JPH07318495A - 発光分光分析装置用試料自動回転装置 - Google Patents
発光分光分析装置用試料自動回転装置Info
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- JPH07318495A JPH07318495A JP6112943A JP11294394A JPH07318495A JP H07318495 A JPH07318495 A JP H07318495A JP 6112943 A JP6112943 A JP 6112943A JP 11294394 A JP11294394 A JP 11294394A JP H07318495 A JPH07318495 A JP H07318495A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 試料の回転セットを自動的に行い、分析工程
毎の作業者による発光部の蓋の開閉を不要にすると共に
試料の精緻なセット作業を不要にし、これにより、分析
の省力化を図り分析時間の短縮を図ると共に、多点発光
を容易化して分析精度の向上を図ることにある。 【構成】 分析工程の前には、発光部の開口の上方で、
試料が握持される。この試料を発光部の開口に近付ける
ように上記握持部が降下される。次いで、このとき、試
料の試料が発光位置に位置するように所定角度回転され
る。この後、試料の握持が解除され、試料が発光部の開
口に押圧される。一方、分析工程の後には、試料の発光
部の開口への押圧が解除され、握持部による試料の握持
が復帰される。次いで、試料が上昇されて支持されてい
る。
毎の作業者による発光部の蓋の開閉を不要にすると共に
試料の精緻なセット作業を不要にし、これにより、分析
の省力化を図り分析時間の短縮を図ると共に、多点発光
を容易化して分析精度の向上を図ることにある。 【構成】 分析工程の前には、発光部の開口の上方で、
試料が握持される。この試料を発光部の開口に近付ける
ように上記握持部が降下される。次いで、このとき、試
料の試料が発光位置に位置するように所定角度回転され
る。この後、試料の握持が解除され、試料が発光部の開
口に押圧される。一方、分析工程の後には、試料の発光
部の開口への押圧が解除され、握持部による試料の握持
が復帰される。次いで、試料が上昇されて支持されてい
る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、金属等の成分分析を行
う発光分光分析装置に装着され、分析工程の度毎に試料
の回転セットを自動的に行うと共に、分析工程毎の作業
者による発光部の蓋の開閉を不要にすると共に試料の精
緻なセット作業を不要にし、これにより、分析の省力化
を図り分析時間の短縮を図ると共に、多点発光を容易化
して分析精度の向上を図った発光分光分析装置用試料自
動回転装置に関する。
う発光分光分析装置に装着され、分析工程の度毎に試料
の回転セットを自動的に行うと共に、分析工程毎の作業
者による発光部の蓋の開閉を不要にすると共に試料の精
緻なセット作業を不要にし、これにより、分析の省力化
を図り分析時間の短縮を図ると共に、多点発光を容易化
して分析精度の向上を図った発光分光分析装置用試料自
動回転装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】発光分光分析装置によって、鋼、鉄、ア
ルミニウム、合金等の成分分析等が行われている。この
発光分光分析装置のうち、特に自動発光分光分析装置で
は、上記金属の試料が多数個準備され搬送機構により順
次搬送される。先ず、これらの試料が研磨機構によって
順次研磨されて発光部に搬送される。この発光部は、略
真空状態に維持されており、試料と電極とが所定間隔で
対向して位置される。この電極から試料にスパークされ
ると、試料から発光される。この光がスリット及び回析
格子等を介して測光部に導かれ、この分光が光電子増幅
管により検知される。これにより、データ処理部におい
て、分光の波長の強度が解析されて、上記金属等の成分
分析等が行われている。上記のような発光と分光検知と
が複数回繰り返される多点発光が行われることもある。
ルミニウム、合金等の成分分析等が行われている。この
発光分光分析装置のうち、特に自動発光分光分析装置で
は、上記金属の試料が多数個準備され搬送機構により順
次搬送される。先ず、これらの試料が研磨機構によって
順次研磨されて発光部に搬送される。この発光部は、略
真空状態に維持されており、試料と電極とが所定間隔で
対向して位置される。この電極から試料にスパークされ
ると、試料から発光される。この光がスリット及び回析
格子等を介して測光部に導かれ、この分光が光電子増幅
管により検知される。これにより、データ処理部におい
て、分光の波長の強度が解析されて、上記金属等の成分
分析等が行われている。上記のような発光と分光検知と
が複数回繰り返される多点発光が行われることもある。
【０００３】このような自動的な発光分光分析装置は、
非常に多くの試料の成分分析を行う場合には好適である
が、比較的数の少ない試料の成分分析を短時間でしかも
コスト安く行う場合には必ずしも好適とはいえず、以下
のような簡易な発光分光分析装置も提案されている。
非常に多くの試料の成分分析を行う場合には好適である
が、比較的数の少ない試料の成分分析を短時間でしかも
コスト安く行う場合には必ずしも好適とはいえず、以下
のような簡易な発光分光分析装置も提案されている。
【０００４】このような簡易的な発光分光分析装置で
は、略真空状態で電極から試料にスパークを行う発光部
と、試料からの分光を検知する測光部と、分光の波長の
強度を解析するデータ処理部とが設けられている。
は、略真空状態で電極から試料にスパークを行う発光部
と、試料からの分光を検知する測光部と、分光の波長の
強度を解析するデータ処理部とが設けられている。
【０００５】この発光部では、略真空状態の発光部の蓋
が作業者によっって開成され、この発光部の中に、試料
が作業者によって挿入されてセットされ、上記蓋が閉成
される。次いで、試料の一つの試料に電極からスパーク
されて分光が測光部により検知されデータ処理部により
成分分析が行われる。
が作業者によっって開成され、この発光部の中に、試料
が作業者によって挿入されてセットされ、上記蓋が閉成
される。次いで、試料の一つの試料に電極からスパーク
されて分光が測光部により検知されデータ処理部により
成分分析が行われる。
【０００６】この一回の分析工程が終了すると、上記蓋
が再度開成されて、試料が取出される。このとき、電極
がカーボンである場合には、カーボン電極の交換又は削
り出しが行われる。その後、作業者によって試料が回転
されて再セットされ、発光、測光等の分析工程が行われ
る。このように、カーボン電極の交換等、試料のセッ
ト、分析工程が繰り返し行われている。
が再度開成されて、試料が取出される。このとき、電極
がカーボンである場合には、カーボン電極の交換又は削
り出しが行われる。その後、作業者によって試料が回転
されて再セットされ、発光、測光等の分析工程が行われ
る。このように、カーボン電極の交換等、試料のセッ
ト、分析工程が繰り返し行われている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】このような従来の簡易
的な発光分光分析装置にあっては、電極が黒煙電極であ
る場合には、スパークの度毎に、黒煙電極の交換又は削
り出し等が必要であったが、近年では、電極にタングス
テン電極が採用され、発光部にアルゴンが封入され、そ
のクリーニングシステムの確立にも伴って、スパークの
度毎の電極の交換等は不要になってきている。
的な発光分光分析装置にあっては、電極が黒煙電極であ
る場合には、スパークの度毎に、黒煙電極の交換又は削
り出し等が必要であったが、近年では、電極にタングス
テン電極が採用され、発光部にアルゴンが封入され、そ
のクリーニングシステムの確立にも伴って、スパークの
度毎の電極の交換等は不要になってきている。
【０００８】しかしながら、従来の簡易的な発光分光分
析装置にあっては、一回の分析工程の度毎に、作業者が
発光部の蓋を開閉し、且つ、試料の再セットを繰り返し
行わればならないといった問題がある。その結果、発光
と分光検知とを複数回繰り返し行う多点発光は、多数の
分析結果の平均値を取ることから分析精度が良いとされ
ているにも拘らず、この多点発光を行うことは困難であ
った。
析装置にあっては、一回の分析工程の度毎に、作業者が
発光部の蓋を開閉し、且つ、試料の再セットを繰り返し
行わればならないといった問題がある。その結果、発光
と分光検知とを複数回繰り返し行う多点発光は、多数の
分析結果の平均値を取ることから分析精度が良いとされ
ているにも拘らず、この多点発光を行うことは困難であ
った。
【０００９】本発明の目的は、上述したような事情に鑑
みてなされたものであって、分析工程の度毎に試料の回
転セットを自動的に行い、分析工程毎の作業者による発
光部の蓋の開閉を不要にすると共に試料の精緻なセット
作業を不要にし、これにより、分析の省力化を図り分析
時間の短縮を図ると共に、多点発光を容易化して分析精
度の向上を図った発光分光分析装置用試料自動回転装置
