JPH07324978A - 混成熱撮像システム用熱絶縁構造およびその製造方法 - Google Patents
混成熱撮像システム用熱絶縁構造およびその製造方法Info
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- JPH07324978A JPH07324978A JP7004469A JP446995A JPH07324978A JP H07324978 A JPH07324978 A JP H07324978A JP 7004469 A JP7004469 A JP 7004469A JP 446995 A JP446995 A JP 446995A JP H07324978 A JPH07324978 A JP H07324978A
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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- H01L27/14—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
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-
- H—ELECTRICITY
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Abstract
(57)【要約】 (修正有)
【目的】 従来の熱絶縁構造の欠点および問題を大幅に
低減し、熱絶縁の強化が図れる熱撮像システム用熱絶縁
構造およびその製造方法を提供する。 【構成】 メサ型構造52をポリイミドで形成し、焦点
面アレイ30を集積回路基板70上に取り付ける。熱撮
像システム20は、熱絶縁構造50を集積回路基板70
上に配置し、熱センサ40の対応する焦点面アレイ30
を電気的に接続し機械的に接合する。各メサ型構造52
は、ポリイミド・メサ54から成り、その上に補強層5
6と、メサ型構造52の上面から隣接する接点パッドま
で達する金属導体58で形成する。焦点面アレイ30を
対応するメサ型構造52のアレイに接合し、ポリイミド
・メサ54を除去し、空間を形成する。得られたメサ型
構造52は、各熱センサ40のセンサ信号電極44と、
集積回路基板70上の対応する接点パッドとの間に、熱
的に絶縁された導電路を設ける。
低減し、熱絶縁の強化が図れる熱撮像システム用熱絶縁
構造およびその製造方法を提供する。 【構成】 メサ型構造52をポリイミドで形成し、焦点
面アレイ30を集積回路基板70上に取り付ける。熱撮
像システム20は、熱絶縁構造50を集積回路基板70
上に配置し、熱センサ40の対応する焦点面アレイ30
を電気的に接続し機械的に接合する。各メサ型構造52
は、ポリイミド・メサ54から成り、その上に補強層5
6と、メサ型構造52の上面から隣接する接点パッドま
で達する金属導体58で形成する。焦点面アレイ30を
対応するメサ型構造52のアレイに接合し、ポリイミド
・メサ54を除去し、空間を形成する。得られたメサ型
構造52は、各熱センサ40のセンサ信号電極44と、
集積回路基板70上の対応する接点パッドとの間に、熱
的に絶縁された導電路を設ける。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、混成固体システム(hib
rid solid state system) 用熱絶縁構造に関し、特に熱
(赤外線)撮像システムおよびその製造方法に関するも
のである。
rid solid state system) 用熱絶縁構造に関し、特に熱
(赤外線)撮像システムおよびその製造方法に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】熱センサの一般的な用途の1つに、夜間
監視機器のような、熱(赤外線)撮像装置(thermal (in
frared) imaging device) がある。かかる熱撮像装置の
一種に、集積回路基板に結合された赤外線検出素子また
は熱センサのアレイを焦点面に配し、焦点面アレイと集
積回路基板との間に対応する接点パッド・アレイを備え
た装置がある。熱センサは、得られる熱画像の画像要素
(即ち画素)を規定する。
監視機器のような、熱(赤外線)撮像装置(thermal (in
frared) imaging device) がある。かかる熱撮像装置の
一種に、集積回路基板に結合された赤外線検出素子また
は熱センサのアレイを焦点面に配し、焦点面アレイと集
積回路基板との間に対応する接点パッド・アレイを備え
た装置がある。熱センサは、得られる熱画像の画像要素
(即ち画素)を規定する。
【0003】熱センサの一種に、熱放射に応答して温度
変化に応じた電気分極状態(state of electrical polar
ization)を呈する強誘電材料で形成された、強誘電また
は熱電気素子(pyroelectric element)がある。強誘電素
子の一方側には、赤外線吸収部および共通電極が配置さ
れる。また、各強誘電素子の対向側にはセンサ信号電極
が配置される。赤外線吸収部および共通電極は、典型的
に、焦点面アレイの表面全体に延在し、強誘電素子の各
々に取り付けられている。各強誘電体素子は、典型的
に、それ自体の別個のセンサ信号電極を有する。各赤外
線検出素子即ち熱センサは、部分的に、コンデンサ板を
構成する赤外線吸収部および共通電極とそれぞれのセン
サ信号電極、およびコンデンサ板間に設けられる誘電体
または絶縁体を構成する強誘電素子によって構成されて
いる。
変化に応じた電気分極状態(state of electrical polar
ization)を呈する強誘電材料で形成された、強誘電また
は熱電気素子(pyroelectric element)がある。強誘電素
子の一方側には、赤外線吸収部および共通電極が配置さ
れる。また、各強誘電素子の対向側にはセンサ信号電極
が配置される。赤外線吸収部および共通電極は、典型的
に、焦点面アレイの表面全体に延在し、強誘電素子の各
々に取り付けられている。各強誘電体素子は、典型的
に、それ自体の別個のセンサ信号電極を有する。各赤外
線検出素子即ち熱センサは、部分的に、コンデンサ板を
構成する赤外線吸収部および共通電極とそれぞれのセン
サ信号電極、およびコンデンサ板間に設けられる誘電体
または絶縁体を構成する強誘電素子によって構成されて
いる。
【0004】熱応答を最高に速めると共に熱画像の精度
を高めるためには、好ましくは、焦点面アレイの各強誘
電素子を熱的に集積回路基板から絶縁し、各熱センサが
発生するセンサ信号が、入射する赤外線(infrared radi
ation)を高精度に表現できるようにする。熱絶縁構造
は、典型的に、焦点面アレイと集積回路基板との間に配
置され、機械的な接合(mechanical bonding)とセンサ信
号流の経路として作用すると共に、それぞれの熱センサ
から集積回路基板への熱拡散を最少に抑える。
を高めるためには、好ましくは、焦点面アレイの各強誘
電素子を熱的に集積回路基板から絶縁し、各熱センサが
発生するセンサ信号が、入射する赤外線(infrared radi
ation)を高精度に表現できるようにする。熱絶縁構造
は、典型的に、焦点面アレイと集積回路基板との間に配
置され、機械的な接合(mechanical bonding)とセンサ信
号流の経路として作用すると共に、それぞれの熱センサ
から集積回路基板への熱拡散を最少に抑える。
【0005】熱センサ・アレイとその下に位置する集積
回路基板との間に熱絶縁構造を設けるために、種々の方
法が用いられている。1つの方法が、ジェンナら(Jenne
r etal)の「熱撮像装置および熱撮像装置の製造方法」
と題された、アメリカ合衆国特許第4,663,529
号に開示されている。この特許では、チャンネルの正方
形格子が、熱センサ素子を構成する、対応する柱状物の
格子を形成する。各柱状物またはセンサは、導電層を被
覆された中央孔を含む。これら導電性孔は、その直径が
集積回路基板上に配置されている対応する電極バンプよ
りも小さくなるような寸法とされ、焦点面上の柱状物ア
レイが、対応する電極バンプ・アレイを有する集積回路
基板上に配置された時に、各熱センサの導電性孔が対応
する電極バンプ上に載り、電気的に接続されるようにな
っている。この構造の欠点は、導電性孔−柱状物アレイ
を対応する電極バンプ・アレイと合わせるには、厳しい
許容誤差(close tolerance) と正確な整合が要求される
ことである。この構造の他の欠点は、柱状物の構造的材
料としてフォトレジストが用いられるので、構造的に脆
く、溶剤による損傷を受け易いことである。
回路基板との間に熱絶縁構造を設けるために、種々の方
法が用いられている。1つの方法が、ジェンナら(Jenne
r etal)の「熱撮像装置および熱撮像装置の製造方法」
と題された、アメリカ合衆国特許第4,663,529
号に開示されている。この特許では、チャンネルの正方
形格子が、熱センサ素子を構成する、対応する柱状物の
格子を形成する。各柱状物またはセンサは、導電層を被
覆された中央孔を含む。これら導電性孔は、その直径が
集積回路基板上に配置されている対応する電極バンプよ
りも小さくなるような寸法とされ、焦点面上の柱状物ア
レイが、対応する電極バンプ・アレイを有する集積回路
基板上に配置された時に、各熱センサの導電性孔が対応
する電極バンプ上に載り、電気的に接続されるようにな
っている。この構造の欠点は、導電性孔−柱状物アレイ
を対応する電極バンプ・アレイと合わせるには、厳しい
許容誤差(close tolerance) と正確な整合が要求される
ことである。この構造の他の欠点は、柱状物の構造的材
料としてフォトレジストが用いられるので、構造的に脆
く、溶剤による損傷を受け易いことである。
【0006】他の方法が、マッコーマックら(McCormack
et al) の「強誘電撮像システム」と題され、本発明の
譲受人であるテキサス・インスツルメント・インコーポ
レーテッドに譲渡された、アメリカ合衆国特許第4,1
43,269号に開示されている。この特許は、集積回
路基板を覆う熱絶縁層(ポリイミド)内に導電性バイア
が形成された熱センサ・アレイ用の熱絶縁構造を含む。
この構造では、バイアが熱絶縁層内に形成され、接点パ
ッドが集積回路基板上に露出されている。熱センサ用セ
ンサ信号電極は、対応する導電性バイアと接触すること
により、関連する接点パッドへの電気的接続が行われ
る。この構造の欠点は、ポリイミドが多く用いられてい
るので、全熱抵抗が比較的低いことである。加えて、こ
の構造は比較的多数のプロセス・ステップを必要とする
ので、コストの増大を招く。
et al) の「強誘電撮像システム」と題され、本発明の
譲受人であるテキサス・インスツルメント・インコーポ
レーテッドに譲渡された、アメリカ合衆国特許第4,1
43,269号に開示されている。この特許は、集積回
路基板を覆う熱絶縁層(ポリイミド)内に導電性バイア
が形成された熱センサ・アレイ用の熱絶縁構造を含む。
この構造では、バイアが熱絶縁層内に形成され、接点パ
ッドが集積回路基板上に露出されている。熱センサ用セ
ンサ信号電極は、対応する導電性バイアと接触すること
により、関連する接点パッドへの電気的接続が行われ
る。この構造の欠点は、ポリイミドが多く用いられてい
るので、全熱抵抗が比較的低いことである。加えて、こ
の構造は比較的多数のプロセス・ステップを必要とする
ので、コストの増大を招く。
【0007】その他にも、ポリイミドで形成された熱絶
縁メサを有する熱絶縁構造を得る方法が、メイスナーら
(Meissner et al)の「熱撮像システム用ポリイミド熱絶
縁メサ」と題され、本発明の譲受人であるテキサス・イ
ンスツルメント・インコーポレーテッドに譲渡された、
アメリカ合衆国特許第5,047,644号に示されて
いる。
縁メサを有する熱絶縁構造を得る方法が、メイスナーら
(Meissner et al)の「熱撮像システム用ポリイミド熱絶
縁メサ」と題され、本発明の譲受人であるテキサス・イ
ンスツルメント・インコーポレーテッドに譲渡された、
アメリカ合衆国特許第5,047,644号に示されて
いる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、固体
システムの構成物の構造を機械的および/または電気的
に結合するために用いられる、従来の熱絶縁構造に関連
する欠点および問題を、大幅に低減或いは除去すること
である。本発明は、焦点面アレイと集積回路基板との間
に形成された熱絶縁用空間をメサ型構造のアレイに備え
ることによって熱絶縁が強化され、焦点面アレイが共に
用いられる集積回路基板に機械的および電気的に結合さ
れた、熱(赤外線)撮像システムのような混成装置の製
造を可能にする。
システムの構成物の構造を機械的および/または電気的
に結合するために用いられる、従来の熱絶縁構造に関連
する欠点および問題を、大幅に低減或いは除去すること
である。本発明は、焦点面アレイと集積回路基板との間
に形成された熱絶縁用空間をメサ型構造のアレイに備え
ることによって熱絶縁が強化され、焦点面アレイが共に
用いられる集積回路基板に機械的および電気的に結合さ
れた、熱(赤外線)撮像システムのような混成装置の製
造を可能にする。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明は、混成固体シス
テムの機械的および/または電気的に結合された構成物
の構造間において、前記構成物の構造を接合する間に用
いるために比較的堅固なメサ型構造を設け、接合処理に
続いて前記メサ型構造に熱的に絶縁された空間を設ける
ことによって、熱絶縁を改善する。前記メサ型構造は、
前記混成システムの構成物構造の1つの上に形成され、
そこから突出した構造とするができる。
テムの機械的および/または電気的に結合された構成物
の構造間において、前記構成物の構造を接合する間に用
いるために比較的堅固なメサ型構造を設け、接合処理に
続いて前記メサ型構造に熱的に絶縁された空間を設ける
ことによって、熱絶縁を改善する。前記メサ型構造は、
前記混成システムの構成物構造の1つの上に形成され、
そこから突出した構造とするができる。
【0010】本発明の重要な技術的利点は、各熱センサ
とその下に位置する集積回路基板との間に選択された空
間を有する、接合およびセンサ信号インターフェースに
よって、熱絶縁を改善することである。熱絶縁を強化す
ることにより、各熱センサと関連付けられた強誘電素子
の厚さを薄くし、しかも入射する赤外線に応じた比較的
高い温度変化を強誘電素子内で維持することが可能とな
る。用途によっては、熱センサと集積回路基板との間に
所望量の熱絶縁を維持しながら、熱絶縁構造の厚さも薄
くすることができる。本発明を組み込んだ熱絶縁構造
は、各熱センサと関連する信号対ノイズ比を改善すると
共に、熱撮像システム全体の性能自体を改善することが
でき、しかも同時に、各熱センサと関連付けられた強誘
電素子の厚さを薄くすることができる。また、本発明を
組み込んだ熱絶縁構造は、比較的少ないプロセス・ステ
ップで製造することができる。
とその下に位置する集積回路基板との間に選択された空
間を有する、接合およびセンサ信号インターフェースに
よって、熱絶縁を改善することである。熱絶縁を強化す
ることにより、各熱センサと関連付けられた強誘電素子
の厚さを薄くし、しかも入射する赤外線に応じた比較的
高い温度変化を強誘電素子内で維持することが可能とな
る。用途によっては、熱センサと集積回路基板との間に
所望量の熱絶縁を維持しながら、熱絶縁構造の厚さも薄
くすることができる。本発明を組み込んだ熱絶縁構造
は、各熱センサと関連する信号対ノイズ比を改善すると
共に、熱撮像システム全体の性能自体を改善することが
でき、しかも同時に、各熱センサと関連付けられた強誘
電素子の厚さを薄くすることができる。また、本発明を
組み込んだ熱絶縁構造は、比較的少ないプロセス・ステ
ップで製造することができる。
【0011】本発明の一態様では、前記熱絶縁構造は、
熱センサ・アレイを集積回路基板に結合するために、熱
撮像システムに用いられる。前記集積回路基板は、各熱
センサと集積回路基板との間に形成されたメサ型支持構
造に隣接して、その表面上に、対応する接点パッドのア
レイを有する。各々選択されたポリイミド材料で形成さ
れたメサ型構造のアレイは、最初に、接点パッド・アレ
イに隣接する集積回路基板表面から突出している。各メ
サ型構造は、各メサの上面から関連する接点パッドまで
の信号経路となるメサ導体を含む。焦点面アレイは、各
メサ型構造と接するように、集積回路基板上に配置さ
れ、各熱センサでは、センサ信号出力が各メサ導体を通
じて、関連する接点パッドに結合されるようになってい
る。熱センサをそれぞれのメサ型構造と接合した後、メ
サ型構造の一部を化学エッチングで除去し、熱絶縁を強
化するために所望の空間を設けることもできる。
熱センサ・アレイを集積回路基板に結合するために、熱
撮像システムに用いられる。前記集積回路基板は、各熱
センサと集積回路基板との間に形成されたメサ型支持構
造に隣接して、その表面上に、対応する接点パッドのア
レイを有する。各々選択されたポリイミド材料で形成さ
れたメサ型構造のアレイは、最初に、接点パッド・アレ
イに隣接する集積回路基板表面から突出している。各メ
サ型構造は、各メサの上面から関連する接点パッドまで
の信号経路となるメサ導体を含む。焦点面アレイは、各
メサ型構造と接するように、集積回路基板上に配置さ
れ、各熱センサでは、センサ信号出力が各メサ導体を通
じて、関連する接点パッドに結合されるようになってい
る。熱センサをそれぞれのメサ型構造と接合した後、メ
サ型構造の一部を化学エッチングで除去し、熱絶縁を強
化するために所望の空間を設けることもできる。
【0012】本発明の他の態様によれば、熱撮像システ
ム用の前記熱絶縁メサ型構造は、まずポリイミド材で作
られ、二酸化シリコンのシェルが形成される。別の形状
では、回路基板の各接点パッドに隣接して、傾斜した側
壁または垂直な側壁が形成されたポリイミド・メサ構造
とし、メサの上面から一方の側壁の下にわたって形成さ
れ隣接する集積回路接点パッドに達する、メサ帯状導体
によって、メサ−基板信号経路を設けることもできる。
これらの形状のいずれでも、熱センサが集積回路基板と
機械的および電気的に接合された後に、メサ型構造のポ
リイミド部分をエッチング技術によって除去して空間を
形成し、熱エネルギの転移に対して高い抵抗を備えるこ
とができる。
ム用の前記熱絶縁メサ型構造は、まずポリイミド材で作
られ、二酸化シリコンのシェルが形成される。別の形状
では、回路基板の各接点パッドに隣接して、傾斜した側
壁または垂直な側壁が形成されたポリイミド・メサ構造
とし、メサの上面から一方の側壁の下にわたって形成さ
れ隣接する集積回路接点パッドに達する、メサ帯状導体
によって、メサ−基板信号経路を設けることもできる。
これらの形状のいずれでも、熱センサが集積回路基板と
機械的および電気的に接合された後に、メサ型構造のポ
リイミド部分をエッチング技術によって除去して空間を
形成し、熱エネルギの転移に対して高い抵抗を備えるこ
とができる。
【0013】本発明の熱撮像システムは、赤外線吸収部
および共通電極と、別個のセンサ信号電極とを備えた、
強誘電熱センサ・アレイを焦点面に備えている。好まし
くは、前記焦点面アレイは、回路基板にバンプ接合によ
って結合され、バンプ接合用導電性材料(バンプ接合用
金属のような)が各メサ型構造および/または各センサ
信号電極の上面上に設けられる。メサ型構造に所望の空
間を形成する選択エッチング技術に用いるために、前記
赤外線吸収部および共通電極に複数の開口を形成するこ
ともできる。
および共通電極と、別個のセンサ信号電極とを備えた、
強誘電熱センサ・アレイを焦点面に備えている。好まし
くは、前記焦点面アレイは、回路基板にバンプ接合によ
って結合され、バンプ接合用導電性材料(バンプ接合用
金属のような)が各メサ型構造および/または各センサ
信号電極の上面上に設けられる。メサ型構造に所望の空
間を形成する選択エッチング技術に用いるために、前記
赤外線吸収部および共通電極に複数の開口を形成するこ
ともできる。
【0014】前記メサ構造のポリイミド部分は、フォト
リソグラフィ技術と、感光性または非感光性ポリイミド
のいずれかを用いて製造することができる。製造方法の
1つでは、感光性ポリイミドを用い、フォトレジスト上
のポリイミド層をパターニングし、次に前記ポリイミド
を現像して露出されなかった部分を除去し、所望の形状
およびアレイを有するメサ構造のポリイミド部分を残
す。硬化処理の後、標準的なフォトリソグラフィ技術を
用いて、二酸化シリコンのような適切な材料の薄層を、
ポリイミド・メサの外面に形成してもよい。前記焦点面
アレイと集積回路基板との間の接合処理を完了した後、
メサ型構造の残りのポリイミド部分を、選択エッチング
技術を用いて、除去することができる。
リソグラフィ技術と、感光性または非感光性ポリイミド
のいずれかを用いて製造することができる。製造方法の
1つでは、感光性ポリイミドを用い、フォトレジスト上
のポリイミド層をパターニングし、次に前記ポリイミド
を現像して露出されなかった部分を除去し、所望の形状
およびアレイを有するメサ構造のポリイミド部分を残
す。硬化処理の後、標準的なフォトリソグラフィ技術を
用いて、二酸化シリコンのような適切な材料の薄層を、
ポリイミド・メサの外面に形成してもよい。前記焦点面
アレイと集積回路基板との間の接合処理を完了した後、
メサ型構造の残りのポリイミド部分を、選択エッチング
技術を用いて、除去することができる。
【0015】本発明のメサ型構造の他の重要な技術的利
点には、ポリイミド(または他のポリマ)材料で最初に
メサ型構造を形成し、接合処理中機械的支持を与えるこ
とが含まれる。前記ポリイミド材料は、溶剤に対して耐
性があることが好ましい。熱絶縁メサ型構造を用いるこ
とによって、メサおよび信号経路形状の設計に柔軟性が
得られる。
点には、ポリイミド(または他のポリマ)材料で最初に
メサ型構造を形成し、接合処理中機械的支持を与えるこ
とが含まれる。前記ポリイミド材料は、溶剤に対して耐
性があることが好ましい。熱絶縁メサ型構造を用いるこ
とによって、メサおよび信号経路形状の設計に柔軟性が
得られる。
【0016】
【実施例】本発明の好適実施例およびその利点は、図1
〜図7を参照することによって、最もよく理解すること
ができよう。図面では、同様な番号は同様なおよび対応
する部分に用いられている。
〜図7を参照することによって、最もよく理解すること
ができよう。図面では、同様な番号は同様なおよび対応
する部分に用いられている。
【0017】赤外線検出器または熱撮像システムは、典
型的に、熱センサに当たる入射赤外線によって生じる熱
変化による電圧変化の発生、或いは熱センサを形成する
のに用いられる物質内における光子−電子相互作用によ
る電圧変化の発生のいずれかに基づいている。後者の効
果は、時として、内部光電効果とも呼ばれている。熱撮
像システム20および120は、入射赤外線によって生
じる強誘電材料の温度変化による電圧変化の発生に基づ
いて機能するものであるが、その詳細については後述す
る。
型的に、熱センサに当たる入射赤外線によって生じる熱
変化による電圧変化の発生、或いは熱センサを形成する
のに用いられる物質内における光子−電子相互作用によ
る電圧変化の発生のいずれかに基づいている。後者の効
果は、時として、内部光電効果とも呼ばれている。熱撮
像システム20および120は、入射赤外線によって生
じる強誘電材料の温度変化による電圧変化の発生に基づ
いて機能するものであるが、その詳細については後述す
る。
【0018】本発明の一実施例を、赤外線検出器または
熱撮像システム20に関連付けて示す。熱撮像システム
20を構成する主要構成物即ち構造には、焦点面アレイ
30、熱絶縁構造50、および集積回路基板70が含ま
れる。焦点面アレイ30は、複数の熱センサ40を含
む。熱センサの量および形状は、焦点面アレイの所望の
寸法(N X M)によって異なる。熱撮像システム2
0の種々の構成物は、真空環境にある筺体(図示せず)
に収容することが好ましい。熱絶縁構造50によって設
けられる空間60は、真空環境に熱絶縁を設けることに
関して、特に影響を受ける。
熱撮像システム20に関連付けて示す。熱撮像システム
20を構成する主要構成物即ち構造には、焦点面アレイ
30、熱絶縁構造50、および集積回路基板70が含ま
れる。焦点面アレイ30は、複数の熱センサ40を含
む。熱センサの量および形状は、焦点面アレイの所望の
寸法(N X M)によって異なる。熱撮像システム2
0の種々の構成物は、真空環境にある筺体(図示せず)
に収容することが好ましい。熱絶縁構造50によって設
けられる空間60は、真空環境に熱絶縁を設けることに
関して、特に影響を受ける。
【0019】熱絶縁構造50は、焦点面アレイ30を集
積回路基板70に接合する間、機械的に支持するために
用いられ、焦点面アレイ30を集積回路基板70から熱
的に絶縁すると共に、焦点面アレイ30と集積回路基板
70との間のセンサ信号インターフェースがここに形成
される。センサ信号インターフェースにより、集積回路
基板70は、焦点面アレイによって検出された入射赤外
線を基に、熱画像の処理を行うことができる。本発明の
熱絶縁構造50は、混成固体システムに容易に適応可能
であり、混成固体システムは強化された熱絶縁による恩
恵を受けることができる。
積回路基板70に接合する間、機械的に支持するために
用いられ、焦点面アレイ30を集積回路基板70から熱
的に絶縁すると共に、焦点面アレイ30と集積回路基板
70との間のセンサ信号インターフェースがここに形成
される。センサ信号インターフェースにより、集積回路
基板70は、焦点面アレイによって検出された入射赤外
線を基に、熱画像の処理を行うことができる。本発明の
熱絶縁構造50は、混成固体システムに容易に適応可能
であり、混成固体システムは強化された熱絶縁による恩
恵を受けることができる。
【0020】本発明は、多種多様の半導体材料および集
積回路基板に良好に用いることができる。「強誘電体撮
像システム」と題されたアメリカ合衆国特許第4,14
3,269号は、強誘電材料とシリコン・スイッチング
・マトリクスまたは集積回路基板によって製造された赤
外線検出器に関する情報を提供する。アメリカ合衆国特
許第4,143,269号は、あらゆる目的のために、
本願に含まれるものとする。
積回路基板に良好に用いることができる。「強誘電体撮
像システム」と題されたアメリカ合衆国特許第4,14
3,269号は、強誘電材料とシリコン・スイッチング
・マトリクスまたは集積回路基板によって製造された赤
外線検出器に関する情報を提供する。アメリカ合衆国特
許第4,143,269号は、あらゆる目的のために、
本願に含まれるものとする。
【0021】図1〜図5に示すように、熱撮像システム
20は、焦点面アレイ30に当たる入射赤外線に応答し
て熱画像を生成する。焦点面アレイ30の主要構成物に
は、赤外線吸収部および共通電極構造物32と、複数の
熱センサ40とが含まれる。更に、各熱センサ40は、
強誘電素子42と、各強誘電素子42と関連付けられた
センサ信号電極44とから成る。各強誘電素子42の一
方側は、赤外線吸収部および共通電極構造体32に取り
付けられている。各センサ信号電極44は、それに関連
付けられた強誘電素子44の対向側に取り付けられてい
る。
20は、焦点面アレイ30に当たる入射赤外線に応答し
て熱画像を生成する。焦点面アレイ30の主要構成物に
は、赤外線吸収部および共通電極構造物32と、複数の
熱センサ40とが含まれる。更に、各熱センサ40は、
強誘電素子42と、各強誘電素子42と関連付けられた
センサ信号電極44とから成る。各強誘電素子42の一
方側は、赤外線吸収部および共通電極構造体32に取り
付けられている。各センサ信号電極44は、それに関連
付けられた強誘電素子44の対向側に取り付けられてい
る。
【0022】入射赤外線は、強誘電素子42に熱変化を
誘発し、各強誘電素子42の電気分極を変化させる。各
センサ信号電極44に現れる熱画像を表わす信号は、関
連付けられた強誘電素子42の分極とキャパシタンスと
によって変化し、一方分極とキャパシタンスは入射赤外
線の関数である。焦点面アレイ30内の各熱センサ40
からの熱画像信号は、熱絶縁構造50によって設けられ
た各メサ型構造52を通じて、別個に集積回路基板70
に結合される。好ましくは、各熱センサ40は、集積回
路基板70上の対応する接点パッド72に、それと関連
付けられたメサ型構造52を通じて電気的に接続され
る。
誘発し、各強誘電素子42の電気分極を変化させる。各
センサ信号電極44に現れる熱画像を表わす信号は、関
連付けられた強誘電素子42の分極とキャパシタンスと
によって変化し、一方分極とキャパシタンスは入射赤外
線の関数である。焦点面アレイ30内の各熱センサ40
からの熱画像信号は、熱絶縁構造50によって設けられ
た各メサ型構造52を通じて、別個に集積回路基板70
に結合される。好ましくは、各熱センサ40は、集積回
路基板70上の対応する接点パッド72に、それと関連
付けられたメサ型構造52を通じて電気的に接続され
る。
【0023】混成固体システムに用いられる熱絶縁構造
は、多くの場合、電気信号伝導要素と熱絶縁要素の、2
つの要素から成る。この熱絶縁構造の一般的な構成は、
2本の並列熱電流経路(thermal current path)を有する
熱回路によって表わすことができる。前記2本の並列熱
電流経路の内、一方は低熱抵抗の電気信号導体によるも
のであり、他方は高熱抵抗熱絶縁要素によるものであ
る。設計目標の1つは、全熱電流の流れを最少に抑える
ことによって、各熱センサ40のそれぞれの強誘電素子
42の熱応答を最大に速めることである。
は、多くの場合、電気信号伝導要素と熱絶縁要素の、2
つの要素から成る。この熱絶縁構造の一般的な構成は、
2本の並列熱電流経路(thermal current path)を有する
熱回路によって表わすことができる。前記2本の並列熱
電流経路の内、一方は低熱抵抗の電気信号導体によるも
のであり、他方は高熱抵抗熱絶縁要素によるものであ
る。設計目標の1つは、全熱電流の流れを最少に抑える
ことによって、各熱センサ40のそれぞれの強誘電素子
42の熱応答を最大に速めることである。
【0024】図1に示すように、熱絶縁構造50は、セ
ンサ信号電極44およびそれと関連付けられた接点パッ
ド72の間に接続された熱回路51として表わされる。
熱電流iT は、熱絶縁構造50に対応する熱回路51の
2本の並列熱電流経路を通過する。即ち、導体成分iC
は、熱抵抗59を有するメサ帯状導体(mesa strip cond
uctor)58を通過し、メサ成分iM は熱抵抗57で表わ
されるメサ・シェル56と空間60とを通過する。メサ
・シェル56は、時として、薄膜シェル56または補強
膜層56と呼ばれることもある。設計の目標は、熱絶縁
構造50によって表わされる全熱抵抗を最大に高めるこ
とによって、全熱電流iT =iC +iMを最少に抑える
ことである。
ンサ信号電極44およびそれと関連付けられた接点パッ
ド72の間に接続された熱回路51として表わされる。
熱電流iT は、熱絶縁構造50に対応する熱回路51の
2本の並列熱電流経路を通過する。即ち、導体成分iC
は、熱抵抗59を有するメサ帯状導体(mesa strip cond
uctor)58を通過し、メサ成分iM は熱抵抗57で表わ
されるメサ・シェル56と空間60とを通過する。メサ
・シェル56は、時として、薄膜シェル56または補強
膜層56と呼ばれることもある。設計の目標は、熱絶縁
構造50によって表わされる全熱抵抗を最大に高めるこ
とによって、全熱電流iT =iC +iMを最少に抑える
ことである。
【0025】ある物質を流れる熱電流は、当該物質の熱
伝導率と体積(熱容量)とに依存する。メサ型構造52
について言えば、メサ・シェル56と空間60の熱伝導
率は非常に低い(即ち、熱抵抗が非常に高い)。典型的
に、各メサ型構造52のサイズは、主として、構造およ
び熱容量上の理由によって決定される(dictate) ので、
各メサ型構造52を通る熱電流のメサ成分iM は、典型
的に、各メサ型構造52の許容し得る最少サイズを決定
する構造的要件によって主に決定される。
伝導率と体積(熱容量)とに依存する。メサ型構造52
について言えば、メサ・シェル56と空間60の熱伝導
率は非常に低い(即ち、熱抵抗が非常に高い)。典型的
に、各メサ型構造52のサイズは、主として、構造およ
び熱容量上の理由によって決定される(dictate) ので、
各メサ型構造52を通る熱電流のメサ成分iM は、典型
的に、各メサ型構造52の許容し得る最少サイズを決定
する構造的要件によって主に決定される。
【0026】センサ信号流路を構成するメサ帯状導体5
8は、比較的低い熱抵抗、即ち比較的高い熱伝導性を有
することは避け難い。したがって、メサ帯状導体58に
よって与えられる全熱抵抗を増大させると共に、対応す
る熱電流導体成分iC を最少にするためには、メサ帯状
導体58は、できるだけ小さな断面積対長さ比を有する
ような形状とすべきである。
8は、比較的低い熱抵抗、即ち比較的高い熱伝導性を有
することは避け難い。したがって、メサ帯状導体58に
よって与えられる全熱抵抗を増大させると共に、対応す
る熱電流導体成分iC を最少にするためには、メサ帯状
導体58は、できるだけ小さな断面積対長さ比を有する
ような形状とすべきである。
【0027】推薦される設計方法は、最初に熱絶縁構造
50に対する構造的なセンサ信号流路および熱絶縁要件
を特定し、これによってその全体的領域および体積を決
定するというものである。次に、 メサ型構造52の形
状(configuration) を選択し、関連する熱抵抗を対応す
る熱電流のメサ成分im と共に決定する。一旦この熱電
流成分が決定されれば、熱撮像システム20の熱絶縁要
件を満たす全熱抵抗が得られるように、メサ帯状導体5
8およびメサ・シェル56の形状を選択することができ
る。
50に対する構造的なセンサ信号流路および熱絶縁要件
を特定し、これによってその全体的領域および体積を決
定するというものである。次に、 メサ型構造52の形
状(configuration) を選択し、関連する熱抵抗を対応す
る熱電流のメサ成分im と共に決定する。一旦この熱電
流成分が決定されれば、熱撮像システム20の熱絶縁要
件を満たす全熱抵抗が得られるように、メサ帯状導体5
8およびメサ・シェル56の形状を選択することができ
る。
【0028】典型的に、設計の選択は、メサ・シェル5
6、空間60およびメサ帯状導体58を変形し、所望の
構造的統合、センサ信号流路、および熱絶縁を形成する
という、プロセスの繰り返しである。空間60の存在に
よって、しばしば、熱絶縁構造50の全体的な厚さを、
空間60のない中実状メサを有する構造よりも、薄くす
ることができる。また、熱絶縁構造50によって、強誘
電素子42の厚さを薄くすることもでき、このため、製
造コストを低減し、同時に信号対ノイズ比を維持または
改善すると共に、得られる熱センサに伴うMTF損失を
低減する。
6、空間60およびメサ帯状導体58を変形し、所望の
構造的統合、センサ信号流路、および熱絶縁を形成する
という、プロセスの繰り返しである。空間60の存在に
よって、しばしば、熱絶縁構造50の全体的な厚さを、
空間60のない中実状メサを有する構造よりも、薄くす
ることができる。また、熱絶縁構造50によって、強誘
電素子42の厚さを薄くすることもでき、このため、製
造コストを低減し、同時に信号対ノイズ比を維持または
改善すると共に、得られる熱センサに伴うMTF損失を
低減する。
【0029】図4に示すように、熱的撮像システム20
は、別個の熱センサまたは赤外線検出素子40から成る
焦点面アレイ30と、これに対応する信号接点パッド7
2のアレイを含む集積回路基板70とを備えている。熱
絶縁構造50は、集積回路基板70上の各接点パッド7
2に隣接して形成された、メサ型構造52のアレイを含
む。熱絶縁構造50は、焦点面アレイ30の集積回路基
板70との接合中の機械的支持、各熱センサ40とそれ
と関連付けられた接点パッド72との間でのセンサ信号
接続、および焦点面アレイ30と集積回路基板70との
間の熱絶縁として作用する。
は、別個の熱センサまたは赤外線検出素子40から成る
焦点面アレイ30と、これに対応する信号接点パッド7
2のアレイを含む集積回路基板70とを備えている。熱
絶縁構造50は、集積回路基板70上の各接点パッド7
2に隣接して形成された、メサ型構造52のアレイを含
む。熱絶縁構造50は、焦点面アレイ30の集積回路基
板70との接合中の機械的支持、各熱センサ40とそれ
と関連付けられた接点パッド72との間でのセンサ信号
接続、および焦点面アレイ30と集積回路基板70との
間の熱絶縁として作用する。
【0030】各熱センサ40は、BST(チタン酸−バ
リウム−ストロンチウム)のような、適切な強誘電材料
で形成された強誘電素子42を含む。赤外線吸収部およ
び共通電極構造体32とセンサ信号電極44が、強誘電
素子42の対向する表面上に配置される。赤外線吸収部
および共通電極構造体32は、赤外線吸収層、即ち、赤
外線吸収材で形成された光学被覆層34と金属電極、即
ち、反射板36とから成る。金属電極36はいくつかの
重要な作用を行う。それには、各強誘電素子42の一方
側に電圧を供給すること、および入射赤外線を反射し光
学被覆層34との相互作用を高めることが含まれる。好
ましくは、関連するメサ型構造52にバンプ接合部64
を設けるための金属バンプ接合材を、各センサ信号電極
44に取り付ける。
リウム−ストロンチウム)のような、適切な強誘電材料
で形成された強誘電素子42を含む。赤外線吸収部およ
び共通電極構造体32とセンサ信号電極44が、強誘電
素子42の対向する表面上に配置される。赤外線吸収部
および共通電極構造体32は、赤外線吸収層、即ち、赤
外線吸収材で形成された光学被覆層34と金属電極、即
ち、反射板36とから成る。金属電極36はいくつかの
重要な作用を行う。それには、各強誘電素子42の一方
側に電圧を供給すること、および入射赤外線を反射し光
学被覆層34との相互作用を高めることが含まれる。好
ましくは、関連するメサ型構造52にバンプ接合部64
を設けるための金属バンプ接合材を、各センサ信号電極
44に取り付ける。
【0031】各熱センサ40に対して、強誘電素子4
2、赤外線吸収および共通電極構造体32、ならびにそ
れぞれのセンサ信号電極44が、強誘電変換器を構成す
る。即ち、赤外線吸収部および共通電極構造体32、な
らびにそれぞれのセンサ信号電極44がコンデンサ板を
形成し、一方強誘電材料42が誘電体として作用する。
結果的に得られるコンデンサは、温度依存性があり、強
誘電(または熱電気)変換機能を備えたものとなる。
2、赤外線吸収および共通電極構造体32、ならびにそ
れぞれのセンサ信号電極44が、強誘電変換器を構成す
る。即ち、赤外線吸収部および共通電極構造体32、な
らびにそれぞれのセンサ信号電極44がコンデンサ板を
形成し、一方強誘電材料42が誘電体として作用する。
結果的に得られるコンデンサは、温度依存性があり、強
誘電(または熱電気)変換機能を備えたものとなる。
【0032】各熱センサ40では、焦点面アレイ30に
入射する熱(赤外線)放射は、赤外線吸収部34によっ
て吸収され、金属電極36を介して隣接する強誘電素子
42に熱を伝達する。強誘電素子42に結果的に生じる
温度変化によって、電気分極の状態変化およびキャパシ
タンス変化が起こる。センサ信号電極44から得られる
対応するセンサ信号出力は、それぞれの強誘電変換器
(即ち、熱センサ40)の温度依存性分極およびキャパ
シタンスによって変化する。
入射する熱(赤外線)放射は、赤外線吸収部34によっ
て吸収され、金属電極36を介して隣接する強誘電素子
42に熱を伝達する。強誘電素子42に結果的に生じる
温度変化によって、電気分極の状態変化およびキャパシ
タンス変化が起こる。センサ信号電極44から得られる
対応するセンサ信号出力は、それぞれの強誘電変換器
(即ち、熱センサ40)の温度依存性分極およびキャパ
シタンスによって変化する。
【0033】集積回路基板70は、従来のスイッチング
・マトリクスと、共に用いられる一連の増幅器とから成
る。集積回路基板70は焦点面アレイ30に接合され、
各接点パッドは、対応する熱センサ40の関連付けられ
たセンサ信号電極44に電気的に接続される。熱絶縁構
造50は、集積回路基板70が熱センサ40の強誘電素
子42に蓄積される熱エネルギに対してヒート・シンク
として作用し、関連するセンサ信号の精度に悪影響を及
ぼすのを防止する。
・マトリクスと、共に用いられる一連の増幅器とから成
る。集積回路基板70は焦点面アレイ30に接合され、
各接点パッドは、対応する熱センサ40の関連付けられ
たセンサ信号電極44に電気的に接続される。熱絶縁構
造50は、集積回路基板70が熱センサ40の強誘電素
子42に蓄積される熱エネルギに対してヒート・シンク
として作用し、関連するセンサ信号の精度に悪影響を及
ぼすのを防止する。
【0034】各ポリイミド・メサ54は、関連する接点
パッド72に隣接して形成される。メサ帯状導体58
は、各メサ型構造52の上面と隣接する接点パッド72
との間の信号経路となる。メサ帯状導体58に推薦され
る材料には、熱伝導率が比較的低く応用が容易であると
いう理由のために、チタンおよびタングステン合金が含
まれる。
パッド72に隣接して形成される。メサ帯状導体58
は、各メサ型構造52の上面と隣接する接点パッド72
との間の信号経路となる。メサ帯状導体58に推薦され
る材料には、熱伝導率が比較的低く応用が容易であると
いう理由のために、チタンおよびタングステン合金が含
まれる。
【0035】バンプ接合金属62は、各メサ型構造52
の上面、即ち、メサ帯状導体58の上面部に形成される
のが好ましい。バンプ接合金属62は、センサ信号電極
44上のバンプ接合金属(図示せず)と一致するように
選択される。従来のバンプ接合手順を用いても、各熱セ
ンサ素子40の信号センサ電極44と対応するメサ型構
造52のメサ帯状導体58との間に良好な導電性帯64
を設けることができ、各熱センサ40と関連する接点パ
ッド72との間に良好なセンサ信号接続が結果的に得ら
れる。
の上面、即ち、メサ帯状導体58の上面部に形成される
のが好ましい。バンプ接合金属62は、センサ信号電極
44上のバンプ接合金属(図示せず)と一致するように
選択される。従来のバンプ接合手順を用いても、各熱セ
ンサ素子40の信号センサ電極44と対応するメサ型構
造52のメサ帯状導体58との間に良好な導電性帯64
を設けることができ、各熱センサ40と関連する接点パ
ッド72との間に良好なセンサ信号接続が結果的に得ら
れる。
【0036】これまでインジウム・バンプ接合技術が良
好に用いられて、焦点面アレイ30と熱絶縁構造50と
の間に金属接合64が形成されてきた。ポリイミド・メ
サ54および関連するメサ帯状導体58の形状は、設計
上の選択事項であり、熱絶縁および構造的剛度上の理由
に大きく依存する。代わりに、側壁が傾斜したメサ(後
述する)や、側壁が垂直なメサのような形状がメサ54
に用いてもよい。側壁が傾斜したメサ54には、メサ帯
状形状が導体58に推奨され、垂直側壁メサには、アメ
リカ合衆国特許第5,047,644号に示されるよう
なメサ−輪郭形状の方が導体58には適している。これ
らの形状は単なる例示であり、メサ型構造52やメサ帯
状導体58の他の形状も当業者には明白であろう。特
に、メサ型構造52は水平および垂直断面が対称的に示
されているが、かかる対称性は必ずしも必要ではない。
好に用いられて、焦点面アレイ30と熱絶縁構造50と
の間に金属接合64が形成されてきた。ポリイミド・メ
サ54および関連するメサ帯状導体58の形状は、設計
上の選択事項であり、熱絶縁および構造的剛度上の理由
に大きく依存する。代わりに、側壁が傾斜したメサ(後
述する)や、側壁が垂直なメサのような形状がメサ54
に用いてもよい。側壁が傾斜したメサ54には、メサ帯
状形状が導体58に推奨され、垂直側壁メサには、アメ
リカ合衆国特許第5,047,644号に示されるよう
なメサ−輪郭形状の方が導体58には適している。これ
らの形状は単なる例示であり、メサ型構造52やメサ帯
状導体58の他の形状も当業者には明白であろう。特
に、メサ型構造52は水平および垂直断面が対称的に示
されているが、かかる対称性は必ずしも必要ではない。
【0037】本発明の熱絶縁構造50は、一般的な熱撮
像システムに容易に適合可能であり、熱センサの焦点面
アレイと関連する集積回路基板との間に、熱絶縁接合お
よびセンサ信号インターフェースを設けることができ
る。更に、本発明のメサ型構造52は、種々の混成固体
システムに、広範な応用可能性を有する。
像システムに容易に適合可能であり、熱センサの焦点面
アレイと関連する集積回路基板との間に、熱絶縁接合お
よびセンサ信号インターフェースを設けることができ
る。更に、本発明のメサ型構造52は、種々の混成固体
システムに、広範な応用可能性を有する。
【0038】図2および図3は、本発明による熱絶縁構
造50の一部を構成する、メサ型構造52の拡大正面図
と断面図である。本発明のメサ型構造は、一例として、
熱撮像システム20用熱絶縁構造50を含むものであ
り、従来のフォトリソグラフィ技術を用いて製造され
る。ここでは、感光性ポリイミドを用いる製造方法につ
いて述べるが、用途によっては、非感光性ポリイミドを
用いることもある。感光性ポリイミドを用いる製造は、
一般的にプロセス・ステップが少ないので、推奨され
る。
造50の一部を構成する、メサ型構造52の拡大正面図
と断面図である。本発明のメサ型構造は、一例として、
熱撮像システム20用熱絶縁構造50を含むものであ
り、従来のフォトリソグラフィ技術を用いて製造され
る。ここでは、感光性ポリイミドを用いる製造方法につ
いて述べるが、用途によっては、非感光性ポリイミドを
用いることもある。感光性ポリイミドを用いる製造は、
一般的にプロセス・ステップが少ないので、推奨され
る。
【0039】最初のステップは、集積回路基板70を回
転させポリイミドを均一な厚さに基板上に流すことによ
って、基板70上にポリイミド(感光性または非感光
性)を塗布することである。感光性ポリイミドを用いる
推奨製造方法では、次に、ポリイミド層のパターニング
を行うマスクを用いて、ポリイミドを露出する。適切な
溶剤を用いて、露出後のポリイミドを現像し、露出され
なかったポリイミドを除去し、ポリイミド・メサ54
(各々、集積回路基板70上の各接点パッド72に隣接
する)のパターニングされたアレイを残す。適切な露出
および現像技術によって、所望の側壁形状を決定するこ
とができる。この構造体を次に適切な熱硬化処理で硬化
し、ポリイミド・メサ54の所望のアレイを安定化させ
硬化させる。メサ54は、ポリイミドの他にも、他の適
した材料で形成してもよい。
転させポリイミドを均一な厚さに基板上に流すことによ
って、基板70上にポリイミド(感光性または非感光
性)を塗布することである。感光性ポリイミドを用いる
推奨製造方法では、次に、ポリイミド層のパターニング
を行うマスクを用いて、ポリイミドを露出する。適切な
溶剤を用いて、露出後のポリイミドを現像し、露出され
なかったポリイミドを除去し、ポリイミド・メサ54
(各々、集積回路基板70上の各接点パッド72に隣接
する)のパターニングされたアレイを残す。適切な露出
および現像技術によって、所望の側壁形状を決定するこ
とができる。この構造体を次に適切な熱硬化処理で硬化
し、ポリイミド・メサ54の所望のアレイを安定化させ
硬化させる。メサ54は、ポリイミドの他にも、他の適
した材料で形成してもよい。
【0040】従来のフォトリソグラフィ技術を用いて、
二酸化シリコンまたはその他の適した材料による層をメ
サ54上に配する。次に、従来の有機エッチング化学薬
品を用いて二酸化シリコン層を除去し、1000ないし
2000オングストロームの厚さを有し、各ポリイミド
・メサ54の少なくとも一部にわたって広がる、二酸化
シリコン材の薄いシェル56を形成する。シェル56の
主な機能は、関連するメサ帯状導体58に対する補強と
なり、メサ帯状導体の物理的な寸法を最少化することに
より、関連する熱電流(iC )を減少させることであ
る。図1を参照されたい。図2〜図5に示す形状以外に
も、ポリイミド・メサ54および薄層シェル56には種
々の形状を用いることができる。
二酸化シリコンまたはその他の適した材料による層をメ
サ54上に配する。次に、従来の有機エッチング化学薬
品を用いて二酸化シリコン層を除去し、1000ないし
2000オングストロームの厚さを有し、各ポリイミド
・メサ54の少なくとも一部にわたって広がる、二酸化
シリコン材の薄いシェル56を形成する。シェル56の
主な機能は、関連するメサ帯状導体58に対する補強と
なり、メサ帯状導体の物理的な寸法を最少化することに
より、関連する熱電流(iC )を減少させることであ
る。図1を参照されたい。図2〜図5に示す形状以外に
も、ポリイミド・メサ54および薄層シェル56には種
々の形状を用いることができる。
【0041】一旦ポリイミド・メサ54および関連する
薄層シェル56のアレイが形成されたなら、従来のフォ
トリソグラフィ技術を用いて、各シェル56の外面上
に、選択されたメサ帯状導体58を形成する。メサ帯状
導体58は、エッチング処理またはパターニングされた
フォトレジストを用いたリフト処理(lift process)のい
ずれかによって形成することができる。メサ帯状導体5
8は、それぞれのメサ型構造52の上面から隣接する接
点パッド72まで達するように、各シェル56の外面上
に形成される。
薄層シェル56のアレイが形成されたなら、従来のフォ
トリソグラフィ技術を用いて、各シェル56の外面上
に、選択されたメサ帯状導体58を形成する。メサ帯状
導体58は、エッチング処理またはパターニングされた
フォトレジストを用いたリフト処理(lift process)のい
ずれかによって形成することができる。メサ帯状導体5
8は、それぞれのメサ型構造52の上面から隣接する接
点パッド72まで達するように、各シェル56の外面上
に形成される。
【0042】所望であれば、追加製造ステップを用い
て、バンプ接合金属62または導電性エポキシ(図示せ
ず)を、メサ型構造52の上面に付着することもでき
る。これまで、かかる追加製造ステップは従来の材料を
用いて行われていたが、材料の選択は本発明の熱絶縁構
造50の具体的な用途によって異なる。
て、バンプ接合金属62または導電性エポキシ(図示せ
ず)を、メサ型構造52の上面に付着することもでき
る。これまで、かかる追加製造ステップは従来の材料を
用いて行われていたが、材料の選択は本発明の熱絶縁構
造50の具体的な用途によって異なる。
【0043】メサ帯状導体58を形成するために用いら
れる金属層の厚さは、先に述べたように、選択される導
体形状に対応する所定の厚さの導体を設けるように、そ
して選択された導体の熱抵抗が得られるように選択され
る。
れる金属層の厚さは、先に述べたように、選択される導
体形状に対応する所定の厚さの導体を設けるように、そ
して選択された導体の熱抵抗が得られるように選択され
る。
【0044】好ましくは、赤外線吸収部および共通導体
構造体32に、赤外線吸収層34と反射板36の双方を
貫通する、複数の開口または細長スロット38を形成す
る。図4および図5に示す本発明の実施例では、開口3
8は「エッチング・アクセス・ポート」とも呼ばれる。
構造体32に、赤外線吸収層34と反射板36の双方を
貫通する、複数の開口または細長スロット38を形成す
る。図4および図5に示す本発明の実施例では、開口3
8は「エッチング・アクセス・ポート」とも呼ばれる。
【0045】赤外線吸収部および共通電極構造体32の
開口38は、本発明の重要な要素である。焦点面アレイ
30を集積回路基板70に接合するには、バンプ接合ま
たは他の従来技術を用いて、焦点面アレイ30を熱絶縁
構造50上に取り付ければよい。この接合処理中、ポリ
イミド・メサ54は、図4に示すように、選択された接
合処理に必要な機械的支持を与える。
開口38は、本発明の重要な要素である。焦点面アレイ
30を集積回路基板70に接合するには、バンプ接合ま
たは他の従来技術を用いて、焦点面アレイ30を熱絶縁
構造50上に取り付ければよい。この接合処理中、ポリ
イミド・メサ54は、図4に示すように、選択された接
合処理に必要な機械的支持を与える。
【0046】焦点面アレイ30の集積回路基板70との
接合に続いて、種々の技術を用いて、ポリイミド・メサ
を除去し、そして各薄層シェル56内に空間を形成す
る。赤外線吸収部および共通電極構造体32の開口38
によって、種々の等方性エッチングが可能となり、ポリ
イミド・メサ54を除去して、その結果空間60を形成
する。用途によっては、ポリイミド・メサ54を除去す
るには、プラズマ・エッチングの方が好ましい技術であ
る場合もある。他の用途には、種々のウエット・エッチ
ング技術が良好に用いられることもある。メサ54を形
成するのに用いられる材料の種類に応じて、他のフォト
リソグラフィ技術を選択して空間60を形成することも
できる。ポリイミド・メサ54を除去して空間60を形
成することにより、メサ型構造52の熱抵抗を大幅に増
加させると共に、関連する熱電流i M を減少させる。図
1を参照されたい。
接合に続いて、種々の技術を用いて、ポリイミド・メサ
を除去し、そして各薄層シェル56内に空間を形成す
る。赤外線吸収部および共通電極構造体32の開口38
によって、種々の等方性エッチングが可能となり、ポリ
イミド・メサ54を除去して、その結果空間60を形成
する。用途によっては、ポリイミド・メサ54を除去す
るには、プラズマ・エッチングの方が好ましい技術であ
る場合もある。他の用途には、種々のウエット・エッチ
ング技術が良好に用いられることもある。メサ54を形
成するのに用いられる材料の種類に応じて、他のフォト
リソグラフィ技術を選択して空間60を形成することも
できる。ポリイミド・メサ54を除去して空間60を形
成することにより、メサ型構造52の熱抵抗を大幅に増
加させると共に、関連する熱電流i M を減少させる。図
1を参照されたい。
【0047】本発明によるメサ型構造52の正確な構造
的形状および関連する製造方法は、結果的に得られる熱
絶縁構造50がどのような用途に選択されるかに、大き
く依存する。例示した熱撮像システム20および120
のような特定の用途においてでさえ、種々の設計の選択
は当業者によって日常的に行われるであろう。
的形状および関連する製造方法は、結果的に得られる熱
絶縁構造50がどのような用途に選択されるかに、大き
く依存する。例示した熱撮像システム20および120
のような特定の用途においてでさえ、種々の設計の選択
は当業者によって日常的に行われるであろう。
【0048】図6および図7は、本発明の別の実施例を
示すもので、熱撮像システム120は、焦点面アレイ1
30と、熱絶縁構造150と、集積回路基板170とか
ら成る。熱撮像システム20について先に注記したよう
に、熱撮像システム120の種々の構成物は、真空環境
で動作させることが好ましい。
示すもので、熱撮像システム120は、焦点面アレイ1
30と、熱絶縁構造150と、集積回路基板170とか
ら成る。熱撮像システム20について先に注記したよう
に、熱撮像システム120の種々の構成物は、真空環境
で動作させることが好ましい。
【0049】焦点面アレイ130は、複数の熱センサ1
40から成る。熱撮像システム20の赤外線吸収部およ
び共通電極構造体32は、複数の別個の赤外線吸収部お
よび反射板構造体132で置き換えられている。
40から成る。熱撮像システム20の赤外線吸収部およ
び共通電極構造体32は、複数の別個の赤外線吸収部お
よび反射板構造体132で置き換えられている。
【0050】焦点面アレイ130に別個の赤外線吸収部
および反射板構造体132を形成することによって、隣
接する熱センサ間の熱伝導は更に減少し、熱撮像システ
ム120のMTFが改善される。熱絶縁構造150は、
各熱センサ140に2つの電気接点158および168
を設けるように変更されている。
