JPH07166356A - 基板の表面処理方法 - Google Patents

基板の表面処理方法

Info

Publication number
JPH07166356A
JPH07166356A JP5311877A JP31187793A JPH07166356A JP H07166356 A JPH07166356 A JP H07166356A JP 5311877 A JP5311877 A JP 5311877A JP 31187793 A JP31187793 A JP 31187793A JP H07166356 A JPH07166356 A JP H07166356A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
gas
solid dielectric
porous metal
metal electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5311877A
Other languages
English (en)
Inventor
Motokazu Yuasa
基和 湯浅
Shigemasa Kawai
重征 河合
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sekisui Chemical Co Ltd
Original Assignee
Sekisui Chemical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sekisui Chemical Co Ltd filed Critical Sekisui Chemical Co Ltd
Priority to JP5311877A priority Critical patent/JPH07166356A/ja
Publication of JPH07166356A publication Critical patent/JPH07166356A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【目的】 反応用ガスを効率良く基板表面に供給し、少
量のガス使用量で同時に基板の表裏両面処理を行ない得
る基板の表面処理方法を提供する。 【構成】 第1の多孔金属電極3の一面に開孔6aを有
する第1の固体誘電体6が設けられ、第1の固体誘電体
6と対向して第2の多孔金属電極4が設けられ、第1お
よび第2の多孔金属電極は反応用ガスを供給可能とさ
れ、第1の固体誘電体6と第2の多孔金属電極4の間は
側面が第2の固体誘電体8で覆われた空間とされている
プラズマ発生装置の、該空間を上下に少なくとも2つに
分割するように基板7を設置して、基板7に不活性ガス
と反応用ガスを供給し、大気圧近傍の圧力下でグロー放
電プラズマを発生させて、励起された活性種を基板7の
表面と裏面に同時に接触させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば、プラスチッ
ク、紙、金属、ガラス、セラミックス等の基板の表面処
理方法に関し、さらに詳しくは、大気圧近傍の圧力下で
のプラズマによる基板の表面処理方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、例えば、プラスチック、紙、
金属、ガラス、セラミックス等の基板の表面の濡れ性制
御や表面修飾の方法として、0.1〜10Torr程度
の低圧のグロー放電プラズマによる表面処理方法が広く
知られており、産業的にも応用されている。この表面処
理方法においては、上記の圧力よりも高い圧力になる
と、放電が局所的になりアーク放電に移行してしまい、
耐熱性の乏しいプラスチックや紙のような基板への利用
が困難となるので、通常、あらゆる基板に適用できるよ
うに上記の圧力範囲が選ばれている。このため、真空
(もしくは低圧)にする必要上、処理用の容器は高価な
真空チャンバーを必要とし、また真空排気装置が必要と
される。さらに、真空中で処理するため大面積の基板に
処理しようとすると、大容量の真空容器を必要とし、真
空排気装置も大型のものが必要である。そのため、設備
費用が高くなるという問題点があった。また、吸水率の
高い基板の表面処理を行う場合、真空にするのに長時間
を要し、処理品がコスト高になるという問題点もあっ
た。
【0003】そこで、上記の種々の問題点を克服するた
めに、装置、設備の低コスト化と、大面積基板への処理
が可能な大気圧下でのグロー放電プラズマが提案されて
きた。例えば、特開平2−15171号公報には、電極
表面に固体誘電体を配設する方法によって、特公平2−
48626号公報には、細線型電極を用いる方法によっ
て大気圧下でグロー放電プラズマを行う表面処理方法が
提案されている。これらの提案では、ヘリウムを主とす
る不活性ガスと反応用ガスとの混合ガスを、複数の開孔
を有する多孔管から基板近傍のプラズマ域に供給する方
法が用いられているが、この場合、大面積の基板になる
と均一にガスを拡散供給することが難しいという問題点
があった。
