JPH07208955A - Lead measuring apparatus - Google Patents

Lead measuring apparatus

Info

Publication number
JPH07208955A
JPH07208955A JP6005446A JP544694A JPH07208955A JP H07208955 A JPH07208955 A JP H07208955A JP 6005446 A JP6005446 A JP 6005446A JP 544694 A JP544694 A JP 544694A JP H07208955 A JPH07208955 A JP H07208955A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lead
measurement
measuring
component
error
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP6005446A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3310753B2 (en
Inventor
Masaru Takahashi
勝 高橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yamagata Casio Co Ltd
Original Assignee
Yamagata Casio Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yamagata Casio Co Ltd filed Critical Yamagata Casio Co Ltd
Priority to JP00544694A priority Critical patent/JP3310753B2/en
Publication of JPH07208955A publication Critical patent/JPH07208955A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3310753B2 publication Critical patent/JP3310753B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Programmable Controllers (AREA)

Abstract

PURPOSE:To provide a lead measuring apparatus in which a lead for a component is measured correctly. CONSTITUTION:A lead for a component is measured by a lead sensor 25, a transfer head 21, a laser I/O control part 30, a body control part 10 and the like. When a measuring error is generated, an initial lead scanning-line position SP is moved sequentially to the outside by a prescribed distance (n) from an outer end part GT for the component up to positions at a distance L-n, a distance L-2n and a distance L-3n until it is distinguished that the number of remeasuring operations has exceeded a prescribed number of operations or it is distinguished that a measurement has been normal. In addition, when a distance 'L-ion' [where (i) =1, 2,...] is 0, the lead is moved sequentially to the inside by the distance (n) from the initial scanning-line position SP at a distance L+n, a distance L+2n and the like, and it is measured again. Thereby, a measuring mistake due to flaw, rust and the like of a lead measuring position is avoided, and it is possible to prevent the generation of a waste that a good product is mistaken for a defective product so as to be thrown away.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、電子部品のリードの
状態を計測するリード計測装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a lead measuring device for measuring the state of leads of electronic parts.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、プリント基板にIC、抵抗、
コンデンサ等多数のチップ状電子部品を搭載する部品搭
載装置がある。この部品搭載装置によってプリント基板
(以下、単に基板という)に搭載されるチップ状電子部
品(以下、単に部品という)は、そのモールド(内部回
路を被覆している保護殻部材)の側面から外部に出てい
る複数のリード(電極)を備えているものが多い。この
場合、複数のリードが規格通りに正しく並んでいない
と、その部品を搭載しても基板の配線に部品のリードが
正しく接続されず、出来上がった基板ユニット全体が不
良になる。このため、通常、部品搭載前に、その搭載す
べき部品のリードの配列状態を撮像装置又はセンサ等に
より測定して、予めメモリ等に記憶されている部品規格
表のデータと照合して、良否の判定をするようにしてい
た。
2. Description of the Related Art Conventionally, an IC, a resistor,
There is a component mounting device that mounts a large number of chip-shaped electronic components such as capacitors. A chip-shaped electronic component (hereinafter, simply referred to as a component) mounted on a printed circuit board (hereinafter simply referred to as a substrate) by this component mounting device is externally exposed from a side surface of a mold (a protective shell member covering an internal circuit). Many have multiple leads (electrodes) protruding. In this case, if the plurality of leads are not correctly arranged according to the standard, even if the component is mounted, the lead of the component is not properly connected to the wiring of the substrate, and the completed substrate unit becomes defective. Therefore, normally, before mounting the component, the lead arrangement state of the component to be mounted is measured by an image pickup device, a sensor, or the like and collated with the data of the component standard table stored in advance in the memory or the like to determine whether the component is good or bad. I was trying to judge.

【0003】図9は、レーザセンサを用いて部品を測定
する場合の状態を示したものである。同図に示す移載ヘ
ッド1は、本体装置上方に位置して、上下及び前後左右
に自在に移動可能であり、吸着ノズル2により、本体装
置の基台上に在る部品載置台から部品3を吸着して、そ
の部品3を本体装置内に自動搬入される基板上の所定位
置に自動的に搭載する。このとき、上記部品3を吸着し
て移送する移載ヘッド1の移動経路にレーザセンサ5を
配設し、このレーザセンサ5によって部品3の状態を測
定している。上記のレーザセンサ5は、照射口6と受光
部7とを備え、部品3を吸着した移載ヘッド1が同図の
矢印Aに示すX軸方向に移動するとき、測定点B′を通
過するリード4に、同図の折り返し矢印Bに示すように
レーザ光を照射口6から照射し、リード4で反射した光
を受光部7に受ける。そして、その反射光の入光により
リード4の配列を認識し、その入光の受光部7における
受光部位の位置に基づいて、リード4のレーザセンサ5
からの距離を認識する。これらの測定(認識)結果に基
づいて、本体装置の制御部は、リードの浮き、曲がり、
欠落等の不良を検出している。
FIG. 9 shows a state in which a component is measured using a laser sensor. The transfer head 1 shown in the figure is located above the main body device and can move freely up and down and front and back and left and right, and by the suction nozzle 2, from the component mounting table on the base of the main body device to the component 3 Is picked up and the component 3 is automatically mounted at a predetermined position on the substrate that is automatically loaded into the main body device. At this time, a laser sensor 5 is arranged in the movement path of the transfer head 1 that sucks and transfers the component 3, and the state of the component 3 is measured by the laser sensor 5. The laser sensor 5 includes an irradiation port 6 and a light receiving portion 7, and when the transfer head 1 that has adsorbed the component 3 moves in the X-axis direction shown by arrow A in the figure, it passes through a measurement point B ′. The lead 4 is irradiated with a laser beam from the irradiation port 6 as shown by a folded arrow B in the figure, and the light reflected by the lead 4 is received by the light receiving portion 7. Then, the array of the leads 4 is recognized by the incident light of the reflected light, and the laser sensor 5 of the lead 4 is recognized based on the position of the light receiving portion in the light receiving portion 7 of the incident light.
Recognize the distance from. Based on these measurement (recognition) results, the control unit of the main unit determines whether the lead floats, bends,
A defect such as a dropout is detected.

【0004】上記のレーザセンサ5は本体装置に固定さ
れており、したがって、部品3を測定するには部品3を
移動させる。図10は、上記測定される部品3の移動方
法の一例を示す図である。同図に示すように、固定した
測定点B′の周囲を吸着ノズル2が四角を描いて移動す
る。即ち、初め吸着ノズル2が位置2−1から、同図の
矢印Cに示す上方向の位置2−2へ移動すると、吸着さ
れている部品3の1辺に配設された複数のリード4の先
端部S1(点線で囲んだ部分)も矢印C′方向へ移動し
て測定点B′を通過し、その配列位置を走査される。次
に吸着ノズル2が位置2−2から、同図の矢印Dに示す
左方向の位置2−3へ移動すると、今度は部品3の他の
辺に配設された複数のリード4の先端部S2(点線で囲
んだ部分)が矢印D′方向へ移動して測定点B′を通過
する。同様にして、吸着ノズル2が位置2−3から矢印
Eに示す下方向の位置2−4へ、さらに位置2−4から
矢印Fに示す右方向の最初の位置2−1へと順次移動す
ることにより、部品3の残りの2辺に配設された複数の
リード4の先端部S3及びS4が、矢印E′方向及び矢
印F′方向へそれぞれ移動して測定点B′を順次通過し
て配列位置を走査される。このようにして、制御系は、
部品3の四辺全てのリード4の配列状態を知ることがで
き、これによって、各リード4の在るべき正しい位置か
ら上下にずれている度合い(変位量、つまりリードの浮
き)、曲がり(ピッチ間隔不良)、欠落等を検出する。
The above laser sensor 5 is fixed to the main body device, and therefore, in order to measure the component 3, the component 3 is moved. FIG. 10 is a diagram showing an example of a method of moving the component 3 to be measured. As shown in the figure, the suction nozzle 2 moves in a square around the fixed measuring point B '. That is, when the suction nozzle 2 first moves from the position 2-1 to the position 2-2 in the upward direction shown by the arrow C in the figure, the plurality of leads 4 arranged on one side of the component 3 that is being sucked. The tip portion S1 (the portion surrounded by the dotted line) also moves in the direction of the arrow C ', passes through the measurement point B', and the array position thereof is scanned. Next, when the suction nozzle 2 moves from the position 2-2 to the position 2-3 in the leftward direction shown by the arrow D in the figure, the tip portions of the leads 4 arranged on the other sides of the component 3 this time. S2 (the part surrounded by the dotted line) moves in the direction of the arrow D'and passes the measurement point B '. Similarly, the suction nozzle 2 sequentially moves from the position 2-3 to the downward position 2-4 indicated by the arrow E, and further from the position 2-4 to the first rightward position 2-1 indicated by the arrow F. As a result, the tip portions S3 and S4 of the plurality of leads 4 arranged on the remaining two sides of the component 3 respectively move in the arrow E ′ direction and the arrow F ′ direction and sequentially pass the measurement point B ′. The array positions are scanned. In this way, the control system
It is possible to know the arrangement state of the leads 4 on all four sides of the component 3, and by this, the degree of vertical deviation from the correct position of each lead 4 (displacement amount, that is, lead floating), bending (pitch interval) Defective), missing, etc. are detected.

【0005】ところで、上述した部品のリード4は、図
11(b) の側面図に示すように、モールド側面の中程か
ら横に突出しており、途中から下方に曲がって、その先
端部が更に横に(水平に)曲がっている。この水平に曲
がったリードピン4の先端部が基板搭載時に基板に半田
付けされる部分であり、この部分の配列状態をレーザセ
ンサ5が走査して正常であるか否かを認識する。このと
き、リード尖端を走査したのでは検出ミスが起きる虞が
あるから、通常、同図(a) の平面図に示すように、リー
ドの尖端位置(部品識別用データファイルに登録されて
いる外形寸法の外端部)から所定の距離Gだけ内側に測
定位置(レーザスキャンポイント)を設定し、この部分
を走査している。
By the way, as shown in the side view of FIG. 11 (b), the lead 4 of the above-mentioned component projects laterally from the middle of the side surface of the mold, bends downward from the middle thereof, and its tip portion is further bent. It is bent sideways (horizontally). The tip of the horizontally bent lead pin 4 is a portion to be soldered to the substrate when the substrate is mounted, and the laser sensor 5 scans the arrangement state of this portion to recognize whether it is normal or not. At this time, scanning the tip of the lead may cause a detection error.Therefore, as shown in the plan view of FIG. 2A, the tip position of the lead (the outline registered in the data file for component identification is usually used. A measurement position (laser scan point) is set inside by a predetermined distance G from the outer end portion of the dimension, and this portion is scanned.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、同図
(a),(b) に示すように、リード4のレーザスキャンポイ
ントに疵4′などがあると、レーザ光が不規則に反射し
てレーザセンサ5の出力にチャタリングを起こしたり、
或いはレーザ光が乱反射して、レーザセンサ5の受光部
7に正常な光量の反射が入射せず、このためリードが欠
落していると誤認し、即ち不良部品であると判定してし
まう。このことは、疵でなくとも、例えば部品が時間経
過しているとレーザスキャンポイントに錆びの発生がし
ばしば見られ、この場合も同様に正確なリード測定を行
うことができない。このようにリードの測定が正常にで
きない部品は不良品であると判定されるから、上記の例
では良品であるにもかかわらず、不良品という判定に基
づいて全て廃棄されてしまうという不都合が生じて問題
があった。
However, FIG.
As shown in (a) and (b), if the laser scan point of the lead 4 has a flaw 4 ', the laser light is reflected irregularly and chattering occurs in the output of the laser sensor 5, or
Alternatively, the laser light is diffusely reflected, and the reflection of a normal amount of light does not enter the light receiving portion 7 of the laser sensor 5. Therefore, it is erroneously recognized that the lead is missing, that is, it is determined as a defective part. This means that even if there is no defect, for example, rust is often found at the laser scan point when the component has passed the time, and in this case also, accurate lead measurement cannot be performed. In this way, since the parts whose leads cannot be measured normally are determined to be defective products, in the above example, there is a problem that they are all discarded based on the determination that they are defective products although they are good products. There was a problem.

【0007】本発明の課題は、上記従来の実情に鑑み、
リード測定を正しく行い、誤って良品部品を廃棄するこ
とのないリード計測装置を提供することである。
In view of the above conventional circumstances, the object of the present invention is to
It is an object of the present invention to provide a lead measuring device that correctly performs lead measurement and does not accidentally discard good parts.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】次に、本発明の構成を説
明する。本発明は、レーザセンサを用いて移載ヘッドの
吸着ノズルに吸着された電子部品のリードの状態を計測
するリード計測装置に適用される。
The structure of the present invention will be described below. INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention is applied to a lead measuring device that uses a laser sensor to measure the state of a lead of an electronic component sucked by a suction nozzle of a transfer head.

【0009】本発明のリード計測装置は、上記電子部品
の所定のリード走査位置を走査して計測する計測手段
と、該計測手段による計測が不良であるときの不良内容
を判定する判定手段と、該判定手段による判定に基づい
て上記計測手段のリード走査位置を所定の距離だけずら
して新たに設定する設定手段と、上記計測手段による計
測を設定手段により新たに設定されたリード走査位置で
行われせる計測制御手段とから構成される。
The lead measuring apparatus of the present invention comprises a measuring means for scanning and measuring a predetermined lead scanning position of the electronic component, and a judging means for judging the content of a defect when the measurement by the measuring means is defective. Based on the determination made by the determining means, a setting means for newly setting the lead scanning position of the measuring means by a predetermined distance and a measurement by the measuring means are performed at the lead scanning position newly set by the setting means. And a measurement control means for controlling the measurement.

【0010】上記設定手段は、上記電子部品のリード走
査位置を、例えば請求項2記載のように、走査方向と直
角な軸の正方向に所定の距離だけずらして設定する。ま
た、例えば請求項3記載のように、走査方向と直角な軸
の上記正方向とは反対方向に所定の距離だけずらして設
定する。
The setting means sets the lead scanning position of the electronic component by shifting a predetermined distance in the positive direction of an axis perpendicular to the scanning direction, as in the second aspect. Further, for example, as set forth in claim 3, it is set by shifting a predetermined distance in a direction opposite to the positive direction of the axis perpendicular to the scanning direction.

【0011】また、計測制御手段は、例えば請求項4記
載のように、正常な計測結果を得るまで又は所定の再計
測回数を越えるまで計測手段によるリード状態の計測、
判定手段による不良内容の判定、及び設定手段による新
たなリード走査位置の設定を繰り返し行なわせる。
Further, the measurement control means may measure the lead state by the measurement means until a normal measurement result is obtained or a predetermined number of remeasurements is exceeded, as described in claim 4,
The determination unit repeatedly determines the defect content and the setting unit sets a new read scanning position.

【0012】上記計測手段は、例えばレーザ変位計等か
ら成り、上記判定手段は、例えばレーザI/O制御部等
から成り、上記設定手段、及び決定手段は、例えばCP
U(Central Processing Unit) 、移載ヘッドの駆動系制
御部等から成る。
The measuring means is, for example, a laser displacement meter or the like, the determining means is, for example, a laser I / O control section or the like, and the setting means and the determining means are, for example, CP.
A U (Central Processing Unit), a drive system controller of the transfer head, and the like.

【0013】[0013]

【作用】この発明は、計測手段が電子部品の所定のリー
ド走査位置を走査して計測し、この計測が不良である
と、その不良内容を判定手段が判定し、この判定手段に
よる判定に基づいて設定手段が電子部品のリード走査位
置を所定の距離だけ走査方向と直角な軸の正方向又は反
対方向にずらして新たに設定する。そして、計測制御手
段がこの新たに設定されたリード走査位置で、正常な計
測結果を得るまで又は所定の再計測回数を越えるまで、
計測手段による計測、判定手段による判定及び設定手段
による新たな設定を繰り返し行なわせる。
According to the present invention, the measuring means scans and measures a predetermined lead scanning position of the electronic component. If the measurement is defective, the determining means determines the content of the defect, and based on the determination by the determining means. Then, the setting means shifts the lead scanning position of the electronic component by a predetermined distance in the positive direction or the opposite direction of the axis perpendicular to the scanning direction to newly set the position. Then, until the measurement control means obtains a normal measurement result at the newly set read scanning position or exceeds a predetermined number of remeasurements,
The measurement by the measuring means, the judgment by the judging means, and the new setting by the setting means are repeatedly performed.

【0014】これにより、リード測定ミスによる良品部
品の廃棄の無駄を回避することができる。
As a result, it is possible to avoid waste of discarding non-defective parts due to a lead measurement error.

【0015】[0015]

【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
ながら説明する。図1は、一実施例に係わる部品搭載装
置の構成ブロック図である。同図において、部品搭載装
置は、本体制御部10、リード計測装置としてのレーザ
変位計20及びレーザI/O制御部30からなってい
る。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a configuration block diagram of a component mounting apparatus according to an embodiment. In the figure, the component mounting apparatus includes a main body control unit 10, a laser displacement meter 20 as a lead measuring device, and a laser I / O control unit 30.

