JPH0716992Y2 - 発光分光分析装置 - Google Patents
発光分光分析装置Info
- Publication number
- JPH0716992Y2 JPH0716992Y2 JP8755688U JP8755688U JPH0716992Y2 JP H0716992 Y2 JPH0716992 Y2 JP H0716992Y2 JP 8755688 U JP8755688 U JP 8755688U JP 8755688 U JP8755688 U JP 8755688U JP H0716992 Y2 JPH0716992 Y2 JP H0716992Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- creeping discharge
- high voltage
- discharge electrodes
- emission
- Prior art date
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- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 （イ）産業上の利用分野 本考案は、発光分光分析装置に係り、特には該装置の発
光部の改良に関する。
光部の改良に関する。
（ロ）従来の技術 一般に、発光分光分析装置は、試料と電極間で放電を行
って試料を発光させ、この放射された光を分光器で各元
素特有のスペクトル線に分光し、各スペクトル線の有無
と強度を測定することにより、試料に含まれる元素の定
性、定量分析を行う。
って試料を発光させ、この放射された光を分光器で各元
素特有のスペクトル線に分光し、各スペクトル線の有無
と強度を測定することにより、試料に含まれる元素の定
性、定量分析を行う。
（ハ）考案が解決しようとする課題 上述のごとく、試料発光のための放電は、試料と電極間
で行われるため、その前提として分析試料は金属等の導
電性の物質であることが必要となる。すなわち、従来技
術では、セラミックス等の非導電性の試料については、
発光分光分析を行うことができなかった。
で行われるため、その前提として分析試料は金属等の導
電性の物質であることが必要となる。すなわち、従来技
術では、セラミックス等の非導電性の試料については、
発光分光分析を行うことができなかった。
本考案は、このような事情に鑑みてなされたものであっ
て、セラミックス等の非導電性の試料について、発光分
光分析を行えるようにすることを目的とする。
て、セラミックス等の非導電性の試料について、発光分
光分析を行えるようにすることを目的とする。
（ニ）課題を解決するための手段 本考案は、上記の目的を達成するために、次の構成を採
る。
る。
すなわち、本考案の発光分光分析装置では、非導電性の
試料の表面に接触もしくは近接させた状態で所定の間隔
を存して対向配置された一対の沿面放電用電極と、各沿
面放電用電極が接続される高圧発生部と、前記沿面放電
用電極間での前記試料表面に沿った放電によって加熱気
化された前記試料の発光を分光する分光部とを備えるこ
とを特徴としている。
試料の表面に接触もしくは近接させた状態で所定の間隔
を存して対向配置された一対の沿面放電用電極と、各沿
面放電用電極が接続される高圧発生部と、前記沿面放電
用電極間での前記試料表面に沿った放電によって加熱気
化された前記試料の発光を分光する分光部とを備えるこ
とを特徴としている。
（ホ）作用 上記構成によれば、分析試料を沿面放電用電極に近接さ
せた状態に配置して、沿面放電用電極間に高圧発生部に
よって高電圧を印加すると、沿面放電用電極間で試料表
面に沿った放電が起こる。この放電に伴って、試料が加
熱、気化されて発光する。
せた状態に配置して、沿面放電用電極間に高圧発生部に
よって高電圧を印加すると、沿面放電用電極間で試料表
面に沿った放電が起こる。この放電に伴って、試料が加
熱、気化されて発光する。
（ヘ）実施例 第１図は、本考案の発光分光分析装置の実施例を示す構
成図である。同図において、符号１は発光分光分析装置
の全体を示し、２は分析対象となるセラミックス等の非
導電性の試料、4a、4bは数mm程度の間隔を存して対向配
置された一対の沿面放電用電極である。この各沿面放電
用電極4a、4bは、ＷやＣ等でできており、これらの沿面
放電用電極4a、4bが高圧発生部６にそれぞれ接続されて
いる。この高圧発生部６は、高圧発生用のコンデンサ
８、ギャップスイッチ10、高圧制御装置12からなり、一
方の沿面放電用電極4aが高圧制御装置12の接地部（GN
D）に、他方の沿面放電用電極4bがギャップスイッチ10
を介して高圧制御装置12の高圧印加部（HV）にそれぞれ
接続されている。
成図である。同図において、符号１は発光分光分析装置
の全体を示し、２は分析対象となるセラミックス等の非
導電性の試料、4a、4bは数mm程度の間隔を存して対向配
置された一対の沿面放電用電極である。この各沿面放電
用電極4a、4bは、ＷやＣ等でできており、これらの沿面
放電用電極4a、4bが高圧発生部６にそれぞれ接続されて
いる。この高圧発生部６は、高圧発生用のコンデンサ
８、ギャップスイッチ10、高圧制御装置12からなり、一
方の沿面放電用電極4aが高圧制御装置12の接地部（GN
D）に、他方の沿面放電用電極4bがギャップスイッチ10
