JPH073352Y2 - Measuring device equipped with an AC voltage source having a waveform control function - Google Patents

Measuring device equipped with an AC voltage source having a waveform control function

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JPH073352Y2
JPH073352Y2 JP8919088U JP8919088U JPH073352Y2 JP H073352 Y2 JPH073352 Y2 JP H073352Y2 JP 8919088 U JP8919088 U JP 8919088U JP 8919088 U JP8919088 U JP 8919088U JP H073352 Y2 JPH073352 Y2 JP H073352Y2
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sine wave
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converter
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文男 徳嵩
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Hioki EE Corp
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Description

【考案の詳細な説明】 産業上の利用分野 本考案はインサーキットテスタ等の交流電圧源を備えた
測定装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Industrial Field of the Invention The present invention relates to a measuring device provided with an AC voltage source such as an in-circuit tester.

従来の技術 従来、電気部品等の被測定物に対し、その電気的特性の
測定を行なうには適切な測定装置を使用しなければなら
ない。例えば実装基板即ち電気部品を半田付けしたプリ
ント基板の良否の判定にはインサーキットテスタを用い
る。このインサーキットテスタには基板に実装された部
品の電気的特性を測定して検査を行なう一般型と、カメ
ラを備えて実装基板の外観から検査を行なうビジュアル
型とがある。更に、一般型には測定時における実装基板
のテスタに対する固定方式の違いから、実装基板を検査
治具たるフィクスチャー(プローブピンボード)上に乗
せ、多数の押え棒を下方に突設したプレス板を上方から
下降させて挟持し、固定するプレス式と、実装基板をフ
ィクスチャー上に吸引し、固定するバキューム式とがあ
る。そこで、検査の対象となる実装基板の種類に応じ、
それらのテスタを適宜使い分けることになる。但し、ビ
ジュアル型のテスタでは部品の電気的特性の検査はでき
ない。
2. Description of the Related Art Conventionally, in order to measure the electrical characteristics of an object to be measured such as an electric component, an appropriate measuring device must be used. For example, an in-circuit tester is used to judge the quality of a mounting board, that is, a printed board on which an electric component is soldered. The in-circuit tester includes a general type that measures electrical characteristics of components mounted on the board and inspects them, and a visual type that includes a camera to inspect from the appearance of the mounting board. Furthermore, due to the difference in the mounting method of the mounting board to the tester at the time of measurement for the general type, the mounting board is placed on a fixture (probe pin board) that is an inspection jig, and a large number of presser bars project downward. There are a press type in which the mounting board is lowered from above and clamped and fixed, and a vacuum type in which the mounting substrate is sucked and fixed on the fixture. Therefore, depending on the type of mounting board to be inspected,
Those testers will be used properly. However, the visual type tester cannot inspect the electrical characteristics of parts.

このような一般型のインサーキットテスタは第4図に示
すような構成を有し、測定時にはスイッチ10を閉じて、
交流電圧源12から被測定物14に一定の正弦波交流電圧を
印加し、そこに流れる測定電流をI/V変換基16で電圧に
変換する。この電圧は結合コンデンサ18により直流分を
除いた後、その交流分を抵抗20で検出し、オペアンプ22
で増幅して整流回路24に入れる。そこで、測定電流に対
応する交流電圧は直流に変換され、更にA/Dコンバータ2
6によりアナログ値からデジタル値に変換された後、マ
イクロコンピュータ28に入る。このコンピュータ28では
被測定物に印加する交流電圧値が既知であり、そこに流
れる測定電流値がA/Dコンバータ26から入るアナログ値
から既知となるので、それらを演算することによって、
その抵抗(R)、静電容量(C)、インダクタンス
(L)等の電気的特性値を算出することができる。
Such a general type in-circuit tester has a structure as shown in FIG. 4, and the switch 10 is closed at the time of measurement,
A constant sinusoidal AC voltage is applied from the AC voltage source 12 to the DUT 14, and the measurement current flowing there is converted into a voltage by the I / V conversion base 16. After removing the direct current component of this voltage by the coupling capacitor 18, the alternating current component is detected by the resistor 20, and the operational amplifier 22
Amplify with and put in the rectifier circuit 24. Therefore, the AC voltage corresponding to the measured current is converted to DC, and the A / D converter 2
After being converted from an analog value to a digital value by 6, the microcomputer 28 is entered. In this computer 28, the AC voltage value applied to the DUT is known, and the measured current value flowing therethrough is known from the analog value input from the A / D converter 26, so by computing them,
The electrical characteristic values such as the resistance (R), the electrostatic capacitance (C) and the inductance (L) can be calculated.

