JPS5923248A - 米粒の胴割検出装置 - Google Patents
米粒の胴割検出装置Info
- Publication number
- JPS5923248A JPS5923248A JP13303282A JP13303282A JPS5923248A JP S5923248 A JPS5923248 A JP S5923248A JP 13303282 A JP13303282 A JP 13303282A JP 13303282 A JP13303282 A JP 13303282A JP S5923248 A JPS5923248 A JP S5923248A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- detection
- grains
- cracks
- rice
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/02—Food
- G01N33/10—Starch-containing substances, e.g. dough
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Adjustment And Processing Of Grains (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、米粒の胴側検出装置の改良に関りる。
農産物検査法のメＭ格規稈には、１ル・１割粒はイの割
れの状態ににり規定以」二の割れ目をイｊりるーｂのを
各イ」り上で（Ｊ被害粒とされると共に、混入Ｊる被害
粒の最高限度（％）を規定している。
れの状態ににり規定以」二の割れ目をイｊりるーｂのを
各イ」り上で（Ｊ被害粒とされると共に、混入Ｊる被害
粒の最高限度（％）を規定している。
従来にａ）“ζノる米粒の／Ｊ１７訓検出は、没入ｆ；
Ｉｔ ６に聞［］シた透光窓７の任意所定数を数列状に
配設した１１１割検出用板体５と同様（第３図参照）←
二形成した米粒配列板を、その内部に反ＵＪ鏡と光源を
設（）た透視器の上部に横架し、前記没入部に供給した
米粒に対し、前記反射鏡を介して光源から照θ・］りる
と共に、モの透過光線を米粒の上部から拡大レンズを介
して目視りることにＪ：すｆＦｉ ２”１粒をぞれぞれ
検出したので、刃（粒中のＪｊ１１割粒を適確に鑑別し
てその貴石率を見定めることが甚だ困鮨であり、能率的
に鑑別りる手段の開光が望まれＣいた。
Ｉｔ ６に聞［］シた透光窓７の任意所定数を数列状に
配設した１１１割検出用板体５と同様（第３図参照）←
二形成した米粒配列板を、その内部に反ＵＪ鏡と光源を
設（）た透視器の上部に横架し、前記没入部に供給した
米粒に対し、前記反射鏡を介して光源から照θ・］りる
と共に、モの透過光線を米粒の上部から拡大レンズを介
して目視りることにＪ：すｆＦｉ ２”１粒をぞれぞれ
検出したので、刃（粒中のＪｊ１１割粒を適確に鑑別し
てその貴石率を見定めることが甚だ困鮨であり、能率的
に鑑別りる手段の開光が望まれＣいた。
以ＦＡ発明を、実施例図について説明りる。
符号１は箱形１幾枠Ｃ１該１幾枠１の内部（ご嵌挿用晶
２をそれぞれ設置プだ１対の側枠３．ｄを対向状に横設
し、前記側枠３，４の各嵌挿用Ｗｌ’ｉ ２ ＋２に＋
ｘｒｉ ；ｓｔ＋検出用仮休５体出入自在に嵌挿して装
りａし、該板体５には、役人部６に間［」シた透光窓７
の仔怠所定数を数列状に配設りるど共に、各透光窓７の
側部に位Ｕ検出用の）前孔８をでれそれ穿設し、前記板
体５の江意の透光窓７の」二下位置に、元溜１９ど複数
個の受光素子１０，１１どをは（江対向状に配置した光
電検出装置１２を説（〕、該検出装置１２を移動装置１
３に連結しＣ前記板体５面に沿って前（ｉ ６３よぴ左
右方向に移動りるようにし、に１こ前記移動装置１３は
＋ｉＦｉ 蛋移動部と左右移動部から構成されＣおり、
前記移動部は・前記側枠３の１゛側部に移動用開枠１／
Ｉを移動自在に嵌着りるど共に、前記側枠３面に固１−
レしたラック１５上を電動Ｈ１ｆ５の回１ＴｌｌＩＩに
ｉｖｂ着゛したビニＡン１７が回転し゛Ｃ前記移動用竪
