JPH07282453A

JPH07282453A - 光ディスク駆動装置

Info

Publication number: JPH07282453A
Application number: JP7113894A
Authority: JP
Inventors: Masaji Suwabe; 正次諏訪部
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1994-04-08
Filing date: 1994-04-08
Publication date: 1995-10-27

Abstract

(57)【要約】【目的】相対湿度変化によって反りが生じる光ディス
クに対して、光学的に記録再生を行う光ディスク駆動装
置において、前記反りが生じても光学系が大きく傾くこ
となく、正常に記録再生ができるようにすることを目的
とする。【構成】合成樹脂基板をディスク基板として用いてな
り、相対湿度３〜８５％、温度５〜５５℃なる環境下に
おいて相対湿度が２０％変化したときのディスク最外周
での反りの最大変化がＡ[mrad]である光ディスクに対し
て、光学ピックアップによりレーザービームを照射して
記録及び／又は再生を行う光ディスク駆動装置におい
て、上記光学ピックアップの光軸を光ディスクを回転駆
動するスピンドルの回転軸に対して−Ａ／２±０．５[m
rad]相対的に傾ける。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、相対湿度の変化によっ
てディスク基板に反りが生じる光ディスクに対して、光
学的に記録及び／又は再生を行う光ディスク駆動装置に
関する。

【０００２】

【従来の技術】光ディスク駆動装置は、透明な円盤状の
ディスク基板上に記録層を形成してなる光ディスクに対
して、光学的に情報信号の記録及び／又は再生を行うも
のである。

【０００３】上記光ディスクを製造する際に、ディスク
を完全な平面とすることは困難であり、ある程度の反り
が生じてしまう。通常、この反りは光ディスクの製造に
おいて一定の範囲内、つまり反りがない状態を基準とし
て０±Ｂ[mrad]の範囲内、となるように管理されてい
る。ここで、Ｂは光ディスクの製造工程における反りの
管理値である。

【０００４】ところで、光ディスクのディスク基板に
は、通常、ポリカーボネート等の合成樹脂が用いられ
る。そして、この合成樹脂は吸湿性がある（吸水率が０
でない）ため、相対湿度が変化すると光ディスクに反り
が生じることがある。そして、この反りにより、光学的
記録再生の光学系が傾き、正常に記録再生ができなくな
ってしまうおそれがある。

【０００５】しかし、これまで製品化されている光ディ
スクでは、この反りが大きな問題となることはなかっ
た。なぜなら、これまで製品化されている光ディスク
は、ディスク基板が厚いため曲げ剛性率が大きく反りが
生じにくいから、あるいは２枚のディスク基板を貼り合
わせてなるため曲げ剛性率が大きく反りが生じにくいか
ら、あるいは径が小さいため大きな反りが生じにくいか
らである。具体的には、ＩＳＯ規格の５．２５インチ光
磁気ディスクは、２枚のディスク基板を貼り合わせてな
るため曲げ剛性率が大きく反りが生じにくい、あるいは
ＩＳＯ規格の３．５インチ光磁気ディスクは、径が小さ
いため大きな反りが生じにくい。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかし、光学的記録再
生へのニーズは高度化及び多様化しており、短波長レー
ザーによる光学的記録再生に対応するためにディスク基
板を薄くした光ディスク、あるいは磁界変調による光磁
気記録に適した厚さ１．２ｍｍ程度の１枚のディスク基
板からなる単板タイプの光ディスク、あるいは径が大き
い光ディスク、あるいはこれらの条件を複数兼ね備えた
光ディスク等の使用も検討されている。そして、このよ
うな光ディスクでは、相対湿度変化によって生じる反り
が問題となる。

