JP3310752B2 - Electronic component recognition device - Google Patents

Electronic component recognition device

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JP3310752B2
JP3310752B2 JP544494A JP544494A JP3310752B2 JP 3310752 B2 JP3310752 B2 JP 3310752B2 JP 544494 A JP544494 A JP 544494A JP 544494 A JP544494 A JP 544494A JP 3310752 B2 JP3310752 B2 JP 3310752B2
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thickness
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、電子部品の測定部位
を自動的に設定すると共に測定基準データを自動的に生
成する電子部品認識装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an electronic component recognizing apparatus for automatically setting a measurement site of an electronic component and automatically generating measurement reference data.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、プリント基板にIC、抵抗、
コンデンサ等多数のチップ状電子部品を搭載する部品搭
載装置がある。この部品搭載装置によってプリント基板
(以下、単に基板という)に搭載される電子部品は、そ
のモールド(内部回路を被覆している保護殻部材)の側
面から外部に出ている複数のリードピン(電極)を備え
ているものが多い。この場合、複数のリードピンが規格
通りに正しく並んでいないと、その電子部品を搭載して
も基板の配線に電子部品のリードピンが正しく接続され
ず、出来上がった基板ユニット全体が不良になる。この
ため、通常、電子部品搭載前に、その搭載すべき電子部
品のリードピンの配列状態を撮像装置又はセンサ等によ
り測定して、予めメモリ等に記憶されている電子部品規
格表のデータと照合して、良否の判定をするようにして
いた。
2. Description of the Related Art Conventionally, ICs, resistors,
There is a component mounting apparatus for mounting a large number of chip-shaped electronic components such as capacitors. An electronic component mounted on a printed circuit board (hereinafter simply referred to as a substrate) by this component mounting apparatus is composed of a plurality of lead pins (electrodes) protruding outside from a side surface of a mold (a protective shell member covering an internal circuit). Many are equipped with. In this case, if the plurality of lead pins are not properly aligned as specified, even if the electronic component is mounted, the lead pins of the electronic component will not be correctly connected to the wiring of the board, and the entire board unit will be defective. For this reason, before mounting the electronic component, usually, the arrangement state of the lead pins of the electronic component to be mounted is measured by an imaging device or a sensor or the like, and compared with the data of the electronic component standard table stored in a memory or the like in advance. To judge the quality.

【0003】図11は、レーザセンサを用いて電子部品
を測定する場合の状態を示したものである。同図に示す
移載ヘッド1は、本体装置上方に位置して、上下及び前
後左右に自在に移動可能であり、吸着ノズル2により、
本体装置の基台上に在る部品載置台から電子部品3を吸
着して、その電子部品3を本体装置内に自動搬入される
基板上の所定位置に自動的に搭載する。このとき、上記
電子部品3を吸着して移送する移載ヘッド1の移動経路
にレーザセンサ5を配設し、このレーザセンサ5によっ
て電子部品3の状態を測定している。上記のレーザセン
サ5は、発射口6と受光部7とから成る走査部を有して
おり、電子部品3を吸着した移載ヘッド1が同図の矢印
Aに示すX軸方向に移動するとき、測定点B′を通過す
るリードピン4に、同図の折り返し矢印Bに示すように
レーザ光を発射口6から発射し、リードピン4で反射し
た光を受光部7に受ける。そして、その反射光の入光に
よりリードピン4の配列を認識し、その入光の受光部7
における受光部位の位置に基づいて、リードピン4のレ
ーザセンサ5からの距離を認識する。これらの測定(認
識)結果に基づいて、本体装置の制御部は、リードピン
の浮き、曲がり、欠落等の不良を検出している。
FIG. 11 shows a state where an electronic component is measured using a laser sensor. The transfer head 1 shown in FIG. 1 is located above the main body device and is freely movable up and down and forward and backward and left and right.
The electronic component 3 is sucked from the component mounting table on the base of the main body device, and the electronic component 3 is automatically mounted at a predetermined position on a substrate that is automatically loaded into the main body device. At this time, a laser sensor 5 is provided on the movement path of the transfer head 1 that sucks and transfers the electronic component 3, and the state of the electronic component 3 is measured by the laser sensor 5. The above-mentioned laser sensor 5 has a scanning unit composed of an emission port 6 and a light receiving unit 7, and is used when the transfer head 1 holding the electronic component 3 moves in the X-axis direction indicated by an arrow A in FIG. The laser beam is emitted from the emission port 6 to the lead pin 4 passing through the measurement point B 'as shown by the folding arrow B in FIG. Then, the arrangement of the lead pins 4 is recognized by the input of the reflected light, and the light receiving section 7 of the input light is recognized.
The distance of the lead pin 4 from the laser sensor 5 is recognized on the basis of the position of the light receiving portion in. Based on these measurement (recognition) results, the control unit of the main unit detects a defect such as lifting, bending, or missing of the lead pin.

【0004】上記のレーザセンサ5は本体装置に固定さ
れており、したがって、電子部品3を測定するには電子
部品3を移動させる。図12は、上記測定される電子部
品3の移動方法の一例を示す図である。同図に示すよう
に、固定した測定点B′の周囲を吸着ノズル2が四角を
描いて移動する。即ち、初め吸着ノズル2が位置2−1
から、同図の矢印Cに示す上方向の位置2−2へ移動す
ると、吸着されている電子部品3の1辺に配設された複
数のリードピン4の先端部S1(点線で囲んだ部分)も
矢印C′方向へ移動して測定点B′を通過し、その配列
位置を走査される。次に吸着ノズル2が位置2−2か
ら、同図の矢印Dに示す左方向の位置2−3へ移動する
と、今度は電子部品3の他の辺に配設された複数のリー
ドピン4の先端部S2(点線で囲んだ部分)が矢印D′
方向へ移動して測定点B′を通過する。同様にして、吸
着ノズル2が位置2−3から矢印Eに示す下方向の位置
2−4へ、さらに位置2−4から矢印Fに示す右方向の
最初の位置2−1へと順次移動することにより、電子部
品3の残りの2辺に配設された複数のリードピン4の先
端部S3及びS4が、矢印E′方向及び矢印F′方向へ
それぞれ移動して測定点B′を順次通過して配列位置を
走査される。このようにして、制御系は、電子部品3の
四辺全てのリードピン4の配列状態を知ることができ、
これによって、各リードピン4の在るべき正しい位置か
ら上下にずれている度合い(変位量、つまりリードピン
の浮き)、曲がり、欠落等を検出する。
[0004] The above laser sensor 5 is fixed to the main body device. Therefore, to measure the electronic component 3, the electronic component 3 is moved. FIG. 12 is a diagram illustrating an example of a method of moving the electronic component 3 to be measured. As shown in the figure, the suction nozzle 2 moves in a square around the fixed measurement point B '. That is, at first, the suction nozzle 2 is moved to the position 2-1.
Then, when it moves to the upward position 2-2 indicated by the arrow C in the same figure, the tip portions S1 of the plurality of lead pins 4 arranged on one side of the sucked electronic component 3 (portion surrounded by a dotted line) Also moves in the direction of arrow C ', passes through the measurement point B', and scans the array position. Next, when the suction nozzle 2 is moved from the position 2-2 to a leftward position 2-3 shown by an arrow D in the same figure, this time, the tips of a plurality of lead pins 4 arranged on the other side of the electronic component 3 The portion S2 (the portion surrounded by the dotted line) is the arrow D '
And passes through the measurement point B '. Similarly, the suction nozzle 2 sequentially moves from the position 2-3 to the downward position 2-4 shown by the arrow E, and further from the position 2-4 to the first right position 2-1 shown by the arrow F. As a result, the tips S3 and S4 of the plurality of lead pins 4 disposed on the remaining two sides of the electronic component 3 move in the directions of the arrows E 'and F', respectively, and sequentially pass through the measurement point B '. The array position is scanned. In this way, the control system can know the arrangement state of the lead pins 4 on all four sides of the electronic component 3,
As a result, the degree of displacement of each lead pin 4 from the correct position where it should be located up and down (displacement amount, that is, lifting of the lead pin), bending, missing, and the like are detected.

