JPH07240670A - リング発振回路 - Google Patents

リング発振回路

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JPH07240670A
JPH07240670A JP6029195A JP2919594A JPH07240670A JP H07240670 A JPH07240670 A JP H07240670A JP 6029195 A JP6029195 A JP 6029195A JP 2919594 A JP2919594 A JP 2919594A JP H07240670 A JPH07240670 A JP H07240670A
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JP
Japan
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cmos inverter
inverter circuit
circuit
power supply
supply voltage
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JP6029195A
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English (en)
Inventor
Masaru Morishita
賢 森下
Hideki Takase
英樹 高瀬
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Toshiba Corp
Toshiba Electronic Device Solutions Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Microelectronics Corp
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Publication date
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Priority to EP95102656A priority patent/EP0670632A1/en
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Priority to CN95100446A priority patent/CN1108827A/zh
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/01Details
    • H03K3/011Modifications of generator to compensate for variations in physical values, e.g. voltage, temperature
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/027Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use of logic circuits, with internal or external positive feedback
    • H03K3/03Astable circuits
    • H03K3/0315Ring oscillators
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03KPULSE TECHNIQUE
    • H03K3/00Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
    • H03K3/02Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
    • H03K3/353Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
    • H03K3/354Astable circuits

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  • Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)
  • Inductance-Capacitance Distribution Constants And Capacitance-Resistance Oscillators (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】リング発振回路で使用している電源電圧および
CMOSインバータ回路の閾値および温度に対する発振
周波数の依存性を軽減し、発振周波数のばらつきを抑制
する。 【構成】奇数段直列に接続されたCMOSインバータ回
路11と、この奇数段のCMOSインバータ回路の各段
間ノードと接地ノードとの間にそれぞれ接続され、CM
OSインバータ回路の動作電源電圧に依存した所定電位
がゲートに供給されるMOSトランジスタN2およびキ
ャパシタ12が直列に接続された直列回路13と、奇数
段のCMOSインバータ回路の最終段の出力信号を初段
の入力ノードに帰還させる帰還経路15とを具備するこ
とを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体集積回路内に形
成されるリング発振回路に係り、例えばEEPROMの
昇圧回路などに高周波クロック信号を供給するために使
用される。