【０００７】このように相対湿度変化によって反りが生
じる光ディスクにおいては、この反りが生じると光学系
に傾きが生じるため、相対湿度変化による反りを考慮す
る必要がある。そして、この反りの量は、従来の光ディ
スク駆動装置では、そのまま光学系の傾きの量となる。
そのため、この反りが生じても、光学系の傾きが正常に
記録再生が行われる範囲内の傾きとするためには、光デ
ィスクに初めから存在する反りを少なくしておかなけれ
ばならない。すなわち、光ディスクの製造工程における
反りの管理値を小さくして、反りに関する管理をさらに
厳しくしなければならない。このため、光ディスクの製
造において、不良製品が増加し、歩止まりが悪くなると
予想される。しかし、これまでは、おそらく相対湿度変
化によって生じる反りを考慮する必要がなかったため、
この反りについて論じられたことは無かった。

【０００８】そこで、本発明は、相対湿度変化によって
反りが生じる光ディスクに対して、光学的に記録再生を
行う光ディスク駆動装置において、前記反りが生じても
光学系が大きく傾くことなく、正常に記録再生ができる
ようにすることを目的とする。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本発明者は、相対湿度変
化によって生じる光ディスクの反り、及びこの光ディス
クに対して光学的に記録再生を行う光ディスク駆動装置
の光学系の傾きについて、鋭意研究を重ねた結果、光デ
ィスク駆動装置の光学ピックアップの光軸を、前記反り
の最大変化の半分の量だけ、前記反りによる光学系の傾
きを打ち消す方向に、予め傾けることにより、前記反り
による光学系の傾きを、最大でも前記反りの最大変化の
半分の量に抑えることができるという知見を得て、これ
に基づいて本発明を成すに至った。

【００１０】すなわち、本発明の光ディスク駆動装置
は、合成樹脂基板をディスク基板として用いてなり、相
対湿度３〜８５％、温度５〜５５℃なる環境下において
相対湿度が２０％変化したときのディスク最外周での反
りの最大変化がＡ[mrad]である光ディスクに対し、光学
ピックアップによりレーザービームを照射して記録及び
／又は再生を行う光ディスク駆動装置であって、上記光
学ピックアップの光軸が光ディスクを回転駆動するスピ
ンドルの回転軸に対して−Ａ／２±０．５[mrad]相対的
に傾けられているものである。

【００１１】なお、相対湿度変化の変化量を２０％とし
たのは、急激な相対湿度変化が生じるのは、光ディスク
を光ディスク駆動装置にセットしたときに生じるもので
あり、その相対湿度変化の変化量は常に約２０％だから
である。

【００１２】

【作用】光ディスク駆動装置の光学ピックアップの光軸
を、相対湿度変化によって生じる光ディスクの反りの最
大変化の半分の量だけ、前記反りによる光学系の傾きを
打ち消す方向に、予め傾けることにより、前記反りによ
る光学系の傾きは、最大でも前記反りの最大変化の半分
の量に抑えられる。

【００１３】

【実施例】以下に、相対湿度変化によって生じる光ディ
スクの反り、及びこの光ディスクに対して光学的に記録
再生をする光ディスク駆動装置の光学系の傾きについて
検討した結果について説明する。

【００１４】対象とした光ディスクは、厚さ１．２ｍ
ｍ、直径１３０ｍｍの１枚の合成樹脂製ディスク基板よ
りなる単板タイプの光ディスクであり、反り量の測定位
置は、特に断らない限り、光ディスクの中心から約６０
ｍｍ離れた位置、すなわち半径約６０ｍｍの位置とし
た。なお、反り量は、図１に示すように、反りがないと
きを基準として、光ディスク１が、記録再生を行うため
の光学ピックアップ２がない側に反った場合をプラス、
その逆側に反った場合をマイナスした。また、光学ピッ
クアップの光軸の傾きは、図２に示すように、光学ピッ
クアップの光軸が光ディスクの中心３に向かって傾いた
場合をプラス、その逆側に傾いた場合をマイナスとし
た。

