JPH0729470U - 校正装置 - Google Patents

校正装置

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JPH0729470U
JPH0729470U JP5768593U JP5768593U JPH0729470U JP H0729470 U JPH0729470 U JP H0729470U JP 5768593 U JP5768593 U JP 5768593U JP 5768593 U JP5768593 U JP 5768593U JP H0729470 U JPH0729470 U JP H0729470U
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JP
Japan
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probe
signal
calibration
terminal
conductor
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Withdrawn
Application number
JP5768593U
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English (en)
Inventor
誠二 矢崎
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Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
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Publication date
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Publication of JPH0729470U publication Critical patent/JPH0729470U/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】プローブを介して信号を入力して観測する際に
も、絶対精度を測定することが可能にするための校正装
置を実現すること。 【構成】その先端がカギ状で被測定対象の信号を入力す
るプローブと、絶縁体片を介して互いに対向配置された
一対の導体片よりなり、一端に貫通孔が形成され、プロ
ーブ校正時においてこの貫通孔に前記プローブの先端カ
ギ部を挿入することで一対の導体片が導通されるように
構成された校正用端子と、この校正用端子を構成する一
方の導体片に接続された構成用信号発生器と、前記構成
用端子を構成する他方の導体片が接続された制御手段
と、前記プローブの出力信号と構成信号発生器の出力と
が加えられ前記制御手段の制御をもとにプローブ出力信
号と校正用信号発生器出力信号との間の誤差演算手段
と、を具備したことを特徴とする校正装置。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
本考案は、オシロスコープ等の波形表示装置におけるプローブの校正に用いて 、好適な校正装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
従来からのオシロスコープ等の波形表示装置におけるプローブの校正方法を図 6を用いて説明する。図6は、プローブ10およびオシロスコープ20の電気的 等価回路を示した図である。 プローブ10は、抵抗と可変コンデンサを並列に 接続したもので表され、オシロスコープは、抵抗とコンデンサを並列に接続した もので表されている。
【0003】 このような等価回路であらわされるプローブ10において、このプローブの校 正をする場合には、端子11に方形波を供給し、その方形波をオシロスコープ2 0に表示させて観測しつつ、プローブ10の可変コンデンサの容量を変化させて 、信号を観測するのに適格なインピーダンスに合わせ込む方法を用いている。
【0004】 具体的には、波形表示装置上に表示される波形が目的とする(なまりやオーバ ーシュートのない)矩形波となるまで、プローブ10の可変コンデンサの容量を 変化させる。これにより、プローブ10を介してオシロスコープ20に入力され た信号の交流成分と直流成分の比が同等になり、正しい波形観測を行うことが可 能となる。
【0005】 しかし、この校正方法にあっては、単に入力された信号の交流成分と直流成分 との比が同じであるに過ぎず、プローブ10の出力抵抗およびオシロスコープ2 0の入力抵抗が規格と異なり誤差がある場合には、絶対精度をプローブで測定す ることは、不可能となる。例えば、オシロスコープ20の入力抵抗が通常では、 1MΩであるところを、1.03MΩであったとすると、10対1プローブの出 力抵抗は9.27MΩに合わせ込むことになるため、9MΩの出力抵抗で観測し ているつもりであっても実際には、異なっている値で測定しているという現象が 生じる。
【0006】
【考案が解決しようとする課題】
このため、従来からの校正方法では、プローブを介して入力した信号の絶対精 度を正しく測定することが出来ないという問題が生じる。 本考案はこのような問題を解決し、プローブを介した信号の測定にあっても絶 対精度を正しく測定することが可能な校正装置を提供することが可能な信号入力 端子の実現を目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本考案は、その先端がカギ状で被測定対象の信号を入力するプローブと、 絶縁体片を介して互いに対向配置された一対の導体帯片よりなり、一端に貫通 孔が形成され、プローブ校正時においてこの貫通孔に前記プローブの先端カギ部 を挿入することで一対の導体片が導通されるように構成された校正用端子と、 この校正用端子を構成する一方の導体片に接続された構成用信号発生器と、 前記構成用端子を構成する他方の導体片が接続された制御手段と、 前記プローブの出力信号と構成信号発生器の出力とが加えられ前記制御手段の 制御をもとにプローブ出力信号と校正用信号発生器出力信号との間の誤差演算手 段と、 を具備したことを特徴とする校正装置である。
【0008】
【作用】
校正信号を用いてプローブの信号を測定する際に、校正信号とプローブから入 力した信号との誤差を演算し、この演算に基づいて、その後の測定を行うため簡 単に校正が行われ、かつ、絶対精度も正しく測定を行うことが可能となる。
【0009】
【実施例】 図1に、本考案にかかる校正装置の実施例のブロック図、図2は図1に装置に 用いられる校正用端子の構成図、図3は使用状態を示す図である。図1乃至図3 においては信号を入力するためのプローブで図3に示す如くその先端11はカギ 状になっている。
【0010】 1は信号を入力するためのプローブ、2は校正用端子で、絶縁体片22を介し て対向配置された一対の導体片22と、この絶縁体片22を介して対向配置され た一対の導体片21,22よりなる。一端には貫通孔24が設けられ、他端25 側は図3に示す如くケース100に絶縁弾性体26により固定されている。 3はコンパレータで、校正用端子の一方の導体片21に接続する。4は方形波 発生器である。この方形波発生器4は、校正用端子2の導体片23に接続され、 この導体片23に校正のための方形波を出力する。
【0011】 なお、コンパレータ3の導体片21が接続されている正の端子には、プルアッ プ抵抗r1が接続されており、負の端子は接地されている。このため、コンパレ ータ3は、接地電位以上の電圧が正の端子に入力されると、Hレベルの出力とな る。
【0012】 5は制御手段で、波形表示装置全体の動作を制御するとともに、コンパレータ 3の出力により、誤差を求める演算処理を行う制御信号を出力する。 6はプローブ1から入力された被測定信号をオシロスコープに入力するための 入力端子である。
【0013】 7は誤差演算手段で、入力端子6からの信号および制御手段5からの制御信号 を入力し、誤差を算出演算した後、通常の測定にあっては、その算出された誤差 の値に基づいた値を用いて校正する。
【0014】 図1〜3で表される本実施例の校正装置の動作について説明する。 まず、プローブ1の先端11部分を端子2の貫通口24に挿入すると、図3に も示すようにプローブ1の先端11はカギ状をしているため、導体21および導 体23が電気的に接続される。 この状態において、方形波発生器4から、方形波を導体片21,23を介して 、コンパレータ3に、方形波のHレベルの状態が入力されると、コンパレータ3 の出力がHレベルに反転する。
【0015】 このコンパレータ3からの信号により、制御手段5では、入力端子6から入力 した信号と方形波発生器4からの信号との誤差を演算するように誤差演算手段7 に制御信号を出力する。
【0016】 誤差演算手段7では、制御手段5からの信号に基づいて、入力端子6からの信 号と方形波発生器4からの信号の誤差を演算する。 この演算方法について説明する。
【0017】 入力端子6から入力された信号は、誤差演算手段7において、AD変換器等に よりデジタル変換されてデジタル信号となる。 一方、方形波発生器4から入力した信号も同様にして、デジタル信号に変換す る。
【0018】 誤差演算手段7では、この両デジタル信号の値の差を演算し、プローブによる 誤差を算出する。
【0019】 なお、通常の測定にあたっては、プローブ1は校正端子2に接触させず、その 結果、コンパレータ3の出力は、Hレベルになることなく、制御手段5では、方 形波発生器4からの信号と、入力端子2からの信号を比較することなく、入力端 子2より入力した信号を、上述で算出した値を用いて校正し入力信号の観測を行 う。
【0020】 さらに、本実施例の3層構造の校正端子2のコンパレータ3等への具体的な接 続方法について説明する。この接続方法は図4および図5に示される。 すなわち、図4のごとく導体片21および導体片23の各々に半田付け27を 行いリード線28で、回路基板(図示せず)上のコンパレータ3等に電気的に接 続する。
【0021】 あるいは図5のごとく導体片21および導体片23の部分が絶縁体22の部分 よりも長くして、そのままリード線として用いることが可能となっている等の方 法で接続を実現する。
【0022】
【考案の効果】
本考案により、校正信号を用いてプローブの信号を測定する際に、校正信号と プローブから入力した信号との誤差を演算し、この演算に基づいて、その後の測 定を行うため、プローブを介した信号であっても、プローブの誤差を校正した測 定を簡単に行うことが可能にするための校正装置を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本考案の一実施例の電気的等価回路図である。
【図2】図1に記載の装置に用いられる構成用端子の構
成図である。
【図3】本考案の使用状態を説明する為の図である。
【図4】本考案の一実施例の細部の校正の説明図であ
る。
【図5】本考案の一実施例の細部の校正の説明図であ
る。
【図6】従来例の説明図である。
【符号の説明】
1 プローブ 2 校正用端子 3 コンパレータ 4 方形波発生器 5 制御手段 6 入力端子 7 誤差演算手段

