JPH0733151Y2 - 米粒品質判定装置 - Google Patents
米粒品質判定装置Info
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- JPH0733151Y2 JPH0733151Y2 JP1989066892U JP6689289U JPH0733151Y2 JP H0733151 Y2 JPH0733151 Y2 JP H0733151Y2 JP 1989066892 U JP1989066892 U JP 1989066892U JP 6689289 U JP6689289 U JP 6689289U JP H0733151 Y2 JPH0733151 Y2 JP H0733151Y2
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- Japan
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- sample dish
- unit
- rice
- sample
- rice grains
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Description
この考案は米粒、特に玄米の品質判定装置に関する。
本出願人はすでに実願昭61−178330号（実開昭63−8455
7号）ないしは特願昭62−184336号にて、光学的手段を
用いた玄米の品質判定装置を提案している。このもの
は、玄米一粒ごとに光を照射し、試料である玄米を透過
した光及び反射した光の量を検出し、これらを異なる波
長の光に分析してその比率等を演算し、それを基準値と
比較することにより、米粒の品質を判定していた。
7号）ないしは特願昭62−184336号にて、光学的手段を
用いた玄米の品質判定装置を提案している。このもの
は、玄米一粒ごとに光を照射し、試料である玄米を透過
した光及び反射した光の量を検出し、これらを異なる波
長の光に分析してその比率等を演算し、それを基準値と
比較することにより、米粒の品質を判定していた。
ところがこのような従来の品質判定装置では、一粒ごと
に判定処理を行うので検査規格に合わせて1000粒にも及
ぶ検査を行おうとすると、極めて検査時間が長くかかる
欠点があった。 そこで検査時間を短縮すべく一粒ごとの処理スピードを
速くすると、試料供給や測定の制御が応じ切れない。
又、カラーイメージスキャナを利用して一度に複数の粒
を対象として検出し、それらを各米粒毎に個別に検査し
ようとする場合、対象エリヤ内に試料を分散させると、
まず米粒の位置や輪郭を求める処理を施す必要があり、
困難を来す。更に分散させた米粒が接近していたり重な
っていたりする場合は、上記演算処理が複雑になり、か
つ時間が長引く不都合が生じた。 なお、米粒の位置を求めるのは、平面上の位置であり、
光学系との焦点を合わせる（即ち、スキャナ部と米粒と
の距離を合わせる）ことは前提の条件であるが、光学系
の焦点深度が浅い場合には、米粒を光学系の焦点位置に
供給することも重要な問題である。 又、米粒の一方の面だけでなく他方の面も検査する場
合、複数の米粒を一粒ずつ裏返すのは非常に困難で作業
性が悪い。米粒を透明板に載置し、スキャナ部を透明板
の裏面に沿わせても米粒の裏面の検査はできるが操作性
は悪い。 更に既存のイメージスキャナは、ワードプロセッサの画
像入力用として使用される場合が多く、使用形態として
はパーソナルコンピュータの記憶装置を前記記憶部とし
て、又、CRTを前記表示部として構成されるので、米粒
の品質判定器として検査現場で使用するには、迅速な操
作ができない不具合があった。
に判定処理を行うので検査規格に合わせて1000粒にも及
ぶ検査を行おうとすると、極めて検査時間が長くかかる
欠点があった。 そこで検査時間を短縮すべく一粒ごとの処理スピードを
速くすると、試料供給や測定の制御が応じ切れない。
又、カラーイメージスキャナを利用して一度に複数の粒
を対象として検出し、それらを各米粒毎に個別に検査し
ようとする場合、対象エリヤ内に試料を分散させると、
まず米粒の位置や輪郭を求める処理を施す必要があり、
困難を来す。更に分散させた米粒が接近していたり重な
っていたりする場合は、上記演算処理が複雑になり、か
つ時間が長引く不都合が生じた。 なお、米粒の位置を求めるのは、平面上の位置であり、
光学系との焦点を合わせる（即ち、スキャナ部と米粒と
の距離を合わせる）ことは前提の条件であるが、光学系
の焦点深度が浅い場合には、米粒を光学系の焦点位置に
供給することも重要な問題である。 又、米粒の一方の面だけでなく他方の面も検査する場
合、複数の米粒を一粒ずつ裏返すのは非常に困難で作業
性が悪い。米粒を透明板に載置し、スキャナ部を透明板
の裏面に沿わせても米粒の裏面の検査はできるが操作性
は悪い。 更に既存のイメージスキャナは、ワードプロセッサの画
像入力用として使用される場合が多く、使用形態として
はパーソナルコンピュータの記憶装置を前記記憶部とし
て、又、CRTを前記表示部として構成されるので、米粒
の品質判定器として検査現場で使用するには、迅速な操
作ができない不具合があった。
そこで本考案は、一度に多数の米粒を試料として検出
し、それから米粒の品質を各米粒毎に個別に判定処理し
得るものであって、しかも判定処理時間を短縮した実用
的な米粒の品質判定装置を提供することを目的とする。
し、それから米粒の品質を各米粒毎に個別に判定処理し
得るものであって、しかも判定処理時間を短縮した実用
的な米粒の品質判定装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、この出願の考案は、イメー
ジスキャナを利用して米粒の品質を判定処理する米粒品
質判定装置であって、 米粒の外形に沿う形状の凹窩部を表面に所定数だけ配列
形成した試料皿と、該試料皿上の米粒に光を照射する光
源，前記試料皿上の米粒からの反射光又は透過光を撮像
面に結像させる光学系，前記撮像面に結像された光学像
を光電変換してカラー画像信号を得る光電変換部からな
り、該光源，光学系，光電変換部を一体として移動させ
試料皿上をライン走査することによって、試料皿上に配
列した複数の米粒に対応する画像信号を出力するスキャ
ナ部と、該スキャナ部を駆動制御する駆動制御部と、前
記スキャナ部からの画像信号をカラーデータへA/D変換
し、試料皿上の米粒の配列関係に基づき、カラーデータ
の演算及び設定値との比較により、米粒品質を各米粒毎
に個別に判定する演算制御部と、前記設定値及び演算制
御部で得たデータを記憶する記憶部と、少なくとも前記
演算制御部の出力である品質判定結果を表示し得る表示
部とからなることを特徴とする。
ジスキャナを利用して米粒の品質を判定処理する米粒品
質判定装置であって、 米粒の外形に沿う形状の凹窩部を表面に所定数だけ配列
形成した試料皿と、該試料皿上の米粒に光を照射する光
源，前記試料皿上の米粒からの反射光又は透過光を撮像
面に結像させる光学系，前記撮像面に結像された光学像
を光電変換してカラー画像信号を得る光電変換部からな
り、該光源，光学系，光電変換部を一体として移動させ
試料皿上をライン走査することによって、試料皿上に配
列した複数の米粒に対応する画像信号を出力するスキャ
ナ部と、該スキャナ部を駆動制御する駆動制御部と、前
記スキャナ部からの画像信号をカラーデータへA/D変換
し、試料皿上の米粒の配列関係に基づき、カラーデータ
の演算及び設定値との比較により、米粒品質を各米粒毎
に個別に判定する演算制御部と、前記設定値及び演算制
御部で得たデータを記憶する記憶部と、少なくとも前記
演算制御部の出力である品質判定結果を表示し得る表示
部とからなることを特徴とする。
この考案は、上記の特徴ある構成により、試料皿上に配
列した多数の米粒に対して、スキャナ部によって一度に
ライン走査して試料皿上に配列した複数の米粒に対応す
る画像信号を得て、この画像信号から変換されたカラー
データに対して、各米粒の試料皿上の配列データに基づ
き演算処理または設定値との比較を行い米粒品質を各米
粒毎に個別に判定するので、各々の米粒の品質を速やか
に判定処理することができる。
列した多数の米粒に対して、スキャナ部によって一度に
ライン走査して試料皿上に配列した複数の米粒に対応す
る画像信号を得て、この画像信号から変換されたカラー
データに対して、各米粒の試料皿上の配列データに基づ
き演算処理または設定値との比較を行い米粒品質を各米
粒毎に個別に判定するので、各々の米粒の品質を速やか
に判定処理することができる。
次に図示した実施例に基づいて、この出願の考案の内容
を詳細に説明する。 第１〜２図はこの出願の考案における第１の実施例を示
すものである。図中、符号１は、公知のカラーイメージ
スキャナであり、スキャナ部２とコントローラ３と分離
型に形成しているが、コード31を介して信号の授受を行
い、データ処理してその結果を表示部４に表示するもの
である。このスキャナ部２は、ケース2a内に少なくとも
光源21とこの光源21が発する光が対象物に照射された際
に生ずる反射光を撮像面に結像するレンズからなる光学
系22と、この光学系22によって撮像面に結像された光学
像を光電変換し、任意に選定した所定の色（例えば、
赤、緑、青）に対応するカラー画像信号を発する光電変
換部23と、これらを一体にしてケース2a内で平面移動さ
せる駆動機構24とを有するものである。光源21としては
蛍光灯、光学系22にはロッドレンズアレイ、更に光電変
換部23にはイメージセンサ23aと増幅器23bを使用する。
又、前記ケース2a上面には透明材で形成した窓部2bを、
下面にも同様窓部2cを形成して、スキャナ部２を対象と
する試料皿５上にセットする場合に目視により位置決め
をやりやすくしてある。又、前記コントローラ３は、前
記駆動機構24を制御する駆動制御部32と、前記光電変換
部23が発するカラー画像信号を受けてカラーデータへA/
D変換し、このカラーデータから、試料皿上の米粒の配
列関係に基づき、個々の米粒の品質を判定可能なデータ
に演算処理し、さらに記憶部33から読み出す設定値との
比較を行い個々の米粒の品質を判定する演算制御部34
と、該演算制御部34から送られる判定結果を表示する表
示部４とからなる。 前記試料皿５は、第３図（ア）、（イ）に示すように、
上面には米粒Ｇが一粒だけ嵌入する凹窩部5aを所定数だ
け規則的に数百から一千個配列して形成したものであ
る。特に凹窩部5aは、その中心位置に米粒の中心が位置
するように米粒の外形に沿うような３次元形状としてい
る。前記試料皿５は第２図に示すように、外周部におい
て前記スキャナ部２の外周部と嵌合する構成として位置
決めを容易にしている。 第３図（ウ）、（エ）は、この出願の考案における第２
の実施例を示すもので、前記試料皿５を第１部材51及び
第２部材52とにより構成し、両部材51、52で試料Ｇを挟
持する形式としている。（ウ）の場合、凹窩部5aは第１
部材51のみに形成し、第２部材52は平板のままとし、
（エ）の場合は、第１部材51、第２部材52共に凹窩部5a
を形成する。このとき、凹窩部5aの深さは（ウ）の第１
部材51の凹窩部に比べて約半分の浅いものとして、いず
れも収容した試料が凹窩部5a内で反転しないようにして
いる。さらに、両部材51、52を合わせる場合に好都合な
凸部53とこれに嵌合する凹部54をそれぞれ第１部材51も
しくは第２部材52に形成して位置合わせを簡易にしてい
る。又、両部材51、52の両方を透明材で構成すれば、試
料皿５への投光照射を上方のみならず下方からも行うこ
とが可能となる。 第４図は、この出願の考案における第３の実施例を示す
ものである。即ち、前記試料皿５の上面、あるいはその
第１部材51の上面（つまりは試料皿５の内部）に所望の
表示を設けたもので、（ア）は前記凹窩部5aの中心に対
応する点表示55を各凹窩部5a全部につき設けたものであ
り、（イ）は前記凹窩部5aの配列を座標軸上に捉えるべ
く、Ｘ軸、Ｙ軸を位置付ける線表示56を設けたものであ
り、（ウ）は前記凹窩部5aに嵌入する試料Ｇがすでに特
定の色相を有するものであることに鑑み、これと色相判
別が容易な色合いにて塗装する如くして、凹窩部5aを除
く試料皿５の表面に色表示57（面表示）を施してある。 第５図は、この出願の考案における第４の実施例を示す
ものである。符号６は箱体であって、内部には前記スキ
ャナ部２、コントローラ３、等を収容することはもちろ
ん、表示部４あるいはプリンタ７を有する。そして、61
は側方に開口した前記試料皿５の挿入口である。この挿
入口61の内方にはガイド62を設けて、前記試料皿５を水
平に所定位置にセットできるようにし、その直上に前記
スキャナ部２を配設したものとする。なお、63はスイッ
チである。 なお、これまで試料皿５に対し、スキャナ部２をその上
方に配置する形態でのみ説明したが、この考案において
は、これに拘泥する理由はなく、試料皿５の下方に配置
してもよく、時に試料皿５を二枚合わせにした第２の考
案においては、試料皿５を水平方向のみならず縦方向に
て箱体６に挿入し、これと対置させてスキャナ部２を側
方から試料皿５に沿わせる形態とすることも可能であ
る。又、前記光源21と前記光学系22とを同一方向に備え
て反射光を集光するようにして説明したが、これを対向
させて透過光を集光してもよい。 次に作用について説明する。 上述の如き構成であるから、第１の実施例においては、
前記試料皿５に設けた凹窩部5aの数（所定数）だけ試料
を載置し、試料皿５に沿って前記スキャナ部２をセット
し、コントローラ３の駆動制御部32を操作して前記光源
21を試料皿５上を移動させながら試料に光を照射し、前
記光学系22により反射光を撮像面に結像し、この光学像
を前記光電変換部23で光電変換してカラー画像信号が得
られる。つまり、スキャナ部２は試料皿上をライン走査
することによって、試料皿上に配列した複数の米部に対
応する２次元の画像信号を出力する。そして、この２次
元の画像信号をA/D変換してその画像信号に応じたカラ
ーデータを演算処理部34に送る。そして、演算処理部34
では、２次元の画像信号に基づくカラーデータから、試
料皿上の米粒の配列関係のデータに基づき、個々の米粒
の品質を判定可能なデータに演算処理され、記憶部33に
記憶された設定値と比較して各米粒毎の個々の品質を判
定処理する。したがって、１回のライン走査に伴う処理
で、試料皿上の複数の米粒の品質判定を行うことができ
る。しかもその操作が極めて簡単容易であるから、処理
時間が著しく短かい。米粒は予め位置が決められている
凹窩部5aに収納載置されるので、試料皿５とスキャナ部
２との嵌合により、米粒の位置が容易に検出でき、米粒
の接近や重なりがないので、ソフトウエアの負担が軽く
なり、装置の検査判定処理時間も短縮された。 又、第２の実施例においては、前記試料皿５の凹窩部5a
を少なくとも第１部材51に形成するとともに、前記凹窩
部5aの全部を覆う形で第１部材51に添う第２部材52を用
意し、両部材51及び52とで試料皿５を形成したので、試
料たる米粒Ｇを凹窩部5aに収容したまま、これを裏返し
にすることで、容易に試料の両面に光を照射して、米粒
Ｇの品質を判定処理することができる。又、米粒を試料
皿５に載置したままで保管でき、再検査も同じ条件で試
料の供給ができるところから再現性の良い判定処理が可
能となる。 更に第３の実施例においては、前記試料皿５の凹窩部5a
に対応する位置に点表示55、又は線表示56、さらには面
表示57を設けたことにより、試料皿５とスキャナ部２と
の位置決め手段を設けなくても、前記スキャナ部２によ
る試料たる米粒Ｇのデータ検出が容易にでき、正確で迅
速な判定処理ができる。 加えて第４の実施例においては、前記スキャナ部２、コ
ントローラ３等を収容する箱体６に試料皿５の挿入口61
を設け、これに続く内方にはガイド62を設けて、前記試
料皿５を水平に所定位置にセットできるようにし、この
試料皿５の上面に沿うようにその直上に前記スキャナ部
２を配設したので、試料とスキャナ部２との距離が常に
一定に保たれ、データが正確となり品質の判定処理が正
確に速やかにできる。
を詳細に説明する。 第１〜２図はこの出願の考案における第１の実施例を示
すものである。図中、符号１は、公知のカラーイメージ
スキャナであり、スキャナ部２とコントローラ３と分離
型に形成しているが、コード31を介して信号の授受を行
い、データ処理してその結果を表示部４に表示するもの
である。このスキャナ部２は、ケース2a内に少なくとも
光源21とこの光源21が発する光が対象物に照射された際
に生ずる反射光を撮像面に結像するレンズからなる光学
系22と、この光学系22によって撮像面に結像された光学
像を光電変換し、任意に選定した所定の色（例えば、
赤、緑、青）に対応するカラー画像信号を発する光電変
換部23と、これらを一体にしてケース2a内で平面移動さ
せる駆動機構24とを有するものである。光源21としては
蛍光灯、光学系22にはロッドレンズアレイ、更に光電変
換部23にはイメージセンサ23aと増幅器23bを使用する。
又、前記ケース2a上面には透明材で形成した窓部2bを、
下面にも同様窓部2cを形成して、スキャナ部２を対象と
する試料皿５上にセットする場合に目視により位置決め
をやりやすくしてある。又、前記コントローラ３は、前
記駆動機構24を制御する駆動制御部32と、前記光電変換
部23が発するカラー画像信号を受けてカラーデータへA/
D変換し、このカラーデータから、試料皿上の米粒の配
列関係に基づき、個々の米粒の品質を判定可能なデータ
に演算処理し、さらに記憶部33から読み出す設定値との
比較を行い個々の米粒の品質を判定する演算制御部34
と、該演算制御部34から送られる判定結果を表示する表
示部４とからなる。 前記試料皿５は、第３図（ア）、（イ）に示すように、
上面には米粒Ｇが一粒だけ嵌入する凹窩部5aを所定数だ
け規則的に数百から一千個配列して形成したものであ
る。特に凹窩部5aは、その中心位置に米粒の中心が位置
するように米粒の外形に沿うような３次元形状としてい
る。前記試料皿５は第２図に示すように、外周部におい
て前記スキャナ部２の外周部と嵌合する構成として位置
決めを容易にしている。 第３図（ウ）、（エ）は、この出願の考案における第２
の実施例を示すもので、前記試料皿５を第１部材51及び
第２部材52とにより構成し、両部材51、52で試料Ｇを挟
持する形式としている。（ウ）の場合、凹窩部5aは第１
部材51のみに形成し、第２部材52は平板のままとし、
（エ）の場合は、第１部材51、第２部材52共に凹窩部5a
を形成する。このとき、凹窩部5aの深さは（ウ）の第１
部材51の凹窩部に比べて約半分の浅いものとして、いず
れも収容した試料が凹窩部5a内で反転しないようにして
いる。さらに、両部材51、52を合わせる場合に好都合な
凸部53とこれに嵌合する凹部54をそれぞれ第１部材51も
しくは第２部材52に形成して位置合わせを簡易にしてい
る。又、両部材51、52の両方を透明材で構成すれば、試
料皿５への投光照射を上方のみならず下方からも行うこ
とが可能となる。 第４図は、この出願の考案における第３の実施例を示す
ものである。即ち、前記試料皿５の上面、あるいはその
第１部材51の上面（つまりは試料皿５の内部）に所望の
表示を設けたもので、（ア）は前記凹窩部5aの中心に対
応する点表示55を各凹窩部5a全部につき設けたものであ
り、（イ）は前記凹窩部5aの配列を座標軸上に捉えるべ
く、Ｘ軸、Ｙ軸を位置付ける線表示56を設けたものであ
り、（ウ）は前記凹窩部5aに嵌入する試料Ｇがすでに特
定の色相を有するものであることに鑑み、これと色相判
別が容易な色合いにて塗装する如くして、凹窩部5aを除
く試料皿５の表面に色表示57（面表示）を施してある。 第５図は、この出願の考案における第４の実施例を示す
ものである。符号６は箱体であって、内部には前記スキ
ャナ部２、コントローラ３、等を収容することはもちろ
ん、表示部４あるいはプリンタ７を有する。そして、61
は側方に開口した前記試料皿５の挿入口である。この挿
入口61の内方にはガイド62を設けて、前記試料皿５を水
平に所定位置にセットできるようにし、その直上に前記
スキャナ部２を配設したものとする。なお、63はスイッ
チである。 なお、これまで試料皿５に対し、スキャナ部２をその上
方に配置する形態でのみ説明したが、この考案において
は、これに拘泥する理由はなく、試料皿５の下方に配置
してもよく、時に試料皿５を二枚合わせにした第２の考
案においては、試料皿５を水平方向のみならず縦方向に
て箱体６に挿入し、これと対置させてスキャナ部２を側
方から試料皿５に沿わせる形態とすることも可能であ
る。又、前記光源21と前記光学系22とを同一方向に備え
て反射光を集光するようにして説明したが、これを対向
させて透過光を集光してもよい。 次に作用について説明する。 上述の如き構成であるから、第１の実施例においては、
前記試料皿５に設けた凹窩部5aの数（所定数）だけ試料
を載置し、試料皿５に沿って前記スキャナ部２をセット
し、コントローラ３の駆動制御部32を操作して前記光源
21を試料皿５上を移動させながら試料に光を照射し、前
記光学系22により反射光を撮像面に結像し、この光学像
を前記光電変換部23で光電変換してカラー画像信号が得
られる。つまり、スキャナ部２は試料皿上をライン走査
することによって、試料皿上に配列した複数の米部に対
応する２次元の画像信号を出力する。そして、この２次
元の画像信号をA/D変換してその画像信号に応じたカラ
ーデータを演算処理部34に送る。そして、演算処理部34
では、２次元の画像信号に基づくカラーデータから、試
料皿上の米粒の配列関係のデータに基づき、個々の米粒
の品質を判定可能なデータに演算処理され、記憶部33に
記憶された設定値と比較して各米粒毎の個々の品質を判
定処理する。したがって、１回のライン走査に伴う処理
で、試料皿上の複数の米粒の品質判定を行うことができ
る。しかもその操作が極めて簡単容易であるから、処理
時間が著しく短かい。米粒は予め位置が決められている
凹窩部5aに収納載置されるので、試料皿５とスキャナ部
２との嵌合により、米粒の位置が容易に検出でき、米粒
の接近や重なりがないので、ソフトウエアの負担が軽く
なり、装置の検査判定処理時間も短縮された。 又、第２の実施例においては、前記試料皿５の凹窩部5a
を少なくとも第１部材51に形成するとともに、前記凹窩
部5aの全部を覆う形で第１部材51に添う第２部材52を用
意し、両部材51及び52とで試料皿５を形成したので、試
料たる米粒Ｇを凹窩部5aに収容したまま、これを裏返し
にすることで、容易に試料の両面に光を照射して、米粒
Ｇの品質を判定処理することができる。又、米粒を試料
皿５に載置したままで保管でき、再検査も同じ条件で試
料の供給ができるところから再現性の良い判定処理が可
能となる。 更に第３の実施例においては、前記試料皿５の凹窩部5a
に対応する位置に点表示55、又は線表示56、さらには面
表示57を設けたことにより、試料皿５とスキャナ部２と
の位置決め手段を設けなくても、前記スキャナ部２によ
る試料たる米粒Ｇのデータ検出が容易にでき、正確で迅
速な判定処理ができる。 加えて第４の実施例においては、前記スキャナ部２、コ
ントローラ３等を収容する箱体６に試料皿５の挿入口61
を設け、これに続く内方にはガイド62を設けて、前記試
料皿５を水平に所定位置にセットできるようにし、この
試料皿５の上面に沿うようにその直上に前記スキャナ部
２を配設したので、試料とスキャナ部２との距離が常に
一定に保たれ、データが正確となり品質の判定処理が正
確に速やかにできる。
以上説明したとおり、この出願の考案は上記の構成によ
り、試料皿上に配列した多数の米粒に対して、スキャナ
部によって一度にライン走査して試料皿上に配列した複
数の米粒に対応する画像信号を得て、この画像信号から
変換されたカラーデータに対して、各米粒の試料皿上の
配列データに基づき演算処理または設定値との比較を行
い米粒品質を各米粒毎に個別に判定するので、米粒１粒
づつを品質判定の対象にしながら１回のライン走査に伴
う処理で検出を完了することができ、各々の米粒の品質
判定処理の処理時間を大幅に短縮できる。
り、試料皿上に配列した多数の米粒に対して、スキャナ
部によって一度にライン走査して試料皿上に配列した複
数の米粒に対応する画像信号を得て、この画像信号から
変換されたカラーデータに対して、各米粒の試料皿上の
配列データに基づき演算処理または設定値との比較を行
い米粒品質を各米粒毎に個別に判定するので、米粒１粒
づつを品質判定の対象にしながら１回のライン走査に伴
う処理で検出を完了することができ、各々の米粒の品質
判定処理の処理時間を大幅に短縮できる。
図はこの出願の考案の実施例を示すもので、第１図は第
１の実施例の全体を示す斜視図、第２図は同じくその構
成原理を示す説明図、第３図は同じくその試料皿を示
し、（ア）は斜視図、（イ）は部分断面図、（ウ）、
（エ）は第２の実施例の試料皿を示す部分断面図、第４
図は第３の実施例の試料皿を示し、（ア）（イ）（ウ）
ともに部分平面図、第５図は第４の実施例を示す、
（ア）斜視図、（イ）説明用断面図である。 ２はスキャナ部、21は光源、22は光学系、23は光電変換
部、３はコントローラ、32は駆動制御部、33は記憶部、
34は演算制御部、４は表示部、５は試料皿、5aは凹窩
部、51は第１部材、52は第２部材、６は箱体、61は挿入
口、62はガイド、である。
１の実施例の全体を示す斜視図、第２図は同じくその構
成原理を示す説明図、第３図は同じくその試料皿を示
し、（ア）は斜視図、（イ）は部分断面図、（ウ）、
（エ）は第２の実施例の試料皿を示す部分断面図、第４
図は第３の実施例の試料皿を示し、（ア）（イ）（ウ）
ともに部分平面図、第５図は第４の実施例を示す、
（ア）斜視図、（イ）説明用断面図である。 ２はスキャナ部、21は光源、22は光学系、23は光電変換
部、３はコントローラ、32は駆動制御部、33は記憶部、
34は演算制御部、４は表示部、５は試料皿、5aは凹窩
部、51は第１部材、52は第２部材、６は箱体、61は挿入
口、62はガイド、である。
Claims (1)
- 【請求項１】米粒の外形に沿う形状の凹窩部を表面に所
定数だけ配列形成した試料皿と、該試料皿上の米粒に光
を照射する光源，前記試料皿上の米粒からの反射光又は
透過光を撮像面に結像させる光学系，前記撮像面に結像
された光学像を光電変換してカラー画像信号を得る光電
変換部からなり、該光源，光学系，光電変換部を一体と
して移動させ試料皿上をライン走査することによって、
試料皿上に配列した複数の米粒に対応する画像信号を出
力するスキャナ部と、 該スキャナ部を駆動制御する駆動制御部と、 前記スキャナ部からの画像信号をカラーデータへA/D変
換し、試料皿上の米粒の配列関係に基づき、カラーデー
タの演算及び設定値との比較により、米粒品質を各米粒
毎に個別に判定する演算制御部と、 前記設定値及び演算制御部で得たデータを記憶する記憶
部と、 少なくとも前記演算制御部の出力である品質判定結果を
表示し得る表示部とからなることを特徴とする米粒品質
判定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1989066892U JPH0733151Y2 (ja) | 1989-06-08 | 1989-06-08 | 米粒品質判定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1989066892U JPH0733151Y2 (ja) | 1989-06-08 | 1989-06-08 | 米粒品質判定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH036554U JPH036554U (ja) | 1991-01-22 |
| JPH0733151Y2 true JPH0733151Y2 (ja) | 1995-07-31 |
Family
ID=31599989
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1989066892U Expired - Lifetime JPH0733151Y2 (ja) | 1989-06-08 | 1989-06-08 | 米粒品質判定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0733151Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2011145287A1 (ja) * | 2010-05-19 | 2011-11-24 | 株式会社サタケ | 穀粒外観品位判別装置における品位別重量比率の算出方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4126009B2 (ja) * | 2003-12-25 | 2008-07-30 | 株式会社山本製作所 | 粒状被検査物状態判別装置 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5923248A (ja) * | 1982-07-29 | 1984-02-06 | Satake Eng Co Ltd | 米粒の胴割検出装置 |
| JPS5941746U (ja) * | 1982-09-11 | 1984-03-17 | 静岡製機株式会社 | 胴割れ米検定器 |
| US4713781A (en) * | 1985-09-19 | 1987-12-15 | Deere & Company | Grain damage analyzer |
| JPH0166060U (ja) * | 1987-10-20 | 1989-04-27 |
-
1989
- 1989-06-08 JP JP1989066892U patent/JPH0733151Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2011145287A1 (ja) * | 2010-05-19 | 2011-11-24 | 株式会社サタケ | 穀粒外観品位判別装置における品位別重量比率の算出方法 |
| JP2011242284A (ja) * | 2010-05-19 | 2011-12-01 | Satake Corp | 穀粒外観品位判別装置における品位別重量比率の算出方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH036554U (ja) | 1991-01-22 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |