JPH07294502A - 回転形超音波プロ−ブ - Google Patents

回転形超音波プロ−ブ

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JPH07294502A
JPH07294502A JP6091795A JP9179594A JPH07294502A JP H07294502 A JPH07294502 A JP H07294502A JP 6091795 A JP6091795 A JP 6091795A JP 9179594 A JP9179594 A JP 9179594A JP H07294502 A JPH07294502 A JP H07294502A
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JP
Japan
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probe
ultrasonic
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Withdrawn
Application number
JP6091795A
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English (en)
Inventor
Masayoshi Nakai
正義 中井
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Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】傾いた欠陥でも検出できる上、高速の探傷が可
能で、かつ円周方向の欠陥の見落としのない超音波プロ
−ブを提供することにある。 【構成】プロ−ブ本体10a内に、軸心方向に沿って超
音波探傷子21を複数対づつ並べて配設し、それぞれの
対の超音波探傷子21は同一地点に対して同時に超音波
ビ−ムが投入可能となるよう、プロ−ブ本体10aの軸
心方向に鋭角的に配置し、かつこの超音波超探傷子群1
9をプロ−ブ本体10aの軸心回りに回転させる回転駆
動モ−タ11を設けた。これにより、探傷体16に、投
入位置から分かれるような左右の2方向に探傷ビ−ム2
4a,24bが発生させるようにして、困難であった、
傾いていた欠陥Aでも検出を行えるようにした。しか
も、超音波探触子群19が回転して探傷するから、高速
の探傷ができる上、円周方向の欠陥の見落としもない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば熱交換器伝熱管
といった被探傷体の超音波探傷試験に好適な回転形超音
波プローブに関する。
【0002】
【従来の技術】超音波探傷試験は、鉄鋼構造物等の非破
壊検査の主要な手法の1つとして広く用いられている。
特に、パイプ等の細管に対してはパイプの内側から探傷
プローブを挿入して、検査する方法がとられている。
【0003】探傷プロ−ブとしては、図2および図3に
示されるようなマルチ形の超音波プロ−ブ、あるいは図
4に示されるような回転形の超音波プロ−ブが用いられ
ている。
【0004】前者の超音波プロ−ブは、軸方向に延びて
いるプロ−ブ本体1の探触域に対応する部分に、複数、
例えば8個の超音波探触子2を二段、プロ−ブ本体1の
軸心回りに、ビ−ム発受信側を軸心方向に向けて配設
し、それぞれの超音波探触子群の前方にそれぞれ円錐ミ
ラ−3を設けて、超音波探触子2からの送信ビ−ム(超
音波ビ−ム)2aを拡げながら探触域に向かわせるよう
にしている。なお、2bは各超音波探触子群の周囲に配
設された複数本の反射棒、5bはスタビライザ、5cは
充満している超音波の接触媒体である水を示す。
【0005】つまり、超音波探触子2からの送信ビ−ム
2aが円錐ミラ−3によって拡げられて被探傷体4に投
入されることで、これが被探傷体4中を進行する探傷用
ビ−ム5となり、非探傷体4に在る欠陥6を探傷する。
【0006】こうした探傷が、電子的な切換えによる2
段の超音波探触子群の各超音波探触子2にて行われ、被
