JPH07272278A

JPH07272278A - デイジタルデータ記録方法、デイジタルデータ記録装置、デイジタルデータ再生方法及びデイジタルデータ再生装置

Info

Publication number: JPH07272278A
Application number: JP8763694A
Authority: JP
Inventors: Toshihiro Horigome; 俊宏堀籠
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1994-04-01
Filing date: 1994-04-01
Publication date: 1995-10-20

Abstract

(57)【要約】【目的】本発明は、デイジタルデータ記録方法、デイジ
タルデータ記録装置、デイジタルデータ再生方法及びデ
イジタルデータ再生装置について、多値記録時のマージ
ンのばらつきを有効に活用して記録密度を向上させると
同時に再生時の読出しの誤り率を低下させる。【構成】デイスク状記録媒体に形成されたピツトの立上
がりエツジ及び又は立下がりエツジを所定の刻み幅及び
刻み数で変調させてデイジタルデータを記録する際に、
立上がりエツジ及び又は立下がりエツジに生成された各
エツジ位置間の刻み幅を補正し、再生時には記録時に行
つた補正の特性に応じて逆変換する。これにより、多値
記録時のマージンのばらつきを有効に活用することがで
きるので、高密度記録を実現し得ると共に再生時の読出
しの誤り率を低下させることができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【目次】以下の順序で本発明を説明する。産業上の利用分野従来の技術発明が解決しようとする課題課題を解決するための手段（図２、図６、図８、図１
３）作用実施例（１）全体構成（図１）（２）第１実施例（図２〜図６）（３）第２実施例（図７〜図１３）発明の効果

【０００２】

【産業上の利用分野】本発明はデイジタルデータ記録方
法、デイジタルデータ記録装置、デイジタルデータ再生
方法及びデイジタルデータ再生装置に関し、例えばピツ
トの立上がりエツジ及び又は立下がりエツジを記録情報
に対応して所定の基準位置からステツプ状にシフトして
デイジタル情報を記録する際に適用し得る。

【０００３】

【従来の技術】従来、光デイスクにおいて、ピツトの立
上がりエツジ及び又は立下がりエツジを変調することに
よりデイジタル情報を記録するものがある。この場合情
報を高密度に記録するために、ピツトのエツジ位置を微
小に変調させると、出力される電気信号は時間的に非常
に短くなり、情報を読み出すことが困難になる。ここ
で、ピツトの立上がりエツジ及び又は立下がりエツジの
位置を記録情報に対応して所定の基準位置からステツプ
状にシフトして、デイジタル情報を記録する方法がある
（特願平３−１６７５８５号）。すなわちピツトのエツ
ジ位置を微小に変化させることにより多値記録を実現す
るものであり、このような記録方法によれば、ピツト長
及びピツトエツジの位置の変化を非常に高い精度で検出
することができるので、微小な変化で情報を記録するこ
とができ、一段と高密度に情報を記録することができ
る。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ところでこのような記
録方法でさらにデイスクの記録密度を高めるためにはピ
ツトを小さく成形する必要がある。ところがピツト成形
を小さくしていくに従つて、マスタリング等のデイスク
製作工程の条件で、マージンに余裕がなくなる。また上
述のような記録方法ではピツトのエツジ位置で変調して
いるので、１つのピツトを全体的に小さくしても、その
１つのピツト中に形成される各ピツトの大きさは異な
る。すなわち上述の記録方法では、例えば片方のエツジ
を８段階（最外側のエツジ位置を７、最内側のエツジ位
置を０とする）に変化させているので、各ピツトの大き
さはそれぞれ異なる。

【０００５】従つて１つのピツト自体を小さくしていく
に従つて、これらのピツトのうち小さいピツトは実体が
大きくなり、比較的大きいピツトに関しては実体はそれ
ほど大きくならずマージンに余裕があるという現象が発
生する。このような現象はマスタリングの限界近くにな
ると発生する。従つてピツト７をピツト６と読み間違う
確率と、ピツト１をピツト０と読み間違う確率は必ずし
も同じではない。すなわちピツトが短い場合にはエラー
レートが高く、ピツトが長いほどエラーレートは低いと
考えられる。このような場合従来においては、読み誤る
確率が最も高い部分がシステムに要求される誤り率より
低くなるまで、記録密度を下げなければならなかつた。
すなわち高密度記録と低誤り率を両立することができな
いという問題があつた。

【０００６】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、多値記録時のマージンのばらつきを有効に活用して
記録密度を向上させると同時に、再生時の読出しの誤り
率を低下させるデイジタルデータ記録方法、デイジタル
データ記録装置、デイジタルデータ再生方法及びデイジ
タルデータ再生装置を提案しようとするものである。