考案が解決しようとする課題 しかしながら、このような測定装置では結合コンデンサ
18に対する充電電流の影響を受けて過渡現象が現われる
ため、被測定物14が静電容量、或いはインダクタンスを
有する時には安定するまでに時間がかかる。しかも、イ
ンサーキットテスタでは高速測定が要求され、各電気部
品等の被測定物を数msecで測定しなければならないた
め、過渡現象を無視することができない。因みに、普通
のテスタではそのような高速測定をする必要性がないの
で、あまり問題がない。
Problems to be Solved by the Invention However, in such a measuring device, a coupling capacitor is used.
Since a transient phenomenon appears under the influence of the charging current with respect to 18, it takes time to stabilize when the DUT 14 has a capacitance or an inductance. Moreover, the in-circuit tester requires high-speed measurement, and the measured object such as each electric component must be measured in several msec, so that the transient phenomenon cannot be ignored. Incidentally, a normal tester does not need to perform such high-speed measurement, so there is not much problem.

本考案はこのような従来の問題点に着目してなされたも
のであり、過渡現象の影響を無くし、正確に,高速測定
を行なえる波形制御機能を有する交流電圧源を備えた測
定装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made by paying attention to such conventional problems, and provides a measuring device equipped with an AC voltage source having a waveform control function capable of performing accurate high-speed measurement without the influence of transient phenomena. The purpose is to do.

課題を解決するための手段 上記目的を達成するための手段を、以下実施例に対応す
る第1図を用いて説明する。
Means for Solving the Problems Means for achieving the above object will be described below with reference to FIG. 1 corresponding to the embodiment.

この波形制御機能を有する交流電圧源を備えた測定装置
は正弦波交流電圧を発生する交流電圧源と、その正弦波
交流電圧を被測定物40に印加する際に流れる電流を電圧
に変換するI/V変換器44と、その変換電圧から直流分を
除く結合コンデンサ46と、その交流分を検出する検出抵
抗48と、その検出した交流電圧を増幅する電圧増幅器50
と、その増幅電圧を直流に変換する整流回路52と、その
整流電圧をアナログ値からデジタル値に変換するA/Dコ
ンバータ54と、そのデジタル値を受けて被測定物40に流
れた電流を検知し、その値とそこに印加した既知の交流
電圧値から、抵抗、静電容量、インダクタンス等の電気
的特性値を算出するCPU58を備えた演算装置56とから成
る測定装置に係り、上記交流電圧源として、正弦波デー
タを記憶するメモリ30と、そのメモリ30に対し、読み出
すべきデータが格納されている番地を指定するアドレス
カウンタ32と、そのアドレスカウンタ32を進めるパルス
を発生するクロック34と、そのメモリ30から読み出した
正弦波データをデジタル値からアナログ値で示す正弦波
交流電圧に変換するD/Aコンバータ36と、その正弦波交
流電圧を被測定物40に印加する際に流れる電流を増幅す
るバッファアンプ38とを備え、被測定物40の種類に応じ
て、CPU58を備えた演算装置56により、整流回路52に入
る測定電流に対応する交流電圧が零から立ち上るように
アドレスカウンタ32を初期設定し、クロック34に対して
はアドレスカウンタ32を進めるパルスの発生周期の制御
を行なわせるものである。
The measuring apparatus provided with an AC voltage source having this waveform control function is an AC voltage source that generates a sine wave AC voltage, and a current that flows when the sine wave AC voltage is applied to the DUT 40. / V converter 44, a coupling capacitor 46 that removes the DC component from the converted voltage, a detection resistor 48 that detects the AC component, and a voltage amplifier 50 that amplifies the detected AC voltage.
A rectifier circuit 52 for converting the amplified voltage to direct current, an A / D converter 54 for converting the rectified voltage from an analog value to a digital value, and a current flowing through the DUT 40 by receiving the digital value. However, according to the measurement device consisting of the value and the known AC voltage value applied thereto, the arithmetic unit 56 having a CPU 58 for calculating electrical characteristic values such as resistance, capacitance, and inductance. As a source, a memory 30 for storing sine wave data, an address counter 32 for designating an address at which the data to be read is stored for the memory 30, and a clock 34 for generating a pulse for advancing the address counter 32, When applying the sine wave AC voltage to the DUT 40 and the D / A converter 36 that converts the sine wave data read from the memory 30 into a sine wave AC voltage represented by an analog value from the digital value. An arithmetic unit 56 having a buffer amplifier 38 for amplifying the flowing current and having a CPU 58 according to the type of the DUT 40 is used so that the AC voltage corresponding to the measured current entering the rectifier circuit 52 rises from zero. The counter 32 is initialized and the clock 34 is controlled to generate a pulse for advancing the address counter 32.

