JPH07220295A - 光ディスク装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】記録再生動作をしない場合にレーザ光の連続的
照射による温度上昇によって記録膜が劣化するのを防止
すると共に、記録再生動作が可能となるまでの時間を短
縮化できる光ディスク装置を提供する。 【構成】検出回路１３からのトラッキングエラー信号Ｅ
ｔをスイッチ１４のａ側に供給する。スイッチ１４のｂ
側にはランダム信号Ｓra等を供給する。スイッチ１４
を、記録再生時はａ側に接続し、記録も再生も行わない
場合にはｂ側に接続する。スイッチ１４の出力信号をト
ラッキングエラー信号としてサーボ回路１６に供給す
る。記録も再生も行わない場合、ランダム信号Ｓra等に
基づいてトラッキングサーボが行われ、トラッキングア
クチュエータはラジアル方向に振れる。レーザ光がフォ
ーカス状態で光磁気ディスク２の記録膜に照射される場
合であっても、同一トラックが連続的に照射されること
がなく、記録膜の温度上昇による劣化を防止し得る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、記録可能な光ディス
クの記録膜にレーザ光を照射して記録または再生を行う
光磁気ディスク装置等の光ディスク装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】例えば、光磁気ディスク装置をコンピュ
ータの外部記憶装置として使用することが提案されてい
る。この種の光磁気ディスク装置では、記録再生（書き
込み／読み出し）の動作を行わないときにフォーカスサ
ーボを一度オフにすると再引き込みに２〜３秒程度要す
ること等の理由から、フォーカスサーボおよびトラッキ
ングサーボが行われるスチル動作を行うようにされてい
る。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】上述したスチル動作で
は、同一トラックにレーザ光がフォーカス状態で連続的
に照射されるため、光磁気ディスクの記録膜の温度が上
昇する。記録膜の温度上昇が繰り返し行なわれると、記
録膜の劣化によって記録特性が劣化し、例えば記録され
たデータの破壊等が生じる問題点があった。

【０００４】そこで、この発明は、記録再生動作をしな
い場合にレーザ光が同一トラックにフォーカス状態で連
続的に照射されないようにして記録膜の劣化を防止する
と共に、記録再生動作が可能となるまでの時間を短縮化
できる光ディスク装置を提供するものである。

【０００５】

【課題を解決するための手段】第１の発明に係る光ディ
スク装置は、記録可能な光ディスクの記録膜にレーザ光
を照射して記録または再生を行う光ディスク装置におい
て、記録も再生も行わない場合にトラッキングアクチュ
エータをラジアル方向に振るトラッキング制御手段を備
えるものである。

【０００６】例えばトラッキング制御手段は、トラッキ
ングエラー信号の代わりにランダム信号を使用すること
でトラッキングアクチュエータをラジアル方向に振るも
のである。

【０００７】また例えば、トラッキング制御手段は、ト
ラッキングエラー信号の代わりに光ディスクの回転周期
とは非同期の周期信号を使用することでトラッキングア
クチュエータをラジアル方向に振るものである。

【０００８】第２の発明に係る光ディスク装置は、記録
可能な光ディスクの記録膜にレーザ光を照射して記録ま
たは再生を行う光ディスク装置において、記録も再生も
行わない場合にフォーカスアクチュエータを移動させて
デフォーカス状態とするフォーカス制御手段を備えるも
のである。

【０００９】例えば、フォーカス制御手段は、フォーカ
スエラー信号に所定のオフセット信号を加算することで
フォーカスアクチュエータを移動させる。

【００１０】また例えば、非点収差法によるフォーカス
エラー信号を得るための第１および第２の光検出部を有
し、第２の光検出部の面積は上記第１の光検出部の面積
より大きくされ、フォーカス制御手段は、第１の光検出
部より得られるフォーカスエラー信号の代わりに第２の
光検出部より得られるフォーカスエラー信号を使用する
と共に、このフォーカスエラー信号に所定のオフセット
信号を加算することでフォーカスアクチュエータを移動
させる。第１の光検出部は例えば第２の光検出部の一部
で構成される。

【００１１】第３の発明に係る光ディスク装置は、記録
可能な光ディスクの記録膜にレーザ光を照射して記録ま
たは再生を行う光ディスク装置において、フォーカスア
クチュエータの所定位置からの変位を検出する変位検出
手段を備え、記録も再生も行わない場合にフォーカスエ
ラー信号の代わりに変位検出手段の出力信号を使用する
と共に、レーザ光の発光を停止するものである。