を提供することにある。
みてなされたものであって、分析工程の度毎に試料の回
転セットを自動的に行い、分析工程毎の作業者による発
光部の蓋の開閉を不要にすると共に試料の精緻なセット
作業を不要にし、これにより、分析の省力化を図り分析
時間の短縮を図ると共に、多点発光を容易化して分析精
度の向上を図った発光分光分析装置用試料自動回転装置
を提供することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、本発明の請求項１に係る発光分光分析装置用試料自
動回転装置は、金属等の成分分析を行う発光分光分析装
置の発光部の開口に、試料を分析工程の度に回転してセ
ットするための試料自動回転装置であって、上記発光部
の開口の上方で、試料を握持する握持部と、試料を発光
部の開口に近付けるように上記握持部を降下させると共
に、分析工程の後には、この握持部を上昇させる昇降手
段と、この昇降手段により試料が発光部の開口に近付け
られたときに、試料の試料が発光位置に位置するよう
に、上記握持部を所定角度回転する回転手段と、試料が
所定角度回転された後に、上記握持部による試料の握持
を解除すると共に、分析工程の後には、握持部による試
料の握持を復帰する解除復帰手段と、この握持が解除さ
れた試料を発光部の開口に押圧すると共に、分析工程の
後には、この押圧を解除する押圧手段と、を具備するこ
とを特徴としている。
め、本発明の請求項１に係る発光分光分析装置用試料自
動回転装置は、金属等の成分分析を行う発光分光分析装
置の発光部の開口に、試料を分析工程の度に回転してセ
ットするための試料自動回転装置であって、上記発光部
の開口の上方で、試料を握持する握持部と、試料を発光
部の開口に近付けるように上記握持部を降下させると共
に、分析工程の後には、この握持部を上昇させる昇降手
段と、この昇降手段により試料が発光部の開口に近付け
られたときに、試料の試料が発光位置に位置するよう
に、上記握持部を所定角度回転する回転手段と、試料が
所定角度回転された後に、上記握持部による試料の握持
を解除すると共に、分析工程の後には、握持部による試
料の握持を復帰する解除復帰手段と、この握持が解除さ
れた試料を発光部の開口に押圧すると共に、分析工程の
後には、この押圧を解除する押圧手段と、を具備するこ
とを特徴としている。
【００１１】また、請求項２に係る発光分光分析装置用
試料自動回転装置は、上記回転手段は、上記握持部の中
心軸に取付けられ、一方向への回転を拘束し且つ他方向
への回転は許容するクラッチ機構と、このクラッチ機構
を介して上記握持部の中心軸に支持された歯車と、この
歯車に噛合して歯車を回転させるためのラックと、を備
え、これにより、分析工程前には、ラックにより歯車が
回転されて試料が回転される一方、分析工程後には、ク
ラッチ機構により歯車が空動されて試料は回転されずに
ラックのみが初期位置に戻されることを特徴としてい
る。
試料自動回転装置は、上記回転手段は、上記握持部の中
心軸に取付けられ、一方向への回転を拘束し且つ他方向
への回転は許容するクラッチ機構と、このクラッチ機構
を介して上記握持部の中心軸に支持された歯車と、この
歯車に噛合して歯車を回転させるためのラックと、を備
え、これにより、分析工程前には、ラックにより歯車が
回転されて試料が回転される一方、分析工程後には、ク
ラッチ機構により歯車が空動されて試料は回転されずに
ラックのみが初期位置に戻されることを特徴としてい
る。
【００１２】
【作用】請求項１によれば、分析工程の前には、発光部
の開口の上方で、試料が握持される。この試料を発光部
の開口に近付けるように上記握持部が降下される。次い
で、このとき、試料の試料が発光位置に位置するように
所定角度回転される。この後、試料の握持が解除され、
試料が発光部の開口に押圧される。一方、各分析工程の
後には、試料の発光部の開口への押圧が解除され、握持
部による試料の握持が復帰される。次いで、試料が上昇
されて支持されている。このような動作が繰り返し行わ
れる。
の開口の上方で、試料が握持される。この試料を発光部
の開口に近付けるように上記握持部が降下される。次い
で、このとき、試料の試料が発光位置に位置するように
所定角度回転される。この後、試料の握持が解除され、
試料が発光部の開口に押圧される。一方、各分析工程の
後には、試料の発光部の開口への押圧が解除され、握持
部による試料の握持が復帰される。次いで、試料が上昇
されて支持されている。このような動作が繰り返し行わ
れる。
【００１３】従って、試料の回転セットが自動的に行わ
れるため、分析工程の度毎の作業者による発光部の蓋の
開閉を不要にすると共に、分析工程毎の試料のセット作
業を不要にすることができる。これにより、分析の省力
化を図り分析時間の短縮を図ると共に、多点発光も容易
に行うことができ分析精度の向上を図ることができる。
れるため、分析工程の度毎の作業者による発光部の蓋の
開閉を不要にすると共に、分析工程毎の試料のセット作
業を不要にすることができる。これにより、分析の省力
化を図り分析時間の短縮を図ると共に、多点発光も容易
に行うことができ分析精度の向上を図ることができる。
【００１４】また、請求項２によれば、各分析工程の前
には、試料が回転される一方、各分析工程の後には、試
料が非回転に維持されてラックのみが初期位置に戻され
るため、試料の回転手段を容易に実現することができ
る。
には、試料が回転される一方、各分析工程の後には、試
料が非回転に維持されてラックのみが初期位置に戻され
るため、試料の回転手段を容易に実現することができ
る。
【００１５】
【実施例】以下、本発明の一実施例に係る発光分光分析
装置用試料自動回転装置を図面を参照しつつ説明する。
図１は、本発明の一実施例に係る発光分光分析装置用試
料自動回転装置の初期状態での正面図であり、図２は、
図１に示す試料自動回転装置の初期状態での側面図であ
り、図３は、図１に示す試料自動回転装置の分析工程後
の正面図である。
装置用試料自動回転装置を図面を参照しつつ説明する。
図１は、本発明の一実施例に係る発光分光分析装置用試
料自動回転装置の初期状態での正面図であり、図２は、
図１に示す試料自動回転装置の初期状態での側面図であ
り、図３は、図１に示す試料自動回転装置の分析工程後
の正面図である。
【００１６】図１及び図２に示すように、本実施例に係
る試料自動回転装置の上方では、固定部１が設けられて
いる。この固定部１は、図２に示すように、フランジ２
等を介して発光分光分析装置（図示略）の取付部３に取
付けられている。この固定部１の上方には、第１油圧シ
リンダ４（昇降手段）が設けられていると共に、固定部
１の左右には、複数のスライド案内機構５が設けられて
いる。これらのスライド案内機構５の案内軸５ａの下方
には、支持柱６、上移動板７及び下移動板８からなる第
１移動部９が取付けられている。第１油圧シリンダ４の
シリンダ軸４ａの下端は、この第１移動部９の上移動板
７に固定された取付部７ａに取付けられている。
る試料自動回転装置の上方では、固定部１が設けられて
いる。この固定部１は、図２に示すように、フランジ２
等を介して発光分光分析装置（図示略）の取付部３に取
付けられている。この固定部１の上方には、第１油圧シ
リンダ４（昇降手段）が設けられていると共に、固定部
１の左右には、複数のスライド案内機構５が設けられて
いる。これらのスライド案内機構５の案内軸５ａの下方
には、支持柱６、上移動板７及び下移動板８からなる第
１移動部９が取付けられている。第１油圧シリンダ４の
シリンダ軸４ａの下端は、この第１移動部９の上移動板
７に固定された取付部７ａに取付けられている。
【００１７】これにより、第１油圧シリンダ４のシリン
ダ軸４ａが延ばされると、第１移動部９全体がスライド
案内機構５により案内されながら下降される一方、この
シリンダ軸４ａが収縮されると、第１移動部９全体が上
昇される。
ダ軸４ａが延ばされると、第１移動部９全体がスライド
案内機構５により案内されながら下降される一方、この
シリンダ軸４ａが収縮されると、第１移動部９全体が上
昇される。
【００１８】次に、下移動板８のフランジ８ａに、第２
油圧シリンダ１０（回転手段）が設けられている。この
第２油圧シリンダ１０のシリンダ軸１０ａに、ラック１
１が取付けられている。一方、本実施例に係る試料自動
回転装置の中心軸１４（当該装置の下方に図示）の上部
に、クラッチ機構１２ａ，１２ｂが設けられている。上
側のクラッチ機構１２ａには、ピニオン歯車１３が取付
けられている。下側のクラッチ機構１２ｂには、インデ
ックス歯車１５が設けられ、下移動板８の側部下側に、
このインデックス歯車１５に係止する逆止用爪１６が設
けられ、この逆止用爪１６はバネ１７によりインデック
ス歯車１５に付勢されている。
油圧シリンダ１０（回転手段）が設けられている。この
第２油圧シリンダ１０のシリンダ軸１０ａに、ラック１
１が取付けられている。一方、本実施例に係る試料自動
回転装置の中心軸１４（当該装置の下方に図示）の上部
に、クラッチ機構１２ａ，１２ｂが設けられている。上
側のクラッチ機構１２ａには、ピニオン歯車１３が取付
けられている。下側のクラッチ機構１２ｂには、インデ
ックス歯車１５が設けられ、下移動板８の側部下側に、