作用 上記のように構成すると、CPU58を備えた演算装置56に
より、アドレスカウンタ32を初期設定し、クロック34か
らアドレスカウンタ32に入るパルスの発生周期を制御す
れば、アドレスのカウントが開始されると共に、指定さ
れた番地に格納されていた正弦波データが順次メモリ30
からD/Aコンバータ36を経て出て行くため、その正弦波
交流電圧の位相と周波数を自由に選択して被測定物40に
加えることができる。そこで、被測定物40の種類に応じ
て、そこに印加する正弦波交流電圧の位相と周波数を適
宜決定し、I/V変換器44、結合コンデンサ46、検出抵抗4
8、電圧増幅器50等を経て、整流回路52に入る測定電流
に対応する交流電圧を零から立ち上らせるようにする
と、整流波形がより早く安定する。
Operation With the above configuration, the address counter 32 is initialized by the arithmetic unit 56 having the CPU 58, and the generation cycle of the pulse entering the address counter 32 from the clock 34 is controlled. , The sine wave data stored in the specified address is sequentially stored in the memory 30.
Since it goes out through the D / A converter 36, the phase and frequency of the sinusoidal AC voltage can be freely selected and added to the DUT 40. Therefore, depending on the type of the DUT 40, the phase and frequency of the sinusoidal AC voltage applied thereto are appropriately determined, and the I / V converter 44, the coupling capacitor 46, the detection resistor 4
8. If the AC voltage corresponding to the measured current entering the rectifier circuit 52 is made to rise from zero via the voltage amplifier 50 and the like, the rectified waveform will be stabilized more quickly.

実施例 以下、添付図面に基づいて、本考案の実施例を説明す
る。
Embodiment An embodiment of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.

