JPH07190771A - 測量方法及びこれに用いる測量装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【構成】ターゲットを鉛直状態に合わせる必要なく、正
確な測位を行う。 【効果】各々に反射テープ７１が被着された上反射部７
Ｔと下反射部７Ｂが、これ等７Ｔ、７Ｂと先端６ｂが上
下方向に間隔Ｌ２、Ｌ２をなすように設けられたターゲ
ット５を用いて、先端６ｂが測位点ＰＸｎに接する形に
しておく。基準点Ｐ１、Ｐ２にそれぞれレーザユニット
３、３を設置し、ここからレーザ光３９を射出させ、各
反射部７Ｔ、７Ｂからの反射光３９’の入射角度θ１に
基づいて、上反射部７Ｔと下反射部７Ｂの平面座標位置
（Ｘｔ、Ｙｔ）、（Ｘｂ、Ｙｂ）を求め、両者７Ｔ、７
Ｂ間の相対変位ＴＢに基づいて、先端６ｂの位置を演算
によって算出し、該先端位置を測位点ＰＸｎの平面座標
位置（Ｘｎ、Ｙｎ）として出力する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、レーザ光等の測量光を
用いてターゲットが位置する地点を測位検出する、測量
方法及びこれに用いる測量装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】最近、地点の位置を測位検出する際に、
新規な測量技術によって作業の省力化を図ろうとする試
みがいろいろとなされている。例えば、レーザ光を用い
て、少なくとも２台のレーザユニットから、該レーザ光
を水平方向に走査する形で射出し、その表面に反射部材
を被着したポール状のターゲットに該レーザ光をそれぞ
れ照射し、該ターゲットに反射したレーザ光の反射光を
各々のレーザユニット位置で捉えることによって、レー
ザユニットの位置とこれが捉えた反射光の入射角度に基
づいて、ターゲットが位置する地点を特定する形で、該
ターゲットが指示する地点の座標位置を検出せんとする
測位方法が試案されている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】ところで、こうした測
位方法では、レーザ光を所定高さ位置の水平面上に照射
して、該レーザ光が照射された水平面上に位置する箇所
のターゲットの座標位置を、求める地点の平面座標位置
として検出するので、ターゲットが正確に鉛直方向に向
いて立設されていなければならない。即ち、ターゲット
が鉛直方向に対して傾いていると、該ターゲットの先端
が指示している地点の座標位置と、上述したようにレー
ザ光の反射光によって検出されるターゲットの座標位置
が一致しない、という不都合がある。しかし、ターゲッ
トを測位すべき地点上に設置する際に、該ターゲットを
鉛直状態に一々合わせるのは大変である。また、前記し
た測位方法では、レーザユニットが射出したレーザ光の
照射平面内にターゲットが配置していないと反射光が得
られないが、測量現場に測位すべき地点が複数あって各
地点間に凹凸がある場合には、当該凹凸によってターゲ
ットの高さ位置が変化して、測量光照射平面から外れて
しまう危険性がある。従って、本観点から極力長いター
ゲットを用いて測位を行いたい場合があるが、長いター
ゲットを用いると、これが鉛直状態から少しでも傾いて
いると、レーザ光が反射した位置と先端の位置が大きく
ずれて、測位精度が非常に悪くなる、という不都合があ
る。そこで本発明は、上記事情に鑑み、レーザ光等の測
量光を用いて測位を行う際に、ターゲットを鉛直状態に
合わせて設置する必要なく、正確な測位が可能な、測量
方法及びこれに用いる測量装置を提供するものである。

【０００４】

【課題を解決するための手段】即ち本発明は、ポール状
に形成されたターゲット（５）に、第１位置被検出部
（７Ｔ）と第２位置被検出部（７Ｂ）を、該第１位置被
検出部（７Ｔ）と第２位置被検出部（７Ｂ）と該ターゲ
ット（５）の下端（６ｂ）が上下方向に所定の間隔（Ｌ
２）、（Ｌ２）をもって並ぶ形で設け、前記第１位置被
検出部（７Ｔ）と第２位置被検出部（７Ｂ）の各々に測
量光反射手段（７１）を設け、前記ターゲット（５）を
測位すべき測位点（ＰＸｎ）に、前記下端（６ｂ）が該
測位点（ＰＸｎ）に接する形で立設しておき、直進性を
有する測量光（３９）を射出し、該測量光（３９）の反
射光（３９’）を検知し得る２ヶの測量光射出ユニット
（３、３）を用いて、前記２ヶの測量光射出ユニット
（３、３）をそれぞれ位置既知点（Ｐ１）、（Ｐ２）上
に設置し、前記２ヶの測量光射出ユニット（３、３）か
ら前記測量光（３９）を水平方向に走査する形で射出さ
せて、前記ターゲット（５）に照射し、まず、該２ヶの
測量光射出ユニット（３、３）に、前記第１位置被検出
部（７Ｔ）の測量光反射手段（７１）からの各反射光
（３９’）をそれぞれ検知させ、該２ヶの測量光射出ユ
ニット（３、３）がそれぞれ検知する反射光（３９’）
の水平方向の入射角度（θ１）に基づいて該第１位置被
検出部（７Ｔ）の平面座標位置（Ｘｔ、Ｙｔ）を演算
し、次に、前記２ヶの測量光射出ユニット（３、３）
に、前記第２位置被検出部（７Ｂ）からの各反射光（３
９’）をそれぞれ検知させ、該２ヶの測量光射出ユニッ
ト（３、３）がそれぞれ検知する反射光（３９’）の水
平方向の入射角度（θ１）に基づいて該第２位置被検出
部（７Ｂ）の平面座標位置（Ｘｂ、Ｙｂ）を演算し、該
第２位置被検出部（７Ｂ）の前記第１位置被検出部（７
Ｔ）に対する相対変位（ＴＢ）を求め、該求められた相
対変位（ＴＢ）と、前記演算された第１又は第２位置被
検出部（７Ｔ）、（７Ｂ）の平面座標位置（Ｘｔ、Ｙ
ｔ）、（Ｘｂ、Ｙｂ）に基づいて、前記ターゲット
（５）の下端（６ｂ）の平面座標位置（Ｘｎ、Ｙｎ）を
演算し、該演算されたターゲット（５）の下端（６ｂ）
の平面座標位置（Ｘｎ、Ｙｎ）を、該ターゲット（５）
が立設された前記測位点（ＰＸｎ）の平面座標位置（Ｘ
ｎ、Ｙｎ）として検出するようにして、構成される。ま
た、本発明は、測位点（ＰＸｎ）に立設され得る形でポ
ール状に形成されたターゲット（５）を有し、前記ター
ゲット（５）に第１位置被検出部（７Ｔ）と第２位置被
検出部（７Ｂ）を、該第１位置被検出部（７Ｔ）と第２
位置被検出部（７Ｂ）と該ターゲット（５）の下端（６
ｂ）が上下方向に所定の間隔（Ｌ２）、（Ｌ２）をもっ
て並ぶ形で設け、前記第１位置被検出部（７Ｔ）と第２
位置被検出部（７Ｂ）のそれぞれに、直進性を有する測
量光（３９）を入射方向と一致した方向に再帰させるよ
うに反射し得る測量光反射手段（７１）を設け、また、
各々が前記測量光（３９）を水平方向に走査する形で射
出し、該測量光（３９）の反射光（３９’）を検知し得
る２ヶの測量光射出ユニット（３、３）を設け、前記２
ヶの測量光射出ユニット（３、３）が検知する、前記タ
ーゲット（５）の第１位置被検出部（７Ｔ）と第２位置
被検出部（７Ｂ）の各測量光反射手段（７１）からの反
射光（３９’）の水平方向の各入射角度（θ１）に基づ
いて、該第１位置被検出部（７Ｔ）と第２位置被検出部
（７Ｂ）の平面座標位置（Ｘｔ、Ｙｔ）、（Ｘｂ、Ｙ
ｂ）を演算する位置演算手段（１５Ａ）を設け、前記位
置演算手段（１５Ａ）が演算する第１位置被検出部（７
Ｔ）と第２位置被検出部（７Ｂ）の各平面座標位置（Ｘ
ｔ、Ｙｔ）、（Ｘｂ、Ｙｂ）に基づいて、該第２位置被
検出部（７Ｂ）の第１位置被検出部（７Ｔ）に対する相
対変位（ＴＢ）を演算する変位演算手段（１５Ｂ）を設
け、該変位演算手段（１５Ｂ）によって演算された相対
変位（ＴＢ）と、前記第１又は第２位置被検出部（７
Ｔ）、（７Ｂ）の平面座標位置（Ｘｔ、Ｙｔ）、（Ｘ
ｂ、Ｙｂ）に基づいて、前記ターゲット（５）の下端
（６ｂ）の平面座標位置（Ｘｎ、Ｙｎ）を演算し得る測
位点演算手段（１５Ｃ）を設け、該測位点演算手段（１
５Ｃ）によって演算されたターゲット（５）の下端（６
ｂ）の平面座標位置（Ｘｎ、Ｙｎ）を、前記測位点（Ｐ
Ｘｎ）の平面座標位置（Ｘｎ、Ｙｎ）として出力し得る
出力手段（１８）を設けて、測量装置（２）が構成され
る。また、本発明による前記測量装置（２）は、前記第
１位置被検出部（７Ｔ）と第２位置被検出部（７Ｂ）の
各々にシャッタ機構（９）を、該第１位置被検出部（７
Ｔ）と第２位置被検出部（７Ｂ）の前記測量光反射手段
（７１）を被覆する形でそれぞれ設け、該第１位置被検
出部（７Ｔ）と第２位置被検出部（７Ｂ）の各シャッタ
機構（９）を選択的に開閉駆動するシャッタ駆動手段
（２１）を設けて、構成される。また、本発明による前
記測量装置（２）は、前記測量光射出ユニット（３）に
光上下拡散手段（３４）を、該測量光射出ユニット
（３）による前記測量光（３９）の光路中において該測
量光（３９）を上下方向に拡散し得る形で設けて、構成
される。なお、（ ）内の番号等は、図面における対応
する要素を示す、便宜的なものであり、従って、本記述
は図面上の記載に限定拘束されるものではない。以下の
作用の欄についても同様である。