【０００７】

【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、デイスク状記録媒体に形成された
ピツトの立上がりエツジ及び又は立下がりエツジを所定
の刻み幅及び刻み数で変調させてデイジタルデータを記
録するデイジタルデータ記録方法において、デイジタル
データを、変調すべき刻み数を表すビツト数に変換し、
当該刻み数に応じたビツト数で表されるデイジタルデー
タを、変調されて立上がりエツジ及び又は立下がりエツ
ジに生成された各エツジ位置に割り当て、立上がりエツ
ジ及び又は立下がりエツジに生成された各エツジ位置間
の刻み幅を補正するようにした。

【０００８】また本発明においては、デイスク状記録媒
体に形成されたピツトの立上がりエツジ及び又は立下が
りエツジを所定の刻み幅及び刻み数で変調させてデイジ
タルデータを記録するデイジタルデータ記録装置（２
０、４０）において、デイジタルデータを、変調すべき
刻み数を表すビツト数に変換するデータ変換手段（５）
と、当該刻み数に応じたビツト数で表されるデイジタル
データを、変調されて立上がりエツジ及び又は立下がり
エツジに生成された各エツジ位置に割り当てるエツジ位
置計算手段（７Ａ、７Ｂ）と、立上がりエツジ及び又は
立下がりエツジに生成された各エツジ位置間の刻み幅を
補正する補正手段（８、８Ａ、８Ｂ）とを設けるように
した。

【０００９】また本発明においては、所定の刻み幅及び
刻み数で変調されたピツトの立上がりエツジ及び又は立
下がりエツジに生成された各エツジ位置間の刻み幅が補
正されてデイジタルデータが記録されたデイスク状記録
媒体を再生するデイジタルデータ再生方法において、記
録時に補正された刻み幅を逆補正してから再生するよう
にした。

【００１０】また本発明においては、所定の刻み幅及び
刻み数で変調されたピツトの立上がりエツジ及び又は立
下がりエツジに生成された各エツジ位置間の刻み幅が補
正されてデイジタルデータが記録されたデイスク状記録
媒体を再生するデイジタルデータ再生装置（３０、５
０）において、記録時に補正された刻み幅を逆補正する
逆補正手段（１４、１４Ａ、１４Ｂ）を設けるようにし
た。

【００１１】

【作用】デイスク状記録媒体に形成されたピツトの立上
がりエツジ及び又は立下がりエツジを所定の刻み幅及び
刻み数で変調させてデイジタルデータを記録する際に、
立上がりエツジ及び又は立下がりエツジに生成された各
エツジ位置間の刻み幅を補正し、再生時には記録時に行
つた補正の特性に応じて逆変換する。これにより、多値
記録時のマージンのばらつきを有効に活用することがで
きるので、高密度記録を実現し得ると共に再生時の読出
しの誤り率を低下させることができる。

【００１２】

【実施例】以下図面について、本発明の一実施例を詳述
する。

【００１３】（１）全体構成図１において、１は全体として本発明によるデイジタル
データ記録方法によりデイジタルデータを記録して光磁
気デイスクを製造し、当該光磁気デイスクを再生するま
での全体の系を示す全体構成を示す。エンコーダ部２は
誤り訂正符号化回路(error correcting code、ＥＣＣ回
路）４、３ビツト単位変換回路５、シテム制御信号付加
回路６、記録エツジ位置計算回路７、記録時補正回路８
及びエツジ変調回路９より構成されている。またデコー
ダ部３はアンプ１０、アナログデイジタル変換器（Ａ／
Ｄ変換器）１１、バイアス除去回路１２、自動利得制御
回路（automatic gain control、ＡＧＣ回路）１３、再
生時逆補正回路１４、データ読出し回路１５、８ビツト
単位変換回路１６及び誤り訂正符号化回路（ＥＣＣ回
路）１７より構成されている。

【００１４】エンコーダ部２に入力された８ビツト単位
のデイジタルデータはＥＣＣ回路４で誤り訂正符号が付
され、３ビツト単位変換回路５で３ビツト単位毎のデー
タに変換される。３ビツト単位に変換されたデータは３
ビツト単位変換回路５より時分割で送出され、各データ
が送出される毎に、ＲＯＭ（read only memory）でなる
システム制御信号付加回路６よりシステム制御信号が挿
入されて記録エツジ位置計算回路７に送出される。記録
エツジ位置計算回路７では、この３ビツト単位のデータ
を、立上がりエツジ及び立下がりエツジのそれぞれに等
間隔に配置された８段階のエツジ位置に割り当て、ピツ
トのエツジ位置を表す８ビツトの記録位置データが記録
時補正回路８に出力される。

【００１５】記録時補正回路８では、第１実施例の場
合、ピツトの立上がりエツジ及び立下がりエツジの双方
を考慮してピツトの長さを基準にエツジ位置を補正す
る。すなわちピツトの長さが短くなるに従つてエツジ位
置間の刻み幅を拡大するように補正してエツジ位置を決
める。また第２実施例の場合には、それぞれ立上がりエ
ツジ及び立下がりエツジの片方のエツジ位置の値からそ
のエツジ毎の補正量を決めてエツジ位置を決める。この
ようにして補正された８ビツトの記録位置情報はエツジ
変調回路９でアナログ信号に変換された後、カツテイン
グマシン（図示せず）に送出される。