【0016】本体制御部10は、装置全体を制御するメ
インCPU(中央演算処理装置)11を有しており、そ
のCPU11にはI/F制御部12及び駆動系制御部1
3が接続している。駆動系制御部13には入出力ポート
14が接続し、その入出力ポート14にはX軸サーボモ
ータ15及びY軸サーボモータ16が接続している。C
PU11は、駆動系制御部13に、部品を移送する移載
ヘッド21を移動させるための駆動信号を出力し、駆動
系制御部13は、その駆動信号をデコードして入出力ポ
ート14に出力し、入出力ポート14は、入力された駆
動信号をX軸サーボモータ15及びY軸サーボモータ1
6に割り当てる。X軸サーボモータ15は正逆両方向に
回転して移載ヘッド21をX軸方向(基板の搬送方向)
に進退移動させ、Y軸サーボモータ16も正逆両方向に
回転して移載ヘッド21をY軸方向(基板の搬送方向に
直角かつ水平な方向)に進退移動させる。このとき、X
軸サーボモータ15及びY軸サーボモータ16の回転軸
にそれぞれ取り付けられているサーボモータエンコーダ
X15′及びサーボモータエンコーダY16′は、それ
ぞれのサーボモータの回転数を示すパルス信号を入出力
ポート14及び駆動制御部13を介してメインCPU1
1に出力する。メインCPU11は、それらのパルス信
号を計数することにより、X軸サーボモータ15及びY
軸サーボモータ16の駆動を制御する。また、特には図
示しないが、入出力ポート14には、移載ヘッド21を
回転駆動するパルスモータ及び移載ヘッド21を上下駆
動するパルスモータがそれぞれ接続されており、それら
のパルスモータも同様にメインCPU11により駆動制
御される。また、移載ヘッド21の吸着ノズル22によ
り部品23を吸着/離放するための真空ポンプも接続さ
れており、同様にメインCPU11により駆動制御され
る。そして、本体制御部10のI/F制御部12は、メ
インCPU11から入力される制御信号をパラレル信号
からシリアル信号に変換し、インタフェースRS232
Cを介してレーザI/O制御部30に出力する。
The main body control unit 10 has a main CPU (central processing unit) 11 for controlling the entire apparatus, and the CPU 11 has an I / F control unit 12 and a drive system control unit 1.
3 is connected. An input / output port 14 is connected to the drive system controller 13, and an X-axis servomotor 15 and a Y-axis servomotor 16 are connected to the input / output port 14. C
The PU 11 outputs a drive signal for moving the transfer head 21 that transfers the component to the drive system control unit 13, and the drive system control unit 13 decodes the drive signal and outputs it to the input / output port 14. The input / output port 14 outputs the input drive signal to the X-axis servomotor 15 and the Y-axis servomotor 1.
Assign to 6. The X-axis servomotor 15 rotates in both the forward and reverse directions to move the transfer head 21 in the X-axis direction (substrate transfer direction).
The Y-axis servo motor 16 also rotates in both forward and backward directions to move the transfer head 21 forward and backward in the Y-axis direction (a direction perpendicular to the substrate transport direction and horizontal). At this time, X
The servo motor encoder X15 'and the servo motor encoder Y16' respectively attached to the rotary shafts of the axis servo motor 15 and the Y axis servo motor 16 drive the input / output port 14 and the pulse signal indicating the rotation speed of each servo motor. Main CPU 1 via control unit 13
Output to 1. The main CPU 11 counts these pulse signals to calculate the X-axis servomotor 15 and the Y-axis servo motor 15.
The drive of the axis servo motor 16 is controlled. Further, although not particularly shown, a pulse motor that rotationally drives the transfer head 21 and a pulse motor that vertically drives the transfer head 21 are respectively connected to the input / output port 14, and these pulse motors are also similar. The drive is controlled by the main CPU 11. Further, a vacuum pump for sucking / releasing the component 23 by the suction nozzle 22 of the transfer head 21 is also connected, and is similarly driven and controlled by the main CPU 11. Then, the I / F control unit 12 of the main body control unit 10 converts the control signal input from the main CPU 11 from a parallel signal to a serial signal, and the interface RS232
It outputs to the laser I / O control unit 30 via C.

【0017】レーザ変位計20は、レーザセンサ25及
び変位計コントローラ28を備えている。レーザセンサ
25は、移載ヘッド21により基準認識のため吸着され
た部品23の測定、及び実装作業において移送中の部品
23のリード24の配設位置の走査を行う。変位計コン
トローラ28は、レーザセンサ25の出力を制御すると
共に、レーザセンサ25の測定又は走査の結果を表示報
知し、その結果データをレーザI/O制御部30に出力
する。
The laser displacement meter 20 includes a laser sensor 25 and a displacement meter controller 28. The laser sensor 25 measures the component 23 adsorbed by the transfer head 21 for reference recognition, and scans the placement position of the lead 24 of the component 23 which is being transferred during mounting work. The displacement gauge controller 28 controls the output of the laser sensor 25, displays and notifies the result of measurement or scanning of the laser sensor 25, and outputs the result data to the laser I / O control unit 30.

【0018】レーザI/O制御部30は、特には図示し
ないが内蔵のRAM(Random-Access-Memory)を有し、こ
のRAM内に部品識別用データファイルとして部品情報
マスターファイルを記憶している。そして、レーザI/
O制御部30は、インタフェースRS232Cを介して
メインCPU11から入力される制御信号と、駆動系制
御部13を介して入力されるサーボモータエンコーダX
15′及びサーボモータエンコーダY16′のパルス信
号計数値とに基づいてレーザ変位計20の動作タイミン
グを制御し、レーザ変位計20から入力される測定又は
走査の結果データをRAM内の部品情報マスターファイ
ルの対応する情報データと比較して部品23のリード2
4それぞれの変位量を算出し、その算出結果をインタフ
ェースRS232Cを介してメインCPU11に出力す
る。
The laser I / O control unit 30 has a built-in RAM (Random-Access-Memory), which is not particularly shown, and stores a component information master file as a component identification data file in this RAM. . And laser I /
The O control unit 30 receives a control signal input from the main CPU 11 via the interface RS232C and a servo motor encoder X input via the drive system control unit 13.
The operation timing of the laser displacement meter 20 is controlled based on the pulse signal count value of 15 'and the servo motor encoder Y16', and the measurement or scanning result data input from the laser displacement meter 20 is stored in the RAM as a component information master file. The lead 2 of the component 23 as compared with the corresponding information data of
The displacement amount of each of the four is calculated, and the calculation result is output to the main CPU 11 via the interface RS232C.

【0019】メインCPU11もメモリを内蔵し、この
メモリ内に測定変位量の許容範囲を示す良否判定用デー
タファイルを備えレーザI/O制御部30から入力され
るリード情報の変位量が上記の許容範囲内にあるか否か
即ち測定された部品のリード配列状態が正常であるか否
か、つまり部品が良品であるか否かを判別する。
The main CPU 11 also has a built-in memory, and a pass / fail judgment data file showing an allowable range of the measured displacement amount is provided in this memory, and the displacement amount of the read information input from the laser I / O control unit 30 is the above-mentioned allowable amount. Whether or not it is within the range, that is, whether or not the measured lead arrangement state of the component is normal, that is, whether or not the component is non-defective is determined.

【0020】この構成において、リード配列状態の測定
処理を行う本実施例の動作を、図2及び図3に示すフロ
ーチャートを用いて説明する。なお、この処理は、本体
制御部10のメインCPU11により図2のフローチャ
ートに示す処理がなされ、レーザI/O制御部30によ
り図3のフローチャートに示す処理がなされる。そし
て、本実施例では、上記メインCPU11による制御に
基づいてレーザI/O制御部30が行うリード測定方法
に特徴がある。
The operation of this embodiment for performing the read array state measurement process in this configuration will be described with reference to the flow charts shown in FIGS. Note that this processing is performed by the main CPU 11 of the main body control unit 10 as shown in the flowchart of FIG. 2 and by the laser I / O control unit 30 as shown in the flowchart of FIG. The present embodiment is characterized by the lead measuring method performed by the laser I / O control unit 30 under the control of the main CPU 11.

【0021】図2に示すフローチャートにおいて、メイ
ンCPU11は、先ずオリジン動作の処理を行う(ステ
ップM1)。この処理は、電源が投入された稼動開始時
において、X軸方向、Y軸方向、回転方向、上下方向等
の各駆動系を駆動して、移載ヘッド21を基準位置に設
定・停止させる処理である。
In the flow chart shown in FIG. 2, the main CPU 11 first performs the origin operation process (step M1). This process is a process of driving each drive system in the X-axis direction, the Y-axis direction, the rotation direction, the up-down direction, and the like to set and stop the transfer head 21 at the reference position at the start of operation when the power is turned on. Is.

【0022】続いて、レーザI/O制御部30に、I/
F制御部12を介してレーザI/Oイニシャライズ指令
Aを出力する(ステップM2)。これにより、レーザI
/O制御部30は後述するイニシャルモードの設定処理
を行って、そのイニシャルモード設定の終了をメインC
PU11に通知する。
Then, the laser I / O control unit 30
A laser I / O initialization command A is output via the F control unit 12 (step M2). This allows the laser I
The / O control unit 30 performs an initial mode setting process, which will be described later, and finishes the initial mode setting by the main C.
Notify PU11.