第1図は本考案を適用したインサーキットテスタ等の波
形制御機能を有する交流電圧源を備えた測定装置を示す
ブロック図である。図中、30は正弦波データを記憶する
ROM(読出し専用メモリ)又はRAM(読出し書込み可能メ
モリ)等のメモリ、32はメモリ30に対し、読み出すべき
データが格納されている番地を指定するアドレスカウン
タ、34はアドレスカウンタ32を進めるパルスを発生する
クロック、36はメモリ30から読み出した正弦波データを
デジタル値からアナログ値で示す正弦波交流電圧に変換
するD/Aコンバータ、38は正弦波交流電圧を被測定物40
に印加する際に流れる電流を増幅するバッファアンプで
ある。なお、バッファアンプ38と被測定物40との間には
回路を開閉するスイッチ42を介在する。又、44はその測
定電流を電圧に変換するI/V変換器、46は変換電圧から
直流分を除く結合コンデンサ、48は変換電圧の交流分を
検出する検出抵抗、50は検出した交流電圧を増幅するオ
ペアンプ等の電圧増幅器である。又、52はその増幅電圧
を直流に変換する整流回路、54は整流電圧をアナログ値
からデジタル値に変換するA/Dコンバータである。更
に、56は被測定物40の種類に応じて、整流回路52に入る
測定電流に対応する交流電圧が零から立ち上るようにア
ドレスカウンタ32を初期設定し、クロック34に対しては
そのアドレスカウンタ32を進めるパルスの発生周期の制
御を行なうと共に、A/Dコンバータ54からデジタル値を
受けて、被測定物40に流れた電流を検知し、その値とそ
こに印加した既知の交流電圧値から抵抗、静電容量、イ
ンダクタンス等の電気的特性値を算出するCPUを備えた
演算装置である。なお、アドレスカウンタ32の初期設定
により、メモリ30から最初に読み出す正弦波データの格
納番地を選択して指定することができる。又、クロック
パルスの発生周期を制御してアドレスカウンタ32にパル
スを1個入れる毎に、その指定するアドレスを1番地ず
つ進めると、そのアドレスに応じた正弦波データが順次
メモリ30からD/Aコンバータ38を経て出て行くため、そ
の正弦波交流電圧の周波数を自由に決定することができ
る。
FIG. 1 is a block diagram showing a measuring device equipped with an AC voltage source having a waveform control function, such as an in-circuit tester to which the present invention is applied. In the figure, 30 stores sine wave data
Memory such as ROM (read-only memory) or RAM (read / write memory), 32 is an address counter that specifies the address where the data to be read is stored in memory 30, 34 is a pulse that advances address counter 32 36, a D / A converter 36 for converting the sine wave data read from the memory 30 into a sine wave AC voltage indicated by an analog value from the digital value, and 38 a sine wave AC voltage for the DUT 40.
It is a buffer amplifier that amplifies the current that flows when it is applied to. A switch 42 for opening and closing the circuit is interposed between the buffer amplifier 38 and the DUT 40. Further, 44 is an I / V converter for converting the measured current into a voltage, 46 is a coupling capacitor for removing the DC component from the converted voltage, 48 is a detection resistor for detecting the AC component of the converted voltage, and 50 is the detected AC voltage. It is a voltage amplifier such as an operational amplifier that amplifies. Further, 52 is a rectifier circuit that converts the amplified voltage into DC, and 54 is an A / D converter that converts the rectified voltage from an analog value to a digital value. Further, reference numeral 56 initializes the address counter 32 so that the AC voltage corresponding to the measured current entering the rectifying circuit 52 rises from zero according to the type of the DUT 40, and for the clock 34, the address counter 32 is set. Controls the generation cycle of the pulse that advances the pulse, receives the digital value from the A / D converter 54, detects the current flowing through the DUT 40, and detects the resistance from the value and the known AC voltage value applied to it. An arithmetic unit having a CPU for calculating electric characteristic values such as capacitance, inductance and the like. By the initial setting of the address counter 32, the storage address of the sine wave data that is first read from the memory 30 can be selected and specified. Further, every time one pulse is put into the address counter 32 by controlling the generation cycle of the clock pulse, the designated address is advanced by one address, and the sine wave data corresponding to the address is sequentially transferred from the memory 30 to the D / A. Since it goes out via the converter 38, the frequency of the sinusoidal alternating voltage can be freely determined.

