JPH08292008A - Flat display panel inspection/correction device - Google Patents

Flat display panel inspection/correction device

Info

Publication number
JPH08292008A
JPH08292008A JP10122895A JP10122895A JPH08292008A JP H08292008 A JPH08292008 A JP H08292008A JP 10122895 A JP10122895 A JP 10122895A JP 10122895 A JP10122895 A JP 10122895A JP H08292008 A JPH08292008 A JP H08292008A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspection
defect
correction
display panel
flat display
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10122895A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshiaki Ninomiya
寿朗 二宮
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP10122895A priority Critical patent/JPH08292008A/en
Publication of JPH08292008A publication Critical patent/JPH08292008A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

PURPOSE: To improve positioning accuracy for specifying a defect position and omit defect confirming function so as to reduce cost and improve throughput by automatically correcting defect of a flat surface display panel conveyed from an inspection device to a correction device based on inspection information data. CONSTITUTION: A panel loading/unloading device 6 is moved by a panel loading/ unloading control device 17, and a liquid crystal 7 is set on an inspection stage 8. Next, the stage 8 is moved by an alignment control device 14 based on a position reference mark picked up by an image pickup device 4 for alignment, so as to position the liquid crystal 7, a panel number is read out by an image pickup device 2 for reading a number, a signal is output to a number recognizing device 12, and the number is recognized. Lighting display of the liquid crystal 7 is performed by control of a lighting circuit control device 15, transmitting light of the whole liquid crystal is taken in an image pickup device 3 for detecting defect such as CCD camera. Output of the image pickup device 3 is taken in an image processing device 13 for detecting defect, and inspection is carried out.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、液晶ディスプレイ、E
Lディスプレイ、プラズマディスプレイ等の平面表示パ
ネルの検査修正装置に関し、特に、検査装置と修正装置
を別々にして、装置間を情報データを伝達する情報伝達
手段と、各装置間で平面表示パネルを搬送する手段で結
ぶことにより自動的に欠陥修正を行う平面表示パネルの
検査修正装置に関する。
The present invention relates to a liquid crystal display, E
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an inspection / correction device for a flat display panel such as an L display, a plasma display, etc., and in particular, an inspection device and a correction device are separately provided, and information transmission means for transmitting information data between the devices and a flat display panel between the devices The present invention relates to a flat display panel inspection / correction device that automatically corrects defects by connecting with a means.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の平面表示パネルの検査装置には、
目視によるものと、自動によるものとがあり、修正装置
には、手動によるものと、自動によるものとがある。ま
た、検査と修正を組み合わせた検査修正装置には、目視
もしくは自動による検査部分と、手動もしくは自動によ
る修正部分とが、別々になった装置と一体となった装置
がある。
2. Description of the Related Art Conventional inspection devices for flat display panels include
There are visual inspection and automatic inspection, and correction devices include manual inspection and automatic inspection. In addition, as an inspection / correction device that combines inspection and correction, there is a device in which a visual or automatic inspection part and a manual or automatic correction part are integrated with each other.

【0003】目視で検査を行う場合、パターンの異なる
数種類のパネル駆動信号により被検査平面表示パネルを
点灯表示させながら、人間が目視により欠陥検査を行
う。
When visually inspecting, a human visually inspects a defect while the flat display panel to be inspected is lit and displayed by several kinds of panel drive signals having different patterns.

【0004】手動で修正を行う場合、検査情報データに
基づいて人間が欠陥の種類、修正方法、レーザ光の照射
位置を確認しながら、レーザ光による異物粉砕、配線パ
ターン切断、配線パターンの接続等の修正を行う。
In the case of manual repair, while confirming the type of the defect, the repair method, and the irradiation position of the laser light based on the inspection information data, a person crushes the foreign matter by the laser light, cuts the wiring pattern, connects the wiring pattern, etc. Make corrections.

【0005】しかし、前述の目視により検査を行う方式
では、検査に時間がかかり、必ず人間がついて作業を行
わなくてはならないため、人件費が必要となり、その結
果自動で検査を行う場合に比べて、製品のコストが高く
なるという問題が生じる。また、パネル点灯検査に関し
て人間は定量化が難しいため個人差により製品レベルに
ばらつきが発生する可能性が高い。手動で修正する場合
も同様の問題点があり、人間がつく必要があるため、自
動で修正する場合に比べ、人件費が必要な分、製品コス
トが高くなり、個人差により製品レベルにばらつきが発
生する可能性が高い。そこで、生産ラインにおいては、
自動の検査修正装置が用いられるのが一般的である。
However, in the above-mentioned method of visually inspecting, the inspection is time-consuming, and human beings must always perform the work. Therefore, labor costs are required, and as a result, the inspection is automatically performed. As a result, the cost of the product becomes high. In addition, since it is difficult for human beings to quantify the panel lighting inspection, there is a high possibility that the product level will vary due to individual differences. There is a similar problem when manually correcting, and because it is necessary for human beings to fix it, the labor cost is higher than that when it is automatically corrected, the product cost is higher, and the product level varies due to individual differences. It is likely to occur. So, in the production line,
Automatic inspection and correction devices are commonly used.

【0006】自動で検査を行う場合、パターンの異なる
数種類のパネル駆動信号により被検査平面表示パネルを
点灯表示させながら、CCDカメラ等の撮像装置により
パネル全体もしくは一部の画像を取り込む。もしくは、
レーザ光などのスポット光を被検査平面表示パネルの絵
素ひとつひとつに順次走査し、反射、散乱光をCCDカ
メラ等の撮像装置により取り込み、それらの画像データ
を微分、二値化、平滑化等の画像処理することにより、
欠陥の検出を行う。また画像処理だけでは検出できない
欠陥に関しては、被検査表示パネルの複数の信号入力端
子間の抵抗値測定等により、配線パターンの電気的特性
を調べる方法を併用して欠陥の検出を行う。
In the case of automatic inspection, while the flat display panel to be inspected is lit and displayed by several kinds of panel drive signals having different patterns, an image of the entire panel or a part of the panel is captured by an image pickup device such as a CCD camera. Or
Spot light such as laser light is sequentially scanned to each picture element of the inspected flat display panel, reflected and scattered light is captured by an image pickup device such as a CCD camera, and image data thereof is differentiated, binarized, smoothed, etc. By image processing,
Detect defects. Further, regarding a defect that cannot be detected only by image processing, the defect is detected by using a method of examining the electrical characteristics of the wiring pattern by measuring the resistance value between a plurality of signal input terminals of the display panel to be inspected.

【0007】検査が終了すると、あらかじめ決められた
検査基準と比較して修正が必要な欠陥かどうかの判別を
行い、欠陥の種類、欠陥の位置、修正方法、修正すべき
位置等を検査情報データとして出力する。欠陥の座標に
関しては、撮像装置により取り込んだ画像データにより
求めたり、欠陥確認カメラを設けて、欠陥確認カメラを
欠陥位置まで移動、もしくはパネルをセットしたXYス
テージを移動させて、欠陥位置を欠陥確認カメラの位置
に合わせることにより、その移動量から求める等の方法
がある。パネル上の欠陥座標を求められると、パネルの
絵素サイズ、絵素ピッチ等の仕様より欠陥絵素の特定を
行うことが可能となる。
When the inspection is completed, it is determined whether or not the defect needs to be repaired by comparing it with a predetermined inspection standard, and the type of defect, the position of the defect, the repair method, the position to be repaired, etc. Output as. The coordinates of the defect can be obtained from the image data captured by the image pickup device, or a defect confirmation camera can be provided to move the defect confirmation camera to the defect position or move the XY stage with the panel set to confirm the defect position. There is a method such as finding from the amount of movement by matching the position of the camera. When the defect coordinates on the panel are obtained, it is possible to specify the defective pixel based on the specifications such as the pixel size and the pixel pitch of the panel.

【0008】検査装置と修正装置が別々の場合は、欠陥
のあったパネルを修正装置に搬送し、検査装置により出
力された検査情報データを修正装置に送り、その情報に
基づいて修正を行う。修正装置側で欠陥位置を再現しよ
うとして、パネルのセットされた修正ステージを移動さ
せた場合、欠陥位置に誤差のある可能性が高い。なぜな
ら、例えばモータとボールねじとの組み合わせでステー
ジを移動させた場合、ボールねじのリード誤差の影響を
受けるし、モータとベルト、プーリの組み合わせでステ
ージを移動させた場合、ベルトの滑り、伸びの影響を受
け、誤差が発生する。そのため、欠陥のあると予想され
る位置周辺をもう一度点灯表示させて、位置を確認した
後、修正を行う。同じ装置内に検査機能と修正機能があ
る場合は、検査直後に検査情報データに基づいて修正を
行う。
When the inspection device and the repair device are separate, the defective panel is conveyed to the repair device, the inspection information data output by the inspection device is sent to the repair device, and the repair is performed based on the information. When the repair stage on which the panel is set is moved to reproduce the defect position on the repair device side, there is a high possibility that the defect position has an error. This is because, for example, when the stage is moved by the combination of the motor and the ball screw, it is affected by the lead error of the ball screw, and when the stage is moved by the combination of the motor, the belt and the pulley, the slippage and elongation of the belt Affected and error occurs. Therefore, the area around the position where the defect is expected to be displayed is lit again to confirm the position, and then the correction is performed. When the inspection function and the correction function are provided in the same device, the correction is performed based on the inspection information data immediately after the inspection.