【００１２】

【作用】第１の発明においては、記録も再生も行わない
場合にトラッキングアクチュエータをランダム信号、周
期信号等を用いてラジアル方向に振るものであり、レー
ザ光がフォーカス状態で記録膜に照射される場合であっ
ても、例えば同一トラックが連続的に照射されるもので
なく、記録膜の温度上昇による劣化を防止することが可
能となる。また、記録も再生も行わない場合にフォーカ
スサーボをオフにする必要がなく、記録または再生の動
作が可能となるまでの時間を短縮化することが可能とな
る。

【００１３】第２の発明においては、記録も再生も行わ
ない場合に例えばフォーカスエラー信号に所定のオフセ
ット信号を加算することでフォーカスアクチュエータを
移動させてデフォーカス状態とするものであり、レーザ
光はデフォーカス状態で記録膜に照射されるため、仮え
同一トラックが連続的に照射されても記録膜の温度上昇
による劣化を防止することが可能となる。また、記録も
再生も行わない場合にフォーカスサーボをオフにするも
のでなく、フォーカスエラー信号に加算されるオフセッ
ト信号を除くことで即座にフォーカス状態にでき、記録
または再生の動作が可能となるまでの時間を短縮化する
ことが可能となる。

【００１４】ここで、記録または再生の動作時には面積
の小さな第１の光検出部より得られる非点収差法による
フォーカスエラー信号を使用することで、高精度のフォ
ーカスエラー信号を得ることができ、フォーカスサーボ
の精度を上げることが可能となる。一方、記録も再生も
行わない場合に面積の大きな第２の光検出部より得られ
る非点収差法によるフォーカスエラー信号を使用するこ
とで、フォーカスサーボの制御範囲を拡大することが可
能となり、デフォーカス量を大きくでき、記録膜の温度
上昇による劣化をより完全に防止することが可能とな
る。また、第１の光検出部を第２の光検出部の一部で構
成することで、光検出部を効率よく利用でき、かつ安価
に構成することが可能となる。

【００１５】第３の発明においては、記録も再生も行わ
ない場合にはレーザ光の発光を停止するものであり、記
録膜の温度上昇による劣化を防止することが可能とな
る。また、フォーカスエラー信号の代わりに変位検出手
段の出力信号を使用するものであり、フォーカスアクチ
ュエータを例えばフォーカス状態の位置に保持しておく
ことが可能となり、記録または再生の動作を行う場合に
即座にフォーカス状態にでき、記録または再生の動作が
可能となるまでの時間を短縮化することが可能となる。

【００１６】

【実施例】以下、図１を参照しながら、この発明の第１
実施例について説明する。本例は光磁気ディスク装置に
適用した例であって、サーボ方式がサンプルサーボ方式
の例である。

【００１７】図において、１はスピンドルモータであ
り、光磁気ディスク２はモータ１でもって角速度一定で
回転駆動される。

【００１８】また、図示しないホストコンピュータから
の記録データはコントローラ３およびデータバッファ４
を介してエンコーダ／デコーダ５に供給され、エンコー
ド処理（誤り訂正符号の付加や変調等）が行なわれる。
このエンコーダ／デコーダ５の動作はコントローラ３に
よって制御される。

【００１９】エンコーダ／デコーダ５より出力される記
録データ（変調データ）は外部磁界発生用の磁気ヘッド
６のドライブ回路７に供給される。これにより、磁気ヘ
ッド６より記録データに応じた磁界が発生され、光学ヘ
ッド８からのレーザビームとの共働でもって光磁気ディ
スク２のデータ領域に記録データが光磁気記録される。

【００２０】図２は、光学ヘッド８の構成例を示してい
る。１０１は半導体レーザであり、この半導体レーザ１
０１からのレーザ光はコリメータレンズ１０２、ビーム
断面整形レンズ１０３、偏光ビームスプリッタ１０４、
ミラー１０５および対物レンズ１０６を介して光磁気デ
ィスク２の記録膜に照射される。この光磁気ディスク２
からの反射光は、対物レンズ１０６、ミラー１０５およ
び偏光ビームスプリッタ１０４を介して偏光ビームスプ
リッタ１０７に入射される。そして、偏光ビームスプリ
ッタ１０７を透過する光は集光レンズ１０８およびシリ
ンドリカルレンズ１０９を介して光検出器１１０に入射
される。

【００２１】また、偏光ビームスプリッタ１０７で反射
される光は１／２波長板１１１で４５°だけ偏光面が回
転された後に集光レンズ１１２を介して偏光ビームスプ
リッタ１１３に入射される。この偏光ビームスプリッタ
１１３を透過する光（ｐ偏光）は光検出器１１４に入射
され、偏光ビームスプリッタ１１３で反射される光（ｓ
偏光）は光検出器１１５に入射される。