このCPUを備えた演算装置56には例えばCPU(中央処理装
置)58、ROM60、RAM62、入出力ポート64、バスライン66
等から構成されているマイクロコンピュータを用いる。
このCPU58はマイクロコンピュータの中心となる頭脳部
に相当し、プログラムの命令に従って、全体に対する制
御を実行すると共に、算術、論理演算を行ない、その結
果も一時的に記憶する。又、周辺装置に対しても制御を
行なっている。ROM60にはレコーダ全体を制御するため
の制御プログラム、測定処理プログラム等が格納されて
いる。又、RAM62はCPU58で演算した結果のデータ等を記
憶する。入出力ポート64にはアドレスカウンタ32、クロ
ック34、A/Dコンバータ54等と共に、記録装置、表示装
置、操作用スイッチ等(いずれも図示せず)が接続す
る。又、バスライン66はそれらを接続するためのアドレ
スバスライン、データバスライン、制御バスライン等を
含んでいる。
The arithmetic unit 56 equipped with this CPU includes, for example, a CPU (central processing unit) 58, ROM 60, RAM 62, input / output port 64, bus line 66.
A microcomputer composed of the above is used.
The CPU 58 corresponds to a central brain portion of a microcomputer, executes control over the whole according to instructions of a program, performs arithmetic and logical operations, and temporarily stores the result. It also controls peripheral devices. The ROM 60 stores a control program for controlling the entire recorder, a measurement processing program, and the like. Further, the RAM 62 stores the data of the result calculated by the CPU 58 and the like. The input / output port 64 is connected with an address counter 32, a clock 34, an A / D converter 54, and the like, as well as a recording device, a display device, operation switches, etc. (none of which are shown). Further, the bus line 66 includes an address bus line, a data bus line, a control bus line, etc. for connecting them.

次に、本実施例の動作を説明する。Next, the operation of this embodiment will be described.

先ず、第2図を用いて、結合コンデンサ(その静電容量
C)46と検出抵抗(その抵抗値R)48から成る直列回路
に、D/Aコンバータ36から正弦波交流電圧e=Emsin(ω
t+θ)を急に加える場合に、その回路に流れる電流に
ついて検討する。そこで、スイッチ42を閉じた瞬時から
t(sec)後の電流をiとすれば、その微分方程式は以
下のようになる。
First, referring to FIG. 2, a sine wave AC voltage e = Emsin (ω) from the D / A converter 36 to a series circuit composed of a coupling capacitor (its electrostatic capacity C) 46 and a detection resistor (its resistance value R) 48.
Consider the current flowing in the circuit when t + θ) is suddenly added. Therefore, if the current after t (sec) from the moment when the switch 42 is closed is i, the differential equation is as follows.

Ri+1/C∫idt=Emsin(ωt+θ) (1) この電流iは定常頃(定常状態電流)isと過渡項(過渡
電流)itとの2つの部分から成り立つ。即ち i=is+it (2) そして、この定常状態電流isは is=Isin(ωt+θ+φ) (3) 但し、 φ=tan-11/ωcR 次に、過渡項のitはRit+1/C∫itdt=0、又はこれを微
分したRdit/dt+it/C=Oの解である。即ち、この微分
方程式の一般解は it=Ae-t/CR(Aは定数) (4) 故に i=is+it=Isin(ωt+θ+φ)+Ae-t/CR (5) 初期条件として、t=0でi=0にすると、O=Isin
(θ+φ)+Aとなり、A=−Isin(θ+φ)となる。
Ri + 1 / C∫idt = Emsin (ωt + θ) (1) This current i is composed of two parts, a steady state (steady state current) is and a transient term (transient current) it. That is, i = is + it (2) And this steady-state current is is = Isin (ωt + θ + φ) (3) φ = tan −1 1 / ωcR Next, the transient term it is a solution of Rit + 1 / C∫itdt = 0 or a derivative of Rdit / dt + it / C = O. That is, the general solution of this differential equation is it = Ae- t / CR (A is a constant) (4) Therefore, i = is + it = Isin (ωt + θ + φ) + Ae- t / CR (5) As an initial condition, at t = 0, i = 0, O = Isin
(Θ + φ) + A and A = −Isin (θ + φ).

