JPH0729176A

JPH0729176A - データ記録方法

Info

Publication number: JPH0729176A
Application number: JP17017693A
Authority: JP
Inventors: Koichiro Ogiwara; 宏一郎荻原
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1993-07-09
Filing date: 1993-07-09
Publication date: 1995-01-31

Abstract

(57)【要約】【目的】光磁気ディスクにデータをオーバーライトし
た場合における、データの消し残りを抑制する。【構成】一定の周波数で磁気ヘッドにより交番磁界を
印加する。同一の周波数でレーザ光をパルス的に照射
し、その位相を記録データに対応して変化させる。Ｎ極
の磁界が印加されているタイミングにおいて、第１のエ
ッジデータに対応して記録パルスａにより、レーザ光を
照射し、ピットＮａを形成する。そして、第２のエッジ
データに対応して記録パルスｃによりレーザ光を照射
し、Ｓ極のピットＳｃを形成する。ピットＳｃを形成す
る前に、Ｎ極の磁界が印加されている期間において、記
録パルスｂを照射し、Ｎ極のピットＮｂを形成する。こ
のピットＮｂにより、ピットＮａとＳｃの間隔が離れた
場合においても、その間におけるデータを消去する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、例えば光磁気ディスク
（ＭＯ（Magneto Optical）ディスク）に、オーディオ
データやビデオデータを高密度記録する場合に用いて好
適なデータ記録方法に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来のＣＡＶ（角速度一定）モードで用
いられる光ディスクにおいては、各トラックの所定の位
置に周期的にサーボバイト区間を設け、このサーボバイ
ト区間に、基準クロック生成用のクロックピットと、ト
ラッキング用のウォブルドピットを形成するようにして
いる。そして、クロックピットに対応して基準クロック
（チャンネルクロック）を生成し、この基準クロックの
周期の整数倍の長さのピットにより、情報をデジタル的
に記録するようにしている。

【０００３】また、例えば、ＣＤ（コンパクトディス
ク）のようなＣＬＶ（線速度一定）モードで用いられる
システムにおいては、クロックピットは存在しないが、
記録されたピットの長さ及びピット間隔が、基準クロッ
ク（チャンネルクロック）の周期（０．３μｍ）の整数
倍の長さ（ＣＤの場合、約０．９μｍ〜３．３μｍの９
種類の長さ）になるように選ばれており、このことを使
ってクロック再生を行い、記録された情報をビット単位
に切り出している。

【０００４】ところで、同じ光ディスクであるビデオデ
ィスクでは、ＣＤよりもはるかに細かいピットの長さの
差でビデオ信号を記録し、再生している。

【０００５】いま、このことを、ＣＡＶモードで半径５
５ｍｍの位置に記録される信号を例に挙げて説明する。
ビデオディスクでは、ビデオ信号中の最も明るい部分を
９．３ＭＨｚ、最も暗い部分を７．６ＭＨｚの信号とし
て記録しており、これは半径５５ｍｍのディスク上で、
それぞれ１．０７５μｍと１．３１６μｍに相当する。
このように記録されたディスクを再生すると、大変美し
い映像が再生されるのは周知の事実である。

【０００６】この映像で、１２８階調の明るさの変化が
表現できていると考えると、これは、ディスク上で、ピ
ットの周期が１２８段階以上に細かく記録され、これが
再生されていることを意味する。つまり、（１．３１６μｍ−１．０７５μｍ）÷１２８＝０．０
０２μｍの細かいピット長及びピット間隔の変化が、ビデオ信号
に反映されているのである。

【０００７】ピットの長さの変化としては、このように
細かい変化が記録できるにも拘らず、ＣＤにおいて、ピ
ット長の変化の最小単位を０．３μｍと、大きくしなけ
ればならないのは、主にその記録再生方法が最適でない
ことによる。

【０００８】本出願人は、特願平３−１６７５８５号と
して、情報ピットの前端（前方）または後端（後方）エ
ッジの位置を、記録情報に対応して所定の基準位置から
ステップ状にシフトして、デジタル情報を記録すること
を先に提案した。この記録再生方法によれば、ピット長
及びピットエッジの位置の変化を非常に高い精度で検出
可能であるので、これまで不可能であると思われていた
微小な変化で情報を記録することが可能となり、その結
果、これまで以上の高密度化を実現することができる。

【０００９】図２０は、本出願人が先に提案したエッジ
の位置をステップ状にシフトすることにより、情報を記
録する原理を示している。同図に示すように、記録デー
タに対応してＰＷＭ変調した記録信号（図２０（Ｂ））
を生成する。そして、そのゼロクロス時における長さに
対応するピット（図２０（Ａ））を形成する。このよう
にすると、ピットのエッジの位置が基準クロック（図２
０（Ｃ））で示す位置からステップ状に変化する。この
変化量に応じて、１つのエッジについて０から７までの
８段階（３ビット）のデータを記録することができる。

【００１０】図２１は、このようにして記録した信号を
再生する原理を示している。情報記録媒体より再生した
ＲＦ信号（図２１（Ａ））を増幅して、２値化ＲＦ信号
（図２１（Ｂ））を得る。情報を記録したディスクには
クロックピットが形成されているため、これを基準とし
て基準クロック（図２１（Ｃ））を生成し、この基準ク
ロックに同期して、さらに鋸歯状波信号（図２１
（Ｄ））を生成する。そして、この鋸歯状波信号と２値
化ＲＦ信号とがクロスするタイミングを検出することに
より、情報ピットのエッジの位置を検出するようにして
いる。

【００１１】ところで、上述した情報ピットのエッジの
位置を、記録情報に対応して所定の基準位置からステッ
プ状にシフトする記録方法を、光磁気膜の部分的な磁化
の反転によってピットを形成する、いわゆるＭＯ（Magn
eto Optical）ディスクを用いた光磁気記録に適用する
ことが考えられる。

【００１２】一般に、光磁気ディスクの記録方式には、
磁界変調方式と光変調方式とがある。磁界変調方式は、
オーバーライトが可能である反面、磁界に変調をかける
ため、エネルギーロスが大きい欠点を有している。ま
た、レーザも点灯させたままの状態とされるため、多く
のエネルギーを必要とする。