【００２２】図１に戻って、光学ヘッド８の光検出器１
１４，１１５の出力信号は加算器９に供給されて加算さ
れる。加算器９より出力される加算信号（ＲＦ信号）は
光磁気ディスク２のピット部より反射光が得られる期間
にあっては記録データに対応した信号となる。

【００２３】図３はサンプルサーボ方式におけるセクタ
ーフォーマットを示しており、最初にヘッダー部が配さ
れ、続いて複数のデータ部が配されて構成される。ヘッ
ダー部および各データ部の先頭にはサーボバイトＳＢが
設けられ、このサーボバイトＳＢの部分にクロックピッ
トやウォブルピットがプリフォーマットされる。また、
ヘッダー部にはセクターマーク、セクターアドレス、ト
ラックアドレスの信号が記録されるが、これらの信号も
ピットでプリフォーマットされる。

【００２４】加算器１０の出力信号はクロック再生回路
１１に供給され、サーボバイトＳＢの部分のクロックピ
ットやウォブルピットの再生信号に基づいてクロックＣ
Ｋが再生される。このクロックＣＫは各部でシステムク
ロックとして使用される。また、加算器１０の出力信号
はアドレスデコーダ１２に供給され、ヘッダー部の再生
信号よりアドレスデータＡＤが得られる。このアドレス
データＡＤはコントローラ３に供給され、記録または再
生の際のアクセス制御に利用される。

【００２５】また、加算器１０の出力信号はトラッキン
グエラー検出回路１３に供給され、サーボバイトＳＢの
部分のウォブルピットの再生信号に基づいてトラッキン
グエラー信号Ｅｔが検出される。このトラッキングエラ
ー信号Ｅｔは切換スイッチ１４のａ側の固定端子に供給
される。切換スイッチ１４のｂ側の固定端子には、信号
発生回路１５で発生されるランダム信号Ｓraまたは正弦
波、三角波等の周期信号Ｓcyが供給される。この場合、
周期信号Ｓcyは光磁気ディスク２の回転周期とは非同期
のものとされる。

【００２６】切換スイッチ１４の切り換えは、コントロ
ーラ３の制御によって行なわれる。すなわち、記録また
は再生を行う際にはａ側に接続されると共に、記録も再
生も行わない場合にはｂ側に接続される。切換スイッチ
１４の出力信号はトラッキングエラー信号としてサーボ
回路１６に供給される。また、光学ヘッド８の光検出器
１１０（図２参照）は、上述せずも４分割光検出器であ
り、各検出部の出力信号がフォーカスエラー検出回路１
７に供給される。このフォーカスエラー検出回路１７で
は非点収差法によるフォーカスエラー信号Ｅｆが検出さ
れ、このフォーカスエラー信号Ｅｆはサーボ回路１６に
供給される。

【００２７】サーボ回路１６の動作はコントローラ３で
制御される。このサーボ回路１６によって光学ヘッド８
のトラッキングサーボおよびフォーカスサーボが行なわ
れると共に、アドレスデコーダ１２より出力されるアド
レスデータＡＤ等に基づいてシーク制御（ラジアル送り
制御）も行なわれる。

【００２８】また、光学ヘッド８の光検出器１１４，１
１５（図６参照）の出力信号は減算器１８に供給されて
減算される。この減算器１８より出力される減算信号
（ＭＯ信号）は、光磁気ディスク２の光磁気記録部より
反射光が得られる期間にあっては記録データに対応した
信号となる。減算器１８の出力信号はデータ検出回路１
９に供給される。このデータ検出回路１９では再生信号
の波形等化処理等が行われてデータ検出が行なわれる。
データ検出回路１９で検出されたデータはエンコーダ／
デコーダ５に供給されてデコード処理（誤り訂正や復調
等）が行なわれる。そして、エンコーダ／デコーダ５よ
り出力される再生データはコントローラ３およびデータ
バッファ４を介してホストコンピュータに供給される。

【００２９】本例は以上のように構成され、記録または
再生（書き込みまたは読み出し）を行う際には、切換ス
イッチ１４がａ側に接続され、トラッキングエラー検出
回路１３で検出されるトラッキングエラー信号Ｅｔが切
換スイッチ１４のａ側を介してサーボ回路１６に供給さ
れるため、このトラッキングエラー信号Ｅｔに基づいて
トラッキングサーボが良好に行なわれる。

【００３０】一方、記録も再生も行わない場合には、切
換スイッチ１４がｂ側に接続され、信号発生回路１４よ
り出力されるランダム信号Ｓraまたは周期信号Ｓcyが切
換スイッチ１４のｂ側を介してサーボ回路１６にトラッ
キングエラー信号として供給される。そのため、ランダ
ム信号Ｓraまたは周期信号Ｓcyに基づいてトラッキング
サーボが行われることとなり、トラッキングアクチュエ
ータはラジアル方向に振れるように制御される。

