JPH07249375A - Manufacture of shadow mask - Google Patents

Manufacture of shadow mask

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Publication number
JPH07249375A
JPH07249375A JP3705494A JP3705494A JPH07249375A JP H07249375 A JPH07249375 A JP H07249375A JP 3705494 A JP3705494 A JP 3705494A JP 3705494 A JP3705494 A JP 3705494A JP H07249375 A JPH07249375 A JP H07249375A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
peeling
resist film
shadow mask
resist
film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3705494A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroki Watanabe
弘樹 渡邊
Tomohito Tsunashima
智史 綱島
Michio Yanagimoto
道夫 柳本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toppan Inc
Original Assignee
Toppan Printing Co Ltd
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Filing date
Publication date
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Priority to JP3705494A priority Critical patent/JPH07249375A/en
Publication of JPH07249375A publication Critical patent/JPH07249375A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To shorten the time required to peel the second resist film of a shadow mask by using ultrasonic waves during the process of peeling the second resist film, in methods for peeling the resist films of the shadow mask. CONSTITUTION:The second resist film of a shadow mask is peeled using a method which comprises installing an ultrasonic device 10 in a second resist peeling tank 11 during peeling processes and installing an immersion device 10 parallel to a base 5, or a method wherein the immersion device 10 is installed at an angle of 45+ or -2 degrees to a base 15. A peeling effect can be obtained by changing the thickness of the second resist film 20 depending on the methods. The method in which the device 10 is installed parallel to the base 15 is effective when the film 20 is thick. The method in which the device 10 is installed at an angle of 45+ or -2 degrees to the base 15 is effective when the film 20 is thin. Further, the two methods can be employed simultaneously for a greater peeling effect.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、カラーテレビのカラー
受像管に用いる金属板からなるシャドウマスクの製造方
法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a shadow mask made of a metal plate used for a color picture tube of a color television.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のカラー受像管用シャドウマスクの
製造方法においては、図5に示す工程によりシャドウマ
スクの製造を行ってきた。まず金属板(15)の表裏面
に第一のレジスト膜(18,18)で所望の規則的な細
孔パターンを形成した後に、エッチング液(17)を両
面に吹き付けて(浸漬方式も可能である)エッチングを
行い、この途中で金属板(15)の片面に第二のレジス
ト材(19)をスプレーして第二のレジスト膜(20)
を形成する。
2. Description of the Related Art In a conventional method for manufacturing a shadow mask for a color picture tube, the shadow mask has been manufactured by the steps shown in FIG. First, after forming a desired regular pore pattern with the first resist film (18, 18) on the front and back surfaces of the metal plate (15), the etching solution (17) is sprayed on both surfaces (a dipping method is also possible. Etching is performed, and the second resist material (19) is sprayed on one side of the metal plate (15) in the middle of the etching to form the second resist film (20).
To form.

【0003】次に、第二のレジスト膜(20)の反対側
よりエッチングを行って、金属板(15)を貫通させた
後に、第二のレジスト膜(20)、第一のレジスト膜
(18,18)を除去することで金属板(15)に細孔
(H)が規則的に多数孔設されたシャドウマスクが得ら
れる。
Next, etching is performed from the opposite side of the second resist film (20) to penetrate the metal plate (15), and then the second resist film (20) and the first resist film (18). , 18) are removed to obtain a shadow mask in which a large number of fine holes (H) are regularly formed in the metal plate (15).

【0004】この製造工程における、第二のレジスト膜
(20)の剥離工程は、図4に示す剥離装置の薬液(1
2)内を通過させて溶解、剥離を行っていた。この薬液
(12)は、例えばアルカリ系の薬液(NaOH─20
重量部 水─80重量部)を使用してレジスト膜の剥離
を行っている。このときの剥離条件管理としては、薬液
の濃度及び薬液の液温により調整し管理を行っていた。
The peeling step of the second resist film (20) in this manufacturing process is performed by the chemical solution (1) of the peeling device shown in FIG.
2) It passed through the inside to dissolve and peel off. This chemical solution (12) is, for example, an alkaline chemical solution (NaOH-20
The resist film is stripped using 80 parts by weight of water. At this time, the peeling condition was controlled by adjusting the concentration of the chemical liquid and the liquid temperature of the chemical liquid.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記に
示したように従来のシャドウマスクの第二レジスト膜
(20)の剥離工程においては、薬液(12)に対する
管理に限定されてしまう。この薬液の管理においては、
薬液濃度及び薬液温度の上昇などによりシャドウマスク
自体に与える影響が多くなり、欠陥(例えば、基板変
色、ムラ)の発生を抑える範囲が狭くなり限定されてし
まう問題点がある。
However, as described above, in the step of removing the second resist film (20) of the conventional shadow mask, the control for the chemical solution (12) is limited. In managing this chemical,
There is a problem that the influence on the shadow mask itself is increased due to an increase in the concentration of the chemical liquid and the temperature of the chemical liquid, and the range for suppressing the occurrence of defects (for example, substrate discoloration and unevenness) is narrowed and limited.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】そこで、本発明の請求項
1によれば、第二のレジスト膜(20)の剥離工程にお
いて、薬液(12)によって行われる剥離槽内に超音波
装置(10)を設けることにより、薬液濃度、温度管理
による欠陥の発生を抑えるのと、欠陥発生時の調整範囲
を広げることにより欠陥対処を行うことができることを
特徴とするシャドウマスクの製造方法である。
Therefore, according to claim 1 of the present invention, in the stripping step of the second resist film (20), the ultrasonic device (10) is placed in the stripping tank performed by the chemical solution (12). Is provided, it is possible to suppress the occurrence of defects due to chemical concentration and temperature control, and it is possible to deal with the defects by expanding the adjustment range at the time of occurrence of the defects.

【0007】請求項2によれば、第二レジスト膜の剥離
工程において、超音波を用いることにより薬液温度を6
0〜70℃に下げて保持することができ、かつ薬液濃度
を低下させて、剥離時間の短縮が図れることを特徴とす
るシャドウマスクの製造方法である。
According to the second aspect, in the step of removing the second resist film, the temperature of the chemical solution is controlled to 6 by using ultrasonic waves.
It is a method for producing a shadow mask, which can be held at a temperature of 0 to 70 ° C. and can be reduced in concentration of a chemical solution to shorten the stripping time.

【0008】請求項3によれば、第二レジスト膜の剥離
工程において、超音波周波数が25KHz〜45KHz
の範囲を用いることを特徴とするシャドウマスクの製造
方法である。
According to the third aspect, in the peeling step of the second resist film, the ultrasonic frequency is 25 KHz to 45 KHz.
The method for producing a shadow mask is characterized by using the range of.

【0009】[0009]

【作用】本発明のシャドウマスクの製造方法は、薬液濃
度、薬液温度による問題とシャドウマスク自体の変色、
ムラなどの欠陥発生時の調整範囲を広げることにより、
欠陥に対処することと抑えることができる。
The method of manufacturing the shadow mask of the present invention has the following problems due to the concentration of the chemical liquid and the temperature of the chemical liquid, and the discoloration of the shadow mask itself:
By expanding the adjustment range when defects such as unevenness occur,
Dealing with and suppressing defects.

【0010】[0010]

【実施例】図に基づき実施例を説明する。図1は、本発
明の一実施例における剥離工程の第二レジスト剥離槽
に、基板に対して平行に超音波装置を設置した状態を示
す概略図である。また、図2は、他の実施例における剥
離工程の第二レジスト剥離槽に、超音波装置を基板に対
して45度の角度に設置した状態(槽の底部に設置)を
示す概略図である。
Embodiment An embodiment will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic view showing a state in which an ultrasonic device is installed parallel to a substrate in a second resist stripping tank in a stripping step in an example of the present invention. Further, FIG. 2 is a schematic view showing a state (installed at the bottom of the tank) in which the ultrasonic device is installed at an angle of 45 degrees with respect to the substrate in the second resist removing tank of the removing step in another embodiment. .

【0011】本発明は、従来の剥離工程において薬液の
みのレジスト膜の剥離に対して、超音波装置によりレジ
スト膜を剥離する(図3を参照)。具体的には、剥離工
程における第二レジスト剥離槽(11)内に超音波装置
(10)を設置したもので、図1に示すように、投げ込
み式超音波装置(10)を基板(15)に対して平行に
設置する方法と、図2に示すように、基板(15)に対
して45度±2度の角度に設置する方法である。
According to the present invention, the resist film is peeled off by an ultrasonic device as compared with the conventional peeling of the resist film containing only the chemical solution (see FIG. 3). Specifically, the ultrasonic device (10) is installed in the second resist stripping tank (11) in the stripping step, and as shown in FIG. 1, the throw-in type ultrasonic device (10) is mounted on the substrate (15). There is a method of installing in parallel with respect to, and a method of installing at an angle of 45 ° ± 2 ° with respect to the substrate (15) as shown in FIG.

【0012】この二つの方法については、第二レジスト
膜(20)の膜厚により切替えることで剥離効果を得る
ことができ、超音波装置(10)を基板(15)に対し
て平行に設置する方法は、第二レジスト膜(20)の膜
厚が厚いときに効果を得ることができる。また、基板
(15)に対して45度±2度に設置する方法は、第二
レジスト膜(20)の膜厚が薄いときに効果が得られ
る。好ましくは、基板に対して45度に設置すると最良
の効果が得られる。さらに二つの方法を同時に活用する
ことも可能で、一層の剥離効果が得られる。
Regarding these two methods, a peeling effect can be obtained by switching the film thickness of the second resist film (20), and the ultrasonic device (10) is installed in parallel with the substrate (15). The method can obtain an effect when the film thickness of the second resist film (20) is large. In addition, the method of setting the substrate (15) at 45 ° ± 2 ° is effective when the second resist film (20) is thin. Preferably, the best effect can be obtained by installing at 45 degrees with respect to the substrate. Furthermore, it is possible to utilize the two methods at the same time, and a further peeling effect can be obtained.

【0013】この超音波装置(10)を設置することに
より、薬液温度を従来の約80℃よりも10〜20℃低
下させて60〜70℃に保持することができるのと、薬
液(12)のみによる従来の剥離時間である約60秒を
10〜20秒の時間短縮をすることが可能となる。この
ことにより、第二レジスト膜(20)を剥離するときに
発生していた5〜6℃の薬液温度の上昇を抑えることが
でき、薬液温度の低下、剥離時間の短縮により変色、ム
ラなどの欠陥を防止することができる。
By installing this ultrasonic device (10), it is possible to lower the temperature of the chemical liquid by 10 to 20 ° C. from the conventional temperature of about 80 ° C. and maintain it at 60 to 70 ° C. It is possible to shorten the conventional peeling time of about 60 seconds by only 10 to 20 seconds. As a result, it is possible to suppress an increase in the temperature of the chemical liquid of 5 to 6 ° C. which occurs when the second resist film (20) is peeled off, and a decrease in the temperature of the chemical liquid and a reduction in the peeling time may cause discoloration, unevenness, Defects can be prevented.

【0014】更に、剥離時間を従来と同じで行う場合に
も、薬液濃度を従来の薬液濃度より10〜13%低下さ
せることが可能となり、欠陥の防止をすることができ
る。
Further, even when the peeling time is the same as the conventional one, the chemical concentration can be lowered by 10 to 13% from the conventional chemical concentration, and defects can be prevented.

【0015】次いで、超音波装置(10)の設置条件
は、図1の基板(15)に対して平行に設置する方法の
場合には、第二レジスト膜(20)面に対して3〜5c
mの位置に平行に設置し、超音波周波数は25〜45K
Hzの範囲に設定する。また、基板(15)に対して4
5度±2度の角度に設置する方法の場合には、図2に示
す折り返しロール(14)の位置から10〜15cm乃
至20cmの位置に設置し、超音波周波数は同様に25
〜45KHzの範囲に設定する。
Next, the installation condition of the ultrasonic device (10) is 3 to 5c with respect to the surface of the second resist film (20) in the case of the method of installing in parallel to the substrate (15) of FIG.
Installed in parallel with m position, ultrasonic frequency is 25 ~ 45K
Set to the range of Hz. Also, for the substrate (15), 4
In the case of the method of setting at an angle of 5 ° ± 2 °, the folding roll (14) shown in FIG.
Set in the range of up to 45 KHz.

【0016】超音波周波数を上記の範囲に設定したこと
は、第二レジスト膜(20)を剥離した後に、剥離槽
(11)内でレジスト膜を分解・溶解促進が顕著に起こ
る部分と、第二レジスト膜(20)の剥離を効果的に起
こさせる部分を考慮して25〜45KHzの範囲に設定
したものである。
The ultrasonic frequency being set within the above range means that after the second resist film (20) is peeled off, the portion where the resist film is remarkably decomposed and dissolved in the peeling tank (11) is promoted. The second resist film (20) is set in the range of 25 to 45 KHz in consideration of the portion that effectively causes the peeling.

【0017】[0017]

【発明の効果】以上に述べたように、本発明は超音波装
置を第二レジスト膜剥離槽内に設置することにより第二
レジスト膜の早期除去を行うものである。この超音波装
置の設置により薬液濃度の低下及び薬液温度を下げるこ
とができ、さらに第二レジスト膜の剥離時間を短縮する
ことができ、剥離した後は槽内で超音波により分解・溶
解促進をすることなど、温度による問題と欠陥発生時の
調整範囲を広げることにより、欠陥対処と抑えることが
できる。
As described above, according to the present invention, the second resist film is removed early by installing the ultrasonic device in the second resist film peeling tank. By installing this ultrasonic device, the concentration of the chemical solution and the temperature of the chemical solution can be lowered, and further, the peeling time of the second resist film can be shortened, and after the peeling, the decomposition and dissolution are promoted by ultrasonic waves in the tank. The problem can be dealt with and suppressed by widening the adjustment range at the time of a problem due to temperature and the occurrence of a defect.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例における剥離工程の第二レジ
スト剥離槽に超音波装置を、基板に対して平行に設置し
た状態を示す概略図である。
FIG. 1 is a schematic view showing a state where an ultrasonic device is installed in parallel with a substrate in a second resist stripping tank in a stripping step in an example of the present invention.

【図2】本発明の他の実施例における剥離工程の第二レ
ジスト剥離槽に超音波装置を、基板に対して45度の角
度に設置した状態を示す概略図である。
FIG. 2 is a schematic view showing a state where an ultrasonic device is installed in a second resist stripping tank in a stripping step in another embodiment of the present invention at an angle of 45 degrees with respect to a substrate.

【図3】レジスト膜の剥離工程における超音波装置によ
る剥離を示す説明図である。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing peeling by an ultrasonic device in a resist film peeling step.

【図4】従来における薬液のみの剥離槽によるレジスト
膜の剥離工程を示す概略図である。
FIG. 4 is a schematic view showing a conventional resist film peeling process using a chemical-only peeling tank.

【図5】従来のシャドウマスクの製造工程を示す説明図
である。
FIG. 5 is an explanatory view showing a manufacturing process of a conventional shadow mask.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 …超音波装置 11 …剥離槽 12 …薬液 14 …折り返しロール 15 …基板(シャドウマスク) 17 …エッチングング液 18 …第一のレジスト膜 19 …レジスト液 20 …第二のレジスト膜 H …細孔 10 ... Ultrasonic device 11 ... Peeling tank 12 ... Chemical solution 14 ... Folding roll 15 ... Substrate (shadow mask) 17 ... Etching solution 18 ... First resist film 19 ... Resist solution 20 ... Second resist film H ... Pore

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】第一段階の未開孔で止める両面エッチング
と、第二段階の小孔側に第二レジストを充填した状態で
行う開孔エッチングからなるシャドウマスクの製造方法
において、シャドウマスクのレジスト膜の剥離方法とし
て、前記第二レジスト膜の剥離工程に、超音波を用いて
剥離を行うことを特徴とするシャドウマスクの製造方
法。
1. A method of manufacturing a shadow mask, comprising: first-step double-sided etching stopped at an unopened hole; second-step open hole etching performed in a state where a small resist side is filled with a second resist; As a film peeling method, in the peeling step of the second resist film, peeling is performed using ultrasonic waves, and a method for manufacturing a shadow mask.
【請求項2】第二レジスト膜の剥離工程において、超音
波を用いることにより薬液温度を60〜70℃に保持す
ることを特徴とする請求項1に記載のシャドウマスクの
製造方法。
2. The method for producing a shadow mask according to claim 1, wherein the chemical temperature is maintained at 60 to 70 ° C. by using ultrasonic waves in the step of removing the second resist film.
【請求項3】第二レジスト膜の剥離工程において、超音
波周波数が25〜45KHzの範囲を用いることを特徴
とする請求項1に記載のシャドウマスクの製造方法。
3. The method of manufacturing a shadow mask according to claim 1, wherein an ultrasonic frequency in the range of 25 to 45 KHz is used in the step of removing the second resist film.
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