【0004】また、特開平2−73979号公報には、
一方を対向面に多孔板状の固体誘電体を配設した表面処
理用反応ガスを供給可能な金属電極とし、他方を金属電
極とした、対向する2つの電極の間に基板を設置し、電
極間の空間に不活性ガスと反応用ガスを供給し、大気圧
近傍の圧力下で、電極に電圧を与えてグロー放電プラズ
マを起こさせ、そのプラズマによって励起された活性種
を基板表面に接触させることによる、薄膜形成法が提案
されている。しかしながら、この方法では、反応用ガス
のうち実際に表面処理に使用されるガスの割合が少な
く、未使用のガスが多量に発生し反応用ガスの使用効率
(収率)が悪いという問題点があった。
【0005】さらに、上記従来技術のいずれにあって
も、基板の表裏を同時に同様の表面処理をすることは、
プラズマ中に基板を浮かせて処理することによって可能
であるが、同時に表裏異なる処理を施すことは出来ない
という問題点があった。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、反応
用ガスを効率良く基板表面に供給し、少量のガス使用量
で同時に基板の表裏両面処理を行える基板の表面処理方
法を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明の基板の表面処理
方法は、第1の多孔金属電極の一面に開孔を有する第1
の固体誘電体が設けられ、第1の固体誘電体と対向して
第2の多孔金属電極が設けられ、第1および第2の多孔
金属電極は反応用ガスを供給可能とされ、第1の固体誘
電体と第2の多孔金属電極の間は側面が第2の固体誘電
体で覆われた空間とされているプラズマ発生装置の、該
空間を上下に少なくとも2つに分割するように基板を設
置して、基板に不活性ガスを供給すると共に、第1の多
孔金属電極と第1の固体誘電体を介し、および第2の多
孔金属電極を介して基板に反応用ガスを供給し、大気圧
近傍の圧力下で、電極に電圧を与えてグロー放電プラズ
マを発生させて、そのプラズマによって励起された活性
種を基板の表面と裏面に同時に接触させることを特徴と
する。
【0008】本発明において、基板の表面処理とは、主
として、表面官能基層の形成やフリーラジカル層の形成
や親水性や撥水性の薄膜を形成することなどによって、
基板の表面エネルギーを制御し、基板の濡れ性や接着性
を改質することや、基板表面に無機質や有機質の薄膜を
形成させて、基板に化学的、機械的、光学的、電気的特
性等を付与することを指す。
【0009】本発明においては、表面処理の目的に応じ
て選択された反応用ガスと不活性ガスをプラズマ域に供
給し表面処理を行う。反応用ガスとしては、例えば、基
板表面にフッ素を化学結合させ表面エネルギーを低くし
撥水性を付与する場合には、フッ素含有のガスを使用す
る。フッ素含有ガスとしては、4フッ化炭素(CF4
や、6フッ化炭素(C2 6 )等の飽和フッ化炭素ガス
や6フッ化硫黄(SF6 )等のフッ化硫黄ガスが挙げら
れる。
【0010】また、逆に表面エネルギーを高くし親水性
を付与する場合には、表面にカルボニル基、ヒドロキシ
ル基、アミノ基等の官能基を有する層を形成させるため
に、炭化水素化合物のガスを使用する。上記炭化水素化
合物としては、例えば、メタン、エタン、プロパン、ブ
タン、ペンタン、ヘキサン等のアルカン類;エチレン、
プロピレン、ブテン、ペンテン等のアルケン類;ペンタ
ジエン、ブタジエン等のアルカジエン類;アセチレン、
メチルアセチレン等のアルキン類;ベンゼン、トルエ
ン、キシレン、インデン、ナフタレン、フェナントレン
等の芳香族炭化水素類;シクロプロパン、シクロヘキサ
ン等のシクロアルカン類;シクロペンテン、シクロヘキ
セン等のシクロアルケン類;メタノール、エタノール等
のアルコール類;アセトン、メチルエチルケトン等のケ
トン類;メタナール、エタナール等のアルデヒド類など
が挙げられ、これらは、単独で使用されてもよいし2種
以上併用されてもよい。また、この場合、酸素ガスや酸
素と水素の混合ガスや水蒸気、アンモニアガス等を使用
することも可能である。
【0011】また、基板に化学的、機械的、光学的、電
気的特性等を付与するために、SiO2 、TiO2 、S
nO2 等の金属酸化物薄膜を形成する場合には、水素化
金属ガス、ハロゲン化金属ガス又は金属アルコラート等
の金属有機化合物のガスもしくは蒸気が用いられる。
【0012】不活性ガスとしては、He、Ne、Ar、
Xe等の希ガスや窒素ガスの、単体又は混合ガスが用い
られるが、準安定状態の寿命が長く反応用ガスを励起分
解するのに有利なHeを用いるのが好ましい。He以外
の不活性ガスを使用する場合は、2体積%以内のアセト
ンやメタノール等の有機物蒸気やメタン、エタン等の炭
化水素ガスを混合する必要がある。
【0013】反応用ガスと不活性ガスとの混合比は、ガ
スの種類、電極構造、投入電力などによって適宜決めら
れるが、反応用ガスが10体積%以下の時にグロー放電
が観察され表面処理が可能となる。撥水性を付与する場
合は、フッ素含有ガスと不活性ガスとの混合比は、フッ
素含有ガス濃度が約10体積%以上では高電圧を印加し