【００３１】したがって本例においては、記録または再
生を行わない場合にトラッキングアクチュエータがラン
ダム信号Ｓraまたは周期信号Ｓcyに基づいてラジアル方
向に振れるように制御されるため、レーザ光がフォーカ
ス状態で光磁気ディスク２の記録膜に照射される場合で
あっても、例えば同一トラックが連続的に照射されるこ
とがなく、記録膜の温度上昇による劣化を防止すること
ができる。上述したように周期信号Ｓcyを光磁気ディス
ク２の回転周期とは非同期のものとするのは、回転周期
と同期したものであるときは光磁気ディスク２の記録膜
の同一部分がレーザ光で連続的に照射されるおそれがあ
るためである。

【００３２】また本例においては、記録も再生も行わな
い場合にフォーカスサーボをオフにするものでなく、記
録または再生を行うためにフォーカスサーチ動作等を経
る必要がなく、記録または再生が可能となるまでの時間
を短縮化することができる。

【００３３】次に、図４を参照しながら、この発明の第
２実施例について説明する。この図４において、図１と
対応する部分には同一符号を付し、その詳細説明は省略
する。

【００３４】図において、フォーカスエラー検出回路１
７で検出されるフォーカスエラー信号Ｅｆは加算器２１
に供給される。また、この加算器２１にはオフセット信
号Ｖ _OFが接続スイッチ２２を介して供給される。接続ス
イッチ２２のオンオフはコントローラ３によって制御さ
れる。すなわち、記録または再生を行う際にはオフとさ
れると共に、記録も再生も行わない場合にはオンとされ
る。加算器２１の出力信号はフォーカスエラー信号とし
てサーボ回路１６に供給される。

【００３５】また、トラッキングエラー検出回路１３で
検出されるトラッキングエラー信号Ｅｔは切換スイッチ
２３のａ側の固定端子に供給される。この切換スイッチ
２３のｂ側の固定端子は接地される。切換スイッチ２３
の切り換えは、コントローラ３の制御によって行なわれ
る。すなわち、記録または再生を行う際にはａ側に接続
されると共に、記録も再生も行わない場合にはｂ側に接
続される。切換スイッチ２３の出力信号はトラッキング
エラー信号としてサーボ回路１６に供給される。本例は
以上のように構成され、その他は図１の例と同様に構成
される。

【００３６】本例において、記録または再生（書き込み
または読み出し）を行う際には、接続スイッチ２２がオ
フとされるため、フォーカスエラー検出回路１７で検出
されるフォーカスエラー信号Ｅｆがそのままサーボ回路
１６に供給されるため、このフォーカスエラー信号Ｅｆ
に基づいてフォーカスサーボが良好に行なわれる。

【００３７】一方、記録も再生も行わない場合には、接
続スイッチ２２がオンとされるため、フォーカスエラー
信号Ｅｆにオフセット信号Ｖ_OFを加算したものがサーボ
回路１６にフォーカスエラー信号として供給される。そ
のため、光学ヘッド８はデフォーカス状態となる。

【００３８】図５の実線はフォーカスエラー信号Ｅｆと
デフォーカス量との関係の一例を示している。対物レン
ズ１０６の開口率ＮＡ＝０．５、レーザ光波長λ＝７８
０ｎｍの場合、最もレーザ光が絞り込まれたときの記録
膜上のスポット径は１μｍ前後である（Ａ点参照）。上
述したように接続スイッチ２２をオンとしてフォーカス
エラー信号Ｅｆにオフセット信号Ｖ_OFを加算することで
Ｂ点で動作させることができ、デフォーカス量は３〜５
μｍ程度となる。

【００３９】したがって本例においては、記録も再生も
行わない場合には、レーザ光はデフォーカス状態で光磁
気ディスク２の記録膜に照射されるが、記録膜の温度上
昇はほぼデフォーカス量と逆比例するため、仮え同一ト
ラックが連続的に照射されても記録膜の温度上昇を少な
く抑えることができ、記録膜の温度上昇による劣化を防
止することができる。また、記録も再生も行わない場合
にフォーカスサーボをオフにするものでなく、接続スイ
ッチ２２をオフとしてフォーカスエラー信号Ｅｆに加算
されるオフセット信号Ｖ_OFを除くことで即座にフォーカ
ス状態に復帰させることができ、記録または再生の動作
が可能となるまでの時間を短縮化することができる。

