JPH07260650A - 電子顕微鏡用試料作製装置 - Google Patents

電子顕微鏡用試料作製装置

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Publication number
JPH07260650A
JPH07260650A JP5045794A JP5045794A JPH07260650A JP H07260650 A JPH07260650 A JP H07260650A JP 5045794 A JP5045794 A JP 5045794A JP 5045794 A JP5045794 A JP 5045794A JP H07260650 A JPH07260650 A JP H07260650A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
contact
sample
arm
electric contact
electric
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5045794A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoriaki Nagahama
長浜自明
Motohisa Kasahara
笠原素久
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
OYO GIJUTSU KENKYUSHO KK
Application Art Laboratories Co Ltd
Original Assignee
OYO GIJUTSU KENKYUSHO KK
Application Art Laboratories Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by OYO GIJUTSU KENKYUSHO KK, Application Art Laboratories Co Ltd filed Critical OYO GIJUTSU KENKYUSHO KK
Priority to JP5045794A priority Critical patent/JPH07260650A/ja
Publication of JPH07260650A publication Critical patent/JPH07260650A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Automatic Control Of Machine Tools (AREA)
  • Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 加工停止位置を決める際の基準となる位置の
設定を高精度で個人差のないものとする。 【構成】 工具が取り付けられ、上下方向に回動可能な
アームと、アームの先端に取り付けられた電気接点と、
該電気接点に対向した基準位置設定用の電気接点とを備
え、両電気接点の接触により試料下降停止位置を設定す
るようにした電子顕微鏡用試料作製装置において、基準
位置設定用の電気接点を移動させる移動手段と、該移動
手段による移動量を検出して表示する移動量表示手段と
を備え、前記移動量表示手段は両電気接点が非接触にな
った時リセットされることを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は電子顕微鏡用の試料作製
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、透過電子顕微鏡用試料作製のた
め、機械研磨装置等が用いられている。機械研磨装置で
は試料台に3mmφの試料をワックス等で固定し、これ
を回転させ、アーム先端の回転軸に研磨用工具を取り付
けて回転させ、アームを油圧により徐々に試料に近づ
け、回転している研磨用工具で試料を研磨している。こ
の研磨作業は研磨用工具を交換することにより、平面ま
たは凹面に研磨し、また停止マイクロメータ或いはプリ
セットタイマーにより設定した停止位置に自動停止がで
きるようになっている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】試料の加工精度を高め
るためには、精度よくその目的の位置で加工を停止する
必要がある。この加工停止位置を決めるためにはある位
置を基準として、その基準位置で移動量の表示をリセッ
トし、この基準位置に基づいて決定しなければならない
が、基準位置の設定は人間が確認して機械のリセットボ
タンを押すことにより設定していたため、基準位置に個
人差がでると共に、設定に時間がかかり、また誤差の割
合が大きくなってしまうという問題があった。
【0004】本発明は上記課題を解決するためのもの
で、加工停止位置を決める際の基準となる位置の設定を
高精度にしかも個人差無く行ない得、それにより高精度
な加工を行えるようにした電子顕微鏡用試料作製装置を
提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、試料を固定す
る試料位置調整台と、試料に対向配置され、上下方向に
回動可能なアームに取り付けられた加工用工具と、アー
ムの先端に取り付けられた電気接点と、該電気接点に対
向した停止位置設定用の電気接点とを備え、両電気接点
の接触により試料の加工を停止させるようにした電子顕
微鏡用試料作製装置において、停止位置設定用の電気接
点を移動させる移動手段と、該移動手段による移動量を
検出して表示する移動量表示手段とを備え、前記移動量
表示手段は両電気接点が非接触になった時リセットされ
るようにしたことを特徴とする。
【0006】
【作用】本発明は移動用ノブの先端に取り付けられ基準
位置を設定する電気接点と、工具と共に上下動する電気
接点とを対向配置し、移動用ノブによる移動量を計数器
でカウントしてそのカウント値を表示できるようにし、
両電気接点が非接触になったときに計数器をリセットし
て表示内容を0にするようにしたので、容易に基準位置
の設定ができ、かつ加工精度の向上を行うことができ
る。
【0007】
【実施例】図1は本発明の試料作製装置を説明する図で
ある。試料作製装置のベース10上には水平移動、回転
等試料位置を調整する試料位置調整台11が設けられ、
この上に試料1が置かれている。一方、ベース10から
上方へ延びる支柱10aにはアーム13が上下方向に回
