JPH0719142Y2 - 気相成長装置 - Google Patents

気相成長装置

Info

Publication number
JPH0719142Y2
JPH0719142Y2 JP16650085U JP16650085U JPH0719142Y2 JP H0719142 Y2 JPH0719142 Y2 JP H0719142Y2 JP 16650085 U JP16650085 U JP 16650085U JP 16650085 U JP16650085 U JP 16650085U JP H0719142 Y2 JPH0719142 Y2 JP H0719142Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
vapor phase
heating coil
phase growth
winding
susceptor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP16650085U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6276528U (ja
Inventor
公弟 岩田
武敏 石川
義教 中川
忠正 古屋
秀雄 西城
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electronics Industry Co Ltd
Shibaura Machine Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electronics Industry Co Ltd
Toshiba Machine Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electronics Industry Co Ltd, Toshiba Machine Co Ltd filed Critical Fuji Electronics Industry Co Ltd
Priority to JP16650085U priority Critical patent/JPH0719142Y2/ja
Publication of JPS6276528U publication Critical patent/JPS6276528U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0719142Y2 publication Critical patent/JPH0719142Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 〔考案の技術分野〕 本考案は、半導体基板(ウエハ)を載置するサセプタを
高周波誘導加熱コイルにより加熱する方式の気相成長装
置に係わり、特に反応室内に高周波誘導加熱コイルを配
置し、反応室を大気圧以下にして反応を行なう減圧型気
相成長装置として有用な気相成長装置に関する。
〔考案の技術的背景とその問題点〕
従来、半導体基板(ウエハ)等の上に薄膜を形成するた
めの気相成長装置は、反応室を大気圧程度の圧力に保っ
て反応を行なう常圧型気相成長装置が一般的であった。
近年、例えばエピタキシャル成長においても、オートド
ーピングの低減、パターンシフトの減少および膜厚、抵
抗率の分布の均一化等の目的のため反応室内を大気圧以
下にして反応を行なう減圧型気相成長装置が用いられ始
めている。
一方、気相成長装置の加熱方式としては、ランプによる
輻射加熱の他に、高周波誘導加熱コイル(以後単に加熱
コイルという)による高周波誘導加熱を用いるのが一般
的である。また、減圧型気相成長装置においても、基本
的には常圧型気相成長装置に用いられてきた加熱コイル
と同様な単巻の加熱コイルが用いられている。
しかしながら、反応室がキャリアガスである水素ガス減
圧雰囲気で加熱コイルに電圧を印加すると、ガス圧と電
極のギャップ長とによって決まる電圧で放電が発生する
ため、それ以下の圧力で成長を行なうことができない。
また、成長温度が高い程、加熱コイルの印加電圧は高く
なるので成長圧力を低く出来ない。
減圧気相成長法の目的であるオートドーピングの低減
は、成長温度が高いほど有効であり、シリコン原料とし
て四塩化ケイ素を使用した場合のパターンシフトの低下
は、成長圧力が低く、成長温度が高いほど効果的である
ことが知られている。
しかし、例えば直径700mmのサセプタを用いた場合、従
来の単巻加熱コイルでは、印加電圧が5000V近くまで上
がり成長温度1200℃の時に80Torr以下には下げられず、
これらの効果は満足すべきものでは無かった。
〔考案の目的〕
本考案は、上記事情に基づきなされたもので、その目的
とするところは、高周波誘導加熱コイルへの印加電圧を
下げて放電開始電圧を低くし、安定した減圧気相成長を
可能とした気相成長装置を提供しようとするものであ
る。
〔考案の概要〕
本考案は、上記目的を達成すべく、反応室内の高周波誘
導加熱コイルを多重巻として、この高周波誘導加熱コイ
ルへの印加電圧を下げるように構成したものである。
〔考案の実施例〕
以下、本考案の一実施例を第1図ないし第2図を参照し
て説明する。第1図において、1は、基台2およびこの
基台2上に載置されたベルジャー3によって形成された
反応室であり、この反応室1内にはサセプタ4が設けら
れている。
上記サセプタ4は、基台2に設けられた回転支持部材5
により回転自在に支持され、図示しない駆動手段によっ
て駆動されるサセプタ支え6に取付けられた状態となっ
ている。
また、サセプタ支え6の軸心部を貫通した状態に原料ガ
ス導入ノズル7が設けられている。
なお、上記構成は、公知であり詳細な説明は省略する。
さらに、上記サセプタ4の下面側に近接して、多重巻高
周波誘導加熱コイルとしての二重巻高周波誘導加熱コイ
ル(以後単に二重巻加熱コイルという)8が配置されて
いる。
この二重巻加熱コイル8は、2本の渦巻き状の高周波誘
導加熱コイル(以後単に加熱コイルという)8a,8bをほ
ぼ平面状に配列したものであり、これら加熱コイル8a,8
bはそれぞれ基台2にある導入部9aおよび9bを介してブ
スバー10に並列に接続され、図示しない高周波誘導加熱
装置に接続されている。
このような二重加熱コイル8の場合、隣接する異なる加
熱コイル8a,8b間のピッチを一重巻加熱コイルのピッチ
と略同一にして同程度の加熱能力を持たせた場合、合成
インピーダンスは、一重巻加熱コイルの場合の1/4とな
り、電極間の印加電圧は1/2になる。
本実施例により実際の実験を行なった所、成長温度1200
℃、印加電圧約2500Vで水素雰囲気30Torrでも放電は発
生しなかった。
また、加熱コイル8a,8bの、巻始め巻終りの複数の各端
部8a1と8b1,8a2と8b2をそれぞれできるだけ同一位相に
近付けるように接近させ、加熱効率を高める構成となっ
ている。
なお、位相が180°ずれている二重巻加熱コイル8を使
用した場合、位相のずれによって磁界がキャンセルさ
れ、一重巻に比べて加熱効率が悪く、しかも、サセプタ
4を均一に加熱するために、二重巻加熱コイル8とサセ
プタ4との間隔を全周に亙って大きく変化させなければ
ならなかった。
また、前述の一実施例では、二重巻加熱コイル8の、巻
始めと巻終わりに隣接するターン部のサセプタ投影面積
との空間部11a,11b,11c,11dに補足する手段が何等設け
ていないものであったが、第3図に示すように、前記タ
ーン部の側面にそれぞれ放熱部材としてのヒレ部材12a,
12b,12c,12dを一体的に取付け、ターン部のサセプタ投
影面積との空間部11a,11b,11c,11dを熱的に補足するこ
とにより、サセプタ4をより均一に加熱し得るように構
成しても良い。
また、上記実施例において、平板上のサセプタに沿った
渦巻き状の高周波誘導加熱コイルに適用した例とした
が、本考案はこれに限らず、バレル型のサセプタに沿っ
たつる巻状の高周波誘導加熱コイルを有する他の方式の
気相成長装置に適用しても良い。
また、常圧用気相成長装置として使用しても何等支障は
ない。
さらに、高周波誘導加熱コイルを二重巻にしたものに付
いて説明したが、三重巻以上であっても良いことは勿論
である。
その他、本考案は、本考案の要旨を変えない範囲で種々
変形実施可能なことは勿論である。
なお、上述の他の実施例(第3図)の説明において、前
述の一実施例と同一部分は同一の符号を付して詳細な説
明を省略する。
〔考案の効果〕
本考案は、以上説明したように、反応室内の高周波誘導
加熱コイルを多重巻として、この高周波誘導加熱コイル
への印加電圧を下げるようにしたから、放電開始電圧を
低くでり安定した減圧気相成長ができる気相成長装置を
提供できるといった効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例を示す概略的縦断正面図、第
2図は第1図II-II線に沿う高周波誘導加熱コイルの平
面図、第3図は本考案要部の他の実施例を示す平面図で
ある。 1……反応室、4……サセプタ、8……多重巻高周波誘
導加熱コイル、8a1,8a2,8b1,8b2……高周波誘導加熱コ
イルの端部、11a,11b11c……空間部、12a,12b,12c……
放熱部材(ヒレ部材)。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 中川 義教 静岡県沼津市大岡2068の3 東芝機械株式 会社沼津事業所内 (72)考案者 古屋 忠正 静岡県沼津市大岡2068の3 東芝機械株式 会社沼津事業所内 (72)考案者 西城 秀雄 埼玉県入間郡鶴ヶ島町富士見6丁目2番22 号 富士電波工機株式会社内

Claims (3)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】反応室内に位置するサセプタと、前記反応
    室内にあって、前記サセプタに近接して配置される高周
    波誘導加熱コイルとを有する気相成長装置において、前
    記高周波誘導加熱コイルを多重巻にしたことを特徴とす
    る気相成長装置。
  2. 【請求項2】多重巻コイルの巻始めと巻終わりの複数の
    各端部を、互いに接近させたことを特徴とする実用新案
    登録請求の範囲第1項記載の気相成長装置。
  3. 【請求項3】多重巻コイルの巻始めと巻終わりに隣接す
    るターン部の側面に、サセプタ投影面積との空間部を熱
    的に補足するための放熱部材を備えていることを特徴と
    する実用新案登録請求の範囲第1項記載の気相成長装
    置。
JP16650085U 1985-10-31 1985-10-31 気相成長装置 Expired - Lifetime JPH0719142Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16650085U JPH0719142Y2 (ja) 1985-10-31 1985-10-31 気相成長装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16650085U JPH0719142Y2 (ja) 1985-10-31 1985-10-31 気相成長装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6276528U JPS6276528U (ja) 1987-05-16
JPH0719142Y2 true JPH0719142Y2 (ja) 1995-05-01

Family

ID=31097535

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP16650085U Expired - Lifetime JPH0719142Y2 (ja) 1985-10-31 1985-10-31 気相成長装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0719142Y2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9410474B2 (en) 2010-12-06 2016-08-09 Mcalister Technologies, Llc Integrated fuel injector igniters configured to inject multiple fuels and/or coolants and associated methods of use and manufacture

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9410474B2 (en) 2010-12-06 2016-08-09 Mcalister Technologies, Llc Integrated fuel injector igniters configured to inject multiple fuels and/or coolants and associated methods of use and manufacture

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6276528U (ja) 1987-05-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4579080A (en) Induction heated reactor system for chemical vapor deposition
CN109280976B (zh) 一种大尺寸高纯碳化硅单晶、单晶衬底及其制备方法
KR101349945B1 (ko) 성막 장치 및 성막 방법
JPH05166741A (ja) 熱処理装置用基板支持具
EP0147967B1 (en) Induction heated reactor system for chemical vapor deposition
JPS6312128A (ja) バレル型気相成長装置
US6118100A (en) Susceptor hold-down mechanism
KR20050039709A (ko) 물품을 제어가능하게 가열하는 방법 및 유도 가열 장치
KR19990013713A (ko) 오버헤드 솔레노이드 안테나 및 모듈식 플라즈마 구속자석 라이너를 가지는 유도 결합된 rf 플라즈마 반응기
JP2003520746A (ja) 基板をエピタキシャルにより処理するための装置及び方法
EP2535444A1 (en) Method for producing silicon carbide crystal and silicon carbide crystal
JPH0719142Y2 (ja) 気相成長装置
US3471326A (en) Method and apparatus for epitaxial deposition of semiconductor material
CN109280964B (zh) 一种生长碳化硅单晶的热场结构
JP3206375B2 (ja) 単結晶薄膜の製造方法
CN210765582U (zh) 用于碳化硅外延的加热装置
JP2007180132A (ja) サセプタ及びそのサセプタを用いたcvd装置
JP7255473B2 (ja) 炭化ケイ素多結晶基板の製造方法
US6995036B2 (en) Production method of α-SiC wafer
US4590024A (en) Silicon deposition process
JP2013075793A (ja) 単結晶の製造装置、および単結晶の製造方法
JPH046826A (ja) 熱処理装置
JPS58125608A (ja) グラフアイト板の表面に均一なSiC膜を形成する方法とその装置
JP2504489B2 (ja) 化学気相成長法
JPS5837000A (ja) エピタキシヤル成長装置および成長方法