【００１３】これに対して、光変調方式は、レーザをパ
ルス的に点灯するため、エネルギーロスが小さい利点を
有する反面、オーバーライトができない欠点を有してい
る。オーバーライトを可能にするため、記録媒体を多層
構造にしたものがあるが、この記録媒体にデータを記録
するには、磁石が２個必要となるばかりでなく、レーザ
パワーとして３つのレベルが必要となる。

【００１４】従来の光磁気ディスクに対する記録方法
は、このようにオーバーライトが可能なものについては
エネルギーロスが大きく、構成が複雑となる課題があっ
た。

【００１５】そこで本出願人は、例えば特願平４−２０
３０１５号として新たな提案をした。この提案において
は、所定の周波数でＮ極とＳ極の磁界が光磁気ディスク
に交互に印加される。そして、印加する交番磁界と同一
の周波数でレーザ光をパルス的に照射する。これにより
光ディスク上にピット（マーク）の一部が重なるように
形成する。そしてレーザ光を照射するタイミング（位
相）を記録データに対応して変化させることでデータを
記録する。

【００１６】これにより、交番磁界を発生する回路とし
て、コイルとコンデンサよりなるタンク回路を用いるこ
とができ、より少ないエネルギーでデータを記録するこ
とが可能となる。

【００１７】

【発明が解決しようとする課題】このような方法によ
り、データを記録すると、ピット（マーク）は、例えば
図２２に示すように形成される。図２２（Ａ）は、ピッ
ト（マーク）の前端のエッジと後端のエッジのシフト位
置を、（ｎ，ｍ）のように表すとすると、（０，０）の
データが記録された状態を表している。すなわち、この
場合、前端（第１のエッジ）のデータと後端（第２のエ
ッジ）のデータが、ともに０であるため、ピットの長さ
（第１のエッジと第２のエッジの間隔）が最も短くな
る。

【００１８】これに対して、例えば（３，３）のデータ
を記録すると、図２２（Ｂ）に示すように、ピットの長
さ（第１のエッジと第２のエッジの間隔）は長くなる。
その結果、図中ハッチングを施して示す領域のように、
レーザ光が照射されない範囲が、図２２（Ａ）に示す場
合に較べて広くなる。

【００１９】すなわち、図２３に示すように、ピット
（マーク）の第１のエッジを形成するための第一のレー
ザ光スポットが照射された後、その照射領域が一部重な
るように、第２のエッジを形成するための第二の光スポ
ットが照射される。第１のエッジを形成するタイミング
においては、例えば、Ｎ極の磁界が印加され、第２のエ
ッジを形成するタイミングにおいては、例えばＳ極の磁
界が印加される。

【００２０】そして、同図に示すように、例えば今エッ
ジのシフト位置が０乃至３の４つのシフト位置のいずれ
かにシフトされるものとすると、図２３（Ａ）において
は４つのシフト位置のすべての位置が便宜上重ねて表示
してある、例えばデータ（０，０）が記録されると、図
２３（Ｂ）に示すようにピットが形成され、データ
（３，３）が記録されると、図２３（Ｃ）に示すように
ピットが形成される。

【００２１】すなわちピットのエッジの間隔が長くなる
と、前のピットと次のピットの重なる領域が少なくな
る。その結果、例えば図２３（Ｄ）に示すように、デー
タ（０，０）が記録されている領域に、データ（３，
３）をオーバーライトすると、新たに形成したピットの
重なる範囲が少ないため、過去に記録してあった領域で
消去されずに残る範囲が多くなる。その結果、ピットの
境界の形状が複雑な形状となる。

【００２２】したがって、このようにデータがオーバー
ライトされたピットを再生すると、その再生データは、
過去に記録してあったデータの消し残り成分のノイズを
多く含むことになる。その結果、それだけデータを正確
に読み取ることが困難になる。

【００２３】本発明はこのような状況に鑑みてなされた
ものであり、オーバーライトした場合における消し残り
のデータに起因するノイズを抑制するようにするもので
ある。

【００２４】

【課題を解決するための手段】本発明のデータ記録方法
は、ピットのエッジの位置を記録データに対応して変化
させることにより、データを記録媒体に記録するデータ
記録方法において、前のピットに一部が重なるように、
次のピットを形成するとともに、前のピットを形成する
ための記録パルスの最終端部のタイミングを変化させる
ことを特徴とする。

【００２５】この記録パルスの最終端部のタイミング
を、次のピットを形成するための記録パルスの開始端部
のタイミングに対応して変化させることができる。

【００２６】また、１つのピットを形成するための記録
パルスを複数個のパルスにより構成した場合、複数個の
パルスのうち最後のパルスの発生タイミングを、次のピ
ットを形成するための記録パルスの最初のパルスの発生
タイミングに対応して変化させることができる。さら
に、１つのピットを形成するための記録パルスを所定の
期間連続する１つのパルスにより構成した場合、１つの
パルスの終了のタイミングを、次のピットを形成するた
めの１つのパルスの発生タイミングに対応して変化させ
るようにすることができる。

【００２７】

【作用】上記構成のデータ記録方法においては、前のピ
ツトと次のピツトが、その一部が重なるように形成され
る。そして、前のピツトを形成するための記録パルスの
最終端部のタイミングが変化される。その結果、オーバ
ーライト時による消し残りの範囲を小さくし、それに起
因するノイズを抑制することができる。

【００２８】

【実施例】以下、図面を参照して、本発明の実施例につ
いて説明する。

【００２９】図１は、本発明のデータ記録方法を応用し
た光磁気記録装置の一実施例の構成を示すブロック図で
ある。光磁気ディスク１は、スピンドルサーボ回路３に
より制御されるスピンドルモータ２により、所定の速度
で回転されるようになされている。ピックアップ４は、
光磁気ディスク１の特定の記録位置に対してレーザ光を
照射し、熱磁気記録に必要な所定強度の一定径のスポッ
トを照射することによりデータを記録する。また、光磁
気ディスク１からの反射光を検出し、その検出信号を復
調復号回路１１に出力する。

【００３０】復調復号回路１１は、ピックアップ４より
供給された信号（ＭＯ信号）を復調し、さらに復号し
て、図示せぬ回路に出力する。サーボ回路１６は、ピッ
クアップ４に対してフォーカスサーボ、トラッキングサ
ーボおよびスレッドサーボの制御を行う。

