JPH07161621A - 薬液処理装置およびこれを用いた薬液処理方法 - Google Patents

薬液処理装置およびこれを用いた薬液処理方法

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JPH07161621A
JPH07161621A JP31037993A JP31037993A JPH07161621A JP H07161621 A JPH07161621 A JP H07161621A JP 31037993 A JP31037993 A JP 31037993A JP 31037993 A JP31037993 A JP 31037993A JP H07161621 A JPH07161621 A JP H07161621A
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JP
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chemical
chemical liquid
nozzle
chemical fluid
resist
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JP31037993A
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Toshiyuki Ishimaru
敏之 石丸
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Original Assignee
Sony Corp
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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 装置を大型化、複雑化することなく、2種類
以上の薬液を吐出できる薬液処理装置を提供し、これを
用いた効率的な薬液処理方法を提供する。 【構成】 薬液処理装置のノズル5は、それぞれ流量が
制御された第1の薬液と第2の薬液が導入される第1の
薬液溜り20と第2の薬液溜り21、これらの下流側の
混合室22、該混合室22から薬液を吐出する吐出口2
3を有する。 【効果】 流量が制御された第1の薬液および第2の薬
液をノズル5内の混合室22内に同時に導入すると、任
意の濃度の混合薬液をウェハ3に吐出させることができ
る。また、第1の薬液と第2の薬液を時系列的にノズル
5内に導入すると、用途に応じてウェハ3に対して吐出
させる薬液を切り替えることができる。このため、開発
段階における薬液処理の作業効率を向上させることがで
きる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、薬液をノズルから吐出
させて基板に薬液処理を施すための薬液処理装置に関す
るものであり、例えば、半導体製造プロセスのフォトリ
ソグラフィ工程にて用いられるレジスト現像装置に関す
るものである。また、本発明は、このような薬液処理装
置を用いた薬液処理方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体装置の高集積化にともなう微細加
工は、フォトリソグラフィ技術の進歩によるところが大
きい。この半導体製造プロセスのフォトリソグラフィ工
程においてステッパと並び重要な役割を果たしている製
造装置として、コータ&デベロッパと呼ばれるレジスト
塗布/現像装置がある。
【0003】特に近年、化学増幅系レジスト材料の使用
が実現されつつあるなか、このレジスト塗布/現像装置
の改良が、解像機構に内在する原理的な不安定さを克服
するための対応策になり得ることもあって注目度を増し
ている。
【0004】レジスト現像装置の液盛り方式には、スプ
レーパドル式,枚葉ディップ式,ノズル式等があるが、
スプレーパドル式は泡の発生が問題となり、枚葉ディッ
プ式は現像液の消費量が多いという欠点を有する。これ
に対してノズル式のレジスト現像装置は、ウェハを保持
するチャックと、ウェハ上に現像液を吐出するためのノ
ズルを有するものであり、ウェハ上の選択露光が行われ
たレジスト層に対して現像液を吐出させ、チャックを回