このインデックス歯車１５に係止する逆止用爪１６が設
けられ、この逆止用爪１６はバネ１７によりインデック
ス歯車１５に付勢されている。
【００１９】これにより、第２油圧シリンダ１０のシリ
ンダ軸１０ａが延ばされると、ラック１１が矢印Ｂ（図
１）の方向に移動され、ピニオン歯車１３が回転され
る。このとき、クラッチ機構は回転拘束状態にあるた
め、ピニオン歯車１３の回転に伴って、上側のクラッチ
機構１２ａが下側のクラッチ機構１２ｂと共に回転さ
れ、中心軸１４が回転される。このとき、逆止用爪１６
はインデックス歯車１７の上を滑る。
ンダ軸１０ａが延ばされると、ラック１１が矢印Ｂ（図
１）の方向に移動され、ピニオン歯車１３が回転され
る。このとき、クラッチ機構は回転拘束状態にあるた
め、ピニオン歯車１３の回転に伴って、上側のクラッチ
機構１２ａが下側のクラッチ機構１２ｂと共に回転さ
れ、中心軸１４が回転される。このとき、逆止用爪１６
はインデックス歯車１７の上を滑る。
【００２０】一方、各分析工程の後には、第２油圧シリ
ンダ１０のシリンダ軸１０ａが収縮されると、ラック１
１が矢印Ｂ（図１）の逆方向に移動され、ピニオン歯車
１３が回転される。このとき、クラッチ機構は回転許容
状態にあるため、上側のクラッチ機構１２ａのみが回転
され、下側のクラッチ機構１２ｂは回転されず、このと
き、逆止用爪１６がインデックス歯車１７に係止状態に
あるため、この下側のクラッチ機構１２ｂは、積極的に
回転することが阻止されている。
ンダ１０のシリンダ軸１０ａが収縮されると、ラック１
１が矢印Ｂ（図１）の逆方向に移動され、ピニオン歯車
１３が回転される。このとき、クラッチ機構は回転許容
状態にあるため、上側のクラッチ機構１２ａのみが回転
され、下側のクラッチ機構１２ｂは回転されず、このと
き、逆止用爪１６がインデックス歯車１７に係止状態に
あるため、この下側のクラッチ機構１２ｂは、積極的に
回転することが阻止されている。
【００２１】次に、下移動板８の下面に固定された第３
シリンダ（解除復帰手段）１８が設けられている。この
第３シリンダ１８のシリンダ軸１８ａが、下側のクラッ
チ機構１２ｂの下方に設けられた第２移動部１９に取付
けられている。この第２移動部１９の上側には、絶縁用
フランジ２０が設けられている。さらに、この第２移動
部１９の下方には、移動部１９と一体的に昇降される押
体２１が設けられている。
シリンダ（解除復帰手段）１８が設けられている。この
第３シリンダ１８のシリンダ軸１８ａが、下側のクラッ
チ機構１２ｂの下方に設けられた第２移動部１９に取付
けられている。この第２移動部１９の上側には、絶縁用
フランジ２０が設けられている。さらに、この第２移動
部１９の下方には、移動部１９と一体的に昇降される押
体２１が設けられている。
【００２２】さらに、これらの下方では、中心軸１４に
固定された握持部２２が設けられている。この握持部２
２には、図２にも示すように、「へ」字状の握持爪２３
が回動自在に設けられ、この握持爪２３の先端２３ａ
は、バネ２４によって、試料２５に近付くように付勢さ
れている。なお、試料２５を最初にセットするために、
握持爪２３を解除するための手動のノック２９が設けら
れている。
固定された握持部２２が設けられている。この握持部２
２には、図２にも示すように、「へ」字状の握持爪２３
が回動自在に設けられ、この握持爪２３の先端２３ａ
は、バネ２４によって、試料２５に近付くように付勢さ
れている。なお、試料２５を最初にセットするために、
握持爪２３を解除するための手動のノック２９が設けら
れている。
【００２３】これにより、第３シリンダ１８のシリンダ
軸１８ａが延ばされると、第２移動部１９及び押体２１
が下方に移動される。これにより、押体２１が握持爪２
３の上端を下方に押圧し、握持爪２３の先端２３ａは、
バネ２４の付勢力に抗して試料２５から離されて試料２
５の握持を解除する。一方、各分析工程の後には、第３
油圧シリンダ１８のシリンダ軸１８ａが収縮されると、
第２移動部１９及び押体２１が上方に移動される。これ
により、バネ２４の付勢力により握持爪２３が試料２５
に近付くように移動され、試料２５の握持が復帰され
る。
軸１８ａが延ばされると、第２移動部１９及び押体２１
が下方に移動される。これにより、押体２１が握持爪２
３の上端を下方に押圧し、握持爪２３の先端２３ａは、
バネ２４の付勢力に抗して試料２５から離されて試料２
５の握持を解除する。一方、各分析工程の後には、第３
油圧シリンダ１８のシリンダ軸１８ａが収縮されると、
第２移動部１９及び押体２１が上方に移動される。これ
により、バネ２４の付勢力により握持爪２３が試料２５
に近付くように移動され、試料２５の握持が復帰され
る。
【００２４】上記試料２５は、一体に形成された下方の
フランジ２５ａ下面の試料面は、研磨されて、４又は６
個の発光点を行えるようになされている。試料２５は、
発光分光分析装置の発光部の開口２６の上方に位置され
ている。
フランジ２５ａ下面の試料面は、研磨されて、４又は６
個の発光点を行えるようになされている。試料２５は、
発光分光分析装置の発光部の開口２６の上方に位置され
ている。
【００２５】握持爪２３による握持が解除された試料２
５を発光部の開口２６に押圧するための押圧機構が設け
られている。この押圧機構は、第２移動部１９に設けら
れた第４油圧シリンダ（押圧手段）２７と、この第４油
圧シリンダ２７のシリンダ軸２７ａの下端に設けられた
平バネの押部材２８とから構成されている。
５を発光部の開口２６に押圧するための押圧機構が設け
られている。この押圧機構は、第２移動部１９に設けら
れた第４油圧シリンダ（押圧手段）２７と、この第４油
圧シリンダ２７のシリンダ軸２７ａの下端に設けられた
平バネの押部材２８とから構成されている。
【００２６】これにより、第４油圧シリンダ２７のシリ
ンダ軸２７ａが降下されると、押部材２８が試料２５の
フランジ２５ａを発光部の開口２６に押圧する。一方、
各分析工程の後には、シリンダ軸２７ａが上昇される
と、押部材２８による試料２５のフランジ２５ａの押圧
が解除される。
ンダ軸２７ａが降下されると、押部材２８が試料２５の
フランジ２５ａを発光部の開口２６に押圧する。一方、
各分析工程の後には、シリンダ軸２７ａが上昇される
と、押部材２８による試料２５のフランジ２５ａの押圧
が解除される。
【００２７】次に、このように構成された試料自動回転
装置の全体の作用を説明する。
装置の全体の作用を説明する。
【００２８】成分分析の最初には、図２に示すように、
ノック２９が作業者により押圧されて握持爪２３が解除
されながら、試料２５が握持爪２３のセット位置に挿入
され、ノック２９が離されると、握持爪２３によって試
料２５が握持される。
ノック２９が作業者により押圧されて握持爪２３が解除
されながら、試料２５が握持爪２３のセット位置に挿入
され、ノック２９が離されると、握持爪２３によって試
料２５が握持される。
【００２９】先ず、図１に示すように、第１油圧シリン
ダ４のシリンダ軸４ａが延ばされ、矢印Ａのように、第
１移動部９全体がスライド案内機構５により案内されな
がら下降される。これにより、中心軸１４が下降されて
試料２５も下降される。
ダ４のシリンダ軸４ａが延ばされ、矢印Ａのように、第
１移動部９全体がスライド案内機構５により案内されな
がら下降される。これにより、中心軸１４が下降されて
試料２５も下降される。
【００３０】次いで又は同時に、第２油圧シリンダ１０
のシリンダ軸１０ａが延ばされ、ラック１１が矢印Ｂの
方向に移動され、ピニオン歯車１３が回転される。この
とき、クラッチ機構は回転拘束状態にあるため、ピニオ
ン歯車１３の回転に伴って、上側のクラッチ機構１２ａ
が下側のクラッチ機構１２ｂと共に回転され、中心軸１
４が回転される。これにより、試料２５の各試料が発光
部の開口２６の所定位置になるように回転される。
のシリンダ軸１０ａが延ばされ、ラック１１が矢印Ｂの
方向に移動され、ピニオン歯車１３が回転される。この
とき、クラッチ機構は回転拘束状態にあるため、ピニオ
ン歯車１３の回転に伴って、上側のクラッチ機構１２ａ
が下側のクラッチ機構１２ｂと共に回転され、中心軸１
４が回転される。これにより、試料２５の各試料が発光
部の開口２６の所定位置になるように回転される。
【００３１】次いで、第３シリンダ１８のシリンダ軸１
８ａが延ばされ、矢印Ｃのように、第２移動部１９及び
押体２１が下方に移動される。これにより、押体２１が
握持爪２３の上端を下方に押圧し、握持爪２３の先端２
３ａは、バネ２４の付勢力に抗して試料２５から離され
て試料２５の握持を解除する。その結果、試料２５のフ
ランジ２５ａは、開口２６に位置される。
８ａが延ばされ、矢印Ｃのように、第２移動部１９及び
押体２１が下方に移動される。これにより、押体２１が
握持爪２３の上端を下方に押圧し、握持爪２３の先端２
３ａは、バネ２４の付勢力に抗して試料２５から離され
て試料２５の握持を解除する。その結果、試料２５のフ
ランジ２５ａは、開口２６に位置される。
【００３２】次いで、第４油圧シリンダ２７のシリンダ
軸２７ａが降下され、矢印Ｃのように、押部材２８が試
料２５のフランジ２５ａを発光部の開口２６に押圧す
る。これにより、このフランジ２５ａを発光部の開口２
６に密着固定される。
