JPH07281142A - 液晶表示素子の製造方法および製造装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】上下基板を一対として組み合わせにおける選別
組合せミスを解消する。 【構成】１枚の原基板上に複数の上基板部を形成した上
原基板と下原基板のそれぞれを分割して個別の上基板と
下基板の対を得る方法において、前工程から渡された上
下原基板１（５）のそれぞれに形成された上基板部およ
び下基板部の各良否を検査して、当該上原基板および下
原基板に付された原基板識別記号および上記各基板部に
付された基板識別符号に対応させてデータ処理を施し、
前記複数の上基板部と下基板部のそれぞれの良否パター
ン毎に分類した検査データを得、検査データのパターン
毎に前記上原基板および下原基板を分類選別する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、液晶表示素子に係り、
特に上板と下板を組み合わせてなる液晶表示素子の製造
方法および製造装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】液晶表示素子は、電極を形成した上板と
下板とを組み合わせて、その間に液晶を注入して構成さ
れる。

【０００３】この種の液晶表示素子としては、上板と下
板のに互いに交差するごとくマトリクス電極を形成し、
両電極の交差部で１画素を形成する単純マトリクス型
と、上記のマトリクス電極の間にトランジスタ等のスイ
ッチング素子を配したアクティブマトリクス型に大別さ
れる。

【０００４】なお、単純マトリクス型液晶表示素子に関
する従来技術を開示したものとしては、例えば特公昭５
１−１３６６６号を、またアクティブマトリクス型液晶
表示素子に関するものとしては、例えば特開昭６３−３
０９９２１号公報を挙げることができる。

【０００５】このような液晶表示素子を製造するに際し
て、上記上板と下板には、それぞれ１枚の大判のガラス
板（以下、原基板という）に完成サイズで例えば４枚分
の基板を同時に処理し、検査後に切断し、あるいは処理
された４枚分の基板を２枚分宛に２分割した後、検査し
て切断し、上板と下板の良品同士を一対として組合せ、
液晶の注入その他の製造工程にわたされる。

【０００６】従来、上記基板の良否選別は、検査工程を
経た原基板の各基板の良否情報をもとにして、上板と下
板の良否パターンが一致するように、人手によって行っ
ていた。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】上記従来技術において
は、原基板での基板良否の選別を人手に頼っているた
め、一対の基板の良否選別にミスが起こることが避けら
れず、また原基板が大サイズであることから、基板選別
作業に取扱い上の困難や作業の危険を伴うという問題が
あった。

【０００８】本発明の第１の目的は、上記従来技術の問
題点を解消し、原基板の検査情報に基づいて良品の上下
基板を一対として組み合わせる作業を自動化して、上下
基板の選別組合せミスを解消した液晶表示素子の製造方
法を提供することにある。

【０００９】また、本発明の第２の目的は、上記液晶表
示素子の製造方法を適用する製造装置を提供することに
ある。

【００１０】

【課題を解決するための手段】上記第１の目的を達成す
るために、本発明の第１の発明は、１枚の原基板上に複
数の上基板部を形成した上原基板、および１枚の原基板
上に複数の下基板部を形成した下原基板のそれぞれを分
割して個別の上基板と下基板の対を得る工程を含む液晶
表示素子の製造方法において、前工程から渡された上原
基板および下原基板のそれぞれに形成された上基板部お
よび下基板部の各良否を検査して、当該上原基板および
下原基板に付された原基板識別記号および上記各基板部
に付された基板識別符号に対応させてデータ処理を施し
て前記複数の上基板部と下基板部のそれぞれの良否パタ
ーン毎に分類した検査データを得、上記検査データのパ
ターン毎に前記上原基板および下原基板を分類選別した
後、前記上原基板および下原基板を個別の上基板および
下基板に切断分離して個別の上基板と下基板の対を得る
工程を含むことを特徴とする。