てもグロー放電プラズマが発生し難いため、約10体積
%以下が好ましく、反応ガスの使用量が少なくてすみ、
且つ撥水性を付与可能な0.3〜5.0体積%の間がよ
り好ましい。
【0014】本発明に使用される基板は、材質、形状等
は特に限定されず、プラスチック、金属、ガラス、セラ
ミック、紙、繊維等が挙げられ、緻密でも多孔質でも構
わな11プラスチックとしては、例えば、ポリエチレン
テレフタレートやポリエチレンナフタレート等のポリエ
ステル;ポリエチレン又はポリプロピレン等のポリオレ
フィン;ポリスチレン;ポリアミド;ポリ塩化ビニル;
ポリカーボネート;ポリアクリロニトリル等のフィルム
あるいはシートが使用できる。フィルムの場合、延伸さ
れたものでも未延伸のものでも構わない。また、表面洗
浄や表面活性化の公知の処理を行ったものでも構わな
い。
【0015】以下にプラスチックの表面に撥水性を付与
する場合を例に、図に基づいて本発明を詳細に説明す
る。図1は、本発明に使用されるプラズマ発生装置の一
例を示す模式断面図である。本装置は、電源部1、処理
容器2、対向する第1の多孔金属電極3と第2の多孔金
属電極4、対向する2つの電極間のプラズマ処理部5か
ら構成されている。
【0016】電源部1は10kHz〜100kHzの周
波数で、最高7kVの電圧を印加可能とされている。撥
水性を付与するには10〜30kHzの周波数が好まし
い。プラズマ形成は高電圧の印加によって行うが、印加
電圧が低すぎるとプラズマ密度及びセルフバイアスが小
さくなるので、処理に時間がかかり非効率的であり、高
すぎるとアーク放電に移行する挙動を示すので、電界強
度5〜40kV/cm程度になるように電圧を印加する
のが好ましい。
【0017】処理容器2は、上面2aと底面2bがステ
ンレス製、側面2cがパイレックスガラス製であり、底
面2bと第1の多孔金属電極3との間に絶縁体2dおよ
び上面2aと第2の多孔金属電極4との間に絶縁体2e
が配設されている。処理容器2の材質は、これに限ら
ず、全てがガラス製、プラスチック製でも構わないし、
電極と絶縁がとれているならばステンレスやアルミニウ
ム等の金属製でも構わない。
【0018】第1の多孔金属電極3および第2の多孔金
属電極4は、多孔金属電極自体がガスの供給管を兼ねて
いるものであり、図1に示すように、電極の内部にガス
の通路3aおよび4aが設けられており、対向する他方
の電極に対する対向面が、ガスの出口部となる多数の開
孔3bおよび4bを有する多孔性の面とされているもの
であり、反応用ガスが供給可能とされている。なお、第
1の多孔金属電極3と第2の多孔金属電極4はどちらか
一方が陽極側、他方が陰極側となるように接続される。
【0019】第1の多孔金属電極および第2の多孔金属
電極の材質は、ステンレスや真鍮等の多成分系の金属で
も、銅、アルミニウム等の純金属でも構わない。
【0020】本発明においては、第1の多孔金属電極3
の一面に開孔6aを有する第1の固体誘電体6が設けら
れる。なお、第1の固体誘電体6は、必要に応じて、第
1の多孔金属電極3の一面でなく、第2の多孔金属電極
4の一面に設けられてもよいし、第1および第2の多孔
金属電極の両方の一面に設けられてもよい。
【0021】第1の固体誘電体6の形状としては、シー
ト状でもフィルム状でも構わないが、第1の多孔金属電
極3と同様にガスが通過できるような開孔6aを設ける
必要がある。この第1の固体誘電体6の開孔6aの大き
さは、第1の多孔金属電極3の開孔3bと同じかそれよ
りも小さくされる。上記固体誘電体6の厚みは、薄すぎ
ると高電圧印加時に絶縁破壊が起こりアーク放電が生
じ、また、厚すぎると放電しにくくなるため、0.05
〜4mmの厚みが好ましい。
【0022】また、第1の固体誘電体6の第1の多孔金
属電極3への配設は、第1の多孔金属電極の対向面の一
部に配設されない部分があるとその部分にアーク放電が
生じるので、対向面の全面に配設される必要がある。従
って、第1の固体誘電体6に設けられる開孔6aは、そ
の開孔によって多孔金属電極の一部が露出しないように
する必要がある。
【0023】対向する第1の固体誘電体6と第2の多孔
金属電極4の配置構造としては、図1に示されるような
互いに平行平板型であるのが好ましい。
【0024】対向する第1の固体誘電体6と第2の多孔
金属電極4の間の距離は、反応用ガスのガス流量、印加
電圧の大きさ及び処理基板の厚み等によって適宜決定さ
れるが、長すぎると対向する第1の固体誘電体6と第2
の多孔金属電極4の間の空間のガスの拡散の均一性が損
なわれ、また、未使用の反応用ガスが多くなり非効率的
であるため、0.5〜20mmが好ましい。
【0025】第1の固体誘電体6の材質としては、セラ
ミック;ガラス;ポリテトラフルオロエチレンやポリエ
チレンテレフタレート等のプラスチックが用いられ、反
応用ガスとの反応性によって適宜選択される。例えば、
ガラスは4フッ化炭素プラズマによって容易に溶けてし
まうので、撥水性付与の場合には用い難い。また、誘電
率の大きな材料ほど放電発生が容易であり、少ない印加
電圧で放電可能である。
【0026】グロー放電プラズマによるプラズマ処理部