【０００５】

【作用】上記した構成により、本発明は、ターゲット
（５）の下端（６ｂ）が、求められた相対変位（ＴＢ）
に対応した変位分だけ第１又は第２位置被検出部（７
Ｔ）、（７Ｂ）に対してずれた位置に配置されるので、
これを利用して、該下端（６ｂ）が接している測位点
（ＰＸｎ）の平面座標位置（Ｘｎ、Ｙｎ）を、該相対変
位（ＴＢ）と第１又は第２位置被検出部（７Ｔ）、（７
Ｂ）の平面座標位置（Ｘｔ、Ｙｔ）、（Ｘｂ、Ｙｂ）に
基づく演算によって算出するように作用する。また、本
発明は、位置演算手段（１５Ａ）に演算させた第１又は
第２位置被検出部（７Ｔ）、（７Ｂ）の各平面座標位置
（Ｘｔ、Ｙｔ）、（Ｘｂ、Ｙｂ）と、変位演算手段（１
５Ｂ）に演算させた第２位置被検出部（７Ｂ）の第１位
置被検出部（７Ｔ）に対する相対変位（ＴＢ）に基い
て、測位点演算手段（１５Ｃ）に演算させたターゲット
（５）の下端（６ｂ）の平面座標位置（Ｘｎ、Ｙｎ）
を、出力手段（１８）によって、測位点（ＰＸｎ）の平
面座標位置（Ｘｎ、Ｙｎ）として出力させるように作用
する。また、本発明において、シャッタ駆動手段（２
１）によるシャッタ機構（９）の開閉駆動によって、第
１位置被検出部（７Ｔ）と第２位置被検出部（７Ｂ）の
各測量光反射手段（７１）は、選択的に、測量光（３
９）を反射し得る状態と、反射し得ない状態を呈するよ
うに作用する。また、本発明において、測量光射出ユニ
ット（３）は光上下拡散手段（３４）によって上下方向
に拡散した測量光（３９）を水平方向に走査する形で射
出するように作用する。

【０００６】

【実施例】図１は本発明による測量装置の１実施例を示
す全体斜視図、図２は本発明による測量方法における測
位点の座標位置検出方法を示す図、図３は図１に示す測
量装置に用いる測量光射出ユニットの１実施例を示す平
面図、図４は図３に示す光ユニットの側面図、図５は図
１に示す測量装置における反射部材位置検出方法を示す
平面図、図６は本発明による測量装置に用いられるター
ゲットの別の例を示す側面図、図７は図６に示すターゲ
ットの平面図である。

【０００７】測量作業が行われている現場１は、図１に
示すように、測量上設定された所定のＸ、Ｙ、Ｚ座標系
を有する地面上に造成された形で、該座標系と現場１の
地形が対応する形になっており、現場１には、測位すべ
き測位点ＰＸｎの高さ座標（Ｚｎ）の値を除いた、平面
座標位置（Ｘｎ、Ｙｎ）を測位検出するための、測量装
置２が設けられている。測量装置２は、測位点ＰＸｎを
指示するためにポール状に形成されたターゲット５と、
２ヶの測量光射出ユニットであるレーザユニット３、３
及び、これ等２ヶのレーザユニット３、３とターゲット
５によって得られるデータを処理し、該ターゲット５の
先端６ｂの位置（Ｘｎ、Ｙｎ）を、測位点ＰＸｎの座標
位置（Ｘｎ、Ｙｎ）として、算出するための測位動作管
理装置１０によって構成されている。

【０００８】即ち、現場１の作業範囲外には、図１に示
すように、その各々の座標位置（Ｘ、Ｙ、Ｚ）の値が既
知なる基準点Ｐ１、Ｐ２が、位置既知点としてそれぞれ
設けられており、平面座標位置（Ｘ１、Ｙ１）をなす基
準点Ｐ１と平面座標位置（Ｘ２、Ｙ１）をなす基準点Ｐ
２は、現場１に設定された座標系上においてＸ軸方向に
並ぶ形で、一致したＹ軸上の座標値（Ｙ１）を保有する
形になっている。各基準点Ｐ１、Ｐ２には、それぞれレ
ーザユニット３がそれぞれ設置されており、従って２ヶ
のレーザユニット３、３は、基準点Ｐ１、Ｐ２間の距離
と一致した分だけの間隔をなす形で、Ｘ軸方向に沿って
水平方向に距離Ｌ１だけ離れた形になっている。なお、
２ヶのレーザユニット３は、それぞれのレーザユニット
３毎に固有な基準軸心ＣＴ０を有しており、各レーザユ
ニット３は、その基準軸心ＣＴ０をＸ軸方向と一致させ
た形で基準点Ｐ１又はＰ２に設置されている。

【０００９】各レーザユニット３は、図３又は図４に示
すように、レーザ射出部３１を有しており、レーザ射出
部３１は、三脚３２によって、基準点Ｐ１又はＰ２上に
おいて水準状態をなすように保持されている。レーザ射
出部３１には、レーザ光３９を射出し得る光源３３が設
けられており、即ち光源３３は、直進性を有する測量光
であるレーザ光３９を、前記基準軸心ＣＴ０と直角な光
軸ＣＴ１に沿った光路上に発振させる形になっている。
光源３３の図右方に示す前方の光軸ＣＴ１上には、シリ
ンドリカルレンズ３４が、光軸ＣＴ１と直角な方向に伸
延する形で、光上下拡散手段としてレーザ光３９の光路
中に設けられており、シリンドリカルレンズ３４は、光
源３３が発振したレーザ光３９を、光軸ＣＴ１を中心に
して上下方向に所定の角度αだけ拡散させる形で、該レ
ーザ光３９を、該光軸ＣＴ１を含む光拡散平面として鉛
直方向に形成された照射面３９ａ上に拡散し得るように
なっている。