【００４０】なお、記録も再生も行わない場合には、切
換スイッチ２３がｂ側に接続されて、サーボ回路１６に
接地信号がトラッキングエラー信号として供給される。
これは、上述したようなデフォーカス状態では、トラッ
キングエラー検出回路１３で検出されるトラッキングエ
ラー信号Ｅｔは極度にレベルが低くなって信頼性がほと
んどなくなるためである。

【００４１】次に、図６を参照しながら、この発明の第
３実施例について説明する。この図６において、図４と
対応する部分には同一符号を付し、その詳細説明は省略
する。

【００４２】図において、フォーカスエラー検出回路１
７で検出されるフォーカスエラー信号Ｅｆは切換スイッ
チ２４のａ側の固定端子に供給される。図７は、本例に
おける光学ヘッド８の光検出器１１０（図２参照）の構
成を示しており、光検出部Ａ〜Ｄの出力信号Ｓ_A〜Ｓ_Dが
フォーカスエラー検出回路１７に供給され、非点収差法
によるフォーカスエラー信号Ｅｆとして（Ｓ_A＋Ｓ_C）−
（Ｓ_B＋Ｓ_D）が得られる。このフォーカスエラー信号Ｅ
ｆは光検出部Ａ〜Ｄの面積が小さいことから高精度のも
のとなる。

【００４３】また、２５もフォーカスエラー検出回路で
ある。このフォーカスエラー検出回路２５には光学ヘッ
ド８の光検出器１１０を構成する光検出部Ａ〜Ｈの出力
信号Ｓ_A〜Ｓ_Hが供給され、非点収差法によるフォーカス
エラー信号Ｅｆ₂として（Ｓ_A＋Ｓ_C＋Ｓ_E＋Ｓ_G）−（Ｓ_B
＋Ｓ_D＋Ｓ_F＋Ｓ_H）が得られる。このフォーカスエラー
信号Ｅｆ₂は光検出部Ａ〜Ｈの面積が大きいことから粗
精度のものとなる。

【００４４】フォーカスエラー検出回路２５で検出され
るフォーカスエラー信号Ｅｆ₂は加算器２６に供給され
る。また、この加算器２６にはオフセット信号Ｖ_OF2が
接続スイッチ２７を介して供給される。接続スイッチ２
７のオンオフはコントローラ３によって制御される。す
なわち、記録または再生を行う際にはオフとされると共
に、記録も再生も行わない場合にはオンとされる。

【００４５】加算器２６の出力信号は切換スイッチ２４
のｂ側の固定端子に供給される。この切換スイッチ２４
の切り換えは、コントローラ３の制御によって行なわれ
る。すなわち、記録または再生を行う際にはａ側に接続
されると共に、記録も再生も行わない場合にはｂ側に接
続される。切換スイッチ２４の出力信号はフォーカスエ
ラー信号としてサーボ回路１６に供給される。本例は以
上のように構成され、その他は図４の例と同様に構成さ
れる。

【００４６】本例において、記録または再生（書き込み
または読み出し）を行う際には、切換スイッチ２４がａ
側に接続されるため、フォーカスエラー検出回路１７で
検出されるフォーカスエラー信号Ｅｆが切換スイッチ２
４のａ側を介してサーボ回路１６に供給されるため、こ
のフォーカスエラー信号Ｅｆに基づいてフォーカスサー
ボを精度よく行なうことができる。

【００４７】一方、記録も再生も行わない場合には、切
換スイッチ２４がｂ側に接続されると共に接続スイッチ
２７がオンとされるため、フォーカスエラー信号Ｅｆ₂
にオフセット信号Ｖ_OF2を加算したものが切換スイッチ
２４のｂ側を介してサーボ回路１６にフォーカスエラー
信号として供給される。そのため、光学ヘッド８はデフ
ォーカス状態となる。

【００４８】図５の破線はフォーカスエラー信号Ｅｆ₂
とデフォーカス量との関係を示している。同図の実線で
示すフォーカスエラー信号Ｅｆとデフォーカス量との関
係と比較するとＳ字の範囲が広くなってフォーカスサー
ボの制御範囲が拡大することがわかる。したがって本例
においては、図４の例に比べてオフセット信号Ｖ_OF2に
よるデフォーカス量を大きくでき、レーザ光の照射によ
る記録膜の温度上昇による劣化をより完全に防止するこ
とができる。

【００４９】また、記録も再生も行わない場合にフォー
カスサーボをオフにするものでなく、図４の例と同様に
即座にフォーカス状態に復帰させることができ、記録ま
たは再生の動作が可能となるまでの時間を短縮化するこ
とができる。この場合、接続スイッチ２７をオフとして
フォーカスエラー信号Ｅｆに加算されるオフセット信号
Ｖ_OF2を除き、フォーカスエラー信号Ｅｆ₂によるフォー
カスサーボでほぼフォーカス状態に復帰させた後に、切
換スイッチ２４をａ側に接続して、フォーカスエラー信
号Ｅｆによる高精度なフォーカスサーボを行われるよう
にする。