【0002】
【従来の技術】この種の従来のリング発振回路は、図8
に示すように、CMOSインバータ回路11が奇数段直
列に接続され、各段間ノードと接地ノードとの間にキャ
パシタ12が接続され、最終段のインバータ回路11の
出力信号が初段のインバータ回路11の入力ノードに帰
還するように構成されている。
【0003】上記リング発振回路の動作は、よく知られ
ているのでその説明を省略するが、発振周波数は、各段
間におけるキャパシタ12の容量CとCMOSインバー
タ回路11のオン抵抗Rとの時定数CRにより決まる。
【0004】しかし、上記CMOSインバータ回路11
のオン抵抗Rは、CMOSインバータ回路11の電源電
圧、閾値および温度に大きく依存するので、リング発振
回路の発振周波数が上記電源電圧およびCMOSインバ
ータ回路11の閾値に依存して大きくばらついてしま
う。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記したように従来の
CMOSインバータ回路を使用したリング発振回路は、
発振周波数が電源電圧およびCMOSインバータ回路の
閾値および温度に依存して大きくばらつくという問題が
あった。
【0006】本発明は上記の問題点を解決すべくなされ
たもので、使用している電源電圧およびCMOSインバ
ータ回路の閾値および温度に対する発振周波数の依存性
を軽減し、発振周波数のばらつきを抑制し得るリング発
振回路を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明のリング発振回路
は、奇数段直列に接続されたCMOSインバータ回路
と、この奇数段のCMOSインバータ回路の各段間ノー
ドと接地ノードとの間にそれぞれ接続され、前記CMO
Sインバータ回路の動作電源電圧に依存した所定電位が
ゲートに供給されるMOSトランジスタおよびキャパシ
タが直列に接続された直列回路と、前記奇数段のCMO
Sインバータ回路の最終段の出力信号を初段の入力ノー
ドに帰還させる帰還経路とを具備することを特徴とす
る。
【0008】
【作用】直列回路のMOSトランジスタのオン抵抗がC
MOSインバータ回路の動作電源電圧に依存して変化
し、これにより各段間におけるキャパシタの容量CとC
MOSインバータ回路のオン抵抗Rとの時定数CRに影
響を及ぼす。
【0009】即ち、CMOSインバータ回路の動作電源
電圧Vccが例えば低下するにつれて、CMOSインバー
タ回路のオン抵抗Rが増加し、時定数CRのうちのRが
増大するが、MOSトランジスタのオン抵抗も増加して
等価的に時定数CRのうちのCを減少させる。これによ
り、上記Rの増大分が相殺されるので、時定数CRの電
源電圧Vccに対する依存性、ひいては、発振周波数の電
源電圧Vccに対する依存性が軽減し、発振周波数のばら
つきが抑制されるようになる。
【0010】また、例えば製造プロセスのばらつきなど
によりCMOSインバータ回路の閾値が例えば高くなっ
た場合にも、CMOSインバータ回路のオン抵抗Rが増
加し、時定数CRのうちのRが増大するが、MOSトラ
ンジスタのオン抵抗も増加して等価的に時定数CRのう
ちのCを減少させるので、時定数CRのCMOSインバ
ータ回路の閾値に対する依存性が軽減し、発振周波数の
ばらつきが抑制されるようになる。さらに、温度が高く
なった場合にもCMOSインバータ回路のオン抵抗Rが
増加し、時定数CRのうちのRが増大するが、MOSト
ランジスタのオン抵抗も増加して等価的に時定数CRの
うちのCを減少させるので、時定数CRの温度依存性が
軽減し、発振周波数のばらつきが抑制されるようにな
る。
【0011】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細
に説明する。図1は、本発明の一実施例に係るリング発
振回路を示している。このリング発振回路において、奇
数段直列に接続されたCMOSインバータ回路11は、
例えば図2に示すように、それぞれPMOSトランジス
タP1とNMOSトランジスタN1とが直列に接続され
てなり、上記両トランジスタの各ゲートが入力ノードと
なり、上記両トランジスタの各ドレインが出力ノードと
なり、上記PMOSトランジスタP1のソースに電源電
圧Vccが供給され、上記NMOSトランジスタN1のソ
ースが接地電位Vssノードに接続されている。
【0012】この奇数段のCMOSインバータ回路11
の各段間ノードと接地ノードとの間には、NMOSトラ
ンジスタN2およびキャパシタ12が直列に接続された
直列回路13がそれぞれ接続されている。上記NMOS
トランジスタN2のゲートには、前記電源電圧Vccを抵
抗素子R1およびR2により分割する電源電圧分割回路
14から分割電圧が供給される。さらに、前記奇数段の
CMOSインバータ回路11の最終段の出力信号を初段
の入力ノードに帰還させる帰還経路15が形成されてい
る。
【0013】上記構成のリング発振回路において、NM
OSトランジスタN2のオン抵抗が零であるとすれば、
発振周波数は、従来のリング発振回路と同様に、各段間
におけるキャパシタ12の容量CとCMOSインバータ
回路11のオン抵抗Rとの時定数CRにより決まる。し
かし、直列回路のMOSトランジスタN2のオン抵抗が
CMOSインバータ回路11の動作電源電圧に依存して
変化し、これにより上記時定数CRに影響を及ぼす。
【0014】即ち、電源電圧Vccが例えば低下するにつ
れて、CMOSインバータ回路11のオン抵抗Rが増加
し、時定数CRのうちのRが増大するが、NMOSトラ
ンジスタN2のオン抵抗も増加して等価的に時定数CR
のうちのCを減少させる。これにより、上記Rの増大分
が相殺されるので、時定数CRの電源電圧Vccに対する
依存性、ひいては、発振周波数の電源電圧Vccに対する
依存性が軽減し、発振周波数のばらつきが抑制されるよ
うになる。
【0015】また、例えば製造プロセスのばらつきなど
により前記CMOSインバータ回路11の閾値が例えば
高くなった場合にも、上記した電源電圧Vccが低下する
場合と同様に、CMOSインバータ回路11のオン抵抗
Rが増加し、時定数CRのうちのRが増大するが、NM
OSトランジスタN2のオン抵抗も増加して等価的に時
定数CRのうちのCを減少させる。これにより、上記R
の増大分が相殺されるので、時定数CRのCMOSイン
バータ回路11の閾値に対する依存性、ひいては、発振
周波数のCMOSインバータ回路11の閾値に対する依
存性が軽減し、発振周波数のばらつきが抑制されるよう
になる。さらに、温度が高くなった場合にもCMOSイ
ンバータ回路11のオン抵抗Rが増加し、時定数CRの
うちのRが増大するが、NMOSトランジスタN2のオ
ン抵抗も増加して等価的に時定数CRのうちのCを減少
させるので、時定数CRの温度依存性が軽減し、発振周
波数のばらつきが抑制されるようになる。
【0016】上記したような発振周波数の電源電圧Vcc
およびCMOSインバータ回路11の閾値および温度に
対する依存性は、電源電圧分割回路14の電圧分割比や
CMOSインバータ回路11のゲートの入力ゲート容量
とキャパシタ12の容量Cとの相対比を変化させること
により制御することが可能である。
【0017】また、上記したようにNMOSトランジス
タN2を付加しても、従来例のリング発振回路と比べ
て、素子数、パターン面積および消費電流の増大は僅か
で済む。
【0018】なお、上記実施例では、NMOSトランジ
スタN2のゲートに、電源電圧分割回路14から分割電
圧を供給したが、これに代えて、図3に示すように、電
源電圧Vccを直接に供給するように変更しても、上記実
施例と同様の効果が得られる。
【0019】また、前記NMOSトランジスタN2に代
えて、図4あるいは図5に示すように、PMOSトラン
ジスタP2を用い、そのゲートに電源電圧分割回路14
からの分割電圧あるいは接地電位を供給するように変更
しても、上記実施例と同様の効果が得られる。
【0020】図6は、本発明の第2実施例に係るリング
発振回路を示している。このリング発振回路は、図1に
示したリング発振回路に対して、前記NMOSトランジ
スタN2と並列にPMOSトランジスタP2を付加接続
し、これらのNMOSトランジスタN2のゲートおよび
PMOSトランジスタP2のゲートに電源電圧分割回路
14からの分割電圧を供給するようにしたものである。
【0021】このような構成によっても、前記実施例と
同様の動作原理により、実施例と同様の効果が得られ
る。さらに、図7に示すように、図6中のNMOSトラ
ンジスタN2のゲートに電源電圧Vccを供給し、PMO
SトランジスタP2のゲートに接地電位を供給するよう
に変更しても、上記実施例と同様の効果が得られる。
【0022】
【発明の効果】上述したように本発明のリング発振回路
によれば、使用している電源電圧およびCMOSインバ
ータ回路の閾値および温度に対する発振周波数の依存性
を軽減し、発振周波数のばらつきを抑制することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例に係るリング発振回路を示
す回路図。
【図2】図1中のCMOSインバータ回路の一例を示す
回路図。
【図3】図1のリング発振回路の変形例を示す回路図。
【図4】図1のリング発振回路の他の変形例を示す回路
図。
【図5】図1のリング発振回路のさらに他の変形例を示
す回路図。
【図6】本発明の第2実施例に係るリング発振回路を示
す回路図。
【図7】図6のリング発振回路の変形例を示す回路図。
【図8】従来のリング発振回路を示す回路図。
【符号の説明】
11…CMOSインバータ回路、P1、P2…PMOS
トランジスタ、N1、N2…NMOSトランジスタ、1
2…キャパシタ、13…直列回路、R1、R2…抵抗素
子、14…電源電圧分割回路、15…帰還経路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 奇数段直列に接続されたCMOSインバ
    ータ回路と、 この奇数段のCMOSインバータ回路の各段間ノードと
    接地ノードとの間にそれぞれ接続され、前記CMOSイ
    ンバータ回路の動作電源電圧に依存した所定電位がゲー
    トに供給されるMOSトランジスタおよびキャパシタが
    直列に接続された直列回路と、 前記奇数段のCMOSインバータ回路の最終段の出力信
    号を初段の入力ノードに帰還させる帰還経路とを具備す
    ることを特徴とするリング発振回路。
JP6029195A 1994-02-28 1994-02-28 リング発振回路 Pending JPH07240670A (ja)

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JP6029195A JPH07240670A (ja) 1994-02-28 1994-02-28 リング発振回路
KR1019950003629A KR950026101A (ko) 1994-02-28 1995-02-24 링 발진 회로
EP95102656A EP0670632A1 (en) 1994-02-28 1995-02-24 Ring oscillation circuit
TW084101862A TW262617B (ja) 1994-02-28 1995-02-27
CN95100446A CN1108827A (zh) 1994-02-28 1995-02-28 环状振荡电路

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