【0023】メインCPU11は、そのイニシャルモー
ド設定の終了を確認した後(ステップM3)、移載ヘッ
ド21を不図示の部品載置台へ移動させ、吸着ノズル2
2により所定の部品23を吸着し、その部品23のラフ
センタリングのための画像認識処理を行う(ステップM
4)。
After confirming the completion of the initial mode setting (step M3), the main CPU 11 moves the transfer head 21 to a component mounting table (not shown), and the suction nozzle 2
2 picks up a predetermined part 23 and performs image recognition processing for rough centering of the part 23 (step M
4).

【0024】この処理は、本体装置基台上の基板を案内
する案内レール近傍に配設されている画像認識用カメラ
の上方に移載ヘッド21を移動させ、吸着されている部
品23の吸着状態を画像認識用カメラにより撮像し、撮
像により得られた部品23の画像を認識して、部品23
の各辺が、それぞれX軸方向及びY軸方向を向くよう移
載ヘッド21を回転補正し、さらに基準視野の中心から
ズレている部品23の中心の位置補正をする処理であ
る。これにより、部品23のリード24の走査の準備が
完了する。
In this processing, the transfer head 21 is moved above the image recognition camera arranged near the guide rail for guiding the substrate on the main body base, and the suctioned state of the sucked component 23. Is imaged by the image recognition camera, the image of the component 23 obtained by the imaging is recognized, and the component 23
Is a process of rotationally correcting the transfer head 21 so that each side of the component 23 faces the X-axis direction and the Y-axis direction, respectively, and further correcting the position of the center of the component 23 deviated from the center of the reference visual field. This completes the preparation for scanning the lead 24 of the component 23.

【0025】次に、レーザI/O制御部30に、移載ヘ
ッド21の移動のためのサーボモータエンコーダX1
5′のパルス数データと共にリード24の配設位置の変
位量測定指令Bを出力する(ステップM5)。これによ
り、レーザI/O制御部30は後述するリード変位量測
定の処理開始をメインCPU11に通知した後、そのリ
ード変位量測定の処理を実行し、その後、リード変位量
測定の終了をメインCPU11に通知する。
Next, the laser I / O controller 30 is provided with a servo motor encoder X1 for moving the transfer head 21.
A displacement amount measurement command B at the position where the lead 24 is arranged is output together with the pulse number data of 5 '(step M5). As a result, the laser I / O control unit 30 notifies the main CPU 11 of the start of a lead displacement amount measurement process, which will be described later, executes the lead displacement amount measurement process, and then terminates the lead displacement amount measurement. To notify.

【0026】メインCPU11は、レーザI/O制御部
30によるリード変位量測定の開始を確認した後(ステ
ップM6)、X軸サーボモータ15(又はY軸サーボモ
ータ16)を所定パルス数分駆動して移載ヘッド21を
移動させる(ステップM7)。これにより、図10に示
したリード走査時の、吸着ノズル2が位置2−1から位
置2−2へ移動する場合と同様に、移載ヘッド21の吸
着ノズル22が移動し、吸着ノズル22に吸着されてい
る部品23の1辺のリード24がレーザ変位計20のレ
ーザセンサ25により走査される。
After confirming the start of lead displacement amount measurement by the laser I / O control unit 30 (step M6), the main CPU 11 drives the X-axis servomotor 15 (or Y-axis servomotor 16) by a predetermined number of pulses. The transfer head 21 is moved (step M7). As a result, as in the case where the suction nozzle 2 moves from the position 2-1 to the position 2-2 during the read scanning shown in FIG. 10, the suction nozzle 22 of the transfer head 21 moves to the suction nozzle 22. The lead 24 on one side of the attracted component 23 is scanned by the laser sensor 25 of the laser displacement meter 20.

【0027】続いて、レーザI/O制御部30によるリ
ード変位量測定の終了を確認して(ステップM8)、部
品23の4辺のリード24の走査を完了しているか否か
判別する(ステップM9)。この処理は、例えば、メイ
ンCPU11内蔵の減算レジスタに「4」を設定し、1
辺の走査処理終了毎に「1」減算して、減算レジスタが
「0」になったか否か判別する処理である。
Then, it is confirmed that the laser I / O control unit 30 has finished measuring the lead displacement amount (step M8), and it is determined whether or not the scanning of the leads 24 on the four sides of the component 23 has been completed (step S8). M9). In this processing, for example, "4" is set in the subtraction register built in the main CPU 11 and
This is a process of subtracting "1" every time the side scanning process is completed and determining whether or not the subtraction register has become "0".

【0028】そして、まだ4辺のリード24の走査が完
了していない場合は、上記ステップM5に戻り、ステッ
プM5〜M9を繰り返す。ステップM5で、変位量測定
指令Bと共に出力する移載ヘッド21の移動のためのパ
ルス数データは、1辺の走査処理毎に、サーボモータエ
ンコーダX15′のパルス数データ、サーボモータエン
コーダY16′のパルス数データ、再びサーボモータエ
ンコーダX15′の逆回転パルス数データ、そしてサー
ボモータエンコーダY16′の逆回転パルス数データ
と、順次、変化する。
When the scanning of the leads 24 on the four sides is not yet completed, the process returns to the step M5 and the steps M5 to M9 are repeated. In step M5, the pulse number data for the movement of the transfer head 21 output together with the displacement amount measurement command B is the pulse number data of the servo motor encoder X15 'and the servo motor encoder Y16' for each side scanning process. The pulse number data, the reverse rotation pulse number data of the servo motor encoder X15 'again, and the reverse rotation pulse number data of the servo motor encoder Y16' are sequentially changed.

【0029】このようにして、4辺のリード24の走査
を行い、ステップM9で、4辺の走査完了を確認した
後、レーザI/O制御部30に、リード24の測定(走
査)データの判定結果を出力するようリード測定データ
判定指令Cを出力する(ステップM10)。これによ
り、レーザI/O制御部30は後述するリード測定デー
タ判定処理を行って、その処理の結果をメインCPU1
1に通知する。
In this way, the leads 24 on the four sides are scanned, and after the completion of the scanning on the four sides is confirmed in step M9, the laser I / O control unit 30 is supplied with the measurement (scan) data of the leads 24. The read measurement data determination command C is output so as to output the determination result (step M10). As a result, the laser I / O control unit 30 performs a read measurement data determination process, which will be described later, and outputs the result of the process to the main CPU 1.
Notify 1.

【0030】メインCPU11は、レーザI/O制御部
30からリード測定データ判定結果が入力したことを確
認し(ステップM11)、その入力した結果に基づく処
理を実行する(ステップM12)。この処理では、レー
ザI/O制御部30により判定されたリード配設位置の
変位量が、許容値以内であれば、基板に部品23を搭載
する処理を実行し、一方、リード配設位置の変位量が、
許容値を超えている場合は、その部品23を廃棄する処
理を実行する。
The main CPU 11 confirms that the read measurement data determination result has been input from the laser I / O control unit 30 (step M11), and executes processing based on the input result (step M12). In this process, if the displacement amount of the lead placement position determined by the laser I / O control unit 30 is within the allowable value, the process of mounting the component 23 on the board is executed, while the lead placement position Displacement is
When the allowable value is exceeded, the process of discarding the part 23 is executed.

【0031】次に、上記メインCPU11の指令に基づ
いてレーザI/O制御部30が行う処理を説明する。図
3に示すフローチャートにおいて、先ずメインCPU1
1から入力されるイニシャライズ指令Aを待機する(ス
テップS1)。
Next, the processing performed by the laser I / O control unit 30 based on the command from the main CPU 11 will be described. In the flowchart shown in FIG. 3, first, the main CPU 1
The initialization command A input from 1 is awaited (step S1).

【0032】そして、イニシャライズ指令Aを入力され
た場合は、イニシャルモードを設定する(ステップS
2)。この処理は、内蔵のカウンタ、メモリ等をクリア
し、さらにレーザセンサ25をリード走査モードに設定
する等の処理である。
When the initialization command A is input, the initial mode is set (step S
2). This processing is processing such as clearing the built-in counter and memory and setting the laser sensor 25 in the read scanning mode.