【0005】ところで、上述した電子部品のリードピン
4は、図13に示すように、モールド側面の真ん中程か
ら横に突出しており、基板に半田付けされる先端部が下
方に曲がり、その最先端部が更に横に(水平に)曲がっ
ている。この水平に曲がったリードピン4の最先端部
は、モールドの底面よりも0.01〜0.1mm(ミリ
メートル)下に出ている、したがって、電子部品3の厚
さIctは、モールドの厚さではなく、モールド上面と
リードピン先端部下面間の距離である。レーザセンサ5
は、基準位置における移載ヘッド1の吸着ノズル2先端
の吸着面からおよそ8mmの距離Haの位置に配設さ
れ、上記リードピン4の水平に曲がった最先端部を走査
する。制御部は、レーザセンサ5の走査部から距離Hb
(=Ha−Ict)の位置にあるリードピン4を正常と
判断する。レーザセンサ5の測定可能範囲は上記距離H
bからプラス/マイナス距離Hcの範囲であり、この距
離Hcはおよそ500μm(ミクロン)である。
As shown in FIG. 13, the lead pins 4 of the above-mentioned electronic component project laterally from the middle of the side surface of the mold. Is bent further (horizontally). The foremost part of the horizontally bent lead pin 4 projects 0.01 to 0.1 mm (millimeter) below the bottom surface of the mold. Therefore, the thickness Ict of the electronic component 3 is equal to the thickness of the mold. Instead, it is the distance between the upper surface of the mold and the lower surface of the tip of the lead pin. Laser sensor 5
Is located at a distance Ha of about 8 mm from the suction surface of the suction nozzle 2 of the transfer head 1 at the reference position, and scans the horizontally bent foremost portion of the lead pin 4. The control unit is located at a distance Hb from the scanning unit of the laser sensor 5.
It is determined that the lead pin 4 at the position (= Ha-Ict) is normal. The measurable range of the laser sensor 5 is the above distance H
The range from b to the plus / minus distance Hc, which is approximately 500 μm (micron).

【0006】このように、測定距離は極めて狭い範囲に
限られており、この限られた距離の測定位置に、測定対
象であるリードピン4の極めて限られた長さの最先端部
を正確に移動させなければならない。
As described above, the measurement distance is limited to an extremely narrow range, and the very limited length of the leading end of the lead pin 4 to be measured is accurately moved to the measurement position of the limited distance. I have to do it.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記移
載ヘッド1の基準位置における吸着ノズル2とレーザセ
ンサ5との距離Haは移載ヘッド1の組み付け誤差、本
体装置設計上の誤差など様々の要因により狂いが生じ易
い。この狂いを補正するために予め複数の距離補正値を
用意しても、なお距離補正ができないという問題がしば
しば発生した。
However, the distance Ha between the suction nozzle 2 and the laser sensor 5 at the reference position of the transfer head 1 depends on various factors such as an error in assembling the transfer head 1 and an error in designing the main unit. Is more likely to be out of order. Even if a plurality of distance correction values are prepared in advance to correct the deviation, a problem often occurs that the distance cannot be corrected.

【0008】一方、上記リードピン4の極めて限られた
長さの最先端部を測定するためには測定部位B′の位置
情報が必要であり、また、測定結果の良否を判定するた
めには、電子部品の種類毎に、リードピンの本数、配列
ピッチ、取付位置(高さ)等のピン情報が必要である。
そして、これらの情報の位置基準として電子部品の外寸
法情報も必要である。従来、これらの情報(データ)
は、部品表を見ながらオペレータが手作業で本体装置に
入力して、部品認識用マスタを作成していた。
On the other hand, in order to measure the very tip of the lead pin 4 having a very limited length, the position information of the measurement site B 'is required. In order to judge the quality of the measurement result, For each type of electronic component, pin information such as the number of lead pins, arrangement pitch, and mounting position (height) is required.
Then, external dimension information of the electronic component is also required as a position reference for such information. Conventionally, this information (data)
The operator manually inputs the data into the main unit while looking at the parts table to create a component recognition master.

【0009】通常、基板に搭載される電子部品は多様で
あり、20種類〜50種類と品種が多い。したがって、
基板実装作業に先立って入力されるデータ量も極めて多
い。ところで、このデータ入力が手作業である上に、上
述したようにデータ量が多いから入力ミスが発生し易
い。その入力ミスが発見されないまま当該電子部品の実
装作業が実行されると、良品が不良と判定されて大きな
損害を引き起こす虞が多分にある。したがって、上記の
データ入力には熟練と細心の注意力とを必要とし、この
ため、手数がかかって面倒であるばかりでなく、多大の
時間を要して作業の能率が低下するという問題があっ
た。
Usually, there are various types of electronic components mounted on a substrate, and there are many types of electronic components, such as 20 to 50 types. Therefore,
The amount of data input prior to the board mounting operation is extremely large. By the way, since this data input is manual and the data amount is large as described above, an input error easily occurs. If the mounting operation of the electronic component is performed without the input error being found, there is a possibility that a non-defective product is determined to be defective and causes great damage. Therefore, the above-mentioned data input requires skill and meticulous attention, which is not only troublesome and troublesome, but also requires a great deal of time to reduce the work efficiency. Was.

【0010】本発明の課題は、上記従来の実情に鑑み、
電子部品の測定部位を自動的に設定して測定を行うと共
に測定基準データを自動的に生成して測定結果の判別を
行う電子部品認識装置を提供することである。
[0010] The object of the present invention is to solve the above-mentioned conventional problems.
It is an object of the present invention to provide an electronic component recognition device that automatically sets a measurement site of an electronic component, performs measurement, and automatically generates measurement reference data to determine a measurement result.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】次に、本発明の構成を説
明する。本発明は、レーザセンサを用いて移載ヘッドの
吸着ノズルに吸着された電子部品のリードピンの状態を
認識する電子部品認識装置に適用される。
Next, the configuration of the present invention will be described. INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention is applied to an electronic component recognition device that recognizes the state of a lead pin of an electronic component sucked by a suction nozzle of a transfer head using a laser sensor.

【0012】請求項1記載の発明の電子部品認識装置
は、電子部品を上方移動して前記電子部品の仮の厚さを
計測する仮厚さ計測手段と、前記電子部品のリードピン
の変位を測定する変位測定手段と、該変位測定手段及び
仮厚さ計測手段により得られたそれぞれの厚さデータを
加えた厚さの分だけ前記レーザセンサの測定焦点の距離
補正を行い、この距離補正された測定焦点によって前記
電子部品の外寸法を計測する外形計測手段と、該外形計
測手段により得られた外寸法データに基づいて、前記電
子部品のリードピンの測定部位を算出し、この算出され
た測定部位によって前記電子部品のリードピンの状態を
計測するリードピン計測手段とから構成される。
According to a first aspect of the present invention, there is provided an electronic component recognizing apparatus for temporarily moving an electronic component upward to measure a temporary thickness of the electronic component, and measuring a displacement of a lead pin of the electronic component. The distance of the measurement focal point of the laser sensor is corrected by the thickness obtained by adding the respective thickness data obtained by the displacement measuring means and the thickness measuring means obtained by the displacement measuring means and the provisional thickness measuring means. An outer shape measuring means for measuring an outer dimension of the electronic component by a measurement focus; and a measuring portion of a lead pin of the electronic component is calculated based on the outer size data obtained by the outer measuring device. And a lead pin measuring means for measuring the state of the lead pins of the electronic component.

【0013】上記仮厚さ計測手段は、例えば請求項2記
載のように、移載ヘッドの吸着ノズルに吸着された電子
部品のモールド底部を計測しながら前記電子部品のモー
ルド底部を予め記憶される基準位置となるまで上方移動
させて前記電子部品の仮の厚さを計測するまた、上記リ
ードピン計測手段により計測される電子部品のリードピ
ンの状態は、例えば請求項3記載のように、リードピン先
端部下面の前記レーザセンサからの距離であり、また、例
えば、請求項4記載のように、リードピン先端部の配列ピ
ッチであり、このとき、前記リードピン計測手段は、計測
される前記リードピン先端部の配列ピッチに検出エラー
が生じると、所定量だけ計測位置を移動させて再度計測
し、さらに例えば、請求5記載のように、リードピン先端
部の配列本数であり、このとき、前記リードピン計測手段
は、計測される前記リードピン先端部の配列本数に検出
エラーが生じると、所定量だけ計測位置を移動させて再
度計測する。
The provisional thickness measuring means pre-stores the mold bottom of the electronic component while measuring the mold bottom of the electronic component sucked by the suction nozzle of the transfer head. The electronic component is moved upward until it reaches a reference position to measure the temporary thickness of the electronic component. The state of the lead pin of the electronic component measured by the lead pin measuring means is, for example, as described in claim 3. The distance of the lower surface from the laser sensor, and, for example, the arrangement pitch of the lead pin tip, as described in claim 4, wherein the lead pin measuring means measures the arrangement of the lead pin tip to be measured. If a detection error occurs in the pitch, the measurement position is moved by a predetermined amount and the measurement is performed again. A number, this time, the lead pins measuring means, when the detection error in the sequence number of the lead pin tip to be measured occurs, again measured by moving the measurement position by a predetermined amount.