5は、図1においては、第1の固体誘電体6と第2の多
孔金属電極4の間の空間である。本発明においては、上
記の空間は側面が第2の固体誘電体8で覆われる。上記
の空間の側面を第2の固体誘電体で覆う方法は、例え
ば、内部をくり抜いたシート状の2枚の第2の固体誘電
体8aと8bを重ねて、第1の固体誘電体6と第2の多
孔金属電極4の間に挟み込む方法が挙げられる。この場
合、前記の空間の側面を第2の固体誘電体8aと8bで
効果的に覆うために、2枚の第2の固体誘電体8aと8
bの合計厚みを、第1の固体誘電体6と第2の多孔金属
電極4の間の距離にほぼ等しくする(ただし、後述のよ
うに、2枚の第2の固体誘電体8aと8bの間に基板を
挟みこむ場合は、2枚の第2の固体誘電体8aと8bの
合計厚みが、第1の固体誘電体6と第2の多孔金属電極
4の間の距離から基板の厚みを差し引いた長さにほぼ等
しくする)ことが好ましい。また、上記のシート状の第
2の固体誘電体は、2枚に限らず3枚以上使用すること
も可能である。
【0027】本発明の基板の表面処理方法において、プ
ラスチック基板7は、第1の固体誘電体6と第2の多孔
金属電極4と第2の固体誘電体8とで覆われる空間を上
下に少なくとも2つに分割するように設置する。このよ
うにプラスチック基板7を設置するための方法として
は、例えば、前記のシート状の2枚の第2の固体誘電体
8aと8bの間にプラスチック基板7を挟み込む方法が
挙げられる。また、上記のシート状の第2の固体誘電体
を3枚以上使用し、基板を2枚以上使用してシート状の
第2の固体誘電体に基板を挟み込めば、前記の空間を上
下3つ以上に分割することができる。
【0028】基板7の表裏両面を容易に処理するには、
基板7をシート状の2枚の第2の固体誘電体8aと8b
の間に挟み込んで、前記の空間を上下に2分割するのが
好ましい。この場合、グロー放電プラズマによるプラズ
マ処理部5は、図1に示したプラズマ処理部5aと5b
になる。分割されたプラズマ処理部5aと5bの容積比
率は、第2の固体誘電体8aと8bの内容積の比率にな
り、この比率は1:1〜1:99の間で変えることがで
きるが、ガス流量を制御し易い1:1が好ましい。
【0029】前記したように、基板7と第2の固体誘電
体8の合計厚みは、第1の固体誘電体6と第2の多孔金
属電極4の間の距離にほぼ等しくするのが好ましい。
【0030】第1の固体誘電体6と第2の多孔金属電極
4の間の空間は、基板7と第2の固体誘電体8によって
密閉されればされるほど、反応用ガスは処理に効率的に
使用されるので必要量が少なくなるが、不活性ガスがプ
ラズマ処理部5に拡散するのに十分な程度の隙間は必要
である。隙間を形成させる方法としては、例えば、第2
の固体誘電体8が前記のシートのような場合はシート上
面又は下面に凹凸を設ける方法(凹凸を設ける方法とし
ては、例えば、波板状の凹凸を有するシートを使用する
ことにより、第1の固体誘電体6と第2の固体誘電体8
の間、及び、第2の多孔金属電極4と第2の固体誘電体
8の間に僅かな隙間を形成させる方法がある)、または
第2の固体誘電体8の側面に小さな開孔を開ける方法な
どが挙げられる。
【0031】第2の固体誘電体の材質としては、前記し
た第1の固体誘電体に使用される材質と同様のものが挙
げられるが、第1の固体誘電体と同じでも良いし異なっ
ていてもよい。
【0032】本発明においては、前述のように、前記空
間を上下に少なくとも2つに分割するように基板を設置
して、基板に不活性ガスを供給すると共に、第1の多孔
金属電極と第1の固体誘電体を介し、および第2の多孔
金属電極を介して基板に反応用ガスを供給し、大気圧近
傍の圧力下で、電極に電圧を与えてグロー放電プラズマ
を発生させて、そのプラズマによって励起された活性種
を基板の表面と裏面に同時に接触させる。
【0033】上記反応用ガスと不活性ガスは、混合し
て、第1の多孔金属電極3および第2の多孔金属電極4
のガス導入口9aおよび9bから、マスフローコントロ
ーラーで流量制御して、プラズマ処理部5aおよび5b
に導入してもよいが、均一性よく処理するためには、反
応用ガスのみをガス導入口9aおよび9bから導入し、
不活性ガスを対向する電極間の空間から離れたガス導入
管10のガス導入口10aから、マスフローコントロー
ラーで流量制御して、処理容器2に導入するのが好まし
い。
【0034】ガス導入管10は、処理容器2内の部分
が、図1に示すように、プラズマ処理部5の周囲を取り
巻くようにされ、その取り巻かれた部分の内周面に多数
の孔が開けられ、その孔をガス出口10bとされてもよ
いが、特にこのように構成せずともガスは、処理容器2
内にほぼ均一に拡散される。
【0035】また、未使用の反応用ガス、不活性ガスは
処理容器の気体排出口11から排出される。
【0036】前記のように、本発明においては、大気圧
近傍の圧力で表面処理を行う。この大気圧近傍の圧力と
は、第1の固体誘電体6の開孔6aおよび第2の多孔金
属電極4の開孔4bから、ガスを吹き出させることによ
って、100〜770Torr程度の圧力に維持するこ
とであり、装置や設備の低コスト化を考慮すると大気圧
