JPH07244002A - 光ファイバのモニタ装置及びモニタ方法及び製造方法 - Google Patents
光ファイバのモニタ装置及びモニタ方法及び製造方法Info
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- JPH07244002A JPH07244002A JP3821794A JP3821794A JPH07244002A JP H07244002 A JPH07244002 A JP H07244002A JP 3821794 A JP3821794 A JP 3821794A JP 3821794 A JP3821794 A JP 3821794A JP H07244002 A JPH07244002 A JP H07244002A
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- fiber
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
- C03B37/00—Manufacture or treatment of flakes, fibres, or filaments from softened glass, minerals, or slags
- C03B37/01—Manufacture of glass fibres or filaments
- C03B37/02—Manufacture of glass fibres or filaments by drawing or extruding, e.g. direct drawing of molten glass from nozzles; Cooling fins therefor
- C03B37/025—Manufacture of glass fibres or filaments by drawing or extruding, e.g. direct drawing of molten glass from nozzles; Cooling fins therefor from reheated softened tubes, rods, fibres or filaments, e.g. drawing fibres from preforms
- C03B37/0253—Controlling or regulating
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- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Geochemistry & Mineralogy (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 線引きした光ファイバのガラス欠陥を高感度
に検出できるモニタ装置を提供する。 【構成】 プリフォーム２は、線引き炉１で加熱され、
光ファイバ裸線が線引きされる。線引きされた裸線は、
ＥＳＲ分光器４の空洞共振器３に導入される。空洞共振
器３は、あらかじめガラス欠陥が共鳴吸収を起こす条件
に磁場やマイクロ波波長を調整しておく。ガラス欠陥に
より生じた共鳴吸収をＥＳＲ分光器４で検出し、マイク
ロコンピュータ５にて積分処理し、光ファイバ中にガラ
ス欠陥を有しているかどうかがモニタされる。
に検出できるモニタ装置を提供する。 【構成】 プリフォーム２は、線引き炉１で加熱され、
光ファイバ裸線が線引きされる。線引きされた裸線は、
ＥＳＲ分光器４の空洞共振器３に導入される。空洞共振
器３は、あらかじめガラス欠陥が共鳴吸収を起こす条件
に磁場やマイクロ波波長を調整しておく。ガラス欠陥に
より生じた共鳴吸収をＥＳＲ分光器４で検出し、マイク
ロコンピュータ５にて積分処理し、光ファイバ中にガラ
ス欠陥を有しているかどうかがモニタされる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ファイバ中に生成さ
れたガラス欠陥を検出するためのモニタ装置およびモニ
タ方法、ならびに、ガラス欠陥の生成を制御できる光フ
ァイバの製造方法に関するものである。