【0033】上記処理を終了して、メインCPU11か
ら入力されるリード変位量測定指令Bを待機する(ステ
ップS3)。そして、リード変位量測定指令Bを入力さ
れた場合は、リード変位量測定を実行する(ステップS
4)。この処理は、リード変位量測定指令Bと共に入力
されるサーボモータエンコーダのパルス数データをレジ
スタに設定し、メインCPU11には、リード変位量測
定開始を通知し、一方、レーザ変位計20の変位計コン
トローラ28には、制御信号を出力して、レーザセンサ
25にレーザ照射を開始させてリード24の走査を開始
させ、その反射光を取り込ませて、反射光データに基づ
くリード位置の測定を行わせ、その測定によるリード配
設位置データをメモリに記憶し、それらの処理を、本体
制御部10の駆動系制御部13を介して入力されるサー
ボモータエンコーダX15′又はY16′のパルス数デ
ータとレジスタに記憶しているパルス数データとが一致
するまで繰り返し、上記双方のパルス数データが一致し
たときは、測定を終了させ、レーザ照射をオフにさせ
て、メインCPU11に測定処理の終了を通知する処理
である。
After the above processing is completed, the lead displacement amount measurement command B input from the main CPU 11 is awaited (step S3). When the lead displacement amount measurement command B is input, the lead displacement amount measurement is executed (step S
4). This processing sets the pulse number data of the servo motor encoder, which is input together with the lead displacement amount measurement command B, in the register and notifies the main CPU 11 of the start of the lead displacement amount measurement, while the displacement meter of the laser displacement meter 20 is measured. The controller 28 outputs a control signal to cause the laser sensor 25 to start laser irradiation to start scanning of the lead 24, capture the reflected light thereof, and measure the lead position based on the reflected light data. , The lead arrangement position data obtained by the measurement is stored in a memory, and the processing thereof is input through the drive system control unit 13 of the main body control unit 10 to the pulse number data of the servo motor encoder X15 'or Y16' and the register. Repeat until the pulse number data stored in is matched.If both pulse number data match, the measurement is finished. , By turning off the laser irradiation, a process of notifying the completion of the measurement process to the main CPU 11.

【0034】上記処理の終了後、メインCPU11から
入力されるリード測定データ判定指令Cを待機する(ス
テップS5)。そして、リード測定データ判定指令Cを
入力された場合は、リード測定データの判定処理を実行
する(ステップS6)。この処理は、走査により得られ
たリード測定データ(リード24の配設位置データ)を
メモリから読み出し、その読み出したリード測定データ
を一辺毎にRAMの部品情報マスターファイルから読み
出した当該部品23のリード情報と比較し、欠損、破損
等のリード数エラー、又はリードピッチエラー、及びリ
ード24の配設位置の変位量(浮き、及び曲りエラー)
を算出する処理である。
After the above processing is completed, the CPU waits for the read measurement data determination command C input from the main CPU 11 (step S5). When the lead measurement data determination command C is input, the lead measurement data determination processing is executed (step S6). In this process, the lead measurement data (positional data of the lead 24) obtained by scanning is read from the memory, and the read lead measurement data read from the component information master file of the RAM for each side is read. Compared with the information, lead number error such as loss or breakage, lead pitch error, and displacement amount of lead 24 placement position (floating and bending error)
Is a process for calculating.

【0035】このようにして、測定されたエラー内容
は、レーザI/O制御部30からインタフェースRS2
32C及びI/F制御部12を介して本体制御部10の
メインCPU11に出力される。メインCPU11は、
図9のステップM12において、このエラー内容に基づ
いて部品23の再測定を実施し、この結果に基づいて部
品の良不良を判断する。
In this way, the measured error content is transferred from the laser I / O control unit 30 to the interface RS2.
It is output to the main CPU 11 of the main body control unit 10 via the 32C and the I / F control unit 12. The main CPU 11
In step M12 of FIG. 9, the component 23 is re-measured based on this error content, and the quality of the component is judged based on this result.

【0036】図4は、上記ステップM12における処理
の詳細を示すフローチャートである。同図に示すよう
に、先ず、レーザI/O制御部30から入力された計測
結果が全て正常を示しているか否か判別する(ステップ
S11)。そして計測が全て正常で終了していれば(S
11、Yes)、直ちに処理を終了する。
FIG. 4 is a flow chart showing details of the processing in step M12. As shown in the figure, first, it is determined whether or not all the measurement results input from the laser I / O control unit 30 indicate normal (step S11). If all measurements are normal and completed (S
(11, Yes), the process ends immediately.

【0037】そして、上記ステップM12における最終
処理、即ち良否判定処理及び当該部品の廃棄の可否決定
処理を行う。一方、計測が正常に終了していないときは
(S11、No)、次に、正常に終了していないエラー
の内容を調べる。即ち、先ず計測したリード数にエラー
があるか否か判別する(ステップS12)。
Then, the final processing in step M12, that is, the quality determination processing and the discardability determination processing of the relevant part are performed. On the other hand, when the measurement is not normally completed (S11, No), the content of the error which is not normally completed is checked. That is, first, it is determined whether or not the measured number of leads has an error (step S12).

【0038】そして、リード数エラーがあれば(S1
2、Yes)、詳しくは後述するエラー処理Aを行い
(ステップ19)、リード数エラーがないときは(S1
2、No)、続いて、リードピッチにエラーがあるか否
か判別する(ステップS13)。
If there is a read number error (S1
(2, Yes), error processing A described later in detail is performed (step 19), and when there is no read number error (S1)
2, No), and then it is determined whether or not there is an error in the lead pitch (step S13).

【0039】この判別で、リードピッチにエラーがあれ
ば(S13、Yes)、これも詳しくは後述するエラー
処理Bを行い(ステップ20)、リードピッチエラーが
ななければ(S13、No)、さらに続いて、リード浮
エラーがあるか否か判別する(ステップS14)。
In this determination, if there is an error in the lead pitch (S13, Yes), error processing B described later in detail is also performed (step 20), and if there is no lead pitch error (S13, No), further, Then, it is determined whether or not there is a lead floating error (step S14).

【0040】そして、リード浮エラーがあれば(S1
4、Yes)、後述するエラー処理Cを行い(ステップ
21)、リード浮きエラーがなければ(S14、N
o)、さらに次には、リード曲りエラーがあるか否か判
別する(ステップS15)。
If there is a lead floating error (S1
4, Yes), the error processing C described later is performed (step 21), and if there is no lead floating error (S14, N).
o), and next, it is determined whether or not there is a lead bending error (step S15).

【0041】ここで、リード曲りエラーがあれば(S1
5、Yes)、後述するエラー処理Dを行い(ステップ
22)、リード曲りエラーがなければ(S15、N
o)、上記エラー以外の他のエラー処理を行って(ステ
ップ16)、次に、このエラー処理によって計測が正常
に終了したか否か判別する(ステップ17)。
If there is a lead bending error (S1
5, Yes), the error processing D described later is performed (step 22), and if there is no lead bending error (S15, N).
o), other error processing than the above error is performed (step 16), and then it is determined whether or not the measurement is normally completed by this error processing (step 17).

【0042】このように、リード数エラー、リードピッ
チエラー、リード浮エラー、リード曲りエラー、又はそ
の他のエラーがあるか否か順次判別して、エラーがあれ
ば、そのエラーの種類に対応するエラー処理A、B、
C、D又はEを行う。そして、これらのエラー処理によ
って、計測が正常に終了することができたか否かを再度
判別して、エラー処理による再計測が正常に終了してい
れば(S17、Yes)、正常終了をメモリの所定領域
に記録して処理を終了する。また、エラー処理による再
計測が正常に終了していないときは(S17、No)、
上記再計測の回数が、メモリに設定されている許容再計
測回数(リトライ数)を越えているか否かを判別し(ス
テップ18)、越えていなければ(S18、No)、上
記ステップ12に戻って、ふたたびステップS12〜S
18を繰り返す。
As described above, it is sequentially determined whether or not there is a lead number error, a lead pitch error, a lead floating error, a lead bending error, or another error, and if there is an error, an error corresponding to the type of the error. Processing A, B,
Perform C, D or E. Then, by these error processes, it is determined again whether or not the measurement can be normally completed, and if the re-measurement by the error process is normally completed (S17, Yes), the normal end is stored in the memory. The data is recorded in the predetermined area, and the process ends. When the remeasurement by the error processing is not normally completed (S17, No),
It is determined whether or not the number of remeasurements exceeds the allowable number of remeasurements (the number of retries) set in the memory (step 18). If not (S18, No), the process returns to step 12 above. Then again, steps S12 to S
Repeat 18.

【0043】また、上記再計測の回数が、リトライ数を
越えていれば(S18、Yes)、非常終了をメモリの
所定領域に記録して処理を終了する。このように、エラ
ーがあれば、そのエラーの種類に対応する後述するエラ
ー処理(エラー救済処理)を行って、エラー判定を再度
行い、さらにエラーがあれば予め設定されている所定の
回数(リトライ数)まで上記エラー処理を実行するとい
うことを繰り返す。これによって、計測ミス(誤認)に
よる廃棄処分から正常な部品を救済する。
If the number of re-measurements exceeds the number of retries (S18, Yes), the emergency end is recorded in a predetermined area of the memory and the process ends. In this way, if there is an error, an error process (error relief process) described later corresponding to the type of the error is performed, the error determination is performed again, and if there is an error, a predetermined number of times (retry) is set in advance. Repeat the above error processing up to (number). As a result, normal parts are relieved from disposal due to measurement error (misidentification).