転させることによって現像液を均一に液盛りしてレジス
ト現像処理を行うものである。このため、スプレーパド
ル式に比して泡の発生が抑えられ、枚葉ディップ式に比
して現像液の消費量も少なくて済む。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、ノズル式の
レジスト現像装置においては、通常1つのノズルからは
1種の薬液が供給される構成となっており、複数の薬液
を用いる場合には、各薬液ごとにこれを供給するための
ノズルが必要となる。
【0006】例えば、研究開発段階では、異なる処理条
件の現像を同一のレジスト現像装置にて行う場合や、特
定の現像処理の最適条件を調べるために、同一のレジス
ト現像装置にて現像液の種類、濃度を異ならせて現像す
る場合等、複数の薬液を吐出するための複数のノズルを
必要とする場合がある。さらに、現像処理によって生じ
る難溶化層形成を制御するため、濃度の異なる現像液を
用いる場合も考えられる。
【0007】しかしながら、複数のノズルを設ければ、
レジスト現像装置の大型化が避けられない。また、複数
のノズルが設けられることにより、各薬液がウェハ中央
から離れた位置に吐出されることになれば、薬液の液盛
りが均一に行えず、レジスト現像処理の精度を低下させ
るおそれもある。仮に、各薬液がウェハ中央に吐出され
るように、薬液の吐出時にはノズルをウェハ中央に移動
させるような構成とすれば、レジスト現像装置を一層複
雑化させることになる。
【0008】そこで本発明は、かかる従来の実情に鑑み
て提案されたものであり、複数の薬液を吐出でき、且つ
装置の大型化、複雑化が抑えられた薬液処理装置を提供
することを目的とする。また、このような薬液処理装置
を用いた効率的な薬液処理方法を提供することを目的と
する。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明に係る薬液処理装
置は、上述の目的を達成するために提案されたものであ
り、基板を保持する基板保持手段と、この基板保持手段
に保持された基板に向けて薬液を吐出するノズルとを備
え、該基板に対して所定の薬液処理を行う薬液処理装置
であって、前記ノズルは、複数種類の薬液をそれぞれ導
入する複数の流路と、これら複数の流路の下流側に共通
に接続され複数の薬液を混合する混合室とを内蔵し、該
混合室の一端に開口する吐出口から薬液を吐出するよう
になされたものである。
【0010】そして、前記ノズルは、混合に伴う熱量変
化の影響を避けるために、前記薬液の温度を制御する温
度制御手段を内蔵するものであることが好ましい。ま
た、前記複数の流路には、これらに導入されるそれぞれ
の薬液の流量を制御する流量制御手段が接続されている
ことが好ましい。
【0011】本発明に係る薬液処理方法は、上述のよう
な薬液処理装置を用い、前記複数種類の薬液を前記ノズ
ルの複数の流路に時系列的に導入し、これらを順次前記
吐出口から吐出させながら薬液処理を行うものである。
または、上述のような薬液処理装置を用い、前記複数種
類の薬液を前記ノズルの複数の流路に同時に導入し、前
記混合室内で調製される混合薬液を前記吐出口から吐出
させながら薬液処理を行うものである。
【0012】そして、以上のような薬液処理方法は、前
記複数種類の薬液の少なくとも1種類として現像液を使
用してレジスト現像処理を行う際に用いられて好適であ
るが、レジスト現像処理以外にも、ウェットエッチング
やレジスト剥離処理等、種々の薬液処理に適用可能であ
る。
【0013】
【作用】本発明を適用して、複数種類の薬液をノズルの
複数の流路に時系列的に導入し、複数種類の薬液のうち
1種を吐出口から吐出させながら薬液処理を行うと、条
件が異なる処理を行う場合にも同一の薬液処理装置にて
行うことができる。
【0014】また、本発明を適用して、複数種類の薬液
をノズルの複数の流路に同時に導入し、混合室内で調製
される混合薬液を吐出口から吐出させながら薬液処理を
行うと、予め所望の濃度の薬液を用意せずとも、導入す
る薬液の流量を制御することによって所望の濃度の薬液
を吐出させることができる。このため、混合比の異なる
薬液を簡単に調製することができ、薬液の濃度による処
理状態の違い等を調べる場合には非常に効率がよい。
【0015】
【実施例】以下、本発明を適用した具体的な実施例につ