れたガラス欠陥を検出するためのモニタ装置およびモニ
タ方法、ならびに、ガラス欠陥の生成を制御できる光フ
ァイバの製造方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】石英系光ファイバの赤外線領域での伝送
損失の要因として、レーザ散乱やＳｉ−Ｏの赤外吸収、
紫外領域の吸収のすその影響などがあるが、このうち紫
外領域の吸収の主要因は、光ファイバ中に生成している
格子欠陥である。従来このような格子欠陥を線引き中に
検出する方法はなく、光ファイバを製造後に、直接その
伝送損失を測定して、格子欠陥を推測する以外に検査の
方法がなかった。したがって、格子欠陥を生じないよう
に光ファイバを製造するには、経験に頼る以外に方法は
なかった。
損失の要因として、レーザ散乱やＳｉ−Ｏの赤外吸収、
紫外領域の吸収のすその影響などがあるが、このうち紫
外領域の吸収の主要因は、光ファイバ中に生成している
格子欠陥である。従来このような格子欠陥を線引き中に
検出する方法はなく、光ファイバを製造後に、直接その
伝送損失を測定して、格子欠陥を推測する以外に検査の
方法がなかった。したがって、格子欠陥を生じないよう
に光ファイバを製造するには、経験に頼る以外に方法は
なかった。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上述した事
情に鑑みてなされたもので、光ファイバ中の格子欠陥を
検出できるモニタ装置，モニタ方法、ならびに、格子欠
陥の生成を制御できる光ファイバの製造方法を提供する
ことを目的とするものである。
情に鑑みてなされたもので、光ファイバ中の格子欠陥を
検出できるモニタ装置，モニタ方法、ならびに、格子欠
陥の生成を制御できる光ファイバの製造方法を提供する
ことを目的とするものである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は、請求項１に記
載の発明においては、光ファイバのモニタ装置におい
て、光ファイバが導入可能に構成されたＥＳＲ分光器の
空洞共振器と、前記空洞共振器に導入された前記光ファ
イバ中に生成されている格子欠陥により生じるマイクロ
波の共鳴吸収を検出する検出手段を有することを特徴と
するものである。
載の発明においては、光ファイバのモニタ装置におい
て、光ファイバが導入可能に構成されたＥＳＲ分光器の
空洞共振器と、前記空洞共振器に導入された前記光ファ
イバ中に生成されている格子欠陥により生じるマイクロ
波の共鳴吸収を検出する検出手段を有することを特徴と
するものである。
【０００５】請求項２に記載の発明においては、光ファ
イバの製造方法において、光ファイバのモニタ方法にお
いて、線引炉にて溶融・紡糸された光ファイバをＥＳＲ
分光器の空洞共振器に導入し、前記光ファイバ中に生成
されている格子欠陥により生じるマイクロ波の共鳴吸収
を検出することにより光ファイバの特性を評価すること
を特徴とするものである。
イバの製造方法において、光ファイバのモニタ方法にお
いて、線引炉にて溶融・紡糸された光ファイバをＥＳＲ
分光器の空洞共振器に導入し、前記光ファイバ中に生成
されている格子欠陥により生じるマイクロ波の共鳴吸収
を検出することにより光ファイバの特性を評価すること
を特徴とするものである。
【０００６】請求項３に記載の発明においては、光ファ
イバ用ガラス母材を線引き炉において溶融・紡糸するこ
とにより得られた光ファイバを、樹脂のコーティング前
にＥＳＲ分光器の空洞共振器に導入し、前記光ファイバ
中に生成されている欠陥により生じるマイクロ波の共鳴
吸収の検出結果に基づいて前記線引き炉における線引き
条件を制御することを特徴とするものである。
イバ用ガラス母材を線引き炉において溶融・紡糸するこ
とにより得られた光ファイバを、樹脂のコーティング前
にＥＳＲ分光器の空洞共振器に導入し、前記光ファイバ
中に生成されている欠陥により生じるマイクロ波の共鳴
吸収の検出結果に基づいて前記線引き炉における線引き
条件を制御することを特徴とするものである。
【０００７】請求項４ないし６に記載の発明において
は、請求項３に記載の光ファイバの製造方法における前
記線引き炉における線引き条件の制御が、線引き張力を