【0009】自動で修正を行う場合、検査情報データに
より得られる修正方法等より、レーザ光などによる異物
粉砕、配線パターン切断、配線パターンの接続等の修正
を行う。レーザ光を照射する場合の位置は、パネルの特
徴となる配線パターンを利用したパターン認識等によ
り、正確な位置が得られる。
In the case of automatic correction, a correction method obtained from inspection information data is used to correct foreign matter crushed by laser light, cutting wiring patterns, connecting wiring patterns, and the like. The position when the laser light is emitted can be obtained accurately by pattern recognition or the like using a wiring pattern that is a feature of the panel.

【0010】また、特開平2−266357号に示され
るように検査機能がそのまま修正機能になる方式もあ
る。具体的には、被検査表示パネルへレーザ光などの検
査光を走査し、その反射光が被検査表示パネル中の異物
により変化した場合、検査光を増幅することにより、異
物を焼き払って欠陥を修正する方式である。その他、特
開平2−266357号には、被検査表示パネルへレー
ザ光などの検査光を走査し、その反射光が被検査表示パ
ネル中の異物により変化した場合、 (1)検査光の光源の一部を取り出し、装置内で位相共
役により増幅して修正光とし、別の方向から異物に照射
して焼き払って修正する方式 (2)検査光と修正光に波長の違うレーザ光を使用し、
検査光と修正光の光軸が同じでもフィタルにより検査光
の反射光のみを取り出すことができ、修正中でも検査が
可能になる方式 (3)修正光を検査光より遅らせて位置をずらせて照射
し、修正中でも検査が可能になる方式等が示されてい
る。
There is also a system in which the inspection function directly serves as a correction function as shown in Japanese Patent Laid-Open No. 2-266357. Specifically, when scanning the inspection display panel with inspection light such as laser light and the reflected light changes due to foreign matter in the inspection display panel, by amplifying the inspection light, the foreign matter is burned to remove defects. It is a method of correction. In addition, in Japanese Patent Laid-Open No. 2-266357, when the inspection light such as laser light is scanned on the display panel to be inspected and the reflected light is changed by a foreign substance in the display panel to be inspected, (1) A part is taken out and amplified by phase conjugation in the device to be a correction light, and the foreign matter is irradiated from another direction and burned to be corrected. (2) Laser light with different wavelength is used for inspection light and correction light,
Even if the optical axes of the inspection light and the correction light are the same, only the reflected light of the inspection light can be taken out by the fetal, and the inspection can be performed even during the correction. (3) Irradiating the correction light later than the inspection light by shifting the position. , A method that enables inspection even during modification is shown.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】[Problems to be Solved by the Invention]

(1)自動検査装置と自動修正装置が別々の場合の問題
点 上述の自動で検査修正を行う方式では、検査装置と修正
装置が別々の場合、検査装置が検出した欠陥の位置を修
正装置側で再現しようとすると、欠陥位置に誤差がある
可能性がある。そのため、欠陥のあると予想される位置
周辺をもう一度点灯表示して位置を確認する必要があ
り、修正装置側に欠陥確認用の点灯表示機能と検出機能
が必要になる。従って、 点灯表示させるためには、駆動信号の発生、切り換え
のための点灯回路、そして駆動信号を入力するためのプ
ローバが必要になり、コストが高くなる。 パネルの駆動信号入力端子とプローバのコンタクトミ
スにより、欠陥が無いのに誤検出を行って誤った修正を
行う可能性が増える。 コンタクトミスを減らすための頻繁なクリーニング、
メンテナンスが必要となりスループットが低下する。等
の問題が生じる。
(1) Problems when the automatic inspection device and the automatic correction device are separate In the above-described method of automatically performing inspection correction, when the inspection device and the correction device are separate, the position of the defect detected by the inspection device is determined by the correction device side. There is a possibility that there is an error in the defect position when trying to reproduce. Therefore, it is necessary to illuminate and display the area around the position where the defect is expected to be present again to confirm the position, and the repairing device side needs a lit display function and a detection function for defect confirmation. Therefore, a lighting circuit for generating and switching the drive signal and a prober for inputting the drive signal are required to perform the lighting display, which increases the cost. Due to the contact error between the drive signal input terminal of the panel and the prober, there is an increased possibility that an erroneous detection is performed and an erroneous correction is performed even if there is no defect. Frequent cleaning to reduce contact mistakes,
Maintenance is required and throughput decreases. Problems such as occur.

【0012】また、検出機能をつける場合、 検査装置と同じレベルの欠陥検出機能を持つ画像処理
装置を備えると、装置全体のコストの内で画像処理装置
の占める割合は大きいので、コストが高くなる。 修正装置だけで検査装置の機能のかなりの部分を含め
てしまい、検査装置と修正装置を別々にした意味がなく
なる。という問題が生じる。コストを低くするため、修
正装置側に性能を落とした欠陥検出用画像処理装置を使
用すると、検査装置で発見した欠陥で低輝点などのよう
な検出しづらい欠陥を、修正装置で確認できなくなる可
能性がある。
Further, in the case of providing a detection function, if an image processing apparatus having a defect detection function at the same level as that of the inspection apparatus is provided, the cost increases because the image processing apparatus occupies a large proportion of the total cost of the apparatus. . Since the correction device alone includes a large part of the function of the inspection device, it is meaningless to separate the inspection device and the correction device. The problem arises. If an image processing device for defect detection with reduced performance is used on the repair device side in order to reduce costs, defects that are difficult to detect such as low bright spots due to defects found by the inspection device cannot be confirmed by the repair device. there is a possibility.

【0013】(2)自動検査装置と自動修正装置が同一
の場合の問題点 同じ装置内で検査機能と修正機能がある場合、装置の構
造が複雑になる。また修正を行っている間検査作業が止
まってしまうため、同一装置コストに対する検査修正量
が低下する。高速な欠陥検出システムを搭載しても修正
の度に検査が中断されるため、全体として高速な検査修
正ができない。
(2) Problems when the automatic inspection device and the automatic correction device are the same When the inspection function and the correction function are provided in the same device, the structure of the device becomes complicated. Further, since the inspection work is stopped during the correction, the inspection correction amount for the same apparatus cost is reduced. Even if a high-speed defect detection system is installed, the inspection is interrupted each time it is repaired, so high-speed inspection and repair cannot be performed as a whole.

【0014】特願平2−266357号に示される方式
では、検査と修正が同時に行われるのだが、検査の段階
で絵素ひとつひとつを走査していくため検査時間がかな
りかかる。さらにこの方式では検査のみをしている間、
修正機能は使われてなく、修正が必要なパネルの比率が
少なくなると、検査装置と修正装置が別々ならば台数比
により調節できるが、この方式では装置の稼働率が悪く
なり、その結果、パネルの生産コストの上昇を招く。
In the method disclosed in Japanese Patent Application No. 2-266357, the inspection and the correction are carried out at the same time. However, since each picture element is scanned at the inspection stage, the inspection time is considerably long. Furthermore, in this method, while only inspecting,
If the ratio of panels that need to be corrected is reduced because the correction function is not used, it can be adjusted by the ratio of the number of units if the inspection device and the correction device are separate, but this method reduces the operating rate of the device, and as a result, the panel Result in higher production costs.

【0015】また、特願平2−266357号には、こ
の方式で異物による欠陥だけでなく配線パターンのショ
ート欠陥でも修正可能であると記述してあるが、レーザ
光等の検査光を走査してその反射光、散乱光を受光して
光量を調べるだけでは、配線パターンショートの種類、
TFT駆動方式の液晶パネルの例で挙げるなら、ソース
バスラインとゲートバスラインのショートなのかソース
バスライン同士のショートなのかゲートバスライン同士
のショートなのか等を判別して、どこにレーザ光を照射
すればよいかというような正確な修正情報を得るのは困
難である。また異物による欠陥と配線パターンショート
による欠陥を判別して、欠陥の種類に応じた修正を行う
のも困難である。その結果、正しい修正情報を入力して
修正を行った場合に比べ、修正成功率が低くなり、修正
歩留まりが低下するためパネルの生産コストの上昇を招
く。
Further, Japanese Patent Application No. 2-266357 describes that this method can correct not only defects due to foreign matter but also short-circuit defects in the wiring pattern, but scanning with inspection light such as laser light is performed. Just by receiving the reflected light and scattered light and checking the amount of light,
As an example of a TFT drive type liquid crystal panel, it is determined whether the source bus line and the gate bus line are short-circuited, the source bus lines are short-circuited or the gate bus lines are short-circuited, and where the laser light is irradiated. It is difficult to obtain accurate correction information such as what to do. Further, it is difficult to discriminate between a defect caused by a foreign substance and a defect caused by a wiring pattern short-circuit, and perform a correction according to the type of the defect. As a result, the repair success rate is lower and the repair yield is lower than that in the case where the correct repair information is input and the repair is performed, resulting in an increase in the panel production cost.