および反射板構造体132を形成することによって、隣
接する熱センサ間の熱伝導は更に減少し、熱撮像システ
ム120のMTFが改善される。熱絶縁構造150は、
各熱センサ140に2つの電気接点158および168
を設けるように変更されている。
【0051】各赤外線吸収部および反射板構造体132
は、光学被覆層134と反射板136とから成る。複数
のスロット138が、各赤外線吸収部および反射板構造
体132の外周に形成され、各構造体132を隣接する
構造体から分離する。赤外線吸収部および反射板構造体
132は互いに接続されていないので、熱撮像システム
20において用いられたように、バイアス電圧(VB )
を共通電極36を介して強誘電素子142に印加するこ
とができない。熱撮像システム120に示される本発明
の実施例では、反射板136が設けられて、光学被覆層
134を支持すると共に、入射赤外線を反射し光学被覆
層134との相互作用を高めるようにしている。反射板
136は、強誘電素子142によって表わされる強誘電
変換器に、バイアス電圧(VB )を供給するためには用
いられない。
は、光学被覆層134と反射板136とから成る。複数
のスロット138が、各赤外線吸収部および反射板構造
体132の外周に形成され、各構造体132を隣接する
構造体から分離する。赤外線吸収部および反射板構造体
132は互いに接続されていないので、熱撮像システム
20において用いられたように、バイアス電圧(VB )
を共通電極36を介して強誘電素子142に印加するこ
とができない。熱撮像システム120に示される本発明
の実施例では、反射板136が設けられて、光学被覆層
134を支持すると共に、入射赤外線を反射し光学被覆
層134との相互作用を高めるようにしている。反射板
136は、強誘電素子142によって表わされる強誘電
変換器に、バイアス電圧(VB )を供給するためには用
いられない。
【0052】各熱温度センサ140と関連付けられた強
誘電変換器またはコンデンサは、部分的に、バイアス電
圧電極145、強誘電素子142、および信号センサ電
極144によって構成されている。バイアス電圧電極1
45および信号センサ電極144は、強誘電素子142
の同一側に配置されるが、互いに分離されている。した
がって、強誘電素子142は、電極144および145
に対して、誘電体として機能する。
誘電変換器またはコンデンサは、部分的に、バイアス電
圧電極145、強誘電素子142、および信号センサ電
極144によって構成されている。バイアス電圧電極1
45および信号センサ電極144は、強誘電素子142
の同一側に配置されるが、互いに分離されている。した
がって、強誘電素子142は、電極144および145
に対して、誘電体として機能する。
【0053】集積回路基板70は、2つの電気接点パッ
ド172および174を備えている。1対のメサ帯状導
体158および168が、各メサ型構造152に備えら
れている。メサ帯状導体168は、接点174からのバ
イアス電圧(VB )を供給し、強誘電素子142と電極
144および145とをコンデンサとして機能させる。
ド172および174を備えている。1対のメサ帯状導
体158および168が、各メサ型構造152に備えら
れている。メサ帯状導体168は、接点174からのバ
イアス電圧(VB )を供給し、強誘電素子142と電極
144および145とをコンデンサとして機能させる。
【0054】メサ型構造152と空間160とから成る
熱絶縁構造150は、熱絶縁構造50と同様に形成され
る。スロット138は、所望のフォトリソグラフィ技術
を用いて空間160を形成できるようにするための、メ
サ型構造152への侵入口となる。本実施例と先の実施
例との主な相違の1つに、バイアス電圧を電極145に
供給するための第2のメサ帯状導体168、およびメサ
型構造152の上面上のバンプ接合金属172と結合さ
れた、電極145上のバンプ接合金属147を用いるこ
とがあげられる。
熱絶縁構造150は、熱絶縁構造50と同様に形成され
る。スロット138は、所望のフォトリソグラフィ技術
を用いて空間160を形成できるようにするための、メ
サ型構造152への侵入口となる。本実施例と先の実施
例との主な相違の1つに、バイアス電圧を電極145に
供給するための第2のメサ帯状導体168、およびメサ
型構造152の上面上のバンプ接合金属172と結合さ
れた、電極145上のバンプ接合金属147を用いるこ
とがあげられる。
【0055】本発明を具体的な好適実施例に関して記載
したが、種々の変化変様が当業者には想起されよう。し
たがって、本発明は特許請求の範囲に該当するかかる変
化変様も包含することを意図するものである。
したが、種々の変化変様が当業者には想起されよう。し
たがって、本発明は特許請求の範囲に該当するかかる変
化変様も包含することを意図するものである。
【0056】以上の説明に関して更に以下の項を開示す
る。 (1)焦点面アレイと集積回路基板とを含む赤外線検出
器であって、前記焦点面を貫通する複数の開口と、前記
焦点面に入射する熱放射量を表わすセンサ信号出力を発
生する複数の熱センサと、前記集積回路基板上に配置さ
れ、前記それぞれの熱センサからのセンサ信号出力を受
ける、信号接点パッドのアレイと、各々空間を有する複
数のメサ型構造によって形成された熱絶縁構造であっ
て、前記メサ型構造は、各信号接点パッドに隣接する前
記集積回路基板から突出し、前記焦点面アレイを前記集
積回路基板上に取り付けるための前記熱絶縁構造と、か
ら成る赤外線検出器。 (2)前記焦点面アレイは、更に、各熱センサが赤外線
吸収部および共通電極構造体に結合され、前記複数の開
口は、前記熱センサに沿って(intermediate)前記赤外線
吸収部および共通電極構造体を貫通する、第1項記載の
検出器。 (3)前記焦点面アレイは、更に、反射材料層上に配置
され、赤外線に感応する光学被覆層を有する、赤外線吸
収部および共通電極構造体を含み、各熱センサは、強誘
電素子と、各強誘電素子の一方側に結合された共通電極
と、前記各強誘電素子の対向側と結合された信号センサ
電極とを有し、前記複数の開口は、各熱センサの強誘電
素子に沿って光学被覆層と反射材料層を貫通する、第1
項記載の検出器。
る。 (1)焦点面アレイと集積回路基板とを含む赤外線検出
器であって、前記焦点面を貫通する複数の開口と、前記
焦点面に入射する熱放射量を表わすセンサ信号出力を発
生する複数の熱センサと、前記集積回路基板上に配置さ
れ、前記それぞれの熱センサからのセンサ信号出力を受
ける、信号接点パッドのアレイと、各々空間を有する複
数のメサ型構造によって形成された熱絶縁構造であっ
て、前記メサ型構造は、各信号接点パッドに隣接する前
記集積回路基板から突出し、前記焦点面アレイを前記集
積回路基板上に取り付けるための前記熱絶縁構造と、か
ら成る赤外線検出器。 (2)前記焦点面アレイは、更に、各熱センサが赤外線
吸収部および共通電極構造体に結合され、前記複数の開
口は、前記熱センサに沿って(intermediate)前記赤外線
吸収部および共通電極構造体を貫通する、第1項記載の
検出器。 (3)前記焦点面アレイは、更に、反射材料層上に配置
され、赤外線に感応する光学被覆層を有する、赤外線吸
収部および共通電極構造体を含み、各熱センサは、強誘
電素子と、各強誘電素子の一方側に結合された共通電極
と、前記各強誘電素子の対向側と結合された信号センサ
電極とを有し、前記複数の開口は、各熱センサの強誘電
素子に沿って光学被覆層と反射材料層を貫通する、第1
項記載の検出器。
【0057】(4)各メサ型構造は、更に、各メサ型構
造と関連付けられた空間を部分的に規定する補強膜層
と、前記補強膜層外面の一部上に配置されたメサ帯状導
体と、を含む、第1項記載の検出器。 (5)前記熱センサ・アレイは、更に、複数の強誘電熱
センサを含み、該強誘電熱センサの各々は、各強誘電熱
センサの一方側に配置された各赤外線吸収部および反射
板構造体と、各強誘電熱センサの対向側に配置されたセ
ンサ信号電極とに結合され、各赤外線吸収部および反射
板構造体は、隣接する赤外線吸収部および反射板構造体
から分離されている、第1項記載の検出器。 (6)各熱センサは、更に、反射材料層上に配置され、
赤外線に感応する光学被覆層を有する、赤外線吸収部お
よび反射板構造体と、強誘電素子であって、その一方側
において各赤外線吸収および反射板構造体と結合され、
対向側においてセンサ信号電極と結合された、前記強誘
電体要素と、前記強誘電素子の対向側と結合され、前記
センサ信号電極からは離間されている、バイアス電圧電
極と、を含み、各赤外線吸収部および反射板構造体は、
隣接する赤外線吸収部および反射板構造体から分離され
ている、第1項記載の検出器。
造と関連付けられた空間を部分的に規定する補強膜層
と、前記補強膜層外面の一部上に配置されたメサ帯状導
体と、を含む、第1項記載の検出器。 (5)前記熱センサ・アレイは、更に、複数の強誘電熱
センサを含み、該強誘電熱センサの各々は、各強誘電熱
センサの一方側に配置された各赤外線吸収部および反射
板構造体と、各強誘電熱センサの対向側に配置されたセ
ンサ信号電極とに結合され、各赤外線吸収部および反射
板構造体は、隣接する赤外線吸収部および反射板構造体
から分離されている、第1項記載の検出器。 (6)各熱センサは、更に、反射材料層上に配置され、
赤外線に感応する光学被覆層を有する、赤外線吸収部お
よび反射板構造体と、強誘電素子であって、その一方側
において各赤外線吸収および反射板構造体と結合され、
対向側においてセンサ信号電極と結合された、前記強誘
電体要素と、前記強誘電素子の対向側と結合され、前記
センサ信号電極からは離間されている、バイアス電圧電
極と、を含み、各赤外線吸収部および反射板構造体は、
隣接する赤外線吸収部および反射板構造体から分離され
ている、第1項記載の検出器。
【0058】(7)熱絶縁メサ型構造のアレイを含む焦
点面アレイであって、入射する熱放射を検出し、各々に
入射する熱放射量を表わすセンサ信号出力を発生する熱
センサのアレイと、実質的に平坦な表面上に配置され、
前記それぞれの熱センサからのセンサ信号出力を受け
る、信号接点パッドのアレイを有する集積回路基板と、
空間を有し、前記集積回路基板の実質的に平坦な表面か
ら突出し、少なくとも1つが各信号接点パッドに隣接し
て配置された、メサ型構造のアレイと、各熱センサと対
応する信号接点パッドとの間の信号経路を設けるための
メサ導体と、から成り、各メサ導体は、それ自体のメサ
型構造の上面から、対応する信号接点パッドを有する集
積回路基板に隣接する領域に達し、前記熱センサ・アレ
イは、前記熱絶縁メサ型構造のアレイと接触状態で、前
記集積回路基板上に配置され、各熱センサでは、前記セ
ンサ信号出力が各メサ導体を通じて、対応する信号接点
パッドに結合されるようにした、焦点面アレイ。 (8)前記熱センサ・アレイは、更に、赤外線吸収部お
よび共通電極構造体と結合された、別個の熱センサのア
レイと、前記熱センサに沿って、前記赤外線吸収部およ
び共通電極構造体を貫通する複数の開口と、を含む、第
7項記載の焦点面アレイ。 (9)前記熱センサ・アレイは、更に、反射材料層上に
配置され、赤外線に感応する光学被覆層を有する、赤外
線吸収部および共通電極構造体と、各熱センサの強誘電
素子に沿って前記光学被覆層と前記反射材料層とを貫通