軸２７ａが降下され、矢印Ｃのように、押部材２８が試
料２５のフランジ２５ａを発光部の開口２６に押圧す
る。これにより、このフランジ２５ａを発光部の開口２
６に密着固定される。
【００３３】所定の発光、分光の測定、成分解析のデー
タ処理等が行われる。
タ処理等が行われる。
【００３４】図３に示すように、この分析工程の終了後
には、矢印Ｅのように、第４油圧シリンダ２７のシリン
ダ軸２７ａが上昇され、押部材２８による試料２５のフ
ランジ２５ａの押圧が解除される。
には、矢印Ｅのように、第４油圧シリンダ２７のシリン
ダ軸２７ａが上昇され、押部材２８による試料２５のフ
ランジ２５ａの押圧が解除される。
【００３５】次いで、第３油圧シリンダ１８のシリンダ
軸１８ａが収縮され、矢印Ｆで示すように、第２移動部
１９及び押体２１が上方に移動される。これにより、バ
ネ２４の付勢力により握持爪２３が試料２５に近付くよ
うに移動され、試料２５の握持が復帰される。
軸１８ａが収縮され、矢印Ｆで示すように、第２移動部
１９及び押体２１が上方に移動される。これにより、バ
ネ２４の付勢力により握持爪２３が試料２５に近付くよ
うに移動され、試料２５の握持が復帰される。
【００３６】次いで、第２油圧シリンダ１０のシリンダ
軸１０ａが収縮され、ラック１１が矢印Ｇで示すように
移動され、ピニオン歯車１３が回転される。このとき、
クラッチ機構は回転許容状態にあるため、上側のクラッ
チ機構１２ａのみが回転され、下側のクラッチ機構１２
ｂは回転されず、このとき、逆止用爪１６がインデック
ス歯車１７に係止状態にあるため、この下側のクラッチ
機構１２ｂは、積極的に回転することが阻止されてい
る。
軸１０ａが収縮され、ラック１１が矢印Ｇで示すように
移動され、ピニオン歯車１３が回転される。このとき、
クラッチ機構は回転許容状態にあるため、上側のクラッ
チ機構１２ａのみが回転され、下側のクラッチ機構１２
ｂは回転されず、このとき、逆止用爪１６がインデック
ス歯車１７に係止状態にあるため、この下側のクラッチ
機構１２ｂは、積極的に回転することが阻止されてい
る。
【００３７】次いで又は同時に、第１油圧シリンダ４の
シリンダ軸４ａが収縮され、矢印Ｈで示すように、第１
移動部９全体が上昇される。
シリンダ軸４ａが収縮され、矢印Ｈで示すように、第１
移動部９全体が上昇される。
【００３８】このような動作が繰り返し行われる。試料
２５に保持された全ての試料の分析が終了すると、作業
者によってノック２９が押されて、試料が取り出され、
次の試料と交換される。
２５に保持された全ての試料の分析が終了すると、作業
者によってノック２９が押されて、試料が取り出され、
次の試料と交換される。
【００３９】このように構成されているため、試料の回
転セットが自動的に行われるため、分析工程の度毎の作
業者による発光部の蓋の開閉を不要にすると共に分析工
程毎の試料の精緻なセット作業を不要にすることができ
る。これにより、分析の省力化を図り分析時間の短縮を
図ることができる。具体的な数値は示さないが、分析の
サイクル時間が従来に比べて１／１０から１／２にする
ことができた。
転セットが自動的に行われるため、分析工程の度毎の作
業者による発光部の蓋の開閉を不要にすると共に分析工
程毎の試料の精緻なセット作業を不要にすることができ
る。これにより、分析の省力化を図り分析時間の短縮を
図ることができる。具体的な数値は示さないが、分析の
サイクル時間が従来に比べて１／１０から１／２にする
ことができた。
【００４０】また、発光と分光検知とを複数回繰り返し
行い多数の分析結果の平均値を取ることから分析精度が
良いとされている多点発光を容易に行うことができ、分
析精度の向上を図ることができる。具体的には、従来例
えば２点の発光分析が行われていたものを、４点又は６
点の発光分析を行った場合、分析精度は、１／ｎ1/2倍
になり（ｎは点数）、偏差では５８％〜７０％になる。
行い多数の分析結果の平均値を取ることから分析精度が
良いとされている多点発光を容易に行うことができ、分
析精度の向上を図ることができる。具体的には、従来例
えば２点の発光分析が行われていたものを、４点又は６
点の発光分析を行った場合、分析精度は、１／ｎ1/2倍
になり（ｎは点数）、偏差では５８％〜７０％になる。
【００４１】さらに、電気的なモータを使用せず、油圧
シリンダにより回転等を行っているため、発光スパーク
の影響を受けることが少ない。
シリンダにより回転等を行っているため、発光スパーク
の影響を受けることが少ない。
【００４２】さらに、分析工程の後には、試料２５が非
回転に維持されてラック１１のみが初期位置に戻される
ため、試料２５の回転手段を容易に実現している。
回転に維持されてラック１１のみが初期位置に戻される
ため、試料２５の回転手段を容易に実現している。
【００４３】なお、本発明は、上述した実施例に限定さ
れず、種々変形可能である。特に、昇降手段、回転手段
等は、図示したものに限定されず種々のものであっても
よい。
れず、種々変形可能である。特に、昇降手段、回転手段
等は、図示したものに限定されず種々のものであっても
よい。
【００４４】
【発明の効果】以上述べたように、本発明の請求項１で
は、試料の回転セットが自動的に行われるため、分析工
程の度毎の作業者による発光部の蓋の開閉を不要にする
と共に、分析工程毎の試料の精緻なセット作業を不要に
することができる。これにより、分析の省力化を図り分
析時間の短縮を図ると共に、多点発光も容易に行うこと
ができ分析精度の向上を図ることができる。
は、試料の回転セットが自動的に行われるため、分析工
程の度毎の作業者による発光部の蓋の開閉を不要にする
と共に、分析工程毎の試料の精緻なセット作業を不要に
することができる。これにより、分析の省力化を図り分
析時間の短縮を図ると共に、多点発光も容易に行うこと
ができ分析精度の向上を図ることができる。
【００４５】また、請求項２によれば、分析工程の前に
は、試料が回転される一方、分析工程の後には、試料が
非回転に維持されてラックのみが初期位置に戻されるた
め、試料の回転手段を容易に実現することができる。
は、試料が回転される一方、分析工程の後には、試料が
非回転に維持されてラックのみが初期位置に戻されるた
め、試料の回転手段を容易に実現することができる。
【図１】本発明の一実施例に係る発光分光分析装置用試
料自動回転装置の初期状態での正面図。
料自動回転装置の初期状態での正面図。
【図２】図１に示す試料自動回転装置の初期状態での側
面図。
面図。
【図３】図１に示す試料自動回転装置の分析工程後の正
面図。
面図。
４ 昇降手段（第１油圧シリンダ） １０ 回転手段（第２油圧シリンダ） １１ 回転手段（ラック） １２ａ，１２ｂ 回転手段（クラッチ機構） １３ 回転手段（歯車） １８ 解除復帰手段（第３油圧シリンダ） ２２ 握持部 ２５ 試料 ２７ 押圧手段（第４油圧シリンダ）
【手続補正書】
【提出日】平成６年６月１３日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】全文
【補正方法】変更
【補正内容】
【書類名】 明細書
【発明の名称】 発光分光分析装置用試料自動回転装
置
置
【特許請求の範囲】
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、金属等の成分分析を行
う発光分光分析装置に装着され、分析工程の度毎に試料
の回転セットを自動的に行うと共に、分析工程毎の作業
者による発光部の蓋の開閉を不要にすると共に試料の精
緻なセット作業を不要にし、これにより、分析の省力化
を図り分析時間の短縮を図ると共に、多点発光を容易化
して分析精度の向上を図った発光分光分析装置用試料自
動回転装置に関する。
う発光分光分析装置に装着され、分析工程の度毎に試料
の回転セットを自動的に行うと共に、分析工程毎の作業
者による発光部の蓋の開閉を不要にすると共に試料の精
緻なセット作業を不要にし、これにより、分析の省力化
を図り分析時間の短縮を図ると共に、多点発光を容易化
して分析精度の向上を図った発光分光分析装置用試料自
動回転装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】発光分光分析装置によって、鋼、鉄、ア
ルミニウム、合金等の成分分析等が行われている。この
発光分光分析装置のうち、特に自動発光分光分析装置で
は、上記金属の試料が多数個準備され搬送機構により順
次搬送される。先ず、これらの試料が研磨機構によって
順次研磨されて発光部に搬送される。この発光部は、略
真空状態に維持されており、試料と電極とが所定間隔で
対向して位置される。この電極から試料にスパークされ
ると、試料から発光される。この光がスリット及び回析
格子等を介して測光部に導かれ、この分光が光電子増幅
管により検知される。これにより、データ処理部におい
て、分光の波長の強度が解析されて、上記金属等の成分
分析等が行われている。上記のような発光と分光検知と
が複数回繰り返される多点発光が行われることもある。
ルミニウム、合金等の成分分析等が行われている。この
発光分光分析装置のうち、特に自動発光分光分析装置で
は、上記金属の試料が多数個準備され搬送機構により順
次搬送される。先ず、これらの試料が研磨機構によって