【0016】本発明の目的は、修正装置において欠陥位
置を特定する位置決め精度を向上させて、欠陥確認機能
を省略することで低コストとスループット向上を実現す
る平面表示パネル検査修正装置を提供することにある。
It is an object of the present invention to provide a flat display panel inspection / correction device which improves the positioning accuracy for specifying the defect position in the correction device and omits the defect confirmation function to realize low cost and improved throughput. It is in.

【0017】[0017]

【課題を解決するための手段】本発明は、平面表示パネ
ルの欠陥を検査する検査装置と、該欠陥の修正機構を有
する修正装置と、各装置間で検査情報データもしくは修
正情報データを伝達する情報伝達手段と、各装置間で平
面表示パネルを搬送する搬送手段とを備え、前記搬送手
段によって検査装置から修正装置に搬送された平面表示
パネルの欠陥を、自動的に前記検査情報データに基づい
て修正する平面表示パネル検査修正装置を前提とする。
そして、本発明の特徴は、前記修正装置が、前記平面表
示パネルあるいは修正機構を移動させる駆動手段と、前
記平面表示パネルあるいは修正機構の位置を検出する位
置検出手段と、該位置検出手段の出力信号によって駆動
手段を制御する制御手段と、からなり、修正時に欠陥確
認することなく欠陥位置を再現可能であることを特徴と
する点である。
According to the present invention, an inspection device for inspecting a defect of a flat display panel, a repair device having a defect repair mechanism, and inspection information data or repair information data is transmitted between the devices. An information transmitting means and a conveying means for conveying the flat display panel between the respective devices, and a defect of the flat display panel conveyed from the inspection device to the correction device by the conveying means is automatically based on the inspection information data. It is premised on a flat display panel inspection / correction device that corrects by
A feature of the present invention is that the correction device drives the flat display panel or the correction mechanism, a position detection unit that detects a position of the flat display panel or the correction mechanism, and an output of the position detection unit. It is characterized in that it comprises a control means for controlling the driving means by a signal, and the defect position can be reproduced without checking the defect at the time of repair.

【0018】位置検出手段は、分解能が平面パネルの絵
素幅より小さいものでよい。
The position detecting means may have a resolution smaller than the picture element width of the flat panel.

【0019】また、位置検出手段は、平面パネルの光量
を検出する光センサを備え、該光センサにより平面パネ
ルの絵素移動による光量変化をパルス化し、該パルスを
カウントして、絵素位置を検出する手段でもよい。
Further, the position detecting means is provided with an optical sensor for detecting the light quantity of the flat panel, and the light sensor changes the light quantity due to the movement of the picture element of the flat panel into pulses, and the pulses are counted to determine the picture element position. It may be a means for detecting.

【0020】他の本発明は、前記修正装置が、平面表示
パネルあるいは修正機構を移動させる駆動手段と、該駆
動手段の駆動量と平面表示パネルあるいは修正機構の移
動量の相関に基づいて所定の位置に移動できるように前
記駆動手段を制御する制御手段と、からなり、修正時に
欠陥確認することなく欠陥位置を再現可能であることを
特徴とする。
According to another aspect of the present invention, the correction device sets a predetermined value based on a drive means for moving the flat display panel or the correction mechanism, and a correlation between a drive amount of the drive means and a movement amount of the flat display panel or the correction mechanism. And a control unit that controls the driving unit so that the defect position can be moved to a position, and the defect position can be reproduced without checking the defect at the time of correction.

【0021】[0021]

【作用】本発明において、制御手段が位置検出手段の出
力信号によって駆動手段を制御する。つまり、常に位置
検出手段によって移動量が制御手段にフィードバックさ
れており、制御手段が駆動手段を駆動系の誤差の影響を
受けないように制御する。従って、検査装置からの検査
情報データに基づいて、平面表示パネルの欠陥位置の再
現を正確に行うことができ、修正装置に欠陥確認機能を
備える必要がなくなる。
In the present invention, the control means controls the driving means by the output signal of the position detecting means. That is, the movement amount is always fed back to the control means by the position detection means, and the control means controls the drive means so as not to be influenced by the error of the drive system. Therefore, the defect position of the flat display panel can be accurately reproduced based on the inspection information data from the inspection device, and the repair device does not need to have the defect confirmation function.

【0022】ここで、位置検出手段の分解能が、平面表
示パネルの絵素幅より小さいと、再現した欠陥座標位置
は欠陥絵素内に収まり、確実に欠陥位置を特定できる。
Here, if the resolution of the position detecting means is smaller than the picture element width of the flat display panel, the reproduced defect coordinate position falls within the defect picture element, and the defect position can be surely specified.

【0023】また、平面表示パネルの絵素にあらかじめ
番号を割り振って番地を設定し、検査装置において検出
した絵素欠陥を絵素番号で修正装置に情報として伝達す
るものがある。この場合には、修正装置の位置検出手段
は、光センサによって絵素を検出するものを用いるのが
有効である。すなわち、光センサの光量変化をパルス化
し、該パルスをカウントして、検査情報データの欠陥絵
素の番号から欠陥位置を検出できる。
There is also one in which numbers are assigned in advance to the picture elements on the flat display panel to set the addresses, and the picture element defects detected by the inspection apparatus are transmitted as information to the correction apparatus by the picture element numbers. In this case, it is effective to use, as the position detection means of the correction device, one that detects a picture element by an optical sensor. That is, the change in the light amount of the optical sensor is pulsed, the pulse is counted, and the defect position can be detected from the number of the defective picture element of the inspection information data.

【0024】他の発明においては、あらかじめ駆動手段
の駆動量と平面表示パネルあるいは修正機構の移動量の
相関について、測定を行っておく。駆動量とは、駆動手
段に動作させる量であり、この量によって駆動手段の動
作量が変動する。例えば、駆動手段がモータとして、該
モータを動かすパルス量が駆動量である。駆動量と実際
の移動量の相関が分かっていれば、駆動系に誤差があっ
ても、制御手段により、誤差を補正して駆動手段を制御
する。検査装置からの検査情報データに基づいて、平面
表示パネルの欠陥位置の再現を正確に行うことができ、
修正装置に欠陥確認機能を備える必要がなくなるし、位
置検出手段を備える必要もない。
In another invention, the correlation between the driving amount of the driving means and the moving amount of the flat display panel or the correction mechanism is measured in advance. The drive amount is the amount that the drive unit is operated, and the operation amount of the drive unit varies depending on this amount. For example, the drive means is a motor, and the pulse amount for moving the motor is the drive amount. If the correlation between the drive amount and the actual movement amount is known, even if there is an error in the drive system, the control unit corrects the error and controls the drive unit. Based on the inspection information data from the inspection device, it is possible to accurately reproduce the defect position of the flat display panel,
The repair device does not need to have a defect confirmation function, nor does it need to have a position detection means.

【0025】[0025]

【実施例】以下、本発明の実施例について、液晶パネル
を例にあげて説明する。図1は、本発明に係る平面表示
パネルの検査修正装置の第1の実施例を示す概略構成図
である。この検査修正装置は、検査装置1と、装置間パ
ネル搬送系20の装置間パネル搬送装置21と、ネット
ワーク22のデータ通信処理装置23と修正装置24か
ら構成される。
EXAMPLES Examples of the present invention will be described below by taking a liquid crystal panel as an example. FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing a first embodiment of a flat panel display inspection and correction apparatus according to the present invention. This inspection / correction device comprises an inspection device 1, an inter-device panel transfer device 21 of an inter-device panel transfer system 20, a data communication processing device 23 of a network 22, and a correction device 24.

【0026】検査装置1は、番号読取撮像装置2と、欠
陥検出用撮像装置3と、アライメント用撮像装置4と、
パネル収納カセット5とパネルロード・アンロード装置
6と、被検査パネルである液晶パネル7と、アライメン
トステージ8と、検査ステージ9と、バックライト10
と、プローバ11と、番号認識装置12と、欠陥検出用
画像処理装置13と、アライメント制御装置14と、点
灯回路制御装置15と、欠陥検出用抵抗測定装置16
と、パネルロード・アンロード制御装置17と、通信ユ
ニット18と、これら装置12〜18を制御する全体制
御装置19とを備える。
The inspection device 1 includes a number reading image pickup device 2, a defect detection image pickup device 3, an alignment image pickup device 4, and an image pickup device 4.
The panel storage cassette 5, the panel loading / unloading device 6, the liquid crystal panel 7 as the panel to be inspected, the alignment stage 8, the inspection stage 9, and the backlight 10.
, Prober 11, number recognition device 12, defect detection image processing device 13, alignment control device 14, lighting circuit control device 15, and defect detection resistance measuring device 16
A panel load / unload control device 17, a communication unit 18, and an overall control device 19 for controlling these devices 12-18.