故に i=I{sin(ωt+θ+φ)−e-t/CRsin(θ+φ)}
(5)′ 通常、CRの時定数はCを大にしてφ=0と設定し、印加
電圧eがそのままRの両端にあらわれるようにする。
Therefore, i = I {sin (ωt + θ + φ) -e- t / CR sin (θ + φ)}
(5) 'Normally, the time constant of CR is set to φ = 0 by making C large so that the applied voltage e appears at both ends of R as it is.

故に i=I{sin(ωt+θ)−e-t/CRsinθ} (5)″ この(5)″の式で、過渡項の影響をなくすためにはsi
nθ=0、即ちθ=0であればよい。そこで、I/V変換器
44においては位相ずれがないものとすると、被測定物40
に流れる電流iの位相θが0度であれば良いことにな
る。
Therefore, i = I {sin (ωt + θ) −e −t / CR sin θ} (5) ″ In order to eliminate the influence of the transient term, it is si
It is sufficient if nθ = 0, that is, θ = 0. So I / V converter
Assuming that there is no phase shift in 44, the DUT 40
It suffices if the phase θ of the current i flowing through is 0 degree.

このような電流iを発生させるための正弦波交流電圧e
は被測定物40の種類に応じて以下のようになる。
A sinusoidal AC voltage e for generating such a current i
Is as follows depending on the type of the object 40 to be measured.

抵抗(R)では e=Emsinωt (6) この時、電流iRは同相となる。In the resistance (R), e = Emsinωt (6) At this time, the current iR is in phase.

静電容量(C)では e=Emsin(ωt−90°) (7) この時、電流iCは第3(イ)図に示すように90°進む。In the electrostatic capacitance (C), e = Emsin (ωt−90 °) (7) At this time, the current iC advances by 90 ° as shown in FIG.

インダクタンス(L)では e=Emsin(ωt+90°) (8) この時、電流iLは第3(ロ)図に示すように90°遅れ
る。
In the case of the inductance (L), e = Emsin (ωt + 90 °) (8) At this time, the current iL is delayed by 90 ° as shown in Fig. 3 (b).

このようにして、整流回路52に入る測定電流iに対応す
る交流電圧の波形が被測定物40の種類に応じて零から立
ち上るように印加電圧eの波形を制御してやると、整流
波形がより早く安定して高速測定ができる。
In this way, if the waveform of the applied voltage e is controlled so that the waveform of the AC voltage corresponding to the measured current i entering the rectifier circuit 52 rises from zero according to the type of the DUT 40, the rectified waveform becomes faster. Stable high speed measurement is possible.

又、波形を停止する際にも電流値iが零になっているポ
イントで止めると、被測定物40中の残留電荷が少なくな
って好都合である。
Also, when the waveform is stopped, if it is stopped at the point where the current value i is zero, the residual charge in the DUT 40 is reduced, which is convenient.

