JPH07210408A - 情報処理装置 - Google Patents
情報処理装置Info
- Publication number
- JPH07210408A JPH07210408A JP6007737A JP773794A JPH07210408A JP H07210408 A JPH07210408 A JP H07210408A JP 6007737 A JP6007737 A JP 6007737A JP 773794 A JP773794 A JP 773794A JP H07210408 A JPH07210408 A JP H07210408A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- power supply
- circuit
- storage device
- program
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- Pending
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- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 温度上昇に起因する半導体装置の動作異常に
よるプログラムやデータの破壊を防止し、ソフトウエア
を保護する。 【構成】 温度検出手段と該温度検出手段から得られる
情報に基づいてプログラムやデ−タ等を外部記憶装置に
退避させる手段とを設けるようにした。 【効果】 マイクロコンピュータシステムのような情報
処理装置において、半導体装置の温度上昇による誤動作
で発生するプログラムやデ−タ等の破壊を事前に防止す
ることができる。また、温度検出手段から得られる情報
に基づいて電源電圧の供給を遮断する信号を出力させる
ことにより、半導体装置の破壊を防止するとともに、温
度異常によるシステムの暴走を回避し、システムの安全
性を向上させることできる。
よるプログラムやデータの破壊を防止し、ソフトウエア
を保護する。 【構成】 温度検出手段と該温度検出手段から得られる
情報に基づいてプログラムやデ−タ等を外部記憶装置に
退避させる手段とを設けるようにした。 【効果】 マイクロコンピュータシステムのような情報
処理装置において、半導体装置の温度上昇による誤動作
で発生するプログラムやデ−タ等の破壊を事前に防止す
ることができる。また、温度検出手段から得られる情報
に基づいて電源電圧の供給を遮断する信号を出力させる
ことにより、半導体装置の破壊を防止するとともに、温
度異常によるシステムの暴走を回避し、システムの安全
性を向上させることできる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体装置およびその
応用製品における誤動作防止技術に関し、例えば半導体
集積回路化されたマイクロコンピュータのような情報処
理装置に利用して有効な技術に関する。
応用製品における誤動作防止技術に関し、例えば半導体
集積回路化されたマイクロコンピュータのような情報処
理装置に利用して有効な技術に関する。
【０００２】
【従来の技術】半導体装置およびその応用製品は幅広く
使用されているが、温度が適正な範囲を越えると特性の
変化や動作速度の低下といった現象を起こすため、通常
は半導体装置の動作保証温度を設定し、例えば冷却装置
を設けるなどして許容温度の範囲内での使用に限定し
て、正常動作保証するようにしている。
使用されているが、温度が適正な範囲を越えると特性の
変化や動作速度の低下といった現象を起こすため、通常
は半導体装置の動作保証温度を設定し、例えば冷却装置
を設けるなどして許容温度の範囲内での使用に限定し
て、正常動作保証するようにしている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、なんら
かの原因で半導体装置の温度が上昇し、動作保証温度を
上回った場合、トランジスタのスイッチング速度の変化
による動作マ−ジンの低下に起因する誤動作等から、例
えば半導体装置により構成されたマイクロコンピュータ
システムのような情報処理装置においては、プログラム
やデ−タの破壊、さらにはトランジスタ自身の熱暴走に
よる半導体装置の破壊およびそれに起因したシステムの
暴走が起こる可能性がある。
かの原因で半導体装置の温度が上昇し、動作保証温度を
上回った場合、トランジスタのスイッチング速度の変化
による動作マ−ジンの低下に起因する誤動作等から、例
えば半導体装置により構成されたマイクロコンピュータ