【００１６】カツテイングマシンではこのデータに基づ
いてデイスクのマスタ盤にピツトを成形し、図１に示す
ように現像、めつき、転写、アルミニウム蒸着及び保護
膜の塗布のマスタリングプロセスを経てデイスクが製造
される。

【００１７】このようにして製造されたデイスクを再生
する際には、当該デイスクより得られるアナログ再生信
号をデコーダ部３のアンプ１０で増幅してＡ／Ｄ変換器
１１でデイジタル信号に変換した後、バイアス除去回路
１２でバイアスを除去し、ＡＧＣ回路１３で出力がほぼ
一定となるように利得が制御される。ＡＧＣ回路１３よ
り出力されたデイジタルのＲＦ信号は立上がりエツジの
データ及び立下がりエツジのデータに分けられて再生時
逆補正回路１４に入力する。

【００１８】再生時逆補正回路１４では、第１の実施例
及び第２の実施例のいずれの場合でも、記録時にかけた
補正の特性に応じて逆変換を行い、８ビツトの記録位置
データをデータ読出し回路１５に出力する。データ読出
し回路１５ではそれぞれのデータが８段階のエツジのど
れに当たるかを判断して３ビツト単位のデータに変換
し、３ビツト単位に変換されたデータは８ビツト単位変
換回路１６で８ビツト単位のデータに変換された後、Ｅ
ＣＣ回路１７で誤り訂正が行われて情報データとして出
力される。

【００１９】（２）第１実施例図１との対応部分に同一符号を付して示す図２におい
て、２０は全体として本発明の第１実施例によるエンコ
ーダ部を示す。この第１実施例においては、図２に示す
ように、記録エツジ位置計算回路７は立上がりエツジ位
置計算回路７Ａ及び立下がりエツジ位置計算回路７Ｂで
なり、それぞれＲＯＭで構成されている。各エツジ位置
計算回路７Ａ及び７Ｂに入力した３ビツト単位のデイジ
タルデータは８段階のエツジ位置に割り当てられる。こ
こでピツトのエツジ位置は８ビツトで表され、この段階
では０〜225 の 256種類の数字のうち８種類の数字だけ
が現れる。立上がりエツジ位置計算回路７Ａ及び立下が
りエツジ位置計算回路７Ｂより出力される８ビツトの記
録位置データは記録時補正回路８に入力される。

【００２０】記録時補正回路８は８ビツト64ｋワードの
容量を有するＲＯＭで構成され、立上がりエツジ及び立
下がりエツジの各エツジ位置を、各エツジ位置によつて
規定される最長ピツト及び最短ピツトの位置及び長さが
変わらないように補正する。この補正の内容を以下に説
明する。まずピツトの空間的な座標を図３に示す。ピツ
トの立上がりエツジをＸ_r、ピツトの立下がりエツジを
Ｘ_fとする。この実施例の場合、上述のように立上がり
エツジ及び立下がりエツジにそれぞれ等間隔で８段階の
エツジ位置があるのでＸ_r＝Ｘ_r0〜Ｘ_r7、Ｘ_f＝Ｘ_f0〜
Ｘ_f7となり、これらを図３に示すように定める。従つて
ピツトの長さＰは、立下がりエツジの位置Ｘ_fから立上
がりエツジの位置Ｘ_rを引くことにより算出することが
できる。すなわちＰ_mn＝Ｘ_rm−Ｘ_fnで表すことができ、
各ピツチの関係は図４に示すようになる。

【００２１】ここで説明を簡単化するために、ピツトの
短さに比例してピツト成形のばらつきが大きくなると仮
定すると、エツジ位置の補正量はピツトの短さの２乗に
比例すると考えられる。ここで対象となるピツトをＰと
すると、このような補正は次式（１）、（２）及び
（３）式によつて行うことができる。

【数１】

【数２】

【数３】

【００２２】ここでＰ₇₇は立下がりエツジがＸ_f7で立上
がりエツジがＸ_r7の最長のピツトである。（１）式は、
ピツトＰの立上がりエツジに関して、最長ピツトＰ₇₇の
長さと対象となるピツトＰの長さとの差分を求め、求め
られた値の２乗に比例した値に係数Ａを乗じた値が補正
量となり、この値をピツトＰの立上がりエツジの値Ｘ _r
に加えた値が補正後のピツトＰの立上がりエツジの値Ｘ
_r′であることを表している。同様に（２）式は、ピツ
トＰの立下がりエツジ位置に関して、最長ピツトＰ₇₇の
長さとピツトＰの長さとの差分を求め、求められた値の
２乗に比例した値に係数Ａを乗じた値が補正量となり、
この値をピツトＰの立下がりエツジの値Ｘ_fから減じた
値が補正後のピツトＰの立下がりエツジの値Ｘ_f′であ
ることを表している。