【００５０】また本例においては、フォーカスエラー信
号Ｅｆ，Ｅｆ₂を光検出器１１０の一部または全部の光
検出部の出力信号を使用して得るものであり、光検出部
を効率よく利用でき、かつ安価に構成することができ
る。なお、フォーカスエラー信号Ｅｆ，Ｅｆ₂を得るた
めに面積を異にする別個の光検出器を配設するようにし
てもよい。

【００５１】次に、図８を参照しながら、この発明の第
４実施例について説明する。この図８において、図４と
対応する部分には同一符号を付し、その詳細説明は省略
する。

【００５２】図において、フォーカスエラー検出回路１
７で検出されるフォーカスエラー信号Ｅｆは切換スイッ
チ２８のａ側の固定端子に供給される。

【００５３】また、２９は光学ヘッド８に取り付けられ
たフォーカスアクチュエータの位置を検出するための位
置センサである。図９は、光学ヘッド８のフォーカスア
クチュエータの原理を示している。４１は対物レンズ、
４３はコイル枠（レンズホルダーも兼用）４２に巻装さ
れたフォーカスコイル、４４は鉄板等で構成されるヨー
ク、４５はマグネットである。フォーカスコイル４３に
駆動電流を流すことで、コイル枠４２、従って対物レン
ズ４１が光磁気ディスク２に対して垂直方向に駆動さ
れ、フォーカス調整が行なわれる。位置センサ２９から
はフォーカスアクチュエータの位置、つまり対物レンズ
４１の位置を示す信号Ｓｐが得られる。

【００５４】図８に戻って、位置センサ２９の出力信号
Ｓｐは減算器３０に供給されて、基準信号Ｓｒに対する
差信号Ｓｓが演算される。基準信号Ｓｒは、フォーカス
状態にあるときの位置センサ２９の出力信号Ｓｐにほぼ
等しく設定される。したがって、減算器３０で得られる
差信号Ｓｓは、フォーカスアクチュエータのフォーカス
状態位置からの変位を示すものとなる。減算器３０で得
られる差信号Ｓｓは切換スイッチ２８のｂ側の固定端子
に供給される。

【００５５】切換スイッチ２８の切り換えは、コントロ
ーラ３の制御によって行なわれる。すなわち、記録また
は再生を行う際にはａ側に接続されると共に、記録も再
生も行わない場合にはｂ側に接続される。切換スイッチ
２８の出力信号はフォーカスエラー信号としてサーボ回
路１６に供給される。

【００５６】また、本例では、図８に制御ラインを図示
せずも、記録も再生も行わないときはコントローラ３の
制御でもって光学ヘッド８を構成する半導体レーザ１０
１（図２参照）からのレーザ光の発光が停止される。本
例は以上のように構成され、その他は図４の例と同様に
構成される。

【００５７】本例において、記録または再生（書き込み
または読み出し）を行う際には、切換スイッチ２８がａ
側に接続されるため、フォーカスエラー検出回路１７で
検出されるフォーカスエラー信号Ｅｆが切換スイッチ２
８のａ側を介してサーボ回路１６に供給されるため、こ
のフォーカスエラー信号Ｅｆに基づいてフォーカスサー
ボを良好に行なうことができる。

【００５８】一方、記録も再生も行わない場合には、切
換スイッチ２８がｂ側に接続されるため、減算器３０よ
り出力される差信号Ｓｓがサーボ回路１６にフォーカス
エラー信号として供給されるため、フォーカスアクチュ
エータはほぼフォーカス状態位置に保持される。しか
し、上述したように記録も再生も行わない場合にはレー
ザ光の発光を停止しているので、レーザ光の照射による
記録膜の温度上昇による劣化を防止することができる。

【００５９】また、フォーカスアクチュエータをほぼフ
ォーカス状態の位置に保持しておくことができるため、
記録または再生の動作を行う場合に即座にフォーカス状
態にでき、記録または再生の動作が可能となるまでの時
間を短縮化できる。記録または再生の動作を行う場合に
は切換スイッチ２８をｂ側よりａ側に切り換えることに
なるが、切り換え時点を厳密にしないと光磁気ディスク
２のディスク面にそり等があるために大きなデフォーカ
ス量で切換スイッチ２８の切り換えが行われ、フォーカ
スエラー信号Ｅｆによるフォーカスサーボが困難となる
等の不都合がある。