いて、図面を参照しながら説明する。なお、本実施例に
おいては、本発明に係る薬液処理装置をレジスト現像処
理装置として用いて、レジスト現像処理を行った。
【0016】実施例1 図1に本実施例に係るレジスト現像装置のシステムの概
略を示す。このシステムは、実際にレジスト現像処理を
施すための現像処理部1と、該現像処理部1に薬液を供
給するための薬液供給部2より構成されている。
【0017】現像処理部1は、ウェハ3を保持するチャ
ック4、該チャック4の中心に回転軸が接続されること
によりこれを回転可能となすモータ(図示せず)、ウェ
ハ3中央に薬液を吐出するノズル5、吐出された薬液の
飛散を防ぐ現像カップ6よりなる。なお、該現像カップ
6の下部には不用とされた薬液を排出するための排出管
7が設けられている。
【0018】ノズル5は、第1の薬液および/または第
2の薬液が供給できるように例えば図2に示されるよう
な構造とされる。即ち、ノズル5の内部には、第1の薬
液流路10から導入された第1の薬液が貯められる第1
の薬液溜り20と、この薬液溜り20と並列に設けら
れ、第2の薬液流路11から導入された第2の薬液が貯
められる第2の薬液溜り21を有している。また、第1
の薬液溜り20および第2の薬液溜り21の下流側に
は、第1の薬液と第2の薬液の混合がなされる混合室2
2とを有し、該混合室22の一端には薬液を吐出する吐
出口23が開口されている。
【0019】なお、第1の薬液溜り20と混合室22と
の接続部には逆流防止弁24、第2の薬液溜り21と混
合室22との接続部には逆流防止弁25がそれぞれ設け
られ、混合室22より上流側に薬液が逆流しないように
なされている。また、第1の薬液溜り20、第2の薬液
溜り21、混合室22は、温調水流路26に包囲されて
おり、ここに温調水が流されることによって、第1の薬
液溜り20、第2の薬液溜り21および混合室22内の
薬液が常に一定温度に保たれるようになされている。な
お、温調水は温調水供給口27から供給され、温調水排
出口28へと排出されるようになされている。
【0020】したがって、上述の現像処理部1において
実際にレジスト現像処理を行うには、選択露光がなされ
たレジスト層が形成されているウェハ3をチャック4に
接続するモータによって回転させながら、ノズル5の吐
出口23から薬液を吐出させてウェハ3上に液盛りす
る。そして、ウェハ3の回転を停止して所定時間放置す
ることによって、所望のレジスト現像処理が施される。
【0021】ところで、上記現像処理部1へ薬液を供給
するためのユニットである薬液供給部2は、ノズル5へ
供給される第1の薬液、第2の薬液の供給源である第1
の薬液槽8、第2の薬液槽9と、これらと薬液ノズル5
とをそれぞれ接続する第1の薬液流路10、第2の薬液
流路11とを有するものである。また、第1の薬液、第
2の薬液の流量制御手段として、例えば、第1の薬液流
路10、第2の薬液流路11の中途部にそれぞれ流量測
定装置12,13を設け、これより上流側に流路開閉バ
ルブ14,15、下流側に流量制御バルブ16,17を
設け、これらをそれぞれコンピュータ18によって制御
する。
【0022】ここで、コンピュータ18は、ソレノイド
バルブである流路開閉バルブ14,15に流路開閉信号
A1,A2を供給することにより薬液供給開始/停止を
制御する働き、流量測定装置12,13から供給される
流量測定信号B1,B2を予め入力された設定流量と比
較して差分信号C1,C2を生成する働き、この差分信
号C1,C2をソレノイドバルブである流量制御バルブ
16,17に供給することにより開放量を変化させる働
きをなすものである。
【0023】したがって、例えば第1の薬液を流量制御
するには、先ず、コンピュータ18より流路開閉バルブ
14に流路開閉信号A1を供給して第1の薬液流路10
を開放する。すると、流量測定装置12にて流量測定が
行われ、この測定結果に基づく流量測定信号B1がコン
ピュータ18に入力される。コンピュータ18において
は、上記流量測定信号B1を予め入力されていた設定流
量と比較して、両者の差をとった差分信号C1が生成さ
れる。次いで、この差分信号C1が流量制御バルブ16
に供給され、第1の薬液流路10の開放量を調節する。
これより、流量制御バルブ16の下流側の第1の薬液流