制御するものであること、または、線引き時の線引き炉
の温度であること、または、線引き速度を制御するもの
であることも特徴とするものである。
は、請求項３に記載の光ファイバの製造方法における前
記線引き炉における線引き条件の制御が、線引き張力を
制御するものであること、または、線引き時の線引き炉
の温度であること、または、線引き速度を制御するもの
であることも特徴とするものである。
【０００８】
【作用】ガラス欠陥には、他の原子との結合に用いられ
ていない不対電子が存在している。ＥＳＲ（電子スピン
共鳴）分光器は、不対電子を検出することができるた
め、不対電子の存在によるガラス欠陥を検出することが
できる。
ていない不対電子が存在している。ＥＳＲ（電子スピン
共鳴）分光器は、不対電子を検出することができるた
め、不対電子の存在によるガラス欠陥を検出することが
できる。
【０００９】本発明によれば、ＥＳＲ分光器の空洞共振
器に導入された光ファイバに対して、その中に生成され
ている格子欠陥により生じるマイクロ波の共鳴吸収を検
出することにより、その位置における光ファイバの格子
欠陥を検出でき、光ファイバを空洞共振器を通過させな
がら連続的にモニタすることによって、光ファイバの長
手方向の特性の変動をモニタすることができる。
器に導入された光ファイバに対して、その中に生成され
ている格子欠陥により生じるマイクロ波の共鳴吸収を検
出することにより、その位置における光ファイバの格子
欠陥を検出でき、光ファイバを空洞共振器を通過させな
がら連続的にモニタすることによって、光ファイバの長
手方向の特性の変動をモニタすることができる。
【００１０】また、モニタ結果に基づいて、線引き炉に
おける線引き条件を制御することにより、線引きした光
ファイバの特性は、非常に安定し、また優れたものとな
る。光ファイバ用ガラス母材を線引き炉において溶融・
紡糸することにより得られた光ファイバを、樹脂のコー
ティング前にＥＳＲ分光器の空洞共振器に導入し、モニ
タすることにより、コーティング樹脂の影響を受けるこ
となく、モニタ結果が得られ、適正な制御を行なうこと
ができる。
おける線引き条件を制御することにより、線引きした光
ファイバの特性は、非常に安定し、また優れたものとな
る。光ファイバ用ガラス母材を線引き炉において溶融・
紡糸することにより得られた光ファイバを、樹脂のコー
ティング前にＥＳＲ分光器の空洞共振器に導入し、モニ
タすることにより、コーティング樹脂の影響を受けるこ
となく、モニタ結果が得られ、適正な制御を行なうこと
ができる。
【００１１】線引き炉における線引き条件の制御が、線
引き張力を制御するものであること、あるいは、線引き
時の線引き炉の温度であること、あるいは、線引き速度
を制御するものであることにより、格子欠陥の生成を抑
えた光ファイバを製造できるよう、線引き条件を制御す
ることができ、伝送特性の優れた光ファイバを製造する
ことができる。
引き張力を制御するものであること、あるいは、線引き
時の線引き炉の温度であること、あるいは、線引き速度
を制御するものであることにより、格子欠陥の生成を抑
えた光ファイバを製造できるよう、線引き条件を制御す
ることができ、伝送特性の優れた光ファイバを製造する
ことができる。
【００１２】
【実施例】図１は、本発明の光ファイバのモニタ装置の
一実施例の概略構成図である。図中、１は線引き炉、２
はプリフォーム、３は空洞共振器、４はＥＳＲ分光器、
５はマイクロコンピュータ、６はレコーダー、７はコー
ティングダイ、８は硬化装置、９は光ファイバである。
プリフォーム２は、線引き炉１で加熱され、光ファイバ
裸線が線引きされる。線引き炉１で線引きされた光ファ
イバ裸線は、空洞共振器３に形成された光ファイバ挿通
孔を通過して、ここで生じたＥＳＲをＥＳＲ分光器４で
検出し、マイクロコンピュータ５で演算する。演算結果
は、レコーダー６に記録される。ついで、コーティング
ダイ７で保護被膜形成のための樹脂液が塗布され、硬化
装置８で硬化されて、樹脂被覆の光ファイバ９となる。
なお、保護被覆に用いられる樹脂は、ＥＳＲを示すの
で、樹脂のコーティング前に光ファイバのモニタを行な
うのが望ましい。
一実施例の概略構成図である。図中、１は線引き炉、２