【００６０】このような不都合を回避するために、図１
０に示すような切換信号発生装置４０からの切り換え信
号ＳＷを使用すればよい。図において、フォーカスエラ
ー検出回路１７（図８参照）で検出されるフォーカスエ
ラー信号Ｅｆは比較器４１の正側端子に供給され、この
比較器４１の負側端子は接地される。比較器４１から
は、信号Ｅｆが正であるときはハイレベル「Ｈ」とな
り、信号Ｅｆが負であるときはローレベル「Ｌ」となる
信号が得られる。つまり、比較器４１の出力信号は、フ
ォーカスエラー信号Ｅｆのゼロクロス点で立ち下がるあ
るいは立ち上がる信号となる。比較器４１の出力信号は
Ｄフリップフロップ４２のクロック端子に供給され、Ｄ
フリップフロップ４２は比較器４１の出力信号の例えば
立ち上がりタイミングで動作するようにされる。

【００６１】また、加算器１０（図８参照）より出力さ
れるＲＦ信号はエンベロープ検波回路４４に供給され
る。この検波回路４４より出力されるエンベロープ信号
Ｓ_RFは比較器４３の正側端子に供給される。比較器４３
の負側端子には基準信号Ｖrefが供給される。比較器４
３からは、エンベロープ信号Ｓ_RFが基準信号Ｖref以上
のときはハイレベル「Ｈ」となり、エンベロープ信号Ｓ
_RFが基準信号Ｖrefより小さいときはローレベル「Ｌ」
となる。比較器４３の出力信号はＤフリップフロップ４
２のクリア端子ＣＬＲに供給される。Ｄフリップフロッ
プ４２は比較器４３の出力信号がローレベル「Ｌ」にあ
るときはクリア状態とされる。

【００６２】以上の構成において、図１１Ａに示すよう
にフォーカスエラー信号Ｅｔが得られるとき、同図Ｂに
示すようにエンベロープ信号Ｓ_RFが得られるため、Ｄフ
リップフロップ４２からは同図Ｃに示すように時点ｔ１
で立ち上がる切り換え信号ＳＷが得られる。すなわち、
図８の切換スイッチ２８を切り換え信号ＳＷの立ち上が
り時点ｔ１でｂ側よりａ側に切り換えることで即座にフ
ォーカス状態にでき、記録または再生の動作が可能とな
るまでの時間を短縮化できることになる。例えば、光磁
気ディスク２の回転速度が３６００ｒｐｍであるとき
は、６０ｍｓｅｃ／１回転であるため、少なくとも６０
ｍｓｅｃ以内にフォーカス状態にすることができる。

【００６３】なお、上述実施例においては、光磁気ディ
スク装置に適用した例を述べたが、この発明は記録可能
な光ディスクの記録膜にレーザ光を照射して記録または
再生を行うその他の光ディスク装置に同様に適用して好
適なものとなる。

【００６４】

【発明の効果】第１の発明によれば、記録も再生も行わ
ない場合にトラッキングアクチュエータをランダム信
号、周期信号等を用いてラジアル方向に振るものであ
り、レーザ光がフォーカス状態で記録膜に照射される場
合であっても、例えば同一トラックが連続的に照射され
るものでなく、記録膜の温度上昇による劣化を防止する
ことができる。また、記録も再生を行わない場合にフォ
ーカスサーボをオフにする必要がなく、記録または再生
の動作が可能となるまでの時間を短縮化することができ
る。

【００６５】第２の発明によれば、記録も再生も行わな
い場合に例えばフォーカスエラー信号に所定のオフセッ
ト信号を加算することでフォーカスアクチュエータを移
動させてデフォーカス状態とするものであり、レーザ光
はデフォーカス状態で記録膜に照射されるため、仮え同
一トラックが連続的に照射されても記録膜の温度上昇に
よる劣化を防止することができる。また、記録も再生も
行わない場合にフォーカスサーボをオフにするものでな
く、フォーカスエラー信号に加算されるオフセット信号
を除くことで即座にフォーカス状態にでき、記録または
再生の動作が可能となるまでの時間を短縮化することが
できる。

【００６６】ここで、記録または再生の動作時には面積
の小さな第１の光検出部より得られる非点収差法による
フォーカスエラー信号を使用することで、高精度のフォ
ーカスエラー信号を得ることができ、フォーカスサーボ
の精度を上げることができる。一方、記録も再生も行わ
ない場合に面積の大きな第２の光検出部より得られる非
点収差法によるフォーカスエラー信号を使用すること
で、フォーカスサーボの制御範囲を拡大でき、デフォー
カス量を大きくして記録膜の温度上昇による劣化をより
完全に防止することができる。また、第１の光検出部を
第２の光検出部の一部で構成することで、光検出部を効
率よく利用でき、かつ安価に構成することができる。