探傷体4となるパイプ全周を探傷する。そして、超音波
プロ−ブの移動によって、パイプの長さ方向の検査領域
に渡り探傷する。
【0007】後者の超音波プロ−ブは、軸方向に延びて
いるプロ−ブ本体1の探触域に対応する部分に、1個の
超音波探触子2を斜めの向きに設け、さらにプロ−ブ本
体1内に回転駆動装置7を内蔵させて、同回転駆動装置
7にて超音波探触子2を周方向に回転させながら、超音
波探触子2から送信ビ−ム2a(超音波ビ−ム)を直
接、探触域に発信させるようにしている。なお。5bは
反射波となる反射ビ−ムを示す。
【0008】つまり、超音波探触子2により発信された
送信ビーム2aが、被探傷体4に投入されることで、こ
れが被探傷体4中を進行する探傷用ビーム5となり、非
探傷体4に在る欠陥6を探傷する。
【0009】こうした探傷が、回転しながら繰返し行わ
れ、被探傷体4となるパイプ全周を探傷する。そして、
超音波プロ−ブの移動によって、パイプの長さ方向の検
査領域に渡り探傷する。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】ところが、いずれのタ
イプの超音波プロ−ブも、被探傷体5で発生する探傷ビ
−ム5の方向は1つの方向でしかない。このため、図2
および図4に示されているように「傾いていたような欠
陥6」の場合、その欠陥6を検出しないおそれがある。
【0011】しかも、マルチ形の超音波プロ−ブは、電
子的に16個の超音波探触子2を切換えて探傷する構造
上、円周方向にビ−ムの及ばないエリアが発生すること
があり、このため円周方向の欠陥を見落とすことがあ
る。
【0012】また回転形の超音波プロ−ブは、1個の超
音波探触子2を回転させて探傷する都合上、探傷時間が
長くなるという不具合がある。本発明はこのような事情
に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、傾
いた欠陥でも検出できる上、高速の探傷が可能で、かつ
円周方向の欠陥の見落としなく欠陥検出を行うことがで
きる超音波プロ−ブを提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に請求項1に記載の発明は、軸心方向に延びて形成され
た、外周面に探触域を有してなるプロ−ブ本体と、前記
探触域の内側に位置して前記プロ−ブ本体内に同前記プ
ロ−ブ本体の軸心方向に沿って超音波探傷子を複数対づ
つ並べて配設され、かつそれぞれの対の超音波探傷子は
前記探触域における同一地点に対して同時に超音波ビ−
ムが投入可能に前記プロ−ブ本体の軸心方向に鋭角的に
配置されてなる超音波探傷子群と、前記プロ−ブ本体に
設けられ、前記超音波探傷子群を前記プロ−ブ本体の軸
心回りに回転させる回転駆動装置とを有して、回転形超
音波プロ−ブを構成したことにある。
【0014】
【作用】請求項1に記載の発明によると、超音波探触子
群の超音波探触子からは、プロ−ブ本体の軸心回りを回
転しながら、対ごとに超音波ビ−ムが発信される。ここ
で、対の超音波探触子は、プロ−ブ本体の軸心方向に鋭
角的に配置されて、同一地点に対して、同時に超音波ビ
−ムを投入するから、探傷域に臨む被探傷体には、プロ
−ブ本体の軸心方向両側に向かう2方向の探傷ビ−ムが
発生する。
【0015】そして、探傷方向に欠陥があれば、同欠陥
に応じて反射散乱した反射波が反射ビ−ムとして超音波
探触子で受信される。このとき、被探触体には、2方向
へ探傷ビ−ムが発射されているから、一方の向きの探傷
ビ−ムで探傷できなくとも、もう一方の向きの探傷ビ−
ムで欠陥を探傷できることとなる。
【0016】つまり、従来、困難であった、傾いていた
欠陥でも、同欠陥の検出が行える。こうした探傷が、回
転しながら、対の超音波探触子の切換えにより繰返し行
われるので、探傷に要する時間は短くてすむ。つまり、
高速探触が行える。しかも、円周方向の欠陥を見落とす
ようなこともない。
【0017】
【実施例】以下、本発明を図1に示す一実施例にもとづ
いて説明する。図1は、本発明を適用した超音波プロ−
ブの先端部分を示し、図中10はチュ−ブである。この
チュ−ブ10内には、出力軸11aを先端に向けて、回