を介して高圧制御装置12の高圧印加部（HV）にそれぞれ
接続されている。
なお、14は分光部で、集光レンズ16、入口スリット18、
グレーティング20、出口スリット22、集光鏡22および光
電子増倍管26を備えている。
グレーティング20、出口スリット22、集光鏡22および光
電子増倍管26を備えている。
上記構成において、試料２の分析を行う際には、まず、
試料２を沿面放電用電極4a、4bに接触もしくは近接させ
た状態に配置し、また、試料２と沿面放電用電極4a、4b
が配置された発光部は、バツクグラウンドを抑えるため
にHeやAr等の不活性ガス雰囲気に保持する一方、高圧制
御装置12によりコンデンサ８を高圧に充電した後、ギャ
ップスイッチ10をオンにしてこの高電圧を沿面放電用電
極4a、4b間に印加する。すると、沿面放電用電極4a、4b
間で試料２表面に沿った放電が起こる。この沿面放電に
より、試料２が加熱、気化されて発光する。この試料２
が発光した光源Ｐからの光は、分光部14に導かれ、集光
レンズ16、入口スリット18を経てグレーティング20で各
元素特有のスペクトル線に分光される。そして、各スペ
クトル線が出口スリット22、集光鏡24を経て光電子増倍
管26で検出される。この光電子増倍管26の出力電流を積
分することで、試料に含まれる元素の定量分析を行う。
試料２を沿面放電用電極4a、4bに接触もしくは近接させ
た状態に配置し、また、試料２と沿面放電用電極4a、4b
が配置された発光部は、バツクグラウンドを抑えるため
にHeやAr等の不活性ガス雰囲気に保持する一方、高圧制
御装置12によりコンデンサ８を高圧に充電した後、ギャ
ップスイッチ10をオンにしてこの高電圧を沿面放電用電
極4a、4b間に印加する。すると、沿面放電用電極4a、4b
間で試料２表面に沿った放電が起こる。この沿面放電に
より、試料２が加熱、気化されて発光する。この試料２
が発光した光源Ｐからの光は、分光部14に導かれ、集光
レンズ16、入口スリット18を経てグレーティング20で各
元素特有のスペクトル線に分光される。そして、各スペ
クトル線が出口スリット22、集光鏡24を経て光電子増倍
管26で検出される。この光電子増倍管26の出力電流を積
分することで、試料に含まれる元素の定量分析を行う。
なお、上記の実施例は、同時多元素の定量分析用の装置
の場合であるが、波長走査型の分光器を使用した定性分
析用の装置にも本考案を適用することができるのは勿論
である。
の場合であるが、波長走査型の分光器を使用した定性分
析用の装置にも本考案を適用することができるのは勿論
である。
（ト）効果 本考案によれば、一対の沿面放電用電極間で沿面放電を
起こして間接的に試料を発光させるので、セラミックス
等の非導電性の試料について発光分光分析を行えるよう
になる等の優れた効果が発揮される。
起こして間接的に試料を発光させるので、セラミックス
等の非導電性の試料について発光分光分析を行えるよう
になる等の優れた効果が発揮される。
第１図は本考案の実施例を示す発光分光分析装置の構成
図である。 １……発光分光分析装置、２……試料、4a、4b……沿面
放電用電極、６……高圧発生部。
図である。 １……発光分光分析装置、２……試料、4a、4b……沿面
放電用電極、６……高圧発生部。
Claims (1)
- 【請求項１】非導電性の試料の表面に接触もしくは近接
させた状態で所定の間隔を存して対向配置された一対の
沿面放電用電極と、 各沿面放電用電極が接続される高圧発生部と、 前記沿面放電用電極間での前記試料表面に沿った放電に
よって加熱気化された前記試料の発光を分光する分光部
と、 を備えることを特徴とする発光分光分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8755688U JPH0716992Y2 (ja) | 1988-06-30 | 1988-06-30 | 発光分光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8755688U JPH0716992Y2 (ja) | 1988-06-30 | 1988-06-30 | 発光分光分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH029857U JPH029857U (ja) | 1990-01-22 |
| JPH0716992Y2 true JPH0716992Y2 (ja) | 1995-04-19 |
Family
ID=31312161
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8755688U Expired - Lifetime JPH0716992Y2 (ja) | 1988-06-30 | 1988-06-30 | 発光分光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0716992Y2 (ja) |
-
1988
- 1988-06-30 JP JP8755688U patent/JPH0716992Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH029857U (ja) | 1990-01-22 |
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