考案の効果 以上説明した本考案によれば、測定電流に現われる過渡
現象の影響を無くして、被測定物の電気的特性値を正確
に、高速に測定することができる。
Effect of the Invention According to the present invention described above, it is possible to measure the electrical characteristic value of the object to be measured accurately and at high speed by eliminating the influence of the transient phenomenon that appears in the measurement current.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本考案を適用した波形制御機能を有する交流電
圧源を備えた測定位置を示すブロック図である。 第2図は同測定装置における一部の動作を説明する回路
図、第3図はその回路に被測定物を介在した場合の電
圧、電流の関係を示す波形図であり、(イ)図は被測定
物が静電容量、(ロ)図は被測定物がインダクタンスで
ある。 第4図は従来の交流電圧源を備えた測定装置を示すブロ
ック図である。 30……メモリ、32……アドレスカウンタ、34……クロッ
ク、36……D/Aコンバータ、38……バッファアンプ、40
……被測定物、44……I/V変換器、46……結合コンデン
サ、48……検出抵抗、50……電圧増幅器、52……整流回
路、54……A/Dコンバータ、56……CPU58を備えた演算装
FIG. 1 is a block diagram showing a measurement position provided with an AC voltage source having a waveform control function to which the present invention is applied. FIG. 2 is a circuit diagram for explaining a part of the operation of the measuring device, FIG. 3 is a waveform diagram showing the relationship between voltage and current when the DUT is interposed in the circuit, and FIG. The object to be measured is capacitance, and the object to be measured is inductance in (b). FIG. 4 is a block diagram showing a conventional measuring device equipped with an AC voltage source. 30 …… Memory, 32 …… Address counter, 34 …… Clock, 36 …… D / A converter, 38 …… Buffer amplifier, 40
…… DUT, 44 …… I / V converter, 46 …… Coupling capacitor, 48 …… Detecting resistor, 50 …… Voltage amplifier, 52 …… Rectifier circuit, 54 …… A / D converter, 56 …… Arithmetic device with CPU58

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】正弦波交流電圧を発生する交流電圧源と、
その正弦波交流電圧を被測定物に印加する際に流れる電
流を電圧に変換するI/V変換器と、その変換電圧から直
流分を除く結合コンデンサと、その交流分を検出する検
出抵抗と、その検出した交流電圧を増幅する電圧増幅器
と、その増幅電圧を直流に変換する整流回路と、その整
流電圧をアナログ値からデジタル値に変換するA/Dコン
バータと、そのデジタル値を受けて被測定物に流れた電
流を検知し、その値とそこに印加した既知の交流電圧値
から電気的特性値を算出するCPUを備えた演算装置とか
ら成る測定装置において、上記交流電圧源として、正弦
波データを記憶するメモリと、そのメモリに対し、読み
出すべきデータが格納されている番地を指定するアドレ
スカウンタと、そのアドレスカウンタを進めるパルスを
発生するクロックと、そのメモリから読み出した正弦波
データをデジタル値からアナログ値で示す正弦波交流電
圧に変換するD/Aコンバータと、その正弦波交流電圧を
被測定物に印加する際に流れる電流を増幅するバッファ
アンプとを備え、被測定物の種類に応じて、CPUを備え
た演算装置により、整流回路に入る測定電流に対応する
交流電圧が零から立ち上るようにアドレスカウンタを初
期設定し、クロックからアドレスカウンタに入るパルス
の発生周期を制御することを特徴とする波形制御機能を
有する交流電圧源を備えた測定装置。
1. An AC voltage source for generating a sinusoidal AC voltage,
An I / V converter that converts the current that flows when the sine wave AC voltage is applied to the DUT, a coupling capacitor that removes the DC component from the converted voltage, and a detection resistor that detects the AC component, A voltage amplifier that amplifies the detected AC voltage, a rectifier circuit that converts the amplified voltage to DC, an A / D converter that converts the rectified voltage from an analog value to a digital value, and the digital value to be measured. In a measuring device consisting of a current flowing through an object and a calculation device having a CPU for calculating an electrical characteristic value from the value and a known AC voltage value applied thereto, a sine wave is used as the AC voltage source. A memory that stores data, an address counter that specifies the address where the data to be read is stored, a clock that generates a pulse that advances the address counter, and A D / A converter that converts the sine wave data read from the memory into a sine wave AC voltage indicated by an analog value, and a buffer amplifier that amplifies the current that flows when the sine wave AC voltage is applied to the DUT. Depending on the type of object to be measured, an arithmetic unit equipped with a CPU initializes the address counter so that the AC voltage corresponding to the measurement current entering the rectifier circuit rises from zero, and enters the address counter from the clock. A measuring apparatus provided with an AC voltage source having a waveform control function, characterized by controlling a pulse generation period.
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