転駆動モ−タ11(回転駆動装置に相当)が内装してあ
る。
【0018】出力軸11aの先端部には、同出力軸11
aと共に回転する探触子支持フレ−ム12(以下、単に
フレ−ムと称す)が連結してある。フレ−ム12は、出
力軸11aの軸心方向に沿って、前方へ延びている。そ
して、このフレ−ム12および上記チュ−ブ10を利用
して、軸心方向に延びるプロ−ブ本体10aを構成して
いる。
【0019】またフレ−ム12の先端側には、ラジアル
べアリング13を介して、スタビライザ14が設けら
れ、さらに先端には挿入ヘッド15が結合してある。ス
ラビライザ14は、回転駆動モ−タ11の周側となるチ
ュ−ブ10の外周部にも設けられる。そして、前後のス
タビライザ14,14によって、パイプなどの被探傷体
16に配置されたとき、超音波プロ−ブの先端側の全体
が定位置に配置されるようにしてある(調芯)。
【0020】フレ−ム12は、中央部に凹部17が形成
され、外周方向に向く凹側の開口部分を探触域18にし
てある。探触域18の内側となる凹部17の内底部(プ
ロ−ブ本体10a内)には、超音波探触子群19が設け
られている。
【0021】超音波探傷子群19は、発受信部20を探
触域18に向けて、プロ−ブ本体10aの軸心方向に並
設した2つの超音波探触子21を探触子対22aとし
て、これをプロ−ブ本体10aの軸心方向に沿って複数
対、例えば2対(探触子対22a,22b)、並べて構
成される。
【0022】探触子対22aおよび探触子対22bは、
いずれも発信される送信ビ−ム23(超音波ビ−ム)が
同時に探触域18における同一地点に対して投入できる
ようにプロ−ブ本体10aの軸心方向に鋭角的に配置し
てある。
【0023】これにより、被探触体16中に、投入地点
からプロ−ブ本体10aの前側、後側の2方向へ進行す
る探傷用ビ−ム24a,24bを発生させるようにして
ある。
【0024】各超音波探触子21は、リ−ド線25a、
摺接端子部26、導出リ−ド27を介して、図示しない
制御部に接続されている。そして、制御部の制御によ
り、探傷時、超音波プロ−ブの軸方向の移動とともに、
回転駆動モ−タ11を駆動、ならびに制御部から出力さ
れる送信パルスによって前後の探触子対22a,22b
から交互に送信ビ−ム23を発信させるようにしてあ
る。
【0025】また出力軸11aの周側となるチュ−ブ1
0の外周部には、水シ−ル29が設けられていて、超音
波プロ−ブを被探触体16に挿入して探触するとき、同
水シ−ル28からプロ−ブ先端側を超音波の接触媒体で
ある水28で浸漬できるようにしてある。
【0026】しかして、このように構成された超音波プ
ロ−ブを用いて、被探触体16、例えば伝熱管の超音波
探傷試験を行うときは、図1に示されるように試験すべ
き伝熱管内に超音波プロ−ブの先端部を挿入し、同先端
部と伝熱管との間へ、外部から図示しない供給通路を介
して水28を注入し、同部分を水28で満たしておく。
【0027】ついで、プロ−ブ全体を矢印αで示す右方
向(基部側)へ移動させながら、回転駆動モ−タ11を
駆動して、一定の回転速度で、超音波探触子群19をプ
ロ−ブ本体10aの軸心回りに回転させるとともに、各
探触子対22a,22bに交互に送信パルスを送り、探
触子対22a,22bを駆動する。
【0028】これにより、まず、前側で対となっている
超音波探触子21,21から送信ビ−ム23が水中に発
射される。ここで、対となる超音波探触子21,21
は、同一地点に向かうようプロ−ブ本体10aの軸心方
向に鋭角に配置されているから、各超音波探触子21,
21からの送信ビ−ム23は、伝熱管の内面の同一位置
へ投入される。
【0029】これにより、各送信ビ−ム23は、各々伝
熱管(被探傷体16)と水9の音速比で決まる屈折条件
で屈曲して、伝熱管の周壁中を後方へ進む探傷用ビ−ム
24a、前方へ進む探傷用ビ−ム24bとして、それぞ
れ投入地点から2方向へ進行し、欠陥を探傷する。
【0030】ここで、伝熱管に欠陥が在れば、同欠陥に
応じて反射散乱した反射波が反射ビ−ム25として超音
波探触子21の受信部で受信されるが、同欠陥が図1中
に示されるような「斜めに傾いた欠陥A」で在るような
ときには、探傷用ビ−ム24aでは見落としてしまう。