【0027】修正装置24は、番号読取撮像装置25
と、パターン認識用撮像装置26と、レーザ照射装置2
7と、アライメント用撮像装置28と、パネル収容カセ
ット29と、パネルロード・アンロード装置30と、被
修正パネルである液晶パネル31と、アライメントステ
ージ32と、修正ステージ33と、バックライト34
と、モータ35と、リニアスケール36と、通信ユニッ
ト37と、番号認識装置38と、パターン認識ユニット
39と、レーザ制御装置40と、アライメント制御装置
41と、リニアスケールカウンタ42と、モータ制御装
置43と、パネルロード・アンロード制御装置44と、
これら装置37〜44を制御する全体制御装置45とを
備える。
The correction device 24 is a number reading / imaging device 25.
And the pattern recognition imaging device 26 and the laser irradiation device 2
7, an alignment imaging device 28, a panel housing cassette 29, a panel loading / unloading device 30, a liquid crystal panel 31, which is a panel to be repaired, an alignment stage 32, a repairing stage 33, and a backlight 34.
, Motor 35, linear scale 36, communication unit 37, number recognition device 38, pattern recognition unit 39, laser control device 40, alignment control device 41, linear scale counter 42, and motor control device 43. And a panel load / unload controller 44,
An overall control device 45 for controlling these devices 37 to 44 is provided.

【0028】あらかじめ液晶パネル7,31には位置合
わせ基準用のマーク、パネル識別用の番号をつけてお
く。検査装置1により液晶パネル7の検査を行い、欠陥
の検出、検出された欠陥の種類、平面パネル上の欠陥の
位置を求める。欠陥の位置はパネル上に基準点、X軸、
Y軸等を設定し、絵素の中心、もしくは絵素のコーナ、
TFT部等の特徴ある部分をXY座標で表現したり、パ
ネルの絵素に番号を割り振って番地を設定し、絵素単位
の番地で表現したりする等の方法がある。
The liquid crystal panels 7 and 31 are preliminarily provided with alignment reference marks and panel identification numbers. The liquid crystal panel 7 is inspected by the inspection device 1 to detect a defect, the type of the detected defect, and the position of the defect on the flat panel. The position of the defect is located on the panel with the reference point, the X axis,
Set the Y-axis, etc., the center of the picture element, or the corner of the picture element,
There are methods such as expressing a characteristic portion such as a TFT portion in XY coordinates, or assigning numbers to the picture elements on the panel to set addresses and expressing them in picture element units.

【0029】従来の技術で記載したように、欠陥の座標
に関しては、撮像装置により取り込んだ画像データによ
り求める方法や、欠陥確認カメラ又はパネルをセットし
たテーブルのいずれかを可動とし、欠陥位置まで移動し
て欠陥位置を欠陥確認カメラの位置に合わせることによ
り、その移動量から求める方法等がある。パネル上の欠
陥数は多数存在する場合も予想され、その場合は画像デ
ータにより一括して座標位置を求めるのがスループット
向上に有効であると考えられる。また、いずれの場合で
も欠陥検出用の撮像装置と画像処理装置は必要である。
そのためタクトタイム短縮とコスト抑制の面から、本実
施例においては欠陥検出用撮像装置3により取り込んだ
画像データにより欠陥の位置を求め、液晶パネル7のセ
ットされる検査ステージ9は駆動部、移動量測定部の必
要の無い固定式とし、欠陥位置座標はゲートバスライン
方向をX軸、ソースバスライン方向をY軸、原点をパネ
ルの左下と設定した絵素の中心のXY座標を用いるとし
て記述を行う。
As described in the prior art, the coordinates of the defect are obtained by the image data captured by the image pickup device, or either the defect confirmation camera or the table on which the panel is set is movable and moved to the defect position. Then, the defect position is adjusted to the position of the defect confirmation camera to obtain the movement amount. It is expected that the number of defects on the panel will be large, and in that case, it is considered effective to improve the throughput by collectively determining the coordinate position from the image data. In any case, an image pickup device and an image processing device for detecting defects are necessary.
Therefore, from the viewpoint of reducing the tact time and suppressing the cost, in the present embodiment, the position of the defect is obtained from the image data captured by the defect detecting image pickup device 3, and the inspection stage 9 on which the liquid crystal panel 7 is set is driven by the drive unit and the movement amount. The description is based on a fixed type that does not require a measurement unit, and the defect position coordinates use the XY coordinates of the center of the picture element with the gate bus line direction set to the X axis, the source bus line direction set to the Y axis, and the origin set to the lower left of the panel. To do.

【0030】第1実施例の検査修正装置の動作について
説明する。パネルロード・アンロード制御装置17によ
ってパネルロード・アンロード装置6を動かし、液晶パ
ネル7を検査ステージ9上に設置されているアライメン
トステージ8にセットする。アライメント用撮像装置4
で撮像した位置基準用マークをもとに、アライメント制
御装置14によりアライメントステージ8を回転もしく
は移動させることにより液晶パネル7の位置合わせを行
う。液晶パネルどうしを区別するためのパネル番号を番
号読取用撮像装置2で読み取り、信号を番号認識装置1
2に出力し、番号を認識する。細い針金等を用いて並べ
ることにより電極としたプローバ11をパネル信号入力
端子に接触させて、プローバ11からパターンの異なる
数種類のパネル点灯駆動信号を入力して液晶パネル7の
点灯表示を行う。この点灯駆動信号は点灯回路制御装置
15によりコントロールされる。その間ずっとバックラ
イト10からの光を被検査液晶パネル7に照射してお
き、液晶パネル7全面の透過光をCCDカメラ等の欠陥
検出用撮像装置3にて取り込む。欠陥検出用撮像装置3
は被検査液晶パネル7の大きさと欠陥検出用撮像装置3
の分解能等の性能に応じて、使用台数を決定するものと
する。欠陥検出用撮像装置3からの出力を欠陥検出用画
像処理装置13に取り込み、画像データを微分、二値
化、平滑化等の処理を行い、検査を行う。さらに必要で
あればプローバ11を液晶パネル7に接触させたときに
欠陥検出用抵抗測定装置16により配線パターンの抵抗
という電気的特性を調べ、ソースバスライン、ゲートバ
スライン等の配線パターンショートの欠陥の検査を行
う。
The operation of the inspection correction device of the first embodiment will be described. The panel loading / unloading device 6 is moved by the panel loading / unloading control device 17, and the liquid crystal panel 7 is set on the alignment stage 8 installed on the inspection stage 9. Alignment imaging device 4
The liquid crystal panel 7 is aligned by rotating or moving the alignment stage 8 by the alignment control device 14 based on the position reference mark imaged in (1). The panel number for distinguishing between the liquid crystal panels is read by the number reading image pickup device 2, and the signal is read by the number recognition device 1.
Output to 2 and recognize the number. The prober 11 serving as an electrode is arranged in contact with a panel signal input terminal by arranging with a thin wire or the like, and several kinds of panel lighting drive signals having different patterns are input from the prober 11 to perform lighting display of the liquid crystal panel 7. This lighting drive signal is controlled by the lighting circuit controller 15. Light from the backlight 10 is radiated to the liquid crystal panel 7 to be inspected all the time, and the transmitted light from the entire surface of the liquid crystal panel 7 is captured by the defect detecting image pickup device 3 such as a CCD camera. Defect detection imaging device 3
Is the size of the liquid crystal panel 7 to be inspected and the defect detection image pickup device 3
The number of units used shall be determined according to the performance such as the resolution of the. The output from the defect detection image pickup device 3 is fetched into the defect detection image processing device 13, and the image data is subjected to processing such as differentiation, binarization and smoothing, and inspection is performed. Further, if necessary, when the prober 11 is brought into contact with the liquid crystal panel 7, the resistance measuring device 16 for defect detection checks the electrical characteristics such as the resistance of the wiring pattern, and the defect of the wiring pattern short circuit of the source bus line, the gate bus line, etc. Conduct an inspection.

【0031】検査終了後、欠陥が検出されれば、あらか
じめ決められている基準より、修正が必要な欠陥かどう
かの判別を行い、パネル番号、欠陥の種類、平面パネル
上の欠陥の位置、修正方法、修正すべき位置等を検査情
報データにする。パネルのワークサイズ、絵素サイズ、
絵素ピッチ、バスライン等の配線パターン幅等は、設計
仕様により既知であるため、欠陥の座標位置が求まる
と、欠陥絵素の特定が可能となる。すなわち座標位置計
測にごく微小な誤差があった場合でも、求めた座標位置
がその絵素内、例えば6.4インチVGA仕様の液晶パ
ネルの場合、絵素サイズ縦約200μm×横約67μm
程度の内側に入っていれば欠陥絵素の特定が可能とな
る。その欠陥絵素の中心の座標は仕様より既知であるた
め、その座標を欠陥位置の座標とすれば正確なものとな
り、位置計測の誤差は補正されてパネル検査、修正に全
く影響しなくなる。
After the inspection is completed, if a defect is detected, it is determined whether or not the defect needs to be repaired based on a predetermined standard, and the panel number, the type of the defect, the position of the defect on the flat panel, and the repair are performed. The method, the position to be corrected, etc. are used as inspection information data. Panel work size, pixel size,
Since the picture element pitch, the wiring pattern width of the bus line, etc. are known from the design specifications, the defect picture element can be specified once the coordinate position of the defect is obtained. That is, even if there is a very small error in the coordinate position measurement, the calculated coordinate position is within the picture element, for example, in the case of a 6.4-inch VGA specification liquid crystal panel, the picture element size is about 200 μm in length × about 67 μm in width.
If it is within the range, the defective pixel can be identified. Since the coordinates of the center of the defect picture element are known from the specifications, if the coordinates are taken as the coordinates of the defect position, they will be accurate, and the position measurement error will be corrected and will not affect the panel inspection and correction at all.

【0032】検査後、液晶パネル7を修正必要なし、修
正必要、修正しても製品としての基準を満たすことがで
きないに分類して、異なるパネル収納カセット5へ収納
する。修正が必要なパネルは、装置間パネル搬送系20
の装置間パネル搬送装置21により修正装置25に搬送
する。同時に、検査情報データを、ネットワーク22の
データ通信処理装置23を介して、検査装置1の通信ユ
ニット18から修正装置24の通信ユニット37に転送
する。
After the inspection, the liquid crystal panels 7 are classified into those which do not need to be modified, those which need to be modified, and those which cannot meet the standard as a product even if modified, and are stored in different panel storage cassettes 5. The panel that needs correction is the inter-apparatus panel transfer system 20.
The inter-apparatus panel transfer device 21 of FIG. At the same time, the inspection information data is transferred from the communication unit 18 of the inspection device 1 to the communication unit 37 of the correction device 24 via the data communication processing device 23 of the network 22.

【0033】次に、修正装置24により液晶パネル31
の欠陥修正を行う。搬送されてきた液晶パネル31を、
パネルロード・アンロード制御装置44により、パネル
ロード・アンロード装置30にて修正ステージ33上に
設置されているアライメントステージ32にセットす
る。検査装置で行ったのと同じように、アライメント用
撮像装置28で撮像した位置基準用マークをもとに、ア
ライメント制御装置41によりアライメントステージ3
2を回転もしくは移動させることにより液晶パネル31
の位置合わせを行う。パネルどうしを区別するためのパ
ネル番号を番号読取用撮像装置25で読み取り、信号を
番号認識装置38に出力し、番号を認識する。パネル認
識後、セットされている液晶パネル31の欠陥の種類、
欠陥位置、修正すべき位置、修正方法等をネットワーク
22により送られてきた検査情報データにより取り出
し、リニアスケール36の読み取り信号をリニアスケー
ルカウンタ42に送出して正確に欠陥位置を再現する。
Next, the liquid crystal panel 31 is corrected by the correction device 24.
Repair defects. The liquid crystal panel 31 that has been transported,
The panel loading / unloading control device 44 sets the panel loading / unloading device 30 on the alignment stage 32 installed on the correction stage 33. As in the case of the inspection device, the alignment control device 41 uses the alignment stage 3 based on the position reference mark imaged by the alignment imaging device 28.
By rotating or moving 2
Align the. The panel number for distinguishing between the panels is read by the number reading imaging device 25, and a signal is output to the number recognition device 38 to recognize the number. After recognizing the panel, the type of defect of the set liquid crystal panel 31,
The defect position, the position to be corrected, the correction method, etc. are extracted from the inspection information data sent by the network 22, and the read signal of the linear scale 36 is sent to the linear scale counter 42 to accurately reproduce the defect position.

【0034】具体的には、図2のように位置決め制御ル
ープをクローズドループとし、リニアスケールカウンタ
42による位置検出をX軸、Y軸の各モータ46,47
をコントロールするモータ制御装置43へフィードバッ
クさせて、機械駆動系の誤差の影響を受けない欠陥位置
の再現を行う。ここで、修正ステージ33のX軸、Y軸
の移動は、X軸ボールねじ49、Y軸ボールねじ48に
よって行う。
Specifically, as shown in FIG. 2, the positioning control loop is a closed loop, and the position detection by the linear scale counter 42 is performed by the X-axis and Y-axis motors 46 and 47.
Is fed back to the motor control device 43 for controlling the position, and the defect position that is not affected by the error of the mechanical drive system is reproduced. Here, the X axis and Y axis of the correction stage 33 are moved by the X axis ball screw 49 and the Y axis ball screw 48.

【0035】エンコーダからのパルス量により位置を再
現しようとすると、本発明が解決しようとする課題でも
記載したように、ボールねじのリード誤差等の機械駆動
系の誤差により、欠陥絵素周辺の絵素を誤って特定する
可能性があるため欠陥確認機能が必要となってしまう。
本実施例では、機械駆動系の誤差の影響を受けない欠陥
位置の再現を行うので、欠陥確認機能は必要ない。
When the position is reproduced by the pulse amount from the encoder, as described in the problem to be solved by the present invention, the picture around the defective picture element is caused by the error of the mechanical drive system such as the lead error of the ball screw. Since there is a possibility of erroneously specifying the element, a defect confirmation function is required.
In this embodiment, since the defect position is reproduced without being affected by the error of the mechanical drive system, the defect confirmation function is not necessary.

【0036】本実施例の方法で、分解能の高いリニアス
ケールを使用すると位置検出が細かすぎて、慣性、剛
性、振動等の機械系の影響により位置決め時に振動が発
生し続け、ハンチングが生じる事があるが、その場合は
位置決め完了信号出力のパルス幅を広げる方向で調整、
もしくはハンチングが継続している時に位置偏差パルス
を強制的にクリアすればよい。
When a linear scale having a high resolution is used in the method of this embodiment, the position detection is too fine, and vibration may continue to occur at the time of positioning due to the influence of mechanical systems such as inertia, rigidity and vibration, and hunting may occur. However, in that case, adjust in the direction to increase the pulse width of the positioning completion signal output,
Alternatively, the position deviation pulse may be forcibly cleared while hunting continues.

【0037】マイクロステップドライバを使用した場合
のモータの分解能、リニアスケールの分解能は、絵素幅
に比べて充分細かいため、振幅は絵素幅以内へ、再現し
た欠陥座標位置は欠陥絵素内に収まり、欠陥絵素特定が
失敗する事はないと考えられる。欠陥絵素が特定される
と、レーザ制御装置40からの指示によりレーザ照射装
置27がレーザ光を照射し、異物粉砕、配線パターン切
断、接続等の修正を行う。修正すべき位置は、絵素の形
状、特徴ある配線パターン等を利用したパターン認識を
行い、修正ステージの移動により欠陥絵素の基準点の移
動を行い、その位置からの相対座標により求める。パタ
ーン認識は、被修正パネルである液晶パネル31の裏側
からバックライト34の光を照射し、パターン認識用撮
像装置26を用いて欠陥絵素とその周辺の配線パターン
の画像を取り込み、TFT部、バスライン等の配線パタ
ーン形状の特徴ある部分と、装置内の画像メモリに用意
してある図形パターンとの比較をパターン認識ユニット
39により行う。求めた修正すべき位置をレーザ照射装
置27のレーザ光光軸と重なるように修正ステージ33
を移動させる。
Since the resolution of the motor and the resolution of the linear scale when the micro step driver is used are sufficiently smaller than the picture element width, the amplitude is within the picture element width and the reproduced defect coordinate position is within the picture element pixel. It is considered that there will be no failure and failure in specifying defective pixel elements. When the defective picture element is specified, the laser irradiation device 27 irradiates a laser beam according to an instruction from the laser control device 40, and crushes the foreign matter, cuts the wiring pattern, and corrects the connection. The position to be corrected is obtained by performing pattern recognition using the shape of the picture element, a characteristic wiring pattern, etc., moving the reference point of the defective picture element by moving the correction stage, and by using relative coordinates from that position. In the pattern recognition, the light of the backlight 34 is irradiated from the back side of the liquid crystal panel 31 which is the panel to be corrected, the image of the defective pixel and the wiring pattern around the defective pixel is captured by using the image recognition device 26 for pattern recognition, and the TFT section, The pattern recognition unit 39 compares the characteristic portion of the wiring pattern shape such as a bus line with the graphic pattern prepared in the image memory in the apparatus. The correction stage 33 is arranged so that the obtained position to be corrected overlaps with the laser light optical axis of the laser irradiation device 27.
To move.

【0038】本実施例では、修正ステージ33を移動さ
せるとしたが、レーザ照射装置27を可動とし、レーザ
照射装置27を移動させる事により行う事も可能であ
る。修正すべき位置、すなわち配線パターンの切断、接
続等を行う位置等は、欠陥の種類に応じてあらかじめ決
定しておく。またレーザ光の出力、照射範囲等の設定は
異物粉砕、配線パターンの切断、接続等の修正作業内
容、修正位置等によりあらかじめ決定しておく。欠陥位
置の再現を行い欠陥絵素の特定するとは、実際の動作と
して、パターン認識用撮像装置26の視野内の基準点が
欠陥絵素内に収まるように、修正ステージを移動させる
ということである。修正が成功したかどうかの認識を行
いたい場合は、修正済みの液晶パネル31を検査装置1
に装置間パネル搬送装置21にて搬送し、ネットワーク
22により検査装置1に転送された修正情報データを使
用して、検査装置1にて欠陥の修正確認を行う。修正終
了後、製品としての基準を満たす様になったパネルと、
修正失敗により製品としての基準を満たすことができな
かったパネルに分類して、異なるパネル収納カセット2
9へ収納する。
In this embodiment, the correction stage 33 is moved, but it is also possible to move the laser irradiation device 27 and move the laser irradiation device 27. The position to be corrected, that is, the position at which the wiring pattern is cut or connected is determined in advance according to the type of defect. Further, the setting of the output of the laser beam, the irradiation range, etc. is determined in advance in accordance with the contents of the correction work such as crushing the foreign matter, cutting the wiring pattern, and connection, the correction position, and the like. Reproducing the defect position and specifying the defective picture element means, as an actual operation, moving the correction stage so that the reference point within the field of view of the pattern recognition imaging device 26 falls within the defective picture element. . When it is desired to recognize whether the correction is successful, the corrected liquid crystal panel 31 is used as the inspection device 1.
Then, the inspection device 1 confirms the correction of the defect by using the correction information data that is conveyed by the inter-device panel conveyance device 21 and transferred to the inspection device 1 by the network 22. After the modification, the panel that meets the standard as a product,
Different panel storage cassettes 2 are classified into panels that could not meet the standard as a product due to correction failure.
Store in 9.

【0039】本発明の第2の実施例を説明する。本実施
例は、第1の実施例において、修正装置のステージ移動
をモータとボールねじを利用して行うのではなく、リニ
アモータを利用して行う。図3のように、修正ステージ
33のX軸、Y軸両方向の移動に、リニアモータ制御装
置54によってそれぞれ制御されるリニアモータ50,
51を使用する。このリニアモータ50,51は、リニ
アスケール等の位置検出機構を内蔵もしくは取り付けた
クローズドループ・サーボシステムの方式とする。
A second embodiment of the present invention will be described. In the present embodiment, the stage movement of the correction device in the first embodiment is performed not by using a motor and a ball screw, but by using a linear motor. As shown in FIG. 3, a linear motor 50, which is controlled by a linear motor controller 54, is used to move the correction stage 33 in both the X-axis and Y-axis directions.
Use 51. The linear motors 50 and 51 are of a closed-loop servo system system in which a position detecting mechanism such as a linear scale is built in or attached.

【0040】この方法では、リニアモータガイド52,
53から位置検出機構により直接移動量を検出するた
め、駆動系の誤差は全く無くなる。第1の実施例と同様
に、分解能の高い位置検出機構を使用すると位置検出が
細かすぎて、慣性、傾斜、振動等の機械系の影響により
位置決め時に振動が発生し続け、ハンチングが生じる事
があるが、その場合は位置決め完了信号出力のパルス幅
を広げる方向で調整、もしくはハンチングが継続してい
る時に位置偏差パルスを強制的にクリアすればよい。マ
イクロステップドライバを使用した場合のリニアモータ
50,51の分解能、位置検出機構の分解能は絵素幅に
比べて充分細かいため、振幅は絵素幅以内へ、再現した
欠陥座標位置は欠陥絵素内に収まり、欠陥絵素特定が失
敗する事はないと考えられる。その後第1の実施例と同
様な修正作業を行う。
In this method, the linear motor guide 52,
Since the position detection mechanism directly detects the amount of movement from 53, the error of the drive system is completely eliminated. As in the first embodiment, if a position detecting mechanism with high resolution is used, position detection is too fine, and vibration may continue to occur at the time of positioning due to the influence of mechanical systems such as inertia, tilt, and vibration, and hunting may occur. However, in that case, it is sufficient to adjust the pulse width of the positioning completion signal output in a direction to widen it, or to forcibly clear the position deviation pulse when hunting is continued. Since the resolution of the linear motors 50 and 51 and the resolution of the position detection mechanism when using the micro step driver are sufficiently smaller than the picture element width, the amplitude is within the picture element width, and the reproduced defect coordinate position is within the picture element pixel. Therefore, it is considered that defective pixel identification cannot fail. After that, the same correction work as in the first embodiment is performed.

【0041】本発明の第3の実施例を説明する。本実施
例は、第1の実施例のように、リニアスケール等の位置
検出手段を使用するのではなく、ステージを移動させた
時のボールネジのリード誤差を補正を行うことに特徴が
ある。ステージを動かす場合、モータによりボールネジ
を回転させて行うのだが、加工精度の問題によりボール
ネジにはリード誤差が存在し、そのためモータのエンコ
ーダによる位置検出には必ず誤差が発生する。すなわち
図4のグラフのようにステージの移動量とモータドライ
バのパルス出力は完全な比例関係にはなっていない。し
かしステージ位置とモータのパルス出力に対するボール
ネジのリード誤差は、何回でも同じように再現されるた
め、これを利用すれば精度の高い移動が可能となる。
A third embodiment of the present invention will be described. The present embodiment is characterized in that the position error detecting means such as a linear scale is not used as in the first embodiment, but the lead screw lead error when the stage is moved is corrected. When moving the stage, the ball screw is rotated by the motor, but due to the problem of processing accuracy, there is a lead error in the ball screw, and therefore an error is always generated in the position detection by the motor encoder. That is, as shown in the graph of FIG. 4, the amount of movement of the stage and the pulse output of the motor driver are not in a perfect proportional relationship. However, since the lead error of the ball screw with respect to the stage position and the pulse output of the motor is reproduced in the same manner many times, if this is used, highly accurate movement is possible.

【0042】例としてサーボモータを使用するとして説
明を行う。修正装置24を稼動させる前に、修正ステー
ジ33の移動量と、エンコーダによる位置計測の対応を
調べておく。具体的には修正ステージ33のX方向、Y
方向各軸毎に移動可能範囲を移動端から反対側の移動端
まで移動させながら、レーザ干渉計等の正確に距離を測
定できる機器により移動量を計測し、各軸におけるステ
ージ移動量とエンコーダパルス量の全対応を記録する。
予圧等によりバックラッシュがないタイプのボールねじ
を使用する場合、順方向のみ調べればよいが、バックラ
ッシュのあるボールねじを使用する場合は、順方向と逆
方向で差異があると考えられるため、相方向について調
べる必要がある。この操作は、修正装置24の立ち上げ
時に一度行っておけばよい。このようにして、修正ステ
ージ33の移動量は、そのステージ移動区間において、
ボールねじリード誤差を補正したエンコーダパルス量を
用いて測定を行う。
As an example, description will be given assuming that a servo motor is used. Before operating the correction device 24, the correspondence between the movement amount of the correction stage 33 and the position measurement by the encoder is checked. Specifically, the correction stage 33 in the X direction and Y
While moving the movable range for each axis from the moving end to the opposite moving end, measure the moving amount with a device that can accurately measure the distance, such as a laser interferometer, and then measure the stage moving amount and encoder pulse for each axis. Record the full correspondence of the quantities.
When using a ball screw that does not have backlash due to preload, etc., it is sufficient to check only the forward direction, but when using a ball screw with backlash, it is considered that there is a difference between the forward direction and the reverse direction. It is necessary to investigate the direction of the phases. This operation may be performed once when the correction device 24 is started up. In this way, the movement amount of the correction stage 33 is
Measurement is performed using the encoder pulse amount that corrects the ball screw lead error.

【0043】この方法により修正装置24側で欠陥絵素
の中心座標の再現を行った場合、6.4インチVGA仕
様の液晶パネルであれば縦約200μm×横約67μm
の絵素サイズ内に収まるのに充分な精度を有す。欠陥絵
素の特定が行われれば、第1の実施例と同様な平面表示
パネルの修正を行う。
When the center coordinates of the defective picture element are reproduced on the correction device 24 side by this method, in the case of a 6.4 inch VGA specification liquid crystal panel, the length is about 200 μm × width about 67 μm.
It is accurate enough to fit within the pixel size of. When the defective picture element is specified, the flat display panel is corrected as in the first embodiment.

【0044】例としてサーボモータを使用するとして説
明を行ったが、サーボ機構のないステッピングモータで
も可能である。制御系を脱調の発生しないように組み、
ボールねじのリード誤差を利用して補正を行ったステー
ジ移動量とモータドライバのモータへのパルス量との相
関をあらかじめ調べておけば、そのステージ移動区間に
おける補正パルス量により移動量の正確な予測が可能と
なり、同様な誤差の小さい位置決めができる。
Although the description has been given assuming that the servo motor is used as an example, a stepping motor without a servo mechanism is also possible. Assemble the control system to prevent out-of-step,
If the correlation between the amount of movement of the stage corrected using the lead error of the ball screw and the pulse amount to the motor of the motor driver is checked beforehand, the amount of correction pulse in the stage movement section can be used to accurately predict the amount of movement. It becomes possible to perform positioning with a similar small error.

【0045】本発明の第4の実施例を説明する。本実施
例は、第1の実施例のように、欠陥の座標に移動して、
そこに存在する欠陥絵素を特定するのではなく、パネル
の絵素にはあらかじめ番号を割り振って番地を設定して
おき、ネットワークを通じて得た検査情報データの欠陥
の座標より欠陥絵素の番地の算出、もしくは検査装置側
で検出した欠陥絵素の番地をネットワークより修正装置
へ送り、パネルの絵素数をソースバスライン方向、ゲー
トバスライン方向それぞれ直接カウントする事により直
接その絵素番地の検索を行う装置である。
A fourth embodiment of the present invention will be described. In this embodiment, like the first embodiment, the coordinates of the defect are moved to
Rather than specifying the defective picture element existing there, the numbers are assigned in advance to the picture elements on the panel and the addresses are set, and the address of the defective picture element is determined from the coordinates of the defect in the inspection information data obtained through the network. The address of the defective pixel that is calculated or detected by the inspection device is sent from the network to the repair device, and the number of the pixel on the panel is directly counted in each of the source bus line direction and the gate bus line direction to directly search for that pixel address. It is a device to perform.

【0046】図5は、本発明に係る検査修正装置の第4
の実施例を示す概略構成図である。この装置は、第1の
実施例とほぼ同じ構成であるので、対応する部分には同
一符号を付し、説明は省略する。この検査修正装置は、
第1の実施例と同様、検査装置1と、装置間パネル搬送
系20の装置間パネル搬送装置21と、ネットワーク2
2のデータ通信処理装置23と修正装置55から構成さ
れる。
FIG. 5 shows a fourth inspection / correction device according to the present invention.
It is a schematic block diagram which shows the Example of. Since this device has almost the same configuration as that of the first embodiment, corresponding parts are designated by the same reference numerals and the description thereof is omitted. This inspection correction device
Similar to the first embodiment, the inspection device 1, the inter-device panel transfer device 21 of the inter-device panel transfer system 20, and the network 2
The data communication processing device 23 and the correction device 55.

【0047】検査装置1、装置間パネル搬送系20及び
ネットワーク22は、第1の実施例と全く同様の構成で
ある。図5の検査装置1は、パネルロード・アンロード
制御装置17と通信ユニット18以外を省略している。
本実施例の特徴は、修正装置55において、第1の実施
例のリニアスケールカウンタ42の替わりに、光量検査
パルス発生装置56を配した点である。
The inspection apparatus 1, the inter-apparatus panel transport system 20 and the network 22 have exactly the same construction as in the first embodiment. In the inspection device 1 of FIG. 5, components other than the panel load / unload control device 17 and the communication unit 18 are omitted.
The feature of this embodiment is that the correction device 55 is provided with a light amount inspection pulse generator 56 in place of the linear scale counter 42 of the first embodiment.

【0048】この修正装置のパターン認識用撮像装置の
動作を説明する。図6は、修正装置の動作の説明図であ
る。図6にあるように、被修正パネル31の裏側からバ
ックライト34の光を照射しておき、パターン認識用撮
像装置26を利用して、倍率の調整、スリット等の利用
により撮像視野をソースバスライン幅×ゲートバスライ
ン幅程度になるように工夫する。パターン認識用撮像装
置26により撮像した画像の光量を光量検査パルス発生
装置56により検査することにより、絵素番地を割り振
られた絵素をカウントする。本実施例では光センサの使
用により光量を検査するものとする。図7の(a)に示
すように、撮像画像が絵素のカラーフィルタの場合は光
量が増加し、撮像画像が配線パターンの場合は光量が減
少する。従って、図7の(a)に示すように、修正ステ
ージの移動により光量が変化し、図7の(b)に示すよ
うに、センサがON,OFFを繰り返してパルスを発生
するように、光センサの感度と移動速度の調節を行う。
そのパルス量をソースバスライン方向、ゲートバスライ
ン方向それぞれ計測することにより絵素番地を得る事が
可能となる。さらにその光センサからのパルス量をモー
タドライバへフィードバックさせることにより、確実な
欠陥絵素の特定が可能となる。欠陥絵素の特定が行われ
れば、第1の実施例と同様な平面表示パネルの修正を行
う。
The operation of the pattern recognition imaging device of the correction device will be described. FIG. 6 is an explanatory diagram of the operation of the correction device. As shown in FIG. 6, the light from the backlight 34 is radiated from the back side of the panel 31 to be corrected, the pattern recognition image pickup device 26 is used to adjust the magnification, and the slit is used to change the image pickup field of view to the source bus. Devise it so that it is about line width x gate bus line width. The light amount of the image picked up by the pattern recognition image pickup device 26 is inspected by the light amount inspection pulse generator 56 to count the picture elements to which the picture element addresses are assigned. In this embodiment, the light quantity is inspected by using an optical sensor. As shown in FIG. 7A, the amount of light increases when the captured image is a color filter of picture elements, and the amount of light decreases when the captured image is a wiring pattern. Therefore, as shown in FIG. 7A, the amount of light changes due to the movement of the correction stage, and as shown in FIG. 7B, the sensor repeats ON and OFF to generate pulses. Adjust the sensor sensitivity and moving speed.
The pixel address can be obtained by measuring the pulse amount in each of the source bus line direction and the gate bus line direction. Further, by feeding back the pulse amount from the optical sensor to the motor driver, it is possible to reliably identify the defective pixel. When the defective picture element is specified, the flat display panel is corrected as in the first embodiment.

【0049】[0049]

【発明の効果】本発明によれば、制御手段が位置検出手
段の出力信号によって駆動手段をフィードバック制御し
たり、駆動手段の駆動量と実際の移動量の相関に基づい
て駆動手段を制御するから、検査装置からの検査情報デ
ータに基づいて欠陥位置を正確に再現でき、駆動信号の
発生や切り換えのための点灯回路と駆動信号を入力する
ためのプローバが必要なくなりコストを抑えることがで
き、プロービング動作が必要なくなるため、コクタクト
不良による誤検出、誤修正を行う可能性が減り、プロー
ブの頻繁なクリーニング、メンテナンスが必要なくな
り、スループットが向上するという効果がある。さらに
欠陥検出のための画像処理装置が必要無いため、コスト
が低くなるという効果がある。
According to the present invention, the control means feedback-controls the driving means by the output signal of the position detecting means, or controls the driving means based on the correlation between the driving amount of the driving means and the actual movement amount. , The defect position can be accurately reproduced based on the inspection information data from the inspection device, the lighting circuit for generating and switching the drive signal and the prober for inputting the drive signal are not required, and the cost can be suppressed, and probing can be performed. Since the operation is not required, the possibility of erroneous detection and correction due to defective cotact is reduced, frequent probe cleaning and maintenance are not required, and the throughput is improved. Further, since an image processing device for detecting defects is not required, there is an effect that cost is reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係る検査修正装置の第1の実施例を示
す概略構成図である。
FIG. 1 is a schematic configuration diagram showing a first embodiment of an inspection correction device according to the present invention.

【図2】第1の実施例の修正装置のステージ部分を示す
構成図である。
FIG. 2 is a configuration diagram showing a stage portion of the correction device according to the first embodiment.

【図3】本発明に係る検査修正装置の第2の実施例にお
ける修正装置のステージ部分を示す構成図である。
FIG. 3 is a configuration diagram showing a stage portion of a correction device in a second embodiment of the inspection correction device according to the present invention.

【図4】本発明に係る検査修正装置の第3の実施例にお
けるモータパルス量とステージ移動量の相関を示す特性
図である。
FIG. 4 is a characteristic diagram showing a correlation between a motor pulse amount and a stage movement amount in a third embodiment of the inspection correction apparatus according to the present invention.

【図5】本発明に係る検査修正装置の第4の実施例を示
す概略構成図である。
FIG. 5 is a schematic configuration diagram showing a fourth embodiment of the inspection correction device according to the present invention.

【図6】第4の実施例における修正装置のパターン認識
用撮像装置の動作を示す説明図である。
FIG. 6 is an explanatory diagram showing the operation of the pattern recognition imaging device of the correction device in the fourth embodiment.

【図7】(a)及び(b)は、第4の実施例における修
正装置のステージ移動量とパターン認識用撮像装置と光
量及び光センサ出力との相関を示す特性図である。
7A and 7B are characteristic diagrams showing the correlation between the stage movement amount of the correction device in the fourth embodiment, the pattern recognition imaging device, the light amount, and the optical sensor output.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 検査装置 3 欠陥検出用撮像装置 18、37 通信ユニット 21 装置間パネル搬送装置 23 データ通信処理装置 24 修正装置 26 パターン認識用撮像装置 27 レーザ 35 モータ 36 リニアスケール 42 リニアスケールカウンタ 43 モータ制御装置 1 Inspection Device 3 Defect Detection Imaging Device 18, 37 Communication Unit 21 Inter-device Panel Transfer Device 23 Data Communication Processing Device 24 Correction Device 26 Pattern Recognition Imaging Device 27 Laser 35 Motor 36 Linear Scale 42 Linear Scale Counter 43 Motor Control Device

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 平面表示パネルの欠陥を検査する検査装
置と、該欠陥の修正機構を有する修正装置と、各装置間
で検査情報データもしくは修正情報データを伝達する情
報伝達手段と、各装置間で平面表示パネルを搬送する搬
送手段とを備え、 前記搬送手段によって検査装置から修正装置に搬送され
た平面表示パネルの欠陥を、自動的に前記検査情報デー
タに基づいて修正する平面表示パネル検査修正装置にお
いて、 前記修正装置は、 前記平面表示パネルあるいは修正機構を移動させる駆動
手段と、 前記平面表示パネルあるいは修正機構の位置を検出する
位置検出手段と、 該位置検出手段の出力信号によって駆動手段を制御する
制御手段と、からなり修正時に欠陥確認することなく欠
陥位置を再現可能であることを特徴とする平面表示パネ
ル検査修正装置。
1. An inspection device for inspecting a defect of a flat display panel, a correction device having a defect correction mechanism, an information transmission means for transmitting inspection information data or correction information data between each device, and an inter-device. And a conveyance means for conveying the flat display panel by means of a flat display panel inspection correction for automatically correcting a defect of the flat display panel conveyed from the inspection device to the correction device by the conveyance means based on the inspection information data. In the apparatus, the correction device includes a drive unit that moves the flat display panel or the correction mechanism, a position detection unit that detects a position of the flat display panel or the correction mechanism, and a drive unit that outputs a signal from the position detection unit. A flat display panel characterized by comprising control means for controlling and capable of reproducing the defect position without confirming the defect at the time of repair.査 correction device.
【請求項2】 位置検出手段は、分解能が平面パネルの
絵素幅より小さいことを特徴とする請求項1記載の平面
表示パネル検査修正装置。
2. The flat display panel inspection / correction device according to claim 1, wherein the position detecting means has a resolution smaller than the picture element width of the flat panel.
【請求項3】 位置検出手段は、平面パネルの光量を検
出する光センサを備え、該光センサにより平面パネルの
絵素移動による光量変化をパルス化し、該パルスをカウ
ントして、絵素位置を検出する手段であることを特徴と
する請求項1記載の平面表示パネル検査修正装置。
3. The position detecting means includes an optical sensor for detecting the light amount of the flat panel, and the light sensor changes the light amount due to the movement of the picture element of the flat panel into pulses, and counts the pulses to determine the picture element position. The flat display panel inspection / correction device according to claim 1, which is means for detecting.
【請求項4】 平面表示パネルの欠陥を検査する検査装
置と、該欠陥の修正機構を有する修正装置と、各装置間
で検査情報データもしくは修正情報データを伝達する情
報伝達手段と、各装置間で平面表示パネルを搬送する搬
送手段とを備え、 前記搬送手段によって検査装置から修正装置に搬送され
た平面表示パネルの欠陥を、自動的に前記検査情報デー
タに基づいて修正する平面表示パネル検査修正装置にお
いて、 前記修正装置は、 平面表示パネルあるいは修正機構を移動させる駆動手段
と、 該駆動手段の駆動量と平面表示パネルあるいは修正機構
の移動量の相関に基づいて所定の位置に移動できるよう
に前記駆動手段を制御する制御手段と、からなり、 修正時に欠陥確認することなく欠陥位置を再現可能であ
ることを特徴とする平面表示パネル検査修正装置。
4. An inspection device for inspecting a defect of a flat display panel, a correction device having a defect correction mechanism, an information transmission means for transmitting inspection information data or the correction information data between the respective devices, and the respective devices. And a conveyance means for conveying the flat display panel by means of a flat display panel inspection correction for automatically correcting a defect of the flat display panel conveyed from the inspection device to the correction device by the conveyance means based on the inspection information data. In the device, the correction device is configured to move to a predetermined position based on a drive unit that moves the flat display panel or the correction mechanism, and a correlation between the drive amount of the drive unit and the movement amount of the flat display panel or the correction mechanism. And a control means for controlling the driving means, wherein the defect position can be reproduced without checking the defect at the time of repair. Nell inspection correction device.
JP10122895A 1995-04-25 1995-04-25 Flat display panel inspection/correction device Pending JPH08292008A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10122895A JPH08292008A (en) 1995-04-25 1995-04-25 Flat display panel inspection/correction device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10122895A JPH08292008A (en) 1995-04-25 1995-04-25 Flat display panel inspection/correction device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH08292008A true JPH08292008A (en) 1996-11-05

Family

ID=14295046

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10122895A Pending JPH08292008A (en) 1995-04-25 1995-04-25 Flat display panel inspection/correction device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH08292008A (en)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003076291A (en) * 2001-09-07 2003-03-14 Hitachi Electronics Eng Co Ltd Method and device for cutting wiring pattern of substrate
KR100646327B1 (en) * 2003-04-14 2006-11-23 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. Projection system and method of use thereof
JP2006322993A (en) * 2005-05-17 2006-11-30 Ulvac Japan Ltd Spacer coating apparatus, spacer coating method
JP2007109981A (en) * 2005-10-14 2007-04-26 Laserfront Technologies Inc Method of correcting defect
JP2007109980A (en) * 2005-10-14 2007-04-26 Laserfront Technologies Inc Method of correcting wiring
KR100742226B1 (en) * 2003-02-25 2007-07-24 가부시키가이샤 시마즈세이사쿠쇼 Apparatus and method for managing liquid crystal substrate
KR100810581B1 (en) * 2006-08-29 2008-03-07 세광테크 주식회사 Apparatus for testing trace of lcd pannel and the method of the same
JP2016151454A (en) * 2015-02-17 2016-08-22 国立研究開発法人日本原子力研究開発機構 Radiation measuring method, and radiation measuring apparatus

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003076291A (en) * 2001-09-07 2003-03-14 Hitachi Electronics Eng Co Ltd Method and device for cutting wiring pattern of substrate
KR100742226B1 (en) * 2003-02-25 2007-07-24 가부시키가이샤 시마즈세이사쿠쇼 Apparatus and method for managing liquid crystal substrate
US7702486B2 (en) 2003-02-25 2010-04-20 Shimadzu Corporation Apparatus and method for managing liquid crystal substrate
KR100646327B1 (en) * 2003-04-14 2006-11-23 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. Projection system and method of use thereof
JP2006322993A (en) * 2005-05-17 2006-11-30 Ulvac Japan Ltd Spacer coating apparatus, spacer coating method
JP4619859B2 (en) * 2005-05-17 2011-01-26 株式会社アルバック Spacer coating device, spacer coating method
JP2007109981A (en) * 2005-10-14 2007-04-26 Laserfront Technologies Inc Method of correcting defect
JP2007109980A (en) * 2005-10-14 2007-04-26 Laserfront Technologies Inc Method of correcting wiring
KR100810581B1 (en) * 2006-08-29 2008-03-07 세광테크 주식회사 Apparatus for testing trace of lcd pannel and the method of the same
JP2016151454A (en) * 2015-02-17 2016-08-22 国立研究開発法人日本原子力研究開発機構 Radiation measuring method, and radiation measuring apparatus

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6356093B2 (en) Printed circuit board testing apparatus
US5166753A (en) Method for inspecting electronic devices mounted on a circuit board
US5686994A (en) Appearance inspection apparatus and appearance inspection method of electronic components
CN101014850B (en) System and method for inspecting electrical circuits utilizing reflective and fluorescent imagery
KR101091812B1 (en) Defect Inspection Method and Defect Inspection Apparatus
JP3150324B2 (en) Method of inspecting thin film transistor substrate and method of repairing wiring of thin film transistor substrate
JPH08292008A (en) Flat display panel inspection/correction device
JPH0682801A (en) Defect inspecting and correcting device
JPS63265442A (en) Appearance inspecting apparatus for semiconductor device
JP2008014918A (en) Circuit pattern inspecting device and circuit pattern inspection method
KR200363207Y1 (en) Lcd cell edge check system
JP3056823B2 (en) Defect inspection equipment
WO2021079543A1 (en) External appearance inspection apparatus and external appearance inspection method
KR19990074057A (en) PDP fault repair device
JP2847351B2 (en) Automatic printed wiring board inspection system
JPH01119036A (en) Wafer prober
JPH022947A (en) Inspecting and repairing apparatus
JPH10197399A (en) Defect locator for thin display
CN114222913B (en) Wafer appearance inspection device and method
JP2640751B2 (en) Liquid crystal display inspection equipment
JPH11167635A (en) Plotting deciding device
JP2709307B2 (en) Laser repair method and device
JPH023299A (en) Laser repair device
JP2648883B2 (en) Laser processing equipment
JPH0651014A (en) Flaw inspecting device