する、複数の開口とを含み、各熱センサは強誘電素子を
有し、前記各強誘電素子の一方側には前記赤外線吸収部
および共通電極構造体が結合され、前記各強誘電素子の
対向側には信号センサ電極が結合されている、第7項記
載の焦点面アレイ。
点面アレイであって、入射する熱放射を検出し、各々に
入射する熱放射量を表わすセンサ信号出力を発生する熱
センサのアレイと、実質的に平坦な表面上に配置され、
前記それぞれの熱センサからのセンサ信号出力を受け
る、信号接点パッドのアレイを有する集積回路基板と、
空間を有し、前記集積回路基板の実質的に平坦な表面か
ら突出し、少なくとも1つが各信号接点パッドに隣接し
て配置された、メサ型構造のアレイと、各熱センサと対
応する信号接点パッドとの間の信号経路を設けるための
メサ導体と、から成り、各メサ導体は、それ自体のメサ
型構造の上面から、対応する信号接点パッドを有する集
積回路基板に隣接する領域に達し、前記熱センサ・アレ
イは、前記熱絶縁メサ型構造のアレイと接触状態で、前
記集積回路基板上に配置され、各熱センサでは、前記セ
ンサ信号出力が各メサ導体を通じて、対応する信号接点
パッドに結合されるようにした、焦点面アレイ。 (8)前記熱センサ・アレイは、更に、赤外線吸収部お
よび共通電極構造体と結合された、別個の熱センサのア
レイと、前記熱センサに沿って、前記赤外線吸収部およ
び共通電極構造体を貫通する複数の開口と、を含む、第
7項記載の焦点面アレイ。 (9)前記熱センサ・アレイは、更に、反射材料層上に
配置され、赤外線に感応する光学被覆層を有する、赤外
線吸収部および共通電極構造体と、各熱センサの強誘電
素子に沿って前記光学被覆層と前記反射材料層とを貫通
する、複数の開口とを含み、各熱センサは強誘電素子を
有し、前記各強誘電素子の一方側には前記赤外線吸収部
および共通電極構造体が結合され、前記各強誘電素子の
対向側には信号センサ電極が結合されている、第7項記
載の焦点面アレイ。
【0059】(10)前記メサ型構造は、更に、各メサ
型構造と関連付けられた空間を部分的に規定する薄いシ
ェルを含み、前記関連するメサ導体は、各シェルの外面
の一部上に配置されている、第7項記載の焦点面アレ
イ。 (11)前記熱センサ・アレイは、更に、複数の強誘電
熱センサを含み、強誘電熱センサの各々は、各強誘電熱
センサの一方側に配置された各赤外線吸収部および反射
板構造体と、各強誘電熱センサの対向側に配置されたセ
ンサ信号電極とに結合され、各赤外線吸収部および反射
板構造体は、隣接する赤外線吸収部および反射板構造体
から分離されている、第7項記載の焦点面アレイ。 (12)前記熱センサ・アレイは、更に、反射材料層上
に配置され、赤外線に感応する光学被覆層を有する、赤
外線吸収部および反射板構造体と、前記強誘電素子の対
向側と結合され、前記センサ信号電極からは離間されて
いる、バイアス電圧電極と、を含み、各熱センサは強誘
電素子を有し、各強誘電素子の一方側には前記赤外線吸
収部および共通電極構造体が結合され、前記各強誘電素
子の対向側には信号センサ電極が結合されており、各赤
外線吸収部および反射板構造体は、隣接する赤外線吸収
部および反射板構造体から分離されている、第1項記載
の検出器。
型構造と関連付けられた空間を部分的に規定する薄いシ
ェルを含み、前記関連するメサ導体は、各シェルの外面
の一部上に配置されている、第7項記載の焦点面アレ
イ。 (11)前記熱センサ・アレイは、更に、複数の強誘電
熱センサを含み、強誘電熱センサの各々は、各強誘電熱
センサの一方側に配置された各赤外線吸収部および反射
板構造体と、各強誘電熱センサの対向側に配置されたセ
ンサ信号電極とに結合され、各赤外線吸収部および反射
板構造体は、隣接する赤外線吸収部および反射板構造体
から分離されている、第7項記載の焦点面アレイ。 (12)前記熱センサ・アレイは、更に、反射材料層上
に配置され、赤外線に感応する光学被覆層を有する、赤
外線吸収部および反射板構造体と、前記強誘電素子の対
向側と結合され、前記センサ信号電極からは離間されて
いる、バイアス電圧電極と、を含み、各熱センサは強誘
電素子を有し、各強誘電素子の一方側には前記赤外線吸
収部および共通電極構造体が結合され、前記各強誘電素
子の対向側には信号センサ電極が結合されており、各赤
外線吸収部および反射板構造体は、隣接する赤外線吸収
部および反射板構造体から分離されている、第1項記載
の検出器。
【0060】(13)集積回路基板上に焦点面アレイが
取り付けられ、熱絶縁構造がそれらの間に配された熱撮
像システムの製造方法であって、前記焦点面アレイに入
射する熱放射を表わすセンサ信号出力を発生する、複数
の熱センサによって、前記焦点面アレイを形成するステ
ップと、前記それぞれの熱センサからのセンサ信号出力
を受ける、信号接点パッドのアレイを、集積回路基板に
設けるステップと、各信号接点パッドに隣接した前記集
積回路基板から突出し、前記熱絶縁構造の一部をなす、
複数のメサ型構造を形成するステップと、前記焦点面ア
レイを前記熱絶縁構造上に取り付けるステップと、各メ
サ型構造内に空間を形成するステップと、から成る方
法。 (14)更に、前記それぞれの熱センサに沿って、前記
焦点面アレイを貫通する、複数の長手方向開口を形成す
るステップを含む、第13項記載の前記システムの製造
方法。 (15)更に、各熱センサに沿って、前記焦点面アレイ
内に複数の長手方向開口を形成するステップと、部分的
にポリイミド材料で前記メサ型構造を形成するステップ
と、前記メサ型構造上に前記焦点面アレイを取り付ける
ステップと、各メサ型構造内の前記ポリイミド材料を除
去し、前記空間を形成するステップと、を含む、第13
項記載の前記システムの製造方法。
取り付けられ、熱絶縁構造がそれらの間に配された熱撮
像システムの製造方法であって、前記焦点面アレイに入
射する熱放射を表わすセンサ信号出力を発生する、複数
の熱センサによって、前記焦点面アレイを形成するステ
ップと、前記それぞれの熱センサからのセンサ信号出力
を受ける、信号接点パッドのアレイを、集積回路基板に
設けるステップと、各信号接点パッドに隣接した前記集
積回路基板から突出し、前記熱絶縁構造の一部をなす、
複数のメサ型構造を形成するステップと、前記焦点面ア
レイを前記熱絶縁構造上に取り付けるステップと、各メ
サ型構造内に空間を形成するステップと、から成る方
法。 (14)更に、前記それぞれの熱センサに沿って、前記
焦点面アレイを貫通する、複数の長手方向開口を形成す
るステップを含む、第13項記載の前記システムの製造
方法。 (15)更に、各熱センサに沿って、前記焦点面アレイ
内に複数の長手方向開口を形成するステップと、部分的
にポリイミド材料で前記メサ型構造を形成するステップ
と、前記メサ型構造上に前記焦点面アレイを取り付ける
ステップと、各メサ型構造内の前記ポリイミド材料を除
去し、前記空間を形成するステップと、を含む、第13
項記載の前記システムの製造方法。
【0061】(16)更に、各メサ型構造の一部とし
て、補強材料層を形成するステップと、各補強材料層の
外面上に、メサ帯状導体を形成するステップと、各メサ
型構造の上面の各メサ帯状導体の一部に、バンプ接合材
料を配置し、前記それぞれの熱センサとのセンサ信号流
路を形成するステップと、を含む、第13項記載の前記
システムの製造方法。 (17)更に、前記焦点面アレイに、赤外線吸収部およ
び共通電極構造体を形成するステップと、各熱センサと
関連付けられた強誘電素子の一方側を、前記赤外線吸収
および共通電極構造体に結合するステップと、前記強誘
電素子に沿って、前記赤外線吸収部および共通電極構造
体に、複数の長手方向開口を形成するステップと、を含
む、第13項記載の前記システムの製造方法。 (18)更に、部分的にポリイミド材料で前記メサ型構
造を形成するステップと、前記焦点面アレイを前記メサ
型構造に取り付けるステップと、各熱センサに沿って前
記焦点面アレイを貫通する複数の長手方向スロットを形
成するステップと、各メサ型構造内の前記ポリイミド材
料を除去し、前記空間を形成するステップと、を含む、
第13項記載の前記システムの製造方法。
て、補強材料層を形成するステップと、各補強材料層の
外面上に、メサ帯状導体を形成するステップと、各メサ
型構造の上面の各メサ帯状導体の一部に、バンプ接合材
料を配置し、前記それぞれの熱センサとのセンサ信号流
路を形成するステップと、を含む、第13項記載の前記
システムの製造方法。 (17)更に、前記焦点面アレイに、赤外線吸収部およ
び共通電極構造体を形成するステップと、各熱センサと
関連付けられた強誘電素子の一方側を、前記赤外線吸収
および共通電極構造体に結合するステップと、前記強誘
電素子に沿って、前記赤外線吸収部および共通電極構造
体に、複数の長手方向開口を形成するステップと、を含
む、第13項記載の前記システムの製造方法。 (18)更に、部分的にポリイミド材料で前記メサ型構
造を形成するステップと、前記焦点面アレイを前記メサ
型構造に取り付けるステップと、各熱センサに沿って前
記焦点面アレイを貫通する複数の長手方向スロットを形
成するステップと、各メサ型構造内の前記ポリイミド材
料を除去し、前記空間を形成するステップと、を含む、
第13項記載の前記システムの製造方法。
【0062】(19)更に、各メサ型構造の一部とし
て、補強材料層を形成するステップと、各補強材料層の
外面上に、メサ帯状導体を形成するステップと、各メサ
帯状導体上にバンプ接合材料を配置し、関連する熱セン
サとのセンサ信号流路の一部を形成するステップと、各
熱センサ上に対応するバンプ接合材料を配置するステッ
プと、を含む、第13項記載の前記システムの製造方
法。 (20)更に、各熱センサに、強誘電素子を形成するス
テップと、前記焦点面アレイに、赤外線吸収および反射
板構造体を形成するステップと、各強誘電素子の一方側
を、前記赤外線吸収部および反射板構造体に結合するス
テップと、前記強誘電素子に沿って、前記赤外線吸収部
および反射板構造体に、複数の長手方向スロットを形成
し、各熱センサと関連付けられた別個の赤外線吸収部お
よび反射板構造体を設けるステップと、前記長手方向ス
ロットを用いて前記メサ型構造に侵入し、フォトリソグ
ラフィ技術を用いて前記それぞれの空間を形成するステ
ップと、を含む、第13項記載の前記システムの製造方
法。
て、補強材料層を形成するステップと、各補強材料層の
外面上に、メサ帯状導体を形成するステップと、各メサ
帯状導体上にバンプ接合材料を配置し、関連する熱セン
サとのセンサ信号流路の一部を形成するステップと、各
熱センサ上に対応するバンプ接合材料を配置するステッ
プと、を含む、第13項記載の前記システムの製造方
法。 (20)更に、各熱センサに、強誘電素子を形成するス
テップと、前記焦点面アレイに、赤外線吸収および反射
板構造体を形成するステップと、各強誘電素子の一方側
を、前記赤外線吸収部および反射板構造体に結合するス
テップと、前記強誘電素子に沿って、前記赤外線吸収部
および反射板構造体に、複数の長手方向スロットを形成
し、各熱センサと関連付けられた別個の赤外線吸収部お
よび反射板構造体を設けるステップと、前記長手方向ス
ロットを用いて前記メサ型構造に侵入し、フォトリソグ
ラフィ技術を用いて前記それぞれの空間を形成するステ
ップと、を含む、第13項記載の前記システムの製造方