【0014】[0014]

【0015】[0015]

【0016】[0016]

【0017】上記厚さ計測手段、外形計測手段、及びリ
ードピン計測手段は、例えばレーザセンサ、移載ヘッ
ド、移載ヘッド駆動パルスモータ等から成る。上記ピン
情報生成手段、及び判定手段は、例えばCPU(Central
ProcessingUnit) 等から成る。
The thickness measuring means, the outer shape measuring means, and the lead pin measuring means comprise, for example, a laser sensor, a transfer head, a transfer head drive pulse motor, and the like. The pin information generation unit and the determination unit are, for example, a CPU (Central
ProcessingUnit).

【0018】上記記憶手段は、例えばRAM(Random Ac
cess Memory)等から成る。
The storage means is, for example, a RAM (Random Ac
cess Memory).

【0019】[0019]

【作用】この発明は、厚さ計測手段が電子部品の厚さを
計測し、この計測により得られた厚さの分だけレーザセ
ンサの測定焦点の距離補正が行われ、外形計測手段がこ
の補正された測定焦点によって電子部品の外寸法を計測
する。この外寸法データに基づいて電子部品のリードピ
ンの測定部位が算出されて、リードピン計測手段がこの
測定部位によって電子部品のリードピンの状態、例えば
リードピン先端部下面のレーザセンサからの距離、リー
ドピン先端部の配列ピッチ、リードピン先端部の配列本
数等を計測する。
According to the present invention, the thickness measuring means measures the thickness of the electronic component, and the distance of the measurement focal point of the laser sensor is corrected by the thickness obtained by the measurement. The outer dimensions of the electronic component are measured by the measured measurement focus. The measurement site of the lead pin of the electronic component is calculated based on the external dimension data. The arrangement pitch, the number of arrangement of the lead pin tip, and the like are measured.

【0020】そして、ピン情報生成手段はリードピン計
測手段により得られたリードピンの状態データに基づい
て電子部品のリードピン情報を生成し、記憶手段はこの
リードピン情報を測定基準データとして記憶し、判定手
段はこの測定基準データと上記リードピン計測手段によ
り得られた電子部品のリードピンの状態データとを比較
することにより電子部品の良否を判定する。
The pin information generating means generates lead pin information of the electronic component based on the lead pin state data obtained by the lead pin measuring means, the storage means stores the lead pin information as measurement reference data, The quality of the electronic component is determined by comparing the measurement reference data with the lead data of the electronic component obtained by the lead pin measuring means.

【0021】[0021]

【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
ながら説明する。図1は、一実施例に係わる電子部品認
識装置の構成ブロック図である。同図において、電子部
品認識装置は、本体制御部10、レーザ変位計20及び
レーザI/O制御部30からなっている。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a configuration block diagram of an electronic component recognition device according to one embodiment. In FIG. 1, the electronic component recognition device includes a main body control unit 10, a laser displacement meter 20, and a laser I / O control unit 30.

【0022】本体制御部10は、装置全体を制御するメ
インCPU(中央演算処理装置)11を有しており、そ
のCPU11は、メモリ11′を内蔵し、外部にはI/
F制御部12及び駆動系制御部13が接続している。駆
動系制御部13には入出力ポート14が接続し、その入
出力ポート14にはX軸サーボモータ15及びY軸サー
ボモータ16が接続している。CPU11は、駆動系制
御部13に、電子部品を移送する移載ヘッド21を移動
させるための駆動信号を出力し、駆動系制御部13は、
その駆動信号をデコードして入出力ポート14に出力
し、入出力ポート14は、入力された駆動信号をX軸サ
ーボモータ15及びY軸サーボモータ16に割り当て
る。X軸サーボモータ15は正逆両方向に回転して移載
ヘッド21をX軸方向(基板の搬送方向)に進退移動さ
せ、Y軸サーボモータ16も正逆両方向に回転して移載
ヘッド21をY軸方向(基板の搬送方向に直角かつ水平
な方向)に進退移動させる。このとき、X軸サーボモー
タ15及びY軸サーボモータ16の回転軸にそれぞれ取
り付けられているサーボモータエンコーダX15′及び
サーボモータエンコーダY16′は、それぞれのサーボ
モータの回転数を示すパルス信号を入出力ポート14及
び駆動制御部13を介してメインCPU11に出力す
る。メインCPU11は、それらのパルス信号を計数す
ることにより、X軸サーボモータ15及びY軸サーボモ
ータ16の駆動を制御する。また、特には図示しない
が、入出力ポート14には、移載ヘッド21を回転駆動
するパルスモータ及び移載ヘッド21を上下駆動するパ
ルスモータがそれぞれ接続されており、それらのパルス
モータも同様にメインCPU11により駆動制御され
る。また、移載ヘッド21の吸着ノズル22により電子
部品23を吸着/離放するための真空ポンプも接続され
ており、同様にメインCPU11により駆動制御され
る。そして、本体制御部10のI/F制御部12は、メ
インCPU11から入力される制御信号をパラレル信号
からシリアル信号に変換し、インタフェースRS232
Cを介してレーザI/O制御部30に出力する。
The main body control section 10 has a main CPU (central processing unit) 11 for controlling the entire apparatus. The CPU 11 has a built-in memory 11 'and an external I / O.
The F control unit 12 and the drive system control unit 13 are connected. An input / output port 14 is connected to the drive system controller 13, and an X-axis servomotor 15 and a Y-axis servomotor 16 are connected to the input / output port 14. The CPU 11 outputs to the drive system control unit 13 a drive signal for moving the transfer head 21 that transfers the electronic component.
The drive signal is decoded and output to the input / output port 14. The input / output port 14 allocates the input drive signal to the X-axis servo motor 15 and the Y-axis servo motor 16. The X-axis servo motor 15 rotates in both forward and reverse directions to move the transfer head 21 forward and backward in the X-axis direction (substrate transfer direction), and the Y-axis servo motor 16 also rotates in both forward and reverse directions to move the transfer head 21. The substrate is moved forward and backward in the Y-axis direction (a direction perpendicular to and horizontal to the substrate transfer direction). At this time, the servomotor encoder X15 'and the servomotor encoder Y16' attached to the rotation axes of the X-axis servomotor 15 and the Y-axis servomotor 16, respectively, input and output a pulse signal indicating the rotation speed of each servomotor. Output to the main CPU 11 via the port 14 and the drive control unit 13. The main CPU 11 controls the driving of the X-axis servomotor 15 and the Y-axis servomotor 16 by counting those pulse signals. Although not particularly shown, a pulse motor for rotating and driving the transfer head 21 and a pulse motor for driving the transfer head 21 up and down are connected to the input / output port 14, respectively. The drive is controlled by the main CPU 11. Further, a vacuum pump for sucking / releasing the electronic component 23 by the suction nozzle 22 of the transfer head 21 is also connected, and is similarly driven and controlled by the main CPU 11. Then, the I / F control unit 12 of the main body control unit 10 converts the control signal input from the main CPU 11 from a parallel signal to a serial signal, and
Output to the laser I / O control unit 30 via C.

【0023】レーザ変位計20は、レーザセンサ25及
び変位計コントローラ28を備えている。レーザセンサ
25は、移載ヘッド21により基準認識のため吸着され
た電子部品23の測定、及び実装作業において移送中の
電子部品23のリードピン24の配設位置の走査を行
う。変位計コントローラ28は、レーザセンサ25の出
力を制御すると共に、レーザセンサ25の測定又は走査
の結果を表示報知し、その結果データをレーザI/O制
御部30に出力する。
The laser displacement meter 20 includes a laser sensor 25 and a displacement meter controller 28. The laser sensor 25 measures the electronic component 23 sucked by the transfer head 21 for reference recognition, and scans the arrangement position of the lead pins 24 of the electronic component 23 being transferred in the mounting operation. The displacement meter controller 28 controls the output of the laser sensor 25, displays and reports the measurement or scanning result of the laser sensor 25, and outputs the result data to the laser I / O control unit 30.

