん補正値
を1/3〔EV〕ステツプでなく1/6〔EV〕ステツプのように
細かく定めるならばそれなりの効果を発生する。
一方、スイツチSW6とスイツチSW7のいずれもOFFとなる
場合には設定手段106、107の発生するアナログ量はHと
なり、アナログスイツチ回路110で選択されるA/D変換値
は$3FとなりR9端子にはHが入力し、第7図と同様のシ
ーケンスをたどることになる。
場合には設定手段106、107の発生するアナログ量はHと
なり、アナログスイツチ回路110で選択されるA/D変換値
は$3FとなりR9端子にはHが入力し、第7図と同様のシ
ーケンスをたどることになる。
(発明の効果) 以上のように本発明によつては測光光学系に起因する制
御誤差を補正するのに簡単な構成で実現出来る。
御誤差を補正するのに簡単な構成で実現出来る。
【図面の簡単な説明】 第1図は測光光学系、第2図は測光光学系に起因する制
御誤差、第3図は第1図の測光光学系の展開図、第4図
は従来の自動露出制御装置のブロツク図、第5図は本発
明の実施例のブロツク図、第6図は本発明による測光誤
差の補正方法、第7図は本発明の実施例の詳細なブロツ
ク図、第8図は第7図で使用するMCU200のブロツク図、
第9図はMCU200のフローチヤート、第10図はMCU200の割
込処理のフローチヤート、第11図は本発明の第2の実施
例のブロツク図、第12図は第2の実施例のフローチヤー
トの一部、第13図はテレコンを装着したときの測光誤
差、第14図は拡散性の良いスクリーンを装着した時の測
光誤差である。 〔主要部分の符号の説明〕 20……測光回路 21……フイルム感度設定手段 22……シヤツタ速度設定手段 23、24……開放絞り値設定手段 25……露出制御モード設定手段 26……第1の演算回路 27……第2の演算回路 28……第3の演算回路 31……表示手段 32……第4の演算回路 37……演算手段 39……補正値発生手段 40……補正値演算手段
御誤差、第3図は第1図の測光光学系の展開図、第4図
は従来の自動露出制御装置のブロツク図、第5図は本発
明の実施例のブロツク図、第6図は本発明による測光誤
差の補正方法、第7図は本発明の実施例の詳細なブロツ
ク図、第8図は第7図で使用するMCU200のブロツク図、
第9図はMCU200のフローチヤート、第10図はMCU200の割
込処理のフローチヤート、第11図は本発明の第2の実施
例のブロツク図、第12図は第2の実施例のフローチヤー
トの一部、第13図はテレコンを装着したときの測光誤
差、第14図は拡散性の良いスクリーンを装着した時の測
光誤差である。 〔主要部分の符号の説明〕 20……測光回路 21……フイルム感度設定手段 22……シヤツタ速度設定手段 23、24……開放絞り値設定手段 25……露出制御モード設定手段 26……第1の演算回路 27……第2の演算回路 28……第3の演算回路 31……表示手段 32……第4の演算回路 37……演算手段 39……補正値発生手段 40……補正値演算手段
Claims (1)
- 【請求項1】レリーズ前にシャッタ速度を決定し、レリ
ーズに応答して撮影レンズの絞り込みを行って所定の絞
り値に制御し、前記制御された絞りを介して測光した測
光出力に基づいて前記決定されたシャッタ速度を補正す
るカメラにおいて、 前記所定の絞り値を複数の基準値と比較し、前記決定さ
れたシャッタ速度に対する補正量を前記比較結果に基づ
いて発生する補正手段を備えたことを特徴とするカメ
ラ。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17366383A JPH0734085B2 (ja) | 1983-09-20 | 1983-09-20 | 絞り込み測光方式のカメラ |
US06/651,344 US4601567A (en) | 1983-09-20 | 1984-09-17 | Exposure control apparatus for camera |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17366383A JPH0734085B2 (ja) | 1983-09-20 | 1983-09-20 | 絞り込み測光方式のカメラ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6064329A JPS6064329A (ja) | 1985-04-12 |
JPH0734085B2 true JPH0734085B2 (ja) | 1995-04-12 |
Family
ID=15964789
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17366383A Expired - Lifetime JPH0734085B2 (ja) | 1983-09-20 | 1983-09-20 | 絞り込み測光方式のカメラ |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4601567A (ja) |
JP (1) | JPH0734085B2 (ja) |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4998228A (ja) * | 1973-01-22 | 1974-09-17 | ||
JPS5397422A (en) * | 1977-02-04 | 1978-08-25 | Canon Inc | Double priority camera |
JPS5444520A (en) * | 1977-09-14 | 1979-04-09 | Minolta Camera Co Ltd | Automatic esposure control device for single-lens reflex camera |
JPS5590935A (en) * | 1978-12-29 | 1980-07-10 | Minolta Camera Co Ltd | Camera using interchangeable lens |
JPS55580A (en) * | 1979-04-16 | 1980-01-05 | Konishiroku Photo Ind Co Ltd | Exposure time control method in single-lens reflex camera |
US4307948A (en) * | 1979-06-13 | 1981-12-29 | Nippon Kogaku K.K. | Diaphragm control apparatus for camera |
JPS56107221A (en) * | 1980-01-31 | 1981-08-26 | Asahi Optical Co Ltd | Correction system for aperture control of single-lens reflex camera with interchangeable lens and its interchangeable lens used for the system |
JPS5735448A (en) * | 1980-08-11 | 1982-02-26 | Hitachi Ltd | Composite communication system |
-
1983
- 1983-09-20 JP JP17366383A patent/JPH0734085B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1984
- 1984-09-17 US US06/651,344 patent/US4601567A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4601567A (en) | 1986-07-22 |
JPS6064329A (ja) | 1985-04-12 |
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