順次研磨されて発光部に搬送される。この発光部は、略
真空状態に維持されており、試料と電極とが所定間隔で
対向して位置される。この電極から試料にスパークされ
ると、試料から発光される。この光がスリット及び回析
格子等を介して測光部に導かれ、この分光が光電子増幅
管により検知される。これにより、データ処理部におい
て、分光の波長の強度が解析されて、上記金属等の成分
分析等が行われている。上記のような発光と分光検知と
が複数回繰り返される多点発光が行われることもある。
【０００３】このような自動的な発光分光分析装置は、
非常に多くの試料の成分分析を行う場合には好適である
が、比較的数の少ない試料の成分分析を短時間でしかも
コスト安く行う場合には必ずしも好適とはいえず、以下
のような簡易な発光分光分析装置も提案されている。
非常に多くの試料の成分分析を行う場合には好適である
が、比較的数の少ない試料の成分分析を短時間でしかも
コスト安く行う場合には必ずしも好適とはいえず、以下
のような簡易な発光分光分析装置も提案されている。
【０００４】このような簡易的な発光分光分析装置で
は、略真空状態で電極から試料にスパークを行う発光部
と、試料からの分光を検知する測光部と、分光の波長の
強度を解析するデータ処理部とが設けられている。
は、略真空状態で電極から試料にスパークを行う発光部
と、試料からの分光を検知する測光部と、分光の波長の
強度を解析するデータ処理部とが設けられている。
【０００５】この発光部では、略真空状態の発光部の蓋
が作業者によっって開成され、この発光部の中に、試料
が作業者によって挿入されてセットされ、上記蓋が閉成
される。次いで、試料の一つの試料に電極からスパーク
されて分光が測光部により検知されデータ処理部により
成分分析が行われる。
が作業者によっって開成され、この発光部の中に、試料
が作業者によって挿入されてセットされ、上記蓋が閉成
される。次いで、試料の一つの試料に電極からスパーク
されて分光が測光部により検知されデータ処理部により
成分分析が行われる。
【０００６】この一回の分析工程が終了すると、上記蓋
が再度開成されて、試料が取出される。このとき、電極
がカーボンである場合には、カーボン電極の交換又は削
り出しが行われる。その後、作業者によって試料が回転
されて再セットされ、発光、測光等の分析工程が行われ
る。このように、カーボン電極の交換等、試料のセッ
ト、分析工程が繰り返し行われている。
が再度開成されて、試料が取出される。このとき、電極
がカーボンである場合には、カーボン電極の交換又は削
り出しが行われる。その後、作業者によって試料が回転
されて再セットされ、発光、測光等の分析工程が行われ
る。このように、カーボン電極の交換等、試料のセッ
ト、分析工程が繰り返し行われている。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】このような従来の簡易
的な発光分光分析装置にあっては、電極が黒煙電極であ
る場合には、スパークの度毎に、黒煙電極の交換又は削
り出し等が必要であったが、近年では、電極にタングス
テン電極が採用され、発光部にアルゴンが封入され、そ
のクリーニングシステムの確立にも伴って、スパークの
度毎の電極の交換等は不要になってきている。
的な発光分光分析装置にあっては、電極が黒煙電極であ
る場合には、スパークの度毎に、黒煙電極の交換又は削
り出し等が必要であったが、近年では、電極にタングス
テン電極が採用され、発光部にアルゴンが封入され、そ
のクリーニングシステムの確立にも伴って、スパークの
度毎の電極の交換等は不要になってきている。
【０００８】しかしながら、従来の簡易的な発光分光分
析装置にあっては、一回の分析工程の度毎に、作業者が
発光部の蓋を開閉し、且つ、試料の再セットを繰り返し
行わればならないといった問題がある。その結果、発光
と分光検知とを複数回繰り返し行う多点発光は、多数の
分析結果の平均値を取ることから分析精度が良いとされ
ているにも拘らず、この多点発光を行うことは困難であ
った。
析装置にあっては、一回の分析工程の度毎に、作業者が
発光部の蓋を開閉し、且つ、試料の再セットを繰り返し
行わればならないといった問題がある。その結果、発光
と分光検知とを複数回繰り返し行う多点発光は、多数の
分析結果の平均値を取ることから分析精度が良いとされ
ているにも拘らず、この多点発光を行うことは困難であ
った。
【０００９】本発明の目的は、上述したような事情に鑑
みてなされたものであって、分析工程の度毎に試料の回
転セットを自動的に行い、分析工程毎の作業者による発
光部の蓋の開閉を不要にすると共に試料の精緻なセット
作業を不要にし、これにより、分析の省力化を図り分析
時間の短縮を図ると共に、多点発光を容易化して分析精
度の向上を図った発光分光分析装置用試料自動回転装置
を提供することにある。
みてなされたものであって、分析工程の度毎に試料の回
転セットを自動的に行い、分析工程毎の作業者による発
光部の蓋の開閉を不要にすると共に試料の精緻なセット
作業を不要にし、これにより、分析の省力化を図り分析
時間の短縮を図ると共に、多点発光を容易化して分析精
度の向上を図った発光分光分析装置用試料自動回転装置
を提供することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、本発明の請求項１に係る発光分光分析装置用試料自
動回転装置は、金属等の成分分析を行う発光分光分析装
置の発光部の開口に、試料を分析工程の度に回転してセ
ットするための試料自動回転装置であって、上記発光部
の開口の上方で、試料を握持する握持部と、試料を発光
部の開口に近付けるように上記握持部を降下させると共
に、分析工程の後には、この握持部を上昇させる昇降手
段と、この昇降手段により試料が発光部の開口に近付け
られたときに、試料の試料が発光位置に位置するよう
に、上記握持部を所定角度回転する回転手段と、試料が
所定角度回転された後に、上記握持部による試料の握持
を解除すると共に、分析工程の後には、握持部による試
料の握持を復帰する解除復帰手段と、この握持が解除さ
れた試料を発光部の開口に押圧すると共に、分析工程の
後には、この押圧を解除する押圧手段と、を具備するこ
とを特徴としている。
め、本発明の請求項１に係る発光分光分析装置用試料自
動回転装置は、金属等の成分分析を行う発光分光分析装
置の発光部の開口に、試料を分析工程の度に回転してセ
ットするための試料自動回転装置であって、上記発光部
の開口の上方で、試料を握持する握持部と、試料を発光
部の開口に近付けるように上記握持部を降下させると共
に、分析工程の後には、この握持部を上昇させる昇降手
段と、この昇降手段により試料が発光部の開口に近付け
られたときに、試料の試料が発光位置に位置するよう
に、上記握持部を所定角度回転する回転手段と、試料が
所定角度回転された後に、上記握持部による試料の握持
を解除すると共に、分析工程の後には、握持部による試
料の握持を復帰する解除復帰手段と、この握持が解除さ
れた試料を発光部の開口に押圧すると共に、分析工程の
後には、この押圧を解除する押圧手段と、を具備するこ
とを特徴としている。
【００１１】また、請求項２に係る発光分光分析装置用
試料自動回転装置は、上記回転手段は、上記握持部の中
心軸に取付けられ、一方向への回転を拘束し且つ他方向
への回転は許容するクラッチ機構と、このクラッチ機構
を介して上記握持部の中心軸に支持された歯車と、この
歯車に噛合して歯車を回転させるためのラックと、を備
え、これにより、分析工程前には、ラックにより歯車が
回転されて試料が回転される一方、分析工程後には、ク
ラッチ機構により歯車が空動されて試料は回転されずに
ラックのみが初期位置に戻されることを特徴としてい
る。
試料自動回転装置は、上記回転手段は、上記握持部の中
心軸に取付けられ、一方向への回転を拘束し且つ他方向
への回転は許容するクラッチ機構と、このクラッチ機構
を介して上記握持部の中心軸に支持された歯車と、この
歯車に噛合して歯車を回転させるためのラックと、を備
え、これにより、分析工程前には、ラックにより歯車が
回転されて試料が回転される一方、分析工程後には、ク
ラッチ機構により歯車が空動されて試料は回転されずに
ラックのみが初期位置に戻されることを特徴としてい
る。
【００１２】
【作用】請求項１によれば、分析工程の前には、発光部
の開口の上方で、試料が握持される。この試料を発光部
の開口に近付けるように上記握持部が降下される。次い
で、このとき、試料の試料が発光位置に位置するように
所定角度回転される。この後、試料の握持が解除され、
試料が発光部の開口に押圧される。一方、各分析工程の
後には、試料の発光部の開口への押圧が解除され、握持
部による試料の握持が復帰される。次いで、試料が上昇
されて支持されている。このような動作が繰り返し行わ
れる。
の開口の上方で、試料が握持される。この試料を発光部
の開口に近付けるように上記握持部が降下される。次い
で、このとき、試料の試料が発光位置に位置するように
所定角度回転される。この後、試料の握持が解除され、
試料が発光部の開口に押圧される。一方、各分析工程の
後には、試料の発光部の開口への押圧が解除され、握持
部による試料の握持が復帰される。次いで、試料が上昇