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】その先端がカギ状で被測定対象の信号を入
    力するプローブと、 絶縁体片を介して互いに対向配置された一対の導体片よ
    りなり、一端に貫通孔が形成され、プローブ校正時にお
    いてこの貫通孔に前記プローブの先端カギ部を挿入する
    ことで一対の導体片が導通されるように構成された校正
    用端子と、 この校正用端子を構成する一方の導体片に接続された構
    成用信号発生器と、 前記構成用端子を構成する他方の導体片が接続された制
    御手段と、 前記プローブの出力信号と構成信号発生器の出力とが加
    えられ前記制御手段の制御をもとにプローブ出力信号と
    校正用信号発生器出力信号との間の誤差演算手段と、 を具備したことを特徴とする校正装置。
JP5768593U 1993-10-26 1993-10-26 校正装置 Withdrawn JPH0729470U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5768593U JPH0729470U (ja) 1993-10-26 1993-10-26 校正装置

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JP5768593U JPH0729470U (ja) 1993-10-26 1993-10-26 校正装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0729470U true JPH0729470U (ja) 1995-06-02

Family

ID=13062802

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JP5768593U Withdrawn JPH0729470U (ja) 1993-10-26 1993-10-26 校正装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007201150A (ja) * 2006-01-26 2007-08-09 Nuflare Technology Inc Dacセトリング特性評価方法、dacセトリング特性評価装置及び電子線描画装置

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JP2007201150A (ja) * 2006-01-26 2007-08-09 Nuflare Technology Inc Dacセトリング特性評価方法、dacセトリング特性評価装置及び電子線描画装置

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Effective date: 19980305