【0044】続いて、上記エラー処理A、B、C、D及
びEについて、図5乃至図7に示すフローチャートを用
いて順次説明する。図5(a) はリード数のエラー処理A
のフローチャートであり、同図(b) はそのステップS3
1〜S34の処理内容を示すフローチャートである。
Next, the error processes A, B, C, D and E will be sequentially described with reference to the flow charts shown in FIGS. Figure 5 (a) shows the error processing A for the number of reads.
Is a flow chart of step S3 of FIG.
It is a flowchart which shows the processing content of 1-S34.

【0045】同図(a) において、先ず部品23の最初の
一辺(SIDE1)について、図3の測定処理で用いた
測定位置の設定を行う(ステップS31)。この処理で
は、部品情報マスタファイルによって当該部品23の外
形寸法が認識されており、図8に示すように、その外形
寸法の外端部GTからこの部品に予め設定されている所
定距離Lだけ内側に、部品23のリード24を測定走査
する走査線位置(スキャンポイント)SPを設定する。
In FIG. 4A, first, the measurement position used in the measurement process of FIG. 3 is set for the first side (SIDE1) of the component 23 (step S31). In this process, the external dimension of the component 23 is recognized by the component information master file, and as shown in FIG. 8, the external dimension GT of the external dimension is inward by a predetermined distance L preset for this component. Then, the scanning line position (scan point) SP for measuring and scanning the lead 24 of the component 23 is set.

【0046】そして、同図(b) に示す処理を行う。即
ち、先ず、上記のリード数エラーがリードの数不足で発
生したものか否か判別する(ステップS41)。この処
理は測定されたリード数を部品情報マスターファイルか
ら読み出した規定のリード数と比較する処理である。
Then, the processing shown in FIG. That is, first, it is determined whether or not the read number error has occurred due to a shortage of the number of reads (step S41). This process is a process of comparing the measured number of leads with the specified number of leads read from the component information master file.

【0047】ここで、測定されたリード数に不足がなけ
れば(S41、No)、次に、測定されたリード数が規
定のリード数より異常に多いか否か判別する(ステップ
S42)。この処理は、リード測定において、レーザセ
ンサ25の出力にチャタリングが発生しているか否か判
別する処理である。
If the measured number of leads is not insufficient (S41, No), it is then determined whether the measured number of leads is abnormally larger than the specified number of leads (step S42). This process is a process of determining whether chattering has occurred in the output of the laser sensor 25 in the lead measurement.

【0048】そして、チャタリングが発生していなけれ
ば、上記設定したスキャンポイントSPを変更すること
なく処理を終了する。上記ステップS42で、チャタリ
ングが発生していれば、スキャンポイントSPを所定の
距離n(例えば3/100ミリメートル)だけ外端部G
T寄りにずらして設定して(ステップS44)、処理を
終了する。これにより、図8も示すように、予め外端部
GTから距離Lだけ内側に設定されているスキャンポイ
ントSPが、距離L−nのところに移動する。
If chattering has not occurred, the processing is terminated without changing the scan point SP set above. If chattering has occurred in step S42, the scan point SP is moved to the outer end portion G by a predetermined distance n (for example, 3/100 millimeters).
The setting is shifted to the T side (step S44), and the process ends. As a result, as also shown in FIG. 8, the scan point SP, which is set inward by the distance L in advance from the outer end GT, moves to the distance L-n.

【0049】また、上記ステップS41で、測定された
リード数に不足があれば、同様に上記ステップS44を
行って処理を終了する。このように、図5(a) のステッ
プS31の処理を行い、これと全く同様に、ステップS
32で二番目の辺(SIDE2)について処理をなし、
以下、順次ステップS33で三番目の辺(SIDE
3)、ステップS34で四番目の辺(SIDE4)につ
いて処理を行う。
If it is determined in step S41 that the measured number of leads is insufficient, step S44 is similarly performed and the process is terminated. In this way, the process of step S31 of FIG. 5A is performed, and step S31 is performed in exactly the same manner.
32, the second side (SIDE2) is processed,
Hereinafter, in step S33, the third side (SIDE
3) In step S34, the fourth side (SIDE4) is processed.

【0050】続いて、リード数エラーがあったことを示
す警告報知を行い(ステップS35)、上記新たに設定
したスキャンポイントSPで再測定を行う(ステップS
36)。これにより、ふたたび図2のステップM5〜ス
テップM12、及びこれに対応して図3のステップS3
〜S6が行われる。
Subsequently, a warning indicating that there is a read number error is issued (step S35), and re-measurement is performed at the newly set scan point SP (step S).
36). As a result, again, step M5 to step M12 in FIG. 2 and step S3 in FIG.
~ S6 is performed.

【0051】このようにして、図4のステップS12で
リード数エラーが発生したときは、ステップS17で測
定が正常であることを判別するまで、又はステップS1
8で再測定回数が所定の回数を越えたことを判別するま
で、ステップS19において、即ち図5(a),(b) の処理
において、図8に示すスキャンポイントSPを、外端部
GTから距離L−n、L−2n、L−3nの位置へと順
次外側へ移動させ、また、距離「L−i・n」(i=
1、2、・・・)が0ならば、距離L+n、L+2nと
いうように初期設定時のスキャンポイントSPから順次
内側へ移動させて、再測定を行う。これにより、リード
測定位置の疵、錆び等による測定ミスが回避され、良品
部品を不良と誤認して廃棄する無駄の発生を防止するこ
とができる。
In this way, when the read number error occurs in step S12 of FIG. 4, until it is determined in step S17 that the measurement is normal, or in step S1.
In step S19, that is, in the processing of FIGS. 5 (a) and 5 (b), the scan point SP shown in FIG. 8 is moved from the outer end GT until it is determined that the number of re-measurements has exceeded the predetermined number in 8. The positions are sequentially moved to the positions of the distances L-n, L-2n, and L-3n, and the distance "L-i.n" (i =
If 1, 2, ...) Is 0, the distance is moved to the inner side from the scan point SP at the time of initialization such as L + n and L + 2n, and the measurement is performed again. As a result, measurement errors due to flaws in the lead measurement position, rust, etc. can be avoided, and it is possible to prevent waste of misidentifying good parts as defective and discarding them.

【0052】続いて、図4のステップS20におけるエ
ラー処理Bを、図6(a),(b) を参照しながら説明する。
図6(a) は、リードピッチのエラー処理Bのフローチャ
ートであり、同図(b) はそのステップS51〜S54の
処理内容を示すフローチャートである。
Next, the error processing B in step S20 of FIG. 4 will be described with reference to FIGS. 6 (a) and 6 (b).
6A is a flowchart of the lead pitch error processing B, and FIG. 6B is a flowchart showing the processing contents of steps S51 to S54.

【0053】同図(a) において、先ず部品23の最初の
一辺(SIDE1)について、初期設定されたスキャン
ポイントSPの設定を行い(ステップS51)、続い
て、同図(b) に示す処置を行う。即ち、先ず、上記のリ
ードピッチエラーがピッチ判定不可能な(未検出リード
が存在してピッチ間隔が異常に広い)ものであるか否か
判別する(ステップS61)。この処理は測定されたリ
ード配列ピッチを部品情報マスターファイルから読み出
した規定のリード配列ピッチと比較する処理である。
In FIG. 10A, first, the scan point SP that has been initialized is set for the first side (SIDE1) of the component 23 (step S51), and then the procedure shown in FIG. To do. That is, first, it is determined whether or not the lead pitch error is one in which pitch determination cannot be performed (undetected leads exist and the pitch interval is abnormally wide) (step S61). This process is a process of comparing the measured lead arrangement pitch with a prescribed lead arrangement pitch read from the component information master file.

【0054】ここで、測定されたリード配列ピッチが異
常に広くなければ(S61、No)、次に、その測定さ
れたリード配列ピッチが規定のリード配列ピッチより異
常に狭いか否か判別する(ステップS62)。この処理
も、リード測定において、レーザセンサ25の出力に、
チャタリングが発生しているか否か判別する処理であ
る。
If the measured lead arrangement pitch is not abnormally wide (S61, No), it is then determined whether or not the measured lead arrangement pitch is abnormally narrower than the prescribed lead arrangement pitch ( Step S62). This process also applies to the output of the laser sensor 25 in the lead measurement.
This is processing for determining whether chattering has occurred.