されて支持されている。このような動作が繰り返し行わ
れる。
【００１３】従って、試料の回転セットが自動的に行わ
れるため、分析工程の度毎の作業者による発光部の蓋の
開閉を不要にすると共に、分析工程毎の試料のセット作
業を不要にすることができる。これにより、分析の省力
化を図り分析時間の短縮を図ると共に、多点発光も容易
に行うことができ分析精度の向上を図ることができる。
れるため、分析工程の度毎の作業者による発光部の蓋の
開閉を不要にすると共に、分析工程毎の試料のセット作
業を不要にすることができる。これにより、分析の省力
化を図り分析時間の短縮を図ると共に、多点発光も容易
に行うことができ分析精度の向上を図ることができる。
【００１４】また、請求項２によれば、各分析工程の前
には、試料が回転される一方、各分析工程の後には、試
料が非回転に維持されてラックのみが初期位置に戻され
るため、試料の回転手段を容易に実現することができ
る。
には、試料が回転される一方、各分析工程の後には、試
料が非回転に維持されてラックのみが初期位置に戻され
るため、試料の回転手段を容易に実現することができ
る。
【００１５】
【実施例】以下、本発明の一実施例に係る発光分光分析
装置用試料自動回転装置を図面を参照しつつ説明する。
図１は、本発明の一実施例に係る発光分光分析装置用試
料自動回転装置の初期状態での正面図であり、図２は、
図１に示す試料自動回転装置の初期状態での側面図であ
り、図３は、図１に示す試料自動回転装置の分析工程後
の正面図である。
装置用試料自動回転装置を図面を参照しつつ説明する。
図１は、本発明の一実施例に係る発光分光分析装置用試
料自動回転装置の初期状態での正面図であり、図２は、
図１に示す試料自動回転装置の初期状態での側面図であ
り、図３は、図１に示す試料自動回転装置の分析工程後
の正面図である。
【００１６】図１及び図２に示すように、本実施例に係
る試料自動回転装置の上方では、固定部１が設けられて
いる。この固定部１は、図２に示すように、フランジ２
等を介して発光分光分析装置（図示略）の取付部３に取
付けられている。この固定部１の上方には、第１空気圧
シリンダ４（昇降手段）が設けられていると共に、固定
部１の左右には、複数のスライド案内機構５が設けられ
ている。これらのスライド案内機構５の案内軸５ａの下
方には、支持柱６、上移動板７及び下移動板８からなる
第１移動部９が取付けられている。第１空気圧シリンダ
４のシリンダ軸４ａの下端は、この第１移動部９の上移
動板７に固定された取付部７ａに取付けられている。
る試料自動回転装置の上方では、固定部１が設けられて
いる。この固定部１は、図２に示すように、フランジ２
等を介して発光分光分析装置（図示略）の取付部３に取
付けられている。この固定部１の上方には、第１空気圧
シリンダ４（昇降手段）が設けられていると共に、固定
部１の左右には、複数のスライド案内機構５が設けられ
ている。これらのスライド案内機構５の案内軸５ａの下
方には、支持柱６、上移動板７及び下移動板８からなる
第１移動部９が取付けられている。第１空気圧シリンダ
４のシリンダ軸４ａの下端は、この第１移動部９の上移
動板７に固定された取付部７ａに取付けられている。
【００１７】これにより、第１空気圧シリンダ４のシリ
ンダ軸４ａが延ばされると、第１移動部９全体がスライ
ド案内機構５により案内されながら下降される一方、こ
のシリンダ軸４ａが収縮されると、第１移動部９全体が
上昇される。
ンダ軸４ａが延ばされると、第１移動部９全体がスライ
ド案内機構５により案内されながら下降される一方、こ
のシリンダ軸４ａが収縮されると、第１移動部９全体が
上昇される。
【００１８】次に、下移動板８のフランジ８ａに、第２
空気圧シリンダ１０（回転手段）が設けられている。こ
の第２空気圧シリンダ１０のシリンダ軸１０ａに、ラッ
ク１１が取付けられている。一方、本実施例に係る試料
自動回転装置の中心軸１４（当該装置の下方に図示）の
上部に、クラッチ機構１２ａ，１２ｂが設けられてい
る。上側のクラッチ機構１２ａには、ピニオン歯車１３
が取付けられている。下側のクラッチ機構１２ｂには、
インデックス歯車１５が設けられ、下移動板８の側部下
側に、このインデックス歯車１５に係止する逆止用爪１
６が設けられ、この逆止用爪１６はバネ１７によりイン
デックス歯車１５に付勢されている。
空気圧シリンダ１０（回転手段）が設けられている。こ
の第２空気圧シリンダ１０のシリンダ軸１０ａに、ラッ
ク１１が取付けられている。一方、本実施例に係る試料
自動回転装置の中心軸１４（当該装置の下方に図示）の
上部に、クラッチ機構１２ａ，１２ｂが設けられてい
る。上側のクラッチ機構１２ａには、ピニオン歯車１３
が取付けられている。下側のクラッチ機構１２ｂには、
インデックス歯車１５が設けられ、下移動板８の側部下
側に、このインデックス歯車１５に係止する逆止用爪１
６が設けられ、この逆止用爪１６はバネ１７によりイン
デックス歯車１５に付勢されている。
【００１９】これにより、第２空気圧シリンダ１０のシ
リンダ軸１０ａが延ばされると、ラック１１が矢印Ｂ
（図１）の方向に移動され、ピニオン歯車１３が回転さ
れる。このとき、クラッチ機構は回転拘束状態にあるた
め、ピニオン歯車１３の回転に伴って、上側のクラッチ
機構１２ａが下側のクラッチ機構１２ｂと共に回転さ
れ、中心軸１４が回転される。このとき、逆止用爪１６
はインデックス歯車１７の上を滑る。
リンダ軸１０ａが延ばされると、ラック１１が矢印Ｂ
（図１）の方向に移動され、ピニオン歯車１３が回転さ
れる。このとき、クラッチ機構は回転拘束状態にあるた
め、ピニオン歯車１３の回転に伴って、上側のクラッチ
機構１２ａが下側のクラッチ機構１２ｂと共に回転さ
れ、中心軸１４が回転される。このとき、逆止用爪１６
はインデックス歯車１７の上を滑る。
【００２０】一方、各分析工程の後には、第２空気圧シ
リンダ１０のシリンダ軸１０ａが収縮されると、ラック
１１が矢印Ｂ（図１）の逆方向に移動され、ピニオン歯
車１３が回転される。このとき、クラッチ機構は回転許
容状態にあるため、上側のクラッチ機構１２ａのみが回
転され、下側のクラッチ機構１２ｂは回転されず、この
とき、逆止用爪１６がインデックス歯車１７に係止状態
にあるため、この下側のクラッチ機構１２ｂは、積極的
に回転することが阻止されている。
リンダ１０のシリンダ軸１０ａが収縮されると、ラック
１１が矢印Ｂ（図１）の逆方向に移動され、ピニオン歯
車１３が回転される。このとき、クラッチ機構は回転許
容状態にあるため、上側のクラッチ機構１２ａのみが回
転され、下側のクラッチ機構１２ｂは回転されず、この
とき、逆止用爪１６がインデックス歯車１７に係止状態
にあるため、この下側のクラッチ機構１２ｂは、積極的
に回転することが阻止されている。
【００２１】次に、下移動板８の下面に固定された第３
シリンダ（解除復帰手段）１８が設けられている。この
第３シリンダ１８のシリンダ軸１８ａが、下側のクラッ
チ機構１２ｂの下方に設けられた第２移動部１９に取付
けられている。この第２移動部１９の上側には、絶縁用
フランジ２０が設けられている。さらに、この第２移動
部１９の下方には、移動部１９と一体的に昇降される押
体２１が設けられている。
シリンダ（解除復帰手段）１８が設けられている。この
第３シリンダ１８のシリンダ軸１８ａが、下側のクラッ
チ機構１２ｂの下方に設けられた第２移動部１９に取付
けられている。この第２移動部１９の上側には、絶縁用
フランジ２０が設けられている。さらに、この第２移動
部１９の下方には、移動部１９と一体的に昇降される押
体２１が設けられている。
【００２２】さらに、これらの下方では、中心軸１４に
固定された握持部２２が設けられている。この握持部２
２には、図２にも示すように、「へ」字状の握持爪２３
が回動自在に設けられ、この握持爪２３の先端２３ａ
は、バネ２４によって、試料２５に近付くように付勢さ
れている。なお、試料２５を最初にセットするために、
握持爪２３を解除するための手動のノック２９が設けら
れている。
固定された握持部２２が設けられている。この握持部２
２には、図２にも示すように、「へ」字状の握持爪２３
が回動自在に設けられ、この握持爪２３の先端２３ａ
は、バネ２４によって、試料２５に近付くように付勢さ
れている。なお、試料２５を最初にセットするために、
握持爪２３を解除するための手動のノック２９が設けら
れている。
【００２３】これにより、第３シリンダ１８のシリンダ
軸１８ａが延ばされると、第２移動部１９及び押体２１
が下方に移動される。これにより、押体２１が握持爪２
３の上端を下方に押圧し、握持爪２３の先端２３ａは、
バネ２４の付勢力に抗して試料２５から離されて試料２
５の握持を解除する。一方、各分析工程の後には、第３
空気圧シリンダ１８のシリンダ軸１８ａが収縮される
と、第２移動部１９及び押体２１が上方に移動される。
これにより、バネ２４の付勢力により握持爪２３が試料
２５に近付くように移動され、試料２５の握持が復帰さ
れる。
軸１８ａが延ばされると、第２移動部１９及び押体２１
が下方に移動される。これにより、押体２１が握持爪２
３の上端を下方に押圧し、握持爪２３の先端２３ａは、
バネ２４の付勢力に抗して試料２５から離されて試料２