が好ましい。
【0037】本発明の方法によって、基板の表面処理を
行う方法の一例を挙げると、まず、処理容器2を排気し
て処理容器2内を1Torr程度とする。次に、適当な
不活性ガスを、ガス導入管10のガス導入口10aか
ら、マスフローコントローラーによって流量制御して処
理容器2に導入し、反応用ガスを、マスフローコントロ
ーラーで流量制御してプラズマ処理部5aおよび5b
に、ガス導入口9aおよび9bから導入して処理容器2
内を大気圧近傍の圧力とする。
【0038】次に、電極間に電圧を印加しグロー放電プ
ラズマを起こさせ、そのプラズマによって励起された活
性種を基板の表面と裏面に同時に接触させて基板の表面
処理を行う。
【0039】撥水性付与の大気圧プラズマ処理には基板
の加熱や冷却は、特には必要なく室温下で十分可能であ
る。
【0040】また、処理時間は印加電圧の大きさで決定
され、前記印加電圧の範囲では5秒程度で撥水化されて
おりそれ以上の時間をかけて処理しても撥水化効果は向
上せず、短時間の処理で十分である。
【0041】
【実施例】以下、本発明の実施例を説明する。 実施例1 図1に示したプラズマ発生装置(第1の多孔金属電極3
はSUS304製の対向面の直径80mmの円板型と
し、その上に第1の固体誘電体6として開孔6aを有す
る直径90mm、厚み1mmのポリテトラフルオロエチ
レンシートを配設。第2の多孔金属電極4はSUS30
4製の対向面の直径80mmの円板型)に於いて、第2
の多孔金属電極4と第1の固体誘電体6との距離を約5
mmに設定した。基板7として80mm×80mm×厚
み100μmのポリエステルフィルム(東レ社製、商品
名「ルミラーS10」)を、第2の固体誘電体8として
の、外径80mm、内径70mm、厚み約2.5mmの
波板状のポリテトラフルオロエチレンシート2枚の間に
挟み、これを上記のプラズマ発生装置の第2の多孔金属
電極4と第1の固体誘電体6の間に装着した(シートが
波板状なので、第2の多孔金属電極4と第2の固体誘電
体8の間、及び、第2の固体誘電体8と第1の固体誘電
体6の間には、僅かの隙間が形成される)。
【0042】次に、1Torrまで油回転ポンプ(図示
せず。以下同じ)で排気口12より排気した。次いで、
4フッ化炭素ガスをガス導入口9aよりガス流量5sc
cmで、およびガス導入口9bよりガス流量5sccm
で、それぞれ処理容器2内に導入し、また、990sc
cmのヘリウムガスをガス導入口10aより処理容器2
内に導入し、760Torrの大気圧とした後、周波数
15kHz、6.2kV、28mAの電力で印加し10
秒間基板の表面処理をした。
【0043】次に、処理後の基板の処理面の純水に対す
る接触角測定を行った。その結果、直径70mmの処理
領域で表裏両面とも108度を示し撥水化されているこ
とが明らかであった。尚、使用した基板の接触角は65
度であった。また、処理面を、X線電子分光法で分析し
た結果、原子比で63%のフッ素が表面に化学結合して
いることが分かった。
【0044】実施例2 実施例1で、基板としてポリエステルフィルムを使用し
たことの代わりに、ポリイミドフィルム(東レ社製、商
品名「カプトン」)を使用したことの他は、実施例1と
同様にして表面処理をした。
【0045】その結果、処理後の基板の処理面の純水に
対する接触角は、直径70mmの処理領域で表裏両面と
も104度を示し撥水化されていることが明らかであっ
た。尚、使用した基板の接触角は63度であった。ま
た、処理面を、X線電子分光法で分析した結果、原子比
で68%のフッ素が表面に化学結合していることが分か
った。
【0046】実施例3 実施例1で、基板としてポリエステルフィルムを用いた
ことの代わりに、濾紙を用いたことの他は、実施例1と
同様にして表面処理を行った。その結果、処理後の基板
の処理面の純水に対する接触角は、直径70mmの処理
領域で表裏両面とも108度を示し撥水化されているこ
とが明らかであった。
【0047】実施例4 図1に示したプラズマ発生装置(第1の多孔金属電極3
はSUS304製の対向面の直径80mmの円板型と
し、その上に第1の固体誘電体6として開孔6aを有す
る直径90mm、厚み1mmのポリテトラフルオロエチ
レンシートを配設。第2の多孔金属電極4はSUS30
4製の対向面の直径80mmの円板型)に於いて、第2
の多孔金属電極4と第1の固体誘電体6との距離を約1
0mmに設定した。基板7として80mm×80mm×
厚み100μmのポリエステルフィルム(東レ社製、商
品名「ルミラーS10」)を、第2の固体誘電体8とし
ての、外径80mm、内径70mm、厚み約5mmの波
板状のポリテトラフルオロエチレンシート2枚の間に挟
み、これを上記のプラズマ発生装置の第2の多孔金属電
極4と第1の固体誘電体6の間に装着した(シートが波
板状なので、第2の多孔金属電極4と第2の固体誘電体
8の間、及び、第2の固体誘電体8と第1の固体誘電体
6の間には、僅かの隙間が形成される)。
【0048】次に、1Torrまで油回転ポンプで排気
口12より排気した。次いで、ガス流量20sccmの
酸素ガスをガス導入口9aより、ガス流量20sccm
の4フッ化炭素ガスをガス導入口9bより、また、99
0sccmのヘリウムガスをガス導入口10aより処理
容器2内に導入し、760Torrの大気圧とした後、
周波数15kHz、7.0kV、25mAの電力で印加
し15秒間基板の表面処理をした。
【0049】次に、処理後の基板の処理面の純水に対す
る接触角測定を行った。その結果、直径70mmの処理
領域で片面は30度以下の接触角を示し親水化されてお
り、他の面は103度を示し撥水化されており同時に基
板の両面が異なる処理が施されたことが分かった。尚、
使用した基板の接触角は65度であった。
【0050】実施例5 図1に示したプラズマ発生装置(第1の多孔金属電極3
および第2の多孔金属電極4は、共に、SUS304製
の対向面の直径80mmの円板型とし、それぞれその上
に第1の固体誘電体6として開孔6aを有する直径90
mm、厚み1mmのポリテトラフルオロエチレンシート
を配設)に於いて、第1の多孔金属電極3上の第1の固
体誘電体6と、第2の多孔金属電極4上の第1の固体誘
電体6との間の距離を約5mmに設定した。
【0051】基板7として90mm×90mm×厚み1
mmの銅板を、第2の固体誘電体8としての、外径80
mm、内径70mm、厚み約2mmの波板状のポリテト
ラフルオロエチレンシート2枚の間に挟み、これを上記
のプラズマ発生装置の第1の多孔金属電極3上の第1の
固体誘電体6と、第2の多孔金属電極4上の第1の固体
誘電体6との間に装着した(シートが波板状なので、第
1の多孔金属電極3上の第1の固体誘電体6と第2の固
体誘電体8の間、及び、第2の多孔金属電極4上の第1
の固体誘電体6と第2の固体誘電体8の間には、僅かの
隙間が形成される)。
【0052】次に、1Torrまで油回転ポンプで排気
口12より排気した。次いで、ガス流量20sccmの
アセチレン(C2 2 )ガスをガス導入口9aより、ガ
ス流量20sccmのフッ化エチレン(C2 4 )ガス
をガス導入口9bより、また、990sccmのヘリウ
ムガスをガス導入口10aより処理容器2内に導入し、
760Torrの大気圧とした後、周波数15kHz、
7.0kV、30mAの電力で印加し5分間基板の表面
処理をした。
【0053】次に、処理後の基板の処理面を、X線電子
分光法で分析した結果、第1の多孔金属電極3側にはポ
リエチレン、第2の多孔金属電極4側にはポリテトラフ
ルオロエチレンのスペクトルに酷似したスペクトルが得
られ、基板両面にそれぞれの重合膜が形成されているこ
とが分かった。
【0054】比較例1 図1に示したプラズマ発生装置(第1の多孔金属電極3
および第2の多孔金属電極4はSUS304製の対向面
の直径80mmの円板型とし、それぞれその上に第1の
固体誘電体6として開孔6aを有する直径90mm、厚
み1mmのポリテトラフルオロエチレンシートを配設)
に於いて、第1の多孔金属電極3上の第1の固体誘電体
6と、第2の多孔金属電極4上の第1の固体誘電体6と
の間の距離を約5mmに設定した。基板7として100
mm×100mm×厚み100μmのポリエステルフィ
ルム(東レ社製、商品名「ルミラーS10」)を、第1
の多孔金属電極3上の第1の固体誘電体6との間の距離
が3mmとなるように、第1の多孔金属電極3から離れ
た位置に設置された治具によって、第1の多孔金属電極
3上の第1の固体誘電体6と、第2の多孔金属電極4上
の第1の固体誘電体6との間の空間に固定した(すなわ
ち、本比較例では、第2の固体誘電体は使用しなかっ
た)。
【0055】次に、1Torrまで油回転ポンプ(図示
せず。以下同じ)で排気口12より排気した。次いで、
ガス流量10sccmの4フッ化炭素ガスと990sc
cmのヘリウムガスをガス導入口10aより処理容器2
内に導入し、760Torrの大気圧とした後、周波数
15kHz、6.2kV、28mAの電力で印加し10
秒間基板の表面処理をした。
【0056】次に、処理後の基板の処理面の純水に対す
る接触角測定を行った。その結果、表裏両面とも40度
前後の接触角を示し撥水化されていないことが分かっ
た。また、処理面を、X線電子分光法で分析した結果、
原子比で10%程度のフッ素しか表面に化学結合してい
ないことが分かった。
【0057】比較例2 比較例1において、ガス流量10sccmの4フッ化炭
素ガスと990sccmのヘリウムガスをガス導入口1
0aより処理容器2内に導入したことの代わりに、4フ
ッ化炭素ガスをガス導入口9aおよび9bよりそれぞれ
ガス流量5sccmで導入し、ヘリウムガスをガス導入
口10aより処理容器2内に導入したことの他は、比較
例1と同様に処理を行った。
【0058】次に、処理後の基板の処理面の純水に対す
る接触角測定を行った。その結果、表裏両面とも50〜
108度の間でばらつき均一に処理されていないことが
分かった。
【0059】比較例3 比較例1において、ガス流量10sccmの4フッ化炭
素ガスと990sccmのヘリウムガスをガス導入口1
0aより処理容器2内に導入したことの代わりに、ガス
流量20sccmの酸素ガスをガス導入口9aより、ガ
ス流量20sccmの4フッ化炭素ガスをガス導入口9