【0055】そして、チャタリングが発生していなけれ
ば、上記設定したスキャンポイントSPを変更すること
なく処理を終了する。上記ステップS62で、チャタリ
ングが発生していれば、スキャンポイントSPを所定の
距離nだけ外端部GT寄りにずらして設定して(ステッ
プS64)、処理を終了する。
If chattering has not occurred, the processing ends without changing the set scan point SP. If chattering has occurred in step S62, the scan point SP is set by shifting the scan point SP toward the outer end GT by a predetermined distance n (step S64), and the process ends.

【0056】また、上記ステップS61で、測定された
リード配列ピッチが異常に広ければ、同様に上記ステッ
プS64を行って処理を終了する。このように、図6
(a) のステップS61の処理を行い、これと全く同様
に、ステップS62で二番目の辺(SIDE2)につい
て処理をなし、以下、順次ステップS63で三番目の辺
(SIDE3)、ステップS64で四番目の辺(SID
E4)について処理を行う。
If the measured lead arrangement pitch is abnormally wide in step S61, step S64 is similarly performed and the process is terminated. Thus, FIG.
The process of step S61 of (a) is performed, and in exactly the same manner, the process of the second side (SIDE2) is performed in step S62, and thereafter, the third side (SIDE3) is sequentially processed in step S63, and the fourth side is processed in step S64. Th side (SID
E4) is processed.

【0057】続いて、リード配列ピッチにエラーがあっ
たことを示す警告報知を行い(ステップS55)、上記
新たに設定したスキャンポイントSPで再測定を行う
(ステップS56)。これにより、この場合もふたたび
図2のステップM5〜ステップM12、及びこれに対応
して図3のステップS3〜S6が行われる。
Then, a warning indicating that there is an error in the lead arrangement pitch is issued (step S55), and re-measurement is performed at the newly set scan point SP (step S56). As a result, again in this case, steps M5 to M12 of FIG. 2 and steps S3 to S6 of FIG. 3 are performed again.

【0058】このようにして、図4のステップS13で
リードピッチエラーが発生したときは、ステップS17
で測定が正常であることを判別するまで、又はステップ
S18で再測定回数が所定の回数を越えたことを判別す
るまで、ステップS20において、即ち図6(a),(b) の
処理において、前述したリード数エラーの場合と同様
に、図8に示すスキャンポイントSPを、外端部GTか
ら距離L−n、L−2n、L−3nの位置へと順次外側
へ移動させ、また、距離「L−i・n」(i=1、2、
・・・)が0ならば、距離L+n、L+2nと初期設定
時のスキャンポイントSPから順次内側へ移動させて、
再測定を行う。これにより、リード測定位置の疵、錆び
等による測定ミスが回避され、良品部品を不良と誤認し
て廃棄する無駄の発生を防止することができる。
In this way, when a lead pitch error occurs in step S13 of FIG. 4, step S17
Until it is determined in step S18 that the measurement is normal, or until it is determined in step S18 that the number of re-measurements exceeds the predetermined number, in step S20, that is, in the processing of FIGS. As in the case of the read number error described above, the scan point SP shown in FIG. 8 is sequentially moved outward from the outer end GT to the positions of the distances L-n, L-2n, and L-3n, and the distance is changed. “L−i · n” (i = 1, 2,
...) is 0, the distances L + n and L + 2n are sequentially moved to the inner side from the scan point SP at the time of initial setting,
Perform remeasurement. As a result, measurement errors due to flaws in the lead measurement position, rust, etc. can be avoided, and it is possible to prevent waste of misidentifying good parts as defective and discarding them.

【0059】続いて、図4のステップS21におけるリ
ード浮きのエラー処理C、及びステップS22における
リード曲りのエラー処理Dについて、図7(a) を参照し
ながら説明する。エラー処理C、Dは共に同一の手順で
行う。
Next, the lead floating error processing C in step S21 of FIG. 4 and the lead bending error processing D in step S22 will be described with reference to FIG. 7A. The error processes C and D are performed in the same procedure.

【0060】図7(a) において、先ずリード浮きエラー
であればリード浮きエラーであることを表す警告報知、
リード曲りエラーの場合であればリード曲りエラーであ
ることを表す警告報知を行って(ステップS71)、続
いて同じスキャンポイントSPを設定して(ステップS
72)、処理を終了する。
In FIG. 7A, first, if the lead floating error occurs, a warning notification indicating that the lead floating error occurs,
If it is a lead bending error, a warning notification indicating that it is a lead bending error is issued (step S71), and then the same scan point SP is set (step S71).
72), the process ends.

【0061】このように、図4のステップS14又はS
15でリード浮きエラー又はリード曲りエラーが発生し
た場合は、リード検出そのものにはミスがなかったもの
として、スキャンポイントSPを変更することなく、ス
テップS17で測定が正常であることを判別するまで、
又はステップS18で再測定回数が所定の回数を越えた
ことを判別するまで再測定を行い、良品部品を測定ミス
から救済する。
In this way, step S14 or S in FIG.
When the lead floating error or the lead bending error occurs in 15, it is determined that there is no error in the lead detection itself, and the scan point SP is not changed until it is determined in step S17 that the measurement is normal,
Alternatively, re-measurement is performed until it is determined in step S18 that the number of re-measurements has exceeded a predetermined number, and non-defective parts are remedied from a measurement error.

【0062】次に、図4のステップS16におけるその
他のエラー処理Eについて説明する。図7(b) は、その
他のエラー処理Eのフローチャートである。同図に示す
ように、先ず、スキャンポイントSPを、距離nだけ移
動させる(ステップS81)。次に、その他のエラーで
あることを表す警告報知を行ない(ステップS82)、
続いて、上記新たに設定したスキャンポイントSPによ
って、上述同様の再測定を行う。
Next, the other error processing E in step S16 of FIG. 4 will be described. FIG. 7B is a flowchart of other error processing E. As shown in the figure, first, the scan point SP is moved by the distance n (step S81). Next, a warning notification indicating that the error is another error is given (step S82),
Then, the re-measurement similar to the above is performed by the newly set scan point SP.

【0063】このように、その他のエラーが発生したと
きは、測定にミスがあったものと想定して、スキャンポ
イントSPを距離nずつ順次変更し、正常に測定が行な
われるまで又は規定の回数まで再測定を繰り返す。
As described above, when another error occurs, it is assumed that the measurement is wrong, and the scan point SP is sequentially changed by the distance n until the normal measurement is performed or a predetermined number of times. Repeat the measurement until.

【0064】これにより、リード測定位置の疵、錆び等
による測定ミスが回避され、良品部品を不良と誤認して
廃棄する無駄の発生を防止することができる。
As a result, measurement errors due to flaws in the lead measurement position, rust, etc. can be avoided, and it is possible to prevent waste of misidentifying good parts as defective and discarding them.

【0065】[0065]

【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
測定エラーが発生すると、レーザセンサの測定走査位置
を自動的に変更して正常に測定が行なわれるまで又は規
定の回数まで再測定を繰り返すので、リード測定位置の
疵、錆び等による測定ミスが回避され、したがって、良
品部品を不良と誤認して廃棄することによる無駄の発生
を防止することができ、経済効率が向上する。
As described in detail above, according to the present invention,
When a measurement error occurs, the measurement scanning position of the laser sensor is automatically changed and re-measurement is repeated until normal measurement is performed or a specified number of times, so measurement errors due to flaws, rust, etc. at the lead measurement position are avoided. Therefore, it is possible to prevent waste from occurring by misidentifying non-defective parts as defective and discarding them, thereby improving economic efficiency.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】一実施例に係わる部品搭載装置の構成ブロック
図である。
FIG. 1 is a configuration block diagram of a component mounting apparatus according to an embodiment.

【図2】本体制御部のメインCPUにより行われるリー
ド測定処理の動作を示すフローチャートである。
FIG. 2 is a flowchart showing an operation of a lead measurement process performed by a main CPU of a main body control unit.

【図3】レーザI/O制御部により行われるリード測定
処理の動作を示すフローチャートである。
FIG. 3 is a flowchart showing an operation of a lead measurement process performed by a laser I / O control unit.

【図4】図2の結果処理の詳細を示すフローチャートで
ある。
FIG. 4 is a flowchart showing details of result processing of FIG.

【図5】(a) はエラー処理Aの詳細を示すフローチャー
ト、(b) はそのステップS31〜S34の処理内容を示
すフローチャートである。
5A is a flowchart showing details of error processing A, and FIG. 5B is a flowchart showing processing contents of steps S31 to S34.

【図6】(a) はエラー処理Bの詳細を示すフローチャー
ト、(b) はそのステップS51〜S54の処理内容を示
すフローチャートである。
6A is a flowchart showing details of error processing B, and FIG. 6B is a flowchart showing processing contents of steps S51 to S54.

【図7】(a) はエラー処理C又はエラー処理Dの詳細を
示すフローチャート、(b) はエラー処理Eの詳細を示す
フローチャートである。
7A is a flowchart showing details of error processing C or error processing D, and FIG. 7B is a flowchart showing details of error processing E.