【0031】この探傷を終えたら、今度は対となる後側
の超音波探触子21,21から送信ビ−ム23が水中に
発射され、同様に伝熱管の周壁中を後方へ進む探傷用ビ
−ム24a、前方へ進む探傷用ビ−ム24bとして、そ
れぞれ投入地点から2方向へ進行し、欠陥を探傷する。
【0032】これによって、検出できなかった「傾いた
欠陥A」は、入射する方向(右方向)が異なる探傷用ビ
−ム24aの反射散乱による反射波が反射ビ−ム25と
して、超音波探触子21の受信部で受信される。
【0033】かくして、同一地点を起点に相反する2方
向に探傷用ビ−ムを発生させることを利用して、困難と
されていた傾いた欠陥Aを検出することができる。また
超音波探触子群19(複数対の超音波探触子21)を回
転させて探傷するので、従来のマルチ形の超音波プロ−
ブのように円周方向の欠陥の見落としもない。
【0034】そのうえ、探傷に要する時間は、従来の回
転形の超音波プロ−ブよりも短くてすみ、高速探傷の点
にも優れる。すなわち、探傷時間をtとし、探触子対間
の距離をx、探傷距離をy、探触子対数をN、従来の探
傷時間をt0 、移動時間をZとしたとき、探触子対間の
距離xをx=y/N で表わすと、従来の探傷時間
0 、探傷時間tはt0 =y/Z、t=(y/N)Zの
関係となるから、t=t0 /Nとなり、探傷時間が、従
来に比べて、1/Nに短縮されることがわかる。なお、
一実施例では2対の探触子対を採用したが、それ以上の
探触子対を用いてもよいことはいうまでもない。
【0035】
【発明の効果】以上説明したようにこの発明によれば、
同一地点を起点に相反する2方向に探傷用ビ−ムを発生
させることを利用して、傾いていた欠陥でも検出でき
る。これにより、欠陥検出性の向上を図ることができ
る。しかも、複数対の超音波探触子が回転しながら、探
傷するので、高速の探傷ができる上、円周方向の欠陥の
見落としもない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の超音波プロ−ブの要部を、
欠陥を探触している状態と共に示す断面図。
【図2】従来のマルチ形の超音波プロ−ブを説明するた
めの断面図。
【図3】(a)は、図2中のS−S線に沿う断面図。
(b)は、図2中のT−T線に沿う断面図。
【図4】従来の回転形の超音波プロ−ブを説明するため
の断面図。
【符号の説明】
10…プロ−ブ本体 11…回転駆動モ−
タ(回転駆動装置) 14…スタビライザ 16…被探触体 18…探触域 19…超音波探触子
群 21…超音波探触子 22a,22b…探触子対 24a,24b…探触用ビ−ム

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 軸心方向に延びて形成された、先端側の
    外周部に探触域を有してなるプロ−ブ本体と、 前記探触域の内側に位置して前記プロ−ブ本体内に同前
    記プロ−ブ本体の軸心方向に沿って超音波探傷子を複数
    対づつ並べて配設され、かつそれぞれの対の超音波探傷
    子は前記探触域における同一地点に対して同時に超音波
    ビ−ムが投入可能に前記プロ−ブ本体の軸心方向に鋭角
    的に配置されてなる超音波探傷子群と、 前記プロ−ブ本体に設けられ、前記超音波探傷子群を前
    記プロ−ブ本体の軸心回りに回転させる回転駆動装置
    と、 を具備したことを特徴とする回転形超音波プロ−ブ。
JP6091795A 1994-04-28 1994-04-28 回転形超音波プロ−ブ Withdrawn JPH07294502A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105486758A (zh) * 2015-12-29 2016-04-13 中国农业大学 一种霉变玉米种子检测方法
CN110470741A (zh) * 2019-09-10 2019-11-19 常州春雷电子高新技术有限公司 轮轴端面超声探伤装置

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Effective date: 20010703