什１４が側枠３」二を前後方向に移動りるようにし、ま
た）こ６移動部は、前屈開枠１４の上側部くご横架しｌ
こ１コール用横架祠１８に検出用移動枠′１９を複数個
の滑車２０・・・によつ−Ｃ吊設し、前記移ｖノ枠１０
は内部に説りた電動機２１の主軸に軸着した摺動輪２２
の回転にＪ、って前記横架材１８に沿って左右方向に移
動するようにし、また移動枠１９は連動泪申部２３を介
して光源用枠２４に連結され、前記板体５の」二下部を
一体的に移動りる。
２をそれぞれ設置プだ１対の側枠３．ｄを対向状に横設
し、前記側枠３，４の各嵌挿用Ｗｌ’ｉ ２ ＋２に＋
ｘｒｉ ；ｓｔ＋検出用仮休５体出入自在に嵌挿して装
りａし、該板体５には、役人部６に間［」シた透光窓７
の仔怠所定数を数列状に配設りるど共に、各透光窓７の
側部に位Ｕ検出用の）前孔８をでれそれ穿設し、前記板
体５の江意の透光窓７の」二下位置に、元溜１９ど複数
個の受光素子１０，１１どをは（江対向状に配置した光
電検出装置１２を説（〕、該検出装置１２を移動装置１
３に連結しＣ前記板体５面に沿って前（ｉ ６３よぴ左
右方向に移動りるようにし、に１こ前記移動装置１３は
＋ｉＦｉ 蛋移動部と左右移動部から構成されＣおり、
前記移動部は・前記側枠３の１゛側部に移動用開枠１／
Ｉを移動自在に嵌着りるど共に、前記側枠３面に固１−
レしたラック１５上を電動Ｈ１ｆ５の回１ＴｌｌＩＩに
ｉｖｂ着゛したビニＡン１７が回転し゛Ｃ前記移動用竪
什１４が側枠３」二を前後方向に移動りるようにし、ま
た）こ６移動部は、前屈開枠１４の上側部くご横架しｌ
こ１コール用横架祠１８に検出用移動枠′１９を複数個
の滑車２０・・・によつ−Ｃ吊設し、前記移ｖノ枠１０
は内部に説りた電動機２１の主軸に軸着した摺動輪２２
の回転にＪ、って前記横架材１８に沿って左右方向に移
動するようにし、また移動枠１９は連動泪申部２３を介
して光源用枠２４に連結され、前記板体５の」二下部を
一体的に移動りる。
前記移動枠１９には、前記米粒の長手方向の前後両側部
に対し、米粒の透過光線を受光する前記各受光素子１０
．１１をそれぞれ装着づると共に、前記板体５に設（プ
た位置検出用透孔８を通過する光線を受光づる位置検出
用受光素子２と５を配設し、また前記光洩１用枠２４に
は、米粒を照射りる光源９ど位置検出用透孔２６がそれ
ぞれ装着しである。
に対し、米粒の透過光線を受光する前記各受光素子１０
．１１をそれぞれ装着づると共に、前記板体５に設（プ
た位置検出用透孔８を通過する光線を受光づる位置検出
用受光素子２と５を配設し、また前記光洩１用枠２４に
は、米粒を照射りる光源９ど位置検出用透孔２６がそれ
ぞれ装着しである。
また前記各受光素子１０． １１ 、２５Ｊ３Ｊ：び前
記各電動機１６．２１は制器装置２７Ｊ５よび胴側検出
回路２８にそれぞれ関連的に連結され、制御装置２７の
制御信号によって各電動機１６゜２１が関連的に回転し
て移動装置１３３を作動し、該装置１３に連結した光電
検出装置１２を前後および左右方向に移動し前記板体５
に設けた所定数の６透光窓７・・・を連続的に移動し℃
米粒の検出作用を実施りる。イして各透光窓７・・・で
は、透光窓７に供給した米粒の１（手方向の前後両側部
に対し、前記光源９から照ｑ・］シてその透過光線を前
記各受光系子１０．ｌ’ｌににってそれぞれ受光りるど
共に、各米粒のそれぞれの受光信号はｌｌｌｉ割検出回
路２８を介しＣ粒数用バ１器２９に入力され乙イの胴割
粒数Ｊ５Ｊ、び胴側比率を表示りるＪ、う（こ形成しＴ
、ある。
記各電動機１６．２１は制器装置２７Ｊ５よび胴側検出
回路２８にそれぞれ関連的に連結され、制御装置２７の
制御信号によって各電動機１６゜２１が関連的に回転し
て移動装置１３３を作動し、該装置１３に連結した光電
検出装置１２を前後および左右方向に移動し前記板体５
に設けた所定数の６透光窓７・・・を連続的に移動し℃
米粒の検出作用を実施りる。イして各透光窓７・・・で
は、透光窓７に供給した米粒の１（手方向の前後両側部
に対し、前記光源９から照ｑ・］シてその透過光線を前
記各受光系子１０．ｌ’ｌににってそれぞれ受光りるど
共に、各米粒のそれぞれの受光信号はｌｌｌｉ割検出回