システムのような情報処理装置においては、プログラム
やデ−タの破壊、さらにはトランジスタ自身の熱暴走に
よる半導体装置の破壊およびそれに起因したシステムの
暴走が起こる可能性がある。
【０００４】本発明の目的は、温度上昇に起因する半導
体装置の動作異常によるプログラムやデータの破壊を防
止し、ソフトウエアを保護することにある。本発明の他
の目的は、温度異常による半導体装置の破壊を防止する
とともに、システムの暴走を回避し、システムの安全性
を向上させることにある。この発明の前記ならびにその
ほかの目的と新規な特徴については、本明細書の記述お
よび添附図面から明らかになるであろう。
体装置の動作異常によるプログラムやデータの破壊を防
止し、ソフトウエアを保護することにある。本発明の他
の目的は、温度異常による半導体装置の破壊を防止する
とともに、システムの暴走を回避し、システムの安全性
を向上させることにある。この発明の前記ならびにその
ほかの目的と新規な特徴については、本明細書の記述お
よび添附図面から明らかになるであろう。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、下記のと
おりである。すなわち、情報処理装置に温度検出手段と
該温度検出手段から得られる情報に基づいてプログラム
やデ−タ等を外部記憶装置もしくは不揮発性メモリに退
避させる手段とを設けるようにしたものである。また、
好ましくは上記外部記憶装置への退避後、温度検出手段
から得られる情報に基づいて電源電圧の供給を遮断する
信号を出力させるようにする。
発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、下記のと
おりである。すなわち、情報処理装置に温度検出手段と
該温度検出手段から得られる情報に基づいてプログラム
やデ−タ等を外部記憶装置もしくは不揮発性メモリに退
避させる手段とを設けるようにしたものである。また、
好ましくは上記外部記憶装置への退避後、温度検出手段
から得られる情報に基づいて電源電圧の供給を遮断する
信号を出力させるようにする。
【０００６】
【作用】上記手段によれば、マイクロコンピュータシス
テムのような情報処理装置において、半導体装置の温度
上昇による誤動作で発生するプログラムやデ−タ等の破
壊を事前に防止することができる。また、温度検出手段
から得られる情報に基づいて電源電圧の供給を遮断する
信号を出力させることにより、半導体装置の破壊を防止
するとともに、温度異常によるシステムの暴走を回避
し、システムの安全性を向上させることできる。
テムのような情報処理装置において、半導体装置の温度
上昇による誤動作で発生するプログラムやデ−タ等の破
壊を事前に防止することができる。また、温度検出手段
から得られる情報に基づいて電源電圧の供給を遮断する
信号を出力させることにより、半導体装置の破壊を防止
するとともに、温度異常によるシステムの暴走を回避
し、システムの安全性を向上させることできる。
【０００７】
【実施例】図１は本発明をマイクロコンピュ−タシステ
ムに適用した場合の一実施例を示す。同図において、１
は、電源電圧端子間に直列接続された互いに温度特性の
異なる抵抗ＲａおよびＲｂと、その抵抗分割で得られた
レベルを判定するシュミット回路１ａと、波形整形用イ
ンバータ１ｂとによって構成された温度検出回路であ
る。この温度検出回路１は通常は“Ｌ”レベルの信号を
出力し、温度が上昇して動作保証温度の上限に近づくと
“Ｈ”レベルの信号を出力する。上記温度検出回路１の
出力信号Ａは割込み要求信号発生回路２に供給され、割
込み要求信号発生回路２はこの出力信号Ａが“Ｈ”レベ
ルになると、割込み要求信号ＩＲＱをマイクロコンピュ
ータ（以下、ＣＰＵと称する）３に対して出力する。
ムに適用した場合の一実施例を示す。同図において、１
は、電源電圧端子間に直列接続された互いに温度特性の
異なる抵抗ＲａおよびＲｂと、その抵抗分割で得られた
レベルを判定するシュミット回路１ａと、波形整形用イ
ンバータ１ｂとによって構成された温度検出回路であ
る。この温度検出回路１は通常は“Ｌ”レベルの信号を
出力し、温度が上昇して動作保証温度の上限に近づくと
“Ｈ”レベルの信号を出力する。上記温度検出回路１の
出力信号Ａは割込み要求信号発生回路２に供給され、割
込み要求信号発生回路２はこの出力信号Ａが“Ｈ”レベ
ルになると、割込み要求信号ＩＲＱをマイクロコンピュ
ータ（以下、ＣＰＵと称する）３に対して出力する。
【０００８】上記温度検出回路１を外付け部品で構成す