路10には所望の流量に制御された第1の薬液が流入す
る。なお、第2の薬液も同様の操作によって流量制御が
なされる。
【0024】以上のような構成を有するレジスト現像装
置のシステムにおいてレジスト現像処理を行うには、上
述のようにして流量が制御された第1の薬液、第2の薬
液をノズル5内の第1の薬液溜り20、第2の薬液溜り
21にそれぞれ同時に導入し、混合室22にて混合して
所望の混合比の混合薬液を調製し、吐出口23からウェ
ハ3に対して吐出させればよい。
【0025】または、第1の薬液、第2の薬液を時系列
的にノズル5に導入して、第1の薬液あるいは第2の薬
液のみをウェハ3に対して吐出させればよい。
【0026】実施例2 本実施例においては、上記レジスト現像装置のシステム
を用い、第1の薬液としてテトラメチルアンモニウムヒ
ドロキシド(以下、TMAHと記す)の3%水溶液、第
2の薬液として純水を使用し、両者の混合によりTMA
H2.38%水溶液を調製して、これを現像液としたレ
ジスト現像処理を行った。
【0027】具体的には、上記レジスト現像装置のシス
テムにおいて、コンピュータ18に(TMAH3%水溶
液):(純水)=1:0.261 なる流量比となるよ
うなそれぞれの設定流量を入力し、この設定流量にした
がってそれぞれ流量制御を行った。これにより、上記流
量比のTMAH3%水溶液と純水が、ノズル5の第1の
薬液溜り20、第2の薬液溜り21にそれぞれ導入され
た。
【0028】そして、第1の薬液溜り20、第2の薬液
溜り21へ導入されたTMAH3%水溶液と純水は、混
合室22にて混合された。このとき、混合室22内の混
合薬液中のTMAHは、下記(1)式にて示される濃度
となる。 濃度=0.03/(1+0.261)×100=2.3
8%・・・(1)
【0029】なお、TMAH2.38%水溶液は、一般
的なレジスト現像処理に用いられる現像液であるが、本
実施例のレジスト現像装置のシステムにおいては、コン
ピュータ18に入力する設定流量の値を変化させること
により、様々な濃度の混合薬液を得ることができる。
【0030】そして、混合室22内にて調製されたTM
AH2.38%水溶液(現像液)は温調水流路26に流
れる温調水によって温度調節され、吐出口23からウェ
ハ3上に吐出された。このウェハ3は、例えば配線パタ
ーンに従って選択露光がなされたレジスト層が基板上に
形成されたものであり、チャック4上に保持されて回転
している。
【0031】ウェハ3中央に吐出された現像液はウェハ
3の外周側までを覆い、均一な液盛りがなされた。その
後、ウェハ3の回転を停止し、所定時間放置することに
よってレジスト層を現像した。そして、現像後、再びウ
ェハ3を高速回転させることにより、現像液を振り切っ
た。これにより、ウェハ3上のレジスト層は所望の配線
パターン形状のレジストマスクとなった。
【0032】以上のようにしてレジスト現像処理を行う
と、所望の濃度の現像液を予め調製しておく必要がな
く、現像液の濃度を変化させて現像状態等を調べる場合
等には非常に効率がよい。また、上述のレジスト現像装
置においては、一方の薬液を供給しなければ他方の薬液
のみを吐出させることができるので、現像処理後に純水
のみを吐出させて、洗浄を連続的に行うことも可能であ
る。
【0033】したがって、本実施例のレジスト現像装置
を、特に研究開発段階におけるレジスト現像処理に用い
ると、省スペース化が図れるのみならず、作業効率の向
上も図ることができる。
【0034】実施例3 本実施例においては、半導体装置製造プロセスにおける
異なる条件のレジスト現像処理を実施例1に示したレジ
スト現像装置のシステムを用いて行った。即ち、ノズル
5には素子分離領域や配線等のパターニング用の比較的
高濃度の現像液と、コンタクトホールのパターニング用
の比較的低濃度の現像液とを導入できるようにし、素子
分離領域や配線等のパターニング時には高濃度現像液を
吐出させ、コンタクトホール形成時には低濃度現像液を
吐出させてレジスト現像処理を行った。
【0035】具体的には、例えば素子分離領域のパター
ニング時には、実施例1に示したレジスト現像装置のシ
ステムにおいて、コンピュータ16に所望の設定流量を
入力し、この設定流量に従ってノズル5の第1の薬液溜
り20に導入する高濃度現像液、ここではTMAH2.