【図8】部品のリード測定走査線位置(スキャンポイン
ト)の設定及び変更方法を説明する図である。
FIG. 8 is a diagram illustrating a method of setting and changing a lead measurement scanning line position (scan point) of a component.

【図9】従来のレーザセンサを用いて部品を測定する場
合の状態を示し図である。
FIG. 9 is a diagram showing a state when a component is measured using a conventional laser sensor.

【図10】図9の測定される部品の移動方法の一例を示
す図である。
FIG. 10 is a diagram showing an example of a method of moving the measured component of FIG.

【図11】(a) は従来の部品の測定位置を説明する平面
図、(b) はその側面図である。
11A is a plan view for explaining a measurement position of a conventional component, and FIG. 11B is a side view thereof.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1、21 移載ヘッド 2、22 吸着ノズル 2−1、2−2、2−3、2−4 吸着ノズルの移動位
置 3、23 部品 4、24 リード 4−1、4−2、4−3、4−4、4−5、4−6 リ
ード測定位置 5、25 レーザセンサ 6 照射口 7 受光部 10 本体制御部 11 メインCPU 12 I/F制御部 13 駆動系制御部 14 入出力ポート 15 X軸サーボモータ 15′ サーボモータエンコーダX 16 Y軸サーボモータ 16′ サーボモータエンコーダY 20 レーザ変位計 28 変位計コントローラ 30 レーザI/O制御部 S1、S2、S2、S3 リードの走査部位 GT 部品の外端部 SP 走査線位置 L 初期走査線位置の決定距離
1, 21 Transfer head 2, 22 Suction nozzle 2-1, 2-2, 2-3, 2-4 Moving position of suction nozzle 3, 23 Parts 4, 24 Leads 4-1, 4-2, 4-3 , 4-4, 4-5, 4-6 Lead measurement position 5, 25 Laser sensor 6 Irradiation port 7 Light receiving part 10 Main body control part 11 Main CPU 12 I / F control part 13 Drive system control part 14 Input / output port 15 X Axis Servo Motor 15 'Servo Motor Encoder X 16 Y Axis Servo Motor 16' Servo Motor Encoder Y 20 Laser Displacement Gauge 28 Displacement Gauge Controller 30 Laser I / O Controller S1, S2, S2, S3 Lead Scanning Area GT Outside Parts Edge SP Scan line position L Initial scan line position determination distance

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 レーザセンサを用いて移載ヘッドの吸着
ノズルに吸着された電子部品のリード状態を計測するリ
ード計測装置において、 前記電子部品の所定のリード走査位置を走査して計測す
る計測手段と、 該計測手段による計測が不良であるときの不良内容を判
定する判定手段と、 該判定手段による判定に基づいて前記計測手段の前記リ
ード走査位置を所定の距離だけずらして新たに設定する
設定手段と、 前記計測手段による計測を前記設定手段により新たに設
定されたリード走査位置で行なわせる計測制御手段と、 を有することを特徴とするリード計測装置。
1. A lead measuring device for measuring a lead state of an electronic component sucked by a suction nozzle of a transfer head using a laser sensor, wherein a measuring means for scanning and measuring a predetermined lead scanning position of the electronic component. And a determination means for determining the content of the defect when the measurement by the measurement means is defective, and a setting for newly setting the lead scanning position of the measurement means by shifting a predetermined distance based on the determination by the determination means. A lead measuring apparatus comprising: a measuring unit; and a measuring control unit that causes the measuring unit to perform the measurement at the lead scanning position newly set by the setting unit.
【請求項2】 前記設定手段は、前記電子部品のリード
走査位置を所定の距離だけ走査方向と直角な軸の正方向
にずらして設定することを特徴とする請求項1記載のリ
ード計測装置。
2. The lead measuring apparatus according to claim 1, wherein the setting unit shifts the lead scanning position of the electronic component by a predetermined distance in a positive direction of an axis perpendicular to the scanning direction.
【請求項3】 前記設定手段は、前記電子部品のリード
走査位置を所定の距離だけ走査方向と直角な軸の正方向
とは反対方向にずらして設定することを特徴とする請求
項1記載のリード計測装置。
3. The setting means shifts and sets a lead scanning position of the electronic component by a predetermined distance in a direction opposite to a positive direction of an axis perpendicular to the scanning direction. Lead measuring device.
【請求項4】 前記計測制御手段は、正常な計測結果を
得るまで又は所定の再計測回数を越えるまで前記計測手
段によるリード状態の計測、前記判定手段による不良内
容の判定、及び前記設定手段による新たなリード走査位
置の設定を繰り返し行なわせることを特徴とする請求項
1、2又は3記載のリード計測装置。
4. The measuring control means measures the lead state by the measuring means, determines the content of the defect by the determining means, and sets the measuring means until a normal measurement result is obtained or a predetermined number of times of re-measurement is exceeded. 4. The lead measuring device according to claim 1, wherein the setting of a new lead scanning position is repeated.
JP00544694A 1994-01-21 1994-01-21 Lead measuring device Expired - Fee Related JP3310753B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP00544694A JP3310753B2 (en) 1994-01-21 1994-01-21 Lead measuring device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP00544694A JP3310753B2 (en) 1994-01-21 1994-01-21 Lead measuring device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH07208955A true JPH07208955A (en) 1995-08-11
JP3310753B2 JP3310753B2 (en) 2002-08-05

Family

ID=11611442

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP00544694A Expired - Fee Related JP3310753B2 (en) 1994-01-21 1994-01-21 Lead measuring device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3310753B2 (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002134991A (en) * 2000-10-24 2002-05-10 Juki Corp Method and machine for mounting electronic part
JP2005166850A (en) * 2003-12-02 2005-06-23 Juki Corp Part recognition method and apparatus thereof
JPWO2016056099A1 (en) * 2014-10-09 2017-07-27 富士機械製造株式会社 Determination method and determination apparatus
JP2021018994A (en) * 2019-07-17 2021-02-15 パナソニックIpマネジメント株式会社 Component mounting device and three-dimensional shape determination device, and three-dimensional shape determination method

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6920581B2 (en) * 2017-03-31 2021-08-18 パナソニックIpマネジメント株式会社 Parts mounting method and parts mounting device

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002134991A (en) * 2000-10-24 2002-05-10 Juki Corp Method and machine for mounting electronic part
JP4546635B2 (en) * 2000-10-24 2010-09-15 Juki株式会社 Electronic component mounting method and apparatus
JP2005166850A (en) * 2003-12-02 2005-06-23 Juki Corp Part recognition method and apparatus thereof
JP4551651B2 (en) * 2003-12-02 2010-09-29 Juki株式会社 Component recognition method and apparatus
JPWO2016056099A1 (en) * 2014-10-09 2017-07-27 富士機械製造株式会社 Determination method and determination apparatus
JP2021018994A (en) * 2019-07-17 2021-02-15 パナソニックIpマネジメント株式会社 Component mounting device and three-dimensional shape determination device, and three-dimensional shape determination method

Also Published As

Publication number Publication date
JP3310753B2 (en) 2002-08-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2937785B2 (en) Component state detection device for mounting machine
JP3222334B2 (en) Method and apparatus for adjusting height of recognition nozzle in surface mounter
US6640002B1 (en) Image processing apparatus
JPH0828402B2 (en) System and method for inspection and alignment of semiconductor chips and conductor lead frames
JPH07208955A (en) Lead measuring apparatus
WO2003044507A1 (en) Inspecting method for end faces of brittle-material-made substrate and device therefor
JPH06249629A (en) Method and device for inspecting electronic part
JP3310752B2 (en) Electronic component recognition device
JP2000013097A (en) Part mounting system
JPH08292008A (en) Flat display panel inspection/correction device
JP3294656B2 (en) Electronic component inspection method and device
JP3225067B2 (en) Lead measurement method
JP4039866B2 (en) Component recognition processing method for electronic component mounting apparatus and component recognition processing apparatus
JPH06229730A (en) Lead measuring apparatus
JP3088146B2 (en) Substrate inspection method and substrate used in the method
JPH07249895A (en) Automatic electronic component mounting apparatus and electronic component mounting method
JP2533375B2 (en) Lead and bump position detection method in tape bonding
JPH06229731A (en) Electronic component actual measuring machine
JPH06213634A (en) Lead measurement device
JP2847351B2 (en) Automatic printed wiring board inspection system
JP3967120B2 (en) Recognition processing device for electronic component mounting device
JPH06216599A (en) Lead rise detection
JP4559453B2 (en) Component recognition processing method for electronic component mounting apparatus and component recognition processing apparatus
JP7042179B2 (en) Lead frame inspection device
JPH0569390B2 (en)

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20020430

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080524

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090524

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090524

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100524

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100524

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110524

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110524

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120524

Year of fee payment: 10

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees