JPH07253841A - 操作パネル - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 タッチパネル自体の端子間抵抗値のばらつき
の測定を容易に行えるようにする。 【構成】 Ｘ方向／Ｙ方向それぞれの抵抗膜であるＸ側
抵抗膜１０１ａとＹ側抵抗膜１０１ｂとを重ね合わせて
形成されたアナログタッチパネル１０１を有し，上記Ｘ
側抵抗膜１０１ａには，Ｘ電極端子（Ｘ２）と対向する
端部にＸ側抵抗膜１０１ａの抵抗値を測定するための測
定用Ｘ電極端子（Ｘ１）が配置されており，Ｙ側抵抗膜
１０１ｂには，Ｙ電極端子（Ｙ２）と対向する端部にＹ
側抵抗膜１０１ｂの抵抗値を測定するための測定用Ｙ電
極端子（Ｙ１）が配置されている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は，プリンタ，プロッタ，
ファクシミリ装置，複写機等に利用される操作パネルに
関し，より詳細には，アナログタッチパネル方式の操作
パネルに関する。

【０００２】

【従来の技術】近年，入力手段としてタッチパネルを用
いた操作パネルが，複写機，ファクシミリ装置ばかりで
なく，各種の装置に使用されるようになっている。

【０００３】タッチパネルを用いた操作パネルの一つと
して，抵抗膜の両端に直流電圧を印加して抵抗膜上の押
下位置の電位を検出することにより座標位置を算出する
アナログタッチパネル方式の操作パネルがある。このア
ナログタッチパネル方式の操作パネルは，ディジタル方
式の操作パネルに比べて座標検知の分解能が高くできる
利点があることから多用されている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら，上記従
来のアナログタッチパネル方式の操作パネルによれば，
装置の初期化時にアナログタッチパネルの端子間抵抗値
のばらつきを補正するための初期化データ収集操作（キ
ャリブレーション）を行う必要があるが，この初期化デ
ータ収集操作が面倒であり，その使い易さにおいて必ず
しも十分な機能が提供されていないという問題点があっ
た。

【０００５】具体的には，アナログタッチパネルを使用
するに際して，タッチパネル自体の端子間抵抗値のばら
つきは，避けられないものであり，メーカー仕様書上で
は５０〜２００％程度のばらつきが提示されている。一
方，端子間に直流電圧を印加するスイッチ素子の出力イ
ンピーダンスは，タッチパネルの端子間抵抗値に比較し
て無視できない範囲にあるため，これまでの装置（例え
ば，複写機の操作パネル）では，装置の初期化時にばら
つきを補正するための初期化データ収集操作を実施して
いた。

【０００６】ところが，タッチパネル自体の端子間抵抗
値のばらつきの測定は，人手によって抵抗膜に測定用の
電極を差し込んで行う方法であるため，作業が煩雑であ
り，特殊な測定装置が必要であるという不都合もあっ
た。

【０００７】また，このような操作はユーザーには不要
な操作であり，特殊な手順（例えば，複数のキーを同時
に押しながら電源投入するとか）によってのみキャリブ
レーションモードに入るようにしているため，操作が煩
雑であるという不都合があった。

【０００８】さらに，電源ＯＮの装置初期化時に毎回キ
ャリブレーション作業を行うのは大変であるため，キャ
リブレーションデータは装置内に保持されている必要が
あり，そのための記憶素子も必要であった。

【０００９】また，上記従来のアナログタッチパネル方
式の操作パネルによれば，コントローラが周期的にタッ
チパネルの走査を行ってタッチパネルの電位の変化を検
知し，この電位の変化から押下位置の座標を算出する構
成であるため，周期的な走査によるコントローラの負荷
が大きいという問題点もあった。

【００１０】本発明は上記に鑑みてなされたものであっ
て，タッチパネル自体の端子間抵抗値のばらつきの測定
を容易に行えるようにすることを目的とする。

【００１１】また，本発明は上記に鑑みてなされたもの
であって，アナログタッチパネルの初期化シーケンスを
自動化して操作性の改善を図ることを目的とする。

【００１２】さらに，本発明は上記に鑑みてなされたも
のであって，周期的な走査を行うことなく，座標位置の
検知を行えるようにして，コントローラの負荷を軽減す
ることを目的とする。

【００１３】

【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するために，請求項１に係る操作パネルは，Ｘ電極端
子を有するＸ側抵抗膜とＹ電極端子を有するＹ側抵抗膜
とを重ね合わせて形成されたタッチパネルと，前記タッ
チパネルの端子間への供給信号／監視信号を切り替える
切替手段と，前記タッチパネルの端子から信号を検出す
る検出手段と，前記検出手段で検出した信号から座標を
算出する座標算出手段と，前記タッチパネルの下部に配
置された表示手段と，前記切替手段，座標算出手段およ
び表示手段を制御する制御手段とを備えた操作パネルに
おいて，前記タッチパネルのＸ側抵抗膜には，前記Ｘ電
極端子と対向する端部にＸ側抵抗膜の抵抗値を測定する
ための測定用Ｘ電極端子が配置されており，前記タッチ
パネルのＹ側抵抗膜には，前記Ｙ電極端子と対向する端
部にＹ側抵抗膜の抵抗値を測定するための測定用Ｙ電極
端子が配置されているものである。

【００１４】また，請求項２に係る操作パネルは，Ｘ電
極端子を有するＸ側抵抗膜とＹ電極端子を有するＹ側抵
抗膜とを重ね合わせて形成されたタッチパネルと，前記
タッチパネルの端子間への供給信号／監視信号を切り替
える切替手段と，前記タッチパネルの端子から信号を検
出する検出手段と，前記検出手段で検出した信号から座
標を算出する座標算出手段と，前記タッチパネルの下部
に配置された表示手段と，前記切替手段，座標算出手段
および表示手段を制御する制御手段とを備えた操作パネ
ルにおいて，前記タッチパネルのＸ側抵抗膜には，前記
Ｘ電極端子と対向する端部にＸ側抵抗膜の抵抗値を測定
するための測定用Ｘ電極端子が配置されており，前記タ
ッチパネルのＹ側抵抗膜には，前記Ｙ電極端子と対向す
る端部にＹ側抵抗膜の抵抗値を測定するための測定用Ｙ
電極端子が配置されおり，前記制御手段は，装置の初期
化時に，前記Ｘ電極端子，Ｙ電極端子，測定用Ｘ電極端
子および測定用Ｙ電極端子を用いて，Ｘ側抵抗膜の抵抗
値およびＹ側抵抗膜の抵抗値を測定するものである。

【００１５】また，請求項３に係る操作パネルは，前記
制御手段が，前記測定したＸ側抵抗膜の抵抗値およびＹ
側抵抗膜の抵抗値に基づいて，Ｘ／Ｙ方向の座標検出に
必要な補正データを算出するものである。

【００１６】また，請求項４に係る操作パネルは，前記
制御手段が，前記表示手段を制御して所定の座標位置を
押下位置として表示し，前記押下位置をオペレータが押
下した際に収集した座標に基づいて，初期化時に収集し
た補正データの有効性を判断するものである。

【００１７】また，請求項５に係る操作パネルは，Ｘ電
極端子を有するＸ側抵抗膜とＹ電極端子を有するＹ側抵
抗膜とを重ね合わせて形成されたタッチパネルと，前記
タッチパネルの端子間への供給信号／監視信号を切り替
える切替手段と，前記タッチパネルの端子から信号を検
出する検出手段と，前記検出手段で検出した信号から座
標を算出する座標算出手段と，前記タッチパネルの下部
に配置された表示手段と，前記切替手段，座標算出手段
および表示手段を制御する制御手段とを備えた操作パネ
ルにおいて，前記タッチパネルが押下されたことを検知
する押下検知手段を備え，前記制御手段は，前記押下検
知手段によって押下が検知された場合に，前記切替手段
および座標算出手段を制御して，押下位置の座標を習得
するものである。

【００１８】

【作用】本発明の操作パネル（請求項１）は，タッチパ
ネルのＸ側抵抗膜には，Ｘ電極端子と対向する端部にＸ
側抵抗膜の抵抗値を測定するための測定用Ｘ電極端子が
配置されており，タッチパネルのＹ側抵抗膜には，Ｙ電
極端子と対向する端部にＹ側抵抗膜の抵抗値を測定する
ための測定用Ｙ電極端子が配置されている。したがっ
て，Ｘ側抵抗膜について，Ｘ電極端子と測定用Ｘ電極端
子とを用いて容易に抵抗値の測定を行え，Ｙ側抵抗膜に
ついて，Ｙ電極端子と測定用Ｙ電極端子とを用いて容易
に抵抗値の測定を行える。

【００１９】また，本発明の操作パネル（請求項２）
は，制御手段が，装置の初期化時に，Ｘ電極端子，Ｙ電
極端子，測定用Ｘ電極端子および測定用Ｙ電極端子を用
いて，Ｘ側抵抗膜の抵抗値およびＹ側抵抗膜の抵抗値を
所定の手順に従って自動的に測定するので，人手を介す
ることなく，初期化データの収集が自動的に行われる。

【００２０】また，本発明の操作パネル（請求項３）
は，制御手段が，測定したＸ側抵抗膜の抵抗値およびＹ
側抵抗膜の抵抗値に基づいて，Ｘ／Ｙ方向の座標検出に
必要な補正データを算出して，キャリブレーション手順
を省力化する。

【００２１】また，本発明の操作パネル（請求項４）
は，制御手段が，表示手段を制御して所定の座標位置を
押下位置として表示し，押下位置をオペレータが押下し
た際に収集した座標に基づいて，初期化時に収集した補
正データの有効性を判断することにより，故障検出，タ
ッチパネルのテスト等に利用可能となる。

【００２２】また，本発明の操作パネル（請求項５）
は，タッチパネルが押下されたことを検知する押下検知
手段を備えており，制御手段が，押下検知手段によって
押下が検知された場合に，切替手段および座標算出手段
を制御して，押下位置の座標を習得することにより，周
期的なパネルの操作を行う必要がなく，押下位置の座標
を検知する。

【００２３】

【実施例】以下，本発明の操作パネルの一実施例につい
て図面を参照して詳細に説明する。図１は，本実施例の
ブロック構成図である。本実施例の操作パネルは，アナ
ログタッチパネル方式の操作パネルであり，人間の指等
でタッチパネルのタッチ感応表面上のどこにタッチして
もそのタッチを検出するものである。

【００２４】まず，構成について説明する。１０１は，
Ｘ方向／Ｙ方向それぞれの抵抗膜であるＸ側抵抗膜１０
１ａとＹ側抵抗膜１０１ｂとを重ね合わせて形成された
アナログタッチパネルであり，１０２のＬＣＤモジュー
ル上に設置される。上記Ｘ側抵抗膜１０１ａには，Ｘ電
極端子（Ｘ２）と対向する端部にＸ側抵抗膜１０１ａの
抵抗値を測定するための測定用Ｘ電極端子（Ｘ１）が配
置されており，Ｙ側抵抗膜１０１ｂには，Ｙ電極端子
（Ｙ２）と対向する端部にＹ側抵抗膜１０１ｂの抵抗値
を測定するための測定用Ｙ電極端子（Ｙ１）が配置され
ている。

【００２５】１０３は，ＬＣＤの画面を制御するＬＣＤ
コントローラである。１０４ａ〜ｄは，タッチパネル１
０１の端子間に印加する（または端子から検知する）信
号ラインを切り替えるためのスイッチ（ＳＷａ〜ＳＷ
ｄ）であり，１０５ａ〜ｄは，信号を検知するためのセ
ンスアンプ（ＡＭＰ．ａ〜ＡＭＰ．ｄ）である。

【００２６】また，１０６はセンスアンプ１０５ａ〜ｄ
から信号（電圧値）を入力して後述するＡ／Ｄコンバー
タに選択的に出力するマルチプレクサ（ＭＵＸ），１０
７は検知した電圧値をディジタルデータに変換するＡ／
Ｄコンバータ，１０８はタッチパネル１０１面が押下さ
れたことを検知する独立した検知回路（本実施例では，
コンパレータ（ＣＯＭＰ）），１０９は押下検知，タッ
チパネル１０１の端子信号切り替え，および座標データ
の算出を行う入力制御部，１１０は上記各部を制御する
メインコントローラである。なお，本装置では点線枠で
囲まれた部分は１チップのマイコン（マイクロ・コンピ
ュータ）１１１によって実現されている。

【００２７】以上の構成において，Ｘ側抵抗膜および
Ｙ側抵抗膜の抵抗値（電圧レベルデータ）の収集，通
常の動作シーケンス，整合性確認操作シーケンスの順
にその動作を説明する。

【００２８】Ｘ側抵抗膜およびＹ側抵抗膜の抵抗値
（電圧レベルデータ）の収集 図３の初期化データ収集処理のフローチャートを参照し
て，Ｘ側抵抗膜およびＹ側抵抗膜の抵抗値（電圧レベル
データ）の収集について説明する。装置初期化時（リセ
ット直後）において，入力制御部１０９は，スイッチ１
０４ａおよび１０４ｂをオン（ＳＷｃおよびＳＷｄをオ
フ）にしてＸ側抵抗膜１０１ａに直流電圧を印加する
（Ｓ３０１）。このときの等価回路は，図２のようにな
り，Ｘ１，Ｘ２の端子位置における電位はＸ側抵抗膜１
０１ａの抵抗値とスイッチ１０４ａおよび１０４ｂの直
流抵抗分によって決まる。

【００２９】この状態において，入力制御部１０９は，
マルチプレクサ１０６の入力を切り替えてセンスアンプ
１０５ａおよび１０５ｂの信号をＡ／Ｄコンバータ１０
７に入力して，Ｘ１，Ｘ２の端子位置における電位を初
期データＶｘ１，Ｖｘ２として収集する（Ｓ３０２，Ｓ
３０３）。

【００３０】次に，入力制御部１０９は，スイッチ１０
４ｃおよび１０４ｄをオン（スイッチ１０４ａおよび１
０４ｂをオフ）にしてＹ側抵抗膜１０１ｂに直流電圧を
印加して（Ｓ３０４），Ｘ側の場合と同様にマルチプレ
クサ１０６の入力を切り替えてセンスアンプ１０５ｃお
よび１０５ｄの信号をＡ／Ｄコンバータ１０７に入力し
て，Ｙ１，Ｙ２の端子位置における電位を初期データＶ
ｙ１，Ｖｙ２として収集する（Ｓ３０５，Ｓ３０６）。

【００３１】上記のステップによって，初期データ（補
正データ）である，Ｖｘ１，Ｖｘ２，Ｖｙ１，Ｖｙ２が
それぞれ収集される。

【００３２】通常の動作シーケンス 次に，図４のフローチャートを参照して通常の動作シー
ケンスについて説明する。初期データ収集完了後，入力
制御部１０９，スイッチ１０４ａのみをオンとし，スイ
ッチ１０４ｂ，１０４ｃ，１０４ｄをオフとする（Ｓ４
０１）。

【００３３】この状態でタッチパネル１０１上が押下さ
れるとセンスアンプ１０５ｄに約５Ｖの電圧が検出さ
れ，この結果が検知回路１０８で検出されて入力制御部
１０９に通知される（Ｓ４０２）。

【００３４】入力制御部１０９は，ステップＳ４０２に
おいて，Ｃｏｍｐレベル検出（検知回路１０８での５Ｖ
検出）があると，ステップＳ４０３〜Ｓ４０６に示す順
序でＸ側，Ｙ側それぞれについての押下位置電圧レベル
をＶｘｍ，Ｖｙｍとし収集し，ステップＳ４０７でＸ，
Ｙの各座標軸を０〜２５５として，Ｘ方向，Ｙ方向の座
標位置は次式に基づいて算出する。