【００１１】また、上記第２の目的を達成するために、
本発明の第２の発明は、１枚の原基板上に複数の上基板
部を形成した上原基板、および１枚の原基板上に複数の
下基板部を形成した下原基板のそれぞれを分割して個別
の上基板と下基板の対を得る工程を含む液晶表示素子の
製造装置において、前工程から渡された上原基板および
下原基板のそれぞれに形成された上基板部および下基板
部の良否を検査する検査手段３０と、当該上原基板およ
び下原基板のそれぞれに付された原基板識別符号とそれ
らの上基板部および下基板部に付された基板識別符号を
識別する識別符号読取手段３０ａと、上記検査手段３０
と上記識別符号読取手段３０ａからの情報を処理して当
該上原基板および下原基板のそれぞれに形成されている
上基板部および下基板部の良否を示すパターンからなる
基板の良否データを作成するデータ処理手段３１と、上
記良否データを管理する良否データ管理手段３２と、上
記良否データ管理手段３２に格納された良否データに基
づいて前記上原基板および下原基板をその良否パターン
毎に選別する基板選別手段３３と、上記基板選別手段３
３からの基板の良否の問い合せに応じて、当該原基板の
選別情報を提供すると共に、上記各手段の動作を制御す
る制御手段３４と、から構成され、上記検査データのパ
ターン毎に前記上原基板および下原基板を分類選別する
ことを特徴とする。

【００１２】

【作用】上記本発明の第１の発明の構成において、前工
程から渡された上原基板および下原基板のそれぞれに形
成された上基板部および下基板部の各良否を検査して、
当該上原基板および下原基板に付された原基板識別記号
および上記各基板部に付された基板識別符号に対応させ
てデータ処理を施して前記複数の上基板部と下基板部の
それぞれの良否パターン毎に分類した検査データを得
る。

【００１３】次に、上記検査データのパターン毎に前記
上原基板および下原基板を分類選別する。

【００１４】そして、前記上原基板および下原基板を個
別の上基板および下基板に切断分離して個別の上基板と
下基板の対を得る。

【００１５】また、上記第２の発明の構成において、検
査手段は、前工程から渡された上原基板および下原基板
のそれぞれに形成された上基板部および下基板部の良否
を検査する。

【００１６】識別符号読取手段は、当該上原基板および
下原基板のそれぞれに付された原基板識別符号とそれら
の上基板部および下基板部に付された基板識別符号を識
別する。

【００１７】データ処理手段は、上記検査手段と上記識
別符号読取手段からの情報を処理して当該上原基板およ
び下原基板のそれぞれに形成されている上基板部および
下基板部の良否を示すパターンからなる基板の良否デー
タを作成する。

【００１８】そして、良否データ管理手段は、上記良否
データを管理する。

【００１９】基板選別手段は、上記良否データ管理手段
に格納された良否データに基づいて前記上原基板および
下原基板をその良否パターン毎に選別する。

【００２０】制御手段は、上記基板選別手段からの基板
の良否の問い合せに応じて、当該原基板の選別情報を提
供すると共に、上記各手段の動作を制御する。

【００２１】これにより、上記検査データのパターン毎
に前記上原基板および下原基板が分類選別され、選別さ
れたパターンが一致する上原基板と下原基板を対とし、
以降の切断工程、液晶注入工程、封止工程等を施す。

【００２２】

【実施例】以下、本発明の実施例につき、図面を参照し
て詳細に説明する。

【００２３】図１は本発明による液晶表示素子の製造方
法の１実施例を説明する概念図であって、１は上原基
板、２は検査工程、３はパターン分類選別工程、４は切
断工程、５は下原基板、６は検査工程、７はパターン分
類選別工程、８は切断工程、９は組合せ工程、１０ａは
上基板の検査データ、１０ｂは下基板の検査データ、１
１はデータ処理装置である。