動可能に取り付けられ、その先端部には電気接点16
が、他端部にはバランスウェイト15が取り付けられて
いる。支柱10aに対するアーム13の回動は、電気的
手段あるいは油圧手段等により行われる。また、アーム
13には試料1と対向する位置に工具12が取り付けら
れ、モータ14よりベルト14aを介して回転駆動され
るようになっている。
【0008】また、電気接点16に対向する位置に移動
用ノブ18で上下動可能なネジ棒19の先端に電気接点
17が設けられ、その移動量はロータリーエンコーダ2
0により検出され、弁別器32を介して上下方向の移動
量が計数器33によりカウントできるようになってい
る。また、計数器33の内容はデコーダ34でデコード
されて数字表示器35で表示される。そして、これらの
装置はコントローラ30により制御されている。
【0009】工具12による試料1の加工はモータ14
で工具12を定速回転させ、同時にアーム13の先端部
を油圧等の手段により徐々に下降させ、試料1を加工し
て電気接点16,17が接触する位置まで行われる。こ
の時、加工の終了位置の設定は移動用ノブ18の回転に
よる電気接点17の位置設定により行われる。例えば、
まず基準位置を試料位置調整台11の上面に設定する。
そのため、まず移動用ノブ18を電気的接点17が下降
する向きに回転させる。移動用ノブ18の回転に伴って
電気的接点17が降下して行くが、それに伴って電気的
接点16も電気的接点17に接触した状態で降下して行
く。そして、工具12が試料位置調整台11の上面に接
触すると、電気的接点16はそれより降下できなくなる
ため、工具12が試料位置調整台の上面に接触した瞬間
に電気的接点16と17は離れる。この時、コントロー
ラ30は上記接点16と17が非接触になったことを検
出して移動量表示器31にその表示値をリセットさせる
ための制御信号を送る。その結果、移動量表示器31の
表示値はゼロになり自動的にリセットされる。次に、試
料位置調整台11上に試料1を載せ、移動用ノブ18を
電気的接点17が上昇する向きに回転させると、移動量
表示器31の表示値が増加してくる。そこで、表示値が
+10μmを指示したときに移動用ノブ18の回転を停
止させ、基準面から+10μmの点で加工が終了するよ
うに設定する。このような設定を行った状態で試料加工
装置を動作させる。加工が進行し基準面から+10μm
のところまで、工具12の下端が降下してくると、電気
的接点16と17がそれまでの非接触状態から接触状態
になるため、この接触はコントローラ30に検出され
る。コントローラ30はこの接触を検出してモータ14
の回転を停止させるため、試料は+10μmの厚さを残
してその加工が自動的に停止される。
【0010】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、電気接点
が非接触になったとき、計数器および数字表示器をリセ
ットして基準位置を設定するようにしたので、基準位置
の設定が高精度にしかも個人差無く行い得、高精度な試
料作製が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の試料作製装置を説明する図である。
【符号の説明】
1…試料、10…ベース、11…試料位置調整台、12
…工具、13…アーム、14…モータ、15…バランス
ウェイト、16,17…電気接点、18…移動用ノブ、
19…ネジ棒、20…ロータリエンコーダ、30…コン
トローラ、31…移動量表示器、32…弁別器、33…
計数器、34…デコーダ、35…数字表示器。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 試料を固定する試料位置調整台と、試料
    に対向配置され、上下方向に回動可能なアームに取り付
    けられた加工用工具と、アームの先端に取り付けられた
    電気接点と、該電気接点に対向した停止位置設定用の電
    気接点とを備え、両電気接点の接触により試料の加工を
    停止させるようにした電子顕微鏡用試料作製装置におい
    て、停止位置設定用の電気接点を移動させる移動手段
    と、該移動手段による移動量を検出して表示する移動量
    表示手段とを備え、前記移動量表示手段は両電気接点が
    非接触になった時リセットされるようにしたことを特徴
    とする電子顕微鏡用試料作製装置。
JP5045794A 1994-03-22 1994-03-22 電子顕微鏡用試料作製装置 Pending JPH07260650A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5045794A JPH07260650A (ja) 1994-03-22 1994-03-22 電子顕微鏡用試料作製装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5045794A JPH07260650A (ja) 1994-03-22 1994-03-22 電子顕微鏡用試料作製装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH07260650A true JPH07260650A (ja) 1995-10-13

Family

ID=12859407

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5045794A Pending JPH07260650A (ja) 1994-03-22 1994-03-22 電子顕微鏡用試料作製装置

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JP (1) JPH07260650A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09268516A (ja) * 1996-04-02 1997-10-14 Ekusen Kk 切り込み深さ表示装置付コンクリートカッター

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09268516A (ja) * 1996-04-02 1997-10-14 Ekusen Kk 切り込み深さ表示装置付コンクリートカッター

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