38%水溶液の流量を制御した。
【0036】流量制御されて第1の薬液溜り20へ導入
された高濃度現像液は、さらに混合室22へと供給さ
れ、温調水流路26に流れる温調水によって温度調節さ
れて、吐出口23からウェハ3上に吐出された。このウ
ェハ3は、基板上にSiN膜が成膜され、さらにこの上
に素子分離領域パターン形状に選択露光がなされたレジ
スト層が形成されたものであり、チャック4上に保持さ
れて回転している。
【0037】ウェハ3上に吐出された高濃度現像液はウ
ェハ3の外周側までを覆い、均一な液盛りがなされた。
その後、ウェハ3の回転を停止し、所定時間放置するこ
とによってレジスト層を現像した。そして、現像後、再
びウェハ3を高速回転させることにより、現像液を振り
切った。これにより、素子分離領域パターン形状のレジ
ストマスクが形成された。その後、上述のレジストマス
クをマスクとしてSiN膜のエッチングを行い、このS
iN膜をマスクとした所定の熱酸化を行うことにより、
素子分離領域を形成した。
【0038】なお、さらに通常の半導体装置製造プロセ
スを施し、コンタクトホールを開口する工程において、
再び実施例1に示したレジスト現像装置のシステムを用
いた。即ち、実施例1に示したレジスト現像装置のシス
テムにおいて、コンピュータ16に所望の設定流量を入
力し、この設定流量に従ってノズル5の第2の薬液溜り
21に導入する低濃度現像液、ここではTMAH2.3
8%水溶液より低濃度のTMAH水溶液の流量を制御し
た。
【0039】流量制御されて第2の薬液溜り21へ導入
された低濃度現像液は、さらに混合室22へと供給さ
れ、吐出口23から回転するウェハ3上に吐出させた。
なお、ウェハ3は、コンタクトホールのパターン形状に
従って選択露光がなされたレジスト層が基板に形成され
たものであり、チャック4上に保持されて回転してい
る。
【0040】ウェハ3上に吐出された低濃度現像液はウ
ェハ3の外周側までを覆い、均一な液盛りがなされた。
その後、ウェハ3の回転を停止し、所定時間放置するこ
とによってレジスト層を現像した。そして、現像後、再
びウェハ3を高速回転させることにより、現像液を振り
切った。これにより、所望のコンタクトホールパターン
形状のレジストマスクが形成された。
【0041】以上のように、レジスト層の種類,厚さ,
現像面積等に応じて異なる現像液を用いたい場合、ノズ
ル5から吐出させる現像液を切り替えるのみでよいた
め、同一のレジスト現像装置にて処理することができ
る。コンタクトホールのような微細なパターニングに用
いる現像液として、一般に用いられているTMAH2.
38%水溶液を用いると、焦点深度の確保が困難となる
場合があるが、本実施例に示したように、低能度の現像
液を用いることによって解決できる。また、微細なパタ
ーンが必要でない工程においては、一般に用いられてい
るTMAH2.38%水溶液より高濃度の現像液を用い
て現像時間を短縮することも考えられる。
【0042】また、上述のレジスト現像装置において
は、上記高濃度現像液と低濃度現像液を混合して、中間
的な濃度を有する現像液を調製することもできるので、
第1の薬液槽8と第2の薬液槽9に用意された薬液以外
の濃度を有する現像液として使用することも可能であ
る。
【0043】したがって、本実施例のレジスト現像装置
を、特に半導体装置の研究開発段階におけるレジスト現
像処理に用いると、省スペース化が図れ、作業効率を向
上させることができる。
【0044】なお、レジスト現像装置の構成は上述した
ものに限られず、種々の変形変更が可能である。例え
ば、ノズル5の吐出口23は、ウェハ3中央に対向する
位置に1カ所だけ設けられるものとは限られず、複数設
けられてもよい。また、ノズル5を3種類以上の薬液が
導入できるような構造とし、各薬液の流量をそれぞれ制
御できるようにしてもよい。これにより、3種類以上の
薬液を所望の混合比にて混合して用いることができる。
時系列的に吐出させれば、例えば実施例3において、T
MAH2.38%水溶液,低濃度現像液の他に純水を吐
出させることができ、現像後の洗浄工程を連続的に行う
ことも可能となる。
【0045】さらに、混合室22内に撹拌手段を設けた
り、吐出口23までの流路の断面形状を複雑化させるこ
とによって、2種類以上の薬液の混合が十分に行えるよ
うにする等の変形も考えられる。
【0046】流量制御手段も上述したものに限られず、
ソレノイドバルブ,流量測定装置,比較回路が一体化さ
れた流量制御装置を各流路の中途部に介在させて流量制
御する等、種々の変形が可能である。さらに、上述した
レジスト現像処理装置をレジスト現像処理以外の薬液処
理に適用することも可能である。
【0047】
【発明の効果】以上の説明からも明かなように、本発明
を適用すると、2種類以上の薬液を吐出させて薬液処理
を行う場合、薬液処理装置の省スペース化を図ることが
できる。また、2種類以上の薬液を時系列的に吐出させ
る場合にも、混合して混合薬液として吐出させる場合に
も、作業効率を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るレジスト現像装置の構成を示す模
式図である。
【図2】本発明に係るレジスト現像装置におけるノズル
の構造を示す断面図である。
【符号の説明】
1・・・現像処理部 2・・・薬液供給部 3・・・ウェハ 4・・・チャック 5・・・ノズル 6・・・現像カップ 7・・・排出管 8・・・第1の薬液槽 9・・・第2の薬液槽 10・・・第1の薬液流路 11・・・第2の薬液流路 12,13・・・薬液流量測定装置 14,15・・・流路開閉バルブ 16,17・・・流量制御バルブ 18・・・コンピュータ 20・・・第1の薬液溜り 21・・・第2の薬液溜り 22・・・混合室 23・・・吐出口 24,25・・・逆流防止弁 26・・・温調水流路 27・・・温調水供給口 28・・・温調水排出口 A1,A2・・・流路開閉信号 B1,B2・・・流量測定信号 C1,C2・・・差分信号

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板を保持する基板保持手段と、この基
    板保持手段に保持された基板に向けて薬液を吐出するノ
    ズルとを備え、該基板に対して所定の薬液処理を行う薬
    液処理装置であって、 前記ノズルは、複数種類の薬液をそれぞれ導入する複数
    の流路と、これら複数の流路の下流側に共通に接続され
    複数の薬液を混合する混合室とを内蔵し、該混合室の一
    端に開口する吐出口から薬液を吐出するようになされた
    薬液処理装置。
  2. 【請求項2】 前記ノズルが前記薬液の温度を制御する
    温度制御手段を内蔵してなることを特徴とする請求項1
    記載の薬液処理装置。
  3. 【請求項3】 前記複数の流路には、これら複数の流路
    にそれぞれ導入される薬液の流量を制御する流量制御手
    段が接続されていることを特徴とする請求項1または請
    求項2に記載の薬液処理装置。
  4. 【請求項4】 請求項1ないし請求項3のいずれか1項
    に記載の薬液処理装置を用い、前記複数種類の薬液を前
    記ノズルの複数の流路に時系列的に導入し、これらを順
    次前記吐出口から吐出させながら薬液処理を行うことを
    特徴とする薬液処理方法。
  5. 【請求項5】 請求項1ないし請求項3のいずれか1項
    に記載の薬液処理装置を用い、前記複数種類の薬液を前
    記ノズルの複数の流路に同時に導入し、前記混合室内で
    調製される混合薬液を該ノズルから吐出させながら薬液
    処理を行うことを特徴とする薬液処理方法。
  6. 【請求項6】 前記複数種類の薬液の少なくとも1種類
    が現像液であり、前記薬液処理がレジスト現像処理であ
    ることを特徴とする請求項4または請求項5に記載の薬
    液処理方法。
JP31037993A 1993-12-10 1993-12-10 薬液処理装置およびこれを用いた薬液処理方法 Withdrawn JPH07161621A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09120165A (ja) * 1995-08-24 1997-05-06 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 基板処理方法及びその装置
JP2002118057A (ja) * 2000-10-12 2002-04-19 Oki Electric Ind Co Ltd フォトレジスト現像ノズル、フォトレジスト現像装置、およびフォトレジスト現像方法
KR100876128B1 (ko) * 2001-08-28 2008-12-29 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 현상처리방법 및 현상액도포장치
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