【００２４】同図において、前工程で処理された上原基
板１は４つの上基板部１ａ，１ｂ，１ｃ，１ｄを有し、
同様に下原基板５も４つの下基板部５ａ，５ｂ，５ｃ，
５ｄを有している。

【００２５】上原基板１は検査工程２においてその４つ
の上基板部１ａ，１ｂ，１ｃ，１ｄの良否が検査され、
４つの上基板部１ａ，１ｂ，１ｃ，１ｄの良否の分布で
なる１５種のパターンが得られる。なお、この場合、４
つの上基板部１ａ，１ｂ，１ｃ，１ｄがすべて不良の場
合は、検査工程において除かれるため、検査パターンは
１５種となっている。

【００２６】上記検査データ１０ａは当該上原基板１の
識別符号とその上基板部の各識別符号と共にデータ処理
装置１１に保持される。

【００２７】検査を受けた上原基板１は、パターン分類
選別工程３においてデータ処理装置１１に保持された上
記１５のパターンに従って選別される。

【００２８】同様にして、下原基板５も検査工程６にお
いてその４つの上基板部５ａ，５ｂ，５ｃ，５ｄの良否
が検査され ４つの上基板部５ａ，５ｂ，５ｃ，５ｄの
良否の分布でなる１５種のパターンが得られる。この検
査データ１０ｂは当該上原基板５の識別符号とその上基
板部の各識別符号と共にデータ処理装置１１に保持され
る。

【００２９】検査を受けた上原基板５は、パターン分類
選別工程７においてデータ処理装置１１に保持された上
記１５のパターンに従って選別される。

【００３０】このようにして選別された上下の原基板
は、その各１５パターンごとに対応ずけされて切断工程
４、８で切断され、組合せ工程９で良品の対を組み合わ
せて後工程に渡される。

【００３１】このように、本実施例によれば、原基板の
検査情報に基づいて良品の上下基板を一対として組み合
わせる作業を自動化することにより、上下基板の選別組
合せミスが解消され、作業効率と製品歩留りが向上され
る。

【００３２】なお、上記パターン毎に選別された上下の
原基板は、例えば２分割後に組合せ、液晶を注入してか
ら各単一の対に分離するようにしてもよい。

【００３３】図２は本発明による液晶表示素子の製造方
法の他の実施例を説明する概念図であって、２’は上原
基板完成検査工程、６’は下原基板完成検査工程、
３’，７’はパターン分類工程、４’８’は切断工程
（Ｉ）、４”は切断工程（II）、１２は選別工程、３
７，３８は原基板識別符号読取工程である。

【００３４】同図において、前記実施例と同様に、前工
程で処理された上原基板１は４つの上基板部１ａ，１
ｂ，１ｃ，１ｄを有し、同様に下原基板５も４つの下基
板部５ａ，５ｂ，５ｃ，５ｄを有している。

【００３５】本実施例では、上原基板１は基板完成検査
工程２’においてその４つの上基板部１ａ，１ｂ，１
ｃ，１ｄの良否が検査され、４つの上基板部１ａ，１
ｂ，１ｃ，１ｄの良否の分布でなる１５種のパターンが
得られる。この検査データ１０ａは当該上原基板１の識
別符号とその上基板部の各識別符号と共にデータ処理装
置１１に保持される。

【００３６】上原基板１は切断工程（Ｉ）４’において
２枚分ずつに切断分離されて分割原基板とした後、原基
板識別符号読取工程３７においてその各２つの分割原基
板の識別符号が認識され、データ処理装置１１にデータ
が送られる。データ処理装置１１は基板完成検査工程
２’の検査データ１０ａと分割原基板識別符号のデータ
を照合して、各分割原基板の上基板部の良否分布パター
ンを得る。

【００３７】このとき、データ処理装置１１では、分割
原基板の上基板部１ａ，１ｂ、１ｃ，１ｄの良否の分布
でなる、４種のパターンが得られる。

【００３８】識別符号が認識された２枚の分割上原基板
１は、パターン分類工程３’においてデータ処理装置１
１に保持された上記４種のパターンに従って分類され
る。

【００３９】同様にして、下原基板５も基板完成検査工
程６’においてその４つの上基板部５ａ，５ｂ，５ｃ，
５ｄの良否が検査され、４つの下基板部５ａ，５ｂ，５
ｃ，５ｄの良否の分布でなる１５種のパターンが得られ
る。この検査データ１０ｂは当該下原基板５の識別符号
とその下基板部の各識別符号と共にデータ処理装置１１
に保持される。

【００４０】下原基板５は切断工程（Ｉ）８’において
２枚分ずつに切断分離されて分割下原基板とした後、原
基板識別符号読取工程３７においてその各２つの分割下
原基板の識別符号が認識され、データ処理装置１１にデ
ータが送られる。データ処理装置１１は基板完成検査工
程６’の検査データ１０ｂと分割下原基板識別符号のデ
ータを照合して、各分割下原基板の下基板部の良否分布
パターンを得る。

【００４１】このとき、データ処理装置１１では、分割
下原基板の下基板部５ａ，５ｂ，５ｃ，５ｄの良否の分
布でなる、４種のパターンが得られる。

【００４２】識別符号が認識された２枚の分割下原基板
５は、パターン分類工程７’においてデータ処理装置１
１に保持された上記４種のパターンに従って分類され
る。

【００４３】このようにして分類された上下各２枚の分
割原基板は、組合せ工程９でその各４種のパターンごと
に対応ずけされて組み合わされ、切断工程（II）４”で
切断された後、選別工程１２において、データ処理装置
１１に保持されている良否データに基づいて良品と不良
品との選別が行われ、良品のみが次の工程に渡される。

【００４４】なお、上記組合せ工程９では、２枚ずつに
分離された上下の各原基板のうち、その各２枚共不良品
であるものについては排除され、切断工程（II）４”に
投入しないようにすることもできる。

【００４５】図２に示した実施例によれば、パターン分
類データの、元になる検査データ１０ａ，１０ｂは、前
工程の基板完成検査工程２’、６’のデータを使ってい
るので、新たにパターン分類のための検査工程を設ける
必要がない。従って、製造工程が短縮される。

【００４６】また、検査工程は、一般に人手による感応
検査が多く、作業時間が長い。それに比べ原基板識別符
号の読取りは図３で後述するように、識別手段３０ａに
よって機械的に行われるので、作業時間が極めて短い。
従って、本実施例のごとく作業時間の長い検査工程を省
くことは生産性の向上に大きく寄与する。

【００４７】また、本実施例のごとく、４つの基板部よ
りなる原基板１（５）を２分割して組合せる方法によれ
ば、加工する基板サイズが原基板より小さいため、作業
性が良く、かつ完全に４分割する場合に比べると作業効
率が格段に向上する。

【００４８】なお、本実施例において、上記組合せ工程
で組み合わせた上下の分割原基板に対して、その切断工
程４”の前に液晶の注入を行うようにしてもよい。

【００４９】図３は液晶表示素子に対する液晶注入方法
の説明図であって、５０はシール材、５１ａ，５１ｂ，
５１ｃ，５１ｄは液晶注入口、５２は液晶容器、５３は
液晶、前記説明と同一符号は同一部分に対応する。

【００５０】まず、組合せ工程において、分割上原基板
と分割下原基板の各基板部１ａと５ａ、１ｂと５ｂ（１
ｃと５ｃ、１ｄと５ｄ）が組合せられる。

【００５１】次に、分割上原基板と分割下原基板はシー
ル材５０により、それぞれの液晶表示素子の表示領域を
確保し、液晶注入口５１ａ，５１ｂ（５１ｃ，５１ｄ）
を所定の向きで形成して貼り合わされ、液晶表示素子の
液晶表示セルが組み立てられる。

【００５２】次に、液晶注入工程において、液晶表示セ
ルと液晶５３の入った液晶容器５２を真空室内に入れ、
液晶表示セルと液晶容器５２を真空の状態に晒す。

【００５３】次に、図示したごとく、液晶表示セルの注
入口５１ａ，５１ｂ（５１ｃ，５１ｄ）を液晶容器５２
の液晶５３に浸けた後、液晶表示セルと液晶容器５２を
真空状態から開放する。すると、液晶５３は大気の圧力
により液晶表示セル内に注入される。

【００５４】その後、各液晶セルの注入口５１ａ，５１
ｂ（５１ｃ，５１ｄ）を封止材で封止する。

【００５５】すなわち、同図（ａ）に示したように、本
実施例にしたがって原基板１（５）を２分割して組合
せ、切断工程４”の前に液晶の注入を行うことにより、
２つの液晶表示素子の液晶表示セル内に同時に液晶を注
入することが可能となる。

【００５６】次に、切断工程４”において、２つの液晶
表示素子に分割され、個々の液晶表示素子となる。

【００５７】なお、上記（ａ）において、２分割した各
原基板１（５）を並行して液晶を注入することで４つの
液晶表示素子に同時に液晶の注入を行うことができ、４
分割してから液晶の注入を行う方法よりも作業効率が格
段に良い。因みに、原基板を２分割しないで組合せて液
晶を注入する場合は、同図（ｂ）に示したように、液晶
注入口５１ａ，５１ｂと５１ｃ，５１ｄの位置の関係
で、４つの液晶表示素子に同時に液晶を注入することは
不可能である。

【００５８】このように、本実施例によれば、原基板の
検査情報に基づいて良品の上下基板を一対として組み合
わせる作業を自動化することにより、上下基板の選別組
合せミスが解消され、作業効率と製品歩留りが向上され
る。

【００５９】図４は本発明による液晶表示装置の製造装
置の１実施例を説明するブロック図であって、１（５）
は上（下）原基板、３０は検査手段、３０ａは識別符号
読取手段、３１はデータ処理手段、３２は良否データ管
理手段、３３は原基板選別手段、３４は制御手段であ
る。なお、１（５）ａ〜１（５）ｎは選別された上
（下）原基板である。ここでは、ｎ＝１５とする。

【００６０】また、図５は原基板の構成を説明する概念
図であって、３５ａ，３５ｂは原基板識別符号、３６
ａ，３６ｂ，３６ｃ，３６ｄは基板部識別符号、図１，
図２と同一符号は同一部分に対応する。

【００６１】なお、原基板識別符号が３５ａ，３５ｂの
２つある理由は、原基板がまず２つに分割された場合
に、原基板識別符号３５ａ，３５ｂでそれぞれの基板を
管理できるようにするためである。

【００６２】例えば、原基板識別符号３５ａで基板部識
別符号３６ａ，３６ｂが管理され、上記２分割された基
板がさらに個々の基板部に分割された場合には、当該個
々の基板部はそれぞれ基板部識別符号３６ａあるいは３
６ｂで管理される。

【００６３】図４と図５において、検査手段３０は、前
の工程から渡された上原基板１および下原基板５のそれ
ぞれに形成された上基板部１ａ，１ｂ，１ｃ，１ｄおよ
び下基板部５ａ，５ｂ，５ｃ，５ｄの良否を検査する。

【００６４】識別符号読取手段３０ａは、当該上原基板
１および下原基板５のそれぞれに付された原基板識別符
号３５ａ，３５ｂとそれらの上基板部および下基板部に
付された基板識別符号３６ａ，３６ｂ，３６ｃ，３６ｄ
を読取って識別する。

【００６５】データ処理手段３１は、上記検査手段３０
と上記識別符号読取手段３０ａからの情報を処理して当
該上原基板１および下原基板５のそれぞれに形成されて
いる上基板部１ａ，１ｂ，１ｃ，１ｄおよび下基板部５
ａ，５ｂ，５ｃ，５ｄの良否を示すパターンからなる基
板の良否データを作成する。この良否は、図５に〇で示
したものが良品、×で示したものが不良品である。この
場合、良否パターンは、全て不良品の場合を除いて、１
５種となる。

【００６６】そして、良否データ管理手段３２は、上記
良否データを管理し、基板選別手段３３は、上記良否デ
ータ管理手段３２に格納された良否データに基づいて前
記上原基板１および下原基板５をその良否パターン毎に
選別する。

【００６７】そして、制御手段３４は、上記基板選別手
段３３からの基板の良否の問い合せに応じて、当該原基
板の選別情報を提供すると共に、上記各手段の動作を制
御する。

【００６８】これにより、上記検査データの良否パター
ン毎に前記上原基板１および下原基板５が分類選別さ
れ、選別されたパターンが一致する上原基板１と下原基
板５を対とし、以降の切断工程、液晶注入工程、封止工
程等を施す。

【００６９】なお、原基板を基板２枚分に２分割して検
査工程に渡す場合には、良否パターンは４種となり、原
基板選別種３３では４パターンに選別される。

【００７０】この場合、２分割された上下の分割原基板
を組合せた後、液晶の注入を行ってもよい。

【００７１】図６は本発明による液晶表示装置の製造装
置の１実施例のデータの流れを含む選別機構の要部説明
図であって、１（５）は上（下）原基板、２０は選別装
置、２１は選別ロボット、２２はビデオカメラ、２３は
文字認識装置、２４は制御装置、２５は良否データ管理
装置、２６はＬＡＮである。

【００７２】同図において、選別装置２０の前段階の検
査工程で検査された上下各原基板１，５に付与されてい
る原基板識別符号とそれらの基板部に付与されている基
板識別符号（図５参照）をビデオカメラ２２で読み取
る。

【００７３】上記原基板識別符号と基板識別符号は、文
字数字からなり、ビデオカメラ２２で読み取ったビデオ
信号からこれを文字認識装置２３で認識して制御装置２
４を介して良否データ管理装置に伝える。

【００７４】選別装置２０を流れる上下原基板１（５）
は選別ロボット２１に到る。制御装置は、当該上下原基
板１（５）の良否を良否データ管理装置２５に問い合わ
せる。問い合せを受けた良否データ管理装置２５は、当
該上下原基板１（５）の原基板識別符号と基板識別符号
と対応して保持している良否データを選別ロボット２１
に通知する。

【００７５】選別ロボット２１は通知された良否データ
に基づいて、到達した当該上下原基板１（５）をその良
否パターン毎に選別して１５とおりに分類選別する。

【００７６】なお、前記図２で説明した実施例に対応さ
せた場合には、選別装置２０を流れる原基板は基板２枚
分に分割された２分割原基板であり、その良否パターン
は４種となり、選別ロボット２１で分類選別される種類
は４とおりとなる。

【００７７】上記良否データ管理装置２５はＬＡＮ２６
に接続されており、複数の選別ラインを統括して管理す
る。

【００７８】このように、本実施例によれば、原基板の
良否選別を自動化することにより、上下の基板の組合せ
ミスを回避すると共に、作業能率と歩留りを向上させる
ことができる。

【００７９】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
原基板の検査情報に基づいて良品の上下基板を一対とし
て組み合わせる作業を自動化し、上下基板の選別組合せ
ミスを解消し作業能率と歩留りを向上させた液晶表示素
子の製造方法とこの液晶表示素子の製造方法を適用する
製造装置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による液晶表示素子の製造方法の１実施
例を説明する概念図である。

【図２】本発明による液晶表示素子の製造方法の他の実
施例を説明する概念図である。

【図３】液晶表示素子に対する液晶注入方法の説明図で
ある。

【図４】本発明による液晶表示装置の製造装置の１実施
例を説明するブロック図である。

【図５】原基板の構成を説明する概念図である。

【図６】本発明による液晶表示装置の製造装置の１実施
例のデータの流れを含む選別機構の要部説明図である。

【符号の説明】

１ 上原基板 １ａ，１ｂ，１ｃ，１ｄ 上基板部 ２ 検査工程 ２’ 上原基板完成検査工程 ３ パターン分類選別工程 ３’ パターン分類工程 ４ 切断工程 ４’ 切断工程（Ｉ） ４” 切断工程（II） ５ 下原基板 ５ａ，５ｂ，５ｃ，５ｄ 下基板部 ６ 検査工程 ６’ 下原基板完成検査工程 ７ パターン分類選別工程 ７’ パターン分類工程 ８ 切断工程 ８’ 切断工程（Ｉ） ９ 組合せ工程 １０ａ 上基板の検査データ １０ｂ 下基板の検査データ １１ データ処理装置 ２０ 選別装置 ２１ 選別ロボット ２２ ビデオカメラ ２３ 文字認識装置 ２４ 制御装置 ２５ 良否データ管理装置 ２６ ＬＡＮ ３０ 検査手段 ３０ａ 識別符号読取手段 ３１ データ処理手段 ３２ 良否データ管理手段 ３３ 原基板選別手段 ３４ 制御手段。 ３７，３８ 原基板識別符号読取工程 ５０ シール材 ５１ａ，５１ｂ，５１ｃ，５１ｄ 液晶注入口 ５２ 液晶容器 ５３ 液晶。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小川 進 千葉県茂原市早野3681番地 日立デバイス エンジニアリング株式会社内

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】１枚の原基板上に複数の上基板部を形成し
   た上原基板、および１枚の原基板上に複数の下基板部を
   形成した下原基板のそれぞれを分割して個別の上基板と
   下基板の対を得る工程を含む液晶表示素子の製造方法に
   おいて、 前工程から渡された上原基板および下原基板のそれぞれ
   に形成された上基板部および下基板部の各良否を検査し
   て、当該上原基板および下原基板に付された原基板識別
   記号および上記各基板部に付された基板識別符号に対応
   させてデータ処理を施して前記複数の上基板部と下基板
   部のそれぞれの良否パターン毎に分類した検査データを
   得、 上記検査データのパターン毎に前記上原基板および下原
   基板を分類選別した後、 前記上原基板および下原基板を個別の上基板および下基
   板に切断分離して個別の上基板と下基板の対を得る工程
   を含む液晶表示素子の製造方法。
2. 【請求項２】１枚の原基板上に複数の上基板部を形成し
   た上原基板、および１枚の原基板上に複数の下基板部を
   形成した下原基板のそれぞれを分割して個別の上基板と
   下基板の対を得る工程を含む液晶表示素子の製造装置に
   おいて、 前工程から渡された上原基板および下原基板のそれぞれ
   に形成された上基板部および下基板部の良否を検査する
   検査手段と、 当該上原基板および下原基板のそれぞれに付された原基
   板識別符号とそれらの上基板部および下基板部に付され
   た基板識別符号を識別する識別符号読取手段と、 上記検査手段と上記識別符号読取手段からの情報を処理
   して当該上原基板および下原基板のそれぞれに形成され
   ている上基板部および下基板部の良否を示すパターンか
   らなる基板の良否データを作成するデータ処理手段と、 上記良否データを管理する良否データ管理手段と、 上記良否データ管理手段に格納された良否データに基づ
   いて前記上原基板および下原基板をその良否パターン毎
   に選別する基板選別手段と、 上記基板選別手段からの基板の良否の問い合せに応じ
   て、当該原基板の選別情報を提供すると共に、上記各手
   段の動作を制御する制御手段とから構成され、 上記検査データのパターン毎に前記上原基板および下原
   基板を分類選別することを特徴とする液晶表示素子の製
   造装置。