【００２３】ところが上述の（１）式及び（２）式で
は、最長ピツトＰ₇₇を基準にしているので最長ピツトＰ
₇₇の位置及び長さは変わらないが、最短ピツトＰ₀₀は一
段と小さくなつてしまう。そこで（１）、（２）及び
（３）式で変換した値をさらに次式（４）及び（５）で
変換する。

【数４】

【数５】

【００２４】ここでＹ_r及びＹ_fは（１）式及び（２）
式で変換した値をさらに変換した後のピツトＰの立上が
りエツジのエツジ位置及び立下がりエツジのエツジ位置
を表し、記録時補正回路８より出力されるデータであ
る。Ｐ′は（１）式及び（２）式で変換した後のピツト
Ｐの長さ、すなわち（１）式及び（２）式で変換した後
のピツトＰの立下がりエツジ位置Ｘ_f′及び立上がりエ
ツジ位置Ｘ_r′より得られるピツトＰの長さを表す。従
つて（４）式は、最長ピツトＰ₇₇と変換後のピツトＰの
長さＰ′との差分を求め、求められた値に係数Ｂを乗じ
た値を（１）式で求めたピツトＰの変換後の立上がりエ
ツジの値Ｘ_r′から減じた値が再変換後のピツトＰの立
上がりエツジの値Ｙ_rであることを表している。

【００２５】同様に（５）式は、最長ピツトＰ₇₇と変換
後のピツトＰの長さＰ′との差分を求め、求められた値
に係数Ｂを乗じた値に、（２）式で求めたピツトＰの変
換後の立下がりエツジの値Ｘ_f′を加えた値が再変換後
のピツトＰの立下がりエツジの値Ｙ_fであることを表し
ている。ここで最短ピツトＰ₀₀の位置及び長さが変わら
ないように係数Ｂを選択すると、係数Ｂは次式（６）に
よつて表される。

【数６】

【００２６】（１）式、（２）式、（３）式及び（６）
式を（４）式及び（５）式に代入することにより、次式
（７）及び（８）を得ることができる。

【数７】

【数８】この（７）式及び（８）式は変換全体を表す式であり、
記録時補正回路８のＲＯＭに格納されている。

【００２７】このように（７）式及び（８）式で変換し
た後の各ピツトの位置をプロツトすると図５に示すよう
に表される。すなわち図５から理解できるように、第１
実施例においては、例えば、ピツト（Ｘ_r0、Ｘ_f0）とピ
ツト（Ｘ_r1、Ｘ_f1）との間は大きく変調させ、ピツト
（Ｘ_r6、Ｘ_f6）とピツト（Ｘ_r7、Ｘ_f7）との間は少しだ
け変調させるというように、各ピツトの長さに応じて変
調量を変えている。従つて各ピツト間の間隔は等間隔で
はなく、各エツジ位置によつて規定されるピツトが長く
なればなるほどピツト間の間隔は狭くなり、短くなれば
なるほどピツト間の間隔は広くなる。これによりマージ
ンのばらつきを有効に活用することができる。

【００２８】上述の方法によりエツジが変調されたデイ
スクを再生する場合について、以下に説明する。図１と
の対応部分に同一符号を付して示す図６において、３０
は全体として本発明の第１実施例によるデーコダ部を示
す。図６に示すように、ＡＧＣ回路１３より出力された
デイジタルのＲＦ信号は、立上がりラツチ回路１８Ａ及
び立下がりラツチ回路１８Ｂで立上がりエツジのデータ
及び立下がりエツジのデータとに分けられてラツチさ
れ、それぞれ再生時逆補正回路１４に入力する。

【００２９】再生時逆補正回路１４は記録時にかけた補
正の特性に応じた逆変換を行うためのマツプを格納する
ＲＯＭで構成されている。この再生時逆補正回路１４に
入力する入力信号を図７に示し、これは、図３の記録時
補正を行うＲＯＭの出力信号と座標のとり方が異なる。
従つて逆変換を計算するには、まず再生時逆補正回路１
４に入力する入力信号の座標を変換する必要がある。こ
れは次式（９）及び（10）によつて行われる。

【数９】

【数１０】ここで座標のとりかたは、ハードの構成によるもので、
座標のとりかたはどちらからとつてもよい。

【００３０】こうして得られたＹ_r及びＹ_fについて、
（７）式及び（８）式を逆変換する。逆変換は次式（1
1）及び（12）によつて表される。

【数１１】

【数１２】（11）式及び（12）式に（９）式及び（10）式を代入す
ると、次式（13）及び（14）が得られる。

【数１３】

【数１４】この（13）式及び（14）式で表されるマツプが再生時逆
補正回路１４のＲＯＭに格納されている。逆変換後、Ｒ
Ｆ信号は３ビツト単位変換回路１５Ａ及び１５Ｂに出力
され、３ビツト単位変換回路１５Ａ及び１５Ｂでは各デ
ータが８段階のエツジ位置のどのエツジ位置に該当する
かを判断して３ビツト単位に変換した後、８ビツト単位
変換回路１６に信号を出力する。