路２８を介しＣ粒数用バ１器２９に入力され乙イの胴割
粒数Ｊ５Ｊ、び胴側比率を表示りるＪ、う（こ形成しＴ
、ある。
圭）ボの構成にしたから、任彦所定数の試料米’Ｊｅｔ
を＋＋＋ｒ＋割検出用板検出用板体５人部６・・・にそ
れぞれ供給するど共に、前記板体５を両側枠３，４に設
【ノた各ｒｊ１：、 ２’ 、 ２に嵌伸しＣ該装買を
起動するど、制御！Ｉｌｌ駅置２装からの制御信号によ
って前記各電動ＩＵＩｔ１６．２１が関連的に回転して
移動装置１３をｎ〜Ｉノｒ光電検出装置ｒＵ１２を前後
およびＵ右方向に関連的に移動し、前記板体５に設【ノ
ｌご所定数の各透光窓７・・・に上載した米粒の検出作
用を連続的に実施する。で−して前記各透光窓７・・℃
′は、イの側部に股りた透孔８を通過づる光線を位置検
出用受光素子２５が受光し、イの受光信号によって各受
光素子１０．１１が直ちに作動し、前記透光窓７に上載
した米粒の長手方向の前後両側部に対し、下部の光ｉｔ
！ ９から照射してその透過光線を前記各受光素子１０
゜１１にＪζってそれぞれ受光し、その受光信号を胴側
検出回路２８に入ツノしでその受光比の差にＪ：って胴
割粒を検出覆ると共に、前記各透光窓７・・・に上載し
た米粒のそれぞれの検出信号を、粒数用ｈＩ器２９に入
ノｊしてその胴割粒数おにび胴側比率をそれぞれデジタ
ル表示する。前記胴割粒の検出は、没入部０に供給した
米粒に透光窓７を介しで照射した光線は米粒内を透過す
ると共に、その透過光線は胴割面におい°Ｃ散乱して光
Ｍ変化を生ずるので、前記米粒の長手方向の前後両側部
の各透過光線の光量を各受光素子１０．１１によってそ
れぞれ受光し、その受光量の差を検出づることにより胴
割粒を識別覆ることかできる。
を＋＋＋ｒ＋割検出用板検出用板体５人部６・・・にそ
れぞれ供給するど共に、前記板体５を両側枠３，４に設
【ノた各ｒｊ１：、 ２’ 、 ２に嵌伸しＣ該装買を
起動するど、制御！Ｉｌｌ駅置２装からの制御信号によ
って前記各電動ＩＵＩｔ１６．２１が関連的に回転して
移動装置１３をｎ〜Ｉノｒ光電検出装置ｒＵ１２を前後
およびＵ右方向に関連的に移動し、前記板体５に設【ノ
ｌご所定数の各透光窓７・・・に上載した米粒の検出作
用を連続的に実施する。で−して前記各透光窓７・・℃
′は、イの側部に股りた透孔８を通過づる光線を位置検
出用受光素子２５が受光し、イの受光信号によって各受
光素子１０．１１が直ちに作動し、前記透光窓７に上載
した米粒の長手方向の前後両側部に対し、下部の光ｉｔ
！ ９から照射してその透過光線を前記各受光素子１０
゜１１にＪζってそれぞれ受光し、その受光信号を胴側
検出回路２８に入ツノしでその受光比の差にＪ：って胴
割粒を検出覆ると共に、前記各透光窓７・・・に上載し
た米粒のそれぞれの検出信号を、粒数用ｈＩ器２９に入
ノｊしてその胴割粒数おにび胴側比率をそれぞれデジタ
ル表示する。前記胴割粒の検出は、没入部０に供給した
米粒に透光窓７を介しで照射した光線は米粒内を透過す
ると共に、その透過光線は胴割面におい°Ｃ散乱して光
Ｍ変化を生ずるので、前記米粒の長手方向の前後両側部
の各透過光線の光量を各受光素子１０．１１によってそ
れぞれ受光し、その受光量の差を検出づることにより胴
割粒を識別覆ることかできる。
このＪ、うに本発明の米粒の胴側検出装置は、没入部（
こ聞１”ｌ Ｌ ７こ透光窓の１１意所定数を数列状に
配設したＩｌｌｌｌ用検出体を（幾枠内部に出入自在に
装架し、前記板体の任意の透光窓の上下位置に、光源と
複数個の受光素子とを（Ｊぼ対面状（こ配器した光？ｌ
ｆ検出検出装設ＬＪ 、該検出製画を移動装置にｉｌ結
し−Ｃ前記板体面に沿っ−Ｃ前後Ｊ５Ｊ、びノｆ右プ５
向に移動りるようにしたので、簡潔な（、ｌ、ｉ造によ
つＣ任意の所定数米粒の胴割粒検出を自動化してその検
出作梁能率を大幅に向上でき、また前記透光窓に供給し
た米粒の長手方向の：Ｍｉ後両後部側部し、前記光源か
ら照則し−Ｃぞの透過光線を前記各受光素子によってイ
れぞれ受光し、ぞの受光ｉｎの升によっ（胴割粒を検出
りるとハに、前記各透光窓に上載した米粒のイれぞれの
検出信号を粒数用ａ１器に導入して胴割粒数Ｊ−３よび