【００３１】ＥＣＣ付加変調回路１５は、図示せぬ回路
から供給されるデータに誤り訂正符号を付加し、変調し
て、記録データとして位相変調回路１２に出力してい
る。ＰＬＬ回路８は、ピックアップ４が、光磁気ディス
ク１に、例えばエンボス加工などによりプリピットとし
て予め形成されている基準ピット（図６参照）の所定の
エッジのタイミングを検出して出力する再生信号（ＲＦ
信号）の入力を受け、これに同期した一定周期Ｔの記録
基本クロックＡを生成する。

【００３２】記録基本クロックＡは、位相変調回路１２
に供給され、位相変調回路１２の出力Ｂは、パルス発生
回路１３に供給される。パルス発生回路１３は、位相変
調回路１２の出力Ｂの立上りおよび立下りのエッジに同
期したパルスＣを発生し、レーザコントロール回路１４
に出力している。レーザコントロール回路１４は、パル
ス発生回路１３より供給されるパルスＣに対応して、ピ
ックアップ４に内蔵されている半導体レーザを駆動す
る。

【００３３】一方、ＰＬＬ回路８で生成された記録基本
クロックＡは、位相補償回路９により位相補償がなされ
た後、バッファアンプ１０を介して磁気ヘッド２０のコ
イル５に供給されている。このコイル５は、コンデンサ
６とともにタンク回路７を構成している。そして、この
コイル５が設けられた磁気ヘッド２０は、ピックアップ
４がレーザ光を照射する位置と光磁気ディスク１を挟ん
で対向する位置に配置されている。

【００３４】即ち、磁気ヘッド２０が光磁気ディスク１
の上面の特定の記録位置と対向する位置に配置され、そ
の記録位置の下面の対向する位置にピックアップ４が配
置されている。これら、磁気ヘッド２０とピックアップ
４は、共通の送り機構により、光磁気ディスク１の半径
方向へ移動され、トラッキングおよびスレッド制御がな
される。

【００３５】次に、その動作について説明する。光磁気
ディスク１は、スピンドルモータ２により所定の速度で
回転される。ピックアップ４は、この光磁気ディスク１
に対して、後述する記録パルスに対応して出力されるレ
ーザ光の強度レベルＬ_Hよりも低い強度レベルＬ_Lのレー
ザ光を連続的に照射し、その反射光からクロックピット
（基準ピット）を再生し、これに対応するＲＦ信号をＰ
ＬＬ回路８に供給する。ＰＬＬ回路８は、クロックピッ
トに同期した記録基本クロックＡ（その周波数は、変調
回路１５が出力する記録データの記録基本クロックと同
一の値となるようになされている）を生成する。

【００３６】この記録基本クロックＡは、位相補償回路
９およびバッファアンプ１０を介してタンク回路７に供
給される。このタンク回路７の共振周波数が、記録基本
クロックＡと同一の周波数となるように、コイル５のイ
ンダクタンスＬとコンデンサ６の容量Ｃが設定されてい
る。これにより、コイル５は、記録基本クロックＡと同
一の周波数で変化する交番磁界を発生し、これを光磁気
ディスク１に印加する。タンク回路７の共振動作によ
り、コイル５とコンデンサ６に共振電流が流れるため、
コイル５に交番磁界を発生させるために必要なエネルギ
ーは少なくて済む。

【００３７】一方、ＰＬＬ回路８が生成する記録基本ク
ロックＡは、位相変調回路１２に供給され、変調回路１
５より供給される記録データに対応して、その位相が変
調される（記録データに対応して位相がステップ状にシ
フトされる）。

【００３８】即ち、図２（Ａ）に示すＰＬＬ回路８で生
成した記録基本クロックＡが、位相変調回路１２におい
て位相変調され、図２（Ｂ）に示すような信号となる。
この実施例においては、記録基本クロックＡの立上りエ
ッジと立下りエッジの位置が記録データに対応して、４
つのシフト位置のいずれかのシフト位置にシフトされ
る。シフトする位置は、この実施例においては４つとさ
れているが、例えば、これを８個あるいはそれ以上とす
ることも可能である。

【００３９】パルス発生回路１３は、位相変調回路１２
より供給されるクロックの立上りエッジおよび立下りエ
ッジに同期して、図２（Ｃ）に示すような記録パルスを
発生する。この記録パルスは、レーザコントロール回路
１４に供給され、レーザコントロール回路１４は、この
パルスが入力されたタイミングにおいてピックアップ４
に内蔵されている半導体レーザを駆動し、連続的に照射
しているレーザ光の強度レベルＬ_Lよりも高い強度レベ
ルＬ_Hのレーザ光を発生させる。ここで、レーザ光の強
度レベルＬ_Hは、光磁気ディスク１の光磁気膜をキュリ
ー温度以上に加熱して、熱磁気記録を行うのに必要な値
に設定されている。

【００４０】コイル５が発生する交番磁界は、図２
（Ｄ）に示すように、ＰＬＬ回路８より位相補償回路
９、バッファアンプ１０を介して供給される記録基本ク
ロックＡと同一の周波数で変化する。位相補償回路９
は、この交番磁界のピーク値の近傍において、レーザ光
が光磁気ディスク１に照射されるように、そのタイミン
グ（位相）を補償する。即ち、図２（Ｂ）で示す立上り
エッジおよび立下りエッジの変化する範囲Ｗの中心が、
図２（Ｄ）に示す交番磁界のピーク値となるように調整
される。

【００４１】尚、図２（Ｄ）において、例えば交番磁界
が正の期間においては、光磁気ディスク１の磁気ヘッド
２０と対向する特定の記録位置には、その下面から上面
へ磁束が貫通する磁界（例えばＮ極の磁界）が印加され
ており、その磁界の向きを図中記号・で示す。逆に、交
番磁界が負の期間においては、記録位置の上面から下面
へ磁束が貫通する磁界（Ｓ極の磁界）が印加されてお
り、その磁界の向きを図中に記号×で示す。以降、紙面
と直交し、かつ、裏面から表面へ貫通する磁界の向きを
記号・で示し、表面から裏面へ貫通する磁界の向きを記
号×で示す。

【００４２】勿論、コイル５により発生される交番磁界
のレベルを、より大きく設定しておけば、外部磁界のピ
ーク値を大きく外れた位置においてレーザ光を発生させ
たとしても、光磁気ディスク１にデータを記録すること
が可能である。しかしながら、そのようにすると、コイ
ル５とコンデンサ６よりなるタンク回路７を、よりＱの
大きいものにしなければならなくなり、装置が大型化す
ることになる。そこで実施例のように、外部磁界のピー
ク値の近傍付近において、レーザ光を発生させるように
するのが好ましい。