【００３１】以上の構成によれば、立上がりエツジ及び
立下がりエツジの各エツジ位置によつて規定される最短
ピツト及び最長ピツトの位置及び長さを変えずに、各エ
ツジ位置によつて規定されるピツトの長さが短くなれば
なるほど隣接するピツトとの間隔が広くなるように各エ
ツジ位置間の刻み幅を２次関数で補正しているので、マ
ージンのばらつきを有効に活用することができる。すな
わち第１実施例の場合、エツジ位置によつて規定される
ピツトの長さが短くなるに従つてエツジ位置間の刻み幅
が大きくなるように補正し、再生時には記録時にかけた
補正の特性に応じた逆変換を行つたことにより、マージ
ンのばらつきを有効に活用できるので、高密度記録及び
低誤り率を両立させることができる。

【００３２】（３）第２実施例図２との対応部分に同一符号を付して示す図８におい
て、４０は全体として本発明の第２実施例によるエンコ
ーダ部を示し、記録時補正回路８は立上がりエツジ位置
補正回路８Ａ及び立下がりエツジ位置補正回路８Ｂより
構成されている。各補正回路８Ａ及び８ＢにはＲＯＭが
設置されており、その容量は８ビツト 256ワードと第１
実施例の記録時補正回路８に比してＲＯＭの容量が小さ
い。

【００３３】第１実施例では、ピツトの両端のエツジの
値から記録時補正量を決めていたが、第２実施例では、
片側のエツジの値からそのエツジ位置毎の補正量を決め
る。このため、補正量の計算に必要なＲＯＭの容量が上
述のように第１実施例より小さい。以下では立下がりエ
ツジに生成されたエツジ位置の補正について説明する。

【００３４】図９に示すように、立下がりエツジ位置補
正回路８Ｂには、エツジ位置計算回路７Ｂより出力され
る８ビツトのデータＸが入力され、当該計算回路７Ｂか
ら８ビツトのデータＹが出力される。この場合Ｘのとり
得る数字は図１０に示すように０〜 255の数字のうち８
つの数字だけであり、これらの８つの数字は等差数列に
なつており、ピツトの立下がりエツジの位置を表してい
る。ここで入力データＸと出力データＹとは１対１に対
応しており、その関係は次式（15）で表される。

【数１５】

【００３５】この（15）式において定数Ａ、Ｂ及びＣを
以下のように決定する。すなわちまずピツトに生成され
たエツジ位置Ｘ₀〜Ｘ₇のうち、最短ピツトと最長ピツ
トを規定するエツジ位置Ｘ₀及びＸ₇間の長さ及び位置
が補正によつて変わらないように、次式（16）及び（1
7）の条件を与える。

【数１６】

【数１７】ここでＹ₇は補正後の最長ピツトの値、Ｙ₀は補正後の
最短ピツトの値である。この（16）式及び（17）式よ
り、次式（18）及び（19）を得ることができる。

【数１８】

【数１９】

【００３６】この（18）式及び（19）式を（15）式に代
入すると、次式（20）を得ることができる。

【数２０】この（20）式をＸで微分して次式（21）を得る。

【数２１】Ｘ₀＜Ｘ＜Ｘ₇でＹはＸに対して単調増加なので、この
Ｘ₀＜Ｘ＜Ｘ₇の区間でＹ′＞０、すなわち次式（22）
となる。

【数２２】

【００３７】ピツトが長くなるに従つてエツジの変化幅
が小さくなるようにするには、Ｘ₀＜Ｘ＜Ｘ₇でＹ″＜
０、すなわち次式（23）を満たす定数Ａを選択すればよ
い。

【数２３】Ａ＝０のときはＹ＝Ｘとなり、補正をかけることはでき
ない。またＡが負の方向に大きくなればなるほど補正が
きつくかかることになる。すなわちＸ_r及びＸ_fの位置
関係が図１１に示すように表されているとき、Ｘ_r及び
Ｘ_fを（15）式で変換した後の値Ｙ_r及びＹ_fの位置関
係は図１２に示すように表される。このようにして入力
データＸに補正をかけて得られる出力データＹは図８に
示すように、エツジ変調回路９に出力される。

【００３８】一方、再生時には記録時と逆の変換を行
う。図６との対応部分に同一符号を付して示す図１３に
おいて、５０は全体として本発明の第２実施例によるデ
コーダ部を示し、再生時逆補正回路１４は立上がりエツ
ジ位置逆補正回路１４Ａ及び立下がりエツジ位置逆補正
回路１４Ｂでなり、それぞれＲＯＭで構成されている。
立下がりエツジ位置逆補正回路１４Ｂでは、記録時と逆
の変換が行われる。すなわち逆変換を求めるには、（1
5）式をＸについて書き直せばよい。すなわち逆変換を
表す式は次式（24）で表すことができる。

【数２４】（24）式において、Ｂ及びＣはそれぞれ（18）及び（1
9）式で表すことができる。この（24）式で表されるマ
ツプを立下がりエツジ位置逆補正回路１４ＢのＲＯＭに
格納する。以上、立上がりエツジのエツジ位置の補正に
ついて述べたが、立上がりエツジのエツジ位置の補正に
ついても、上述のように行う。