る場合、抵抗ＲａおよびＲｂとしては、サーミスタと抵
抗素子を使用することができる。また、上記温度検出回
路１をＣＰＵ３と同一チップ上に形成する場合には、拡
散抵抗とＭＯＳＦＥＴもしくはバイポーラトランジスタ
のような互いに温度特性の異なる素子を用いて構成する
ことができる。
る場合、抵抗ＲａおよびＲｂとしては、サーミスタと抵
抗素子を使用することができる。また、上記温度検出回
路１をＣＰＵ３と同一チップ上に形成する場合には、拡
散抵抗とＭＯＳＦＥＴもしくはバイポーラトランジスタ
のような互いに温度特性の異なる素子を用いて構成する
ことができる。
【０００９】ＣＰＵ３は、割込み要求信号発生回路２か
らの割込み要求信号ＩＲＱを受けると、バス占有権を解
放するとともに割込み承認信号ＡＣＫを割込み要求信号
発生回路２へ出力する。割込み要求信号発生回路２は、
割込み承認信号ＡＣＫを取り込むと、温度異常時の割込
み処理に対応するベクタアドレスＶＡＤをデ−タバス４
上に出力する。すると、ＣＰＵ３はそのベクタアドレス
ＶＡＤを参照して割込み処理を開始する。
らの割込み要求信号ＩＲＱを受けると、バス占有権を解
放するとともに割込み承認信号ＡＣＫを割込み要求信号
発生回路２へ出力する。割込み要求信号発生回路２は、
割込み承認信号ＡＣＫを取り込むと、温度異常時の割込
み処理に対応するベクタアドレスＶＡＤをデ−タバス４
上に出力する。すると、ＣＰＵ３はそのベクタアドレス
ＶＡＤを参照して割込み処理を開始する。
【００１０】割込み処理では、まず、それ迄実行してい
たプログラムを中断し、内蔵ＲＡＭ３ａに記憶されてい
たプログラムおよびデ−タをＩ／Ｏインタ−フェ−ス５
を介して外部記憶装置６に退避させ、また、表示装置７
を駆動して異常が発生したことを外部に対して報知す
る。以上の処置が終了した後、ＣＰＵ３はＩ／Ｏインタ
−フェ−ス５を介して電源スイッチ９へ制御信号を供給
してこれをオフさせて、上記温度検出回路１、割込み要
求信号発生回路２およびＣＰＵ３に対する電源電圧Ｖcc
の供給を遮断し、システムを停止させる。
たプログラムを中断し、内蔵ＲＡＭ３ａに記憶されてい
たプログラムおよびデ−タをＩ／Ｏインタ−フェ−ス５
を介して外部記憶装置６に退避させ、また、表示装置７
を駆動して異常が発生したことを外部に対して報知す
る。以上の処置が終了した後、ＣＰＵ３はＩ／Ｏインタ
−フェ−ス５を介して電源スイッチ９へ制御信号を供給
してこれをオフさせて、上記温度検出回路１、割込み要
求信号発生回路２およびＣＰＵ３に対する電源電圧Ｖcc
の供給を遮断し、システムを停止させる。
【００１１】この実施例では、温度が異常に上昇したと
きに割込み信号ＩＲＱを発生させているが、割込み方式
を用いず、温度検出回路１の出力をＣＰＵ３がＩ／Ｏイ
ンタ−フェ−ス５を介して定期的に読み込んで温度を判
定し、それが異常になった際に、ＣＰＵ３が例えば通常
時よりも動作周波数の低い周波数で動作するスリープモ
ードのようなパワーセーブモードに移行する。あるい
は、ＣＰＵ３がモータ等の動力源を制御するようなシス
テムでは、温度異常を検出したときにモータ等に対する
給電を遮断するように構成しても良い。このようにした
場合には、温度が低下して正常動作が可能になった時
に、ＣＰＵ３がプログラムにより自動的にシステムを正
常動作状態に復帰させることも可能になる。
きに割込み信号ＩＲＱを発生させているが、割込み方式
を用いず、温度検出回路１の出力をＣＰＵ３がＩ／Ｏイ
ンタ−フェ−ス５を介して定期的に読み込んで温度を判
定し、それが異常になった際に、ＣＰＵ３が例えば通常
時よりも動作周波数の低い周波数で動作するスリープモ
ードのようなパワーセーブモードに移行する。あるい
は、ＣＰＵ３がモータ等の動力源を制御するようなシス
テムでは、温度異常を検出したときにモータ等に対する
給電を遮断するように構成しても良い。このようにした
場合には、温度が低下して正常動作が可能になった時
に、ＣＰＵ３がプログラムにより自動的にシステムを正
常動作状態に復帰させることも可能になる。
【００１２】なお、上記実施例では、温度が異常に上昇
した場合に、内蔵ＲＡＭに記憶されていたプログラムお
よびデ−タを外部記憶装置６に退避させるようにしてい
るが、内部にＥＥＰＲＯＭのような書き替え可能な不揮
発性メモリを有するマイクロコンピュータにあっては、
ＲＡＭに記憶されていたプログラムおよびデ−タを内部
のＥＥＰＲＯＭに退避させるようにしてもよい。また、
上記外部記憶装置６は通常磁気ディスク装置のような不
揮発性の記憶装置により構成されるが、上記実施例にお