【００１０】また、レーザ射出部３１には、図３又は図
４に示すように、シリンドリカルレンズ３４の図右方に
示す前方にハーフミラー３５が、照射面３９ａ上のレー
ザ光３９を、９０度方向に反射させて、先に述べたよう
に光軸ＣＴ１と直角な基準軸心ＣＴ０に沿うように直進
させ得る形で設けられており、ハーフミラー３５の図３
上方に示す側方には、板状に形成された反射鏡である回
転ミラー３６が、基準軸心ＣＴ０と図３紙面と交差方向
に直角をなし照射面３９ａと平行な回転軸ＣＴ２を中心
にして、レーザ走査方向である矢印Ａ、Ｂ方向に示す水
平方向に回転駆動自在な形で設けられている。回転ミラ
ー３６には反射面３６ａが、ハーフミラー３５が反射し
たレーザ光３９を反射し得る形で、鉛直方向に形成され
ており、従って、レーザユニット３は、照射面３９ａ上
に拡散されたレーザ光３９を、回転ミラー３６の回転動
作を介して、該照射面３９ａと平行な回転軸ＣＴ２を中
心にして回転させ、これによって、上下方向に幅をなす
レーザ光３９を水平方向である矢印Ａ、Ｂ方向に走査す
る形で、三次元空間状の照射領域３９ｂに照射し得るよ
うになっている。

【００１１】また、レーザ射出部３１には、図４に示す
ように、回転ミラー３６の下側に位置する形で、反射光
検知部３７が設けられており、反射光検知部３７は、レ
ーザ射出部３１から射出されたレーザ光３９の反射光３
９’を光センサ３７ａにキャッチさせて、そのときの前
記回転ミラー３６の姿勢角度を回転軸ＣＴ２の回転角度
に基づいて検出することによって、図３に示すように反
射面３６ａの法線ＣＬ１の基準軸心ＣＴ０に対する角度
βを求め、これによって、図５に示すように、該反射光
３９’の基準軸心ＣＴ０（即ちＸ軸方向）に対する水平
方向の入射角度θ１を検出し、これを角度データＤＡＴ
１として出力し得るように構成されている。

【００１２】一方、現場１内の測位すべき測位点ＰＸｎ
には、図１に示すように、ポール状に形成されたターゲ
ット５が設置されており、ターゲット５は、中空ロッド
等からなる本体６を有している。ターゲット５は、本体
６の下端である先端６ｂが接する地点を測位点ＰＸｎと
して指示する形で、該測位点ＰＸｎに接するように立設
されており、また、本体６には第１位置被検出部と第２
位置被検出部、即ち上反射部７Ｔと下反射部７Ｂが、該
上反射部７Ｔと下反射部７Ｂとターゲット５の下端であ
る先端６ｂが上下方向に所定の一致した間隔Ｌ２、Ｌ２
をもって並ぶ形で設けられている。

【００１３】反射部７Ｔ、７Ｂの各々には、図１又は図
２に示すように、測量光反射手段である反射テープ７１
が、本体６の外周に被着された形でそれぞれ配設されて
おり、各反射テープ７１は、これに照射されるレーザ光
３９を入射方向と一致した方向に再帰させるように反射
させて、即ち反射光３９’を反射し得る形で、光線再帰
形の反射部材によって構成されている。また、反射部７
Ｔ、７Ｂの各々には、液晶シャッタ等によるシャッタ９
が、各反射テープ７１を被覆する形のシャッタ機構とし
て、開閉自在に設けられており、シャッタ９には、バス
線、ケーブル等を介してシャッタ駆動制御装置２１が、
上反射部７Ｔと下反射部７Ｂの各シャッタ９を選択的に
開閉駆動自在な形で、シャッタ駆動手段として接続され
ている。

【００１４】さらに、前記測位動作管理装置１０は、図
１に示すように、主制御部１１を有しており、主制御部
１１には入力ポート１２、レーザ走査制御部１３、入射
角検出制御部１４、反射位置演算部１５Ａ、変位演算部
１５Ｂ、測位点位置演算部１５Ｃ、メモリ１６、ターゲ
ット情報把握部１７、出力部１８、ディスプレイ１９等
が接続している。また、出力部１８には外部記憶装置２
１が接続されている。従って、測位動作管理装置１０の
反射位置演算部１５Ａは、先に述べた２ヶのレーザユニ
ット３、３の各反射光検知部３７が検出する反射光３
９’の、矢印Ａ、Ｂ方向（回転ミラー３６の走査方向で
ある水平方向）の入射角度θ１、θ１に基づいて、ター
ゲット５の反射部７Ｔ又は７Ｂの平面座標位置（Ｘｔ、
Ｙｔ）、（Ｘｂ、Ｙｂ）を演算する位置演算手段を構成
しており、また、変位演算部１５Ｂは、該反射位置演算
部１５Ａが演算する上反射部７Ｔと下反射部７Ｂの各平
面座標位置（Ｘｔ、Ｙｔ）、（Ｘｂ、Ｙｂ）に基づい
て、該下反射部７Ｂの上反射部７Ｔに対する相対的な変
位ＴＢ（図２に図示）を演算する変位演算手段を構成し
ている。そして、測位点位置演算部１５Ｃは、変位演算
部１５Ｂによって演算された変位ＴＢと、上反射部７Ｔ
又は下反射部７Ｂの平面座標位置（Ｘｔ、Ｙｔ）、（Ｘ
ｂ、Ｙｂ）に基づいて、ターゲット５の先端６ｂの平面
座標位置（Ｘｎ、Ｙｎ）を演算する測位点演算手段にな
っており、さらに、出力部１８は、該測位点位置演算部
１５Ｃによって演算されたターゲット５の先端６ｂの平
面座標位置（Ｘｎ、Ｙｎ）を、測位点ＰＸｎの平面座標
位置（Ｘｎ、Ｙｎ）として出力し得る形で、出力手段を
構成している。

【００１５】測位作業中の現場１及び測量装置２は、以
上のような構成を有しているので、該現場１において、
測位点ＰＸｎの測位を行うには、まず、現場１に設定さ
れた座標平面上のＸ軸上に基準点Ｐ１、Ｐ２を設定し
て、各基準点Ｐ１、Ｐ２の座標位置を正確に求め、ここ
にレーザユニット３、３を、それぞれの三脚３２によっ
て水準状態をなすように設置する。（或いは、各レーザ
ユニット３を設置してから、該設置地点を基準点Ｐ１、
Ｐ２として、該基準点Ｐ１、Ｐ２の位置座標が（Ｘ１、
Ｙ１）、（Ｘ２、Ｙ１）になるように現場座標系を設定
する。）またこの際、レーザユニット３、３は、図２又
は図５に示すように、その各々の基準軸心Ｃ０が、現場
１の座標平面上においてＸ軸方向に向くように設置す
る。そして、当該基準点Ｐ１、Ｐ２の座標位置（Ｘ１、
Ｙ１）、（Ｘ２、Ｙ１）の各値を、図示しない外部入力
装置によって、入力ポート１２から測位動作管理装置１
０に入力しておく。すると、主制御部１１が、該基準点
Ｐ１、Ｐ２の座標位置データをメモリ１６に格納する。
一方、測位したい測位点ＰＸｎにはターゲット５を、そ
の本体６の先端６ｂによって、該測位点ＰＸｎ地点を指
示させる形になるよう該先端６ｂが測位点ＰＸｎに接し
た形で設置する。なお、この測位開始時点において、タ
ーゲット５は、上反射部７Ｔと下反射部７Ｂの各シャッ
タ９が共に閉じて、反射テープ７１が被覆された状態
（レーザ光３９を反射し得ない状態）を呈している。

【００１６】こうして２ヶのレーザユニット３、３とタ
ーゲット５をセットしたところで、まず、シャッタ駆動
制御装置２１に上シャッタ開放駆動指令Ｓtoを出し、こ
れによって、上反射部７Ｔ側のシャッタ９を開放駆動さ
せる。この際、シャッタ駆動制御装置２１は、入力ポー
ト１２を介して測位動作管理装置１０に、上オープン信
号ＴＯを送信する。すると、主制御部１１が該上オープ
ン信号ＴＯをターゲット情報把握部１７に伝送する形
で、上反射部７Ｔ側のシャッタ９が開放状態にあること
が把握される。そして、このときターゲット５は、シャ
ッタ９が開放された上反射部７Ｔ側の反射テープ７１が
露出して、レーザ光３９を反射し得る状態を呈する一方
で、下反射部７Ｂ側の反射テープ７１は閉塞状態のシャ
ッタ９によって被覆された状態を呈する。