【００３５】Ｘ座標＝２５５×（Ｖｘｍ−Ｖｘ２）／
（Ｖｘ１−Ｖｘ２） Ｙ座標＝２５５×（Ｖｙｍ−Ｖｙ２）／（Ｖｙ１−Ｖｙ
２）

【００３６】整合性確認操作シーケンス 図３のフローチャートで示した初期化データ収集動作完
了後，オペレータに対して表示パネル（ＬＣＤモジュー
ル１０２）上にタッチパネル１０１の所定位置を押下さ
せるメッセージを表示させて，実際に検出した位置と初
期化データの整合性を確認する操作シーケンスを実行す
るとさらに便利である。

【００３７】したがって，本実施例では，入力制御部１
０９が，メインコントローラ１１０，ＬＣＤコントロー
ラ１０３およびＬＣＤモジュール１０２を介して，所定
の座標位置を押下位置として表示し，前記押下位置をオ
ペレータが押下した際に収集した座標に基づいて，初期
化時に収集した初期化データの有効性を判断するように
している。

【００３８】ここで，図５のフローチャートを参照して
整合性確認操作シーケンスについて説明する。入力制御
部１０９は，初期化データ収集動作完了後，操作者に表
示パネル（ＬＣＤモジュール１０２）上にタッチパネル
１０１の所定位置を押下させるメッセージを表示させて
（Ｓ５０１），図４で示した通常のシーケンス（位置デ
ータ収集のシーケンス）を実行して押下位置の座標を検
出する（Ｓ５０２）。

【００３９】次に，実際に検出した押下位置の座標と，
表示した位置の座標との差異を検出し（Ｓ５０３），差
異があらかじめ設定した許容誤差以内であるか否かを判
定する（Ｓ５０４）。ここで，許容誤差以内であれば処
理を終了する。一方，許容誤差以内でなければ，ステッ
プＳ５０５，Ｓ５０６によって，操作者に表示パネル
（ＬＣＤモジュール１０２）上にタッチパネル１０１の
所定位置を押下させるメッセージを表示させて，通常の
シーケンス（位置データ収集のシーケンス）を実行して
押下位置の座標を検出する。なお，このステップＳ５０
５，Ｓ５０６の処理（図中の点線で示すステップ）は，
タッチパネル１０１上の必要な位置（例えば，４隅）に
対して複数回実行されるものとする。

【００４０】続いて，ステップＳ５０５，Ｓ５０６で収
集した位置データに基づいて，初期化データ（補正デー
タ）を更新する（Ｓ５０７）。

【００４１】また，詳細な説明を省略するが，上記の整
合性確認操作シーケンスによって差異（ずれ）が検出さ
れた場合は，そのずれの程度によって「タッチパネルエ
ラー」等のメッセージにより故障を知らせたり，初期デ
ータ再収集のシーケンスを実行したり，操作者によるキ
ャリブレーション操作（従来行われている方式）のモー
ドへ移行するようにしても良い。

【００４２】前述したように本実施例によれば，Ｘ側，
Ｙ側それぞれについて複数の電極端子（Ｘ１，Ｘ２，Ｙ
１，Ｙ２）を設定したことにより，タッチパネル抵抗値
の固体によるばらつきによらず，有効な検知電圧範囲を
測定することができる。

【００４３】また，Ｘ側，Ｙ側それぞれの複数の電極端
子から所定の手順に従ってレベルを検知することができ
るため，初期化データの収集を自動的に行うことができ
る。

【００４４】また，初期化時に収集した初期化データを
使ってＸ／Ｙ方向の座標検出に必要な補正データを算出
するため，従来のキャリブレーション手順を省力化する
ことができる。

【００４５】また，補正データの確認手段を有している
ため，故障検出，テストの手段として便利である。

【００４６】さらに，タッチパネルが押下されたことを
検知する独立した手段（検知回路１０８）を有している
ので，周期的なパネルの操作を行う必要がなく，コント
ローラ（入力制御部１０９）の負荷を軽減することがで
きる。

【００４７】また，電源ＯＮの装置初期化時に毎回キャ
リブレーション作業を行うこともできるので，キャリブ
レーションデータを装置内に常に保持しておく必要がな
く，そのための記憶素子（例えば，ＶＲＡＭ）等を特別
に必要としない。

【００４８】

【発明の効果】以上説明したように，本発明の操作パネ
ル（請求項１）は，タッチパネルのＸ側抵抗膜に，Ｘ電
極端子と対向する端部にＸ側抵抗膜の抵抗値を測定する
ための測定用Ｘ電極端子を配置し，タッチパネルのＹ側
抵抗膜に，Ｙ電極端子と対向する端部にＹ側抵抗膜の抵
抗値を測定するための測定用Ｙ電極端子を配置したた
め，タッチパネル自体の端子間抵抗値のばらつきの測定
を容易に行うことができる。

【００４９】また，本発明の操作パネル（請求項２）
は，タッチパネルのＸ側抵抗膜に，Ｘ電極端子と対向す
る端部にＸ側抵抗膜の抵抗値を測定するための測定用Ｘ
電極端子を配置し，タッチパネルのＹ側抵抗膜に，Ｙ電
極端子と対向する端部にＹ側抵抗膜の抵抗値を測定する
ための測定用Ｙ電極端子を配置し，さらに，制御手段
が，装置の初期化時に，前記Ｘ電極端子，Ｙ電極端子，
測定用Ｘ電極端子および測定用Ｙ電極端子を用いて，Ｘ
側抵抗膜の抵抗値およびＹ側抵抗膜の抵抗値を測定する
ため，アナログタッチパネルの初期化シーケンスを自動
化して操作性の改善を図ることができる。また，電源Ｏ
Ｎの装置初期化時に毎回キャリブレーション作業を行う
こともできるので，キャリブレーションデータを装置内
に常に保持しておく必要がなく，そのための記憶素子
（例えば，ＶＲＡＭ）等を特別に必要としない。

【００５０】また，本発明の操作パネル（請求項３）
は，制御手段が，測定したＸ側抵抗膜の抵抗値およびＹ
側抵抗膜の抵抗値に基づいて，Ｘ／Ｙ方向の座標検出に
必要な補正データを算出するため，さらにキャリブレー
ション手順を省力化することができる。

【００５１】また，本発明の操作パネル（請求項４）
は，制御手段が，表示手段を制御して所定の座標位置を
押下位置として表示し，押下位置をオペレータが押下し
た際に収集した座標に基づいて，初期化時に収集した補
正データの有効性を判断するため，故障検出，タッチパ
ネルのテスト等に利用可能となり，キャリブレーション
手順の省力化を図ることができる。

【００５２】また，本発明の操作パネル（請求項５）
は，タッチパネルが押下されたことを検知する押下検知
手段を備えており，制御手段が，押下検知手段によって
押下が検知された場合に，切替手段および座標算出手段
を制御して，押下位置の座標を習得するため，周期的な
走査を行うことなく，座標位置の検知を行えるようにし
て，コントローラの負荷を軽減するができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本実施例のブロック構成図である。

【図２】図１において，スイッチＳＷａおよびＳＷｂを
オン（ＳＷｃおよびＳＷｄをオフ）にした状態で直流電
圧を印加した場合の等価回路である。

【図３】初期化データ収集処理のフローチャートであ
る。

【図４】通常の動作シーケンスを示すフローチャートで
ある。

【図５】整合性確認操作シーケンスを示すフローチャー
トである。

【符号の説明】

１０１ アナログタッチパネル １０１ａ Ｘ側抵抗膜 １０１ｂ Ｙ側抵抗膜 １０２ ＬＣＤモジュール １０３ ＬＣＤコントローラ １０４ａ〜ｄ スイッチ １０５ａ〜ｄ センスアンプ １０６ マルチプレクサ １０７ Ａ／Ｄコンバータ １０８ 検知回路 １０９ 入力制御部 １１０ メインコントローラ １１１ マイコン（マイクロ・コンピュータ） Ｘ１ 測定用Ｘ電極端子 Ｘ２ Ｘ電極端子 Ｙ１ 測定用Ｙ電極端子 Ｙ２ Ｙ電極端子