はプリフォーム、３は空洞共振器、４はＥＳＲ分光器、
５はマイクロコンピュータ、６はレコーダー、７はコー
ティングダイ、８は硬化装置、９は光ファイバである。
プリフォーム２は、線引き炉１で加熱され、光ファイバ
裸線が線引きされる。線引き炉１で線引きされた光ファ
イバ裸線は、空洞共振器３に形成された光ファイバ挿通
孔を通過して、ここで生じたＥＳＲをＥＳＲ分光器４で
検出し、マイクロコンピュータ５で演算する。演算結果
は、レコーダー６に記録される。ついで、コーティング
ダイ７で保護被膜形成のための樹脂液が塗布され、硬化
装置８で硬化されて、樹脂被覆の光ファイバ９となる。
なお、保護被覆に用いられる樹脂は、ＥＳＲを示すの
で、樹脂のコーティング前に光ファイバのモニタを行な
うのが望ましい。
【００１３】具体例についてモニタ方法を説明する。図
１に示した装置を用い、光ファイバの製造時にその中に
含まれるガラス欠陥のモニタを行なう。線引き炉１で溶
融，紡糸されたファイバを、あらかじめガラス欠陥が共
鳴吸収を起こす条件に磁場やマイクロ波の波長を調整し
ておいた空洞共振器３に通し、その中で共鳴吸収を生じ
たマイクロ波をＬ，Ｘ，Ｋ，Ｑバンド、望ましくは、Ｘ
バンドＥＳＲ分光器４で検出し、マイクロコンピュータ
５で積分処理し、光ファイバ中にガラス欠陥が存在して
いるか否かをモニタした。
１に示した装置を用い、光ファイバの製造時にその中に
含まれるガラス欠陥のモニタを行なう。線引き炉１で溶
融，紡糸されたファイバを、あらかじめガラス欠陥が共
鳴吸収を起こす条件に磁場やマイクロ波の波長を調整し
ておいた空洞共振器３に通し、その中で共鳴吸収を生じ
たマイクロ波をＬ，Ｘ，Ｋ，Ｑバンド、望ましくは、Ｘ
バンドＥＳＲ分光器４で検出し、マイクロコンピュータ
５で積分処理し、光ファイバ中にガラス欠陥が存在して
いるか否かをモニタした。
【００１４】図２は、測定されたＥＳＲスペクトルの一
例であり、横軸は磁場Ｈである。ＥＳＲは磁場変調を用
いて微分形にて測定する。標準サンプルとしてＭｎＯの
Ｍｎ++の信号を測定した。各積分強度の計算は、スペク
トルが微分形にて得られているので、積分を行なった。
そのときの信号の面積がそれぞれの強度を表わしてお
り、図３は、積分結果を示している。
例であり、横軸は磁場Ｈである。ＥＳＲは磁場変調を用
いて微分形にて測定する。標準サンプルとしてＭｎＯの
Ｍｎ++の信号を測定した。各積分強度の計算は、スペク
トルが微分形にて得られているので、積分を行なった。
そのときの信号の面積がそれぞれの強度を表わしてお
り、図３は、積分結果を示している。
【００１５】すなわち、Ｍｎ++はａを、格子欠陥はｂを
積分して計算する。このようにして計算された、低磁場
側から３本目の信号の積分強度を基準として、測定され
た格子欠陥の信号ｂの積分強度を評価するようにした。
そのときの光ファイバの波長１．３μｍでの伝送損失
と、ＭｎＯのＭｎ++の信号のうち低磁場側から３本目の
信号の積分強度と光ファイバの信号の積分強度の比を図
４に示す。図４では、線引き炉における線引き条件を変
えた３種類の光ファイバＡ〜Ｃを製造した。
積分して計算する。このようにして計算された、低磁場
側から３本目の信号の積分強度を基準として、測定され
た格子欠陥の信号ｂの積分強度を評価するようにした。
そのときの光ファイバの波長１．３μｍでの伝送損失
と、ＭｎＯのＭｎ++の信号のうち低磁場側から３本目の
信号の積分強度と光ファイバの信号の積分強度の比を図
４に示す。図４では、線引き炉における線引き条件を変
えた３種類の光ファイバＡ〜Ｃを製造した。
【００１６】図２，図３に示したサンプルについては、
強度比は１であり、非常にガラス欠陥が多く発生してい
ることが分かる。この光ファイバの伝送損失は、波長
１．３μｍで０．０４３ｄＢ／ｋｍと非常に大きかっ
た。
強度比は１であり、非常にガラス欠陥が多く発生してい
ることが分かる。この光ファイバの伝送損失は、波長
１．３μｍで０．０４３ｄＢ／ｋｍと非常に大きかっ
た。
【００１７】これらの結果より、ＥＳＲ強度比が０．０
１以上であれば伝送特性が悪くなることが分かる。これ
は光ファイバの格子欠陥が多くなると、その紫外吸収の
すその影響を受け、波長１．３μｍでの伝送損失に影響