いて、温度異常時にプログラムおよびデ−タが退避され
る外部記憶装置は、電池でバックアップされたＲＡＭの
ような半導体メモリであっも良い。
した場合に、内蔵ＲＡＭに記憶されていたプログラムお
よびデ−タを外部記憶装置６に退避させるようにしてい
るが、内部にＥＥＰＲＯＭのような書き替え可能な不揮
発性メモリを有するマイクロコンピュータにあっては、
ＲＡＭに記憶されていたプログラムおよびデ−タを内部
のＥＥＰＲＯＭに退避させるようにしてもよい。また、
上記外部記憶装置６は通常磁気ディスク装置のような不
揮発性の記憶装置により構成されるが、上記実施例にお
いて、温度異常時にプログラムおよびデ−タが退避され
る外部記憶装置は、電池でバックアップされたＲＡＭの
ような半導体メモリであっも良い。
【００１３】以上説明したように上記実施例は、温度検
出手段と該温度検出手段から得られる情報に基づいてプ
ログラムやデ−タ等を外部記憶装置に退避させる手段と
を設けるようにしたので、半導体装置の温度上昇による
誤動作で発生するプログラムやデ−タ等の破壊を事前に
防止することができる。また、マイクロコンピュータシ
ステムのような情報処理装置やマイクロコンピュータに
よって制御される機器を有するシステムにおいては、温
度異常によるシステムの暴走を回避し、システムの安全
性を向上させることできるという効果がある。
出手段と該温度検出手段から得られる情報に基づいてプ
ログラムやデ−タ等を外部記憶装置に退避させる手段と
を設けるようにしたので、半導体装置の温度上昇による
誤動作で発生するプログラムやデ−タ等の破壊を事前に
防止することができる。また、マイクロコンピュータシ
ステムのような情報処理装置やマイクロコンピュータに
よって制御される機器を有するシステムにおいては、温
度異常によるシステムの暴走を回避し、システムの安全
性を向上させることできるという効果がある。
【００１４】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない。例えば図１
に示した各構成要素（ブロック）１〜５は、各々異なる
半導体チップで構成されていても良いし、ワンチップ化
されていても良い。ワンチップ化されている場合、より
精密な温度測定が可能になる。また、温度検出回路１に
ついても、抵抗素子を使用したものに限定されず、温度
変化を電気信号の変化として捕らえられるものならばど
のような構成のものでも良い。
例に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない。例えば図１
に示した各構成要素（ブロック）１〜５は、各々異なる
半導体チップで構成されていても良いし、ワンチップ化
されていても良い。ワンチップ化されている場合、より
精密な温度測定が可能になる。また、温度検出回路１に
ついても、抵抗素子を使用したものに限定されず、温度
変化を電気信号の変化として捕らえられるものならばど
のような構成のものでも良い。
【００１５】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野であるマイク
ロコンピュータシステムにおける温度上昇による誤動作
防止に適用した場合について説明したが、この発明はそ
れに限定されるものでなく、半導体装置を構成部品とし
て含む電子機器に広く利用することができる。
なされた発明をその背景となった利用分野であるマイク
ロコンピュータシステムにおける温度上昇による誤動作
防止に適用した場合について説明したが、この発明はそ
れに限定されるものでなく、半導体装置を構成部品とし
て含む電子機器に広く利用することができる。
【００１６】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記
のとおりである。すなわち、半導体装置の温度上昇によ
る誤動作で発生するプログラムやデ−タ等の破壊さらに
は半導体装置の破壊を事前に防止できるとともに、温度
異常によるシステムの暴走を回避し、システムの安全性
を向上させることできる。
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記
のとおりである。すなわち、半導体装置の温度上昇によ
る誤動作で発生するプログラムやデ−タ等の破壊さらに
は半導体装置の破壊を事前に防止できるとともに、温度
異常によるシステムの暴走を回避し、システムの安全性
を向上させることできる。
【図１】本発明をマイクロコンピュ−タシステムに適用
した場合の一実施例を示すブロック図である。
した場合の一実施例を示すブロック図である。