【００４３】図３は、以上のようにして光磁気ディスク
１に光磁気的にピットが形成される様子を模式的に示し
ている。即ち、図３（Ａ）に示すように、時刻ｔ＝ｔ₀
において、レーザコントロール回路１４よりピックア
ップ４に記録パルスが供給されると、この記録パルスに
対応してレーザ光が光磁気ディスク１に照射される。そ
して、熱磁気記録に必要な所定強度の一定径のスポット
Ｓが照射され、そのスポットＳの領域内の光磁気膜がキ
ュリー温度以上に加熱される。これにより、そのときコ
イル５により印加されている磁界の方向（記号・で示す
方向）に対応するピットＰａが、図３（Ｂ）に示すよう
に、光磁気ディスク１上に形成される。

【００４４】その後、図４（Ａ）に示すように、時刻ｔ
＝ｔ₀＋Ｔ／２（ここでＴは、記録基本クロックＡの周
期）において再び記録パルスが印加されると、このとき
コイル５は、時刻ｔ＝ｔ₀における場合と異なる極性の
磁束を発生しているため、図４（Ｂ）に示すように、図
３（Ｂ）で示したピットＰａの一部がオーバーライトさ
れて、逆極性（記号×で示す方向）のピットＰｂが形成
される。

【００４５】従って、例えば図５（Ａ）に示すように、
時刻ｔ₀乃至ｔ₃、並びにＴ／２＋ｔ₀乃至Ｔ／２＋ｔ₃の
いずれか１つのタイミングにおいて、記録パルスが発生
されると、その発生タイミングに対応して、図５（Ｂ）
に示すようなピットのいずれか２つが形成されることに
なる。これをまとめて示すと、図５（ｃ）に示すように
なる。

【００４６】即ち、記録基本クロックＡの１／２周期Ｔ
／２に対応する長さのピットの前後のエッジが、記録デ
ータに対応して、Ｗで示す範囲内において、ステップ状
に変化する。あるいはまた、このことは、図５（Ｄ）に
示すように、記録基本クロックＡの１／２周期Ｔ／２に
対応する長さのピットの前端のエッジが、記録データに
対応して、Ｗで示す範囲内において、ステップ状に変化
する動作が、Ｔ／２の周期で繰り返されるものと理解す
ることもできる。このようなピットが光磁気ディスク１
に記録されることにより、データが記録されることにな
る。

【００４７】再生時においては、レーザコントロール回
路１４はピックアップ４を制御し、光磁気ディスク１に
対して、記録時における場合より低いレベルＬ_Lのレー
ザ光を連続的に光磁気ディスク１に対して照射させる。
そして、そのときの反射光のカー回転角から光磁気ディ
スク１に記録された記録信号（ＭＯ信号）が再生され、
これが復調復号回路１１に供給され、復調され、さらに
復号される。

【００４８】尚、上述した実施例においては、位相補償
回路９をＰＬＬ回路８とバッファアンプ１０の間に配置
するようにしたが、例えばコイル５に供給する信号の位
相を調整する代りに、例えば位相変調回路１２とパルス
発生回路１３の間に配置して、ピックアップ４に供給さ
れる信号のタイミングを調整するようにすることも可能
である。

【００４９】また、上述した実施例においては、光磁気
ディスク１の反射面に、物理的に形成された凹部または
凸部によってクロックピットを記録したが、光磁気ディ
スク１の反射面に一定周期で蛇行した溝によるプリグル
ーブを形成し、このプリグルーブから記録基本クロック
Ａを再生するようにすることも可能である。

【００５０】次に、図６は、本発明の記録方法を適用し
た光磁気ディスクの基本的フォーマットの一例を示して
いる。

【００５１】この実施例では、光磁気膜の部分的な磁化
の反転によってピットが形成されている、直径１２０ｍ
ｍの光磁気ディスク１にＣＬＶモード、トラックピッチ
１．６μｍで、ピット列が記録されている。全ての情報
は、一定周期１．６７μｍ毎に配置されたピットの前端
（立ち上り）と、後端（立ち下り）のエッジ位置の８段
階のシフト量として記録されている。このシフト量の１
単位である単位シフト量Δは、０．０５μｍに設定され
ている。

【００５２】このように配列された各ピットのエッジ位
置の８段階のシフト量で、各々３ビットの情報を記録す
ることができるので、ピット列方向の線記録情報密度
は、０．２８μｍ／ｂｉｔとなり、現在のＣＤシステム
の２倍以上となる。

【００５３】なお、ＣＤシステムにおいては、線速度を
上限の１．２ｍ／ｓとした場合においても、ＥＦＭ（Ei
ght to Fourteen Modulation）変調により、記録すべき
８ビットのデータ・ビットが、１４ビットのインフォメ
ーション・ビットと、３ビットのマージン・ビットの計
１７ビットのチャネル・ビットに変換されて、ディスク
上のピットに記録されるため、このＥＦＭ変調を勘案す
ると、線記録情報密度は、約０．６μｍ／ｂｉｔであ
る。すなわち、約０．９μｍの最短ピットが、３ビット
分のチャネル・ビットに相当するから、（０．９÷３）×（１７／８）＝約０．６μｍ／ｂｉｔとなる。

【００５４】ここで、図７に示すように、光磁気ディス
ク１に記録されたピットのエッジ位置は、そのピットの
中心の基準位置から、記録すべきディジタル情報に応じ
てステップ状にシフトしているが、そのシフト期間Ｔｓ
（＝Δ×７）は、ピックアップ４の差動光学検出系の伝
達特性に応じて決まるＭＯ信号（差動検出信号）の過渡
期間（０レベル又は飽和レベルとなる定常状態以外の期
間）である立ち上り期間ｔｒまたは立ち下り期間ｔｆよ
りも小なる期間に相当する範囲内に設定されている。

【００５５】上記ＭＯ信号は、ピックアップ４から出力
されるものであり、ピックアップ４の伝達特性によって
その過渡期間が決まる。一般に、光学系の伝達特性は、
その伝達関数（ＯＴＦ；Optical Transfer Function）
の絶対値であるＭＴＦ（Modulation Transfer Functio
n）によって規定され、このＭＴＦはレンズの開口率Ｎ
Ａとレーザの波長λに依存して決まる。