法。
【0063】(21)メサ型構造(52)をポリイミド
(または同様のポリマ材料)で形成し、焦点面アレイ
(30および130)を集積回路基板(70および17
0)上に取り付けるための支持構造を得る。一例である
熱撮像システム(20および120)では、熱絶縁構造
(50および150)を集積回路基板(70および17
0)上に配置し、熱センサ(40および140)の対応
する焦点面アレイ(30および130)を電気的に接続
しかつ機械的に接合する。各メサ型構造(52および1
52)は、最初はポリイミド・メサ(54)から成り、
その上に補強層(56および156)と、前記メサ型構
造(52および152)の上面から隣接する接点パッド
(72、172および174)まで達する金属導体(5
8、158および168)とが形成される。前記焦点面
アレイ(30および130)を対応するメサ型構造(5
2および152)のアレイに接合した後、ポリイミド・
メサ(54)を除去し、空間(60および160)を形
成する。結果的に得られたメサ型構造(52および15
2)は、各熱センサ(40および140)のセンサ信号
電極(44および144)と、前記集積回路基板(70
および170)上の対応する接点パッド(72および1
72)との間に、熱的に絶縁された導電路を設ける。
(または同様のポリマ材料)で形成し、焦点面アレイ
(30および130)を集積回路基板(70および17
0)上に取り付けるための支持構造を得る。一例である
熱撮像システム(20および120)では、熱絶縁構造
(50および150)を集積回路基板(70および17
0)上に配置し、熱センサ(40および140)の対応
する焦点面アレイ(30および130)を電気的に接続
しかつ機械的に接合する。各メサ型構造(52および1
52)は、最初はポリイミド・メサ(54)から成り、
その上に補強層(56および156)と、前記メサ型構
造(52および152)の上面から隣接する接点パッド
(72、172および174)まで達する金属導体(5
8、158および168)とが形成される。前記焦点面
アレイ(30および130)を対応するメサ型構造(5
2および152)のアレイに接合した後、ポリイミド・
メサ(54)を除去し、空間(60および160)を形
成する。結果的に得られたメサ型構造(52および15
2)は、各熱センサ(40および140)のセンサ信号
電極(44および144)と、前記集積回路基板(70
および170)上の対応する接点パッド(72および1
72)との間に、熱的に絶縁された導電路を設ける。
【図1】強誘電素子で形成された熱センサの焦点面アレ
イと、集積回路基板と、それらの間に配置された熱絶縁
構造とを含む熱撮像システムに関する、熱回路を表わす
概略図。
イと、集積回路基板と、それらの間に配置された熱絶縁
構造とを含む熱撮像システムに関する、熱回路を表わす
概略図。
【図2】側壁が傾斜したメサと、該メサの上面を集積回
路基板上の関連付けられた接点パッドに電気的に接続す
るメサ帯状導体とを有する熱絶縁構造を示す一部分解等
幅図。
路基板上の関連付けられた接点パッドに電気的に接続す
るメサ帯状導体とを有する熱絶縁構造を示す一部分解等
幅図。
【図3】図2の線3−3に沿って切断された部分の断面
図。
図。
【図4】強誘電素子を用いた複数の熱センサで形成され
た焦点面アレイと、図2および図3のメサ型熱絶縁構造
を備えた集積回路基板とを有する熱撮像システムの一部
を示す一部分解等幅正面図。
た焦点面アレイと、図2および図3のメサ型熱絶縁構造
を備えた集積回路基板とを有する熱撮像システムの一部
を示す一部分解等幅正面図。
【図5】メサ型熱絶縁構造の一部をエッチング技術によ
って除去し、選択された空間を形成した後の、図4の熱
撮像システムを示す一部分解等幅図。
って除去し、選択された空間を形成した後の、図4の熱
撮像システムを示す一部分解等幅図。
【図6】本発明の別の実施例を組み込んだ、焦点面アレ
イとメサ型熱絶縁構造とを有する熱撮像システムを示す
一部分解断面図。
イとメサ型熱絶縁構造とを有する熱撮像システムを示す
一部分解断面図。
【図7】図6の熱撮像システムを示す一部分解等幅図。
20 熱撮像システム 30 焦点面アレイ 32 赤外線吸収部および共通電極構造物 40 熱センサ 42 強誘電素子 44 センサ信号電極 50 熱絶縁構造 52 メサ型構造 56 メサ・シェル 58 メサ帯状導体 60 空間 70 集積回路基板 72 接点パッド
Claims (2)
- 【請求項1】 焦点面アレイと集積回路基板とを含む赤
外線検出器であって、 前記焦点面を貫通する複数の開口と、 前記焦点面に入射する熱放射量を表わすセンサ信号出力
を発生する複数の熱センサと、 前記集積回路基板上に配置され、前記それぞれの熱セン
サからのセンサ信号出力を受ける、信号接点パッドのア
レイと、 各々空間を有する複数のメサ型構造によって形成された
熱絶縁構造であって、前記メサ型構造は、各信号接点パ
ッドに隣接する前記集積回路基板から突出し、前記焦点
面アレイを前記集積回路基板上に取り付けるための前記
熱絶縁構造と、から成る赤外線検出器。 - 【請求項2】 集積回路基板上に焦点面アレイが取り付
けられ、熱絶縁構造がそれらの間に配された熱撮像シス
テムの製造方法であって、 前記焦点面アレイに入射する熱放射を表わすセンサ信号
出力を発生する、複数の熱センサによって、前記焦点面
アレイを形成するステップと、 前記それぞれの熱センサからのセンサ信号出力を受け
る、信号接点パッドのアレイを、集積回路基板に設ける
ステップと、 各信号接点パッドに隣接した前記集積回路基板から突出
し、前記熱絶縁構造の一部をなす、複数のメサ型構造を
形成するステップと、 前記焦点面アレイを前記熱絶縁構造上に取り付けるステ
ップと、 各メサ型構造内に空間を形成するステップと、から成る
方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/182,868 US5485010A (en) | 1994-01-13 | 1994-01-13 | Thermal isolation structure for hybrid thermal imaging system |
US182868 | 1994-01-13 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07324978A true JPH07324978A (ja) | 1995-12-12 |
Family
ID=22670399
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7004469A Pending JPH07324978A (ja) | 1994-01-13 | 1995-01-13 | 混成熱撮像システム用熱絶縁構造およびその製造方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5485010A (ja) |
EP (1) | EP0663696B1 (ja) |
JP (1) | JPH07324978A (ja) |
DE (1) | DE69505699T2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006086535A (ja) * | 2004-09-16 | 2006-03-30 | Commissariat A L'energie Atomique | 懸架状態に固定された吸収膜を備えた熱電磁放射検出器 |
WO2010113938A1 (ja) * | 2009-03-31 | 2010-10-07 | パナソニック電工株式会社 | 赤外線アレイセンサ |
JP2012026934A (ja) * | 2010-07-26 | 2012-02-09 | Seiko Epson Corp | 熱型光検出器、熱型光検出装置及び電子機器 |
US8426864B2 (en) | 2008-09-25 | 2013-04-23 | Panasonic Corporation | Infrared sensor |
JP2015052606A (ja) * | 2014-10-23 | 2015-03-19 | セイコーエプソン株式会社 | 熱型光検出器、熱型光検出装置及び電子機器 |
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---|---|---|---|---|
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US5626773A (en) * | 1995-01-03 | 1997-05-06 | Texas Instruments Incorporated | Structure and method including dry etching techniques for forming an array of thermal sensitive elements |
US5602043A (en) * | 1995-01-03 | 1997-02-11 | Texas Instruments Incorporated | Monolithic thermal detector with pyroelectric film and method |
US5746930A (en) * | 1995-01-03 | 1998-05-05 | Texas Instruments Incorporated | Method and structure for forming an array of thermal sensors |
US5646066A (en) * | 1995-03-01 | 1997-07-08 | Texas Instruments Incorporated | Method for forming electrical contact to the optical coating of an infrared detector from the backside of the detector |
US5552326A (en) * | 1995-03-01 | 1996-09-03 | Texas Instruments Incorporated | Method for forming electrical contact to the optical coating of an infrared detector using conductive epoxy |
US5904495A (en) * | 1997-06-11 | 1999-05-18 | Massachusetts Institute Of Technology | Interconnection technique for hybrid integrated devices |
WO2000034751A1 (en) * | 1998-12-04 | 2000-06-15 | Daewoo Electronics Co., Ltd. | Infrared bolometer and method for manufacturing same |
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