【００１７】そこで、測位動作管理装置１０を用いて、
まず、主制御部１１は、レーザ走査制御部１３によって
各レーザユニット３に、レーザ走査指令Ｓ１を発信す
る。該指令Ｓ１を受けた各レーザユニット３は、レーザ
射出部３１から水平方向に走査する形でレーザ光３９の
射出を開始する。即ち、レーザ射出部３１は、図３又は
図４に示すように、光源３３にレーザ光３９を、光軸Ｃ
Ｔ１に沿って発振させる。これによって、レーザ光３９
は光軸ＣＴ１上の光路を直進し、光源３３の図右方に示
す前方の該光軸ＣＴ１上に設けられたシリンドリカルレ
ンズ３４に入射する。すると、シリンドリカルレンズ３
４は、その伸延方向を光軸ＣＴ１と直角な方向に向けた
形で屈折面が円柱面状になっていることによって、該レ
ーザ光３９を、光軸ＣＴ１を中心にして上下方向に所定
の角度αだけ拡散させた形で、透過させる。該透過した
レーザ光３９によって、シリンドリカルレンズ３４の前
方側には、光軸ＣＴ１を含む照射面３９ａが、鉛直方向
に展開する形の光拡散平面として形成される。

【００１８】そして、照射面３９ａ上を直進するレーザ
光３９は、図３に示すように、ハーフミラー３５によっ
て直角に反射する形で、光路を９０度方位変えし、光軸
ＣＴ１と直角な方向即ち基準軸心ＣＴ０に沿って直進す
る。すると、ハーフミラー３５の側方即ちレーザ直進光
路前方側には回転ミラー３６が、基準軸心ＣＴ０と直角
で照射面３９ａと平行な回転軸ＣＴ２を中心にして、矢
印Ａ、Ｂ方向に示す水平方向に回転駆動自在な形で設け
られている。そこで、該回転ミラー３６を、所定の角速
度で回転させると、反射面３６ａに反射した、照射面３
９ａ上のレーザ光３９が、該回転ミラー３６の回転動作
によって、矢印Ａ、Ｂ方向、即ち水平方向に帯状に走査
された形になる。

【００１９】このようにして、光軸ＣＴ１を中心にして
角度α分だけ上下方向に拡散して帯状にしたレーザ光３
９を、２ヶのレーザユニット３、３の各レーザ射出部３
１から射出させ、該帯状のレーザ光３９を矢印Ａ、Ｂ方
向に走査する。すると、該レーザユニット３、３が射出
したレーザ光３９は、図１に示すように、各レーザユニ
ット３のレーザ射出部３１を中心にした所定の照射領域
３９ｂ中に照射される。この際に、照射領域３９ｂは、
上下方向に角度α分拡散して形成された照射面３９ａの
レーザ光３９を水平方向に回転走査して形成されるもの
であるため、広範な３次元空間になる。

【００２０】このようにして２ヶのレーザユニット３、
３から射出された、各照射領域３９ｂ中のレーザ光３９
が、測位点ＰＸｎに設置したターゲット５に照射される
と、該ターゲット５は、下反射部７Ｂ側のシャッタ９が
閉じて、上反射部７Ｔ側のシャッタ９のみが開放された
形になっているところから、レーザ光３９は、該開放状
態にある上反射部７Ｔの反射テープ７１によって、該レ
ーザ光３９が入射した方向と一致した反射方向に再帰す
る形で、反射光３９’として反射する。なお、各レーザ
ユニット３のレーザ射出部３１が走査するレーザ光３９
は、広範な３次元空間である照射領域３９ｂに照射され
た形になることによって、上反射部７Ｔと各レーザユニ
ット３のレーザ射出部３１の高さが正確に一致していな
くても、レーザ光３９が確実に上反射部７Ｔに（もちろ
んこのときシャッタ９が閉じている下反射部７Ｂにも）
照射される。よって、レーザユニット３とターゲット５
の位置の取り合いを精密に合わせる必要なく、測位動作
が出来るので、省力的である。

【００２１】こうして、ターゲット５の上反射部７Ｔの
反射テープ７１が反射光３９’を反射すると、このと
き、該反射光３９’はこれを射出した各レーザユニット
３側に再帰するので、基準点Ｐ１、Ｐ２の各レーザユニ
ット３は、図３に示すように、そのそれぞれに設けられ
た反射光検知部３７の光センサ３７ａによって、該反射
光３９’を検知する。そこで、測位動作管理装置１０の
主制御部１１は、入射角検出制御部１４によって、各レ
ーザユニット３の反射光検知部３７に反射光３９’を検
知させ、該反射光３９’の水平方向の入射角度θ１を検
出させる。即ち入射角検出制御部１４は、反射光検知部
３７に、光センサ３７ａが反射光３９’をキャッチした
ときの回転ミラー３６の姿勢角度に基づいて、反射面３
６ａの法線ＣＬ１の基準軸心ＣＴ０に対する角度βを検
出させ、図３に示すように該角度βを２倍することによ
って、該反射光３９’の、基準軸心ＣＴ０に対する水平
方向の入射角度θ１を検出させる。そして、これを角度
データＤＡＴ１として、それぞれ出力させる。

【００２２】このようにして２ヶのレーザユニット３、
３にそれぞれ入射角度θ１を検出させると、基準点Ｐ
１、Ｐ２の各平面座標位置（Ｘ１、Ｙ１）、（Ｘ２、Ｙ
１）は既知であり、また、各レーザユニット３の基準軸
心ＣＴ０は現場１のＸ軸と一致した向きになっていると
ころから、図５に示すように、該基準点Ｐ１、Ｐ２にお
ける反射光３９’の各入射角度θ１と、基準点Ｐ１、Ｐ
２間の距離Ｌ１に基づいて、該反射光３９’が反射した
部材がある位置が特定される形で、図２に示すように、
ターゲット５における上反射部７Ｔの平面座標位置（Ｘ
ｔ、Ｙｔ）が明らかになる。

【００２３】そこで、測位動作管理装置１０の主制御部
１１は、各レーザユニット３が出力した２ヶの角度デー
タＤＡＴ１、ＤＡＴ１を入力ポート１２に入力させ、ま
た、先にメモリ１６に格納した基準点Ｐ１、Ｐ２の平面
座標位置データを読み出す。そして、反射位置演算部１
５Ａに、該２ヶの角度データＤＡＴ１、ＤＡＴ１と、基
準点Ｐ１、Ｐ２の平面座標位置データを入力し、該基準
点Ｐ１、Ｐ２の平面座標位置データ（即ちこれによって
特定される距離Ｌ１）と、各レーザユニット３による角
度データＤＡＴ１（即ち、反射光３９’の、矢印Ａ、Ｂ
方向に示す水平方向の各入射角度θ１）に基づいて、反
射光３９’が反射した反射テープ７１の位置、即ち上反
射部７Ｔの平面座標位置（Ｘｔ、Ｙｔ）を演算させる。
この際、主制御部１１は、ターゲット情報把握部１７か
ら該演算位置が上反射部７Ｔ或いは下反射部７Ｂのいず
れの位置を示すものであるかの情報を読み取る。する
と、ターゲット情報把握部１７は、上反射部７Ｔのシャ
ッタ９が開放状態であることを出力するので、主制御部
１１は、反射位置演算部１５Ａが演算算出した位置を、
上反射部７Ｔの平面座標位置（Ｘｔ、Ｙｔ）として、メ
モリ１６に格納する。

【００２４】こうして上反射部７Ｔの平面座標位置（Ｘ
ｔ、Ｙｔ）が求められたところで、次に、シャッタ駆動
制御装置２１に図１に示す下シャッタ開放駆動指令Ｓbo
を出し、これによって、上反射部７Ｔのシャッタ９を閉
じて、下反射部７Ｂのシャッタ９を開放するようにそれ
ぞれのシャッタ９を駆動させる。なおこのとき、シャッ
タ駆動制御装置２１は、ターゲット情報把握部１７に下
オープン信号ＢＯを送信する。この状態で、再び、測位
動作管理装置１０の主制御部１１は、レーザ走査制御部
１３によって各レーザユニット３に、その光路中におい
て上下方向に角度α拡散したレーザ光３９を水平方向に
走査する形で射出させる。すると、各レーザユニット３
はレーザ光３９を、先に述べて図１に示すように、広範
囲な３次元空間状をなす照射領域３９ｂに照射する。す
ると、測位点ＰＸｎに設置されたターゲット５には２ヶ
の反射部７Ｔ、７Ｂが設けられているが、これ等上反射
部７Ｔと下反射部７Ｂは、シャッタ駆動制御装置２１に
よって、選択的に一方の反射部７Ｔ又は７Ｂのシャッタ
９が開放し（反射テープ７１がレーザ光３９を反射し得
る状態）、他方のシャッタ９は閉じているよう（反射テ
ープ７１が被覆されてレーザ光３９を反射し得ない状
態）に、制御されるところから、常にいずれか一方の反
射部７Ｔ又は７Ｂの反射テープ７１のみが、レーザ光３
９を有効に反射し得る。この結果、２ヶのレーザユニッ
ト３、３の各反射光検知部３７は、上反射部７Ｔと下反
射部７Ｂによる反射光３９’を２ヶ同時に検知して、そ
の識別が不能になることはなく、レーザ走査を１回行う
毎に単一の反射光３９’を検知することが出来る。

【００２５】従って、上記したように、上反射部７Ｔの
シャッタ９を閉じ、下反射部７Ｂのシャッタ９のみを開
放した状態で、ターゲット５に照射された反射光３９
は、該下反射部７Ｂの反射シート７１によって、入射方
向と一致した反射方向に再帰する形で反射光３９’が生
じる。そこで、主制御部１１は入射角検出制御部１４に
よって、各レーザユニット３の各反射光検知部３７に、
先に述べた上反射部７Ｔの場合と同様にして、下反射部
７Ｂの反射光３９’の水平方向の入射角度θ１を検出さ
せる形で、角度データＤＡＴ１をそれぞれ出力させる。
そして、主制御部１１は、上述した上反射部７Ｔの平面
座標位置（Ｘｔ、Ｙｔ）を検出する動作と同様にして、
反射位置演算部１５Ａに下反射部７Ｂの平面座標位置
（Ｘｂ、Ｙｂ）を演算させる。

【００２６】こうして、上反射部７Ｔの平面座標位置
（Ｘｔ、Ｙｔ）と下反射部７Ｂの平面座標位置（Ｘｂ、
Ｙｂ）を求めたところで、次に、主制御部１１は、先に
メモリ１６に格納した上反射部７Ｔの平面座標位置デー
タを呼出し、変位演算部１５Ｂに、図２に示すように、
上述したように反射位置演算部１５Ａが演算した下反射
部７Ｂの平面座標位置（Ｘｂ、Ｙｂ）の上反射部７Ｔの
平面座標位置（Ｘｔ、Ｙｔ）に対する相対的な変位ＢＴ
（即ち図２に示すようなベクトルＴＢの値）を、演算算
出させる。すると、該ベクトル値である変位ＴＢは、図
２に示すように、上反射部７Ｔの距離Ｌ２分下側に位置
する下反射部７Ｂの、該上反射部７Ｔに対する相対的な
変位量を現わすことになる。従って、ターゲット５の本
体６において、該下反射部７Ｂの距離Ｌ２分下側に位置
する先端６ｂの座標位置の値は、該下反射部７Ｂの平面
座標位置（Ｘｂ、Ｙｂ）に変位ＴＢの値を加味した値に
なる。

【００２７】これを利用して（即ち、下反射部７Ｂの平
面座標位置（Ｘｂ、Ｙｂ）に変位ＫＢを加味する形
で）、主制御部１１は測位点位置演算部１５Ｃに、先に
求められた下反射部７Ｂの平面座標位置（Ｘｂ、Ｙｂ）
と、該下反射部７Ｂの上反射部７Ｔに対する相対的な変
位ＴＢに基づいて、測位点位置演算部１５Ｃに、先端６
ｂの平面座標位置を演算させる。すると、先端６ｂは、
測位点ＰＸｎを指示する形で該測位点ＰＸｎと接してい
るところから、該演算算出された先端６ｂの平面座標位
置（Ｘｎ、Ｙｎ）が、測位点ＰＸｎの平面座標位置（Ｘ
ｎ、Ｙｎ）になる。そこで、主制御部１１は、該算出さ
れた先端６ｂの平面座標位置データを、測位点ＰＸｎの
平面座標位置（Ｘｎ、Ｙｎ）を現わす位置データＤＡＴ
２として、出力部１８から出力させる。すると、出力部
１８は、該測位点ＰＸｎの平面座標位置（Ｘｎ、Ｙｎ）
の各値をディスプレイ１９上に表示させる。また、出力
部１８は、該測位点ＰＸｎの平面座標位置（Ｘｎ、Ｙ
ｎ）を現わす位置データＤＡＴ２を、外部記憶装置２０
に記憶させる。

【００２８】このようにして、測量装置２においては、
上反射部７Ｔの平面座標位置（Ｘｔ、Ｙｔ）と下反射部
７Ｂの平面座標位置（Ｘｂ、Ｙｂ）に基づいて、測位点
ＰＸｎの正確な平面座標位置（Ｘｎ、Ｙｎ）を検出する
ことが出来る。即ち、測位点ＰＸｎの平面座標位置は、
上反射部７Ｔに対する下反射部７Ｂの相対的な変位ＫＢ
に基づいて、該上反射部７Ｔ及び下反射部７Ｂと上下方
向に距離Ｌ２、Ｌ２をもって並ぶ先端６ｂの平面座標位
置（Ｘｎ、Ｙｎ）を演算する形で、算出される。従っ
て、測位作業を行うに際しては、先端６ｂが測位すべき
測位点ＰＸｎに接するようになっていれば良く、このた
め、該測位点ＰＸｎにターゲット５を鉛直に保持した状
態で、立設する必要はない。また、測位点ＰＸｎの平面
座標位置（Ｘｎ、Ｙｎ）は、上又は下反射部７Ｔ、７Ｂ
の平面座標位置（Ｘｔ、Ｙｔ）、（Ｘｂ、Ｙｂ）及び、
両者間の相対変位ＫＢに基づいて演算されることによっ
て、ターゲット５が測位点ＰＸｎ上において傾いていて
も、非常に正確な値をなすよう検出される。なお、測量
装置２においては、ターゲット５が測位点ＰＸｎ上にお
いて鉛直状態をなす必要がないので、短時間のうちに省
力的に測位を行うことが出来、また、長いターゲット５
を用いてもこれを鉛直状態で設置する必要がないので、
何等不都合がない。

【００２９】なお、上述した実施例においては、上反射
部７Ｔ、下反射部７Ｂのそれぞれに測量光反射手段とし
て反射テープ７１を、該上反射部７Ｔ及び下反射部７Ｂ
に位置する部分の本体６の周囲に被着する形で設けた例
を述べた。しかし、上反射部７Ｔ、下反射部７Ｂの測量
光反射手段は、図６又は図７に示すように、本体６の周
囲に装着されたリトロレフレクター９であっても良い。
すると、リトロレフレクター９は、レーザ光３９を、高
い反射光率で反射させることが出来る。よって、レーザ
ユニット３から射出されるレーザ光３９は、シリンドリ
カルレンズ３４によって角度α分だけ上下方向に拡散さ
れた形で水平方向に走査されることによって、当該拡散
分だけ照射レベルが減衰した形でターゲット５に到達す
るが、このときに測量光反射手段がリトロレフレクター
９であれば、レーザ光３９は、入射方向と一致した反射
方向をなす光路に的確に再帰する形で、即ち該レーザ光
３９が射出されたレーザユニット３側に向けて、反射光
３９’が有効に反射することが出来る。これによって、
基準点Ｐ１、Ｐ２から遠い距離の測位点ＰＸｎの測位が
可能になり、また、測位位置の精度が向上する。

【００３０】また、実施例において用いたターゲット５
は、上反射部７Ｔが第１位置被検出部で、下反射部７Ｂ
が第２位置被検出部になっており、測位作業に際して
は、まず、該上反射部７Ｔの位置を求めてから下反射部
７Ｂの位置を求めて、該下反射部７Ｂの上反射部７Ｔに
対する相対的な変位ＴＢを検出し、該変位ＴＢと下反射
部７Ｂの位置に基づいて、先端６ｂの位置を検出するよ
うにした例を述べた。しかし、ターゲットにおける第１
位置被検出部と第２位置被検出部の配置箇所、及び、先
端６ｂの位置を検出する際に基準となる位置被検出部が
第１又は第２のいずれで有るかは、任意である。また、
実施例においては、上反射部７Ｔ、下反射部７Ｂ、先端
６ｂが上下方向に間隔Ｌ２、Ｌ２をもって並んでいる例
を述べたが、上反射部７Ｔと下反射部７Ｂと先端６ｂの
相互距離（即ち第１位置被検出部と第２位置被検出部と
下端の相互距離）は、かならずしも一致していなくとも
既知なる値で有れば良い。

【００３１】また、上反射部７Ｔ、下反射部７Ｂに設け
られるシャッタ機構は、先に述べたように液晶シャッタ
である必要はなく、図６又は図７に示すように、機械方
式のシャッタであっても構わない。また、ターゲット５
には必ずしもこうしたシャッタ９及び、該シャッタ９を
開閉駆動するシャッタ駆動制御装置２１が設けられてい
なくても構わず、人力を介して反射テープ７１を開閉し
たり、或いは、レーザユニット３側でレーザ光３９の走
査高さを調整することによって、上反射部７Ｔと下反射
部７Ｂを識別しながら、各反射部７Ｔ、７Ｂの位置を検
出するようにしても構わない。

【００３２】なお、上述した実施例においては、ターゲ
ット５は、測量作業が行われている現場１において、測
位点Ｐｎ上に先端６ｂが直接接するように設置して、測
位作業を行うようにした例を述べたが、先端６ｂが接し
ている測位点Ｐｎは、最終的に求める測位点である必要
はなく、例えば、該先端６ｂが接している測位点Ｐｎ
は、求める測位点から鉛直方向に既知なる所定高さをな
す３脚上の一点であっても良い。また、上述した実施例
においては、レーザユニット３は、レーザ射出部３１の
光源３３に射出させたレーザ光３９をシリンドリカルレ
ンズ３４によって上下方向に角度αをなすように拡散さ
せてから、回転ミラー３６の回転動作によって矢印Ａ、
Ｂ方向に示す水平方向に回転走査することによって、該
レーザ光３９をターゲット５に照射するようにした例を
述べたが、レーザユニット３によるレーザ光３９の拡散
方法及びその水平方向の走査方法、及びこれによって形
成される照射領域３９ｂは、当該実施例において述べた
ものに限定されない。例えばレーザユニット３はレーザ
光３９を、レーザ射出部３１の本体部分自体が回転駆動
することによって、水平方向に走査しても差し支えな
い。或いは、レーザユニット３は、必ずしも、上下方向
に拡散したレーザ光３９を射出しなくても構わない。な
お、レーザユニット３等の測量光射出ユニットが測量に
用いる測量光は、レーザ光３９に限定されるものではな
く、直進性を有するその他の光線であっても良い。

【００３３】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、ポ
ール状に形成されたターゲット５に、上反射部７Ｔ等の
第１位置被検出部と下反射部７Ｂ等の第２位置被検出部
を、該第１位置被検出部と第２位置被検出部と該ターゲ
ット５の先端６ｂ等の下端が上下方向に所定の間隔Ｌ
２、Ｌ２をもって並ぶ形で設け、前記第１位置被検出部
と第２位置被検出部の各々に反射テープ７１等の測量光
反射手段を設け、前記ターゲット５を測位すべき測位点
ＰＸｎに、前記下端が該測位点ＰＸｎに接する形で立設
しておき、直進性を有するレーザ光３９等の測量光を射
出し、該測量光の反射光３９’を検知し得る２ヶのレー
ザユニット３、３等の測量光射出ユニットを用いて、前
記２ヶの測量光射出ユニットをそれぞれ基準点Ｐ１、Ｐ
２等の位置既知点上に設置し、前記２ヶの測量光射出ユ
ニットから前記測量光を水平方向に走査する形で射出さ
せて、前記ターゲット５に照射し、まず、該２ヶの測量
光射出ユニットに、前記第１位置被検出部の測量光反射
手段からの各反射光３９’をそれぞれ検知させ、該２ヶ
の測量光射出ユニットがそれぞれ検知する反射光３９’
の水平方向の入射角度θ１に基づいて該第１位置被検出
部の平面座標位置（Ｘｔ、Ｙｔ）を演算し、次に、前記
２ヶの測量光射出ユニットに、前記第２位置被検出部か
らの各反射光３９’をそれぞれ検知させ、該２ヶの測量
光射出ユニットがそれぞれ検知する反射光３９’の水平
方向の入射角度θ１に基づいて該第２位置被検出部の平
面座標位置（Ｘｂ、Ｙｂ）を演算し、該第２位置被検出
部の前記第１位置被検出部に対する相対変位ＴＢを求
め、該求められた相対変位ＴＢと、前記演算された第１
又は第２位置被検出部の平面座標位置（Ｘｔ、Ｙｔ）、
（Ｘｂ、Ｙｂ）に基づいて、前記ターゲット５の下端の
平面座標位置（Ｘｎ、Ｙｎ）を演算し、該演算されたタ
ーゲット５の下端の平面座標位置（Ｘｎ、Ｙｎ）を、該
ターゲット５が立設された前記測位点ＰＸｎの平面座標
位置（Ｘｎ、Ｙｎ）として検出するようにして構成した
ので、測位を行う際には、ターゲット５の下端が、求め
られた相対変位ＴＢに対応した変位分だけ第１又は第２
位置被検出部に対してずれた位置に配置されるので、こ
れを利用して、該下端が接している測位点ＰＸｎの平面
座標位置（Ｘｎ、Ｙｎ）を、該相対変位ＴＢと第１又は
第２位置被検出部の平面座標位置（Ｘｔ、Ｙｔ）、（Ｘ
ｂ、Ｙｂ）に基づく演算によって算出することが出来
る。即ち、ターゲット５の下端は、該ターゲット５に設
けられた第１及び第２位置被検出部と相対的には不変な
位置関係（即ち、第１位置被検出部と第２位置被検出部
と下端が所定の間隔Ｌ２、Ｌ２をもって並ぶ形）を保持
している。従って、下端が測位点ＰＸｎに接した状態の
ターゲット５における、第１及び第２位置被検出部の平
面座標位置（Ｘｔ、Ｙｔ）、（Ｘｂ、Ｙｂ）を、２ヶの
測量光射出ユニットに検知させた反射光３９’の各入射
角度θ１から検出し、該第２位置被検出部の第１位置被
検出部に対する相対変位ＴＢを求めれば、これに基づい
て、該ターゲットの下端が位置する平面座標位置（Ｘ
ｎ、Ｙｎ）を演算によって算出することが可能となる。
従って、測位時、ターゲット５は、測位点ＰＸｎにおい
て鉛直状態に立設されている必要はない。このため、通
常レーザ光等の測量光を用いて測位を行う際には、ター
ゲットを正確に鉛直状態に合わせた形にして測位点ＰＸ
ｎに設置しなければ、測量光が反射した位置（即ち当該
測位によって検出される測位点ＰＸｎの座標位置）と、
該ターゲットの下端が実際に接している測位点ＰＸｎの
位置がずれていたが、本発明によれば、ターゲット５が
傾いていても、常に正確な測位点ＰＸｎの平面座標位置
（Ｘｎ、Ｙｎ）を演算によって検出することが出来る。
また、ターゲット５を鉛直に保持した状態で設置する必
要がないので、省力的な測位作業が可能である。さら
に、このようにターゲット５の傾きを利用して測位点Ｐ
Ｘｎの正確な平面座標位置（Ｘｎ、Ｙｎ）を検出し得る
ことによって、長いターゲット５を用いての測位も、精
度良く出来る。この結果、測量現場に高さ位置の異なる
測位点ＰＸｎが複数あって、該測位点ＰＸｎを指示する
ターゲット５の高さ位置が変化して測量光照射平面から
外れてしまう危険性がある場合に、十分長いターゲット
５を用いても、正確な測位が可能である。よって、凹凸
のある測量現場においても、測量作業を効率的に進める
ことが出来る。

【００３４】また、本発明によれば、測位点ＰＸｎに立
設され得る形でポール状に形成されたターゲット５を有
し、前記ターゲット５に上反射部７Ｔ等の第１位置被検
出部と下反射部７Ｂ等の第２位置被検出部を、該第１位
置被検出部と第２位置被検出部と該ターゲット５の先端
６ｂ等の下端が上下方向に所定の間隔Ｌ２、Ｌ２をもっ
て並ぶ形で設け、前記第１位置被検出部と第２位置被検
出部のそれぞれに、直進性を有するレーザ光３９等の測
量光を入射方向と一致した方向に再帰させるように反射
し得る反射テープ７１等の測量光反射手段を設け、ま
た、各々が前記測量光を水平方向に走査する形で射出
し、該測量光の反射光３９’を検知し得る２ヶのレーザ
ユニット３、３等の測量光射出ユニットを設け、前記２
ヶの測量光射出ユニットが検知する、前記ターゲット５
の第１位置被検出部と第２位置被検出部の各測量光反射
手段からの反射光３９’の水平方向の各入射角度θ１に
基づいて、該第１位置被検出部と第２位置被検出部の平
面座標位置（Ｘｔ、Ｙｔ）、（Ｘｂ、Ｙｂ）を演算する
反射位置演算部１５Ａ等の位置演算手段を設け、前記位
置演算手段が演算する第１位置被検出部と第２位置被検
出部の各平面座標位置（Ｘｔ、Ｙｔ）、（Ｘｂ、Ｙｂ）
に基づいて、該第２位置被検出部の第１位置被検出部に
対する相対変位ＴＢを演算する変位演算部１５Ｂ等の変
位演算手段を設け、該変位演算手段によって演算された
相対変位ＴＢと、前記第１又は第２位置被検出部の平面
座標位置（Ｘｔ、Ｙｔ）、（Ｘｂ、Ｙｂ）に基づいて、
前記ターゲット５の下端の平面座標位置（Ｘｎ、Ｙｎ）
を演算し得る測位点位置演算部１５Ｃ等の測位点演算手
段を設け、該測位点演算手段によって演算されたターゲ
ット５の下端の平面座標位置（Ｘｎ、Ｙｎ）を、前記測
位点ＰＸｎの平面座標位置（Ｘｎ、Ｙｎ）として出力し
得る出力部１８等の出力手段を設けて、測量装置２を構
成したので、位置演算手段に演算させた第１又は第２位
置被検出部の各平面座標位置（Ｘｔ、Ｙｔ）、（Ｘｂ、
Ｙｂ）と、変位演算手段に演算させた第２位置被検出部
の第１位置被検出部に対する相対変位ＴＢに基いて、測
位点演算手段に演算させたターゲット５の下端の平面座
標位置（Ｘｎ、Ｙｎ）を、出力手段によって、測位点Ｐ
Ｘｎの平面座標位置（Ｘｎ、Ｙｎ）として出力させるこ
とが出来る。即ち、測量装置２を用いれば、２ヶの測量
光射出ユニットを基準点Ｐ１、Ｐ２等の位置既知点上に
それぞれ設置し、また、ターゲット５の下端が測位点Ｐ
Ｘｎに接するように立設しておき、該２ヶの測量光射出
ユニットから測量光を射出させて、ターゲット５に設け
られた第１位置被検出部と第２位置被検出部の各測量光
反射手段からの反射光３９’を該２ヶの測量光射出ユニ
ット位置でそれぞれ捉えることによって、位置演算手段
を介して該第１及び第２位置被検出部の平面座標位置
（Ｘｔ、Ｙｔ）、（Ｘｂ、Ｙｂ）をそれぞれ検出するこ
とが出来る。すると、第１位置被検出部と第２位置被検
出部とターゲット５の下端は上下方向に所定の間隔Ｌ
２、Ｌ２をもって並ぶ形になっているので、第１又は第
２位置被検出部の平面座標位置（Ｘｔ、Ｙｔ）、（Ｘ
ｂ、Ｙｂ）と、該第１位置被検出部に対する第２位置被
検出部の相対変位ＫＢに基づいて、該下端の平面座標位
置（Ｘｎ、Ｙｎ）が特定される。そこで、これを利用し
て（即ち位置演算手段に演算させた第１又は第２位置被
検出部の各平面座標位置（Ｘｔ、Ｙｔ）、（Ｘｂ、Ｙ
ｂ）と、変位演算手段に演算させた相対変位ＴＢを利用
して）、測位点演算手段にターゲット５の下端の平面座
標位置（Ｘｎ、Ｙｎ）を演算によって算出させ、当該演
算算出されたターゲット５の下端の平面座標位置（Ｘ
ｎ、Ｙｎ）を測位点ＰＸｎの平面座標位置（Ｘｎ、Ｙ
ｎ）として出力手段に出力させることが出来る。従っ
て、ターゲット５が、測位点ＰＸｎに傾いた状態で立設
されていても、該測位点ＰＸｎの平面座標位置（Ｘｎ、
Ｙｎ）を正確に検出することが出来る。このため、測量
装置２を用いれば、従来の測量方式のように位置既知点
上に設置した測量儀からターゲットを視準する手間な
く、直伸性を有する測量光を利用して、省力的な測位が
出来ることに加えて、ターゲット５を鉛直に設置する手
間が不要で、且つ常時正確な測位が出来る。

【００３５】また、本発明において、前記上反射部７Ｔ
等の第１位置被検出部と下反射部７Ｂ等の第２位置被検
出部の各々にはシャッタ９等のシャッタ機構を、該第１
位置被検出部と第２位置被検出部の前記反射テープ７１
等の測量光反射手段を被覆する形でそれぞれ設け、該第
１位置被検出部と第２位置被検出部の各シャッタ機構を
選択的に開閉駆動するシャッタ駆動制御装置２１等のシ
ャッタ駆動手段を設けて、前記測量装置２を構成する
と、シャッタ駆動手段によるシャッタ機構の開閉駆動に
よって、第１位置被検出部と第２位置被検出部の各測量
光反射手段は、選択的に、測量光を反射し得る状態と、
反射し得ない状態を呈することが出来る。従って、先に
述べたように基準点Ｐ１、Ｐ２等の位置既知点上にそれ
ぞれ設置した、２ヶのレーザユニット３、３等の測量光
射出ユニットから、測量光を射出して、該２ヶの測量光
射出ユニットに反射光３９’を検知させる際に、シャッ
タ駆動手段によって第１位置被検出部と第２位置被検出
部の各シャッタ機構を選択的に開閉駆動すれば、２ヶの
測量光射出ユニットが射出した測量光を、該第１位置被
検出部と第２位置被検出部の各測量光反射手段に選択的
に反射させることが出来る。このため、測量装置２を用
いて測位を行う際には、測量光射出ユニットが第１及び
第２位置被検出部の２か所の測量光反射手段からの反射
光３９を同時に検知して、その識別が出来ないという事
態に陥ることを防止しなければならないが、このように
シャッタ駆動手段を介してシャッタ機構を開閉駆動すれ
ば、測量光射出ユニットに検知させる反射光３９’を、
第１位置被検出部と第２位置被検出部のいずれか一方の
測量光反射手段によるものとして特定することが簡単に
出来る。このようにシャッタ駆動手段を介してシャッタ
機構を開閉駆動すれば、人力を介して測量光反射手段を
選択的に被覆したり、或いは測量光の走査高さをいちい
ち調整する必要はなく、該シャッタ駆動手段を電気的に
制御する形で、測量光反射手段の測量光反射状態を選択
することが出来る。よって、一層省力的な測位作業が可
能となる。

【００３６】また、本発明において、前記レーザユニッ
ト３等の測量光射出ユニットにシリンドリカルレンズ３
４等の光上下拡散手段を、該測量光射出ユニットによる
前記レーザ光３９等の測量光の光路中において該測量光
を上下方向に拡散し得る形で設けて、測量装置２を構成
すると、測量光射出ユニットは光上下拡散手段によって
上下方向に拡散した測量光を水平方向に走査する形で射
出することが出来る。すると、測量光射出ユニットが射
出する測量光は、光上下拡散手段によって上下方向に拡
散された測量光が水平方向に走査されることによって形
成される、広範囲な三次元空間状をなす照射領域中に照
射される。従って、測量装置２においては、測量光の照
射平面内に、ターゲット５の第１及び第２位置被検出部
が配置していないと、該測量光の反射光３９’が生じな
い（即ち、第１及び第２位置被検出部の平面座標位置の
検出が出来ない）が、この際、測量光の照射領域は広範
囲な三次元空間状をなすことによって、該測量光は確実
に第１及び第２位置被検出部に照射される。このため、
２ヶの測量光射出ユニットによる測量光の走査高さとタ
ーゲット５の第１及び第２位置被検出部の高さを一致さ
せるように、該ターゲット５と各測量光射出ユニットの
設置状態を調整しておく必要がない。即ち、測位作業に
必要なこれらの測量機器類の設置が簡単である。また、
測位点の高さが変わることによって、該測位点に立設さ
れたターゲット５の第１及び第２位置被検出部の高さが
変わっても、測量光はいつも該第１又は第２位置被検出
部に確実に照射されて、反射し得るので、様々な高さを
なす複数の測位点の測位が可能である。特に、先に述べ
たようにターゲット５の第１位置被検出部と第２位置被
検出部の各々にシャッタ機構を設け、該シャッタ機構を
選択的に開閉駆動するシャッタ駆動手段を設けた場合に
おいては、測量光を三次元空間状をなす照射領域中に照
射しても、第１又は第２位置被検出部の測量光反射手段
を選択的に測量光反射状態或いは非反射状態に出来るの
で、このようなシャッタ機構を設けたターゲット５を用
いれば、上述した光上下拡散手段を設けた測量光射出ユ
ニットを用いる場合の利点を一層顕著に享受することが
出来、これによって、一層効率的な測位が可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による測量装置の１実施例を示す全体斜
視図である。

【図２】本発明による測量方法における測位点の座標位
置検出方法を示す図である。

【図３】図１に示す測量装置に用いる測量光射出ユニッ
トの１実施例を示す平面図である。

【図４】図３に示す光ユニットの側面図である。

【図５】図１に示す測量装置における反射部材位置検出
方法を示す平面図である。

【図６】本発明による測量装置に用いられるターゲット
の別の例を示す側面図である。

【図７】図６に示すターゲットの平面図である。

【符号の説明】

２……測量装置 ３……測量光射出ユニット（レーザユニット） ３４……光上下拡散手段（シリンドリカルレンズ） ５……ターゲット ６ｂ……下端（先端） ７Ｔ……第１位置被検出部（上反射部） ７Ｂ……第２位置被検出部（下反射部） ７１……測量光反射手段（反射テープ） １５Ａ……位置演算手段（反射位置演算部） １５Ｂ……変位演算手段（変位演算部） １５Ｃ……測位点演算手段（測位点位置演算部） １８……出力手段（出力部） ９……シャッタ機構（シャッタ） ２１……シャッタ駆動手段（シャッタ駆動制御装置） ３９……測量光（レーザ光） ３９’……反射光 Ｐ１、Ｐ２……位置既知点（基準点） ＰＸｎ……測位点 ＴＢ……相対変位（変位） θ１……入射角度

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】ポール状に形成されたターゲットに、第１
   位置被検出部と第２位置被検出部を、該第１位置被検出
   部と第２位置被検出部と該ターゲットの下端が上下方向
   に所定の間隔をもって並ぶ形で設け、 前記第１位置被検出部と第２位置被検出部の各々に測量
   光反射手段を設け、 前記ターゲットを測位すべき測位点に、前記下端が該測
   位点に接する形で立設しておき、 直進性を有する測量光を射出し、該測量光の反射光を検
   知し得る２ヶの測量光射出ユニットを用いて、 前記２ヶの測量光射出ユニットをそれぞれ位置既知点上
   に設置し、 前記２ヶの測量光射出ユニットから前記測量光を水平方
   向に走査する形で射出させて、前記ターゲットに照射
   し、 まず、該２ヶの測量光射出ユニットに、前記第１位置被
   検出部の測量光反射手段からの各反射光をそれぞれ検知
   させ、 該２ヶの測量光射出ユニットがそれぞれ検知する反射光
   の水平方向の入射角度に基づいて該第１位置被検出部の
   平面座標位置を演算し、 次に、前記２ヶの測量光射出ユニットに、前記第２位置
   被検出部からの各反射光をそれぞれ検知させ、 該２ヶの測量光射出ユニットがそれぞれ検知する反射光
   の水平方向の入射角度に基づいて該第２位置被検出部の
   平面座標位置を演算し、 該第２位置被検出部の前記第１位置被検出部に対する相
   対変位を求め、 該求められた相対変位と、前記演算された第１又は第２
   位置被検出部の平面座標位置に基づいて、前記ターゲッ
   トの下端の平面座標位置を演算し、 該演算されたターゲットの下端の平面座標位置を、該タ
   ーゲットが立設された前記測位点の平面座標位置として
   検出するようにした、測量方法。
2. 【請求項２】測位点に立設され得る形でポール状に形成
   されたターゲットを有し、 前記ターゲットに第１位置被検出部と第２位置被検出部
   を、該第１位置被検出部と第２位置被検出部と該ターゲ
   ットの下端が上下方向に所定の間隔をもって並ぶ形で設
   け、 前記第１位置被検出部と第２位置被検出部のそれぞれ
   に、直進性を有する測量光を入射方向と一致した方向に
   再帰させるように反射し得る測量光反射手段を設け、 また、各々が前記測量光を水平方向に走査する形で射出
   し、該測量光の反射光を検知し得る２ヶの測量光射出ユ
   ニットを設け、 前記２ヶの測量光射出ユニットが検知する、前記ターゲ
   ットの第１位置被検出部と第２位置被検出部の各測量光
   反射手段からの反射光の水平方向の各入射角度に基づい
   て、該第１位置被検出部と第２位置被検出部の平面座標
   位置を演算する位置演算手段を設け、 前記位置演算手段が演算する第１位置被検出部と第２位
   置被検出部の各平面座標位置に基づいて、該第２位置被
   検出部の第１位置被検出部に対する相対変位を演算する
   変位演算手段を設け、 該変位演算手段によって演算された相対変位と、前記第
   １又は第２位置被検出部の平面座標位置に基づいて、前
   記ターゲットの下端の平面座標位置を演算し得る測位点
   演算手段を設け、 該測位点演算手段によって演算されたターゲットの下端
   の平面座標位置を、前記測位点の平面座標位置として出
   力し得る出力手段を設けて構成した、測量装置。
3. 【請求項３】前記第１位置被検出部と第２位置被検出部
   の各々にシャッタ機構を、該第１位置被検出部と第２位
   置被検出部の前記測量光反射手段を被覆する形でそれぞ
   れ設け、 該第１位置被検出部と第２位置被検出部の各シャッタ機
   構を選択的に開閉駆動するシャッタ駆動手段を設けて構
   成した、請求項２記載の測量装置。
4. 【請求項４】前記測量光射出ユニットに光上下拡散手段
   を、該測量光射出ユニットによる前記測量光の光路中に
   おいて該測量光を上下方向に拡散し得る形で設けて構成
   した請求項２記載の測量装置。