５の握持を解除する。一方、各分析工程の後には、第３
空気圧シリンダ１８のシリンダ軸１８ａが収縮される
と、第２移動部１９及び押体２１が上方に移動される。
これにより、バネ２４の付勢力により握持爪２３が試料
２５に近付くように移動され、試料２５の握持が復帰さ
れる。
【００２４】上記試料２５は、一体に形成された下方の
フランジ２５ａ下面の試料面は、研磨されて、４又は６
個の発光点を行えるようになされている。試料２５は、
発光分光分析装置の発光部の開口２６の上方に位置され
ている。
フランジ２５ａ下面の試料面は、研磨されて、４又は６
個の発光点を行えるようになされている。試料２５は、
発光分光分析装置の発光部の開口２６の上方に位置され
ている。
【００２５】握持爪２３による握持が解除された試料２
５を発光部の開口２６に押圧するための押圧機構が設け
られている。この押圧機構は、第２移動部１９に設けら
れた第４空気圧シリンダ（押圧手段）２７と、この第４
空気圧シリンダ２７のシリンダ軸２７ａの下端に設けら
れた平バネの押部材２８とから構成されている。
５を発光部の開口２６に押圧するための押圧機構が設け
られている。この押圧機構は、第２移動部１９に設けら
れた第４空気圧シリンダ（押圧手段）２７と、この第４
空気圧シリンダ２７のシリンダ軸２７ａの下端に設けら
れた平バネの押部材２８とから構成されている。
【００２６】これにより、第４空気圧シリンダ２７のシ
リンダ軸２７ａが降下されると、押部材２８が試料２５
のフランジ２５ａを発光部の開口２６に押圧する。一
方、各分析工程の後には、シリンダ軸２７ａが上昇され
ると、押部材２８による試料２５のフランジ２５ａの押
圧が解除される。
リンダ軸２７ａが降下されると、押部材２８が試料２５
のフランジ２５ａを発光部の開口２６に押圧する。一
方、各分析工程の後には、シリンダ軸２７ａが上昇され
ると、押部材２８による試料２５のフランジ２５ａの押
圧が解除される。
【００２７】次に、このように構成された試料自動回転
装置の全体の作用を説明する。
装置の全体の作用を説明する。
【００２８】成分分析の最初には、図２に示すように、
ノック２９が作業者により押圧されて握持爪２３が解除
されながら、試料２５が握持爪２３のセット位置に挿入
され、ノック２９が離されると、握持爪２３によって試
料２５が握持される。
ノック２９が作業者により押圧されて握持爪２３が解除
されながら、試料２５が握持爪２３のセット位置に挿入
され、ノック２９が離されると、握持爪２３によって試
料２５が握持される。
【００２９】先ず、図１に示すように、第１空気圧シリ
ンダ４のシリンダ軸４ａが延ばされ、矢印Ａのように、
第１移動部９全体がスライド案内機構５により案内され
ながら下降される。これにより、中心軸１４が下降され
て試料２５も下降される。
ンダ４のシリンダ軸４ａが延ばされ、矢印Ａのように、
第１移動部９全体がスライド案内機構５により案内され
ながら下降される。これにより、中心軸１４が下降され
て試料２５も下降される。
【００３０】次いで又は同時に、第２空気圧シリンダ１
０のシリンダ軸１０ａが延ばされ、ラック１１が矢印Ｂ
の方向に移動され、ピニオン歯車１３が回転される。こ
のとき、クラッチ機構は回転拘束状態にあるため、ピニ
オン歯車１３の回転に伴って、上側のクラッチ機構１２
ａが下側のクラッチ機構１２ｂと共に回転され、中心軸
１４が回転される。これにより、試料２５の各試料が発
光部の開口２６の所定位置になるように回転される。
０のシリンダ軸１０ａが延ばされ、ラック１１が矢印Ｂ
の方向に移動され、ピニオン歯車１３が回転される。こ
のとき、クラッチ機構は回転拘束状態にあるため、ピニ
オン歯車１３の回転に伴って、上側のクラッチ機構１２
ａが下側のクラッチ機構１２ｂと共に回転され、中心軸
１４が回転される。これにより、試料２５の各試料が発
光部の開口２６の所定位置になるように回転される。
【００３１】次いで、第３シリンダ１８のシリンダ軸１
８ａが延ばされ、矢印Ｃのように、第２移動部１９及び
押体２１が下方に移動される。これにより、押体２１が
握持爪２３の上端を下方に押圧し、握持爪２３の先端２
３ａは、バネ２４の付勢力に抗して試料２５から離され
て試料２５の握持を解除する。その結果、試料２５のフ
ランジ２５ａは、開口２６に位置される。
８ａが延ばされ、矢印Ｃのように、第２移動部１９及び
押体２１が下方に移動される。これにより、押体２１が
握持爪２３の上端を下方に押圧し、握持爪２３の先端２
３ａは、バネ２４の付勢力に抗して試料２５から離され
て試料２５の握持を解除する。その結果、試料２５のフ
ランジ２５ａは、開口２６に位置される。
【００３２】次いで、第４空気圧シリンダ２７のシリン
ダ軸２７ａが降下され、矢印Ｃのように、押部材２８が
試料２５のフランジ２５ａを発光部の開口２６に押圧す
る。これにより、このフランジ２５ａを発光部の開口２
６に密着固定される。
ダ軸２７ａが降下され、矢印Ｃのように、押部材２８が
試料２５のフランジ２５ａを発光部の開口２６に押圧す
る。これにより、このフランジ２５ａを発光部の開口２
６に密着固定される。
【００３３】所定の発光、分光の測定、成分解析のデー
タ処理等が行われる。
タ処理等が行われる。
【００３４】図３に示すように、この分析工程の終了後
には、矢印Ｅのように、第４空気圧シリンダ２７のシリ
ンダ軸２７ａが上昇され、押部材２８による試料２５の
フランジ２５ａの押圧が解除される。
には、矢印Ｅのように、第４空気圧シリンダ２７のシリ
ンダ軸２７ａが上昇され、押部材２８による試料２５の
フランジ２５ａの押圧が解除される。
【００３５】次いで、第３空気圧シリンダ１８のシリン
ダ軸１８ａが収縮され、矢印Ｆで示すように、第２移動
部１９及び押体２１が上方に移動される。これにより、
バネ２４の付勢力により握持爪２３が試料２５に近付く
ように移動され、試料２５の握持が復帰される。
ダ軸１８ａが収縮され、矢印Ｆで示すように、第２移動
部１９及び押体２１が上方に移動される。これにより、
バネ２４の付勢力により握持爪２３が試料２５に近付く
ように移動され、試料２５の握持が復帰される。
【００３６】次いで、第２空気圧シリンダ１０のシリン
ダ軸１０ａが収縮され、ラック１１が矢印Ｇで示すよう
に移動され、ピニオン歯車１３が回転される。このと
き、クラッチ機構は回転許容状態にあるため、上側のク
ラッチ機構１２ａのみが回転され、下側のクラッチ機構
１２ｂは回転されず、このとき、逆止用爪１６がインデ
ックス歯車１７に係止状態にあるため、この下側のクラ
ッチ機構１２ｂは、積極的に回転することが阻止されて
いる。
ダ軸１０ａが収縮され、ラック１１が矢印Ｇで示すよう
に移動され、ピニオン歯車１３が回転される。このと
き、クラッチ機構は回転許容状態にあるため、上側のク
ラッチ機構１２ａのみが回転され、下側のクラッチ機構
１２ｂは回転されず、このとき、逆止用爪１６がインデ
ックス歯車１７に係止状態にあるため、この下側のクラ
ッチ機構１２ｂは、積極的に回転することが阻止されて
いる。
【００３７】次いで又は同時に、第１空気圧シリンダ４
のシリンダ軸４ａが収縮され、矢印Ｈで示すように、第
１移動部９全体が上昇される。
のシリンダ軸４ａが収縮され、矢印Ｈで示すように、第
１移動部９全体が上昇される。
【００３８】このような動作が繰り返し行われる。試料
２５の試料面の全ての分析が終了すると、作業者によっ
てノック２９が押されて、試料が取り出され、次の試料
と交換される。
２５の試料面の全ての分析が終了すると、作業者によっ
てノック２９が押されて、試料が取り出され、次の試料
と交換される。
【００３９】このように構成されているため、試料の回
転セットが自動的に行われるため、分析工程の度毎の作
業者による発光部の蓋の開閉を不要にすると共に分析工
程毎の試料の精緻なセット作業を不要にすることができ
る。これにより、分析の省力化を図り分析時間の短縮を
図ることができる。具体的な数値は示さないが、分析の
サイクル時間が従来に比べて１／１０から１／２にする
ことができた。
転セットが自動的に行われるため、分析工程の度毎の作
業者による発光部の蓋の開閉を不要にすると共に分析工
程毎の試料の精緻なセット作業を不要にすることができ
る。これにより、分析の省力化を図り分析時間の短縮を
図ることができる。具体的な数値は示さないが、分析の
サイクル時間が従来に比べて１／１０から１／２にする
ことができた。
【００４０】また、発光と分光検知とを複数回繰り返し
行い多数の分析結果の平均値を取ることから分析精度が
良いとされている多点発光を容易に行うことができ、分
析精度の向上を図ることができる。具体的には、従来例
えば２点の発光分析が行われていたものを、４点又は６
点の発光分析を行った場合、分析精度は、１／ｎ１／２
倍になり（ｎは点数）、偏差では５８％〜７０％にな
る。
行い多数の分析結果の平均値を取ることから分析精度が
良いとされている多点発光を容易に行うことができ、分
析精度の向上を図ることができる。具体的には、従来例
えば２点の発光分析が行われていたものを、４点又は６
点の発光分析を行った場合、分析精度は、１／ｎ１／２
倍になり（ｎは点数）、偏差では５８％〜７０％にな
る。
【００４１】さらに、電気的なモータを使用せず、空気
圧シリンダにより回転等を行っているため、発光スパー
クの影響を受けることが少ない。
圧シリンダにより回転等を行っているため、発光スパー
クの影響を受けることが少ない。
【００４２】さらに、分析工程の後には、試料２５が非
回転に維持されてラック１１のみが初期位置に戻される
ため、試料２５の回転手段を容易に実現している。
回転に維持されてラック１１のみが初期位置に戻される
ため、試料２５の回転手段を容易に実現している。
【００４３】なお、本発明は、上述した実施例に限定さ
れず、種々変形可能である。特に、昇降手段、回転手段
等は、図示したものに限定されず種々のものであっても
よい。
れず、種々変形可能である。特に、昇降手段、回転手段
等は、図示したものに限定されず種々のものであっても
よい。
【００４４】
【発明の効果】以上述べたように、本発明の請求項１で
は、試料の回転セットが自動的に行われるため、分析工
程の度毎の作業者による発光部の蓋の開閉を不要にする
と共に、分析工程毎の試料の精緻なセット作業を不要に
することができる。これにより、分析の省力化を図り分
析時間の短縮を図ると共に、多点発光も容易に行うこと
ができ分析精度の向上を図ることができる。
は、試料の回転セットが自動的に行われるため、分析工
程の度毎の作業者による発光部の蓋の開閉を不要にする
と共に、分析工程毎の試料の精緻なセット作業を不要に
することができる。これにより、分析の省力化を図り分
析時間の短縮を図ると共に、多点発光も容易に行うこと
ができ分析精度の向上を図ることができる。
【００４５】また、請求項２によれば、分析工程の前に
は、試料が回転される一方、分析工程の後には、試料が
非回転に維持されてラックのみが初期位置に戻されるた
め、試料の回転手段を容易に実現することができる。
は、試料が回転される一方、分析工程の後には、試料が
非回転に維持されてラックのみが初期位置に戻されるた
め、試料の回転手段を容易に実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の一実施例に係る発光分光分析装置用試
料自動回転装置の初期状態での正面図。
料自動回転装置の初期状態での正面図。
【図２】図１に示す試料自動回転装置の初期状態での側
面図。
面図。
【図３】図１に示す試料自動回転装置の分析工程後の正
面図。
面図。
【符号の説明】 ４ 昇降手段（第１空気圧シリンダ） １０ 回転手段（第２空気圧シリンダ） １１ 回転手段（ラック） １２ａ，１２ｂ 回転手段（クラッチ機構） １３ 回転手段（歯車） １８ 解除復帰手段（第３空気圧シリンダ） ２２ 握持部 ２５ 試料 ２７ 押圧手段（第４空気圧シリンダ）
【手続補正２】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】図３
【補正方法】変更
【補正内容】
【図３】
Claims (2)
- 【請求項１】金属等の成分分析を行う発光分光分析装置
の発光部の開口に、試料を分析工程の度に回転してセッ
トするための試料自動回転装置であって、 上記発光部の開口の上方で、試料を握持する握持部と、 試料を発光部の開口に近付けるように上記握持部を降下
させると共に、分析工程の後には、この握持部を上昇さ
せる昇降手段と、 この昇降手段により試料が発光部の開口に近付けられた
ときに、試料の試料が発光位置に位置するように、上記
握持部を所定角度回転する回転手段と、 試料が所定角度回転された後に、上記握持部による試料
の握持を解除すると共に、分析工程の後には、握持部に
よる試料の握持を復帰する解除復帰手段と、 この握持が解除された試料を発光部の開口に押圧すると
共に、分析工程の後には、この押圧を解除する押圧手段
と、を具備することを特徴とする発光分光分析装置用試
料自動回転装置。 - 【請求項２】上記回転手段は、 上記握持部の中心軸に取付けられ、一方向への回転を拘
束し且つ他方向への回転は許容するクラッチ機構と、 このクラッチ機構を介して上記握持部の中心軸に支持さ
れた歯車と、 この歯車に噛合して歯車を回転させるためのラックと、
を備え、これにより、分析工程前には、ラックにより歯
車が回転されて試料が回転される一方、分析工程後に
は、クラッチ機構により歯車が空動されて試料は回転さ
れずにラックのみが初期位置に戻されることを特徴とす
る請求項１に記載の発光分光分析装置用試料自動回転装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6112943A JPH07318495A (ja) | 1994-05-26 | 1994-05-26 | 発光分光分析装置用試料自動回転装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6112943A JPH07318495A (ja) | 1994-05-26 | 1994-05-26 | 発光分光分析装置用試料自動回転装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07318495A true JPH07318495A (ja) | 1995-12-08 |
Family
ID=14599397
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6112943A Pending JPH07318495A (ja) | 1994-05-26 | 1994-05-26 | 発光分光分析装置用試料自動回転装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07318495A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2008032834A1 (fr) | 2006-09-14 | 2008-03-20 | Panasonic Corporation | Dispositif d'identification des métaux et procédé d'identification des métaux |
| CN117214115A (zh) * | 2023-09-28 | 2023-12-12 | 无锡创想分析仪器有限公司 | 一种具有自动更换样品的光谱分析仪 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05113401A (ja) * | 1991-10-23 | 1993-05-07 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 発光分光分析方法および装置 |
| JPH05264455A (ja) * | 1992-03-23 | 1993-10-12 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 発光分光分析方法 |
| JPH0694619A (ja) * | 1992-09-10 | 1994-04-08 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 発光分光分析装置および発光分光分析方法 |
-
1994
- 1994-05-26 JP JP6112943A patent/JPH07318495A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH05113401A (ja) * | 1991-10-23 | 1993-05-07 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 発光分光分析方法および装置 |
| JPH05264455A (ja) * | 1992-03-23 | 1993-10-12 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 発光分光分析方法 |
| JPH0694619A (ja) * | 1992-09-10 | 1994-04-08 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 発光分光分析装置および発光分光分析方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2008032834A1 (fr) | 2006-09-14 | 2008-03-20 | Panasonic Corporation | Dispositif d'identification des métaux et procédé d'identification des métaux |
| US7948247B2 (en) | 2006-09-14 | 2011-05-24 | Panasonic Corporation | Metal identifying device and metal identifying method |
| CN117214115A (zh) * | 2023-09-28 | 2023-12-12 | 无锡创想分析仪器有限公司 | 一种具有自动更换样品的光谱分析仪 |
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