【００６７】第３の発明によれば、記録も再生も行わな
い場合にはレーザ光の発光を停止するものであり、記録
膜の温度上昇による劣化を防止することができる。ま
た、フォーカスエラー信号の代わりに変位検出手段の出
力信号を使用するものであり、フォーカスアクチュエー
タを例えばフォーカス状態の位置に保持しておくことが
でき、記録または再生の動作を行う場合に即座にフォー
カス状態にでき、記録または再生の動作が可能となるま
での時間を短縮化することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明に係る光ディスク装置の第１実施例を
示す構成図である。

【図２】光学ヘッドの構成例を示す図である。

【図３】セクターフォーマット（サンプルサーボ方式）
を示す図である。

【図４】この発明に係る光ディスク装置の第２実施例を
示す構成図である。

【図５】エラー電圧とデフォーカス量との関係を示す図
である。

【図６】この発明に係る光ディスク装置の第３実施例を
示す構成図である。

【図７】フォーカスエラー検出用の光検出器の光検出部
を示す図である。

【図８】この発明に係る光ディスク装置の第４実施例を
示す構成図である。

【図９】フォーカスアクチュエータの原理構成図であ
る。

【図１０】切換信号発生装置を示す構成図である。

【図１１】切換信号発生装置の動作波形を示す図であ
る。

【符号の説明】

１ スピンドルモータ ２ 光磁気ディスク ３ コントローラ ５ エンコーダ／デコーダ ６ 磁気ヘッド ８ 光学ヘッド １０，２１，２６ 加算器 １１ クロック再生回路 １２ アドレスデコーダ １３ トラッキングエラー検出回路 １４，２３，２４，２８ 切換スイッチ １５ 信号発生回路 １６ サーボ回路 １７，２５ フォーカスエラー検出回路 １８，３０ 減算器 １９ データ検出回路 ２２，２７ 接続スイッチ ２９ 位置センサ ４０ 切り換え信号発生装置 ４１，４３ 比較器 ４２ Ｄフリップフロップ ４４ エンベロープ検波回路

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 記録可能な光ディスクの記録膜にレーザ
   光を照射して記録または再生を行う光ディスク装置にお
   いて、 上記記録も再生も行わない場合にトラッキングアクチュ
   エータをラジアル方向に振るトラッキング制御手段を備
   えることを特徴とする光ディスク装置。
2. 【請求項２】 上記トラッキング制御手段は、トラッキ
   ングエラー信号の代わりにランダム信号を使用すること
   で上記トラッキングアクチュエータをラジアル方向に振
   ることを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
3. 【請求項３】 上記トラッキング制御手段は、トラッキ
   ングエラー信号の代わりに上記光ディスクの回転周期と
   は非同期の周期信号を使用することで上記トラッキング
   アクチュエータをラジアル方向に振ることを特徴とする
   請求項１記載の光ディスク装置。
4. 【請求項４】 記録可能な光ディスクの記録膜にレーザ
   光を照射して記録または再生を行う光ディスク装置にお
   いて、 上記記録も再生も行わない場合にフォーカスアクチュエ
   ータを移動させてデフォーカス状態とするフォーカス制
   御手段を備えることを特徴とする光ディスク装置。
5. 【請求項５】 上記フォーカス制御手段は、フォーカス
   エラー信号に所定のオフセット信号を加算することで上
   記フォーカスアクチュエータを移動させることを特徴と
   する請求項４記載の光ディスク装置。
6. 【請求項６】 非点収差法によるフォーカスエラー信号
   を得るための第１および第２の光検出部を有し、上記第
   ２の光検出部の面積は上記第１の光検出部の面積より大
   きくされ、 上記フォーカス制御手段は、上記第１の光検出部より得
   られるフォーカスエラー信号の代わりに上記第２の光検
   出部より得られるフォーカスエラー信号を使用すると共
   に、このフォーカスエラー信号に所定のオフセット信号
   を加算することで上記フォーカスアクチュエータを移動
   させることを特徴とする請求項４記載の光ディスク装
   置。
7. 【請求項７】 上記第１の光検出部は上記第２の光検出
   部の一部で構成されることを特徴とする請求項６記載の
   光ディスク装置。
8. 【請求項８】 記録可能な光ディスクの記録膜にレーザ
   光を照射して記録または再生を行う光ディスク装置にお
   いて、 フォーカスアクチュエータの所定位置からの変位を検出
   する変位検出手段を備え、 上記記録も再生も行わない場合にフォーカスエラー信号
   の代わりに上記変位検出手段の出力信号を使用すると共
   に、上記レーザ光の発光を停止することを特徴とする光
   ディスク装置。