【００３９】以上の構成によれば、片方のエツジがＸ₀
〜Ｘ₇まで変化するときに、これらのエツジ位置Ｘ₀〜
Ｘ₇のうち最短ピツト及び最長ピツトを規定するエツジ
位置Ｘ₀及びＸ₇の位置とＸ₀及びＸ₇間の長さとを変
えずに、これらのエツジ位置Ｘ₀〜Ｘ₇が規定するピツ
トの長さが短くなればなるほど隣接するピツトとの間隔
が広くなるように各エツジ位置間の刻み幅を２次関数で
補正しているので、マージンのばらつきを有効に活用す
ることができる。すなわち第２実施例の場合、立上がり
エツジ及び立下がりエツジ毎に、各エツジの値からその
エツジ位置毎の補正量を決めて補正し、再生時には記録
時にかけた補正の特性に応じて逆変換を行つたことによ
り、マージンのばらつきを有効に活用できるので、高密
度記録及び低誤り率を両立させることができる。

【００４０】また上述の構成によれば、立上がりエツジ
及び立下がりエツジ毎に、それぞれのエツジ位置毎の補
正量を決めているので、立下がりエツジ位置補正回路８
Ａ及び８ＢのＲＯＭの容量を第１実施例の記録時補正回
路８に比して小さくすることができる。

【００４１】なお上述の実施例においては、立上がりエ
ツジ及び立下がりエツジの双方が変調されている場合に
ついて述べたが、本発明はこれに限らず立上がりエツジ
又は立下がりエツジのいずれか一方だけが変調されてい
る場合にも適用し得る。

【００４２】また上述の実施例においては、再生時に、
記録時にかけた補正の特性に応じて逆変換した場合につ
いて述べたが、本発明はこれに限らず、記録時にかけた
補正を逆変換せずに３ビツト単位変換回路１５Ａ及び１
５ＢにＲＦ信号を送出するようにしてもよい。

【００４３】また上述の実施例においては、３ビツトで
デイジタルデータを記録した場合について述べたが、本
発明はこれに限らず、４ビツト以上の多値で記録するよ
うにしてもよい。

【００４４】また上述の実施例においては、各ピツトを
２次関数で補正した場合について述べたが、本発明はこ
れに限らず、各エツジ位置によつて規定されるピツトの
長さが短くなるに従つて、各エツジ位置間の刻み幅が大
きくなるように非線形的に補正すれば、３次関数等で補
正してもよい。

【００４５】

【発明の効果】上述のように本発明によれば、デイスク
状記録媒体に形成されたピツトの立上がりエツジ及び又
は立下がりエツジを所定の刻み幅及び刻み数で変調させ
てデイジタルデータを記録する際に、立上がりエツジ及
び又は立下がりエツジに生成された各エツジ位置間の刻
み幅を補正し、再生時には記録時に行つた補正の特性に
応じて逆変換したことにより、多値記録時のマージンの
ばらつきを有効に活用することができるので、高密度記
録を実現し得ると共に再生時の読出しの誤り率を低下さ
せることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明によるデイジタルデータ記録方法により
デイジタルデータを記録して光磁気デイスクを製造し、
当該光磁気デイスクを再生するまでの全体の系を示すブ
ロツク図である。

【図２】本発明の第１実施例によるエンコーダ部の構成
を示すブロツク図である。

【図３】ピツトの空間的な座標を示す略線図である。

【図４】補正前の各ピツトの位置関係を示す略線図であ
る。

【図５】補正後の各ピツトの位置関係を示す略線図であ
る。

【図６】本発明の第１実施例によるデコーダ部の構成を
示すブロツク図である。

【図７】逆変換時のピツトの空間的な座標を示す略線図
である。

【図８】本発明の第２実施例によるエンコーダ部の構成
を示すブロツク図である。

【図９】立下がりエツジ位置補正回路に入力するデータ
Ｘ及び補正をかけられた出力データＹを示す略線図であ
る。

【図１０】立下がりエツジのエツジ位置を表す略線図で
ある。

【図１１】補正前の各ピツトの位置関係を示す略線図で
ある。

【図１２】補正後の各ピツチの位置関係を示す略線図で
ある。

【図１３】本発明の第２実施例によるデコーダ部の構成
を示すブロツク図である。

【符号の説明】

１……本発明によるシステムの全体構成、２、２０、４
０……エンコーダ部、３、３０、５０……デコーダ部、
４、１７……誤り訂正符号化回路（ＥＣＣ回路）、５…
…３ビツト単位変換回路、６……システム制御信号付加
回路、７……記録エツジ位置計算回路、７Ａ……立上が
りエツジ位置計算回路、７Ｂ……立下がりエツジ位置計
算回路、８……記録時補正回路、８Ａ……立上がりエツ
ジ位置補正回路、８Ｂ……立下がりエツジ位置補正回
路、９……エツジ変調回路、１０……アンプ、１１……
アナログデイジタル変換回路（Ａ／Ｄ変換回路）、１２
……バイアス除去回路、１３……自動利得制御回路（Ａ
ＧＣ回路）、１４……再生時逆補正回路、１４Ａ……立
上がりエツジ位置逆補正回路、１４Ｂ……立下がりエツ
ジ位置逆補正回路、１５……データ読出し回路、１５
Ａ、１５Ｂ……３ビツト単位変換回路、１６……８ビツ
ト単位変換回路、１８Ａ……立上がりラツチ回路、１８
Ｂ……立下がりラツチ回路。