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 Ｘ電極端子を有するＸ側抵抗膜とＹ電極
   端子を有するＹ側抵抗膜とを重ね合わせて形成されたタ
   ッチパネルと，前記タッチパネルの端子間への供給信号
   ／監視信号を切り替える切替手段と，前記タッチパネル
   の端子から信号を検出する検出手段と，前記検出手段で
   検出した信号から座標を算出する座標算出手段と，前記
   タッチパネルの下部に配置された表示手段と，前記切替
   手段，座標算出手段および表示手段を制御する制御手段
   とを備えた操作パネルにおいて，前記タッチパネルのＸ
   側抵抗膜には，前記Ｘ電極端子と対向する端部にＸ側抵
   抗膜の抵抗値を測定するための測定用Ｘ電極端子が配置
   されており，前記タッチパネルのＹ側抵抗膜には，前記
   Ｙ電極端子と対向する端部にＹ側抵抗膜の抵抗値を測定
   するための測定用Ｙ電極端子が配置されていることを特
   徴とする操作パネル。
2. 【請求項２】 Ｘ電極端子を有するＸ側抵抗膜とＹ電極
   端子を有するＹ側抵抗膜とを重ね合わせて形成されたタ
   ッチパネルと，前記タッチパネルの端子間への供給信号
   ／監視信号を切り替える切替手段と，前記タッチパネル
   の端子から信号を検出する検出手段と，前記検出手段で
   検出した信号から座標を算出する座標算出手段と，前記
   タッチパネルの下部に配置された表示手段と，前記切替
   手段，座標算出手段および表示手段を制御する制御手段
   とを備えた操作パネルにおいて，前記タッチパネルのＸ
   側抵抗膜には，前記Ｘ電極端子と対向する端部にＸ側抵
   抗膜の抵抗値を測定するための測定用Ｘ電極端子が配置
   されており，前記タッチパネルのＹ側抵抗膜には，前記
   Ｙ電極端子と対向する端部にＹ側抵抗膜の抵抗値を測定
   するための測定用Ｙ電極端子が配置されおり，前記制御
   手段は，装置の初期化時に，前記Ｘ電極端子，Ｙ電極端
   子，測定用Ｘ電極端子および測定用Ｙ電極端子を用い
   て，Ｘ側抵抗膜の抵抗値およびＹ側抵抗膜の抵抗値を測
   定することを特徴とする操作パネル。
3. 【請求項３】 前記制御手段は，前記測定したＸ側抵抗
   膜の抵抗値およびＹ側抵抗膜の抵抗値に基づいて，Ｘ／
   Ｙ方向の座標検出に必要な補正データを算出することを
   特徴とする請求項２記載の操作パネル。
4. 【請求項４】 前記制御手段は，前記表示手段を制御し
   て所定の座標位置を押下位置として表示し，前記押下位
   置をオペレータが押下した際に収集した座標に基づい
   て，初期化時に収集した補正データの有効性を判断する
   ことを特徴とする請求項３記載の操作パネル。
5. 【請求項５】 Ｘ電極端子を有するＸ側抵抗膜とＹ電極
   端子を有するＹ側抵抗膜とを重ね合わせて形成されたタ
   ッチパネルと，前記タッチパネルの端子間への供給信号
   ／監視信号を切り替える切替手段と，前記タッチパネル
   の端子から信号を検出する検出手段と，前記検出手段で
   検出した信号から座標を算出する座標算出手段と，前記
   タッチパネルの下部に配置された表示手段と，前記切替
   手段，座標算出手段および表示手段を制御する制御手段
   とを備えた操作パネルにおいて，前記タッチパネルが押
   下されたことを検知する押下検知手段を備え，前記制御
   手段は，前記押下検知手段によって押下が検知された場
   合に，前記切替手段および座標算出手段を制御して，押
   下位置の座標を習得することを特徴とする操作パネル。