【００１５】まず、上記光ディスクについて、相対湿度
変化によって生じる反り量を調べた。

【００１６】図３に、相対湿度を５０％から３０％へ変
化させたとき、反り量が時間とともにどのように変化す
るかを測定した結果を示す。この結果から、相対湿度変
化後、徐々に反り量が増し、約３時間後に反りの最大変
化である約−３．０[mrad]となり、その後は徐々に反り
量が減少して初期の状態に戻っていくのが分かる。特
に、約２０００分以上経過した後は、反り量はほぼ無く
なっている。

【００１７】図４に、光ディスクの径方向の位置と、相
対湿度を約２０％変化させたときの反りの最大変化の関
係について測定した結果を示す。なお、径方向の位置
は、各位置における半径で表している。この結果から、
反り量は光ディスクの外側に向かって直線的に増加して
いくのが分かる。すなわち、最も反り量が大きいのは、
光ディスクの最外周部である。

【００１８】図５に、相対湿度変化の変化量と反りの最
大変化との関係について測定した結果を示す。この結果
から、相対湿度変化の変化量が大きいほど、反りの最大
変化は大きくなるのが分かる。

【００１９】次に、実際の使用環境における相対湿度変
化について検討した。

【００２０】実際の使用環境において相対湿度変化は、
主に、（１）気候の変化によるもの、（２）光ディスク
駆動装置内の相対湿度と前記装置外の相対湿度との差に
よるものが考えられる。

【００２１】（１）の気候の変化による相対湿度変化
は、５０％以上の変化が生じることもあるが、通常、そ
の変化は緩やかであるため、問題となるような反りは生
じないと思われる。

【００２２】一方、（２）の光ディスク駆動装置内の相
対湿度と前記装置外の相対湿度との差は、前記装置を構
成する部品であるＩＣやパワートランジスタ等の発熱に
より、前記装置内の温度が前記装置外の温度よりも１０
℃程度高くなるために生じるものである。そして、これ
による相対湿度変化は、光ディスクを光ディスク駆動装
置にセットしたときに生じるものであり、その変化は急
激であるため、問題となるような反りが生じるおそれが
ある。

【００２３】そこで、前記装置内と前記装置外の相対湿
度を、前記装置外の環境が、温度５〜６０℃、相対湿度
４０〜９５％のときについて測定したところ、前記装置
内の相対湿度は、前記装置外の相対湿度に比べて、常に
約２０％低かった。

【００２４】したがって、相対湿度変化によって生じる
光ディスクの反りとしては、光ディスクを光ディスク駆
動装置にセットしたときに生じる、約２０％の相対湿度
の減少による光ディスクの反りを考慮すればよい。例え
ば、相対湿度変化の変化量と反りの最大変化とが図４に
示したような関係にあるときは、相対湿度変化による反
りとしては−３[mrad]程度を考慮すればよい。

【００２５】次に、光学的記録再生の光学系の傾きの原
因及び前記傾きの記録再生への影響について検討した。

【００２６】光学的記録再生の光学系が傾くと、コマ収
差が発生し、正常に記録再生ができなくなってしまう。
図６に、光学系の傾きとエラーレートの関係を示す。こ
のように、光学系の傾きが増加するとエラーレートが増
加する。そして、光学系の傾きが増加して、エラーレー
トが一定の値、すなわちエラーのしきい値を越えると、
正常に記録再生ができなくなる。（以下、正常に記録再
生できる光学系の傾きの範囲を「許容範囲」といい、そ
の範囲を−Ｋ〜Ｋ[mrad]とする。）

【００２７】光学系の傾きの第１の原因は、光ディスク
製造時に生じる光ディスクの反りである。光ディスクを
製造する際に、特に１枚のディスク基板からなる単板の
光ディスクを製造する場合は、ディスクを完全な平面と
することは困難であり、ある程度の反りが生じてしま
う。そこで、通常、この反りは光ディスクの製造におい
て一定の範囲内、つまり反りがない状態を基準として０
±Ｂ[mrad]の範囲内、となるように管理される。ここ
で、Ｂは光ディスクの製造工程における反りの管理値で
ある。このため、光ディスク製造時に生じる光ディスク
の反りに起因して、−Ｂ〜Ｂ[mrad]の光学系の傾きが生
じる。（以下、この傾きを「第１の傾き」という。）