胴１；す比率を表示りるので、高精度の光電的’、ｒ
１１１割検出に基づく正確なｌｌｆｌ割粒数おＪ、び胴
側比率を短時間に表示でき、農産物検出法に（１３りる
波害粒の検定をｒｉｆｆ実に、かつ円滑迅速に実ｈｆ！
ｉ Ｃきる等の効果を秦りるｂのである。
こ聞１”ｌ Ｌ ７こ透光窓の１１意所定数を数列状に
配設したＩｌｌｌｌ用検出体を（幾枠内部に出入自在に
装架し、前記板体の任意の透光窓の上下位置に、光源と
複数個の受光素子とを（Ｊぼ対面状（こ配器した光？ｌ
ｆ検出検出装設ＬＪ 、該検出製画を移動装置にｉｌ結
し−Ｃ前記板体面に沿っ−Ｃ前後Ｊ５Ｊ、びノｆ右プ５
向に移動りるようにしたので、簡潔な（、ｌ、ｉ造によ
つＣ任意の所定数米粒の胴割粒検出を自動化してその検
出作梁能率を大幅に向上でき、また前記透光窓に供給し
た米粒の長手方向の：Ｍｉ後両後部側部し、前記光源か
ら照則し−Ｃぞの透過光線を前記各受光素子によってイ
れぞれ受光し、ぞの受光ｉｎの升によっ（胴割粒を検出
りるとハに、前記各透光窓に上載した米粒のイれぞれの
検出信号を粒数用ａ１器に導入して胴割粒数Ｊ−３よび
胴１；す比率を表示りるので、高精度の光電的’、ｒ
１１１割検出に基づく正確なｌｌｆｌ割粒数おＪ、び胴
側比率を短時間に表示でき、農産物検出法に（１３りる
波害粒の検定をｒｉｆｆ実に、かつ円滑迅速に実ｈｆ！
ｉ Ｃきる等の効果を秦りるｂのである。
図面は本発明の実施例図である。１第１図は木製ｈψの
正断面図、第２図は木製首の一部側断面図、第３図はイ
の胴側検出用板体の平面図である。 １・・・箱形（幾枠 ２・・・乾燥用溝３・・
・側枠 ４・・・側枠５・・・板体
６・・・没入部７・・・透光窓 ８
・・・透孔０・・・光源 １０・・・受光素
子１１・・・受光索子 １２・・・光電検出′ｌ
！置１３・・・移動装折 １４・・・移動用開枠
１５・・・ラック １６・・・電動機１７・・
・ビニオン １８・・・ロール用横架月１９・・
・検出用移動枠 ２０・・・滑車２１・・・電動機
２２・・・摺動輪２３・・・連動滑車部
２４・・・光源用什２５・・・受光素子 ２６・
・・光源２７・・・制御装置 ２８・・・胴側検
出回路２９・・・粒数用剖器 第 ２１１ 第３図
正断面図、第２図は木製首の一部側断面図、第３図はイ
の胴側検出用板体の平面図である。 １・・・箱形（幾枠 ２・・・乾燥用溝３・・
・側枠 ４・・・側枠５・・・板体
６・・・没入部７・・・透光窓 ８
・・・透孔０・・・光源 １０・・・受光素
子１１・・・受光索子 １２・・・光電検出′ｌ
！置１３・・・移動装折 １４・・・移動用開枠
１５・・・ラック １６・・・電動機１７・・
・ビニオン １８・・・ロール用横架月１９・・
・検出用移動枠 ２０・・・滑車２１・・・電動機
２２・・・摺動輪２３・・・連動滑車部
２４・・・光源用什２５・・・受光素子 ２６・
・・光源２７・・・制御装置 ２８・・・胴側検
出回路２９・・・粒数用剖器 第 ２１１ 第３図
Claims (1)
- 没入部（こ聞［１した透光窓の（：Ｅ ＠所定数を数列
状に配設した胴側検出用板体を１本枠内部に出入口−（
＋（Ｃ装架し、前記板体の任意の透光窓の上８位１Ｎに
、元画と複数個の受光素子とをほぼ対向状に配置した光
′１ｕ検出装買を設り、該検出装置を移動装置（こ連結
しＣ前記板体面に）１）つＣ前後おＪ、び左も方向に移
動Ｊるようにし、前記透光窓に供給した米粒の長手方向
の１１（Ｊ後筒側部に対し、前記光源から照Ω・１しで
その透過光線を前記各受光素子（ごよつ７：（−れそ゛
れ受光し、イの受光ｍＯ′）差（ごよっ’Ｕ ｌｌｉｌ
割粒を検出りると共（こ、前記各透光窓に上載した米粒
のそれぞれの検出信号を粒数用ｂ１器に導入し′て；ｊ
）１割顆数ａ３よび胴ス］ｉｌＬ率を表示りるようにし
た米粒のｌＮｉ１割検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13303282A JPS5923248A (ja) | 1982-07-29 | 1982-07-29 | 米粒の胴割検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP13303282A JPS5923248A (ja) | 1982-07-29 | 1982-07-29 | 米粒の胴割検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5923248A true JPS5923248A (ja) | 1984-02-06 |