【００５６】上記シフト期間Ｔｓ内で、単位シフト量Δ
を０．０５μｍよりもさらに小なる単位量でシフトさせ
れば、例えば、１６段階の変化をピットエッジに記録す
ることが可能となる。１６段階では、４ビットの情報を
表すことができるので、さらに記録密度を高めることが
できる。

【００５７】このように記録されたピットの中心の基準
位置に位相的に同期したサンプルクロックＳＰの立上が
りエッジのタイミングで、ＭＯ信号をＡ／Ｄ変換するこ
とによって、ピットのエッジ位置のシフト量０〜７に対
応する再生レベルＬ０〜Ｌ７を得ることができる。この
ように、ＭＯ信号の過渡期間における１サンプルタイミ
ングで、その再生レベルＬ０〜Ｌ７を検出することがで
きる条件は、シフト期間Ｔｓ≦過渡期間（立ち上り期間ｔｒまたは立
ち下り期間ｔｆ）ということになる。

【００５８】ここで、サンプルクロックＳＰによるサン
プリングタイミングとしては、シフト期間Ｔｓの中央に
対応するタイミングが望ましく、このタイミングとする
ことにより、ＭＯ信号の過渡期間の全範囲に渡って再生
レベルを検出することが可能となる。

【００５９】再び、図６に戻り、光磁気ディスク１の光
磁気膜には、記録すべきデータに対応した４３個のデー
タピットが記録されるデータ領域の間に、サーボ用の６
個の基準ピットＰ１〜Ｐ５と教育ピットＰ６からなるサ
ーボ領域が挿入されている。このサーボ用の６個のピッ
トＰ１〜Ｐ６は、光磁気ディスク１に対するフォーマッ
ト処理、すなわち、初期化の過程で、上述した交番磁界
の半周期毎に所定強度のスポットＳを照射する記録方法
による熱磁気記録によって、その光磁気膜に対して記録
される。

【００６０】このサーボ領域に記録された６個のピット
Ｐ１〜Ｐ６のうち、１個は教育ピットＰ６とされ、残り
の５個は基準ピットＰ１〜Ｐ５とされている。教育ピッ
トＰ６の図中左側の前端エッジは、その位置が０から７
の８段階のシフト位置の何れかの位置Ｍに設定されてお
り、また図中右側の後端エッジも、０から７までの８段
階のシフト位置の何れかの位置Ｎに設定されている。

【００６１】教育ピットＰ６の前端エッジの位置Ｍと後
端エッジの位置Ｎは、各サーボ領域において、それぞれ
異なる組合せとなるように、規則的に組み合わせが設定
されている。即ち、ＭとＮが最初のサーボ領域において
は、（０，０）とされ、次のサーボ領域においては、
（０，１）とされる。以下同様に、（０，２），（０，
３），・・・，（７，６），（７，７）と規則的に組み
合わせが設定されている。これにより、６４（＝８×
８）個のサーボ領域において、教育ピットＰ２の前端エ
ッジと後端エッジの全てのあり得る位置の組合せが用意
されていることになる。

【００６２】基準ピットＰ２の後端エッジと、Ｐ４の前
端エッジは（０，０）の基準位置データを得るためのも
のであり、基準ピットＰ３の前端と後端のエッジは
（７，７）の基準位置のデータを得るためのものであ
る。この基準位置データを理論的には、例えばピットＰ
１とＰ５の両端のエッジに形成することも可能である。
しかしながらそのようにすると、隣接するデータ領域か
らの干渉の割合が記録データによって変化することにな
るため、実施例のようにダミーの基準ピットＰ１とＰ５
の間のピットのエッジに基準位置データを形成するのが
好ましい。

【００６３】図８は、図１の位相変調回路１２のより詳
細な構成例を示している。ＥＣＣ付加変調回路１５より
出力された記録データは、データ分離回路３１に入力さ
れ、そこにおいて第１のエッジデータ（ピットの前端の
エッジを規定するデータ）と第２のエッジデータ（ピッ
トの後端のエッジを規定するデータ）とに分離される。
第１のエッジデータはＤ／Ａ変換回路３２に供給され、
Ｄ／Ａ変換された後（図９（Ｊ））、比較回路３３に供
給される。

【００６４】タイミング発生回路４１はＰＬＬ回路８よ
り供給される。記録基本クロック（図９（Ａ））に同期
して、鋸歯状波発生回路３４，３６，４４，４６にそれ
ぞれタイミング信号を出力する。それぞれの鋸歯状波発
生回路３４，３６，４４，４６は、入力されたタイミン
グ信号に同期して鋸歯状波を発生する。

【００６５】鋸歯状波発生回路３４が出力する鋸歯状波
（図９（Ｂ））は、比較回路３３に供給される。比較回
路３３は、Ｄ／Ａ変換回路３２の出力（図９（Ｊ））と
鋸歯状波発生回路３４の出力（図９（Ｂ））のレベルを
比較し、鋸歯状波発生回路３４の出力がＤ／Ａ変換回
路３２の出力より大きくなったタイミングにおいて、一
定の期間Ｈのパルス（図９（Ｃ））を発生し、合成回路
３５に出力する。すなわち、このパルスの発生タイミン
グは、記録データ（ａn）に対応するものとなされてい
る。

【００６６】一方、Ｄ／Ａ変換回路４２は、第２のエッ
ジデータをＤ／Ａ変換（図９（Ｋ））し、比較回路３７
に出力する。また、この比較回路３７には、タイミング
発生回路４１の出力に同期して、鋸歯状波発生回路３６
が出力する鋸歯状波（図９（Ｄ））が供給されている。
比較回路３７は、両入力のレベルを比較し、鋸歯状波発
生回路３６の出力がＤ／Ａ変換回路４２の出力より大き
くなったとき、Ｈのパルス（図９（Ｅ））を発生し、合
成回路３５に出力する。

【００６７】合成回路３５は、例えば図１０に示すよう
に、ＯＲ回路５１により構成されている。したがってＯ
Ｒ回路５１は、比較回路３３と３７が出力する論理Ｈの
パルスを合成し、後段のＯＲ回路３８に出力する。

【００６８】同様にして、タイミング発生回路４１が出
力するタイミング信号に同期して、鋸歯状波発生回路４
４が出力する鋸歯状波（図９（Ｆ））が比較回路４３に
供給されており、比較回路４３はこの入力とＤ／Ａ変換
回路４２の出力（図９（Ｋ））のレベルとを比較する。
そして、鋸歯状波発生回路４４が出力する鋸歯状波のレ
ベルがＤ／Ａ変換回路４２の出力より大きくなったと
き、一定の幅の論理Ｈのパルス（図９（Ｇ））を合成回
路４５に出力する。

【００６９】さらにまた、比較回路４７は、Ｄ／Ａ変換
回路３２が出力する第１のエッジに対応するデータ（図
９（Ｊ））と、タイミング発生回路４１の発生するタイ
ミング信号に同期して、鋸歯状波発生回路４６が出力す
る鋸歯状波（図９（Ｈ））のレベルを比較する。そし
て、鋸歯状波発生回路４６が出力する鋸歯状波のレベル
がＤ／Ａ変換回路３２の出力より大きくなったとき、一
定の幅の論理Ｈのパルス（図９（Ｉ））を発生し、合成
回路４５に出力する。

【００７０】合成回路４５は、合成回路３５と同様にＯ
Ｒ回路により構成される。したがって、比較回路４３が
出力するパルスと、比較回路４７が出力するパルスが合
成回路４５において合成され、ＯＲ回路３８に供給され
る。

【００７１】図１０の左側に示す（時間的に先行する）
パルス（図８の比較回路３３の出力するパルス）は、図
１１に示すように、記録基本クロックに同期するととも
に、第１のエッジデータに対応するタイミングのパルス
となされている。すなわち記録データが例えば、３，
２，１，０と小さくなるにしたがって記録基本クロック
の立ち上がりエッジからのずれの時間が長くなるように
なされている。

【００７２】そして、このパルスは図１２において記録
パルスａで示すように、例えば磁気ヘッド２０がＮ極の
交番磁界を発生しているタイミングにおいて発生され
る。

【００７３】一方、図１０の右側に示す（時間的に後行
する）パルス（比較回路３７が出力するパルス）は、第
１のエッジに続く第２のエッジの値に対応して発生され
る。図９（Ｂ）と（Ｄ）を比較して明らかなように、Ｄ
／Ａ変換回路４２が出力するデータ（図９（Ｋ））は、
Ｄ／Ａ変換回路３２が出力するデータ（図９（Ｊ））と
相補的になるように制御されている。したがって、比較
回路３３が出力するパルスは、第１のエッジのデータ
が、大きくなるほど、その発生タイミングが遅くなるの
に対して、比較回路３７が出力するパルスは、第２のエ
ッジのデータが大きくなるほど遅くなる。この比較回路
３７が出力するパルスは、図１０において記録パルスｂ
で示すタイミングにおいて発生される。

【００７４】また、同様に比較回路４３が出力するパル
スは、図１２において記録パルスｃで示すタイミングで
発生され、比較回路４７が出力するパルスは、図１２に
おいて記録パルスｄで示すタイミングにおいて発生され
る。すなわち、これらのパルスは図１２に示すように、
Ｓ極の磁界が印加されるタイミングにおいて発生され
る。

【００７５】合成回路３５と４５より出力されたデータ
がＯＲ回路３８により合成され、パルス発生回路１３を
介してレーザコントロール回路１４に供給され、レーザ
コントロール回路１４はこのパルスに同期してピックア
ップ４に内蔵されているレーザダイオードを駆動する。
これにより、光磁気ディスク１上に図１２にａ乃至ｄで
示す記録パルスに対応したレーザ光が照射される。

【００７６】その結果、図１３（Ａ）に示すように、図
１２の記録パルスａの照射により、第一エッジデータに
対応するＮ極のピットＮａが形成される。そしてその
後、光磁気ディスク１にピットＮａを形成した時と同一
の極性（Ｎ極）のバイアス磁界が印加されているタイミ
ングにおいて、記録パルスｂに対応するレーザ光が照射
される。これにより、Ｎ極のピツトＮｂが、ピットＮａ
にその一部が重なるように形成される。

【００７７】その後、記録パルスｃに対応するレーザ光
が、Ｓ極の磁界が印加されているタイミングにおいて発
生されると、Ｓ極のピットＳｃが、ピツトＮｂにその一
部が重なるように形成される。さらにその後、記録パル
スｄに対応するレーザ光の照射により、Ｓ極のピットＳ
ｄが、その一部がピットＳｅに重なるように形成され
る。

【００７８】従来Ｎ極またはＳ極の磁界が印加されてい
るタイミングにおいて、記録パルスがそれぞれ１個だけ
供給されるため、図１３（Ｂ）に示すようなピットが形
成されていた。すなわち、記録すべきデータの値が大き
い場合においては、隣接する２つのピットの重なる範囲
が少なくなり、その分だけ過去に記録されていたピット
が消去されずに、そのまま残ることになっていた。

【００７９】しかしながら、この実施例においては、第
１のエッジデータに対応するピットＮａを形成した後、
第２のエッジデータに対応するピットＳｃを形成する前
に、第一のピットＮａと、同極のピットＮｂを形成する
ようにしたので、ピットＮａと、ピットＳｃとの間隔が
離れているような場合においても、両者の間のピットＮ
ｂにより、両者の間の消し残り領域が消去される。この
ため、消し残り領域が少なくなる。

【００８０】ピツトＮａとＮｂは、いずれもＮ極側のピ
ツトであるから、実質的にはこれは１つのピットを構成
する。同時に、Ｓ極側のピットＳｃとＳｄも実質的に１
つのピットを構成する。

【００８１】したがって、このようにして形成されたピ
ットを再生すると、消し残りのデータによるノイズ成分
を抑制することができる。

【００８２】なお、図１２に示すように記録パルスａ乃
至ｄと同様に記録パルスｅ乃至ｈが順次発生され、同様
の動作が繰り返される。

【００８３】なお、上記実施例の場合、図１２に示した
記録パルスｂとｃ（ｄとｅ）の間隔は一定となる。すな
わち、第２のエッジデータが大きくなると記録パルスｃ
の発生タイミングが遅くなるが、記録パルスｂもこの第
２のエッジデータに対応してその発生タイミングが制御
されるため、同様に発生タイミングが遅くなる。その結
果、両者の間隔は一定となる。

【００８４】図１４は、タイミング発生回路４１の内部
の構成例を示している。同図に示すように、ＰＬＬ回路
８より供給された記録基本クロック（図１５（Ａ））に
同期して、鋸歯状波発生回路６１が鋸歯状波（図１５
（Ｂ））を発生する。この鋸歯状波は比較回路６２に供
給される。Ｄ／Ａ変換回路６３は、図示せぬ回路から供
給されるタイミング指定データをＤ／Ａ変換し、比較回
路６２に出力する（図１５（Ｄ））。このＤ／Ａ変換回
路６３に入力されるデータ、したがって、そこより出力
される信号のレベルは、出力すべきタイミング信号に対
応して変化される。

【００８５】比較回路６２は、鋸歯状波発生回路６１が
出力する信号のレベルがＤ／Ａ変換回路６３の出力レベ
ルより大きくなったとき、一定の幅の論理Ｈパルス（図
１５（Ｃ））を発生する。この比較回路６２の出力が、
例えば鋸歯状波発生回路３４（鋸歯状波発生回路３６，
４４，４６も同様）に供給されると、鋸歯状波発生回路
３４は、この入力に同期して鋸歯状波を発生する。した
がって、鋸歯状波発生回路３４が出力する鋸歯状波のタ
イミングが、Ｄ／Ａ変換回路６３に入力されるデータに
対応して設定されることになる。

【００８６】なお、ピットの磁化領域の重なり方は、レ
ーザのパワー、記録密度等によって変化するため、これ
らの値に対応してＤ／Ａ変換回路６３に供給するデータ
の値を適宜変化させることにより、比較回路３７または
４７が発生する記録パルスのタイミング（即ち図１２に
おける記録パルスａとｂ、記録パルスｃとｄ、記録パル
スｅとｆなどの間隔）を適正な値に必要に応じて変更す
ることができる。

【００８７】図１６は、タイミング発生回路４１のさら
に他の構成例を示している。この実施例においては、Ｐ
ＬＬ回路８より供給された記録基本クロックが、ＰＬＬ
回路７１に入力され、記録基本クロックの周波数ｆのＮ
倍の周波数ｆＮのクロックが生成され、このクロックが
カウンタ７２に供給されカウントされる。デコーダ７３
は、カウンタ７２のカウント値をモニタし、そのカウン
ト値に対応するタイミングで所定の鋸歯状波発生回路３
４（鋸歯状波発生回路３４，４４，４６も同様）に供給
する鋸歯状波開始パルスを発生する。

【００８８】この場合、デコーダ７３において、所定の
パルスを発生するタイミングに対応するカウント７２の
カウント値を適宜設定変更することで、タイミングを調
整することが可能である。

【００８９】図１７は、合成回路３５（４５）の他の構
成例を示している。この実施例においては、合成回路３
５（４５）がＤ型フリップフロップ８１により構成され
ている。フリップフロップ８１のＤ端子には、常に論理
Ｈのレベルが入力されている。そして、比較回路３３の
出力がフリップフロップ８１のクロック端子に供給され
ているため、比較回路３３が論理Ｈの記録パルスを出力
したとき、Ｄ型フリップフロップ８１は、そのＱ出力端
子の出力の論理を、ＬからＨに反転する。

【００９０】そして、その後比較回路３７からＯＲ回路
８３を介して記録パルスが入力されると、フリップフロ
ップ８１はリセットされる。このため、そのＱ出力の論
理はＨからＬに反転する。その結果フリップフロップ８
１は、比較回路３３が記録パルス発生したときから、比
較回路３７が記録パルスを発生するまでの間、論理Ｈの
パルスを出力する。

【００９１】なお、初期リセット発生回路８２は、一連
の記録動作を行う前に、フリップフロップ８１のＱ出力
をＬに初期設定する為のパルス発生回路である。例え
ば、データ領域にデータを記録する直前に、この回路か
らＨのパルスを出して、フリップフロップ８１の出力を
Ｌにしておく。

【００９２】したがって、この場合においては、図１２
において記録パルスａからｂまでの間が１つのパルスと
されることになる。以下同様に記録パルスｃからｄの
間、記録パルスｅからｆの間、記録パルスｇからｈの
間、論理Ｈの１つのパルスが発生されることになる。

【００９３】図１８は、以上の実施例の動作をまとめて
示している。即ち、図１８（Ａ）に示すように、所定の
周期で光磁気ディスク１に印加される磁界が、周期的に
変化する場合、合成回路３５（４５）を図１０に示すよ
うにＯＲ回路５１により構成したとき、図１８（Ｂ）に
示すように、第１のエッジに対応する記録パルスを発生
した後、第２のエッジが記録パルスを発生する前に、第
２の記録エッジのデータに対応する記録パルスが発生さ
れる。同様に第２のエッジに対応する記録パルスを発生
した後、次の第１のエッジに対応する記録パルスが発生
される前に、第１のエッジデータに対応する記録パルス
が発生される。

【００９４】例えば図１８（Ｄ）に示すように、第１の
エッジデータが３であるとき、このデータ３に対応する
タイミングで第１の記録パルスが発生される。そして、
第２のエッジデータが０であるとき、このデータ０に対
応するタイミングで、バイアス磁界が第一の記録パルス
を発生したときと、同一の極性のＮ極の磁界を発生して
いるタイミングにおいて、第２の記録パルスが発生され
る。

【００９５】また、Ｓ極の磁界が印加されているタイミ
ングにおいて、第２のエッジデータ０に対応するタイミ
ングで第３の記録パルスを発生する。さらに次の第１の
エッジデータが２であるとき、このデータに対応するタ
イミングでＳ極の磁界が印加されている間に第４の記録
パルスが発生される。

【００９６】なおこれらの第１乃至第４の記録パルスが
発生されるタイミングは、バイアス磁界が所定のレベル
以上（光磁気ディスク１の飽和レベル以上）である期間
内において行われる。

【００９７】また、合成回路３５（４５）を図１７に示
すようにＤ型フリップフロップで構成した場合において
は、図１８（Ｃ）及び（Ｅ）に示すように、印加される
磁界が所定レベル以上のＮ極またはＳ極である期間にお
いて、データに対応して一定の期間連続して記録パルス
が発生される。

【００９８】以上の実施例においては、図１２に示すよ
うに、第１のエッジデータに対応する記録パルスａ（ま
たは第二の記録データに対応する記録パルスｃ）と第２
のエッジデータに対応する記録パルスｃ（次の第１のエ
ッジデータに対応する記録パルスｅ）の間に記録パルス
ｂ（または記録パルスｄ）を発生させるようにしたが、
隣接するピットのエッジ間隔が広くなる場合においての
み、この中間のパルスを発生させるようにし、隣接する
ピットのエッジの間隔が狭い場合においては、この中間
のパルスを発生させないようにすることもできる。

【００９９】なお図１２の実施例においては、図１９
（Ａ）に示すように、第１のエッジと第２のエッジを規
制するパルス（記録パルスａと記録パルスｃ）の間に１
個のパルスを発生させるようにしたが、例えば図１９
（Ｂ）に示すように、その間において発生するパルスを
２個（記録パルスｂ１，ｂ２）あるいはそれ以上に増加
することも可能である。

【０１００】以上本発明を光磁気記録装置に応用した場
合を例をとして説明したが、本発明はその他の記録媒体
にデータを記録する場合にも適用することが可能であ
る。

【０１０１】

【発明の効果】以上の如く、請求項１に記載のデータ記
録方法によれば、前のピットに一部が重なるように次の
ピットを形成するとともに、ピットを形成するための記
録パルスの最終端部のタイミングを変化させるようにし
たので、記録媒体の記録密度の変化や、記録パワーの変
化に起因するノイズを抑制することが可能となる。

【０１０２】請求項２に記載のデータ記録方法によれ
ば、記録パルスの最終端部のタイミングを、次のピット
の記録パルスの開始端部のタイミングに対応して変化さ
せるようにしたので、データの消し残りに起因するノイ
ズを抑制することが可能となる。

【０１０３】請求項３に記載のデータ記録方法によれ
ば、複数個の記録パルスの内、最後のパルスの発生タイ
ミングを次のピットを形成する記録パルスの最初のパル
スの発生タイミングに対応して変化させるようにしたの
で、より少ないエネルギーでデータの消し残りを抑制す
ることが可能となる。

【０１０４】さらに、請求項４に記載のデータ記録方法
によれば、１つのパルスの終了のタイミングを、次のピ
ットを形成するための１つのパルスの発生タイミングに
対応して変化させるようにしたので、磁界変調方式の場
合に比べて、より少ないエネルギーでデータを記録する
ことができるとともに、消し残りを抑制することが可能
となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明のデータ記録方法を応用した光磁気記録
装置の一実施例の構成を示すブロック図である。

【図２】図１の実施例の動作を説明するタイミングチャ
ートである。

【図３】図１の実施例において１個の記録パルスにより
形成されるピットを説明する図である。

【図４】図１の実施例において２個の記録パルスにより
形成されるピットを説明する図である。

【図５】図１の実施例において８個の記録パルスにより
形成されるピットを説明する図である。

【図６】図１の光磁気ディスク１の記録フォーマットを
説明する図である。

【図７】図１の光磁気ディスク１における情報ピットの
構成を説明する図である。

【図８】図１の位相変調回路１２の構成例を示すブロッ
ク図である。

【図９】図８の実施例の動作を説明するタイミングチャ
ートである。

【図１０】図８の合成回路３５の構成例を示すブロック
図である。

【図１１】記録基本クロックと記録パルスとのタイミン
グを説明する図である。

【図１２】図８の動作を説明するタイミングチャートで
ある。

【図１３】図８の実施例により形成されるピットを説明
する図である。

【図１４】図８のタイミング発生回路４１の構成例を示
すブロック図である。

【図１５】図１４の実施例の動作を説明するタイミング
チャートである。

【図１６】図８のタイミング発生回路４１の他の構成例
を示すブロック図である。

【図１７】図８の合成回路３５の他の構成例を示すブロ
ック図である。

【図１８】図８の実施例の動作を説明するタイミングチ
ャートである。

【図１９】図１の位相変調回路１２の他の動作例を説明
するタイミングチャートである。

【図２０】従来の光ディスクにおけるエッジ位置変調に
よる高密度記録方法を説明する図である。

【図２１】図２０に示した従来の光ディスクにおけるエ
ッジ位置変調による高密度記録方法によって記録された
データの再生方法を説明する図である。

【図２２】従来の光磁気ディスクに記録されたピットを
説明する図である。

【図２３】従来の光磁気ディスクにおいてオーバーライ
トした場合の状態を説明する図である。

【符号の説明】

１光磁気ディスク２スピンドルモータ４ピックアップ５コイル６コンデンサ７タンク回路８ＰＬＬ回路９位相補償回路１２位相変調回路１３パルス発生回路１４レーザコントロール回路２０磁気ヘッド３１データ分離回路３３比較回路３４鋸歯状波発生回路３５合成回路３６鋸歯状波発生回路３７比較回路３８ＯＲ回路４１タイミング発生回路４３比較回路４４鋸歯状波発生回路４５合成回路４６鋸歯状波発生回路４７比較回路

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】ピットのエッジの位置を記録データに対
応して変化させることによりデータを記録媒体に記録す
るデータ記録方法において、前の前記ピットに一部が重なるように次の前記ピットを
形成するとともに、前の前記ピットを形成するための記録パルスの最終端部
のタイミングを変化させることを特徴とするデータ記録
方法。
【請求項２】前の前記ピットを形成するための記録パ
ルスの最終端部のタイミングを、次の前記ピットを形成
するための記録パルスの開始端部のタイミングに対応し
て変化させることを特徴とする請求項１に記載のデータ
記録方法。
【請求項３】１つの前記ピットを形成するための前記
記録パルスを複数個のパルスにより構成し、前記複数個のパルスのうち最後のパルスの発生タイミン
グを、次の前記ピットを形成するための記録パルスの最
初のパルスの発生タイミングに対応して変化させること
を特徴とする請求項２に記載のデータ記録方法。
【請求項４】１つの前記ピットを形成するための前記
記録パルスを所定の期間連続する１つのパルスにより構
成し、前記１つのパルスの終了のタイミングを、次の前記ピッ
トを形成するための１つのパルスの発生タイミングに対
応して変化させることを特徴とする請求項２に記載のデ
ータ記録方法。