【００２８】光学系の傾きの第２の原因は、光学系のセ
ッティング不良、光ディスクを回転させるターンテーブ
ルの軸の傾き等の光ディスク駆動装置による傾きであ
る。（以下、この傾きを「第２の傾き」といい、その範
囲を−Ｃ〜Ｃ[mrad]とする。）そして、第１の傾きとこの第２の傾きとを加えたもの、
すなわち−Ｂ−Ｃ〜Ｂ＋Ｃ[mrad]が、システムに初めか
ら存在する傾きである初期傾きの範囲である。図７に、
初期傾きの範囲を、光学系の傾きとエラーレートの関係
のグラフ上に示した例を示す。

【００２９】光学系の傾きの第３の原因は、相対湿度変
化によって生じる光ディスクの反りである。上述したよ
うに、光ディスクを光ディスク駆動装置にセットしたと
きに相対湿度が約２０％減少し、光ディスクに反りが生
じて光学系が傾く。（以下、この傾きを「第３の傾き」
という。）例えば、この反りの最大変化であるＡ[mrad]
の反りが光ディスクに生じると、光学系にＡ[mrad]の傾
きが生じ、初期傾きにこの第３の傾きが加わった全体の
傾きの範囲は−Ｂ−Ｃ＋Ａ〜Ｂ＋Ｃ＋Ａ[mrad]となる。
図８に、全体の傾きの範囲を、光学系の傾きとエラーレ
ートの関係のグラフ上に示した例を示す。

【００３０】通常、上述した光学系の傾きが、許容範囲
内となるようにするためには、第１の傾きを減らすこと
によって対処している。すなわち、光ディスクの製造工
程における反りの管理値Ｂを小さくして、光ディスク製
造時に生じる光ディスクの反りに関する管理を厳しくし
て対処している。

【００３１】ところで、相対湿度変化による光ディスク
の反りとしては、上述したように、相対湿度変化が２０
％減少したときの最大反り量を考慮すればよい。そのた
め、相対湿度変化による光ディスクの最大反り量Ａは予
め知ることができる。そこで、予め、光学ピックアップ
の光軸を光ディスクを回転駆動するスピンドルの回転軸
に対して−Ａ／２[mrad]相対的に傾けておけば、前記反
りによる光学系の傾きは相殺され、光学系が大きく傾く
ことがなくなる。

【００３２】すなわち、第１の傾きの範囲は（−Ａ／２
−Ｂ）〜（−Ａ／２＋Ｂ）[mrad]となり、これに第２の
傾きを加えた初期傾きの範囲は（−Ａ／２−Ｂ−Ｃ）〜
（−Ａ／２＋Ｂ＋Ｃ）[mrad]となる。そして、さらに第
３の傾きとしてＡ[mrad]の傾きが初期傾きに加わった全
体の傾きの範囲は（Ａ／２−Ｂ−Ｃ）〜（Ａ／２＋Ｂ＋
Ｃ）[mrad]となる。図９に、この傾きの範囲を、光学系
の傾きとエラーレートの関係のグラフ上に示した例を示
す。

【００３３】つまり、従来の光ディスク駆動装置では、
光ディスクの反りを、−Ｋ＜Ａ−Ｂ−ＣかつＡ＋Ｂ＋Ｃ
＜Ｋとする必要があった。これに対して、本実施例の光
ディスク駆動装置では、光ディスクの反りを、−Ｋ＜Ａ
／２−Ｂ−ＣかつＡ／２＋Ｂ＋Ｃ＜Ｋとなるようすれば
よい。すなわち、光ディスクの製造工程における反りの
管理値Ｂを、Ａ／２だけ大きく設定することができ、光
ディスク製造時に生じる光ディスクの反りに関する管理
を緩めることができる。

【００３４】実施例１以下に、さらに具体的な実施例について説明する。本実
施例に用いる光ディスクは、厚さ１．２ｍｍ、直径１３
０ｍｍのポリカーボネート製ディスク基板を用いてなる
光磁気ディスクであり、上述した通り、相対湿度変化に
よって生じる反りの最大変化Ａとしては−３[mrad]を考
慮すればよい。

【００３５】そして、本実施例の光ディスク駆動装置
は、上記光ディスクに対し、光学ピックアップによりレ
ーザービームを照射して記録及び／又は再生を行う光デ
ィスク駆動装置であって、上記光学ピックアップの光軸
が光ディスクを回転駆動するスピンドルの回転軸に対し
て−Ａ／２[mrad]、すなわち１．５［mrad］だけ相対的
に傾けられているものである。

【００３６】まず、上記光ディスクに、２−７変調に
て、マーク長記録を行った。なお、マーク長記録の条件
は、４．８ｍ／ｓ、最短キャリア周波数２．８８ＭＨ
ｚ、レーザー波長７８０ｎｍ、ＮＡ０．５５である。そ
の後、光ディスクを回転させるターンテーブルを傾けて
前記記録の再生を行い、バイトエラーレートを測定し、
光学系の傾きとエラーレートの関係を調べた。結果を図
１０に示す。このシステムのエラーのしきい値は５×１
０^-4であるので、光学系の傾きの許容範囲はおよそ−１
１．５〜１１．５[mrad]となる。

【００３７】次に、第２の傾きである、光学系のセッテ
ィング不良、ターンテーブルの軸の傾き等の光ディスク
駆動装置に存在する傾きを測定したところ、±４．９[m
rad]であった。なお、この値は、８箇所で傾きを測定し
て、これらのデータのχ²分布の標準偏差を２倍して求
めた。

【００３８】以上のような光ディスクにおいて、光学系
の傾きを許容範囲内とするには、光ディスクの製造工程
での反りの管理値であるＢの値を、−Ｋ＜Ａ／２−Ｂ−
Ｃとなるように、すなわち−１１．５＜−３／２−Ｂ−
４．９となるようにすればよい。よって、Ｂ＜５．１と
なるように管理すればよい。

【００３９】したがって、本実施例の光ディスク駆動装
置に用いられる光ディスクの製造工程での反りの管理
は、±５．１[mrad]とすればよく、製造工程での反りの
管理は緩やかなものとなる。そのため、光ディスクの製
造において、不良製品があまり発生せず、歩止まりが良
くなる。

【００４０】比較例１本実施例の光ディスク駆動装置は、光学ピックアップの
光軸を傾けることなく製造した光ディスク駆動装置であ
り、これ以外は実施例１の光ディスク駆動装置と同様で
ある。また、使用する光ディスクも実施例１の光ディス
クと同様である。

【００４１】上記光ディスクにおいて、光学系の傾きを
許容範囲内とするには、光ディスクの製造工程での反り
の管理値であるＢの値を、−Ｋ＜Ａ−Ｂ−Ｃとなるよう
に、すなわち−１１．５＜−３−Ｂ−４．９となるよう
にする必要がある。よって、Ｂ＜３．６となるように管
理する必要がある。

【００４２】したがって、本比較例の光ディスク駆動装
置に用いられる光ディスクの製造工程での反りの管理
は、±３．６[mrad]とする必要があり、製造工程での反
りの管理は厳しいものとなる。そのため、光ディスクの
製造において、不良製品の発生量が増加し、歩止まりが
悪くなる。

【００４３】実施例２以下に、光ディスク駆動装置の具体的な構成例について
説明する。なお、本実施例の光ディスク駆動装置に用い
られる光ディスクは、吸湿性のある合成樹脂基板をディ
スク基板として用いてなり、相対湿度３〜８５％、温度
５〜５５℃なる環境下において相対湿度が２０％変化し
たときのディスク最外周での反りの最大変化がＡ[mrad]
である光ディスクである。

【００４４】本実施例の光ディスク駆動装置は、図１１
及び図１２に示すように、主に、略箱状の光ディスク駆
動装置のベース部材１２に、光ディスク１１を回転駆動
するスピンドル１３と、光ディスク１１に対してレーザ
ービームを照射して記録再生を行う光学ピックアップ１
４を取り付けてなる。

【００４５】前記ベース部材１２の上部は、平面となっ
ており、スピンドル１３及び光学ピックアップ１４を配
設するための開口１５が中央に設けられている。そし
て、スピンドル１３が、前記開口１５の端部に配設され
る。このスピンドル１３は光ディスク１１を、前記ベー
ス部材１２の上に、前記ベース部材１２の上面と平行に
支持し、回転駆動するものである。

【００４６】そして、前記ベース部材１２の内部には光
学ピックアップ１４を平行移動させるための２つのガイ
ド１６ａ，１６ｂが配設されている。前記ガイド１６
ａ，１６ｂは、円柱状で、前記ベース部材１２上面と平
行に、かつ２つのガイド１６ａ，１６ｂがそれぞれ前記
開口１５の両脇に平行に位置するように配設される。

【００４７】そして、前記２つのガイド１６ａ，１６ｂ
上に、光学ピックアップ１４が配設されたアルミ製の光
学ピックアップ用ベース１７が、光学ピックアップ１４
が前記開口１５からベース部材１２の上部からスピンド
ル１３によって支持された光ディスク１１に対向するよ
うに、配置される。この光学ピックアップ用ベース１７
は、ガイド１６ａ，１６ｂ上を、ガイド１６ａ，１６ｂ
と平行に滑るように、リニアモーター等により可動す
る。そして、これにより、光学ピックアップ１４が、前
記開口１５内を平行に、すなわち光ディスク１１と平行
に、光ディスク１１に対向するように移動する。

【００４８】そして、前記光学ピックアップ１４は、光
軸１８がスピンドル１３の回転軸１９に対して−Ａ／２
[mrad]だけ相対的に傾くように、斜めに配設される。す
なわち、光学ピックアップの光軸１８と光ディスクのデ
ィスク面の垂線２０との傾きθが−Ａ／２[mrad]となる
ようにする。

【００４９】上記光ディスク駆動装置では、光学ピック
アップ１４を相対湿度変化によって生じる光ディスク１
１の反りの最大変化の半分の量だけ、前記反りによる光
学系の傾きを打ち消す方向に、予め傾けているため、前
記反りによる光学系の傾きは、最大でも前記反りの最大
変化の半分の量に抑えられる。

【００５０】実施例３以下に、光ディスク駆動装置の具体的な構成の他の例に
ついて説明する。なお、本実施例の光ディスク駆動装置
に用いられる光ディスクは、実施例２と同様である。

【００５１】本実施例の光ディスク駆動装置は、実施例
２の光ディスク駆動装置と同様に構成される。ただし、
図１３に示すように、光学ピックアップ１４を傾けるこ
となく、ベース部材１２上面と垂直となるように配設
し、代わりに、スピンドル１３を、回転軸１９が光学ピ
ックアップ１４の光軸１８に対して−Ａ／２[mrad]だけ
相対的に傾くように、斜めに配設する。すなわち、光学
ピックアップの光軸１８と光ディスクのディスク面の垂
線２０との傾きθが−Ａ／２[mrad]となるようにする。
これ以外は実施例２と同様である。

【００５２】上記光ディスク駆動装置では、スピンドル
１３を相対湿度変化によって生じる光ディスク１１の反
りの最大変化の半分の量だけ、前記反りによる光学系の
傾きを打ち消す方向に、予め傾けているため、前記反り
による光学系の傾きは、最大でも前記反りの最大変化の
半分の量に抑えられる。

【００５３】比較例３以下に、光ディスク駆動装置の具体的な構成の比較例に
ついて説明する。なお、本比較例の光ディスク駆動装置
に用いられる光ディスクは、実施例２と同様である。

【００５４】本比較例の光ディスク駆動装置は、実施例
２の光ディスク駆動装置と同様に構成される。ただし、
図１４に示すように、光学ピックアップ１４を傾けるこ
となく、ベース部材１２上面と垂直となるように配設す
る。これ以外は実施例２と同様である。

【００５５】上記光ディスク駆動装置では、光学ピック
アップ１４の光軸１８とスピンドル１３の回転軸１９と
が平行であるため、相対湿度変化によって光ディスク１
１に反りが生じると、この反り量がそのまま、光学系の
傾きとなってしまう。そのため、前記反りによる光学系
の傾きは、最大で前記反りの最大変化の量となってしま
う。

【００５６】

【発明の効果】上述の説明から明らかなように、本発明
の光ディスク駆動装置では、光学ピックアップの光軸
を、相対湿度変化によって生じる光ディスクの反りの最
大変化の半分の量だけ、前記反りによる光学系の傾きを
打ち消す方向に、予め傾けることにより、前記反りによ
る光学系の傾きは、最大でも前記反りの最大変化の半分
の量に抑えられる。このため、光ディスクに相対湿度変
化によって反りが生じても、光学系が大きく傾くことな
く、正常に記録再生することができる。

【００５７】そして、上記反りと光学ピックアップの光
軸の傾きとを考慮することにより、光ディスクの製造工
程での反りの管理を緩めることができ、光ディスクの製
造において、不良製品の発生が少なくなり歩止まりが向
上する。

【図面の簡単な説明】

【図１】光ディスクの反りの方向を示す模式図である。

【図２】光学ピックアップの傾きの方向を示す模式図で
ある。

【図３】相対湿度を５０％から３０％へ変化させたとき
の、反りの変化量の経時変化の測定結果の一例を示す図
である。

【図４】光ディスクの径方向の位置と、相対湿度を２０
％変化させたときの反りの最大変化との関係の測定結果
の一例を示す図である。

【図５】相対湿度変化の変化量と反りの最大変化の関係
の測定結果の一例を示す図である。

【図６】光学系の傾きとエラーレートの関係の一例を示
すグラフである。

【図７】光学系の傾きとエラーレートの関係と、初期傾
きの範囲の一例を示すグラフである。

【図８】光学系の傾きとエラーレートの関係と、全体の
傾きの範囲の一例を示すグラフである。

【図９】光学系の傾きとエラーレートの関係と、本発明
を適用したときの全体の傾きの範囲の一例を示すグラフ
である。

【図１０】光学系の傾きとエラーレートの関係の測定結
果の一例を示す図である。

【図１１】本発明を適用した光ディスク駆動装置の一構
成例を示す概略側面図である。

【図１２】図１１に示す光ディスク駆動装置の概略上面
図である。

【図１３】本発明を適用した光ディスク駆動装置の他の
構成例を示す概略側面図である。

【図１４】従来の光ディスク駆動装置の一構成例を示す
概略側面図である。

【符号の説明】

１光ディスク２光学ピックアップ３光ディスクの中心１１光ディスク１２ベース部材１３スピンドル１４光学ピックアップ１５開口１６ａ，１６ｂガイド１７光学ピックアップ用ベース１８光学ピックアップの光軸１９スピンドルの回転軸２０ディスク面の垂線

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】合成樹脂基板をディスク基板として用い
てなり、相対湿度３〜８５％、温度５〜５５℃なる環境
下において相対湿度が２０％変化したときのディスク最
外周での反りの最大変化がＡ[mrad]である光ディスクに
対し、光学ピックアップによりレーザービームを照射し
て記録及び／又は再生を行う光ディスク駆動装置におい
て、上記光学ピックアップの光軸が光ディスクを回転駆動す
るスピンドルの回転軸に対して−Ａ／２±０．５[mrad]
相対的に傾けられていることを特徴とする光ディスク駆
動装置。