を及ぼすことによるものである。
１以上であれば伝送特性が悪くなることが分かる。これ
は光ファイバの格子欠陥が多くなると、その紫外吸収の
すその影響を受け、波長１．３μｍでの伝送損失に影響
を及ぼすことによるものである。
【００１８】図５は、光ファイバ製造工程に図１で説明
したモニタ方法を適用した実施例の概略構成図である。
図中、図１と同様な部分には同じ符号を付して説明を省
略する。１０は加熱温度制御部、１１はローラー、１２
は巻取ドラム、１３は巻取系駆動制御部である。線引き
炉１で溶融・紡糸された光ファイバは、空洞共振器３を
通過した後、コーティングダイ７で保護被膜形成のため
の樹脂液が塗布され、硬化装置８で硬化されて、樹脂被
覆の光ファイバ９となり、ローラー１１を経由して、巻
取ドラム１２に巻き取られる。上述したように、保護被
覆に用いられる樹脂は、ＥＳＲを示すので、樹脂のコー
ティング前に空洞共振器３を配置するのがよい。
したモニタ方法を適用した実施例の概略構成図である。
図中、図１と同様な部分には同じ符号を付して説明を省
略する。１０は加熱温度制御部、１１はローラー、１２
は巻取ドラム、１３は巻取系駆動制御部である。線引き
炉１で溶融・紡糸された光ファイバは、空洞共振器３を
通過した後、コーティングダイ７で保護被膜形成のため
の樹脂液が塗布され、硬化装置８で硬化されて、樹脂被
覆の光ファイバ９となり、ローラー１１を経由して、巻
取ドラム１２に巻き取られる。上述したように、保護被
覆に用いられる樹脂は、ＥＳＲを示すので、樹脂のコー
ティング前に空洞共振器３を配置するのがよい。
【００１９】光ファイバの中に含まれるガラス欠陥のモ
ニタは、線引き炉１で溶融・紡糸されたファイバを、あ
らかじめガラス欠陥が共鳴吸収を起こす条件に磁場やマ
イクロ波波長を調整しておいた空洞共振器３に通され、
その中で共鳴吸収を生じたマイクロ波をＬ，Ｘ，Ｋ，Ｑ
バンド、望ましくは、ＸバンドＥＳＲ分光器４で検出
し、マイクロコンピュータ５で積分処理し、光ファイバ
中にガラス欠陥を有しているかどうかがモニタされる。
ニタは、線引き炉１で溶融・紡糸されたファイバを、あ
らかじめガラス欠陥が共鳴吸収を起こす条件に磁場やマ
イクロ波波長を調整しておいた空洞共振器３に通され、
その中で共鳴吸収を生じたマイクロ波をＬ，Ｘ，Ｋ，Ｑ
バンド、望ましくは、ＸバンドＥＳＲ分光器４で検出
し、マイクロコンピュータ５で積分処理し、光ファイバ
中にガラス欠陥を有しているかどうかがモニタされる。
【００２０】具体例では、ＸバンドＥＳＲの空洞共振器
３に光ファイバを通した後、磁場やマイクロ波波長をガ
ラス欠陥が共鳴吸収を起こすように調整しておき、その
後光ファイバを製造した。線引き条件を変えて、製造し
た３種類の光ファイバＡ〜Ｃについての、光ファイバの
波長１．３μｍでの伝送損失と、ＭｎＯのＭｎ++の信号
のうち低磁場側から３本目の信号の積分強度と光ファイ
バの信号の積分強度の比、すなわち、ＥＳＲ強度比は、
図４に示したとおりである。
３に光ファイバを通した後、磁場やマイクロ波波長をガ
ラス欠陥が共鳴吸収を起こすように調整しておき、その
後光ファイバを製造した。線引き条件を変えて、製造し
た３種類の光ファイバＡ〜Ｃについての、光ファイバの
波長１．３μｍでの伝送損失と、ＭｎＯのＭｎ++の信号
のうち低磁場側から３本目の信号の積分強度と光ファイ
バの信号の積分強度の比、すなわち、ＥＳＲ強度比は、
図４に示したとおりである。
【００２１】光ファイバ中の格子欠陥の発生は、線引き
張力の影響を受ける。したがって、モニタ結果に応じ
て、線引き中の光ファイバに及ぼす線引き張力を変化さ
せることにより、格子欠陥の発生を抑えることができ
る。具体例では、ＥＳＲ強度比が、０．０１以下となる
ように、線引き速度を変化させた場合と、線引き炉の温
度を変化させた場合の実験を行なった。そのために、図
５に示すように、マイクロコンピュータ５により、加熱
温度制御部１０の制御、または、巻取系駆動制御部の制
御を行なった。それぞれの制御を行なって線引きした光
ファイバの１ｋｍあたりの伝送損失（ｄＢ）を図６に示
す。また、制御を行なわずに線引きした光ファイバの１
ｋｍあたりの伝送損失（ｄＢ）とＥＳＲ強度比も併記し
た。制御をしない場合のＥＳＲ強度比は、０．０１を超
えており、線引きを進めるにつれて伝送特性が悪くなっ
ていることが分かる。
張力の影響を受ける。したがって、モニタ結果に応じ
て、線引き中の光ファイバに及ぼす線引き張力を変化さ
せることにより、格子欠陥の発生を抑えることができ
る。具体例では、ＥＳＲ強度比が、０．０１以下となる
ように、線引き速度を変化させた場合と、線引き炉の温
度を変化させた場合の実験を行なった。そのために、図
５に示すように、マイクロコンピュータ５により、加熱
温度制御部１０の制御、または、巻取系駆動制御部の制
御を行なった。それぞれの制御を行なって線引きした光
ファイバの１ｋｍあたりの伝送損失（ｄＢ）を図６に示
す。また、制御を行なわずに線引きした光ファイバの１
ｋｍあたりの伝送損失（ｄＢ）とＥＳＲ強度比も併記し
た。制御をしない場合のＥＳＲ強度比は、０．０１を超
えており、線引きを進めるにつれて伝送特性が悪くなっ
ていることが分かる。
【００２２】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
のモニタ装置およびモニタ方法によれば、光ファイバ中
のガラス欠陥の有無を直接検出することができ、製造中
の光ファイバの伝送特性のモニタとして有効である。
のモニタ装置およびモニタ方法によれば、光ファイバ中
のガラス欠陥の有無を直接検出することができ、製造中
の光ファイバの伝送特性のモニタとして有効である。
【００２３】また、本発明の光ファイバの製造方法によ
ると、線引きされた光ファイバの格子欠陥を直接モニタ
でき、それにより線引き条件を制御しているので、特性
の安定した光ファイバを高い歩留まりで製造することが
できるという効果がある。
ると、線引きされた光ファイバの格子欠陥を直接モニタ
でき、それにより線引き条件を制御しているので、特性
の安定した光ファイバを高い歩留まりで製造することが
できるという効果がある。
【図１】本発明の光ファイバのモニタ装置の一実施例の
概略構成図である。
概略構成図である。
【図２】測定されたＥＳＲスペクトルの一例の線図であ
る。
る。
【図３】積分されたＥＳＲスペクトルの一例の線図であ
る。
る。
【図４】具体例による実験結果の説明図である。
【図５】本発明の光ファイバの製造方法の一実施例を説
明するための概略構成図である。
明するための概略構成図である。
【図６】本発明の製造方法と従来の製造方法とによる実
験結果の説明図である。
験結果の説明図である。
１…線引き炉、２…プリフォーム、３…空洞共振器、４
…ＥＳＲ分光器、５…マイクロコンピュータ、６…レコ
ーダー、７…コーティングダイ、８…硬化装置、９…光
ファイバ、１０…加熱温度制御部、１１…ローラー、１
２…巻取ドラム、１３…巻取系駆動制御部。
…ＥＳＲ分光器、５…マイクロコンピュータ、６…レコ
ーダー、７…コーティングダイ、８…硬化装置、９…光
ファイバ、１０…加熱温度制御部、１１…ローラー、１
２…巻取ドラム、１３…巻取系駆動制御部。
Claims (6)
- 【請求項１】 光ファイバが導入可能に構成されたＥＳ
Ｒ分光器の空洞共振器と、前記空洞共振器に導入された
前記光ファイバ中に生成されている格子欠陥により生じ
るマイクロ波の共鳴吸収を検出する検出手段を有するこ
とを特徴とする光ファイバのモニタ装置。 - 【請求項２】 線引炉にて溶融・紡糸された光ファイバ
をＥＳＲ分光器の空洞共振器に導入し、前記光ファイバ
中に生成されている格子欠陥により生じるマイクロ波の
共鳴吸収を検出することにより光ファイバの特性を評価
することを特徴とする光ファイバのモニタ方法。 - 【請求項３】 光ファイバ用ガラス母材を線引き炉にお
いて溶融・紡糸することにより得られた光ファイバを、
樹脂のコーティング前にＥＳＲ分光器の空洞共振器に導
入し、前記光ファイバ中に生成されている欠陥により生
じるマイクロ波の共鳴吸収の検出結果に基づいて前記線
引き炉における線引き条件を制御することを特徴とする
光ファイバの製造方法。 - 【請求項４】 前記線引き炉における線引き条件の制御
が、線引き張力を制御するものであることを特徴とする
請求項３に記載の光ファイバの製造方法。 - 【請求項５】 前記線引き炉における線引き条件の制御
が、線引き時の線引き炉の温度であることを特徴とする
請求項３に記載の光ファイバの製造方法。 - 【請求項６】 前記線引き炉における線引き条件の制御
が、線引き速度を制御するものであることを特徴とする
請求項３に記載の光ファイバの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3821794A JPH07244002A (ja) | 1994-03-09 | 1994-03-09 | 光ファイバのモニタ装置及びモニタ方法及び製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3821794A JPH07244002A (ja) | 1994-03-09 | 1994-03-09 | 光ファイバのモニタ装置及びモニタ方法及び製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07244002A true JPH07244002A (ja) | 1995-09-19 |
Family
ID=12519149
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3821794A Pending JPH07244002A (ja) | 1994-03-09 | 1994-03-09 | 光ファイバのモニタ装置及びモニタ方法及び製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07244002A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1281988A3 (en) * | 2001-07-30 | 2004-05-26 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | Single mode optical fiber as well as method and apparatus for its manufacture |
| KR100441156B1 (ko) * | 2002-08-31 | 2004-07-19 | 엘지전선 주식회사 | 광섬유에 인가되는 스핀을 모니터링하는 방법 및 양방향스핀의 대칭성을 확보하기 위한 광섬유 제조방법 |
| JP2014006206A (ja) * | 2012-06-26 | 2014-01-16 | Central Research Institute Of Electric Power Industry | 活断層の評価方法 |
-
1994
- 1994-03-09 JP JP3821794A patent/JPH07244002A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1281988A3 (en) * | 2001-07-30 | 2004-05-26 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | Single mode optical fiber as well as method and apparatus for its manufacture |
| US8020411B2 (en) | 2001-07-30 | 2011-09-20 | The Furukawa Electric Co., Ltd. | Method of manufacturing single mode optical fiber |
| KR100441156B1 (ko) * | 2002-08-31 | 2004-07-19 | 엘지전선 주식회사 | 광섬유에 인가되는 스핀을 모니터링하는 방법 및 양방향스핀의 대칭성을 확보하기 위한 광섬유 제조방법 |
| JP2014006206A (ja) * | 2012-06-26 | 2014-01-16 | Central Research Institute Of Electric Power Industry | 活断層の評価方法 |
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