─────────────────────────────────────────────────────

【手続補正書】

【提出日】平成６年９月６日

【手続補正１】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】特許請求の範囲

【補正方法】変更

【補正内容】

【特許請求の範囲】

【手続補正２】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】０００４

【補正方法】変更

【補正内容】

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ところでこのような記
録方法でさらにデイスクの記録密度を高めるためにはピ
ツトを小さく成形する必要がある。ところがマスタリン
グ等のデイスク製作行程では、ピツトが小さいほど成形
が困難になり、期待通りのピツトが作れなくなる。すな
わち、小さいピツトほどジツタが大きくなる。また上述
のような記録方式では、ピツトのエツジ位置を変調して
いるので、デイスクに記録すべきピツトの大きさは一様
ではない。

【手続補正３】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】０００５

【補正方法】変更

【補正内容】

【０００５】従つてデイスクに記録する全ピツトを一様
に小さくしていくと、これらのピツトのうちで比較的小
さいピツトはジツタが大きく、比較的大きいピツトはジ
ツタが小さいという現象が発生する。このような現象は
デイスク製作行程の限界に近い小さいピツトを作ろうと
した場合に起こる。従つて例えばピツトの大きさを数字
で表した場合、ピツト７とピツト６とを読み間違う確率
と、ピツト１とピツト０とを読み間違う確率は必ずしも
同じではない。すなわちピツトが短い場合には誤り率が
高く、ピツトが長いほど誤り率は低いと考えられる。こ
のような場合従来においては、読み誤る確率が最も高い
部分がシステムに要求される誤り率より低くなるまで、
記録密度を下げなければならなかつた。すなわち高密度
記録と低誤り率を両立することができないという問題が
あつた。

【手続補正４】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００１３

【補正方法】変更

【補正内容】

【００１３】（１）全体構成図１において、１は全体として本発明によるデイジタル
データ記録方法によりデイジタルデータを記録して光磁
気デイスクを製造し、当該光磁気デイスクを再生するま
での全休の系を示す全体構成を示す。エンコーダ部２は
誤り訂正符号化回路（ｅｒｒｏｒｃｏｒｒｅｃｔｉｎ
ｇｃｏｄｅ、ＥＣＣ回路）４、３ビツト単位変換回路
５、システム制御信号付加回路６、記録エツジ位置計算
回路７、記録時補正回路８及びエツジ変調回路９より構
成されている。またデコーダ部３はアンプ１０、アナロ
グデイジタル変換器（Ａ／Ｄ変換器）１１、バイアス除
去回路１２、自動利得制御回路（ａｕｔｏｍａｔｉｃ
ｇａｉｎｃｏｎｔｒｏｌ、ＡＧＣ回路）１３、再生時
逆補正回路１４、データ読出し回路１５、８ビツト単位
変換回路１６及び誤り訂正符号化回路（ＥＣＣ回路）１
７より構成されている。

【手続補正５】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００１６

【補正方法】変更

【補正内容】

【００１６】カツテイングマシンではこのデータに基づ
いてデイスクのマスタ盤にピツトを成形し、図１に示す
ように現像、メツキ、転写、アルミニウム蒸着及び保護
膜の塗布のマスタリングプロセスを経てデイスクが製造
される。

【手続補正６】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】図５

【補正方法】変更

【補正内容】

【図５】

【手続補正７】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】図７

【補正方法】変更

【補正内容】

【図７】

【手続補正８】

【補正対象書類名】図面

【補正対象項目名】図１０

【補正方法】変更

【補正内容】

【図１０】

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】デイスク状記録媒体に形成されたピツトの
立上がりエツジ及び又は立下がりエツジを所定の刻み幅
及び刻み数で変調させてデイジタルデータを記録するデ
イジタルデータ記録方法において、上記デイジタルデータを、変調すべき上記刻み数を表す
ビツト数に変換し、当該刻み数に応じたビツト数で表されるデイジタルデー
タを、上記変調されて上記立上がりエツジ及び又は立下
がりエツジに生成された各エツジ位置に割り当て、上記立上がりエツジ及び又は上記立下がりエツジに生成
された上記各エツジ位置間の刻み幅を補正することを特
徴とするデイジタルデータ記録方法。
【請求項２】上記立上がりエツジ及び又は立下がりエツ
ジに生成された上記各エツジ位置間の刻み幅は、上記立
上がりエツジ及び又は立下がりエツジの上記各エツジ位
置によつて規定されるピツトのうち最長ピツト及び最短
ピツトの長さ及び位置を変えずに、上記立上がりエツジ
及び又は立下がりエツジの上記各エツジ位置によつて規
定されるピツトの長さが短くなるに従つて大きくなるよ
うに非線形的に補正されることを特徴とする請求項１に
記載のデイジタルデータ記録方法。
【請求項３】上記立上がりエツジ及び又は立下がりエツ
ジに生成された上記各エツジ位置間の刻み幅は、上記各
エツジ位置が生成された上記立上がりエツジ及び又は立
下がりエツジにおいて、上記各エツジ位置のうち最長ピ
ツト及び最短ピツトを規定するエツジ位置間の長さ及び
位置を変えずに、上記各エツジ位置が生成された上記立
上がりエツジ及び又は立下がりエツジの各エツジ位置よ
つて規定されるピツトの長さが短くなるに従つて大きく
なるように非線形的に補正されることを特徴とする請求
項１に記載のデイジタルデータ記録方法。
【請求項４】上記立上がりエツジ及び又は立下がりエツ
ジに生成された上記各エツジ位置間の刻み幅は、２次関
数で補正されることを特徴とする請求項２又は請求項３
に記載のデイジタルデータ記録方法。
【請求項５】デイスク状記録媒体に形成されたピツトの
立上がりエツジ及び又は立下がりエツジを所定の刻み幅
及び刻み数で変調させてデイジタルデータを記録するデ
イジタルデータ記録装置において、上記デイジタルデータを、変調すべき上記刻み数を表す
ビツト数に変換するデータ変換手段と、当該刻み数に応じたビツト数で表されるデイジタルデー
タを、上記変調されて上記立上がりエツジ及び又は立下
がりエツジに生成された各エツジ位置に割り当てるエツ
ジ位置計算手段と、上記立上がりエツジ及び又は上記立下がりエツジに生成
された上記各エツジ位置間の刻み幅を補正する補正手段
とを具えることを特徴とするデイジタルデータ記録装
置。
【請求項６】上記補正手段は、上記立上がりエツジ及び
又は立下がりエツジに生成された上記各エツジ位置間の
刻み幅を、上記立上がりエツジ及び又は立下がりエツジ
の上記各エツジ位置によつて規定されるピツトのうち最
長ピツト及び最短ピツトの長さ及び位置を変えずに、上
記立上がりエツジ及び又は立下がりエツジの上記各エツ
ジ位置によつて規定されるピツトの長さが短くなるに従
つて大きくなるように非線形的に補正することを特徴と
する請求項５に記載のデイジタルデータ記録装置。
【請求項７】上記補正手段は、上記立上がりエツジ及び
又は立下がりエツジに生成された上記各エツジ位置間の
刻み幅を、上記各エツジ位置が生成された上記立上がり
エツジ及び又は立下がりエツジにおいて、上記各エツジ
位置のうち最長ピツト及び最短ピツトを規定するエツジ
位置間の長さ及び位置を変えずに、上記各エツジ位置が
生成された上記立上がりエツジ及び又は立下がりエツジ
の各エツジ位置によつて規定されるピツトの長さが大き
くなるように非線形的に補正することを特徴とする請求
項５に記載のデイジタルデータ記録装置。
【請求項８】上記補正手段は、上記立上がりエツジ及び
又は立下がりエツジに生成された上記各エツジ位置間の
刻み幅を２次関数で補正することを特徴とする請求項６
又は請求項７に記載のデイジタルデータ記録装置。
【請求項９】所定の刻み幅及び刻み数で変調されたピツ
トの立上がりエツジ及び又は立下がりエツジに生成され
た各エツジ位置間の刻み幅が補正されてデイジタルデー
タが記録されたデイスク状記録媒体を再生するデイジタ
ルデータ再生方法において、記録時に補正された上記刻み幅を逆補正してから再生す
るようにしたことを特徴とするデイジタルデータ再生方
法。
【請求項１０】上記各エツジ位置間の刻み幅の補正が２
次関数で補正されている場合には、２次関数の特性に応
じて逆補正するようにしたことを特徴とする請求項９に
記載のデイジタルデータ再生方法。
【請求項１１】所定の刻み幅及び刻み数で変調されたピ
ツトの立上がりエツジ及び又は立下がりエツジに生成さ
れた各エツジ位置間の刻み幅が補正されてデイジタルデ
ータが記録されたデイスク状記録媒体を再生するデイジ
タルデータ再生装置において、記録時に補正された上記刻み幅を逆補正する逆補正手段
を具えることを特徴とするデイジタルデータ再生装置。
【請求項１２】上記各エツジ位置間の刻み幅の補正が２
次関数で補正されている場合には、上記逆補正手段は上
記２次関数の特性に応じて逆補正することを特徴とする
請求項１１に記載のデイジタルデータ再生装置。