JPH0731349U - 発熱体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 発熱部自体の品質良否及び発熱部における発
熱の均一性を正確に検査できる発熱体を提供すること。 【構成】 帯状の発熱部２の長手方向に抵抗値測定用の
電極４を等間隔で複数個設けているので、該電極４を利
用して発熱部２の単位長さ当たりの抵抗値を簡単に測定
することが可能であり、各抵抗値が正常値の許容範囲内
にあるか否かを判定すれば、発熱部自体に部分的な品質
不良があるか否かを簡単に判断することができ、また発
熱部における発熱の均一性を該抵抗値から直接的に、且
つ正確に検査できる。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、基体上に帯状の発熱部を有する発熱体に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】

図２にはこの種従来の発熱体を示してある。 同図に示した発熱体はプリンター等に使用されるもので、アルミナ等から成る 横長矩形状の基体１１と、基体１１の上面中央に形成された酸化ルテニウムや銀 −パラジウム等から成る帯状の発熱部１２と、発熱部１２の両端に形成された銀 や銀−パラジウム等から成る矩形状の端子部１３と、発熱部１２及び端子部１３ の一部を覆うガラス質の保護層１４とから構成されている。

【０００３】 この発熱体は両端子部１３に所定電圧を印加することにより、電気抵抗材であ る発熱部１３全体を所定温度で発熱させることができる。

【０００４】

【考案が解決しようとする課題】

ところで、上記のような細長い発熱部１２を有する発熱体では、該発熱部１２ 全体で発熱を均一に行うことが極めて重要な品質条件となっている。従来ではこ れを検査するために電圧印加時における発熱部１２の温度分布をサーモグラフィ 等によって測定し、該測定結果からその良否を判別している。

【０００５】 しかしながら、上記の検査方法では表面的な温度分布から発熱部１２の発熱状 態を推測しているだけなので、発熱部１２自体に部分的な品質不良がある場合で も表面温度に差が出ない限りは該不良を発見できず、発熱部１２における実際の 発熱均一性を正確に検査できない欠点がある。

【０００６】 本考案は上記事情に鑑みてなされたもので、発熱部自体の品質良否及び発熱部 における発熱の均一性を正確に検査できる発熱体を提供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】

上記目的を達成するため、本考案は、電気抵抗材から成る帯状の発熱部を基体 上に備えた発熱体において、上記発熱部の長手方向に抵抗値測定用の電極を等間 隔で複数個設けている。

【０００８】

【作用】

本考案では、発熱部に設けられた抵抗値測定用の電極を利用して、該発熱部の 単位長さ当たりの抵抗値を簡単に測定することができる。電圧印加時の発熱量は Ｗ＝Ｉ²Ｒ （Ｉ：電流，Ｒ：抵抗値）で決定されるので、上記の単位長さ当たり の抵抗値が分かれば、発熱部自体の品質良否と共に発熱部における発熱の均一性 を直接的に検査できる。

【０００９】

【実施例】

図１には本考案の第１実施例を示してある。 同図に示した発熱体は、横長矩形状の基体１と、基体１の上面中央に形成され た帯状の発熱部２と、発熱部２の両端に形成された端子部３と、抵抗値測定用の 電極４と、発熱部２，電極４及び端子部３の一部を覆う保護層５とから構成され ている。基体１，発熱部２，端子部３及び保護層５の材質は図２に示した従来例 と同様である。

【００１０】 上記電極４は銀や銀−パラジウム等で細長い帯状に形成されており、発熱部２ 上に直交向きで重なるように該発熱部２の長手方向に等間隔で複数個（図中は１ ０個）設けられている。また、各電極４は抵抗値測定が容易に行えるようにその 一端を発熱部２から長く突出している。

【００１１】 本実施例における発熱部２の抵抗値測定は保護層５を形成する前段階で行われ ものであり、該測定には周知の抵抗値測定器が用いられる。具体的には、隣接す る電極４間の抵抗値と、必要に応じて端子部３と両端電極４との間の抵抗値を夫 々測定し、各抵抗値が正常値の許容範囲内にあるか否かを判定するだけでよい。 電圧印加時の発熱量はＷ＝Ｉ²Ｒ （Ｉ：電流，Ｒ：抵抗値）で決定されるので、 上記の単位長さ当たりの抵抗値が夫々分かれば発熱部２自体に部分的な品質不良 があるか否かを簡単に判断することができ、また発熱部２における発熱の均一性 を該抵抗値から直接的に、且つ正確に検査できる。

【００１２】 図３には本考案の第２実施例を示してある。 同図に示した発熱体は、横長矩形状の基体２１と、基体２１の上面中央に形成 された帯状の発熱部２２と、発熱部２２の両端に形成された端子部２３と、抵抗 値測定用の電極２４と、発熱部２２，電極２４及び端子部２３の一部を覆う保護 層２５とから構成されている。基体２１，発熱部２２，端子部２３及び保護層２ ５の材質は図２に示した従来例と同様である。

【００１３】 上記電極２４は銀や銀−パラジウム等から第１実施例と同様の細長い帯状に形 成されており、発熱部２２下に直交向きで重なるように該発熱部２２の長手方向 に等間隔で複数個（図中は１０個）設けられている。また、各電極２４は抵抗値 測定が容易に行えるようにその一端を発熱部２２から長く突出している。

【００１４】 本実施例における発熱部２２の抵抗値測定も保護層２５を形成する前段階で行 われる。隣接する電極２４間の抵抗値と、必要に応じて端子部２３と両端電極２ ４との間の抵抗値を夫々測定し、各抵抗値が正常値の許容範囲内にあるか否かを 判定すれば、第１実施例と同様に、発熱部２２自体に部分的な品質不良があるか 否かを簡単に判断することができ、また発熱部２２における発熱の均一性を該抵 抗値から直接的に、且つ正確に検査できる。

【００１５】 図４には本考案の第３実施例を示してある。 同図に示した発熱体は、横長矩形状の基体３１と、基体３１の上面中央に形成 された帯状の発熱部３２と、発熱部３２の両端に形成された端子部３３と、抵抗 値測定用の電極３４と、発熱部３２，電極３４及び端子部３３の一部を覆う保護 層３５とから構成されている。基体３１，発熱部３２，端子部３３及び保護層３ ５の材質は図２に示した従来例と同様である。

【００１６】 上記電極３４は銀や銀−パラジウム等から第１実施例のものよりも長尺に形成 されており、発熱部３２上に直交向きで重なるように該発熱部３２の長手方向に 等間隔で複数個（図中は１０個）設けられ、両端を基体３１の両側面まで延長さ れている。勿論、各電極３４は第２実施例と同様に発熱部３２の下側に形成され ていてもよい。

【００１７】 本実施例における発熱部３２の抵抗値測定も保護層３５を形成する前段階で行 われる。隣接する電極３４間の抵抗値と、必要に応じて端子部３３と両端電極３ ４との間の抵抗値を夫々測定し、各抵抗値が正常値の許容範囲内にあるか否かを 判定すれば、第１実施例と同様に、発熱部３２自体に部分的な品質不良があるか 否かを簡単に判断することができ、また発熱部３２における発熱の均一性を該抵 抗値から直接的に、且つ正確に検査できる。

【００１８】 図５乃至図７には本考案の第４実施例を示してある。ちなみに、図５は上面側 から見た斜視図、図６は底面側から見た斜視図、図７は部分断面図である。 同図に示した発熱体は、横長矩形状の基体４１と、基体４１の上面中央に形成 された帯状の発熱部４２と、発熱部４２の両端に形成された端子部４３と、抵抗 値測定用の電極４４と、発熱部４２及び端子部４３の一部を覆う保護層４５と、 基体４１の底面に現れる電極４４の下端面を覆う保護層４６から構成されている 。発熱部４２，端子部４３及び保護層４５，４６の材質は図２に示した従来例と 同様である。

【００１９】 上記基体４１はアルミナ等から成る横長矩形状のシート４１ａを複数枚積層し た多層構造を有しており、各シート４１ａの中央には発熱部４２の長手方向に等 間隔で複数個（図中は１０個）のスルーホール４１ｂが形成されている。上記電 極４４は上下に連続する各シート４１ａのスルーホール４１ｂに銀または銀−パ ラジウム等を密に充填することで形成されており、各電極４４は上端面を発熱部 ４２の下面に接触し下端面を基体４１の底面に露出している。

【００２０】 本実施例における発熱部４２の抵抗値測定は底面側の保護層４６を形成する前 段階で行われる。隣接する電極４４間の抵抗値を底面側から夫々測定し、各抵抗 値が正常値の許容範囲内にあるか否かを判定すれば、第１実施例と同様に、発熱 部４２自体に部分的な品質不良があるか否かを簡単に判断することができ、また 発熱部４２における発熱の均一性を該抵抗値から直接的に、且つ正確に検査でき る。尚、本実施例では基体として多層構造のものを例示したが該基体は単層構造 であってもよい。

【００２１】 図８には本考案の第５実施例を示してある。 同図に示した発熱体は、横長矩形状の基体５１と、基体５１の上面中央に形成 された帯状の発熱部５２と、発熱部５２の両端に形成された端子部（図示省略） と、抵抗値測定用の電極５３と、発熱部５２及び端子部の一部を覆う保護層５４ と、基体５１の底面に現れる電極５３の下端部を覆う保護層５５から構成されて いる。発熱部５２，端子部及び保護層５４，５５の材質は図２に示した従来例と 同様である。

【００２２】 上記基体５１はアルミナ等から成る横長矩形状のシート５１ａを複数枚積層し た多層構造を有しており、各シート５１ａの中央には銀や銀−パラジウム等から 成るブラインドビアホール５１ｂが発熱部５２の長手方向に等間隔で複数個形成 されている。上記電極５４は上下に連続するブラインドビアホール５１ｂから構 成されており、各電極５４は上端面を発熱部５２の下面に接触し下端部を基体５ １の底面に露出している。

【００２３】 本実施例における発熱部５２の抵抗値測定は底面側の保護層５５を形成する前 段階で行われる。隣接する電極５３間の抵抗値を底面側から夫々測定し、各抵抗 値が正常値の許容範囲内にあるか否かを判定すれば、第１実施例と同様に、発熱 部５２自体に部分的な品質不良があるか否かを簡単に判断することができ、また 発熱部５２における発熱の均一性を該抵抗値から直接的に、且つ正確に検査でき る。

【００２４】 尚、上記各実施例における抵抗値測定用の電極の個数は発熱部の長さ等に応じ て適宜変更可能であり、また本考案は帯状の発熱部を有するものであれば図示例 以外の発熱体にも種々の適用できる。

【００２５】

【考案の効果】

以上詳述したように、本考案によれば、抵抗値測定用の電極を利用して発熱部 の単位長さ当たりの抵抗値を簡単に測定することが可能であり、各抵抗値が正常 値の許容範囲内にあるか否かを判定すれば、発熱部自体に部分的な品質不良があ るか否かを簡単に判断することができ、また発熱部における発熱の均一性を該抵 抗値から直接的に、且つ正確に検査できる利点がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の第１実施例を示す発熱体の上面斜視図

【図２】従来例を示す発熱体の上面斜視図

【図３】本考案の第２実施例を示す発熱体の上面斜視図

【図４】本考案の第３実施例を示す発熱体の上面斜視図

【図５】本考案の第４実施例を示す発熱体の上面斜視図

【図６】同底面斜視図

【図７】同部分断面図

【図８】本考案の第５実施例を示す発熱体の部分断面図

【符号の説明】

１，２１，３１，４１，５１…基体、２，２２，３２，
４２，５２…発熱部、４，２４，３４，４４，５３…抵
抗値測定用の電極。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 電気抵抗材から成る帯状の発熱部を基体
   上に備えた発熱体において、 上記発熱部の長手方向に抵抗値測定用の電極を等間隔で
   複数個設けた、 ことを特徴とする発熱体。