【0024】レーザI/O制御部30は、内蔵のサブC
PUを有しており、そのサブCPUにより、インタフェ
ースRS232Cを介してメインCPU11から入力さ
れる制御信号と、駆動系制御部13を介して入力される
サーボモータエンコーダX15′及びサーボモータエン
コーダY16′のパルス信号計数値とに基づいてレーザ
変位計20の動作タイミングを制御し、レーザ変位計2
0から入力される測定又は走査の結果データを後述する
アルゴリズムに基づいて演算をなし、その演算により電
子部品23のリードピン情報を生成し、又はリードピン
24それぞれの変位量を算出し、その算出結果をインタ
フェースRS232Cを介してメインCPU11に出力
する。
The laser I / O control unit 30 has a built-in sub C
The sub CPU controls the control signal input from the main CPU 11 via the interface RS232C and the servo motor encoder X15 'and the servo motor encoder Y16' input via the drive system control unit 13. The operation timing of the laser displacement meter 20 is controlled based on the pulse signal count value and the laser displacement meter 2 is controlled.
An operation is performed on the measurement or scanning result data input from 0 based on an algorithm described later, and the lead pin information of the electronic component 23 is generated by the operation, or the displacement amount of each lead pin 24 is calculated. Output to the main CPU 11 via the interface RS232C.

【0025】次に、図2に、上述のようにして生成され
るリードピン情報の構成を示す。これらは、次に続くリ
ードピン測定によって得られる測定リードピン情報が正
しいか否かを判定するために用いられる。また、これら
は、上記本体制御部10のメモリ11′に記憶される電
子部品認識用マスタに格納される。
Next, FIG. 2 shows the structure of the lead pin information generated as described above. These are used to determine whether the measured lead pin information obtained by the subsequent lead pin measurement is correct. These are stored in the electronic component recognition master stored in the memory 11 'of the main body control unit 10.

【0026】同図に示す電子部品認識用マスタ11a
は、画像認識用マスタ11bと、レーザセンサ用マスタ
11cによって構成される。画像認識用マスタ11b
は、「認識コード」、「ALGO」、「方向」、「2値
レベル」、「ガイケイ」、「足付」、「オフセット」及
び「op」のデータで構成される。上記「認識コード」
は当該電子部品に対応する認識マスタを示す番号であ
る。「ALGO」は電子部品の形状に合わせて設定され
るレーザセンサのスキャン方向すなわち移載ヘッドの移
動方向及び距離を表すデータである。「方向」は電子部
品を供給する不図示のトレー又はカセットに格納されて
いる当該電子部品のXY軸が基板のXY軸に沿って正逆
いずれの向きになっているかを表すデータである。「2
値レベル」は不図示の撮像カメラで当該電子部品を撮像
して得られる画像データを2値化する際の閾値データで
ある。「ガイケイ」は当該電子部品のモールドのX軸方
向及びY軸方向の外寸法をそれぞれ0.1ミリ単位で表
すデータである。「足付」はリードピン先端を含む電子
部品のX軸方向及びY軸方向の外寸法をそれぞれ0.1
ミリ単位で表すデータである。「オフセット」は測定寸
法の誤差許容値を表すデータである。「op」はその他
必要に応じて記憶されるデータである。
The electronic component recognition master 11a shown in FIG.
Is composed of an image recognition master 11b and a laser sensor master 11c. Image recognition master 11b
Is composed of data of “recognition code”, “ALGO”, “direction”, “binary level”, “gaikake”, “foot”, “offset”, and “op”. The above "recognition code"
Is a number indicating the recognition master corresponding to the electronic component. “ALGO” is data indicating the scanning direction of the laser sensor, that is, the moving direction and distance of the transfer head, set according to the shape of the electronic component. The “direction” is data indicating whether the XY axis of the electronic component stored in a tray or a cassette (not shown) for supplying the electronic component is forward or reverse along the XY axis of the substrate. "2
The “value level” is threshold data when binarizing image data obtained by imaging the electronic component with an imaging camera (not shown). “Gaikake” is data representing the outer dimensions of the mold of the electronic component in the X-axis direction and the Y-axis direction in units of 0.1 mm. "Foot" means that the outer dimensions of the electronic component including the lead pin tip in the X-axis direction and the Y-axis direction are each 0.1
This is data expressed in millimeters. “Offset” is data representing an error tolerance of a measured dimension. “Op” is other data stored as needed.

【0027】次に、レーザセンサ用マスタ11cは、
「op1」、「op2」、「実行sw」、「BENT
Z」、「BENT XY」、「平均PITCH」、「エ
ラー」、「op3」及び「op4」のデータで構成され
る。
Next, the laser sensor master 11c
“Op1”, “op2”, “execution sw”, “BENT”
Z "," BENT XY "," average PITCH "," error "," op3 ", and" op4 ".

【0028】上記「op1」はレーザセンサによる実測
外形寸法データである。これらは、移載ヘッドの移動量
を示すエンコーダパルス数に基づいて算出し、電子部品
の厚さt、横軸方向X、及び縦軸方向Yの三種類の外寸
法を記憶する。
The above "op1" is measured external dimension data by a laser sensor. These are calculated based on the number of encoder pulses indicating the moving amount of the transfer head, and store three types of external dimensions of the electronic component thickness t, the horizontal axis direction X, and the vertical axis direction Y.

【0029】「op2」はレーザセンサによる実測リー
ドピン情報である。各辺(1〜4)毎に、リードピンの
ピッチPITCH、リードピン数PINを記憶する。測
定位置P−S・DELTは予め設定され、次に実測によ
り確定される。尚、ピッチPITCHはエンコーダパル
スから算出され、リードピン数PINはレーザセンサの
オン/オフデータによって得られる。また、外形によっ
て仮想されるリードピン数PINVは演算によって得ら
れる。同図のリードピン情報の「0」はピン無しを示
し、「1」はピン有りを示している。また、同図のリー
ドピン情報は、電子部品の1辺に最大100本のリード
ピンが配設される場合があることを示している。
"Op2" is the actual measured lead pin information by the laser sensor. The lead pin pitch PITCH and the lead pin number PIN are stored for each side (1 to 4). The measurement position PS-DELT is set in advance, and is then determined by actual measurement. Note that the pitch PITCH is calculated from the encoder pulse, and the number of lead pins PIN is obtained from on / off data of the laser sensor. The number of lead pins PINV imagined by the outer shape is obtained by calculation. "0" of the lead pin information in the same figure indicates that there is no pin, and "1" indicates that there is a pin. In addition, the lead pin information in the drawing indicates that a maximum of 100 lead pins may be provided on one side of the electronic component.

【0030】「実行sw」の「1」はリードピン浮き検
出モードフラグ、「2」はリードピン曲り検出モードフ
ラグ、そして「3」はレーザセンサによる電子部品位置
決めモードフラグである。いずれも“0”は非実行、
“1”は実行である。
"1" of "execution sw" is a lead pin floating detection mode flag, "2" is a lead pin bending detection mode flag, and "3" is an electronic component positioning mode flag by a laser sensor. In both cases, “0” is not executed,
“1” is execution.

【0031】「BENT Z」はリードピン浮き許容範
囲を表すデータであり、例えばmm単位で表される。
「BENT XY」はリードピン曲り許容範囲を表すデ
ータであり、例えば100分比(%)で表される。
"BENT Z" is data representing the allowable range of the lift of the lead pin, and is expressed, for example, in mm.
“BENT XY” is data representing a permissible range of lead pin bending, and is represented by, for example, a 100-minute ratio (%).

【0032】「平均PITCH」は四辺の実測リードピ
ン・ピッチの単純平均である。「エラー」の「HOL
D」はレーザセンサによる実測でエラーを検出したとき
当該電子部品を保持するとき“1”を、廃棄するとき
“0”を記憶する。
"Average PITCH" is a simple average of the measured lead pin pitches of the four sides. "HOL" of "Error"
"D" stores "1" when the electronic component is held when an error is detected by actual measurement by the laser sensor, and stores "0" when the electronic component is discarded.

【0033】「Retry」は上記エラーの検出に際
し、再実測回数を記憶する。「op3」及び「op4」
は必要に応じて他の適宜なデータを記憶する。続いて、
上記構成の実施例の動作を以下に説明する。
"Retry" stores the number of re-measurements upon detection of the above error. "Op3" and "op4"
Stores other appropriate data as needed. continue,
The operation of the embodiment having the above configuration will be described below.

【0034】先ず、図3に、基板に電子部品を搭載する
場合の作業手順を示す。同図に示すように、本体装置
(電子部品搭載装置)各部の調整を行い(手順SS
1)、レーザセンサの位置の調整を行い(手順SS
2)、本発明の要部である電子部品のリードピン基準情
報を生成するレーザティーチングを行って後(手順SS
3)、このレーザセンサを用いた実際の電子部品搭載処
理を行う(手順SS4)。
First, FIG. 3 shows an operation procedure for mounting an electronic component on a substrate. As shown in the figure, each part of the main body device (electronic component mounting device) is adjusted (step SS).
1) Adjust the position of the laser sensor (Step SS)
2) After performing the laser teaching for generating the lead pin reference information of the electronic component which is the main part of the present invention (procedure SS
3), an actual electronic component mounting process using this laser sensor is performed (step SS4).

【0035】次に、図4は、上記電子部品のレーザティ
ーチングの処理動作のフローチャートである。この処理
は、図1に示した本体制御部10のメインCPU11に
よる各部に対する制御によって実行される。
Next, FIG. 4 is a flowchart of a laser teaching processing operation of the electronic component. This process is executed by control of each unit by the main CPU 11 of the main body control unit 10 shown in FIG.

【0036】同図において、先ず、電子部品の厚さtを
測定する(ステップTS1)。この処理では、初め移載
ヘッド21の吸着ノズル22の吸着面を基準位置(高
さ)で測定し、この位置を測定位置として記憶する。そ
の後、図5(a) に示すように、吸着ノズル22で電子部
品23を吸着して上記の基準位置に移動させ、レーザセ
ンサ25で電子部品23のモールド底面を走査しながら
移載ヘッド21を上方へ移動させる。この移動はおよそ
距離4mmであり、移載ヘッド21を駆動するパルスモ
ータのエンコーダ出力の1パルス分ずつ移動する。この
間、レーザセンサ25はモールド底面を測定し、上記記
憶した測定位置に最も近い位置の移動量に基づいて電子
部品23の厚さtを算出して、この厚さtをメモリ1
1′の電子部品認識用マスタ11aに一旦記憶する(図
2参照)。このモールド底面から算出する電子部品23
の厚さは、図13で説明したように、実際の電子部品の
厚さではなく、これから更にリードピン先端部下面まで
の距離0.01〜0・1mmを足したものが実際の厚さ
である。したがって、ここで算出される厚さは仮の厚さ
である。
In the figure, first, the thickness t of the electronic component is measured (step TS1). In this process, first, the suction surface of the suction nozzle 22 of the transfer head 21 is measured at a reference position (height), and this position is stored as a measurement position. Thereafter, as shown in FIG. 5A, the electronic component 23 is sucked by the suction nozzle 22 and moved to the reference position, and the transfer head 21 is moved while the laser sensor 25 scans the mold bottom surface of the electronic component 23. Move upward. This movement has a distance of about 4 mm, and moves by one pulse of the encoder output of the pulse motor that drives the transfer head 21. During this time, the laser sensor 25 measures the bottom surface of the mold, calculates the thickness t of the electronic component 23 based on the amount of movement of the position closest to the stored measurement position, and stores the thickness t in the memory 1.
The information is temporarily stored in the electronic component recognition master 11a at 1 '(see FIG. 2). Electronic component 23 calculated from this mold bottom surface
Is not the actual thickness of the electronic component as described with reference to FIG. 13, but the actual thickness is obtained by adding a distance of 0.01 to 0.1 mm to the lower surface of the tip of the lead pin. . Therefore, the thickness calculated here is a temporary thickness.

【0037】続いて、電子部品23の外形測定に移り、
先ず横軸方向の寸法Xを測定する(ステップTS2)。
この処理では、上記測定した電子部品23の厚さtによ
って移載ヘッド21の測定基準位置を補正して電子部品
23のモールド底面がほぼ正しい測定位置に来るように
した後、図5(b) に示すように、電子部品23の中央か
ら横軸方向へ50mm幅で往復しながら、30μmピッ
チで縦軸方向へ移動する。これによって横軸方向に出て
いるリードピンの先端位置を検知する。リードピンが例
えば0.3mmピッチの配列であったとしても、30μ
mピッチの移動により1ピン毎に3点の計測値が得られ
る。これら計測値の最長の3個のデータを平均して電子
部品23の横軸方向の寸法Xを算出し、この寸法Xを電
子部品認識用マスタ11aに記憶する。
Next, the process proceeds to the measurement of the outer shape of the electronic component 23.
First, the dimension X in the horizontal axis direction is measured (Step TS2).
In this process, the measurement reference position of the transfer head 21 is corrected based on the measured thickness t of the electronic component 23 so that the bottom surface of the mold of the electronic component 23 is located at a substantially correct measurement position, and then FIG. As shown in (2), the electronic component 23 moves in the vertical axis direction at a pitch of 30 μm while reciprocating in the horizontal axis direction at a width of 50 mm from the center of the electronic component 23. Thereby, the position of the tip of the lead pin protruding in the horizontal axis direction is detected. Even if the lead pins are arranged at a pitch of, for example, 0.3 mm, 30 μm
By moving the m pitches, three measurement values are obtained for each pin. The longest three data of these measured values are averaged to calculate a horizontal dimension X of the electronic component 23, and this dimension X is stored in the electronic component recognition master 11a.

【0038】次に縦軸方向寸法Yを測定する(ステップ
TS3)。この処理も、上記寸法Xの場合と同様にであ
り、この場合は電子部品23の中央から縦軸方向へ50
mm幅で往復しながら、30μmピッチで横軸方向へ移
動し、これによって縦軸方向のリードピン先端位置を検
知して電子部品23の縦軸方向の寸法Yを算出する。そ
して、この寸法Yを電子部品認識用マスタ11aに記憶
する。
Next, the vertical dimension Y is measured (step TS3). This processing is also the same as the case of the dimension X.
While reciprocating in the width of mm, it moves in the horizontal axis direction at a pitch of 30 μm, thereby detecting the position of the tip of the lead pin in the vertical axis direction and calculating the dimension Y of the electronic component 23 in the vertical axis direction. Then, the dimension Y is stored in the electronic component recognition master 11a.

【0039】そして、図6に示すように、上記測定によ
り検出した外形寸法から測定位置P−S・DELTに対
応する内側を、レーザセンサ25によるスキャン(測
定)位置として設定する。
Then, as shown in FIG. 6, the inner side corresponding to the measurement position PS-DELT is set as the scan (measurement) position by the laser sensor 25 from the external dimensions detected by the above measurement.

【0040】続いて、この設定したスキャン(測定)位
置によって、電子部品23の四辺のリードピン24のピ
ン情報を測定する(ステップTS4)。この処理では、
リードピン24の本数、ピッチを測定する。この測定で
検出エラーがあれば図5(c)に示すように、所定量だけ
測定位置を移動させて再度測定を行う。そして検出エラ
ーがなければ上記移動した測定位置を新たな測定位置P
−S・DELTとして設定する。また、所定回数の再測
定を行って検出エラーが解消されないときは、当該電子
部品を廃棄して同種の新たな電子部品について測定を行
う。
Subsequently, the pin information of the lead pins 24 on the four sides of the electronic component 23 is measured based on the set scan (measurement) position (step TS4). In this process,
The number and pitch of the lead pins 24 are measured. If there is a detection error in this measurement, as shown in FIG. 5C, the measurement position is moved by a predetermined amount and the measurement is performed again. If there is no detection error, the moved measurement position is replaced with a new measurement position P.
-Set as S.DELT. If the detection error is not eliminated after the re-measurement is performed a predetermined number of times, the electronic component is discarded and measurement is performed on a new electronic component of the same type.

【0041】上記に続いて、厚さtの設定処理を行う
(TS5)。この処理は、これに続いて行われる電子部
品搭載処理におけるリードピン実測処理のために、基準
となる正しいリードピン位置(測定基準位置)を確定す
る処理である。この処理では、図7(a),(b) に示す二通
りの処理手順の内、いずれかを実行する。
Following the above, setting processing of the thickness t is performed (TS5). This process is a process for determining a correct lead pin position (measurement reference position) as a reference for the lead pin actual measurement process in the subsequent electronic component mounting process. In this processing, one of the two processing procedures shown in FIGS. 7A and 7B is executed.

【0042】同図(a) は、上述のステップTS2及びT
S3で、リードピン24の長さを検出する際、リードピ
ンの変位(高さ位置)も測定しておき、この高さ位置
(リードピン先端下面の位置)に基づいて、電子部品2
3の厚さtを算出し(ステップTS3′)、この厚さt
に基づく正しい測定基準位置で、ステップTS4の四辺
測定を行ってリードピン情報を生成した後、これらの情
報を上記算出して得られた厚さtと共に部品認識用マス
タの所定領域に設定するものである。
FIG. 3A shows the above-described steps TS2 and T2.
In S3, when detecting the length of the lead pin 24, the displacement (height position) of the lead pin is also measured, and based on this height position (the position of the lower surface of the lead pin tip), the electronic component 2 is detected.
3 (step TS3 '), and the thickness t
After generating the lead pin information by performing the four-side measurement in step TS4 at the correct measurement reference position based on the above, the information is set in a predetermined area of the component recognition master together with the thickness t obtained by the above calculation. is there.

【0043】一方、同図(b) は、図4のステップTS4
で、リードピン24の本数、ピッチを測定する際、ここ
でリードピンの変位(高さ位置)も測定しておき、この
高さ位置に基づいて、電子部品23の厚さtを算出し
(ステップTS4′)、この厚さtを、部品認識用マス
タの所定領域に設定するものである。
On the other hand, FIG. 4B shows the step TS4 in FIG.
When measuring the number and pitch of the lead pins 24, the displacement (height position) of the lead pins is also measured here, and the thickness t of the electronic component 23 is calculated based on the height position (step TS4). '), The thickness t is set in a predetermined area of the component recognition master.

【0044】図8に示すように、最初のステップTS1
でモールドの底面を測定して得た電子部品の厚さt(仮
t)は、モールドのみの厚さであって、横下方に突き出
ているリードピン先端部下面までを含む本当の厚さでは
ない。この仮tと上記ステップTS3′又はTS4′で
算出される本当の厚さ(実t)との誤差は、小さな電子
部品では0・01mm程度であるが、大きな電子部品で
は0.1mmにもなって許容限度を越える虞がある。し
たがって、電子部品実装作業においてリードピンの状
態、特に浮き不良に直結する変位量を検出するために
は、正確な電子部品の厚さを基準とした測定位置に基づ
いてリードピンの測定を行う必要がある。上記の厚さt
(実t)の設定処理は、この必要性を満たすために行っ
ている。また、これによって、オペレータによる入力作
業が省かれ、作業能率が向上する。
As shown in FIG. 8, the first step TS1
The thickness t (temporary t) of the electronic component obtained by measuring the bottom surface of the mold is the thickness of the mold only, not the true thickness including the lower surface of the tip of the lead pin projecting laterally downward. . The error between the provisional t and the true thickness (actual t) calculated in step TS3 'or TS4' is about 0.01 mm for a small electronic component, but as large as 0.1 mm for a large electronic component. May exceed the allowable limit. Therefore, in order to detect the state of the lead pin in the electronic component mounting work, in particular, the amount of displacement directly connected to the floating defect, it is necessary to measure the lead pin based on the accurate measurement position based on the thickness of the electronic component. . The above thickness t
The setting process of (actual t) is performed to satisfy this need. In addition, this eliminates the need for an operator to perform an input operation, thereby improving work efficiency.

【0045】続いて、図3に示した作業手順SS4にお
ける電子部品実装処理に際し、リードピン不良の検出処
理を行う本実施例の動作を、図9及び図10に示すフロ
ーチャートを用いて説明する。なお、この処理は、本体
制御部10のメインCPU11により図9のフローチャ
ートに示す処理がなされ、レーザI/O制御部30によ
り図10のフローチャートに示す処理がなされる。
Next, the operation of this embodiment for detecting lead pin defects in the electronic component mounting process in the work procedure SS4 shown in FIG. 3 will be described with reference to the flowcharts shown in FIGS. In this process, the process shown in the flowchart of FIG. 9 is performed by the main CPU 11 of the main body control unit 10, and the process shown in the flowchart of FIG. 10 is performed by the laser I / O control unit 30.

【0046】図9に示すフローチャートにおいて、メイ
ンCPU11は、先ずオリジン動作の処理を行う(ステ
ップM1)。この処理は、電源が投入された稼動開始時
において、X軸方向、Y軸方向、回転方向、上下方向等
の各駆動系を駆動して、移載ヘッド21を基準位置に設
定・停止させる処理である。
In the flowchart shown in FIG. 9, the main CPU 11 first performs an origin operation (step M1). In this process, at the start of operation when the power is turned on, the respective drive systems in the X-axis direction, the Y-axis direction, the rotation direction, the vertical direction, and the like are driven to set and stop the transfer head 21 at the reference position. It is.

【0047】続いて、レーザI/O制御部30に、I/
F制御部12を介してレーザI/Oイニシャライズ指令
Aを出力する(ステップM2)。これにより、レーザI
/O制御部30は後述するイニシャルモードの設定処理
を行って、そのイニシャルモード設定の終了をメインC
PU11に通知する。
Subsequently, the laser I / O control unit 30 sends the I / O
A laser I / O initialization command A is output via the F control unit 12 (step M2). Thereby, the laser I
The / O control unit 30 performs an initial mode setting process, which will be described later, and determines the end of the initial mode setting in the main C / O mode.
Notify PU11.

【0048】メインCPU11は、そのイニシャルモー
ド設定の終了を確認した後(ステップM3)、移載ヘッ
ド21を不図示の部品載置台へ移動させ、吸着ノズル2
2により所定の電子部品23を吸着し、その電子部品2
3のラフセンタリングのための画像認識処理を行う(ス
テップM4)。
After confirming the end of the initial mode setting (step M3), the main CPU 11 moves the transfer head 21 to the component mounting table (not shown), and
2, a predetermined electronic component 23 is sucked, and the electronic component 2
Image recognition processing for rough centering 3 is performed (step M4).

【0049】この処理は、本体装置基台上の基板を案内
する案内レール近傍に配設されている画像認識用カメラ
の上方に移載ヘッド21を移動させ、吸着されている電
子部品23の吸着状態を画像認識用カメラにより撮像
し、撮像により得られた電子部品23の画像を認識し
て、電子部品23の各辺が、それぞれX軸方向及びY軸
方向を向くよう移載ヘッド21を回転補正し、さらに基
準視野の中心からズレている電子部品23の中心の位置
補正をする処理である。これにより、電子部品23のリ
ードピン24の走査の準備が完了する。
In this process, the transfer head 21 is moved above the image recognition camera disposed near the guide rail for guiding the substrate on the main unit base, and the suction of the sucked electronic components 23 is performed. The state is imaged by the image recognition camera, and the image of the electronic component 23 obtained by the imaging is recognized, and the transfer head 21 is rotated so that each side of the electronic component 23 faces the X-axis direction and the Y-axis direction, respectively. This is a process of correcting and further correcting the position of the center of the electronic component 23 deviated from the center of the reference visual field. Thus, the preparation for scanning the lead pins 24 of the electronic component 23 is completed.

【0050】次に、レーザI/O制御部30に、移載ヘ
ッド21の移動のためのサーボモータエンコーダX1
5′のパルス数データと共にリードピン24の配設位置
の変位量測定指令Bを出力する(ステップM5)。これ
により、レーザI/O制御部30は後述するリードピン
変位量測定の処理開始をメインCPU11に通知した
後、そのリードピン変位量測定の処理を実行し、その
後、リードピン変位量測定の終了をメインCPU11に
通知する。
Next, a servo motor encoder X1 for moving the transfer head 21 is provided to the laser I / O control unit 30.
The displacement amount measurement command B of the arrangement position of the lead pin 24 is output together with the pulse number data of 5 '(step M5). As a result, the laser I / O control unit 30 notifies the main CPU 11 of the start of a lead pin displacement measurement process, which will be described later, and then executes the lead pin displacement measurement process, and then terminates the lead pin displacement measurement. Notify.

【0051】メインCPU11は、レーザI/O制御部
30によるリードピン変位量測定の開始を確認した後
(ステップM6)、X軸サーボモータ15(又はY軸サ
ーボモータ16)を所定パルス数分駆動して移載ヘッド
21を移動させる(ステップM7)。これにより、図1
2に示したリードピン走査時の、吸着ノズル2が位置2
−1から位置2−2へ移動する場合と同様に、移載ヘッ
ド21の吸着ノズル22が移動し、吸着ノズル22に吸
着されている電子部品23の1辺のリードピン24がレ
ーザ変位計20のレーザセンサ25により走査される。
After confirming the start of the lead pin displacement measurement by the laser I / O control unit 30 (step M6), the main CPU 11 drives the X-axis servo motor 15 (or Y-axis servo motor 16) by a predetermined number of pulses. Then, the transfer head 21 is moved (Step M7). As a result, FIG.
When the lead pin shown in FIG.
Similarly to the case of moving from -1 to the position 2-2, the suction nozzle 22 of the transfer head 21 moves, and the lead pin 24 on one side of the electronic component 23 sucked by the suction nozzle 22 Scanning is performed by the laser sensor 25.

【0052】続いて、レーザI/O制御部30によるリ
ードピン変位量測定の終了を確認して(ステップM
8)、電子部品23の4辺のリードピン24の走査を完
了しているか否か判別する(ステップM9)。この処理
は、例えば、メインCPU11内蔵の減算レジスタに
「4」を設定し、1辺の走査処理終了毎に「1」減算し
て、減算レジスタが「0」になったか否か判別する処理
である。
Subsequently, it is confirmed that the measurement of the lead pin displacement amount by the laser I / O control unit 30 has been completed (step M).
8) It is determined whether or not the scanning of the lead pins 24 on the four sides of the electronic component 23 has been completed (step M9). This process is, for example, a process of setting “4” in a subtraction register built in the main CPU 11, subtracting “1” each time scanning processing of one side is completed, and determining whether the subtraction register has become “0”. is there.

【0053】そして、まだ4辺のリードピン24の走査
が完了していない場合は、上記ステップM5に戻り、ス
テップM5〜M9を繰り返す。ステップM5で、変位量
測定指令Bと共に出力する移載ヘッド21の移動のため
のパルス数データは、1辺の走査処理毎に、サーボモー
タエンコーダX15′のパルス数データ、サーボモータ
エンコーダY16′のパルス数データ、再びサーボモー
タエンコーダX15′の逆回転パルス数データ、そして
サーボモータエンコーダY16′の逆回転パルス数デー
タと、順次、変化する。
If the scanning of the lead pins 24 on the four sides has not been completed yet, the process returns to step M5, and steps M5 to M9 are repeated. In step M5, the pulse number data for the movement of the transfer head 21 output together with the displacement amount measurement command B includes the pulse number data of the servo motor encoder X15 'and the pulse number data of the servo motor encoder Y16' for each scanning process of one side. The pulse number data, the reverse rotation pulse number data of the servo motor encoder X15 ', and the reverse rotation pulse number data of the servo motor encoder Y16' sequentially change again.

【0054】このようにして、4辺のリードピン24の
走査を行い、ステップM9で、4辺の走査完了を確認し
た後、レーザI/O制御部30に、リードピン24の測
定(走査)データの判定結果を出力するようリードピン
測定データ判定指令Cを出力する(ステップM10)。
これにより、レーザI/O制御部30は後述するリード
測定データ判定処理を行って、その処理の結果をメイン
CPU11に通知する。
In this manner, the scanning of the lead pins 24 on the four sides is performed. After confirming the completion of the scanning on the four sides in step M9, the laser I / O control unit 30 sends the measured (scanned) data A lead pin measurement data determination command C is output so as to output a determination result (step M10).
Thus, the laser I / O control unit 30 performs a read measurement data determination process described later, and notifies the main CPU 11 of the result of the process.

【0055】メインCPU11は、レーザI/O制御部
30からリード測定データ判定結果が入力したことを確
認し(ステップM11)、その入力した結果に基づく処
理を実行する(ステップM12)。この処理では、レー
ザI/O制御部30により判定されたリード浮き、即ち
リードピン配設位置の変位量が、許容値以内であれば、
基板に電子部品23を搭載する処理を実行し、一方、リ
ードピン配設位置の変位量が、許容値を超えている場合
は、その電子部品23を廃棄する処理に実行する。
The main CPU 11 confirms that the read measurement data judgment result has been input from the laser I / O control unit 30 (step M11), and executes a process based on the input result (step M12). In this process, if the lead floating determined by the laser I / O control unit 30, that is, the displacement amount of the lead pin arrangement position is within the allowable value,
The process of mounting the electronic component 23 on the board is executed. On the other hand, if the displacement of the lead pin arrangement position exceeds the allowable value, the process is executed to discard the electronic component 23.

【0056】次に、上記メインCPU11の指令に基づ
いてレーザI/O制御部30が行う処理を説明する。図
10に示すフローチャートにおいて、先ずメインCPU
11から入力されるイニシャライズ指令Aを待機する
(ステップS1)。
Next, the processing performed by the laser I / O control unit 30 based on the command from the main CPU 11 will be described. In the flowchart shown in FIG.
It waits for an initialization command A input from the CPU 11 (step S1).

【0057】そして、イニシャライズ指令Aを入力され
た場合は、イニシャルモードを設定する(ステップS
2)。この処理は、内蔵のカウンタ、メモリ等をクリア
し、さらにレーザセンサ25をリード走査モードに設定
する等の処理である。
When the initialization command A is inputted, the initial mode is set (step S).
2). This process is a process of clearing a built-in counter, memory, and the like, and setting the laser sensor 25 to a read scanning mode.

【0058】上記処理を終了して、メインCPU11か
ら入力されるリード変位量測定指令Bを待機する(ステ
ップS3)。そして、リードピン変位量測定指令Bを入
力された場合は、リードピン変位量測定を実行する(ス
テップS4)。この処理は、リードピン変位量測定指令
Bと共に入力されるサーボモータエンコーダのパルス数
データをレジスタに設定し、メインCPU11には、リ
ードピン変位量測定開始を通知し、一方、レーザ変位計
20の変位計コントローラ28には、制御信号を出力し
て、レーザセンサ25にレーザ照射を開始させてリード
ピン24の走査を開始させ、その反射光を取り込ませ
て、反射光データに基づくリード位置の測定を行わせ、
その測定によるリード配設位置データをメモリに記憶
し、それらの処理を、本体制御部10の駆動系制御部1
3を介して入力されるサーボモータエンコーダX15′
又はY16′のパルス数データとレジスタに記憶してい
るパルス数データとが一致するまで繰り返し、上記双方
のパルス数データが一致したときは、測定を終了させ、
レーザ照射をオフにさせて、メインCPU11に測定処
理の終了を通知する処理である。
After the above processing is completed, a read displacement measurement command B input from the main CPU 11 is awaited (step S3). Then, when the lead pin displacement amount measurement command B is input, the lead pin displacement amount measurement is executed (step S4). In this process, the pulse number data of the servo motor encoder input together with the lead pin displacement amount measurement command B is set in a register, and the main CPU 11 is notified of the start of the lead pin displacement amount measurement. The controller 28 outputs a control signal to cause the laser sensor 25 to start laser irradiation to start scanning of the lead pin 24, to capture the reflected light, and to measure the lead position based on the reflected light data. ,
The lead arrangement position data based on the measurement is stored in the memory, and the processing is performed by the drive system control unit 1 of the main body control unit 10.
3 is input via the servo motor encoder X15 '.
Or, it repeats until the pulse number data of Y16 'matches the pulse number data stored in the register, and when the both pulse number data match, the measurement is terminated,
This is a process of turning off the laser irradiation and notifying the main CPU 11 of the end of the measurement process.

【0059】上記処理の終了後、メインCPU11から
入力されるリード測定データ判定指令Cを待機する(ス
テップS5)。そして、リード測定データ判定指令Cを
入力された場合は、リード測定データの判定処理を実行
する(ステップS6)。この処理は、走査により得られ
たリード測定データ(リードピン24の配設位置デー
タ)をメモリから読み出し、その読み出したリード測定
データを一辺毎に解析し、先にメモリ11′の部品認識
用マスタの所定領域に設定した当該電子部品23のリー
ドピン情報を読み出して、欠損、破損等のリードピンエ
ラーがあるか否か判別した後、次に、リードピン24の
配設位置データの変位量を算出する処理である。
After the above processing is completed, the process waits for a read measurement data determination command C input from the main CPU 11 (step S5). Then, when the lead measurement data determination command C is input, a determination process of the lead measurement data is performed (step S6). In this process, read measurement data (positioning data of the lead pins 24) obtained by scanning is read from the memory, and the read measurement data is analyzed for each side. After reading out the lead pin information of the electronic component 23 set in the predetermined area and determining whether there is a lead pin error such as loss or breakage, next, a process of calculating a displacement amount of the arrangement position data of the lead pin 24 is performed. is there.

【0060】このようにして、測定された変位量は、レ
ーザI/O制御部30からインタフェースRS232C
及びI/F制御部12を介して本体制御部10のメイン
CPU11に出力される。メインCPU11は、図9の
ステップM12において、この変位量に基づいて電子部
品23の良不良を判断する。
The displacement thus measured is transmitted from the laser I / O control unit 30 to the interface RS232C.
The data is output to the main CPU 11 of the main body control unit 10 via the I / F control unit 12. The main CPU 11 determines the quality of the electronic component 23 based on the displacement amount in step M12 of FIG.

【0061】[0061]

【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
電子部品のリードピン測定に必要な電子部品の正確な厚
さ及び外形寸法を自動的に走査して設定できるので、測
定基準データとなるリードピン情報を自動的に生成する
ことが可能となり、したがって、オペレータによる測定
基準データの事前入力が不用となり、基板への電子部品
実装作業の能率が向上する。
As described in detail above, according to the present invention,
Since the accurate thickness and external dimensions of the electronic component required for measuring the lead pin of the electronic component can be automatically scanned and set, it is possible to automatically generate the lead pin information serving as measurement reference data, and therefore, the operator This eliminates the need for prior input of measurement reference data, thereby improving the efficiency of mounting electronic components on a board.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】一実施例に係わる電子部品認識装置の構成ブロ
ック図である。
FIG. 1 is a configuration block diagram of an electronic component recognition device according to one embodiment.

【図2】自動的に生成されるリードピン情報のデータ構
成を説明する図である。
FIG. 2 is a diagram illustrating a data configuration of automatically generated lead pin information.

【図3】本実施例における基板に電子部品を搭載する作
業手順を示す図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating an operation procedure for mounting an electronic component on a substrate according to the embodiment.

【図4】レーザティーチングの処理動作のフローチャー
トである。
FIG. 4 is a flowchart of a laser teaching processing operation.

【図5】(a) は電子部品の厚さを測定する方法を説明す
る図、(b) は電子部品の外形寸法を測定する方法を説明
する図、(c) はリードピンの測定位置の設定方法を説明
する図である。
5A is a diagram illustrating a method of measuring the thickness of an electronic component, FIG. 5B is a diagram illustrating a method of measuring the external dimensions of the electronic component, and FIG. It is a figure explaining a method.

【図6】電子部品の外形寸法と測定位置との関係を示す
図である。
FIG. 6 is a diagram illustrating a relationship between an external dimension of an electronic component and a measurement position.

【図7】(a),(b) はリードピンの測定基準位置を確定す
る二通りの処理手順を示す図である。
FIGS. 7A and 7B are diagrams showing two processing procedures for determining a measurement reference position of a lead pin.

【図8】電子部品の仮の厚さ(仮t)と本当の厚さ(実
t)との関係を説明する図である。
FIG. 8 is a diagram illustrating a relationship between a provisional thickness (provisional t) and a real thickness (actual t) of an electronic component.

【図9】本体制御部のメインCPUの動作を説明するフ
ローチャートである。
FIG. 9 is a flowchart illustrating an operation of a main CPU of the main body control unit.

【図10】レーザI/O制御部の動作を説明するフロー
チャートである。
FIG. 10 is a flowchart illustrating an operation of a laser I / O control unit.

【図11】従来のレーザセンサにより電子部品を測定す
る場合の状態を示す図である。
FIG. 11 is a diagram illustrating a state in which an electronic component is measured by a conventional laser sensor.

【図12】レーザセンサにより測定される電子部品の移
動方法の一例を示す図である。
FIG. 12 is a diagram illustrating an example of a method of moving an electronic component measured by a laser sensor.

【図13】電子部品のリードピンの測定位置を説明する
図である。
FIG. 13 is a diagram illustrating a measurement position of a lead pin of an electronic component.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1、21 移載ヘッド 2、22 吸着ノズル 2−1、2−2、2−3、2−4 吸着ノズルの移動位
置 3、23 電子部品 4、24 リードピン 4−1、4−2、4−3、4−4、4−5、4−6 リ
ードピン測定位置 5、25 レーザセンサ 6 発射口 7 受光部 10 本体制御部 11 メインCPU 11′ メモリ 11a 電子部品認識用マスタ 11b 画像認識用マスタ 11c レーザセンサ用マスタ 12 I/F制御部 13 駆動系制御部 14 入出力ポート 15 X軸サーボモータ 15′ サーボモータエンコーダX 16 Y軸サーボモータ 16′ サーボモータエンコーダY 20 レーザ変位計 28 変位計コントローラ 30 レーザI/O制御部 S1、S2、S2、S3 リードの走査部位
1, 21 Transfer head 2, 22 Suction nozzle 2-1 2-2, 2-3, 2-4 Movement position of suction nozzle 3, 23 Electronic component 4, 24 Lead pin 4-1 4-2, 4- 3, 4-4, 4-5, 4-6 Lead pin measurement position 5, 25 Laser sensor 6 Emission port 7 Light receiving section 10 Main body control section 11 Main CPU 11 'Memory 11a Electronic component recognition master 11b Image recognition master 11c Laser Sensor master 12 I / F controller 13 Drive system controller 14 I / O port 15 X-axis servo motor 15 'Servo motor encoder X 16 Y-axis servo motor 16' Servo motor encoder Y 20 Laser displacement meter 28 Displacement meter controller 30 Laser I / O control unit S1, S2, S2, S3 Scanning part of lead

Claims (5)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 レーザセンサを用いて移載ヘッドの吸着
ノズルに吸着された電子部品のリードピンの状態を認識
する電子部品認識装置において、前記電子部品を上方移動して 前記電子部品の仮の厚さを
計測する厚さ計測手段と、前記電子部品のリードピンの変位を測定する変位測定手
段と 該変位測定手段及び前記仮 厚さ計測手段により得られた
それぞれの厚さデータを加えた厚さの分だけ前記レーザ
センサの測定焦点の距離補正を行い、この距離補正され
た測定焦点によって前記電子部品の外寸法を計測する外
形計測手段と、 該外形計測手段により得られた外寸法データに基づい
て、前記電子部品のリードピンの測定部位を算出し、この
算出された測定部位によって前記電子部品のリードピン
の状態を計測するリードピン計測手段と、 を備えたことを特徴とする電子部品認識装置。
An electronic component recognizing device for recognizing a state of a lead pin of an electronic component sucked by a suction nozzle of a transfer head using a laser sensor, wherein the electronic component is moved upward to temporarily store the temporary thickness of the electronic component. A temporary thickness measuring means for measuring the thickness, and a displacement measuring means for measuring a displacement of a lead pin of the electronic component.
And the step , obtained by the displacement measuring means and the temporary thickness measuring means
Outer shape measuring means for correcting the distance of the measurement focal point of the laser sensor by an amount corresponding to the thickness obtained by adding the respective thickness data , and measuring the outer dimensions of the electronic component with the distance corrected measuring focus; A lead pin measuring unit for calculating a lead pin measurement site of the electronic component based on the external dimension data obtained by the means, and measuring a state of the lead pin of the electronic component based on the calculated measurement site. Electronic component recognition device characterized by the above-mentioned.
【請求項2】 前記厚さ計測手段は、前記移載ヘッド
の吸着ノズルに吸着された前記電子部品のモールド底部
を計測しながら前記電子部品のモールド底部を予め記憶
される基準位置となるまで上方移動させて前記電子部品
の仮の厚さを計測することを特徴とする請求項1記載の
電子部品認識装置。
2. The method according to claim 1, wherein the provisional thickness measuring unit measures a mold bottom of the electronic component sucked by a suction nozzle of the transfer head and stores a mold bottom of the electronic component in advance.
The electronic component is moved upward until a reference position
2. The electronic component recognition device according to claim 1 , wherein the provisional thickness of the electronic component is measured .
【請求項3】 前記リードピン計測手段により計測され
る前記電子部品のリードピン状態は、該リードピン先端
部下面の前記レーザセンサからの距離であることを特徴
とする請求項1記載の電子部品認識装置。
3. The electronic component recognizing device according to claim 1, wherein the lead pin state of the electronic component measured by the lead pin measuring means is a distance from a lower surface of the tip of the lead pin to the laser sensor.
【請求項4】 前記リードピン計測手段により計測され
る前記電子部品のリードピン状態は、該リードピン先端
部の配列ピッチであ 前記リードピン計測手段は 計測される前記リードピン
先端部の配列ピッチに検出エラーが生じると 所定量だ
け計測位置を移動させて再度計測す ることを特徴とする
請求項1記載の電子部品認識装置。
4. A lead pin state of the electronic component measured by said lead pin measuring means, Ri arrangement pitch der of the lead pin tip, the lead pin measuring means, the measured lead pin
When the detection error occurs in the arrangement pitch of the distal end portion's predetermined amount
Only measuring position the electronic component recognizing apparatus according to claim 1, wherein that you measured again by moving the.
【請求項5】 前記リードピン計測手段により計測され
る前記電子部品のリードピン状態は、該リードピン先端
部の配列本数であ 前記リードピン計測手段は 計測される前記リードピン
先端部の配列本数に検出エラーが生じると 所定量だけ
計測位置を移動させて再度計測す ることを特徴とする請
求項1記載の電子部品認識装置。
5. The lead pin state of the electronic component measured by said lead pin measuring means, Ri sequence number der of the lead pin tip, the lead pin measuring means, the measured lead pin
If a detection error occurs in the number of arrays at the tip , only a predetermined amount
Electronic component recognition device according to claim 1 wherein moving characterized that you again measured measurement position.
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