Family
ID=15095209
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP13303282A Pending JPS5923248A (ja) | 1982-07-29 | 1982-07-29 | 米粒の胴割検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5923248A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62263013A (ja) * | 1986-05-09 | 1987-11-16 | Dainippon Printing Co Ltd | 絵柄付き射出成形体の製造方法 |
| JPH036554U (ja) * | 1989-06-08 | 1991-01-22 | ||
| JPH038751U (ja) * | 1989-06-15 | 1991-01-28 | ||
| KR20030022661A (ko) * | 2001-09-10 | 2003-03-17 | 가부시키가이샤 야마모토세이사쿠쇼 | 곡립 품질 판정 시료 용기, 곡립 품질 판정기, 곡립 품질판정 장치, 곡립 화상 판독 장치, 곡립 화상 판독 장치용시료 정렬 지그, 시료 정렬 방법, 및 곡립 화상 판독장치용 시료 정렬기 |
| US7851722B2 (en) * | 2006-06-15 | 2010-12-14 | Satake Corporation | Optical cracked-grain selector |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55144531A (en) * | 1979-04-27 | 1980-11-11 | Ckd Corp | Detecting method of chipped of tablet |
| JPS5614143A (en) * | 1979-07-14 | 1981-02-10 | Satake Eng Co Ltd | Detector for fissured rice |
-
1982
- 1982-07-29 JP JP13303282A patent/JPS5923248A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55144531A (en) * | 1979-04-27 | 1980-11-11 | Ckd Corp | Detecting method of chipped of tablet |
| JPS5614143A (en) * | 1979-07-14 | 1981-02-10 | Satake Eng Co Ltd | Detector for fissured rice |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62263013A (ja) * | 1986-05-09 | 1987-11-16 | Dainippon Printing Co Ltd | 絵柄付き射出成形体の製造方法 |
| JPH036554U (ja) * | 1989-06-08 | 1991-01-22 | ||
| JPH038751U (ja) * | 1989-06-15 | 1991-01-28 | ||
| KR20030022661A (ko) * | 2001-09-10 | 2003-03-17 | 가부시키가이샤 야마모토세이사쿠쇼 | 곡립 품질 판정 시료 용기, 곡립 품질 판정기, 곡립 품질판정 장치, 곡립 화상 판독 장치, 곡립 화상 판독 장치용시료 정렬 지그, 시료 정렬 방법, 및 곡립 화상 판독장치용 시료 정렬기 |
| US7851722B2 (en) * | 2006-06-15 | 2010-12-14 | Satake Corporation | Optical cracked-grain selector |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP1720003B1 (en) | Multidirectional simultaneous observation optical system | |
| DE3473344D1 (en) | Device for determining alignment errors for shafts arranged one behind the other | |
| CA2326509A1 (en) | Container finish check detection | |
| DE19980579B4 (de) | Optisches Gerät zum Messen von Profilen von Wafern | |
| AU640058B2 (en) | Method and apparatus for determining the optical quality of a transparent plate | |
| DE68924633D1 (de) | Sonde für einen optischen Sensor. | |
| US4338028A (en) | Apparatus for inspecting translucent articles for faults | |
| DE3770482D1 (de) | Pruefgeraet fuer signale in optischen fasern. | |
| JPS5923248A (ja) | 米粒の胴割検出装置 | |
| CN102565008A (zh) | 一种利用积分球测量材料透射比的方法及装置 | |
| CN101932903A (zh) | 用于测量表面形状轮廓的方法和装置 | |
| EP0054349A3 (en) | Automatically focussed optical system | |
| DE68917965D1 (de) | Fehlerdetektorvorrichtung für einen optischen Abtastkopf. | |
| JP2009257828A (ja) | 距離計測装置の検査装置 | |
| DE3687614T2 (de) | Optischer messapparat. | |
| EP0159906A3 (en) | Optical switching devices | |
| ATE43016T1 (de) | Bewegliches ultraschallwandlerfeld. | |
| EP0715168B1 (en) | Apparatus for candling eggs for the presence of blood | |
| JPH0313545B2 (ja) | ||
| DE3643842C2 (de) | Anordnung zur berührungslosen Bestimmung der räumlichen Lage eines auf der Oberfläche eines Körpers befindlichen Objektpunkts | |
| JPS5860245A (ja) | 透明材料ストリツプの検査法及び検査装置 | |
| CN2286311Y (zh) | 信号透镜光透射比无损测量装置 | |
| KR20010020979A (ko) | 표시용 패널기판의 검사장치 | |
| GB2047401A (en) | Apparatus for performing an antibiotic assay | |
| GB1431902A (en) | Optical method and apparatus for exampining surfaces |