bより、990sccmのヘリウムガスをガス導入口1
0aより処理容器2内に導入したこと、および、比較例
1において、周波数15kHz、6.2kV、28mA
の電力で印加し10秒間基板の表面処理をしたことの代
わりに、周波数15kHz、7.0kV、25mAの電
力で印加し15秒間基板の表面処理をしたことの他は、
比較例1と同様に処理を行った。
【0060】次に、処理後の基板の処理面の純水に対す
る接触角測定を行った。その結果、表裏両面とも30〜
50度の間であり、実施例4で確認されたような基板の
両面での異なる処理が施されていないことが分かった。
【0061】
【発明の効果】本発明の構成は上述の通りであり、従来
の低圧グロー放電プラズマによるプラスチック等の表面
処理方法にくらべて、特別な真空形成のための装置・設
備が必要でなく、しかも、そのための特別な操作も不必
要であり、ガスを効率良く消費可能でありコスト低下効
果に優れ、かつ、取扱は容易である。また、反応用ガス
がプラズマ域に均一に拡散供給されるので、大気圧プラ
ズマの課題であった処理領域の大面積化が可能であり、
また、反応用ガスの効率的利用が可能である。さらに、
基板の表裏両面を同時に表面処理をすることが可能であ
り、さらに表裏異なる表面処理をすることが可能であ
る、また、処理面の領域指定も可能であり、今後産業上
の波及効果は大きい。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本発明の表面処理方法に使用されるプ
ラズマ発生装置の一例を示す模式断面図である。
【符号の説明】
1 電源部 2 処理容器 2a 上面 2b 底面 2c 側面 2d、2e 絶縁体 3 第1の多孔金属電極 4 第2の多孔金属電極 3a、4a ガスの通路 3b、4b 開孔 5 プラズマ処理部 5a プラズマ処理部 5b プラズマ処理部 6 第1の固体誘電体 6a 開孔 7 基板 8 第2の固体誘電体 8a 第2の固体誘電体 8b 第2の固体誘電体 9a、9b ガス導入口 10 ガス導入管 10a ガス導入口 10b ガス出口 11 気体排出口 12 排気口

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1の多孔金属電極の一面に開孔を有す
    る第1の固体誘電体が設けられ、第1の固体誘電体と対
    向して第2の多孔金属電極が設けられ、第1および第2
    の多孔金属電極は反応用ガスを供給可能とされ、第1の
    固体誘電体と第2の多孔金属電極の間は側面が第2の固
    体誘電体で覆われた空間とされているプラズマ発生装置
    の、該空間を上下に少なくとも2つに分割するように基
    板を設置して、基板に不活性ガスを供給すると共に、第
    1の多孔金属電極と第1の固体誘電体を介し、および第
    2の多孔金属電極を介して基板に反応用ガスを供給し、
    大気圧近傍の圧力下で、電極に電圧を与えてグロー放電
    プラズマを発生させて、そのプラズマによって励起され
    た活性種を基板の表面と裏面に同時に接触させることを
    特徴とする基板の表面処理方法。
JP5311877A 1993-12-13 1993-12-13 基板の表面処理方法 Pending JPH07166356A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5311877A JPH07166356A (ja) 1993-12-13 1993-12-13 基板の表面処理方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5311877A JPH07166356A (ja) 1993-12-13 1993-12-13 基板の表面処理方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH07166356A true JPH07166356A (ja) 1995-06-27

Family

ID=18022492

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5311877A Pending JPH07166356A (ja) 1993-12-13 1993-12-13 基板の表面処理方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH07166356A (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5954926A (en) * 1997-02-28 1999-09-21 Eastman Kodak Company Glow discharge treatment of a web substrate surface in a web coating line
WO2002040742A1 (fr) * 2000-11-14 2002-05-23 Sekisui Chemical Co., Ltd. Procede et dispositif de traitement au plasma atmospherique
JP2007109446A (ja) * 2005-10-11 2007-04-26 Sharp Corp プラズマ生成装置
JP2010212028A (ja) * 2009-03-09 2010-09-24 Epson Toyocom Corp プラズマ処理装置
CN107750085A (zh) * 2017-08-30 2018-03-02 大连民族大学 大气压低温微等离子体活化水发生装置
JP2019090108A (ja) * 2017-11-16 2019-06-13 三星電子株式会社Samsung Electronics Co.,Ltd. 上部シャワーヘッド及び下部シャワーヘッドを含む蒸着装置
CN114126179A (zh) * 2021-11-09 2022-03-01 中国人民解放军军事科学院国防工程研究院工程防护研究所 一种用于产生大面积均匀辉光放电等离子体的装置及方法

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5954926A (en) * 1997-02-28 1999-09-21 Eastman Kodak Company Glow discharge treatment of a web substrate surface in a web coating line
WO2002040742A1 (fr) * 2000-11-14 2002-05-23 Sekisui Chemical Co., Ltd. Procede et dispositif de traitement au plasma atmospherique
JP2007109446A (ja) * 2005-10-11 2007-04-26 Sharp Corp プラズマ生成装置
JP2010212028A (ja) * 2009-03-09 2010-09-24 Epson Toyocom Corp プラズマ処理装置
CN107750085A (zh) * 2017-08-30 2018-03-02 大连民族大学 大气压低温微等离子体活化水发生装置
JP2019090108A (ja) * 2017-11-16 2019-06-13 三星電子株式会社Samsung Electronics Co.,Ltd. 上部シャワーヘッド及び下部シャワーヘッドを含む蒸着装置
CN114126179A (zh) * 2021-11-09 2022-03-01 中国人民解放军军事科学院国防工程研究院工程防护研究所 一种用于产生大面积均匀辉光放电等离子体的装置及方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6539891B1 (en) Chemical deposition reactor and method of forming a thin film using the same
KR100502124B1 (ko) 이동 모재 상에 농후 탄소 코팅을 증착시키기 위한 공정 및 장치
EP0380119B1 (en) Microwave plasma processing apparatus
JP2837993B2 (ja) プラズマ処理方法およびその装置
EP0248274A2 (en) Plasma surface treatment method and apparatus
Belkind et al. Plasma cleaning of surfaces
US5215636A (en) Pulsed discharge surface treatment apparatus and process
JP2749630B2 (ja) プラズマ表面処理法
JPH07166356A (ja) 基板の表面処理方法
JPH0541705B2 (ja)
JP2957068B2 (ja) 基板の表面処理方法
US20030049468A1 (en) Cascade arc plasma and abrasion resistant coatings made therefrom
JPH0215171A (ja) 大気圧プラズマ反応方法
JPH08192044A (ja) シートの連続表面処理方法及び装置
WO2008038901A1 (en) Plasma generator
JPH03229886A (ja) 大気圧グロープラズマエッチング方法
JPH07166355A (ja) 基板の表面処理方法
JPH07166357A (ja) 基板の表面処理方法
JPH0881776A (ja) 基板の表面処理方法
JPH0892747A (ja) 基板の表面処理方法
JP2003064207A (ja) 多孔質材料表面を親水性化する乾式表面処理方法
JPH08217897A (ja) プラズマ表面処理方法及びプラスチック表面処理装置
JPH07207449A (ja) 積層体の製造方法
JPH0860372A (ja) 基板の表面処理方法
JP2000204179A (ja) シ―ト状物の連続プラズマ表面処理方法及び装置