１ 温度検出回路 ２ 割込み要求信号発生回路 ３ ＣＰＵ（マイクロコンピュータ） ４ デ−タバス ５ Ｉ／Ｏインタ−フェ−ス ６ 外部記憶装置 ７ 表示装置 ８ 電源装置 ９ 電源スイッチ ＩＲＱ 割込み要求信号 ＡＣＫ 割込み承認信号 ＶＡＤ ベクタアドレス
Claims (3)
- 【請求項１】 温度検出手段からの異常検出信号を割込
み要求信号として受け、内蔵メモリに記憶されているプ
ログラムおよびデ−タを外部記憶装置に退避することを
特徴とする情報処理装置。 - 【請求項２】 半導体集積回路化された情報処理装置で
あって、同一チップ上に温度検出手段を有し、該温度検
出手段から得られる情報に基づいて揮発性記憶手段に格
納されているプログラムおよびデ−タを不揮発性記憶装
置に退避する手段を有することを特徴とする情報処理装
置。 - 【請求項３】 上記温度検出手段から得られる情報に基
づいて電源電圧の供給を遮断する信号を出力することを
特徴とする請求項１または請求項２記載の情報処理装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6007737A JPH07210408A (ja) | 1994-01-27 | 1994-01-27 | 情報処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6007737A JPH07210408A (ja) | 1994-01-27 | 1994-01-27 | 情報処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07210408A true JPH07210408A (ja) | 1995-08-11 |
Family
ID=11674023
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6007737A Pending JPH07210408A (ja) | 1994-01-27 | 1994-01-27 | 情報処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07210408A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000305819A (ja) * | 1999-04-20 | 2000-11-02 | Nec Corp | ファイル自動保存方法及びコンピュータシステム |
| US7231174B2 (en) | 2000-02-29 | 2007-06-12 | Kabushiki Kaisha Kenwood | Data distribution system and method, and electric equipment to be used therefor |
| JP2011049759A (ja) * | 2009-08-26 | 2011-03-10 | Ntt Docomo Inc | データ退避システム及びデータ退避方法 |
| JP2011061374A (ja) * | 2009-09-08 | 2011-03-24 | Canon Inc | カメラシステム及びカメラシステムの制御方法 |
-
1994
- 1994-01-27 JP JP6007737A patent/JPH07210408A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000305819A (ja) * | 1999-04-20 | 2000-11-02 | Nec Corp | ファイル自動保存方法及びコンピュータシステム |
| US7231174B2 (en) | 2000-02-29 | 2007-06-12 | Kabushiki Kaisha Kenwood | Data distribution system and method, and electric equipment to be used therefor |
| JP2011049759A (ja) * | 2009-08-26 | 2011-03-10 | Ntt Docomo Inc | データ退避システム及びデータ退避方法 |
| JP2011061374A (ja) * | 2009-09-08 | 2011-03-24 | Canon Inc | カメラシステム及びカメラシステムの制御方法 |
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